CN114136775A - 一种低维光电材料的性能测试装置 - Google Patents

一种低维光电材料的性能测试装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种低维光电材料的性能测试装置，涉及光电材料检测技术领域，解决了现有装置未设置可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测的结构的问题。一种低维光电材料的性能测试装置，包括工作台；所述工作台顶部固定连接有控制部；所述工作台顶部右侧固定连接有稳定台，稳定台顶部通过铰连接设置有往复丝杆；所述工作台顶部左侧固定连接有遮光箱，遮光箱内部设置有光电转换性能检测机构；通过控制往复丝杆持续转动，可以控制两组立架进行相反方向的往复平移，可以使多晶硅薄膜进行往复弯折，通过控制部实时监测薄膜电流情况，可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测。

Description

一种低维光电材料的性能测试装置
技术领域
本发明涉及光电材料检测技术领域，具体为一种低维光电材料的性能测试装 置。
背景技术
多晶硅薄膜是太阳能电池的重要原料，其通过光电效应产生电流，其内部晶 粒尺寸一般为几百纳米到几十微米。
基于上述，传统的低维光电材料的性能测试装置一般为支架结构，不便于对 可以得出多晶硅薄膜挠度进行检测，未设置可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检 测的结构，未设置可以对不同品种多晶硅薄膜在不同光照强度下的光电转换效率 进行检测的结构。
因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种低维光电材料的性能测试装 置。
发明内容
(一)技术问题
本发明的目的在于提供一种低维光电材料的性能测试装置，以解决上述背景 技术中提出的传统的低维光电材料的性能测试装置一般为支架结构，不便于对可 以得出多晶硅薄膜挠度进行检测，未设置可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测 的结构，未设置可以对不同品种多晶硅薄膜在不同光照强度下的光电转换效率进 行检测的结构的问题。
(二)技术方案
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种低维光电材料的性能测试 装置，包括工作台；
所述工作台顶部固定连接有控制部；
所述工作台顶部右侧固定连接有稳定台，稳定台顶部设置有光电薄膜挠度检 测机构，稳定台中部顶面处固定连接有激光测距仪，稳定台右端固定连接有伺服 电机，稳定台顶部通过铰连接设置有往复丝杆，往复丝杆与伺服电机转轴同轴连 接，往复丝杆左右两侧通过滑动连接设置有滚珠螺母座；
所述往复丝杆滚珠螺母座顶部通过滑动连接设置有立架，立架数量设置为二 组；
所述工作台顶部左侧固定连接有遮光箱，遮光箱内部设置有光电转换性能检 测机构。
优选的，所述光电薄膜挠度检测机构包括：
顶架，顶架固定连接于立架顶部；
铰接杆，铰接杆通过铰连接设置于立架中部内侧；
夹持板A，夹持板A固定连接于铰接杆前端；
方通槽，方通槽垂直贯穿于铰接杆中部。
优选的，所述光电薄膜挠度检测机构还包括：
螺纹杆，螺纹杆通过螺纹联接设置于铰接杆顶部；
方杆，方杆通过滑动连接设置于方通槽内部；
夹持板B，夹持板B固定连接于方杆底端。
优选的，所述光电薄膜挠度检测机构还包括：
顶拉簧，顶拉簧数量设置为二组，顶拉簧顶端固定连接于顶架前端，顶拉簧 底部固定连接于铰接杆中部顶端；
底拉簧，底拉簧底部固定连接于立架前端立面处，底拉簧顶端固定连接于铰 接杆中部底端。
优选的，所述光电薄膜挠度检测机构还包括：
中架，中架固定连接于稳定台顶部；
垂直杆，垂直杆通过滑动连接设置于中架顶端中部；
配重块，配重块固定连接于垂直杆顶端；
压辊，压辊通过铰连接设置于垂直杆底端。
优选的，所述光电转换性能检测机构包括：
吸光绒布，吸光绒布固定连接于遮光箱内侧；
对照仓，对照仓固定连接于遮光箱内侧底部；
光敏传感器，光敏传感器固定连接于对照仓内侧底面。
优选的，所述光电转换性能检测机构还包括：
漏光罩，漏光罩固定连接于对照仓顶部；
调光仓，调光仓固定连接于对照仓顶部，调光仓顶部固定连接有锥形灯罩。
优选的，所述光电转换性能检测机构还包括：
菲涅尔透镜，菲涅尔透镜固定连接于调光仓内部；
光源，光源固定连接于调光仓顶部锥形灯罩内部；
侧连仓，侧连仓固定连接于调光仓右端；
柱形突出，柱形突出固定连接于调光仓内侧。
优选的，所述光电转换性能检测机构还包括：
筛板，筛板数量设置为二组，两组筛板垂直叠加，筛板通过滑动连接设置于 柱形突出内侧；
弧形槽，弧形槽固定连接于筛板左右两端；
漏孔，漏孔垂直贯穿于筛板内部；
双面齿条，双面齿条固定连接于筛板右端。
优选的，所述光电转换性能检测机构还包括：
侧板，侧板固定连接于侧连仓内侧，侧板底部固定连接有双层架；
传动电机，传动电机固定连接于侧板侧立面处；
齿轮A，齿轮A通过同轴连接设置于传动电机转轴底端；
齿轮B，齿轮B通过铰连接设置于双层架顶部，齿轮B通过链条与齿轮A相 传动；
齿轮C，齿轮C通过同轴连接设置于齿轮B底部；
齿轮D，齿轮D通过铰连接设置于双层架顶部，齿轮D与齿轮C啮合传动；
传动齿轮，其数量设置为二组，传动齿轮通过铰连接设置于双层架内侧，传 动齿轮与齿轮D同轴连接，其与双面齿条相啮合。
(三)有益效果
1、本发明通过设置立架，将多晶硅薄膜通过导线与控制部连接后，将其放置 在两组立架顶部，将其边缘放置在夹持板B与夹持板A内侧后，通过旋转螺纹杆 可以通过螺纹联接使螺纹杆垂直向上平移，使其带动方杆于方通槽内侧进行垂直 平移，可以使方杆底部的夹持板B垂直向上平移，从而对多晶硅薄膜边缘进行夹 持，通过控制部控制两组立架向相对内侧平移时，通过多晶硅薄膜中部的压辊对 其中部进行挤压，可以使其中部向下弯曲，控制两组立架向相对内侧进行平移过 程中，通过铰接杆向下偏转，可以对弯曲的薄膜边缘角度进行适配，可以防止薄 膜边缘断裂，通过多晶硅薄膜下方的激光测距仪对薄膜中部弯折底面进行距离检 测，可以得出薄膜挠度。
2、本发明还通过设置往复丝杆，通过控制往复丝杆持续转动，可以控制两 组立架进行相反方向的往复平移，两组立架向相对外侧方向平移时，通过顶拉簧 弹性复位，可以使向下偏转的铰接杆向上拉动，可以使铰接杆带动夹持的多晶硅 薄膜返回水平状态，通过立架往复平移，可以使多晶硅薄膜进行往复弯折，通过 控制部实时监测薄膜电流情况，可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测。
3、本发明还通过设置对照仓，通过控制部控制两组传动电机运转，可以使 传动电机转轴带动与其同轴的齿轮A转动，从而可以使与齿轮A通过链条传动的 齿轮B进行同步转动，可以使齿轮B底部同轴的齿轮C进行同步转动，可以使与 齿轮C啮合传动的齿轮D进行与齿轮A同方向的转动，从而可以使与齿轮D同轴 的传动齿轮进行转动，通过传动齿轮进行转动，可以使其带动啮合的双面齿条进 行传动，通过控制两组双层架外侧的传动电机可以分别控制双面齿条左端的筛板 进行平移，通过控制两组筛板之间叠加的漏孔之间的透光缝隙，可以对透光率进 行精密控制，通过控制部控制光源运转后，通过控制部控制传动电机使两层筛板 在调光仓内部进行平移对透光率进行控制后，可以控制调光仓下方对照仓内部的 多晶硅薄膜的光线，通过对放置在对照仓不同品种的多晶硅薄膜同步控制透光率，可以得出不同品种多晶硅薄膜在不同光照强度下的光电转换效率。
附图说明
图1为本发明实施例整体的右立体结构示意图；
图2为本发明实施例中稳定台的立体结构示意图；
图3为本发明实施例图2中A的局部放大示意图；
图4为本发明实施例中立架的立体拆解结构示意图；
图5为本发明实施例中遮光箱的俯视立体结构示意图；
图6为本发明实施例中对照仓的立体拆解结构示意图；
图7为本发明实施例中调光仓的立体拆解结构示意图；
图8为本发明实施例中双层架的立体结构示意图；
在图1至图8中，部件名称或线条与附图编号的对应关系为：
1、工作台；
101、控制部；
2、稳定台；
201、伺服电机；202、往复丝杆；
3、立架；
301、顶架；302、铰接杆；3021、夹持板A；3022、方通槽；3023、螺纹杆； 303、方杆；3031、夹持板B；304、顶拉簧；305、底拉簧；
4、中架；
401、垂直杆；4011、配重块；4012、压辊；
5、遮光箱；
501、吸光绒布；502、对照仓；5021、光敏传感器；503、漏光罩；504、调 光仓；5041、菲涅尔透镜；5042、光源；5043、侧连仓；5044、柱形突出；505、 筛板；5051、弧形槽；5052、漏孔；5053、双面齿条；506、侧板；507、传动电 机；5071、齿轮A；5072、齿轮B；5073、齿轮C；5074、齿轮D；508、双层架； 5081、传动齿轮；
6、激光测距仪。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、 完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的 实施例。
在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语 “上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等 指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本 发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以 特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、 “第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相 连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或 一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过 中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术 语在本发明中的具体含义。
请参阅图1至图8，本发明提供的一种实施例：一种低维光电材料的性能测 试装置，包括工作台1；工作台1顶部固定连接有控制部101；工作台1顶部右 侧固定连接有稳定台2，稳定台2顶部设置有光电薄膜挠度检测机构，稳定台2 中部顶面处固定连接有激光测距仪6，其电性与控制部101相连接，稳定台2右 端固定连接有伺服电机201，伺服电机201电性与控制部101相连接，稳定台2 顶部通过铰连接设置有往复丝杆202，往复丝杆202与伺服电机201转轴同轴连 接，往复丝杆202左右两侧通过滑动连接设置有滚珠螺母座，往复丝杆202两端 螺纹呈反方向对称分布；往复丝杆202滚珠螺母座顶部通过滑动连接设置有立架3，立架3数量设置为二组；工作台1顶部左侧固定连接有遮光箱5，遮光箱5 内部设置有光电转换性能检测机构。
如图2所示，光电薄膜挠度检测机构包括：顶架301，顶架301固定连接于 立架3顶部；铰接杆302，铰接杆302通过铰连接设置于立架3中部内侧；夹持 板A3021，夹持板A3021固定连接于铰接杆302前端；方通槽3022，方通槽3022 垂直贯穿于铰接杆302中部；螺纹杆3023，螺纹杆3023通过螺纹联接设置于铰 接杆302顶部；方杆303，方杆303通过滑动连接设置于方通槽3022内部；夹持 板B3031，夹持板B3031固定连接于方杆303底端；顶拉簧304，顶拉簧304数 量设置为二组，顶拉簧304顶端固定连接于顶架301前端，顶拉簧304底部固定连接于铰接杆302中部顶端；底拉簧305，底拉簧305底部固定连接于立架3前 端立面处，底拉簧305顶端固定连接于铰接杆302中部底端；中架4，中架4固 定连接于稳定台2顶部；垂直杆401，垂直杆401通过滑动连接设置于中架4顶 端中部；配重块4011，配重块4011固定连接于垂直杆401顶端；压辊4012，压 辊4012通过铰连接设置于垂直杆401底端，通过控制部101控制伺服电机201 运转，可以使往复丝杆202转动，从而带动两组滚珠螺母座上的立架3进行相反 方向的平移，将多晶硅薄膜通过导线与控制部101连接后，将其放置在两组立架 3顶部，将其边缘放置在夹持板B3031与夹持板A3021内侧后，通过旋转螺纹杆 3023可以通过螺纹联接使螺纹杆3023垂直向上平移，使其带动方杆303于方通 槽3022内侧进行垂直平移，可以使方杆303底部的夹持板B3031垂直向上平移， 从而对多晶硅薄膜边缘进行夹持，通过控制部101控制两组立架3向相对内侧平 移时，通过多晶硅薄膜中部的压辊4012对其中部进行挤压，可以使其中部向下 弯曲，控制两组立架3向相对内侧进行平移过程中，通过铰接杆302向下偏转， 可以对弯曲的薄膜边缘角度进行适配，可以防止薄膜边缘断裂，通过多晶硅薄膜 下方的激光测距仪6对薄膜中部弯折底面进行距离检测，可以得出薄膜挠度，通 过控制往复丝杆202持续转动，可以控制两组立架3进行相反方向的往复平移， 两组立架3向相对外侧方向平移时，通过顶拉簧304弹性复位，可以使向下偏转 的铰接杆302向上拉动，可以使铰接杆302带动夹持的多晶硅薄膜返回水平状态， 通过立架3往复平移，可以使多晶硅薄膜进行往复弯折，通过控制部101实时监 测薄膜电流情况，可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测。
光电转换性能检测机构包括：吸光绒布501，吸光绒布501固定连接于遮光 箱5内侧；对照仓502，对照仓502固定连接于遮光箱5内侧底部；光敏传感器 5021，光敏传感器5021固定连接于对照仓502内侧底面，通过光敏传感器5021 可以对不同对照仓502内部光照强度进行检测，和对薄膜透光性进行检测，便于 控制变量，通过于遮光箱5内部铺设吸光绒布501可以防止对照仓502漏出光线 对其他对照仓502产生影响，对照仓502内部设置有多晶硅薄膜，多晶硅薄膜通 过电路与控制部101相连接。
如图7所示，光电转换性能检测机构还包括：漏光罩503，漏光罩503固定 连接于对照仓502顶部；调光仓504，调光仓504固定连接于对照仓502顶部， 调光仓504顶部固定连接有锥形灯罩；菲涅尔透镜5041，菲涅尔透镜5041固定 连接于调光仓504内部，顶部光源5042发光后，通过菲涅尔透镜5041进行透光 可以使光线转换为准直光，可以使下方多晶硅薄膜感光更为均匀，减小实验误差； 光源5042，光源5042固定连接于调光仓504顶部锥形灯罩内部，其电性与控制 部101相连接；侧连仓5043，侧连仓5043固定连接于调光仓504右端；柱形突 出5044，柱形突出5044固定连接于调光仓504内侧；筛板505，筛板505数量 设置为二组，两组筛板505垂直叠加，筛板505通过滑动连接设置于柱形突出5044 内侧；弧形槽5051，弧形槽5051固定连接于筛板505左右两端；漏孔5052，漏 孔5052垂直贯穿于筛板505内部；双面齿条5053，双面齿条5053固定连接于筛 板505右端，通过控制部101控制光源5042运转后，通过控制部101控制传动 电机507使两层筛板505在调光仓504内部进行平移对透光率进行控制后，可以 控制调光仓504下方对照仓502内部的多晶硅薄膜的光线，通过对放置在对照仓 502不同品种的多晶硅薄膜同步控制透光率，可以得出不同光照程度下，不同品 种多晶硅薄膜的光电效率。
如图7所示，光电转换性能检测机构还包括：侧板506，侧板506固定连接 于侧连仓5043内侧，侧板506底部固定连接有双层架508，双层架508数量设置 为二组；传动电机507，传动电机507固定连接于侧板506侧立面处，其数量设 置为二组，其电性与控制部101相连接；齿轮A5071，齿轮A5071通过同轴连接 设置于传动电机507转轴底端；齿轮B5072，齿轮B5072通过铰连接设置于双层 架508顶部，齿轮B5072通过链条与齿轮A5071相传动；齿轮C5073，齿轮C5073 通过同轴连接设置于齿轮B5072底部；齿轮D5074，齿轮D5074通过铰连接设置 于双层架508顶部，齿轮D5074与齿轮C5073啮合传动；传动齿轮5081，传动齿 轮5081通过铰连接设置于双层架508内侧，传动齿轮5081与齿轮D5074同轴连 接，通过控制部101控制两组传动电机507运转，可以使传动电机507转轴带动 与其同轴的齿轮A5071转动，从而可以使与齿轮A5071通过链条传动的齿轮B5072 进行同步转动，可以使齿轮B5072底部同轴的齿轮C5073进行同步转动，可以使 与齿轮C5073啮合传动的齿轮D5074进行与齿轮A5071同方向的转动，从而可以 使与齿轮D5074同轴的传动齿轮5081进行转动，通过传动齿轮5081进行转动， 可以使其带动啮合的双面齿条5053进行传动，通过控制两组双层架508外侧的 传动电机507可以分别控制双面齿条5053左端的筛板505进行平移，通过控制 两组筛板505之间叠加的漏孔5052之间的透光缝隙，可以对透光率进行精密控 制。
本发明实施例中提到的光敏传感器5021(型号为OPB-350)可通过私人订制 或市场购买获得。
工作原理：
装置进行使用时，通过控制部101控制伺服电机201运转，可以使往复丝杆 202转动，从而带动两组滚珠螺母座上的立架3进行相反方向的平移，将多晶硅 薄膜通过导线与控制部101连接后，将其放置在两组立架3顶部，将其边缘放置 在夹持板B3031与夹持板A3021内侧后，通过旋转螺纹杆3023可以通过螺纹联 接使螺纹杆3023垂直向上平移，使其带动方杆303于方通槽3022内侧进行垂直 平移，可以使方杆303底部的夹持板B3031垂直向上平移，从而对多晶硅薄膜边 缘进行夹持，通过控制部101控制两组立架3向相对内侧平移时，通过多晶硅薄 膜中部的压辊4012对其中部进行挤压，可以使其中部向下弯曲，控制两组立架3 向相对内侧进行平移过程中，通过铰接杆302向下偏转，可以对弯曲的薄膜边缘角度进行适配，可以防止边缘断裂，通过多晶硅薄膜下方的激光测距仪6对薄膜 中部弯折底面进行距离检测，可以得出薄膜挠度；通过控制往复丝杆202持续转 动，可以控制两组立架3进行相反方向的往复平移，两组立架3向相对外侧方向 平移时，通过顶拉簧304弹性复位，可以使向下偏转的铰接杆302向上拉动，可 以使铰接杆302带动夹持的多晶硅薄膜返回水平状态，通过立架3往复平移，可 以使多晶硅薄膜进行往复弯折，通过控制部101实时监测薄膜电流情况，可以对 多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测，通过控制部101控制两组传动电机507运转， 可以使传动电机507转轴带动与其同轴的齿轮A5071转动，从而可以使与齿轮 A5071通过链条传动的齿轮B5072进行同步转动，可以使齿轮B5072底部同轴的 齿轮C5073进行同步转动，可以使与齿轮C5073啮合传动的齿轮D5074进行与齿 轮A5071同方向的转动，从而可以使与齿轮D5074同轴的传动齿轮5081进行转 动，通过传动齿轮5081进行转动，可以使其带动啮合的双面齿条5053进行传动， 通过控制两组双层架508外侧的传动电机507可以分别控制双面齿条5053左端 的筛板505进行平移，通过控制两组筛板505之间叠加的漏孔5052之间的透光 缝隙，可以对透光率进行精密控制，通过控制部101控制光源5042运转后，通 过控制部101控制传动电机507使两层筛板505在调光仓504内部进行平移对透 光率进行控制后，可以控制调光仓504下方对照仓502内部的多晶硅薄膜的光线， 通过对放置在对照仓502不同品种的多晶硅薄膜同步控制透光率，可以得出不同 光照程度下，不同品种多晶硅薄膜在不同光照强度下的光电转换效率。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而 且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发 明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性 的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要 求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的 任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (10)

1.一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于：包括工作台(1)；
所述工作台(1)顶部固定连接有控制部(101)；
所述工作台(1)顶部右侧固定连接有稳定台(2)，稳定台(2)顶部设置有光电薄膜挠度检测机构，稳定台(2)中部顶面处固定连接有激光测距仪(6)，稳定台(2)右端固定连接有伺服电机(201)，稳定台(2)顶部通过铰连接设置有往复丝杆(202)，往复丝杆(202)与伺服电机(201)转轴同轴连接，往复丝杆(202)左右两侧通过滑动连接设置有滚珠螺母座；
所述往复丝杆(202)滚珠螺母座顶部通过滑动连接设置有立架(3)，立架(3)数量设置为二组；
所述工作台(1)顶部左侧固定连接有遮光箱(5)，遮光箱(5)内部设置有光电转换性能检测机构。
2.根据权利要求1所述的一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于，所述光电薄膜挠度检测机构包括：
顶架(301)，顶架(301)固定连接于立架(3)顶部；
铰接杆(302)，铰接杆(302)通过铰连接设置于立架(3)中部内侧；
夹持板A(3021)，夹持板A(3021)固定连接于铰接杆(302)前端；
方通槽(3022)，方通槽(3022)垂直贯穿于铰接杆(302)中部。
3.根据权利要求2所述的一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于，所述光电薄膜挠度检测机构还包括：
螺纹杆(3023)，螺纹杆(3023)通过螺纹联接设置于铰接杆(302)顶部；
方杆(303)，方杆(303)通过滑动连接设置于方通槽(3022)内部；
夹持板B(3031)，夹持板B(3031)固定连接于方杆(303)底端。
4.根据权利要求3所述的一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于，所述光电薄膜挠度检测机构还包括：
顶拉簧(304)，顶拉簧(304)数量设置为二组，顶拉簧(304)顶端固定连接于顶架(301)前端，顶拉簧(304)底部固定连接于铰接杆(302)中部顶端；
底拉簧(305)，底拉簧(305)底部固定连接于立架(3)前端立面处，底拉簧(305)顶端固定连接于铰接杆(302)中部底端。
5.根据权利要求4所述的一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于，所述光电薄膜挠度检测机构还包括：
中架(4)，中架(4)固定连接于稳定台(2)顶部；
垂直杆(401)，垂直杆(401)通过滑动连接设置于中架(4)顶端中部；
配重块(4011)，配重块(4011)固定连接于垂直杆(401)顶端；
压辊(4012)，压辊(4012)通过铰连接设置于垂直杆(401)底端。
6.根据权利要求1所述的一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于，所述光电转换性能检测机构包括：
吸光绒布(501)，吸光绒布(501)固定连接于遮光箱(5)内侧；
对照仓(502)，对照仓(502)固定连接于遮光箱(5)内侧底部；
光敏传感器(5021)，光敏传感器(5021)固定连接于对照仓(502)内侧底面。
7.根据权利要求6所述的一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于，所述光电转换性能检测机构还包括：
漏光罩(503)，漏光罩(503)固定连接于对照仓(502)顶部；
调光仓(504)，调光仓(504)固定连接于对照仓(502)顶部，调光仓(504)顶部固定连接有锥形灯罩。
8.根据权利要求7所述的一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于，所述光电转换性能检测机构还包括：
菲涅尔透镜(5041)，菲涅尔透镜(5041)固定连接于调光仓(504)内部；
光源(5042)，光源(5042)固定连接于调光仓(504)顶部锥形灯罩内部；
侧连仓(5043)，侧连仓(5043)固定连接于调光仓(504)右端；
柱形突出(5044)，柱形突出(5044)固定连接于调光仓(504)内侧。
9.根据权利要求8所述的一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于，所述光电转换性能检测机构还包括：
筛板(505)，筛板(505)数量设置为二组，两组筛板(505)垂直叠加，筛板(505)通过滑动连接设置于柱形突出(5044)内侧；
弧形槽(5051)，弧形槽(5051)固定连接于筛板(505)左右两端；
漏孔(5052)，漏孔(5052)垂直贯穿于筛板(505)内部；
双面齿条(5053)，双面齿条(5053)固定连接于筛板(505)右端。
10.根据权利要求9所述的一种低维光电材料的性能测试装置，其特征在于，所述光电转换性能检测机构还包括：
侧板(506)，侧板(506)固定连接于侧连仓(5043)内侧，侧板(506)底部固定连接有双层架(508)；
传动电机(507)，传动电机(507)固定连接于侧板(506)侧立面处；
齿轮A(5071)，齿轮A(5071)通过同轴连接设置于传动电机(507)转轴底端；
齿轮B(5072)，齿轮B(5072)通过铰连接设置于双层架(508)顶部，齿轮B(5072)通过链条与齿轮A(5071)相传动；
齿轮C(5073)，齿轮C(5073)通过同轴连接设置于齿轮B(5072)底部；
齿轮D(5074)，齿轮D(5074)通过铰连接设置于双层架(508)顶部，齿轮D(5074)与齿轮C(5073)啮合传动；
传动齿轮(5081)，其数量设置为二组，传动齿轮(5081)通过铰连接设置于双层架(508)内侧，传动齿轮(5081)与齿轮D(5074)同轴连接，其与双面齿条(5053)相啮合。
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