CN115138595A - Aoi检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种AOI检测设备，AOI检测设备包括工作台、传送机构、至少两个输送机构、推料机构以及检测机构，传送机构设于工作台，传送机构设有供IC塑封体放置的检测工位、上料工位以及下料工位，至少两个输送机构均设于工作台，其中的一输送机构位于传送机构设有上料工位的一侧，另一输送机构位于传送机构设有下料工位的一侧，推料机构设于工作台，并位于传送机构设有上料工位的一侧，检测机构可移动地设于工作台，并位于传送机构的上方，检测机构朝向检测工位，以对IC塑封体进行检测，如此，可通过AOI检测设备的各个机构配合取代人工输送和传送IC塑封体的工作过程，从而可以通过AOI检测设备提高检测车间的工作效率。

Description

AOI检测设备

技术领域

本发明涉及AOI检测技术领域，特别涉及一种AOI检测设备。

背景技术

IC(Integrated Circuit，集成电路)塑封体打标后，会存在有字符，因此需要对字符进行检测。

而目前对于IC塑封体上的字符进行检测时，大多数过程是通过人工来实现，即，人工将IC塑封体进行上下料的输送和人工将IC塑封体传送至检测工位进行检测等过程，这种人工输送和传送的方式效率较低，影响检测车间的工作效率。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种AOI检测设备，旨在通过设置传送机构、两输送机构、推料机构以及检测机构，实现将IC塑封体自动化检测，解决了现有的通过人工将IC塑封体进行输送和运输进行检测，导致检测车间效率较低的技术问题。

为实现上述目的，本发明提出的AOI检测设备，所述AOI检测设备包括工作台、传送机构、至少两个输送机构、推料机构以及检测机构，所述传送机构设于所述工作台，所述传送机构设有供所述IC塑封体放置的检测工位、上料工位以及下料工位，沿所述传送机构的传送方向上，所述上料工位和所述下料工位分别位于所述检测工位的两侧，至少两个所述输送机构均设于所述工作台，其中的一所述输送机构位于所述传送机构设有所述上料工位的一侧，另一所述输送机构位于所述传送机构设有所述下料工位的一侧，所述推料机构设于所述工作台，并位于所述传送机构设有上料工位的一侧，用于推动所述IC塑封体由所述输送机构移动至所述上料工位处，所述检测机构可移动地设于所述工作台，并位于所述传送机构的上方，所述检测机构朝向所述检测工位，以对所述IC塑封体进行检测。

可选地，所述输送机构包括第一输送组件、第二输送组件以及夹爪组件，所述输送机构具有高度方向和长度方向，所述第一输送组件与所述第二输送组件沿所述输送机构的高度方向呈间隔排布，所述IC塑封体装设于料盒，所述夹爪组件沿所述输送机构的高度方向和长度方向可移动设置，用以夹持所述料盒从所述第一输送组件输送至所述第二输送组件。

可选地，所述夹爪组件包括固定板、夹持板以及压板，所述固定板具有长度方向，所述夹持板固定安装于所述固定板，所述压板可移动地设于所述固定板，并沿所述固定板的长度方向设于所述夹持板的一侧，所述压板与所述夹持板围合形成有供夹持所述料盒的夹持空间，所述压板朝向所述夹持空间的一侧设有转动结构，所述转动结构具有圆弧面，所述压板朝向所述夹持空间的方向移动时，所述圆弧面抵接于所述料盒，以使所述转动结构沿朝向所述夹持空间的方向进行转动，以推动所述料盒朝所述夹持空间内移动。

可选地，所述转动结构包括转动板和转动轴，所述转动板朝向所述夹持空间的表面为所述圆弧面，所述转动板具有宽度方向，并沿其宽度方向上相对的两侧均设有第一转动孔，所述转动轴沿其长度方向上的两侧转动穿设于所述第一转动孔，并沿其长度方向上的中部转动穿设于所述压板。

可选地，所述传送机构包括传送机架和推块组件，所述传送机架设有所述检测工位、所述上料工位以及所述下料工位，所述推块组件沿所述传送机架的传送方向可移动地设于所述传送机架，以推动所述IC塑封体从所述上料工位移动至所述检测工位供所述检测机构进行检测，并推动所述IC塑封体从所述检测工位移动至所述下料工位进行下料。

可选地，定义所述传送机架具有高度方向，所述推块组件沿所述传送机架的高度方向可移动地设于所述传送机架。

可选地，所述推块组件包括推块和第一驱动件，所述推块用于推动所述IC塑封体沿所述传送机架的传送方向进行移动，所述第一驱动件安装于所述传送机架，并驱动连接所述推块，以驱动所述推块沿所述传送机架的高度方向进行移动。

可选地，所述推块组件设有两个，两所述推块组件分别设于所述传送机架的传送方向上相对的两侧；

和/或，所述传送机构还包括过渡组件，所述过渡组件设于所述传送机架设有所述上料工位的一侧，用于将所述IC塑封体传送至所述上料工位处。

可选地，所述传送机构设有至少两保压组件，定义所述传送机构具有宽度方向，至少两所述保压组件安装于所述传送机构，并设于所述传送机构沿其宽度方向上相对的两侧，用于将所述检测工位上的所述IC塑封体进行保压；

和/或，所述传送机构设有真空吸盘，所述真空吸盘安装于所述传送机构，并设有所述检测工位，所述真空吸盘用于吸附固定所述检测工位上的所述IC塑封体。

可选地，所述检测机构包括两CCD检测组件，两所述CCD检测组件均设于所述工作台，并沿所述传送机构的传送方向间隔排布，两所述CCD检测组件均朝向所述检测工位；

和/或，所述AOI检测设备还包括风刀机构，所述风刀机构设于所述工作台，并位于所述传送机构的上方，所述风刀机构用于去除所述IC塑封体的灰尘；

和/或，所述AOI检测设备还包括离子风机机构，所述离子风机机构设于所述工作台，并位于所述传送机构的上方，所述离子风机机构用于消除所述IC塑封体的静电。

本发明技术方案通过设置有传送机构、两输送机构、推料机构以及检测机构，即，装设在料盒的IC塑封体由输送机构输送至传送机构的上料工位，并由推料机构将IC塑封体从料盒中推出，且IC塑封体通过传送机构移动至检测工位由检测机构进行检测，检测完毕后移动至下料工位，由另一输送机构进行输送下料，如此，可通过AOI检测设备的各个机构配合取代人工输送和传送IC塑封体的工作过程，从而可以通过AOI检测设备提高检测车间的工作效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明AOI检测设备一实施例的结构示意图；

图2为本发明AOI检测设备另一实施例的结构示意图；

图3为图1所示传送机构的结构示意图；

图4为图3所示传送机架、推块组件以及过渡组件的结构示意图；

图5为图3所示保压组件、过渡组件以及推块组件的结构示意图；

图6为图1所示输送机构的结构示意图；

图7为图6所示夹爪组件的结构示意图；

图8为图6所示夹爪组件另一视角的结构示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				100	AOI检测设备	355	从动轮组
10	工作台	357	皮带
				20	风刀机构	40	离子风机机构
30	传送机构	50	输送机构
				31	传送机架	51	夹爪组件
31a	上料工位	511	固定板
				31b	检测工位	513	夹持板
31c	下料工位	515	压板
				311	保压组件	517	转动结构
315	真空吸盘	5171	转动板
				33	推块组件	5173	转动轴
331	推块	5175	复位扭簧
				333	第一驱动件	519	第三驱动件
334	复位压簧	53	第一输送组件
				335	导向辊	55	第二输送组件
336	滚动轴承	57	移动组件
				337	磁吸件	70	推料机构
339	限位块	90	检测机构
				35	过渡组件	91	CCD检测组件
351	第二驱动件	300	IC塑封体
				353	主动轮	310	料盒

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种AOI检测设备100。

在本发明实施例中，结合图1至图8所示，该AOI检测设备100包括工作台10、传送机构30、至少两个输送机构50、推料机构70以及检测机构90，传送机构30设于工作台10，传送机构30设有供IC塑封体300放置的检测工位31b、上料工位31a以及下料工位31c，沿传送机构30的传送方向上，上料工位31a和下料工位31c分别位于检测工位31b的两侧，至少两个输送机构50均设于工作台10，其中的一输送机构50位于传送机构30设有上料工位31a的一侧，另一输送机构50位于传送机构30设有下料工位31c的一侧，推料机构70设于工作台10，并位于传送机构30设有上料工位31a的一侧，用于推动IC塑封体300由输送机构50移动至上料工位31a处，检测机构90可移动地设于工作台10，并位于传送机构30的上方，检测机构90朝向检测工位31b，以对IC塑封体300进行检测。

在本实施例中，AOI检测设备100包括工作台10、传送机构30、至少两个输送机构50、推料机构70以及检测机构90，可以理解的是，装设在料盒310的IC塑封体300由输送机构50输送至传送机构30的上料工位31a，并由推料机构70将IC塑封体300从料盒310中推出，且IC塑封体300通过传送机构30移动至检测工位31b由检测机构90进行检测，检测完毕后移动至下料工位31c，由另一输送机构50进行输送下料，如此，可通过AOI检测设备100的各个机构配合取代人工输送和传送IC塑封体300的工作过程，从而可以通过AOI检测设备100提高检测车间的工作效率。

具体地，推料机构70包括推料驱动件、凸轮结构以及推料推杆，推料驱动件的驱动端连接于凸轮结构，凸轮结构抵接于推料推杆，从而可以通过推料驱动件的驱动实现带动推料推杆的移动，进而在装载有IC塑封体300的料盒310在第一输送组件53输送时，且料盒310的相对的两侧面开设有推料口时，推料推杆的至少部分结构能伸入推料口，以将IC塑封体300由料盒310内推动至传送机构30，实现自动化上料过程。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该输送机构50包括第一输送组件53、第二输送组件55以及夹爪组件51，输送机构50具有高度方向和长度方向，第一输送组件53与第二输送组件55沿输送机构50的高度方向呈间隔排布，IC塑封体300装设于料盒310，夹爪组件51沿输送机构50的高度方向和长度方向可移动设置，用以夹持料盒310从第一输送组件53输送至第二输送组件55。

在本实施例中，输送机构50包括第一输送组件53、第二输送组件55以及夹爪组件51，于一实施例中，第一输送机构50可以用于输送放置装载着待检测的IC塑封体300的料盒310，并且待检测的IC塑封体300由料盒310内被推送至AOI检测设备100的传送机构30后，料盒310为空盒状态，此时夹爪组件51可以夹持空盒状态的料盒310并放置第二输送组件55，因此第二输送组件55可以用于输送空盒状态的料盒310；于另一实施例中，第一输送机构50可以用于输送空盒状态的料盒310，以使检测完毕的IC塑封体300可以存进料盒310内，当料盒310装满检测完毕的IC塑封体300后，夹爪组件51会夹持装满检测完毕的IC塑封体300的料盒310放置到第二输送机构50，因此第二输送组件55可以用于输送装满检测完毕的IC塑封体300的料盒310。因此，夹爪组件51可沿输送机构50的高度方向和长度方向可移动设置，可以实现将料盒310由第一输送组件53移动至第二输送组件55，实现自动化夹持和输送过程。

具体的，第一输送组件53和第二输送组件55均可以通过电机来控制料盒310的输送，并且两者的输送空间均可以通过调节件和挡板的配合实现调节，从而可以适配不同尺寸的料盒310，在此说明，此处结构为本领域的现有技术，在此不过多阐述。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该输送机构50还包括移动组件57，移动组件57连接于夹爪组件51，并驱动夹爪组件51沿输送机构50的高度方向和长度方向进行移动。

在本实施例中，为了方便理解，定义输送机构50的高度方向和长度方向分别为Z轴方向和X轴方向，因此移动组件57包括Z轴驱动件和X轴移动件，Z轴驱动件可以驱动夹爪组件51夹持料盒310于第一输送组件53和第二输送组件55之间移动，X轴方向可以驱动夹爪组件51在夹持到料盒310时，在避免干涉到第一输送组件53和第二输送组件55的情况下，需要沿X轴进行移动实现空间上的干涉，从而可以实现对于料盒310的自动化夹持和输送过程。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该夹爪组件51包括固定板511、夹持板513以及压板515，固定板511具有长度方向，夹持板513固定安装于固定板511，压板515可移动地设于固定板511，并沿固定板511的长度方向设于夹持板513的一侧，压板515与夹持板513围合形成有供夹持料盒310的夹持空间，压板515朝向夹持空间的一侧设有转动结构517，转动结构517具有圆弧面，压板515朝向夹持空间的方向移动时，圆弧面抵接于料盒310，以使转动结构517沿朝向夹持空间的方向进行转动，以推动料盒310朝夹持空间内移动。

在本实施例中，夹爪组件51包括固定板511、夹持板513以及压板515，可以理解的是，无论料盒310有无装载IC塑封体300，均可被夹爪组件51所夹持，当料盒310至少部分结构处于夹持空间内时，压板515带动转动结构517下压，转动结构517的圆弧面会抵接料盒310的上表面，即，当圆弧面给料盒310一个压力，相对的，料盒310会给予转动结构517一个相反的力，结合图1所示，由于在转动结构517的宽度方向上，转动结构517的转动轴线位于远离夹持空间的一侧，且料盒310与圆弧面的接触点于转动结构517上的投影与转动轴线的投影错开设置，从而转动结构517会受力且朝向夹持空间的方向进行转动，进而带动料盒310往夹持空间内移动，保证夹持的稳定性。

可选的，夹持板513包括夹持底板和设于夹持底板相对的两侧的侧板，夹持底板、侧板以及压板515围合形成夹持空间，夹持底板用于支撑并夹持料盒310的下表面，侧板用于夹持料盒310的侧表面，其中侧板和底板均可设置有接近传感器，即，当接近传感器检测到料盒310的至少部分结构处于夹持空间内时，转动结构517会开始转动，而当接近传感器检测到料盒310完全进入到夹持空间内时，可实现将转动结构517的复位，实现自动化夹持过程。

本申请的技术方案通过设置有转动结构517，且转动结构517设于压板515朝向夹持空间的一侧，以使压板515下压时转动结构517可以带动料盒310往夹持空间内移动，从而保证了夹爪组件51在夹持料盒310时的稳定性。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该转动结构517包括转动板5171和转动轴5173，转动板5171朝向夹持空间的表面为圆弧面，转动板5171具有宽度方向，并沿其宽度方向上相对的两侧均设有第一转动孔，转动轴5173沿其长度方向上的两侧转动穿设于第一转动孔，并沿其长度方向上的中部转动穿设于压板515。

在本实施例中，转动结构517包括转动板5171和转动轴5173，可以理解的是，转动结构517的转动轴线即为转动轴5173的转动轴线，转动板5171在转动轴5173的设置下，能够实现朝向夹持空间的方向进行转动，从而可以保证将料盒310推进夹持空间内，保证夹持的稳定性。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该转动结构517还包括复位扭簧5175，复位扭簧5175套设于转动轴5173，并具有呈相对设置的两端，复位扭簧5175的一端连接于压板515，复位扭簧5175的另一端连接于转动板5171。

在本实施例中，若转动板5171将料盒310完全推进夹持空间内，即，转动板5171可实现复位，因此如果通过人工将转动板5171进行复位，会降低工作效率，因此设置有复位弹簧，实现将转动板5171进行自动复位，保证夹持效率。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该复位扭簧5175设有两个，两复位扭簧5175分别设于转动轴5173沿其长度方向上的两侧。

在本实施例中，两个复位扭簧5175在转动轴5173上的设置，以使转动板5171能够在其长度方向上的两侧均有复位扭簧5175实现复位，从而能够保证转动板5171复位时的稳定性；在此，复位扭簧5175的数量可以是一个、两个或者多个，可以根据复位需求进行选择。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该夹爪组件51还包括第三驱动件519，第三驱动件519装设于固定板511，第三驱动件519驱动连接压板515，以驱动压板515朝向或背离夹持空间移动。

在本实施例中，第三驱动件519可以为气缸，压板515连接于第三驱动件519的驱动端，从而第三驱动件519能够驱动压板515朝向或背离夹持空间移动，以增大或缩小夹持空间，从而实现对于料盒310的压持。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该传送机构30包括传送机架31和推块组件33，传送机架31设有检测工位31b、上料工位31a以及下料工位31c，推块组件33沿传送机架31的传送方向可移动地设于传送机架31，以推动IC塑封体300从上料工位31a移动至检测工位31b供检测机构90进行检测，并推动IC塑封体300从检测工位31b移动至下料工位31c进行下料。

在本实施例中，传送机构30包括传送机架31和推块组件33，可以理解的是，推块组件33会推动IC塑封体300依次在上料工位31a、检测工位31b以及下料工位31c进行移动，在此说明，推块组件33沿传送机架31的传送方向可移动设置，可以通过驱动件带动传送皮带357以实现推块组件33的移动，为本领域技术人员的公知常识，在此不作过多阐述。本申请的技术方案实现了自动化运输IC塑封体300进行上料、检测以及下料的过程，提高了检测车间的工作效率。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，定义传送机架31具有高度方向，推块组件33沿传送机架31的高度方向可移动地设于传送机架31。

在本实施例中，推块组件33沿传送机架31的高度方向可移动地设于传送机架31，从而使得当IC塑封体300需要被推动时，推块组件33会沿传送机架31的高度方向进行上升，此时能够推动处于传送机架31上的IC塑封体300进行移动，并且当推动完毕时，能够沿传送机架31的高度方向进行下降，避免对于IC塑封体300的检测干涉，同时，能够通过驱动件以控制推块组件33的移动，实现对于IC塑封体300的推料控制，进而实现传送机构30的自动化控制。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该推块组件33包括推块331和第一驱动件333，推块331用于推动IC塑封体300沿传送机架31的传送方向进行移动，第一驱动件333安装于传送机架31，并驱动连接推块331，以驱动推块331沿传送机架31的高度方向进行移动。

在本实施例中，推块组件33包括推块331和第一驱动件333，可以理解是，第一驱动件333的输出端驱动推块331沿传送机架31的高度方向进行移动，推块331的设置以使得能够推动IC塑封体300沿传送机架31的高度方向进行移动，从而可以实现推块331沿传送机架31的高度方向的升降。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该推块组件33还包括导向辊335和滚动轴承336，导向辊335沿传送机架31的传送方向延伸设置，并固定连接于第一驱动件333，滚动轴承336与导向辊335连接，滚动轴承336安装于推块331，以带动推块331沿传送方向进行移动。

在本实施例中，推块组件33还包括导向辊335和滚动轴承336，可以理解的是，导向辊335和滚动轴承336的设置，以使得推块331能够沿着传送机架31的传送方向导向移动，并且滚动轴承336能够实现于导向辊335上的滚动，进而通过滚动以减少两者的摩擦，保证推块331运动的顺畅性。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该推块组件33还包括磁吸件337，第一驱动件333驱动连接磁吸件337，磁吸件337位于推块331背离上料工位31a的一侧，并与推块331磁性连接，推块331可转动设置于传送机架31，以使外界的障碍物抵接推块331时，推块331进行转动且与磁吸件337能够脱离连接。

在本实施例中，当传送机构30上存在有障碍物时，推块331若继续推动IC塑封体300进行移动，可能会造成IC塑封体300或推块331的损坏，因此本申请通过设置磁吸件337，且推块331的材质为导磁材质，以使磁吸件337会给予推块331一个磁吸力，而当推块331抵接到外界障碍物时，外界障碍物会给予推块331一个与磁吸力相反的阻挡力，且当阻挡力大于磁吸力时，推块331会与磁力件脱离连接并进行转动，从而不会再继续推动IC塑封体300移动的同时，也能够避免与障碍物进行持续抵接，避免造成推块331损坏。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该推块组件33还包括限位块339，第一驱动件333驱动连接限位块339，限位块339位于推块331靠近上料工位31a的一侧，并于推块331转动时抵接推块331，以对推块331的转动进行限位。

在本实施例中，当外界障碍物会给予推块331一个与磁吸力相反的阻挡力，且当阻挡力大于磁吸力时，推块331会与磁力件脱离连接并进行转动，若转动过大，会导致推块331难以复位或者造成损坏，因此本申请设置有限位块339，以使得推块331转动过程中，限位块339能够对推块331的转动进行限位，并且对于推块331限位的程度可以根据沿传送机架31的高度方向上推块331设置在传送机架31的位置决定。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该推块组件33还包括复位压簧334，复位压簧334具有呈相对设置的两端，复位压簧334的一端连接于滚动轴承336背离导向辊335的一侧，复位压簧334的另一端连接于推块331。

在本实施例中，当外界障碍物给予推块331一个与磁吸力相反的阻挡力时，还会给予推块331一个沿传送机架31的高度方向的力，此时推块331会沿传送机架31的高度方向进行下降，因此设置有复位压簧334，在下降时会带动复位压簧334下压，当下压到一定程度时，复位压簧334会进行复位，从而带动推块331上升，实现复位。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该推块组件33设有两个，两推块组件33分别设于传送机架31的传送方向上相对的两侧。

在本实施例中，两推块组件33的设置，以使一推块组件33会推动IC塑封体300由上料工位31a移动至检测工位31b，并在检测完毕后继续推动IC塑封体300进行移动，此时，一推块组件33会复位回去，另一推块组件33会接替推动IC塑封体300移动至下料工位31c，从而可以实现两推块组件33的同步工作，提高传送机构30的工作效率。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该传送机构30还包括过渡组件35，过渡组件35设于传送机架31设有上料工位31a的一侧，用于将IC塑封体300传送至上料工位31a处。

在本实施例中，过渡组件35的设置，以使IC塑封体300可以由AOI检测设备100的输送机构50过渡至传送机架31的上料工位31a处，从而能够对IC塑封体300进行保护，避免推料机构70推动IC塑封体300移动至上料工位31a时造成损坏。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该过渡组件35包括第二驱动件351、主动轮353以及两从动轮组355，第二驱动件351安装于传送机架31，主动轮353与第二驱动件351驱动连接，两从动轮组355位于主动轮353相对的两侧，主动轮353通过皮带357分别与两从动轮组355传动连接，IC塑封体300通过皮带357传送至上料工位31a处。

在本实施例中，过渡组件35包括第二驱动件351、主动轮353以及两从动轮组355，可以理解的是，第二驱动件351可以为电机，且主动轮353和两从动轮组355与皮带357的配合可以为圆带传动，从而可以减少过渡组件35所占用传送机架31的空间，并且能够减少IC塑封体300于圆带皮带357传动上的摩擦。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该传送机构30设有至少两保压组件311，定义传送机构30具有宽度方向，至少两保压组件311安装于传送机构30，并设于传送机构30沿其宽度方向上相对的两侧，用于将检测工位31b上的IC塑封体300进行保压。

在本实施例中，传送机构30设有至少两保压组件311，传送机架31具有宽度方向，至少两保压组件311分别设于传送机架31沿其宽度方向上的两侧，用于将位于检测工位31b的IC塑封体300进行保压，保压组件311包括保压板515和保压驱动件，保压驱动件的驱动端连接于保压板515，以带动保压板515朝向或背离检测工位31b移动。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该传送机构30设有真空吸盘315，真空吸盘315安装于传送机构30，并设有检测工位31b，真空吸盘315用于吸附固定检测工位31b上的IC塑封体300。

在本实施例中，真空吸盘315装设于传送机架31上，检测工位31b形成于真空吸盘315，真空吸盘315用于吸附IC塑封体300，以保证IC塑封体300在检测时的位置固定，真空吸盘315的材质可以为陶瓷材质，陶瓷材质的真空吸盘315组织致密均匀，强度高，通透性好以及吸附力均匀，因此，通过真空吸盘315和保压组件311的配合，以使传送机构30实现将位于检测工位31b的IC塑封体300的稳定设置，从而保证了AOI检测设备100的检测精度。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该检测机构90包括两CCD检测组件91，两CCD检测组件91均设于工作台10，并沿传送机构30的传送方向间隔排布，两CCD检测组件91均朝向检测工位31b。

在本实施例中，两CCD检测组件91的设置，以使能够对IC塑封体300的两端分别进行检测，同时，两CCD检测组件91分别可移动设于工作台10上，实现自动化检测过程。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该AOI检测设备100还包括风刀机构20，风刀机构20设于工作台10，并位于传送机构30的上方，风刀机构20用于去除IC塑封体300的灰尘。

在本实施例中，风刀机构20包括两风刀，两风刀沿传送机构30的传送方向间隔排布，并均朝向传送机架31，以对处于传送机架31上的IC塑封体300的灰尘进行去除。

在本发明一实施例中，结合图1至图8所示，该AOI检测设备100还包括离子风机机构40，离子风机机构40设于工作台10，并位于传送机构30的上方，离子风机机构40用于消除IC塑封体300的静电。

在本实施例中，离子风机机构40包括两离子风机，两离子风机沿传送机构30的传送方向间隔排布，并均朝向传送机架31，以对处于传送机架31上的IC塑封体300的静电进行去除，避免因为静电而沾上灰尘。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种AOI检测设备，用于对IC塑封体进行检测，其特征在于，所述AOI检测设备包括：

工作台；

传送机构，所述传送机构设于所述工作台，所述传送机构设有供所述IC塑封体放置的检测工位、上料工位以及下料工位，沿所述传送机构的传送方向上，所述上料工位和所述下料工位分别位于所述检测工位的两侧；

至少两个输送机构，至少两个所述输送机构均设于所述工作台，其中的一所述输送机构位于所述传送机构设有所述上料工位的一侧，另一所述输送机构位于所述传送机构设有所述下料工位的一侧；

推料机构，所述推料机构设于所述工作台，并位于所述传送机构设有上料工位的一侧，用于推动所述IC塑封体由所述输送机构移动至所述上料工位处；以及

检测机构，所述检测机构可移动地设于所述工作台，并位于所述传送机构的上方，所述检测机构朝向所述检测工位，以对所述IC塑封体进行检测。

2.如权利要求1所述的AOI检测设备，其特征在于，所述输送机构包括第一输送组件、第二输送组件以及夹爪组件，所述输送机构具有高度方向和长度方向，所述第一输送组件与所述第二输送组件沿所述输送机构的高度方向呈间隔排布，所述IC塑封体装设于料盒；

所述夹爪组件沿所述输送机构的高度方向和长度方向可移动设置，用以夹持所述料盒从所述第一输送组件输送至所述第二输送组件。

3.如权利要求2所述的AOI检测设备，其特征在于，所述夹爪组件包括：

固定板，所述固定板具有长度方向；

夹持板，所述夹持板固定安装于所述固定板；以及

压板，所述压板可移动地设于所述固定板，并沿所述固定板的长度方向设于所述夹持板的一侧，所述压板与所述夹持板围合形成有供夹持所述料盒的夹持空间；

所述压板朝向所述夹持空间的一侧设有转动结构，所述转动结构具有圆弧面，所述压板朝向所述夹持空间的方向移动时，所述圆弧面抵接于所述料盒，以使所述转动结构沿朝向所述夹持空间的方向进行转动，以推动所述料盒朝所述夹持空间内移动。

4.如权利要求3所述的AOI检测设备，其特征在于，所述转动结构包括：

转动板，所述转动板朝向所述夹持空间的表面为所述圆弧面，所述转动板具有宽度方向，并沿其宽度方向上相对的两侧均设有第一转动孔；和

转动轴，所述转动轴沿其长度方向上的两侧转动穿设于所述第一转动孔，并沿其长度方向上的中部转动穿设于所述压板。

5.如权利要求1至4任一项所述的AOI检测设备，其特征在于，所述传送机构包括：

传送机架，所述传送机架设有所述检测工位、所述上料工位以及所述下料工位；和

推块组件，所述推块组件沿所述传送机架的传送方向可移动地设于所述传送机架，以推动所述IC塑封体从所述上料工位移动至所述检测工位供所述检测机构进行检测，并推动所述IC塑封体从所述检测工位移动至所述下料工位进行下料。

6.如权利要求5所述的AOI检测设备，其特征在于，定义所述传送机架具有高度方向，所述推块组件沿所述传送机架的高度方向可移动地设于所述传送机架。

7.如权利要求6所述的AOI检测设备，其特征在于，所述推块组件包括推块和第一驱动件，所述推块用于推动所述IC塑封体沿所述传送机架的传送方向进行移动；

所述第一驱动件安装于所述传送机架，并驱动连接所述推块，以驱动所述推块沿所述传送机架的高度方向进行移动。

8.如权利要求5所述的AOI检测设备，其特征在于，所述推块组件设有两个，两所述推块组件分别设于所述传送机架的传送方向上相对的两侧；

和/或，所述传送机构还包括过渡组件，所述过渡组件设于所述传送机架设有所述上料工位的一侧，用于将所述IC塑封体传送至所述上料工位处。

9.如权利要求5所述的AOI检测设备，其特征在于，所述传送机构设有至少两保压组件，定义所述传送机构具有宽度方向，至少两所述保压组件安装于所述传送机构，并设于所述传送机构沿其宽度方向上相对的两侧，用于将所述检测工位上的所述IC塑封体进行保压；

和/或，所述传送机构设有真空吸盘，所述真空吸盘安装于所述传送机构，并设有所述检测工位，所述真空吸盘用于吸附固定所述检测工位上的所述IC塑封体。

10.如权利要求1至4任一项所述的AOI检测设备，其特征在于，所述检测机构包括两CCD检测组件，两所述CCD检测组件均设于所述工作台，并沿所述传送机构的传送方向间隔排布，两所述CCD检测组件均朝向所述检测工位；

和/或，所述AOI检测设备还包括风刀机构，所述风刀机构设于所述工作台，并位于所述传送机构的上方，所述风刀机构用于去除所述IC塑封体的灰尘；

和/或，所述AOI检测设备还包括离子风机机构，所述离子风机机构设于所述工作台，并位于所述传送机构的上方，所述离子风机机构用于消除所述IC塑封体的静电。

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