JP2011237384A - 分析用光学系及びその光学系を用いた分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】レンズと第1のスリット部品の間に,もしくは前記レンズと前記第1のスリット部品の間で第1の光軸から分岐した第2の光軸上にモニタ用光検出器を配置し,そのモニタ用光検出器に,LED光源から出射する出射光のうち,計測に寄与しない出射光を積極的に集光可能な光学系を用いることで,モニタ光量を増大して光源の光量安定化を図る。
【選択図】図1
Description
図1は,本発明の第1の実施例の分析用光学系の基本構成を示す略図である。この分析用光学系は主に,図1に示した第1の光軸1上に左側から右側に向けて,LED光源2,レンズ3,第1のスリット部品4,第2のスリット部品5,及び,第1の光検出器6が配置され,第1のスリット部品4と第2のスリット部品5との間に測定対象物である検体7を納めた容器8をセットして測定する。
C=1×108×1.6×10-19
=1.6×10-11(クーロン)
電流=クーロン/秒であるため,計測する時間(積分時間)を0.001秒(生化学自動分析装置では通常この程度の短い時間に1回の計測を行う)とすると,光検出器に流すべき電流Iは,
図16は,本発明の第2の実施例の分析用光学系の基本構成を示す略図である。この分析用光学系は主に,図16に示した第1の光軸1上左側から右側に向けて,LED光源2,レンズ3,第1のスリット部品4,第2のスリット部品5,及び,第1の光検出器6を配置し,第1のスリット部品4と第2のスリット部品5との間に測定対象物である検体7を納めた容器8をセットして測定する。
図17は,本発明の第3の実施例の分析用光学系及びその光学系を用いた分析装置の基本構成を示す略図である。実施例1及び実施例2では,第2の光検出器で検出したモニタ光の光量を用いて光量制御回路によりLED光源の駆動電流をフィードバック制御し,LED光源からの光量を安定化することで第1の光検出器に入り込むノイズを低減し分析精度を向上する方法を採っているのに対し,本実施例では,第1の光検出器と第2の光検出器で受光した光量との差により測定値を求めることで,第1の光検出器に入り込むノイズ成分を除去し,分析精度を向上する方法を採っている。
図18は,本発明による液体分析システムの実施例を示す略図である。液体分析システム50は,恒温槽51,反応容器52を恒温槽51と同心の円周上に複数並べ持つ反応容器ディスク53,測定試料を入れた検体容器54,複数の検体容器54を搬送するラック55,検体容器54内の測定試料を一定量吸引して反応容器52に分注する検体ディスペンサ56,分析項目により選択可能な複数の試薬が入った試薬ボトル57を収めた試薬ディスク58,試薬ボトル57から一定量の試薬を吸引して反応容器52に分注する試薬ディスペンサ59,反応容器52に分注された測定試料と試薬を撹拌する撹拌部60,分析が終了した後の反応容器52を洗浄するための洗浄部61,実施例1,実施例2あるいは実施例3による光度計から成る計測部62,及び,データ処理・記憶部13等から構成されている。
2 LED光源
3 レンズ
4 第1のスリット部品
5 第2のスリット部品
6 第1の光検出器
7 検体
8 容器
9 取り込み可能な範囲の光
10 整形光
11 計測光
12 信号処理回路
13 データ処理・記憶部
14 第2の光検出器
14’ 第2の光検出器
14” 第2の光検出器
15 モニタ光
15’ モニタ光
16 光量制御回路
17 ケラレ光
18 光電膜
19 Si基板
20 穴
21 ガラス基板
22 窓
23 穴
24 基板
31 窓
32 反射鏡
33 第2の光軸
41 分析用光学系
50 液体分析システム
51 恒温槽
52 反応容器
53 反応容器ディスク
54 検体容器
55 ラック
56 検体ディスペンサ
57 試薬ボトル
58 試薬ディスク
59 試薬ディスペンサ
60 撹拌部
61 洗浄部
62 計測部
Claims (12)
- 第1の光軸上に,LED光源,前記LED光源から出射された出射光を整形するレンズ,前記レンズにより整形された整形光の照射領域を一定に制御し計測光とする第1のスリット部品,前記第1のスリット部品を通過し更に測定対象物である検体を通過した前記計測光の領域を一定に制御する第2のスリット部品,前記第2のスリット部品を通過した前記計測光を検出する第1の光検出器が配置された分析用の光学系において,
前記レンズと前記第1のスリット部品の間に,もしくは前記レンズと前記第1のスリット部品の間で前記第1の光軸から分岐した第2の光軸上に,前記整形光のうち前記第1のスリット部品を通過する光以外の少なくとも一部を検出する第2の光検出器を有することを特徴とする分析用光学系。 - 請求項1に記載の分析用光学系において,前記第2の光検出器は,前記整形光のうち前記第1のスリット部品を通過する光を通過させる開口を有することを特徴とする分析用光学系。
- 請求項1に記載の分析用光学系において,前記第2の光検出器は,前記第1のスリット部品の前記LED光源側表面に形成されていることを特徴とする分析用光学系。
- 請求項1に記載の分析用光学系において,前記レンズと前記第1のスリット部品の間で前記第1の光軸から前記第2の光軸を分岐する手段が,前記整形光のうち前記第1のスリット部品を通過する光以外の少なくとも一部を反射する反射鏡であることを特徴とする分析用光学系。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載の分析用光学系において,前記LED光源の主波長が340nm,376nm,405nm,415nm,450nm,480nm,505nm,546nm,570nm,600nm,660nm,700nm,750nm,800nmのうち少なくとも1つを含むことを特徴とする分析用光学系。
- 複数の検体容器を保持し搬送する手段と,
複数の試薬容器を保持する手段と,
複数の反応容器を保持し搬送する手段と,
前記検体容器中の検体を前記反応容器に分注する検体ディスペンサと,
前記試薬容器中の試薬を前記反応容器に分注する試薬ディスペンサと,
前記反応容器中の溶液の吸光度を測定するための計測部と,
前記計測部で計測された信号を処理する信号処理部とを有する分析装置において,
前記計測部は,第1の光軸上に,LED光源,前記LED光源から出射された出射光を整形するレンズ,前記レンズにより整形された整形光の照射領域を一定に制御し計測光とする第1のスリット部品,前記第1のスリット部品を通過し更に前記反応容器中の溶液を通過した前記計測光の領域を一定に制御する第2のスリット部品,前記第2のスリット部品を通過した前記計測光を検出する第1の光検出器,及び,前記レンズと前記第1のスリット部品の間に,もしくは前記レンズと前記第1のスリット部品の間で前記第1の光軸から分岐した第2の光軸上に,前記整形光のうち前記第1のスリット部品を通過する光以外の少なくとも一部を検出する第2の光検出器を有することを特徴とする分析装置。 - 請求項6に記載の分析装置において,前記第2の光検出器の出力によって前記LED光源の光出力をフィードバック制御することを特徴とする分析装置。
- 請求項6に記載の分析装置において,前記第1の光検出器の出力と前記第2の光検出器の出力の差を演算して測定値を求めることを特徴とする分析装置。
- 請求項6〜8のいずれか1項に記載の分析装置において,前記第2の光検出器は,前記整形光のうち前記第1のスリット部品を通過する光を通過させる開口を有することを特徴とする分析装置。
- 請求項6〜8のいずれか1項に記載の分析装置において,前記第2の光検出器は,前記第1のスリット部品の前記LED光源側表面に形成されていることを特徴とする分析装置。
- 請求項6〜8のいずれか1項に記載の分析装置において,前記レンズと前記第1のスリット部品の間で前記第1の光軸から前記第2の光軸を分岐する手段が,前記整形光のうち前記第1のスリット部品を通過する光以外の少なくとも一部を反射する反射鏡であることを特徴とする分析装置。
- 請求項6〜11のいずれか1項に記載の分析装置において,前記LED光源の主波長が340nm,376nm,405nm,415nm,450nm,480nm,505nm,546nm,570nm,600nm,660nm,700nm,750nm,800nmのうち少なくとも1つを含むことを特徴とする分析装置。
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