CN115138594A - 传送机构和aoi检测设备 - Google Patents

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李文强
杨建新
朱霆
盛辉
周学慧
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Abstract

本发明公开一种传送机构和AOI检测设备，其中传送机构应用于AOI检测设备，AOI检测设备用于检测IC塑封体，传送机构包括传送机架和推块组件，传送机架设有检测工位、上料工位以及下料工位，上料工位和下料工位分别位于检测工位的两侧，推块组件沿传送机架的传送方向可移动地设于传送机架，以推动IC塑封体从上料工位移动至检测工位供AOI检测设备进行检测，并推动IC塑封体从检测工位移动至下料工位进行下料，如此，可通过推块组件取代人工运输IC塑封体的工作过程，从而可以通过传送机构提高检测车间的工作效率。

Description

传送机构和AOI检测设备
技术领域
本发明涉及AOI检测技术领域，特别涉及一种传送机构和AOI检测设备。
背景技术
在现有的对于装有IC(Integrated Circuit，集成电路)塑封体上的字符检测，是通过AOI(Automated Optical Inspection，自动光学检测)检测设备进行检测。
而目前传送机构大多是通过人工将IC塑封体从上料工位输送至检测工位，以使AOI检测设备对IC塑封体进行检测，再从检测工位将IC塑封体输送至下料工位，这种人工输送的方式效率较低，影响检测车间的工作效率。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种传送机构，旨在通过将IC塑封体放置在传送机架，并通过推块组件将IC塑封体从上料工位推送至检测工位进行检测，并在检测完毕后通过输送机构将IC塑封体推送至下料工位，解决了现有的通过人工将IC塑封体进行运输，导致检测车间效率较低的技术问题。
为实现上述目的，本发明提出的传送机构，所述传送机构应用于AOI检测设备，所述AOI检测设备用于检测IC塑封体，所述传送机构包括传送机架和推块组件，所述传送机架设有检测工位、上料工位以及下料工位，所述上料工位和所述下料工位分别位于所述检测工位的两侧，所述推块组件沿所述传送机架的传送方向可移动地设于所述传送机架，以推动所述IC塑封体从所述上料工位移动至所述检测工位供所述AOI检测设备进行检测，并推动所述IC塑封体从所述检测工位移动至所述下料工位进行下料。
可选地，定义所述传送机架具有高度方向，所述推块组件沿所述传送机架的高度方向可移动地设于所述传送机架。
可选地，所述推块组件包括推块和第一驱动件，所述推块用于推动所述IC塑封体沿所述传送机架的传送方向进行移动，所述第一驱动件安装于所述传送机架，并驱动连接所述推块，以驱动所述推块沿所述传送机架的高度方向进行移动。
可选地，所述推块组件还包括导向辊和滚动轴承，所述导向辊沿所述传送机架的传送方向延伸设置，并固定连接于所述第一驱动件，所述滚动轴承与所述导向辊连接，所述滚动轴承安装于所述推块，以带动所述推块沿所述传送方向进行移动。
可选地，所述推块组件还包括磁吸件，所述第一驱动件驱动连接所述磁吸件，所述磁吸件位于所述推块背离所述上料工位的一侧，并与所述推块磁性连接，所述推块可转动设置于所述传送机架，以使外界的障碍物抵接所述推块时，所述推块进行转动且与所述磁吸件能够脱离连接。
可选地，所述推块组件还包括限位块，所述第一驱动件驱动连接所述限位块，所述限位块位于所述推块靠近所述上料工位的一侧，并于所述推块转动时抵接所述推块，以对所述推块的转动进行限位；
和/或，所述推块组件还包括复位压簧，所述复位压簧具有呈相对设置的两端，所述复位压簧的一端连接于所述滚动轴承背离所述导向辊的一侧，所述复位压簧的另一端连接于所述推块。
可选地，所述推块组件设有两个，两所述推块组件分别设于所述传送机架的传送方向上相对的两侧。
可选地，所述传送机构还包括过渡组件，所述过渡组件设于所述传送机架设有所述上料工位的一侧，用于将所述IC塑封体传送至所述上料工位处。
可选地，所述过渡组件包括第二驱动件、主动轮以及两从动轮组，所述第二驱动件安装于所述传送机架，所述主动轮与所述第二驱动件驱动连接，两所述从动轮组位于所述主动轮相对的两侧，所述主动轮通过皮带分别与两所述从动轮组传动连接，所述IC塑封体通过所述皮带传送至所述上料工位处。
为实现上述目的，本发明实施例提出一种AOI检测设备，所述AOI检测设备包括如上所述的传送机构。
本发明技术方案通过设置有传送机架，且将IC塑封体放置在传送机架上，从而通过推块组件推动IC塑封体在传送机架上的上料工位、检测工位以及下料工位依次进行移动，如此，可通过推块组件取代人工运输IC塑封体的工作过程，从而可以通过传送机构提高检测车间的工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明AOI检测设备一实施例的结构示意图；
图2为本发明传送机构一实施例的结构示意图；
图3为图2中传送机架、推块组件以及过渡组件的结构示意图；
图4为图2中推块组件和过渡组件的结构示意图。
附图标号说明：
标号 名称 标号 名称
100 传送机构 37 滚动轴承
10 传送机架 38 磁吸件
10a 上料工位 39 限位块
10b 检测工位 50 过渡组件
10c 下料工位 51 第二驱动件
30 推块组件 53 主动轮
31 推块 55 从动轮组
33 第一驱动件 57 皮带
34 复位压簧 300 AOI检测设备
35 导向辊 310 IC塑封体
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
本发明提出一种传送机构100。
在本发明实施例中，结合图1至图4所示，该传送机构100应用于AOI检测设备300，AOI检测设备300用于检测IC塑封体310，传送机构100包括传送机架10和推块组件30，传送机架10设有检测工位10b、上料工位10a以及下料工位10c，上料工位10a和下料工位10c分别位于检测工位10b的两侧，推块组件30沿传送机架10的传送方向可移动地设于传送机架10，以推动IC塑封体310从上料工位10a移动至检测工位10b供AOI检测设备300进行检测，并推动IC塑封体310从检测工位10b移动至下料工位10c进行下料。
在本实施例中，传送机构100包括传送机架10和推块组件30，可以理解的是，推块组件30会推动IC塑封体310依次在上料工位10a、检测工位10b以及下料工位10c进行移动，在此说明，推块组件30沿传送机架10的传送方向可移动设置，可以通过驱动件带动传送皮带57以实现推块组件30的移动，为本领域技术人员的公知常识，在此不作过多阐述。本申请的技术方案实现了自动化运输IC塑封体310进行上料、检测以及下料的过程，提高了检测车间的工作效率。
可选的，结合图2所示，传送机构100设有真空吸盘和至少两保压组件，真空吸盘装设于传送机架10上，检测工位10b形成于真空吸盘，真空吸盘用于吸附IC塑封体310，以保证IC塑封体310在检测时的位置固定，真空吸盘的材质可以为陶瓷材质，陶瓷材质的真空吸盘组织致密均匀,强度高,通透性好以及吸附力均匀；传送机架10具有宽度方向，至少两保压组件分别设于传送机架10沿其宽度方向上的两侧，用于将位于检测工位10b的IC塑封体310进行保压，保压组件包括保压板和保压驱动件，保压驱动件的驱动端连接于保压板，以带动保压板朝向或背离检测工位10b移动。因此，通过真空吸盘和保压组件的配合，以使传送机构100实现将位于检测工位10b的IC塑封体310的稳定设置，从而保证了AOI检测设备300的检测精度。
在本发明一实施例中，结合图1至图4所示，定义传送机架10具有高度方向，推块组件30沿传送机架10的高度方向可移动地设于传送机架10。
在本实施例中，推块组件30沿传送机架10的高度方向可移动地设于传送机架10，从而使得当IC塑封体310需要被推动时，推块组件30会沿传送机架10的高度方向进行上升，此时能够推动处于传送机架10上的IC塑封体310进行移动，并且当推动完毕时，能够沿传送机架10的高度方向进行下降，避免对于IC塑封体310的检测干涉，同时，能够通过驱动件以控制推块组件30的移动，实现对于IC塑封体310的推料控制，进而实现传送机构100的自动化控制。
在本发明一实施例中，结合图1至图4所示，该推块组件30包括推块31和第一驱动件33，推块31用于推动IC塑封体310沿传送机架10的传送方向进行移动，第一驱动件33安装于传送机架10，并驱动连接推块31，以驱动推块31沿传送机架10的高度方向进行移动。
在本实施例中，推块组件30包括推块31和第一驱动件33，可以理解是，第一驱动件33的输出端驱动推块31沿传送机架10的高度方向进行移动，推块31的设置以使得能够推动IC塑封体310沿传送机架10的高度方向进行移动，从而可以实现推块31沿传送机架10的高度方向的升降。
在本发明一实施例中，结合图1至图4所示，该推块组件30还包括导向辊35和滚动轴承37，导向辊35沿传送机架10的传送方向延伸设置，并固定连接于第一驱动件33，滚动轴承37与导向辊35连接，滚动轴承37安装于推块31，以带动推块31沿传送方向进行移动。
在本实施例中，推块组件30还包括导向辊35和滚动轴承37，可以理解的是，导向辊35和滚动轴承37的设置，以使得推块31能够沿着传送机架10的传送方向导向移动，并且滚动轴承37能够实现于导向辊35上的滚动，进而通过滚动以减少两者的摩擦，保证推块31运动的顺畅性。
在本发明一实施例中，结合图1至图4所示，该推块组件30还包括磁吸件38，第一驱动件33驱动连接磁吸件38，磁吸件38位于推块31背离上料工位10a的一侧，并与推块31磁性连接，推块31可转动设置于传送机架10，以使外界的障碍物抵接推块31时，推块31进行转动且与磁吸件38能够脱离连接。
在本实施例中，当传送机构100上存在有障碍物时，推块31若继续推动IC塑封体310进行移动，可能会造成IC塑封体310或推块31的损坏，因此本申请通过设置磁吸件38，且推块31的材质为导磁材质，以使磁吸件38会给予推块31一个磁吸力，而当推块31抵接到外界障碍物时，外界障碍物会给予推块31一个与磁吸力相反的阻挡力，且当阻挡力大于磁吸力时，推块31会与磁力件脱离连接并进行转动，从而不会再继续推动IC塑封体310移动的同时，也能够避免与障碍物进行持续抵接，避免造成推块31损坏。
在本发明一实施例中，结合图1至图4所示，该推块组件30还包括限位块39，第一驱动件33驱动连接限位块39，限位块39位于推块31靠近上料工位10a的一侧，并于推块31转动时抵接推块31，以对推块31的转动进行限位。
在本实施例中，当外界障碍物会给予推块31一个与磁吸力相反的阻挡力，且当阻挡力大于磁吸力时，推块31会与磁力件脱离连接并进行转动，若转动过大，会导致推块31难以复位或者造成损坏，因此本申请设置有限位块39，以使得推块31转动过程中，限位块39能够对推块31的转动进行限位，并且对于推块31限位的程度可以根据沿传送机架10的高度方向上推块31设置在传送机架10的位置决定。
在本发明一实施例中，结合图1至图4所示，该推块组件30还包括复位压簧34，复位压簧34具有呈相对设置的两端，复位压簧34的一端连接于滚动轴承37背离导向辊35的一侧，复位压簧34的另一端连接于推块31。
在本实施例中，当外界障碍物给予推块31一个与磁吸力相反的阻挡力时，还会给予推块31一个沿传送机架10的高度方向的力，此时推块31会沿传送机架10的高度方向进行下降，因此设置有复位压簧34，在下降时会带动复位压簧34下压，当下压到一定程度时，复位压簧34会进行复位，从而带动推块31上升，实现复位。
在本发明一实施例中，结合图1至图4所示，该推块组件30设有两个，两推块组件30分别设于传送机架10的传送方向上相对的两侧。
在本实施例中，两推块组件30的设置，以使一推块组件30会推动IC塑封体310由上料工位10a移动至检测工位10b，并在检测完毕后继续推动IC塑封体310进行移动，此时，一推块组件30会复位回去，另一推块组件30会接替推动IC塑封体310移动至下料工位10c，从而可以实现两推块组件30的同步工作，提高传送机构100的工作效率。
在本发明一实施例中，结合图1至图4所示，该传送机构100还包括过渡组件50，过渡组件50设于传送机架10设有上料工位10a的一侧，用于将IC塑封体310传送至上料工位10a处。
在本实施例中，过渡组件50的设置，以使IC塑封体310可以由AOI检测设备300的输送机构过渡至传送机架10的上料工位10a处，从而能够对IC塑封体310进行保护，避免推料机构推动IC塑封体310移动至上料工位10a时造成损坏。
在本发明一实施例中，结合图1至图4所示，该过渡组件50包括第二驱动件51、主动轮53以及两从动轮组55，第二驱动件51安装于传送机架10，主动轮53与第二驱动件51驱动连接，两从动轮组55位于主动轮53相对的两侧，主动轮53通过皮带57分别与两从动轮组55传动连接，IC塑封体310通过皮带57传送至上料工位10a处。
在本实施例中，过渡组件50包括第二驱动件51、主动轮53以及两从动轮组55，可以理解的是，第二驱动件51可以为电机，且主动轮53和两从动轮组55与皮带57的配合可以为圆带传动，从而可以减少过渡组件50所占用传送机架10的空间，并且能够减少IC塑封体310于圆带皮带57传动上的摩擦。
此外，本发明还提出一种AOI检测设备300，AOI检测设备300包括如上所述的传送机构100。
需要说明的是，输送机构的详细结构可参照上述传送机构100的实施例，此处不再赘述；由于在本发明的AOI检测设备300中使用了上述传送机构100，因此，本发明的传送机构100的实施例包括上述传送机构100全部实施例的全部技术方案，且所达到的技术效果也完全相同，在此不再赘述。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种传送机构，应用于AOI检测设备，所述AOI检测设备用于检测IC塑封体，其特征在于，所述传送机构包括：
传送机架，所述传送机架设有检测工位、上料工位以及下料工位，所述上料工位和所述下料工位分别位于所述检测工位的两侧；和
推块组件，所述推块组件沿所述传送机架的传送方向可移动地设于所述传送机架，以推动所述IC塑封体从所述上料工位移动至所述检测工位供所述AOI检测设备进行检测，并推动所述IC塑封体从所述检测工位移动至所述下料工位进行下料。
2.如权利要求1所述的传送机构，其特征在于，定义所述传送机架具有高度方向，所述推块组件沿所述传送机架的高度方向可移动地设于所述传送机架。
3.如权利要求2所述的传送机构，其特征在于，所述推块组件包括推块和第一驱动件，所述推块用于推动所述IC塑封体沿所述传送机架的传送方向进行移动；
所述第一驱动件安装于所述传送机架，并驱动连接所述推块，以驱动所述推块沿所述传送机架的高度方向进行移动。
4.如权利要求3所述的传送机构，其特征在于，所述推块组件还包括：
导向辊，所述导向辊沿所述传送机架的传送方向延伸设置，并固定连接于所述第一驱动件；和
滚动轴承，所述滚动轴承与所述导向辊连接，所述滚动轴承安装于所述推块，以带动所述推块沿所述传送方向进行移动。
5.如权利要求4所述的传送机构，其特征在于，所述推块组件还包括磁吸件，所述第一驱动件驱动连接所述磁吸件，所述磁吸件位于所述推块背离所述上料工位的一侧，并与所述推块磁性连接，所述推块可转动设置于所述传送机架，以使外界的障碍物抵接所述推块时，所述推块进行转动且与所述磁吸件能够脱离连接。
6.如权利要求5所述的传送机构，其特征在于，所述推块组件还包括限位块，所述第一驱动件驱动连接所述限位块，所述限位块位于所述推块靠近所述上料工位的一侧，并于所述推块转动时抵接所述推块，以对所述推块的转动进行限位；
和/或，所述推块组件还包括复位压簧，所述复位压簧具有呈相对设置的两端，所述复位压簧的一端连接于所述滚动轴承背离所述导向辊的一侧，所述复位压簧的另一端连接于所述推块。
7.如权利要求1至6中任一项所述的传送机构，其特征在于，所述推块组件设有两个，两所述推块组件分别设于所述传送机架的传送方向上相对的两侧。
8.如权利要求1至6中任一项所述的传送机构，其特征在于，所述传送机构还包括过渡组件，所述过渡组件设于所述传送机架设有所述上料工位的一侧，用于将所述IC塑封体传送至所述上料工位处。
9.如权利要求8所述的传送机构，其特征在于，所述过渡组件包括：
第二驱动件，所述第二驱动件安装于所述传送机架；
主动轮，所述主动轮与所述第二驱动件驱动连接；以及
两从动轮组，两所述从动轮组位于所述主动轮相对的两侧，所述主动轮通过皮带分别与两所述从动轮组传动连接，所述IC塑封体通过所述皮带传送至所述上料工位处。
10.一种AOI检测设备，其特征在于，所述AOI检测设备包括如权利要求1至9中任一项所述的传送机构。
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