CN212206895U - 一种光电薄膜性能测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光电薄膜性能测试装置，包括安装座，探测头，支撑柱，所述支撑柱上套接有齿轮，所述探测头的端部固定安装有水平放置的伸缩气缸，所述伸缩气缸的端部固定安装有半齿盘，所述半齿盘的内部设置有支撑杆，所述安装座的底部内表壁两侧固定安装有驱动马达。本实用新型中，通过伸缩气缸、齿轮、半齿盘的设置，利用齿轮的转动带动半齿盘转动，半齿盘的转动带动伸缩气缸转动，伸缩气缸的转动带动探测头在光电薄膜上方形成弧形扫描区，利用伸缩气缸的设置，带动探测头进行水平方向的移动，从而使得探测头在光电薄膜的上方进行无死角扫描，使得探测头记录的数据更加准确。

Description

一种光电薄膜性能测试装置

技术领域

本实用新型涉及光电薄膜技术领域，尤其涉及一种光电薄膜性能测试装置。

背景技术

光电显示薄膜器件主要包括光学膜片、光电显示用胶带(按其用途还可以细分胶粘类制品和绝缘类制品两类)，光电显示薄膜器件是LCD面板不可或缺的组成部分，并得到了广泛的应用，现有的光电薄膜生产厂家在产品批量生产前通常需要对样品薄膜的厚度、拉伸强度和伸长率进行测试，由于传统的光电薄膜性能测试装置在进行拉伸实验时，探测头通常只能对同一块区域的数据进行记录，降低了光电薄膜的综合性数据的准确性，而且现有的光电薄膜性能测试装置容易出现拉伸不均匀的现象，导致实验读取数据出现误差，影响光电薄膜的生产品质。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：为了光电薄膜性能测试装置探测头读取数据的区域受到局限和拉伸过程受力不均匀的问题，而提出的一种光电薄膜性能测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种光电薄膜性能测试装置，包括安装座，探测头，支撑柱，所述支撑柱上套接有齿轮，所述探测头的端部固定安装有水平放置的伸缩气缸，所述伸缩气缸的端部固定安装有半齿盘，所述半齿盘的内部设置有支撑杆，所述安装座的底部内表壁两侧固定安装有驱动马达，所述驱动马达的端部贯穿安装座的顶部内表壁并依次套接有传动轮一和绕线轮一，所述安装座的底部内表壁中心处前后两端设置有传动杆，所述传动杆的端部贯穿安装座的顶部内表壁并依次套接有传动轮二和绕线轮二，所述绕线轮一和绕线轮二通过绳线连接有固定机构。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述传动轮一通过皮带与传动轮二传动连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述固定机构包括缓冲筒、连杆，固定夹。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述缓冲筒的内部设置有T形杆，所述T形杆的上端通过弹簧与缓冲筒的底部内表壁弹性连接，所述T形杆的端部贯穿缓冲筒的内部内表壁并与连杆固定连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述固定机构共设置四组，分别位于光电薄膜的四边。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述齿轮与半齿盘啮合连接。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型中，通过伸缩气缸、齿轮、半齿盘的设置，利用齿轮的转动带动半齿盘转动，半齿盘的转动带动伸缩气缸转动，伸缩气缸的转动带动探测头在光电薄膜上方形成弧形扫描区，利用伸缩气缸的设置，带动探测头进行水平方向的移动，从而使得探测头在光电薄膜的上方进行无死角扫描，使得探测头记录的数据更加准确。

2、本实用新型中，通过驱动马达、传动轮一、传动轮二、皮带、固定机构的设置，利用驱动马达的转动带动传动轮一和绕线轮一转动，传动轮一通皮带带动传动轮二同步运动，传动轮二的转动通过传动杆带动绕线轮转动，绕线轮一和绕线轮二的转动通过绳线同时带动固定机构对光电薄膜进行拉伸，使得光电薄膜的四边同一时刻受到相同的拉力，从而使得光电薄膜受力更加均匀，保证了光电薄膜拉伸区的实验数据误差小。

附图说明

图1示出了根据本实用新型实施例提供的一种光电薄膜性能测试装置主视结构示意图；

图2示出了根据本实用新型实施例提供的一种光电薄膜性能测试装置A-A结构示意图；

图3示出了根据本实用新型实施例提供的一种光电薄膜性能测试装置齿轮和半齿盘俯视结构示意图；

图4示出了根据本实用新型实施例提供的一种光电薄膜性能测试装置B部放大结构示意图；

图例说明：

1、安装座；2、探测头；3、支撑柱；4、齿轮；5、绕线轮二；6、半齿盘；7、支撑杆；8、伸缩气缸；9、绳线；10、驱动马达；11、传动轮二；12、传动杆；13、皮带；14、传动轮一；15、绕线轮一；16、固定机构；161、缓冲筒；162、T形杆；163、弹簧；164、连杆；165、固定夹。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种光电薄膜性能测试装置，包括安装座1，探测头2，支撑柱3支撑柱3上套接有齿轮4，探测头2的端部固定安装有水平放置的伸缩气缸8，使得伸缩气缸8带动探测头2进行水平方向的移动，伸缩气缸8的端部固定安装有半齿盘6，半齿盘6的内部设置有支撑杆7，给予半齿盘6竖直方向的支撑力，安装座1的底部内表壁两侧固定安装有驱动马达10，驱动马达10的端部贯穿安装座1的顶部内表壁并依次套接有传动轮一14和绕线轮一15，安装座1的底部内表壁中心处前后两端设置有传动杆12，传动杆12的端部贯穿安装座1的顶部内表壁并依次套接有传动轮二11和绕线轮二5，实现了绕线轮一15和绕线轮二5的转动通过绳线9同时带动固定机构16对光电薄膜进行拉伸，使得光电薄膜的四边同一时刻受到相同的拉力，绕线轮一15和绕线轮二5通过绳线9连接有固定机构16。

具体的，如图1所示，传动轮一14通过皮带13与传动轮二11传动连接，保证了传动轮一14通皮带13带动传动轮二11同步转动。

具体的，如图2所示，固定机构16包括缓冲筒161、连杆164，固定夹165，使得光电薄膜的四边通过固定机构16实现夹紧。

具体的，如图4示，缓冲筒161的内部设置有T形杆162，T形杆162的上端通过弹簧163与缓冲筒161的底部内表壁弹性连接，T形杆162的端部贯穿缓冲筒161的内部内表壁并与连杆164固定连接，使得固定机构16拉伸光电薄膜时速度不会过快，防止光电薄膜被瞬间拉断。

具体的，如图2所示，固定机构16共设置四组，分别位于光电薄膜的四边，保证了光电薄膜同时受到横向和纵向的拉伸力。

具体的，如图1所示，齿轮4与半齿盘6啮合连接，保证齿轮4的转动带动半齿盘6转动。

工作原理：使用时，启动驱动马达10，驱动马达10的转动带动传动轮一14和绕线轮一15转动，传动轮一14通皮带13带动传动轮二11同步运动，传动轮二11的转动通过传动杆12带动绕线轮二5转动，绕线轮一15和绕线轮二5的转动通过绳线9同时带动固定机构16对光电薄膜进行拉伸，使得光电薄膜的四边同一时刻受到相同的拉力，从而使得光电薄膜受力更加均匀，保证了光电薄膜拉伸区的实验数据误差小,通过驱动装置带动支撑柱3转动，支撑柱3的转动带动齿轮4转动，齿轮4的转动带动半齿盘6转动，半齿盘6的转动带动伸缩气缸8转动，伸缩气缸8的转动带动探测头2在光电薄膜上方形成弧形扫描区，操控伸缩气缸8的伸缩，使其带动探测头2进行水平方向的移动，从而使得探测头2在光电薄膜的上方进行无死角扫描，保证了探测头2记录的数据更加综合更加准确。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种光电薄膜性能测试装置，包括安装座(1)，探测头(2)，支撑柱(3)其特征在于，所述支撑柱(3)上套接有齿轮(4)，所述探测头(2)的端部固定安装有水平放置的伸缩气缸(8)，所述伸缩气缸(8)的端部固定安装有半齿盘(6)，所述半齿盘(6)的内部设置有支撑杆(7)，所述安装座(1)的底部内表壁两侧固定安装有驱动马达(10)，所述驱动马达(10)的端部贯穿安装座(1)的顶部内表壁并依次套接有传动轮一(14)和绕线轮一(15)，所述安装座(1)的底部内表壁中心处前后两端设置有传动杆(12)，所述传动杆(12)的端部贯穿安装座(1)的顶部内表壁并依次套接有传动轮二(11)和绕线轮二(5)，所述绕线轮一(15)和绕线轮二(5)通过绳线(9)连接有固定机构(16)。

2.根据权利要求1所述的一种光电薄膜性能测试装置，其特征在于，所述传动轮一(14)通过皮带(13)与传动轮二(11)传动连接。

3.根据权利要求1所述的一种光电薄膜性能测试装置，其特征在于，所述固定机构(16)包括缓冲筒(161)、连杆(164)，固定夹(165)。

4.根据权利要求3所述的一种光电薄膜性能测试装置，其特征在于，所述缓冲筒(161)的内部设置有T形杆(162)，所述T形杆(162)的上端通过弹簧(163)与缓冲筒(161)的底部内表壁弹性连接，所述T形杆(162)的端部贯穿缓冲筒(161)的内部内表壁并与连杆(164)固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种光电薄膜性能测试装置，其特征在于，所述固定机构(16)共设置四组，分别位于光电薄膜的四边。

6.根据权利要求1所述的一种光电薄膜性能测试装置，其特征在于，所述齿轮(4)与半齿盘(6)啮合连接。

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