CN112565975B9 - 声阻支撑膜组件 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种组件。在一些实施例中，该组件包括聚合物膜和至少一个支承层。某些组件构造成在50至20000Hz的频率范围内提供具有+45度至–45度的相位角的声阻抗。借助该组件可以改进声膜的特性。

Description

声阻支撑膜组件
技术领域
本发明的领域涉及一种声膜组件。
背景技术
声膜组件可以允许声音传播通过并穿过膜，并且到达和离开装置。声膜也可以防止水、灰尘和其它污染物的进入。在本领域中存在对改进的声膜的持续需求。
发明内容
所覆盖的实施例由权利要求而不是本发明内容来限定。本发明内容是各个方面的高度概述，并且介绍了一些在以下详细描述部分中进一步描述的概念。本发明内容并非旨在标识所要求保护的主题的关键特征或必要特征，也不是旨在孤立地用于确定所要求保护的主题的范围。应参照整个说明书合适的部分、任何或所有附图和每项权利要求来理解主题。
本发明涉及一种组件，该组件包括聚合物膜和至少一个支承层，上述支承层包括多个开口。
在一些实施例中，该组件包括：聚合物膜，上述聚合物膜具有75至 50,000瑞利(“Rayls”)范围的气流阻力；和至少一个支承层，上述至少一个支承层的至少一部分与聚合物膜接触，至少一个支承层具有10至5000瑞利的气流阻力；当使用振动位移测试(Vibrational Displacement Test：“VDT”)测量时，该组件具有 0.0002Pa/nm至3,000Pa/nm范围的有效刚度；并且该组件在50至20,000Hz的频率范围具有通过阻抗管传递矩阵测试(Impedance Tube Transfer Matrix Test：“ITTMT”) 测量的+45度至-45度的相位角的声阻抗。
在一些实施例中，该组件包括：聚合物膜，上述聚合物膜具有75至 50,000瑞利范围的气流阻力；至少一个支承层，上述至少一个支承层的至少一部分与至少一个聚合物膜接触，至少一个支承层具有10至5000瑞利范围的气流阻力；并且至少一个支承层具有如下有效刚度：使用振动位移测试(“VDT”)测量的 0.05Pa/nm至25Pa/nm范围；并且该组件具有在50至20,000Hz的频率范围通过阻抗管传递矩阵测试(“ITTMT”)测量的+45度至-45度的相位角的声阻抗。
在一些实施例中，该组件包括：气流阻力，上述气流阻力在100至 50,000瑞利；有效刚度，上述有效刚度在当使用振动位移测试(“VDT”)测量时为 0.0002Pa/nm至3,000Pa/nm；以及声阻抗，上述声阻抗具有藉由阻抗管转移矩阵测试(“ITTMT”)测量的、在50至20,000Hz的频率范围的+45度至-45度的相位角。
在一些实施例中，该组件具有根据毛细活塞测试(Capillary Piston Test：“CPT”)测量的在10至350psi(Water Entry Pressure：“WEP”)范围的进水压力。
在一些实施例中，当藉由阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)在50至 20,000HZ的频率范围测量时，该组件呈现3dB至48dB的传输损耗。
在一些实施例中，该组件包括：气流阻力，上述气流阻力为100至 50,000瑞利；有效刚度，上述有效刚度当使用振动位移测试(“VDT")测量时为 0.0002Pa/nm至3,000Pa/nm；以及传输损耗，上述传输损耗当藉由阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)测量时，在50至20,000HZ的频率范围变化不超过1.5分贝/倍频程 (dB/octave)。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至300微米范围的厚度。
在一些实施例中，聚合物膜包括具有不同孔径的多个孔。
在一些实施例中，多个孔具有0.1至30微米范围的最大孔径。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至120psi范围的泡点。
在一些实施例中，至少一个支承层包括多个开口。
在一些实施例中，多个开口的单个开口的最大尺寸为1至500微米。
在一些实施例中，至少一个支承层具有10至1000微米的厚度
在一些实施例中，至少一个支承层具有5％至98％的有效开口面积。
在一些实施例中，聚合物膜包括膨体聚四氟乙烯(ePTFE)。
在一些实施例中，聚合物膜具有1MPa至1000MPa范围的杨氏模量 (Young’s Modulus)。
在一些实施例中，该组件包括单个支承层。
在一些实施例中，该组件包括至少两个支承层。
在一些实施例中，该组件包括第一支承层和第二支承层，并且聚合物膜夹在第一支承层与第二支承层之间。
在一些实施例中，第一支承层和第二支承层包括相同的材料。
在一些实施例中，第一支承层和第二支承层包括不同的材料。
在一些实施例中，在聚合物膜与至少一个支承层之间有粘合剂。
在一些实施例中，至少一个支承层包括玻璃纤维。
在一些实施例中，至少一个支承层包括金属。
在一些实施例中，金属是黄铜。
在一些实施例中，一个或多个支承层包括网。
在一些实施例中，该网是编织聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)的网。
在一些实施例中，该网是挤出的塑料非织造网。
附图说明
在此参考附图仅以示例的方式描述本发明的一些实施例。现在详细地具体参考附图，所示的实施例是作为示例并且其目在于说明性讨论本发明的实施例。在这方面，结合附图的描述使得本领域技术人员清楚如何实施本发明的实施例。
图1示出了根据本发明的且具有单个支承层的示例性组件。
图2示出了根据本发明的且具有两个支承层的另外示例性组件。
图3是用于如测试程序部分中所述的、传输损耗和相位测试的示例性 4－传声器阻抗管的示意图。
图4示出了用于如测试程序部分所述的、具有压缩的传输损耗测试的示例性板。
图5和图6示出了用于测量示例性组件的接触百分比(％)的显微图。
图7至图18示出了示例性组件的示例性声学特征。
图19至图29示出了在空气压力测试之前和之后的示例性组件的示例性声学特征。
图30示出了在压缩力下示例性组件的示例性声学特征。
图31至图32示出了示例性组件的声学特征一致性的非限制示例。
图33示出了非限制组件的示例性可调谐声学特征。
具体实施方式
在已经公开的那些益处和改进中，本发明的其他目的和优点将从结合附图的以下描述中变得明显。本文公开了本发明的详细实施例；然而，所公开的实施例仅是对可以以各种形式实施的本发明的说明。另外，关于本发明的各种实施例给出的每个示例旨在说明性的，而非限制性的。
在整个说明书和权利要求书中，除非上下文另外清楚地规定，否则以下术语采用与在此明确相关联的含义。在此使用的短语“在一个实施例中”、“在实施例中”和“在一些实施例中”不一定指的是相同的实施例(多个)，尽管它可能指的是相同的实施例。此外，在此使用的短语“在另一实施例中”和“在一些其它实施例中”不一定指的是不同的实施例，尽管它可能指的是不同的实施例。不偏离本发明的范围或精神，本发明的所有实施例也可以是组合的。
如本文所用，术语“基于”不是排他性的，并且允许基于未描述的额外因素，除非上下文清楚地另外规定。另外，在整个说明书中，“一”、一个”和“该”的含义包括复数形式。“中”的含义包括“中”和“上”。
本文引用的所有现有专利、出版物和测试方法都通过引用整体纳入本文。
本发明的一些实施例涉及一种主要为电阻支撑声膜组件，该电阻支撑声膜组件包括聚合物膜和至少一个支承层。
在一些实施例中，组件中的聚合物膜包括多个孔。在一些实施例中，多个孔可具有最大孔径。如本文所用，“最大孔径”是多个孔中的最大孔的尺寸。
在一些实施例中，多个孔可具有0.1至30微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有0.3至30微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有0.5至30微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有10至30微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有20至30微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有25至30微米的最大孔径。
在一些实施例中，多个孔可具有0.2至8微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有0.4至4微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有 0.8至2微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有1至1.6微米的最大孔径。
在一些实施例中，多个孔可具有0.2至4微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有0.2至2微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有 0.2至1.6微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有0.2至1微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有0.2至0.8微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有0.2至0.4微米的最大孔径。
在一些实施例中，多个孔可具有0.4至8微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有0.8至8微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有 1至8微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有1.6至8微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有2至8微米的最大孔径。在一些实施例中，多个孔可具有4至8微米的最大孔径。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.06微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.12微米至65微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.24微米至30微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有 0.5微米至15微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有1微米至8微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有2微米至4微米范围的厚度。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至300微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.061微米至126微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至150微米范围的厚度。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至150微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至100微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至50微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至25微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至10微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至5微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至2.5微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至1微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.025微米至0.3微米范围的厚度。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.06微米至65微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.06微米至30微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.06微米至15微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有 0.06微米至8微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.06微米至4微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.06微米至2微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.06微米至1微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.06微米至0.5微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有 0.06微米至0.24微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.06微米至 0.12微米范围的厚度。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.12微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.24微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有0.5微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有1 微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有2微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有4微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有8微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有15微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有30微米至130微米范围的厚度。在一些实施例中，聚合物膜具有65微米至130微米范围的厚度。
在一些实施例中，聚合物膜包含以下至少一种：聚烯烃、聚氨酯、聚酯、聚酰胺、聚酮、聚砜或聚碳酸酯。在一些实施例中，聚合物膜可以包含含氟聚合物。在一些实施例中，含氟聚合物包含聚偏氟乙烯(PVDF)、聚偏二氟乙烯、聚(四氟乙烯-共-六氟丙烯(FEP)、聚(乙烯-交替-四氟乙烯)(ETFE)、聚三氟氯乙烯(PCTFE)、聚(四氟乙烯-共-全氟丙基乙烯基醚)(PFA)、聚(偏二氟乙烯-共-六氟丙烯(PVDF-共-HFP)、聚氟乙烯(PVF)中的一种或多种或其任何组合中的一种或多种。
在一些实施例中，含氟聚合物是聚四氟乙烯(PTFE)。在一些实施例中，PTFE是膨体聚四氟乙烯(ePTFE)。在一些实施例中，ePTFE包含与Gore的美国专利3,953,566或Bacino的美国专利4,902,423中公开的ePTFE组合物中的一个相同的微结构，其特点在于通过原纤维互连的节点。
在非限制示例中，聚合物是具有高内在强度的轻质ePTFE膜，其根据 Gore的美国专利3,953,566中描述的一般方法制备。非限制示例聚合物膜可以是双轴定向膜，其是高度结晶的(即，具有至少94％的结晶度指数)并且在纵向和横向方向上具有至少600MPa的基质抗拉强度。非限制示例聚合物膜可由多个堆叠的 ePTFE层构成，其中每层的单位面积质量小于0.1g/m2。
在一些实施例中，聚合物膜具有75至50,000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有100至50,000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有200至25,000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有800至12,500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有 1600至6000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有3000至4000 瑞利范围的气流阻力。
在一些实施例中，聚合物膜具有200至25,000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有200至12,500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有200至6000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有200至4000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有200至 3000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有200至1600瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有200至800瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有400至800瑞利范围的气流阻力。
在一些实施例中，聚合物膜具有400至50000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有800至50,000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有1600至50,000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有3000至50000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有 6000至50,000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有12,500至 50000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，聚合物膜具有25,000至50,000瑞利范围的气流阻力。
在一些实施例中，聚合物膜具有1MPa至1000MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有2MPa至1000MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有5MPa至1000MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有10MPa至1000MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有 25MPa至1000MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有50MPa至 1000MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有100MPa至1000MPa 范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有250MPa至1000MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有500MPa至1000MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有750MPa至1000MPa范围的杨氏模量。
在一些实施例中，聚合物膜具有4MPa至360MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有8MPa至180MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有16MPa至90MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有32MPa至45MPa范围的杨氏模量。
在一些实施例中，聚合物膜具有4MPa至360MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有4MPa至180MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有4MPa至90MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有4MPa至45MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有4MPa至 32MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有4MPa至16MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有4MPa至8MPa范围的杨氏模量。
在一些实施例中，聚合物膜具有8MPa至360MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有16MPa至360MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有32MPa至360MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有45MPa至360MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有 90MPa至360MPa范围的杨氏模量。在一些实施例中，聚合物膜具有180MPa至 360MPa范围的杨氏模量。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至120psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至100psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有 0.4至80psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至60psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至40psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至20psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至10psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至5psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至2psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至 1psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至0.5psi范围的泡点。
在一些实施例中，聚合物膜具有1.5至56psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有1.5至60psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有3 至28psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有6至16psi范围的泡点。
在一些实施例中，聚合物膜具有1.5至28psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有1.5至14psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有1.5 至7psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有1.5至3.5psi范围的泡点。
在一些实施例中，聚合物膜具有3至56psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有3至28psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有3至 14psi范围的泡点。在一些实施例中，聚合物膜具有3至7psi范围的泡点。
在一些实施例中，聚合物膜可以具有均匀的孔径分布。均匀的孔径分布是孔径分布保持与膜内厚度的函数相同的函数。不均匀的孔径分布是孔径分布作为膜内厚度的函数而变化。在一些实施例中，孔径分布是均匀的。在其它实施例中，孔径分布是不均匀的。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.01至7.5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.05至5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.1至2g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.2至1g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至 1g/m2范围的单位面积质量。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.01至5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.01至2g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.01至1g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.01至0.5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.01至 0.4g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.01至0.2g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.01至0.05g/m2范围的单位面积质量。
在一些实施例中，聚合物膜具有0.05至7.5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.1至7.5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.2至7.5g/m2范围的单位面积质量。.在一些实施例中，聚合物膜具有0.4至7.5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有0.5 至7.5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有1至7.5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有2至7.5g/m2范围的单位面积质量。在一些实施例中，聚合物膜具有5至7.5g/m2范围的单位面积质量。
在一些实施例中，聚合物膜呈现0.5至450psi的进水压力(Water Entry Pressure：“WEP”)。在一些实施例中，聚合物膜呈现0.5至200psi的WEP。在一些实施例中，聚合物膜呈现1至150psi的WEP。在一些实施例中，聚合物膜呈现1.0至100psi的WEP。在一些实施例中，聚合物膜呈现1至50psi的WEP。在一些实施例中，聚合物膜呈现25至150.0psi的WEP。在一些实施例中，聚合物膜呈现50.0至150.0psi的WEP。在一些实施例中，聚合物膜呈现1.0至110.8psi的 WEP。
在一些实施例中，聚合物膜呈现1.4至432psi的进水压力(“WEP”)。在一些实施例中，聚合物膜呈现0.95至432psi的进水压力(“WEP”)。在一些实施例中，聚合物膜呈现0.95至111psi的进水压力(“WEP”)
在一些实施例中，至少一个支承层的至少一部分包括与聚合物膜接触的部分。“接触”包括但不限于直接物理接触和通过粘合剂、层叠和静电的结合。使用在本文的测试程序部分中定义的程序测量接触。
聚合物膜与支承层之间的接触百分比(％)可以使用测试程序部分中描述的方法来确定。在一些实施例中，至少一个支承层的0.1％至99.6％与聚合物膜接触。在一些实施例中，至少一个支承层的1％至50％与聚合物膜接触。在一些实施例中，至少一个支承层的2％至25％与聚合物膜接触。在一些实施例中，至少一个支承层的4％至12％与聚合物膜接触。
在一些实施例中，至少一个支承层的0.5％至80％与聚合物膜接触。在一些实施例中，至少一个支承层的1％至40％与聚合物膜接触。在一些实施例中，至少一个支承层的2％至20％与聚合物膜接触。在一些实施例中，至少一个支承层的5％至10％与聚合物膜接触。在一些实施例中，至少一个支承层的12％至91％与聚合物膜接触。在一些实施例中，至少一个支承层的24％至76％与聚合物膜接触。在一些实施例中，至少一个支承层的36％至48％与聚合物膜接触。
“开孔面积百分比(％)”是至少一个支承层与聚合物膜不接触的部分。在一些实施例中，至少一个支承层的开孔面积百分比(％)在5％至98％的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的开孔面积百分比(％)在10％至49％的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的开孔面积百分比(％)在20％至24％的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的开孔面积百分比(％)在12％至40％的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的开孔面积百分比(％)在24％至80％的范围。
在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在1至500微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在5至500微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在2至250微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在4至125微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在8至75微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在16至50 微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在25至32微米的范围。
在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在10至350微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在20至180微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在40至90微米的范围。
在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在20至40微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在20至80微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在20至90微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在20至180微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在40至350微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在80 至350微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在90至350微米的范围。在一些实施例中，至少一个支承层的多个开口中的单个开口的最大尺寸在180至350微米的范围。
在一些实施例中，至少一个支承层具有1至1000微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有2至500微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有4至250微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有8至125微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有16至75微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有32至50微米的厚度。
在一些实施例中，至少一个支承层具有10至1000微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有30至600微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有60至300微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有80至200微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有90至100微米的厚度
在一些实施例中，至少一个支承层具有40至200微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有40至300微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有40至100微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有40至90微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有40至80微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有40至60微米的厚度
在一些实施例中，至少一个支承层具有40至410微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有60至410微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有80至410微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有90至410微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有100至410微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有200至410微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有300至410微米的厚度在一些实施例中，至少一个支承层具有20至750微米的厚度
在一些实施例中，至少一个支承层具有10至5000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有20至4000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有20至3000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有40至3000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有80至2500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有160至2000瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有 300至1800瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有600至 1600瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有800至1200瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有900至1000瑞利范围的气流阻力。
在一些实施例中，至少一个支承层具有10至1500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有20至750瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有40至400瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有80至200瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有90至100瑞利范围的气流阻力。
在一些实施例中，至少一个支承层具有40至1500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有43至1458瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有80至750瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有160至500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有250至320瑞利范围的气流阻力。
在一些实施例中，至少一个支承层具有40至750瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有40至500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有40至320瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有40至250瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有40至160瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有40至80瑞利范围的气流阻力。
在一些实施例中，至少一个支承层具有80至1500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有160至1500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有250至1500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有320至1500瑞利范围的气流阻力。在一些实施例中，至少一个支承层具有750至1500瑞利范围的气流阻力。
如本文所用，“有效刚度”定义为施加的力与由施加的力引起的位移之间的比率。本文使用振动位移测试(“VDT”)测量有效刚度。
在一些实施例中，至少一个支承层具有0.01Pa/nm至15Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有0.5Pa/nm至5Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有 1Pa/nm至2Pa/nm的有效刚度。
在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有 0.05Pa/nm至0.1Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有0.05Pa/nm至0.5Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用 VDT测量时，至少一个支承层具有0.05Pa/nm至1Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有0.05Pa/nm至2Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有0.05Pa/nm至5Pa/nm 的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有 0.05Pa/nm至15Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有0.05Pa/nm至25Pa/nm的有效刚度。
在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有 0.1Pa/nm至25Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有0.5Pa/nm至25Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有1Pa/nm至25Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有2Pa/nm至25Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有5Pa/nm至25Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，当使用VDT测量时，至少一个支承层具有15Pa/nm至 25Pa/nm的有效刚度。
在一些实施例中，至少一个支承层包括至少一种金属。在一些实施例中，至少一个支承层包括至少一种玻璃纤维。在一些实施例中，至少一个支承层包括玻璃纤维。在一些实施例中，至少一个支承层包括至少一种或多种金属、一种或多种聚合物，或者玻璃纤维。
在一些实施例中，有单个支承层。在一些实施例中，有至少两个支承层。在一些实施例中，每个支承层是相同材料的。在一些实施例中，每个支承层是不同材料的。在一些实施例中，第一支承层类型是第一金属，并且第二支承层类型是第二金属。在一些实施例中，第一支承层类型是金属，并且第二支承层类型是聚合物或玻璃纤维。在一些实施例中，第一支承层类型是第一金属，并且第二支承层类型是第二聚合物。在一些实施例中，第一支承层和第二支承层都是玻璃纤维。
在一些实施例中，至少一种金属包括锌、镍、铬、钒、钼、锰、铜、铁、铝、钛、其组合及其合金中的一种或多种。在一些实施例中，金属包括合金，例如碳钢、不锈钢、青铜、黄铜、其组合、或其复合合金。
在一些实施例中，支承层的至少一种聚合物呈织造或非织造材料。在一些实施例中，支承层的至少一种聚合物包括以下所列中的一种或多种：挤出塑料、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚苯硫醚(PPS)、聚对苯二甲酸丁二醇酯 (PBT)、聚醚醚酮(PEEK)；聚丙烯酰胺(PPA)，乙缩醛均聚物；聚对苯二甲酸乙二酯(PET)、一种或多种热固性环氧树脂或一种或多种热固性弹性体。在一些实施例中，支承层可以包括具有不同熔化温度的多种组分。
在一些实施例中，至少一种支承层通过一种或多种粘合剂粘附至聚合物膜。在一些实施例中，粘合剂包括一种或多种高熔点热塑性塑料。在一实施例中，高熔点热塑性材料可包括聚(乙烯-共四氟乙烯-六氟丙烯(EFEP)、四氟乙烯六氟丙烯偏二氟乙烯(THV)、聚(四氟乙烯-六氟丙烯)(FEP)、全氟烷氧基(PFA)、乙烯四氟乙烯(ETFE)、PVC树脂、丁腈橡胶或其组合。
在一些实施例中，聚合物膜层合到至少一个支承层。在一些实施例中，层合(层压)是激光层合。在一些实施例中，层合(层压)是热层合。在一些实施例中，聚合物膜被夹在第一支承层的一个表面与第二支承层的一个表面之间。
在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.0002Pa/nm到3000Pa/nm 的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.0002Pa/nm到 1000Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.0002 Pa/nm到100Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时 0.198Pa/nm到29.8Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT 测量时0.001Pa/nm到500Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用 VDT测量时0.01Pa/nm到250Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.05Pa/nm到100Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.1Pa/nm到50Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时1Pa/nm到25Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时5Pa/nm到10Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.0002Pa/nm到100Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.0006Pa/nm到29.8Pa/nm的有效刚度。
在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.0005Pa/nm到30Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.005Pa/nm到25 Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.05Pa/nm到 20Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.1Pa/nm 到15Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时1Pa/nm 到10Pa/nm的有效刚度。
在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.15Pa/nm到32Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有0.3Pa/nm到16Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.6Pa/nm到8Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时1Pa/nm到4Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时2Pa/nm到3Pa/nm的有效刚度。
在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.15Pa/nm到16Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.15Pa/nm到8Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.15Pa/nm到4Pa/nm 的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.15Pa/nm到3 Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.15Pa/nm到 2Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.15Pa/nm 到1Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时0.15 Pa/nm到0.6Pa/nm的有效刚度。在一些实施例中，组件具有当使用VDT测量时 0.15Pa/nm到0.3Pa/nm的有效刚度。
在一些实施例中，组件具有范围从100到800000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从200到400000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从400到200000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从800到100000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从1600到50000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从3200到25000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从6400到10000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从8000到9000瑞利(Rayls)的气流阻力。
在一些实施例中，组件具有范围从100到50000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从200到20000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从400到10000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从800到5000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从1600到2500瑞利(Rayls)的气流阻力。
在一些实施例中，组件具有范围从100到20000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从100到10000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从100到5000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从100到2500瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从100到1600瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从100到800瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从100到400瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从100 到200瑞利(Rayls)的气流阻力。
在一些实施例中，组件具有范围从10000到800000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从20000到400000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从40000到200000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从80000到100000瑞利(Rayls)的气流阻力。
在一些实施例中，组件具有范围从50000到800000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从100000到800000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从200000到800000瑞利(Rayls)的气流阻力。在一些实施例中，组件具有范围从400000到800000瑞利(Rayls)的气流阻力。
在一些实施例中,主要阻抗性声学特性是组件的至少一个支承层或组件的有效刚度(如本文所述)的结果。在此，组件的声阻抗的相位角通过在“测试工序”部分中所述的阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)来测量。
如文中所使用的，术语“主要阻抗性”是指该组件构造成在由ITTMT测得的 50至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的500至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+30度至-30度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至 20000赫兹(Hz)频率范围内提供+15度至-15度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的500至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+5度至-5 度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+1度至-1度的相位角。
在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的100至20000赫兹(Hz) 频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由 ITTMT测得的200至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的300至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT 测得的400至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的500至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。
在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的1000至10000赫兹(Hz) 频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由 ITTMT测得的2000至8000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的4000至5000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。
在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的500至10000赫兹(Hz) 频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由 ITTMT测得的500至8000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的500至4000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT 测得的500至4000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的500至2000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的500至10000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。
在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的1000至20000赫兹(Hz) 频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由 ITTMT测得的2000至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的4000至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由 ITTMT测得的8000至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的10,000至20000赫兹(Hz)频率范围内提供+45度至-45度的相位角。
在一些实施例中，该组件构造成提供根据毛细活塞测试(“CPT”)进行测量的一定的进水压力(“WEP”)。在本文中以“测试工序”为题的部分中描述CPT。在一些实施例中,文中描述的WEP是至少一个支承层或组件的有效刚度(如本文所述)的结果。
在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从1psi(磅/平方英寸)到450psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从2psi(磅/平方英寸)到200psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从5psi(磅/平方英寸)到100psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从10psi(磅/ 平方英寸)到50psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从20psi(磅/平方英寸)到25psi的进水压力。
在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从10psi(磅/平方英寸)到350psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从20psi(磅/平方英寸)到200psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从40psi(磅/平方英寸)到100psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从50psi(磅/ 平方英寸)到80psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从60psi(磅/平方英寸)到70psi的进水压力。
在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从10psi(磅/平方英寸)到200psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从10psi(磅/平方英寸)到100psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从10psi(磅/平方英寸)到80psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从10psi(磅/ 平方英寸)到70psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从10psi(磅/平方英寸)到60psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从10psi(磅/平方英寸)到50psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从10psi (磅/平方英寸)到40psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据 CPT进行测量时提供从10psi(磅/平方英寸)到20psi的进水压力。
在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从20psi(磅/平方英寸)到350psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从40psi(磅/平方英寸)到350psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从50psi(磅/平方英寸)到350psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从60psi(磅/ 平方英寸)到350psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从70psi(磅/平方英寸)到350psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从80psi(磅/平方英寸)到350psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从100psi (磅/平方英寸)到350psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据 CPT进行测量时提供从1.4psi(磅/平方英寸)到432psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从2.5psi(磅/平方英寸)到336 psi的进水压力。在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从 0.95psi(磅/平方英寸)到142psi的进水压力。
在一些实施例中，该组件构造成当根据CPT进行测量时提供从200psi(磅/ 平方英寸)到350psi的进水压力。
在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz) 频率范围内提供3dB(分贝)至50dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的100至20000赫兹(Hz)频率范围内提供3dB(分贝)至 50dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的200至 20000赫兹(Hz)频率范围内提供3dB(分贝)至50dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的500至20000赫兹(Hz)频率范围内提供 3dB(分贝)至50dB的传输损耗。
在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz) 频率范围内提供6dB(分贝)至24dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz)频率范围内提供11dB(分贝)至 13dB的传输损耗。
在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz) 频率范围内提供3dB(分贝)至6dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz)频率范围内提供3dB(分贝)至 11dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至 20000赫兹(Hz)频率范围内提供3dB(分贝)至13dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz)频率范围内提供 3dB(分贝)至24dB的传输损耗。
在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz) 频率范围内提供6dB(分贝)至48dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz)频率范围内提供11dB(分贝)至 48dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至 20000赫兹(Hz)频率范围内提供13dB(分贝)至48dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz)频率范围内提供13dB(分贝)至48dB的传输损耗。在一些实施例中，该组件构造成在由 ITTMT测得的50至20000赫兹(Hz)频率范围内提供24dB(分贝)至48dB的传输损耗。
在一些实施例中，该组件的传输损耗根据(关于)频率是基本恒定的。如本文所用，“根据频率基本恒定”是指在50至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化不超过1.5dB/倍频程。传输损耗随频率的变化可以通过绘制传输损耗随频率的变化曲线图来确定。传输损耗随频率变化的曲线图的在x轴上的频率可以使用对数缩放来比例缩放为八度。在“测试工序”部分中描述了根据本发明的缩放工序 (过程)的示例。
在一些实施例中，组件的传输损耗根据频率是基本恒定的，以使得当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在50至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化不超过1.5dB/倍频程。在一些实施例中，组件的传输损耗根据频率是基本恒定的，以使得当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在 100至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化不超过1.5dB/倍频程。在一些实施例中，组件的传输损耗根据频率是基本恒定的，以使得当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在300至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化不超过1.5dB/倍频程。在一些实施例中，组件的传输损耗根据频率是基本恒定的，以使得当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在400至20000Hz 的频率范围内，传输损耗的变化不超过1.5dB/倍频程。在一些实施例中，组件的传输损耗根据频率是基本恒定的，以使得当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”) 进行测量时，在500至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化不超过1.5dB/倍频程。
在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在 50至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化不超过1.25dB/倍频程。在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在50至20000Hz 的频率范围内，传输损耗的变化不超过1dB/倍频程。在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在50至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化不超过0.75dB/倍频程。在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在50至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化不超过0.5dB/倍频程。在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”) 进行测量时，在50至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化不超过0.25dB/倍频程。
在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在 50至20000Hz的频率范围内，传输损耗变化0.25dB/倍频程到1.5dB/倍频程。在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在50至 20000Hz的频率范围内，传输损耗变化0.25dB/倍频程到1.25dB/倍频程。在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在50至 20000Hz的频率范围内，传输损耗变化0.25dB/倍频程到1dB/倍频程。在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在50至20000Hz的频率范围内，传输损耗变化0.25dB/倍频程到0.75dB/倍频程。在一些实施例中，当通过阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)进行测量时，在50至20000Hz的频率范围内，传输损耗变化0.25dB/倍频程到0.5dB/倍频程。
图1示出本发明的示例性实施例。如图所示，组件100包括与支承层102接触的多孔聚合物膜104。支承层102包括多个开口106，并且多孔聚合物膜104包括多个孔(未示出)。
图2也示出本发明的示例性实施例。如图所示，组件200包括与支承层202直接接触的多孔聚合物膜204。支承层202包括多个开口206，并且多孔聚合物膜204 包括多个孔(未示出)。如图所示，多孔聚合物膜204被夹在支承层202之间。组件200可包含聚合物膜204与支承层202接触的部分(例如，部分208)。在一些实施例中，多个开口206是均匀的。在一些实施例中，支承层202的厚度(未示出)是均匀的。在一些实施例中，多个开口206是非均匀的。在一些实施例中，支承层202的厚度(未示出)是非均匀的。
测试工序
采用了下述测试工序来生成示例部分中的数据。本文所述的测试工序不意在限制本发明。该部分所述的组件、膜以及支承层的编号参照下述示例部分中的组件、膜以及支承层的编号。
- 厚度：本文中使用了商业可购的基恩士(Keyence)LS-7070M来测量聚合物膜的厚度。一些膜的厚度小于1um(微米)并且无法使用基恩士LS-7010M直接测量。相对地，上述膜被层叠以使厚度大于1um，该厚度为测量系统的检测下限。层叠后的膜的总厚度随后通过使用基恩士LS-7010M进行了测量。单层的厚度通过将层叠后的样品的总厚度除以层数的方式确定。
流动阻力：气流通过使用ATEQ D520气流测试仪进行了测量。针对每个示例描述了样品的堆叠。在所有构造中，假定有效区域的面积是1.77e-6m-2。在本文的示例部分中，对每个组件处的压力进行了测试并且对合成气流进行了描述。气流以升/小时(L/hr)为单位进行了测量。根据下述等式将测得的气流转换成流动阻力(帕*秒/米)(Pa*s/m)
其中，x(磅/平方英寸)表示在ATEQ测量期间所使用的空气压力，并且y(升 /小时)是通过ATEQ测试仪直接测得的体积流量。
杨氏模量：本文中，按照ISO 527-1：2012对聚合物膜的杨氏模量进行了测量。
泡点：本文中，采用ASTEM F316.9599-1方法对泡点进行了测量。
单位面积质量：本文中，根据ATEM D3776/D3776M-09a对单位面积质量进行了测量。
进水压力测试(毛细活塞测试(“CPT”))进水压力(“WEP”)通过使用购买自多孔材料公司(Porous Material Inc.)的、型号为CFP-1500-AE的毛细管流量计进行了测量。待测试的样品通过两个聚碳酸酯板夹持于测试仪中的下活塞处。顶板具有直径为8mm的中心孔以及围绕该孔的O形环，该O形环用于防水。底板具有直径为1.5mm的中心孔。针对特定的样品组件(例如，12、13、15、16、 17、31、32、33和34)，如每个示例所述那样制备上述样品，并且该样品通过顶部聚碳酸酯板和底部聚碳酸酯板来夹持。对于其它的样品组件，材料或不同材料的层被切成足够大的片以覆盖顶部聚碳酸酯板上的整个O形环并且通过顶部聚碳酸酯板和底部聚碳酸酯板夹持。在测试前，添加去离子水以填满顶板的8mm孔。在测试程序中，压缩压力被设为300psi(磅/平方英寸)。压力的上升速率为每秒0.16psi(磅/平方英寸)。当水进入样品时，测试仪自动并同步地检测压力 (WEP)。
有效刚度测量：有效刚度keff(Pa/nm)通过振动位移测试(“VDT”)进行了测量。VDT包括下述步骤：样品在四种不同的声压下受到声学激励，并且对样品中央处的振动位移进行了测量。激励声压取为两个麦克风(话筒)之间的声压差。对所得数据(即，声膜前后的声压差与位移之间的关系)进行了绘制并且进行了线性回归。有效刚度取为通过测得的数据点的直线的斜率，并且该有效刚度表示受支承或未受支承的样品组件响应于所施加的声平面波而抵抗振动变形的程度。振动位移通过使用购买自保利达(Polytec)公司的MSA-500微系统分析仪进行了测量。声学激励是通过JBL2426H型的压缩驱动器产生的、以200Hz在中心的正弦波。为了与样品的直径相匹配，使用铝锥将压缩驱动器的输出从25.4mm缩小到 1.5mm。使用两个探针麦克风(连接至482C型系列的传感器信号调节器的 377B26型麦克风，可从PCB压电公司(PCB Piezotronics Inc.)购得)在待测试的样品的表面正下方和正下方测量了波的声压。使用保利达(Polytec)PSV 9.3软件以获取振动位移数据。
传输损耗和相位测试：采用阻抗管传输矩阵测试(“ITTMT”)来进行传输损耗和相位测试，该测试为ASTM-E2611-09的改进版本，其中，ASTM-E2611-09是用于测量基于四麦克风转移矩阵方法的法向入射声音传输损耗和相位的标准测试方法。本文提出了对ASTM-E2611-09的所有改进。图3示出了示例性的测试设置。对组件的转移矩阵进行了测量，并且采用该转移矩阵的T12元素作为示例中所述的所有组件的声阻抗值。
采用阻抗管在500Hz至20000Hz的频率范围内进行了测量。管的内径为 8mm。阻抗管是根据ASTM E1050-12以及ASTM E2611-09设计的。JBL 2426H 型压缩驱动器被安装在该阻抗管的一端并且由连接至31波段ART 351图形均衡器的布鲁尔和克亚尔(Bruel and Kjaer)2735型放大器供电。该测量系统使用了四个布鲁尔和克亚尔4138型麦克风，上述四个麦克风连接至带有发生器输出的四通道布鲁尔和克亚尔3160-A-042型LAN-XI前端。采用带有7758型声学材料测试软件版本21的布鲁尔和克亚尔脉冲实验室(Bruel and Kjaer PULSE Labshop)来获取并处理数据。
上述被测试的样品组件具有1.5mm的内径，该内径小于阻抗管的内径。因此，需要成对的锥形适配器以安装上述样品组件。收敛锥体具有8mm的入口直径和1.5mm的出口直径。发散锥体具有1.5mm的入口直径和8mm的出口直径。
当使用锥形适配器时，需要对数据进行附加处理以计入锥体的收敛几何。推导出理论方程以计算锥形适配器的转移矩阵，并且能够在文献中找到(Hua,X. 和Herrin,D.,“Practical Considerations when using the Two-Load Method to Determine the Transmission Loss of Mufflers and Silencers(使用双负载法确定消声器和消音器的传输损耗时的实际考虑),”SAE国际乘用车杂志-机械系统.6(2):1094-1101,2013 &Mechel,F.P.(2008).声学公式.纽约,NY:Springer(施普林格出版社))。
压力测试前后的传输损耗测试：一些样品组件经过了下述空气压力测试工序。该测试的目的在于复制施加至设备内的膜组件上的压力，该设备在给定的时间段内浸没于给定深度的水中。在压力测试前测量了传输损耗谱，然后在压力测试后立即对传输损耗谱进行了重新测量。通过从测试后的传输损耗中减去初始测试前的传输损耗来计算得到由于压力测试而引起的传输损耗的变化ΔTL(dB)。
空气压力测试：通过将样品组件放置于基板上的方式执行了压力测试。然后，添加顶板并用螺栓固定以将样品组件牢固地保持就位。测试条件(上升速率、压力、保持时间)均由内置的、经过校准的可编程压力箱控制。压力箱能够以0.5 psi(磅/平方英寸)的增量产生从1psi至145psi的范围的压力。空气的加压线连接至基板，使得压力测试在膜的底面处发生。除非另有说明，否则将每个样品组件定向为使得膜位于测试夹具的基板与样品组件的支承层之间。通过以2.5psi/秒的上升速率将压力从0psi(磅/平方英寸)增加至目标压力的方式进行了压力测试。在达到目标压力后，保持压力恒定十分钟。一旦测试完成，就将样品组件从夹具移除，并且对传输损耗进行了重新测量。
借助压缩的传输损耗测试：
根据施加至样品组件的压缩力，进行了一些传输损耗(“TL”)测量。
采用了带有在0-111牛顿的测量范围内进行了校准后的FlexiForce(柔性力) A201力传感器的经济负载和力(ELF)测量系统(购买自特斯勘公司(Tekscan)) 进行了压缩测试。夹具被设计成在传输损耗和相位测试期间将控制后的压缩力施加至样品。图4示出了该夹具的示意图。使用4983双面压敏粘合剂(购买自德莎胶带公司(Tesa Tape Inc.))将力传感器附接至前板。
一旦将待测试的样品组件安装在阻抗管组件上的压缩夹具的左板与右板之间，就通过一组4-40个平头螺钉将前板附接。分别通过拧紧和拧松平头螺钉来增加或减少压缩力。一旦达到目标压缩力，就进行传输损耗测量。在测量后，将螺钉拧松以使压缩力恢复至0牛顿并且以逐渐提高的压缩水平重复进行该过程。
计算接触百分比的工序：
对于支承层1-6、13以及14，由于支承结构的周期性或随机性，能够从小于总有效区域(面积)的表征区域(面积)确定接触百分比。能够使用光学轮廓仪(保利达拓扑图μ实验室(Polytec TopMap μLab))从膜接触侧对支承件的一部分进行形貌扫描。距顶部起20um的深度范围内扫描到的形貌被投影至与该支承件平行的平面。投影的面积将大于或等于膜与支承件之间的物理接触面积。投影的面积与形貌扫描的视场面积之比通过ImageJ软件计算出，并且能够视为接触百分比的上限。
对于支承层7-12，在有效区域内，膜与支承件之间的物理接触面积将小于或等于总有效面积减去穿孔面积后的面积。接触百分比的上限能够计算为
其中，n是穿孔数，d是每个穿孔的直径，D是有效区域的直径，对于所有样品组件而言，该有效区域的直径均为1.5mm。使用光学显微镜(VHX-5000型，购买自基恩士公司)对每个穿孔的直径进行了测量。
图5描绘了表示支承层1的最顶部20um的显微照片。图像中的深色区域对应于织造网的纤维，并且表示将与膜接触的支承层的面积。图像中的白色区域对应开口区域。
图6描绘了表示支承层5的最顶部20um的光学显微照片。深色区域对应非织造纤维。图像中的深色区域对应于非织造支承件的纤维，并且表示将与膜接触的支承层的面积。图像中的白色区域对应开口区域。
计算开口面积百分比的工序：
开口面积百分比能够计算为
开口面积百分比＝100-接触面积百分比
示例
制备样品组件：下述表格概括了前述示例中所使用的示例性膜的特性。这些特性仅为示例性且不意在限制本发明。
表 1 ：聚合物膜的特性
根据下述方法制备聚合物膜#s 1-9。
表 2 ：膜制备方法
下述表格概括了前述示例中所使用的示例性支承层的特性。这些特性仅为示例性且不意在限制本发明。
表 3 ：支承层的特性：
本文所述和测试的某些非限制性样品组件和对照样品组件以下述方式制备。
所有示例样品组件(样品组件12和13除外)和对照样品组件均包括至少一个背胶(粘合剂背衬)的玻璃纤维样品载体，从现在开始，将其简称为玻璃纤维样品载体。玻璃纤维样品载体是通过将双面压敏粘合剂施加到玻璃纤维片材的一侧(购买自麦克马斯特-卡尔(McMaster-Carr(产品号1331T37)制备的。然后将玻璃纤维/粘合剂片材激光切割成试样。随后，在中央制作出一个直径为1.5mm 的孔，该孔与阻抗管的内孔对齐，并与将进行测量的样品的有效面积对应。
对照样品组件：
某些非限制性对照样品组件以下述方式制备：将一块膜放置在光滑且水平的表面上，以使该膜平坦且没有褶皱。从待切的纤维玻璃样品载体移除粘合剂剥离衬里以使粘合剂暴露出来。在粘合剂暴露出来的情况下，将样品载体轻轻地放置在膜上，并从样品载体的周边切下任何多余的膜。然后，将样品载体以膜侧面朝上的方式放置在对齐夹具上。剥离衬里从第二玻璃纤维样品载体移除并且以粘合剂侧面朝下且朝向膜的方式放置在对齐夹具上。施加低压(手动施加但未测量)，以将底部和顶部样品载体放在一起，以形成具有以下堆叠的组件：玻璃纤维样品载体/粘合剂/膜/粘合剂/玻璃纤维样品载体。图4中示出了对照样品组件的堆叠。
样品组件
根据以下工序制备具有穿孔且背胶的玻璃纤维支承层的某些非限制性样品组件(例如，组件15-17、33、34)。穿孔且背胶的玻璃纤维支承层的制作方法类似于背胶的玻璃纤维样品载体(如上所述)，不同的是制作了多个小直径的穿孔 (开口)，而不是单个大的1.5mm直径的孔。表3示出了孔的个数及其直径。然后如本文所述制备样品组件，除了玻璃纤维样品载体中的一个被预先切割且背胶的穿孔玻璃纤维支承件代替，此后，将其简称为穿孔玻璃纤维支承层。表3中示出了这些组件的堆叠。
具有织造和/或非织造支承层的某些非限制性样品组件(例如，组件1-11、 14、18-30)以下述方式制备。将织造和非织造的支承材料从卷中切成小块(6mm ×6mm)的正方形并放在一边。从预切割的玻璃纤维样品载体上移除粘合剂剥离衬里，并粘附到支承材料的预切割正方形上，使得支承件覆盖位于玻璃纤维样品载体的中央处的直径为1.5mm的孔。在大多数粘合剂仍暴露出来的情况下，随后将聚合物膜附接至样品载体。然后，将具有附接的支承层和膜的玻璃纤维样品载体以膜侧朝上的方式放置在对齐夹具上。粘合剂玻璃衬里从第二玻璃纤维样品载体移除，并以粘合剂侧朝下的方式放在对齐夹具上。施加低压以将底部和顶部样品载体放在一起，以形成具有以下堆叠的组件：玻璃纤维载体/粘合剂/支承件/膜/ 粘合剂/玻璃纤维载体。在一些样品组件(例如，组件1-8、11、14、18、20、22、 23、25-28)中，带有支承层的第二玻璃纤维样品载体用于形成具有下述堆叠的组件：玻璃纤维载体/粘合剂/支承件/膜/粘合剂/玻璃纤维载体。使用测试工序部分所述的相同工序，将样品组件29在17psi(磅/平方英寸)下加压10分钟，以改善聚合物膜与支承层之间的附接力。关于具有至少一个织造或非织造的支承件的组件的附加堆叠信息，请参见表3。
具有穿孔PET支承层的某些非限制性组件(例如，组件31、32)的制备如下：首先，将双面压敏粘合剂施加至厚度为127-130μm的PET片材的一侧。然后将PET/粘合剂片材激光切割成试样。穿孔(开口)在试样的中央处形成为 1.5mm直径的圆形区域。表3示出了穿孔的个数及其直径。在粘合剂层被暴露出来的情况下，具有穿孔的试样可被附接到聚合物膜上并充当支承层。然后，将玻璃纤维样品载体连接到膜的相对侧，以形成具有以下堆叠的组件：玻璃纤维样品载体/粘合剂/膜/粘合剂/PET支承件。
具有黄铜支承层的某些组件(例如，组件12、13)如下制备。黄铜试样是由片材制备而成的。穿孔(开口)在试样的中央处形成为1.5mm直径的圆形区域。表3示出了穿孔的个数及其直径。膜被夹持在两个黄铜支承板之间，以形成无粘合剂的组件，其堆叠如下：黄铜支承件/膜/黄铜支承件。在该工序中，两个试样上的穿孔均准确对齐。
示例性层压工序：
在一些实施例中，聚合物膜被层合到至少一个支承层。虽然可以使用任何方法进行层合(层压)，但是在一些实施例中，使用微型热辊层压机(型号HL- 200，可从化学仪器公司(ChemInstruments Inc.)商购)将聚合物膜层合到至少一个支承层。为了提高可操作性，可以将支承件和膜切成3英寸×6英寸的条，并放在切得比薄膜和支承层略大的两片25.4um厚的聚酰亚胺薄膜(kapton)(购自杜邦公司)之间。然后可以将样品组件插入两个辊(热辊和压辊)之间并进行层压。能够堆叠如下：聚酰亚胺薄膜(kapton)/ePTFE/支承层/聚酰亚胺薄膜。当将织造网(例如，产品号#34-33和6-105，赛法公司(Sefar Inc.Holding AG))用作支承层时，能够在265℃的温度下并且在40psi的压力下，在热辊与压辊(夹辊) 之间以45厘米/分钟的线速度进行层压。当使用双组分网(例如，尤提卡有限公司(Unitika Ltd.)的产品#28T1)作为支承层时，在185℃的温度下并且在40psi 的压力下，在热辊和压辊之间以45厘米/分钟的线速度进行层压。。当使用非织造材料(例如，HDK工业公司(HDK Industries)的产品#133)作为支承层时，在180℃的温度下并且在25psi的压力下，在热辊和压辊(夹辊)之间以400厘米/ 分钟的线速度进行层压。。
能够以使聚合物膜最靠近热辊并且支承件最靠近压辊的方式进行定向。在一些实施例中，能够将网状支承层(产品#28T1，Unitika)层压到膜的顶面和底面上。这些样品组件能够堆叠如下：聚酰亚胺薄膜(kapton)/网状支承件 /ePTFE/网状支承层/聚酰亚胺薄膜。第一次将样品组件插入辊之间以将网状支承层层压到膜的顶面。然后，能够将样品组件翻转并再次插入以将网状支承层层合至膜的底面。在层合(层压)后，能够移除顶部聚酰亚胺薄膜层和底部聚酰亚胺薄膜层。
表 4 ：样品组件的示例性构造：
下述表格列出了前述示例中所使用的组件的构造。关于本文中指定的“膜 #”和“支承层#”，请分别参见表1和表2。
表 5:对照样品组件：下表列出用于前述示例中的对照样品组件的构造。
样品组件和对照样品组件的性质
下表列出了某些样品组件和对照样品组件的示例性性质。如本文所述测量所有性质。
表 6:某些样品组件的性质:
表 7:某些对照组件的性质:
示例 1 —示出恒定的声传输和阻抗特性的非限制性实施例
对于包括对照样品组件在内的所有样品组件，按照“测试工序”部分所述进行传输损耗和相位角测试。
表8中示出了六个离散频率(500Hz、1000Hz、2000Hz、5000Hz、10000Hz、 20000Hz)下的样品组件和对照样品组件的传输损耗数据。在图7至18中示出传输损耗与频谱(的关系)。
表8:样品组件和对照样品组件的传输损耗
表10中示出了六个离散频率(500Hz、1000Hz、2000Hz、5000Hz、10000Hz、20000Hz)下的样品组件的相位角数据。所测试的样品组件的原始相位角与频谱的关系在图1至18中示出。
表9:样品组件和对照样品组件的相位角：
如图所示，在测试的各频率下，样品组件的相位角在+45度至–45度的范围内，而在一些测试的频率下，对照样品组件的相位角在+45度至–45度的范围外。
在离散频率(500Hz、1000Hz、2000Hz、5000Hz、10000Hz、20000Hz) 上通过线性回归测量每个样品组件和每个对照样品组件的传输损耗的斜率(以分贝 /倍频程)。
使用以下过程将频率缩放到倍频程：
在500Hz和500Hz之间的倍频程为
在500Hz和1000Hz之间的倍频程为
在500Hz和2000Hz之间的倍频程为
在500Hz和5000Hz之间的倍频程为
在500Hz和10000Hz之间的倍频程为
在500Hz和20000Hz之间的倍频程为
然后可以通过对以上计算出的倍频程上的传输损耗数据执行线性回归来确定传输损耗谱的斜率。
对于对照样品组件，传输损耗值将在低频范围内随频率减小，然后在高频范围内随频率增大。对于对照样品组件，在低频范围内执行线性回归。如下表10-11 所示，对于给定的膜，样品组件的传输损耗的斜率比对照样品组件的传输损耗的斜率更接近零，这表明样品组件提供主要更恒定的声音传输曲线。具体地，如下面的非限制性示例所示，在本发明的一些实施例中，在500Hz至20000Hz范围内，传输损耗的斜率的绝对值是1.5分贝/倍频程或更小(即，传输损耗的范围是从-1.5 分贝/倍频程至1.5分贝/倍频程)。换句话说，在表10的非限制性示例中，在500 至20000Hz的频率范围内，传输损耗的变化幅度不超过1.5分贝/倍频程。
表10：样品组件和对照样品组件的传输损耗的斜率：
示例 2 —示出改进的压力挑战阻力的非限制性实施例
对于包括对照样品组件在内的所有样品组件，如测试工序部分中所述进行传输损耗和相位角测试。对样品组件进行下表11中所述的压力测试，保持时间为10 分钟。
表 11:样品组件和对照样品组件的测试压力
测试前和测试后的传输损耗和相位数据按“测试工序”部分所述进行测量。对于样品组件和对照样品组件，在压力测试之前和之后的传输损耗以及传输损耗的相对变化在下面的表12至14中以六个离散频率(500Hz、1000Hz、2000Hz、 5000Hz、10000Hz和20000Hz)示出。原始传输损耗和相位角与频谱的关系在图 19至图29中示出。如图所示，对于给定的膜，在压力测试之前和之后的传输损耗变化小于对比样品组件的传输损耗变化，这表明样品组件提供了更强大的声学性能和抵抗压力挑战的改进的耐压强度(破裂强度)。
表12：在压力挑战之前样品组件和对照样品组件的传输损耗
表13:在压力挑战之后样品组件和对照样品组件的传输损耗
表14:样品组件和对照样品组件的传输损耗变化
示例 3 —示出改进的压缩阻力的非限制性实施例
如“测试工序”部分所述，在压缩状态下对组件进行了传输损耗和相位角测试。三个不同的力(5N，10N，20N)被施加到样品组件14和对照组件11c，并且在组件处于压缩状态下测量了传输损耗和相位角。还测量了没有压缩力时的传输损耗。
关于压缩力的原始传输损耗和相位角与频谱的关系在图30中示出。在表15 和表16中示出了在六个离散的频率(500Hz、1000Hz、2000Hz、5000Hz、 10000Hz和20000Hz)下的传输损耗和相位数据。
表15：在传输损耗测量过程中施加给样品组件和对照样品组件的压缩力
表16:根据在测量过程中施加给每个组件的压缩力的样品组件和对照样品组件的传输损耗
表17:由于压缩测试而导致样品组件和对照样品组件的传输损耗的变化注意到传输损耗的变化是相对于0N(无压缩)的。
表18:根据在测量过程中施加给每个组件的压缩力的样品组件和对照样品组件的相位角
示例 4 —示出改进的声学一致性的非限制性实施例
对于样品组件25和对照样品组件13c，制作并且测试了五个样品的传输损耗和相位角。通过每个频率(500Hz、1000Hz、2000Hz、5000Hz、10000Hz和 20000Hz)下样品之间的传输损耗的标准偏差来评估各部件之间的可变性。五个样品之间的平均传输损耗和相位角列在表19和表20中。传输损耗的标准偏差列在表21中并示出在图32中。原始传输损耗和相位角在图31中示出，并且这些图中的误差线是测量值的分布。如图所示，样品组件表现出比对照样品组件低的标准偏差，这表明样品组件在各部件之间提供更好的一致性。
表19：样品组件和对照样品组件之间的传输损耗
表20:样品组件和对照样品组件的相位
表21:样品组件(n＝5)和对照样品组件(n＝5)的传输损耗的标准偏差
示例 5: 可调节的传输损耗
对于给定的膜，可以通过支承层来调节传输损耗。可以使用气流更大的支承层(在气流更大的情况下使用支承层)来减少传输损耗，并且反之亦然。
表22:样品组件的传输损耗
表23:样品组件的相位
尽管已经描述了本发明的几个实施例，但是这些实施例仅是说明性的，而不是限制性的，并且许多修改对于本领域普通技术人员而言将变得显而易见。例如，本文所讨论的所有尺寸仅作为示例提供，并且意图是说明性的而非限制性的。

Claims (27)

1.一种声阻支撑膜组件，包括：
聚合物膜；
至少一个支承层；
其中，所述至少一个支承层的至少一部分与所述聚合物膜接触，
其中，所述至少一个支承层具有范围从10到5000瑞利的气流阻力；以及
其中，当通过振动位移测试(VDT)进行测量时，所述至少一个支承层具有 从0.05Pa/nm到25Pa/nm的有效刚度；以及
其中，在通过阻抗管传输矩阵测试(ITTMT)测量时，所述声阻支撑膜组件 具有在50至20000赫兹的频率范围上变化不超过1.5分贝/倍频程的传输损耗。
2.一种声阻支撑膜组件，包括：
聚合物膜；
至少一个支承层；
其中，所述至少一个支承层的至少一部分与所述聚合物膜接触，
其中，所述声阻支撑膜组件具有100至50000瑞利的气流阻力；
其中，当通过振动位移测试(VDT)进行测量时，所述声阻支撑膜组件具有 从0.0002Pa/nm至3000Pa/nm的有效刚度；以及
其中，所述声阻支撑膜组件具有通过阻抗管转移矩阵测试(ITTMT)测得的、 在50至20000Hz的频率范围内具有+45度至－45度的相位角的声学阻抗。
3.一种声阻支撑膜组件，包括：
聚合物膜；
至少一个支承层；
其中，所述至少一个支承层的至少一部分与所述聚合物膜接触，
其中，所述声阻支撑膜组件具有100至50000瑞利的气流阻力；
其中，当通过振动位移测试(VDT)进行测量时，所述声阻支撑膜组件具有 从0.0002Pa/nm至3000Pa/nm的有效刚度；以及
其中，在通过阻抗管传输矩阵测试(ITTMT)测量时，所述声阻支撑膜组件 具有在50至20000赫兹的频率范围上变化不超过1.5分贝/倍频程的传输损耗。
4.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述聚合物 膜具有0.025微米至300微米范围内的厚度。
5.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述聚合物 膜包括具有不同孔径的多个孔。
6.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，多个孔具有 0.1至30微米范围内的最大孔径。
7.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述聚合物 膜具有0.4至120磅/平方英寸范围的泡点。
8.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，至少一个支 承层包括多个开口。
9.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，多个开口中 的单个开口的最大尺寸为1至500微米。
10.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述至少 一个支承层具有10至1000微米的厚度。
11.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述至少 一个支承层具有5％至98％的有效开口面积。
12.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述聚合 物膜包括膨胀型聚四氟乙烯(ePTFE)。
13.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述聚合 物膜具有1MPa至1000MPa范围内的杨氏模量。
14.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述声阻 支撑膜组件包括单个所述支承层。
15.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述声阻 支撑膜组件包括至少两个所述支承层。
16.如权利要求15所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述声阻支撑膜组件 包括第一支承层和第二支承层，并且其中所述聚合物膜夹在所述第一支承层与所述 第二支承层之间。
17.如权利要求15所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，至少两个所述支承层 中的第一支承层和第二支承层包括相同的材料。
18.如权利要求15所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，至少两个所述支承层 中的第一支承层和第二支承层包括不同的材料。
19.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，包括在所 述聚合物膜与所述至少一个支承层之间的粘合剂。
20.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述至少 一个支承层包括玻璃纤维。
21.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述至少 一个支承层包括金属。
22.如权利要求21所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述金属是黄铜。
23.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，一个或多 个所述支承层包括网。
24.如权利要求23所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述网是织造聚对苯 二甲酸乙二醇酯(PET)网。
25.如权利要求23所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述网是挤出的塑料 非织造网。
26.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述声阻 支撑膜组件具有根据毛细活塞测试(CPT)测量的、范围从10磅/平方英寸到350 磅/平方英寸的进水压力(WEP)。
27.如权利要求1-3中任一项所述的声阻支撑膜组件，其特征在于，所述声阻 支撑膜组件具有当通过阻抗管传输矩阵测试(ITTMT)测量时在50到20000赫兹 范围的、从3分贝到48分贝的传输损耗。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3035737B1 (fr) * 2015-04-29 2018-08-10 Centre National De La Recherche Scientifique Metamateriau acoustique pour l'isolation et son procede de fabrication
US11417311B2 (en) * 2020-08-03 2022-08-16 W. L. Gore & Associates, Inc. Acoustically resistive supported membrane assemblies including at least one support structure

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102859065A (zh) * 2010-04-21 2013-01-02 纱帝公司 一种用于声学元件的层状织物结构
CN105765992A (zh) * 2013-11-18 2016-07-13 日东电工株式会社 防水透声膜及使用防水透声膜的防水透声结构
CN107849280A (zh) * 2015-04-30 2018-03-27 日东电工株式会社 聚合物树脂薄膜和具备该聚合物树脂薄膜的透气膜、透声膜、声阻体、透气膜构件、透声膜构件、声阻体构件和声学设备以及聚合物树脂薄膜的制造方法
CN109698991A (zh) * 2018-12-25 2019-04-30 西安易朴通讯技术有限公司 防水透声组件及含其的电子设备

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA962021A (en) * 1970-05-21 1975-02-04 Robert W. Gore Porous products and process therefor
DE2403244C3 (de) * 1974-01-24 1980-12-04 Riedel-De Haen Ag, 3016 Seelze Für Gase permeable, flüssigkeitsdichte Absperrvorrichtung
US4949386A (en) 1988-05-23 1990-08-14 Hill Amel L Speaker system
US4902423A (en) * 1989-02-02 1990-02-20 W. L. Gore & Associates, Inc. Highly air permeable expanded polytetrafluoroethylene membranes and process for making them
US5814405A (en) 1995-08-04 1998-09-29 W. L. Gore & Associates, Inc. Strong, air permeable membranes of polytetrafluoroethylene
JP3629084B2 (ja) * 1996-01-24 2005-03-16 株式会社オーディオテクニカ 防水マイクロホン
US5828012A (en) 1996-05-31 1998-10-27 W. L. Gore & Associates, Inc. Protective cover assembly having enhanced acoustical characteristics
JPH10165787A (ja) * 1996-12-11 1998-06-23 Nitto Denko Corp ポリテトラフルオロエチレン多孔質膜およびその製造方法
US6512834B1 (en) * 1999-07-07 2003-01-28 Gore Enterprise Holdings, Inc. Acoustic protective cover assembly
US6541589B1 (en) 2001-10-15 2003-04-01 Gore Enterprise Holdings, Inc. Tetrafluoroethylene copolymer
US6932187B2 (en) * 2003-10-14 2005-08-23 Gore Enterprise Holdings, Inc. Protective acoustic cover assembly
EP2174778B1 (en) 2007-07-18 2014-03-19 Nitto Denko Corporation Water-proof sound-transmitting membrane, method for production of water-proof sound-transmitting membrane, and electrical appliance using the membrane
JP2009111993A (ja) 2007-10-09 2009-05-21 Nitto Denko Corp 防水通音膜を用いた通音部材およびその製造方法
US10099182B2 (en) 2010-02-02 2018-10-16 EF-Materials Industries Inc. Water-proof and dust-proof membrane assembly and applications thereof
US20130083528A1 (en) 2010-02-02 2013-04-04 EF-Materials Industries Inc. Water-proof and dust-proof membrane assembly and apparatus using the same
JP5687566B2 (ja) 2011-06-01 2015-03-18 日東電工株式会社 防水通音部材
JP5687565B2 (ja) 2011-06-01 2015-03-18 日東電工株式会社 防水通音部材およびその製造方法、ならびに防水通音部材担持体
EP2566189B1 (en) * 2011-08-30 2014-03-05 Harman International Industries Ltd. Loudspeaker arrangement
US9775933B2 (en) 2012-03-02 2017-10-03 W. L. Gore & Associates, Inc. Biocompatible surfaces and devices incorporating such surfaces
JP5854948B2 (ja) 2012-08-02 2016-02-09 日東電工株式会社 ポリテトラフルオロエチレン黒色多孔質膜、その製造方法、それを用いた通気膜および通気部材
JP5856102B2 (ja) 2012-11-21 2016-02-09 日東電工株式会社 通音構造、通音膜、及び防水ケース
US8739926B1 (en) * 2012-11-21 2014-06-03 Nitto Denko Corporation Sound-transmitting membrane and electronic device equipped with sound-transmitting membrane
JP6118131B2 (ja) * 2013-02-25 2017-04-19 日東電工株式会社 防水通音膜、通音部材、及び電気機器
JP2014184418A (ja) 2013-03-25 2014-10-02 Nitto Denko Corp 防水通気構造、防水通気部材及び防水通気膜
WO2015057693A1 (en) * 2013-10-15 2015-04-23 Donaldson Company, Inc. Microporous membrane laminate for acoustic venting
JP6472182B2 (ja) 2014-07-15 2019-02-20 日東電工株式会社 防水部材及びその防水部材を備えた電子機器
CN112118500A (zh) * 2014-10-16 2020-12-22 日东电工株式会社 透声膜和具备该透声膜的透声膜构件、以及传声器及电子设备
JP6581876B2 (ja) 2015-10-07 2019-09-25 中興化成工業株式会社 通気膜及びマイクロフォン
KR102569879B1 (ko) 2015-11-24 2023-08-24 닛토덴코 가부시키가이샤 방수 통음막, 방수 통음 부재 및 전자 기기
ITUB20160059A1 (it) * 2016-02-04 2017-08-04 Saati Spa Struttura composita filtrante multistrato, in particolare per l'uso come subcomponente all'interno di prodotti acustici ed elettronici in generale
WO2017176989A1 (en) * 2016-04-06 2017-10-12 W. L. Gore & Associates, Inc. Pressure equalizing construction for nonporous acoustic membrane
JP6656110B2 (ja) 2016-07-27 2020-03-04 日本ゴア株式会社 防水通音カバー、防水通音カバー部材および音響装置
CN208029093U (zh) 2017-11-29 2018-10-30 瑞声科技(新加坡)有限公司 防水防尘网及麦克风

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102859065A (zh) * 2010-04-21 2013-01-02 纱帝公司 一种用于声学元件的层状织物结构
CN105765992A (zh) * 2013-11-18 2016-07-13 日东电工株式会社 防水透声膜及使用防水透声膜的防水透声结构
CN107849280A (zh) * 2015-04-30 2018-03-27 日东电工株式会社 聚合物树脂薄膜和具备该聚合物树脂薄膜的透气膜、透声膜、声阻体、透气膜构件、透声膜构件、声阻体构件和声学设备以及聚合物树脂薄膜的制造方法
CN109698991A (zh) * 2018-12-25 2019-04-30 西安易朴通讯技术有限公司 防水透声组件及含其的电子设备

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