CN112394234A - 快速空中产线测试平台 - Google Patents

快速空中产线测试平台 Download PDF

Info

Publication number
CN112394234A
CN112394234A CN202010806834.7A CN202010806834A CN112394234A CN 112394234 A CN112394234 A CN 112394234A CN 202010806834 A CN202010806834 A CN 202010806834A CN 112394234 A CN112394234 A CN 112394234A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
antenna array
production line
tested
aerial
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202010806834.7A
Other languages
English (en)
Inventor
张书维
林決仁
蔡文才
郭瞬仲
戴扬
陈为旸
方建喆
黄柏嘉
吴俊纬
林育丞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jinyan Technology Co ltd
TMY Technology Inc
Original Assignee
Jinyan Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jinyan Technology Co ltd filed Critical Jinyan Technology Co ltd
Publication of CN112394234A publication Critical patent/CN112394234A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P5/00Coupling devices of the waveguide type
    • H01P5/02Coupling devices of the waveguide type with invariable factor of coupling
    • H01P5/022Transitions between lines of the same kind and shape, but with different dimensions
    • H01P5/028Transitions between lines of the same kind and shape, but with different dimensions between strip lines
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q19/00Combinations of primary active antenna elements and units with secondary devices, e.g. with quasi-optical devices, for giving the antenna a desired directional characteristic
    • H01Q19/10Combinations of primary active antenna elements and units with secondary devices, e.g. with quasi-optical devices, for giving the antenna a desired directional characteristic using reflecting surfaces
    • H01Q19/104Combinations of primary active antenna elements and units with secondary devices, e.g. with quasi-optical devices, for giving the antenna a desired directional characteristic using reflecting surfaces using a substantially flat reflector for deflecting the radiated beam, e.g. periscopic antennas
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/10Radiation diagrams of antennas
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2822Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P3/00Waveguides; Transmission lines of the waveguide type
    • H01P3/02Waveguides; Transmission lines of the waveguide type with two longitudinal conductors
    • H01P3/08Microstrips; Strip lines
    • H01P3/081Microstriplines
    • H01P3/082Multilayer dielectric
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P3/00Waveguides; Transmission lines of the waveguide type
    • H01P3/02Waveguides; Transmission lines of the waveguide type with two longitudinal conductors
    • H01P3/08Microstrips; Strip lines
    • H01P3/088Stacked transmission lines
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P5/00Coupling devices of the waveguide type
    • H01P5/02Coupling devices of the waveguide type with invariable factor of coupling
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q13/00Waveguide horns or mouths; Slot antennas; Leaky-waveguide antennas; Equivalent structures causing radiation along the transmission path of a guided wave
    • H01Q13/02Waveguide horns
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q15/00Devices for reflection, refraction, diffraction or polarisation of waves radiated from an antenna, e.g. quasi-optical devices
    • H01Q15/02Refracting or diffracting devices, e.g. lens, prism
    • H01Q15/06Refracting or diffracting devices, e.g. lens, prism comprising plurality of wave-guiding channels of different length
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q15/00Devices for reflection, refraction, diffraction or polarisation of waves radiated from an antenna, e.g. quasi-optical devices
    • H01Q15/14Reflecting surfaces; Equivalent structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q19/00Combinations of primary active antenna elements and units with secondary devices, e.g. with quasi-optical devices, for giving the antenna a desired directional characteristic
    • H01Q19/06Combinations of primary active antenna elements and units with secondary devices, e.g. with quasi-optical devices, for giving the antenna a desired directional characteristic using refracting or diffracting devices, e.g. lens
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q19/00Combinations of primary active antenna elements and units with secondary devices, e.g. with quasi-optical devices, for giving the antenna a desired directional characteristic
    • H01Q19/10Combinations of primary active antenna elements and units with secondary devices, e.g. with quasi-optical devices, for giving the antenna a desired directional characteristic using reflecting surfaces
    • H01Q19/18Combinations of primary active antenna elements and units with secondary devices, e.g. with quasi-optical devices, for giving the antenna a desired directional characteristic using reflecting surfaces having two or more spaced reflecting surfaces
    • H01Q19/185Combinations of primary active antenna elements and units with secondary devices, e.g. with quasi-optical devices, for giving the antenna a desired directional characteristic using reflecting surfaces having two or more spaced reflecting surfaces wherein the surfaces are plane
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q21/00Antenna arrays or systems
    • H01Q21/29Combinations of different interacting antenna units for giving a desired directional characteristic
    • H01Q21/293Combinations of different interacting antenna units for giving a desired directional characteristic one unit or more being an array of identical aerial elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/0082Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels
    • H04B17/0085Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels using test signal generators
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/26Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture
    • H01Q3/267Phased-array testing or checking devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)
  • Aerials With Secondary Devices (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Support Of Aerials (AREA)

Abstract

一种快速空中产线测试平台,包括天线阵列及两个反射板。该天线阵列设置于具有波束成形功能的待测物的相对面并以波束成形发射波束,两个反射板为彼此相对设置并位于待测物及天线阵列之间,借由波束在天线阵列、待测物及两个反射板之间的传播,进行待测物的波束空中测试,以大幅节省测试时间,并有效降低测试成本。本发明并提供利用喇叭天线阵列与折弯波导以及利用立体椭圆曲面进行空中产线测试的平台。

Description

快速空中产线测试平台
技术领域
本发明涉及一种产线测试平台,特别涉及一种快速毫米波(mmWave)第五代移动通信(5G)空中(over-the-air,OTA)产线测试平台。
背景技术
由于第五代(5G)移动通信技术越来越成熟,遂于下一代移动通信技术在各种应用中产生关键影响,例如,自动驾驶汽车(V2X)、边缘计算(edge computing)、人工智能物联网(AIoT)等的应用。第五代新无线(5G New Radio)在以下三种情况下重新定义了新的频谱:增强型移动宽带(enhanced Mobile Broadband,eMBB)、超可靠且低延时通信(Ultra-Reliable and Low Latency Communications,URLLC)以及大规模机器类型通信(massiveMachine Type Communications,mMTC)。新频谱(FR2)具有采用的毫米波(mmWave)频率范围从24250MHz到3GPP标准中的52600MHz。在克服高路径损耗的传输过程中,天线阵列利用波束成形技术实现更高的等效性各向同性辐射功率(equivalent isotropically radiatedpower,EIRP)及更广泛的空间覆盖范围。
现今,天线阵列已可以整合至RF模块中。这种高度紧密的模块称的为天线封装(Antennas in package,AiP)模块,并且可以大量生产。为了能大量生产AiP模块,传统的导电测试方式已无法达到大量产品测试的目的,也无法进行快速的产品测试。
此外,在进行产品测试时,传统的机械式转盘若要达到较高的精准度,会造成测试速度相对缓慢,而如果要达到快速测试的目的,则精准度会受到影响。如果同时希望达到高精准度以及高速测试的目的,所使用的机械马达则会相当昂贵。是以,在测试需求量庞大的量产测试情境中,传统的机械式测试方式并不适合作为量产测试之用。
因此,如何提供一种低成本、高效能的快速产线测试平台来解决上述缺点,已是所属技术领域亟待解决的课题之一。
发明内容
本发明提供一种快速空中产线测试平台,可节省测试时间。
本发明的快速空中产线测试平台包括:天线阵列,其对多个发射方向分别发射测试波束;电磁波导引装置,其导引该测试波束;测试机台,其装设待测物并控制该待测物从多个接收方向分别接收被导引的该测试波束;以及控制器,其电性连接该测试机台及该天线阵列,并至少依据该待测物对应于该多个接收方向所接收的功率及该天线阵列的发射功率计算该待测物的天线场型。
于一实施例中,该快速空中产线测试平台还包括:两个反射板,彼此相对设置并位于该待测物及该天线阵列之间,其中,该测试波束于该天线阵列、该待测物及所述两个反射板之间传播,以进行该待测物的波束空中测试。
于一实施例中,该快速空中产线测试平台还包括:第一喇叭天线阵列及第二喇叭天线阵列,分别排列聚焦于第一圆心及第二圆心;以及多个折弯波导,连接于该第一喇叭天线阵列及该第二喇叭天线阵列之间,其中,天线阵列于该第一圆心按序向该第一喇叭天线阵列以波束成形发射该测试波束,经过该多个折弯波导的引导,由具有波束成形功能的待测物于该第二圆心接收该测试波束,以进行该待测物的波束空中测试。
于一实施例中,该快速空中产线测试平台还包括:立体椭圆曲面,其中,该天线阵列的平面与具有波束成形功能的待测物的平面彼此正交,该天线阵列设于该立体椭圆曲面的第一焦点以波束成形发射该测试波束,以通过该立体椭圆曲面的反射,由该待测物于该立体椭圆曲面的第二焦点接收该测试波束,而进行该待测物的波束空中测试。
附图说明
图1为天线阵列发射与接收示意图。
图2A为功率电位扫描的强度等高线示意图。
图2B为功率电位扫描的强度等高线示意图(过取样(oversampled))。
图3A至图3D为本发明的第一实施例的快速空中产线测试平台的示意图。
图4为本发明的第一实施例的快速空中产线测试平台可以测试共7组不同角度的示意图。
图5为本发明的第二实施例的快速空中产线测试平台的立体示意图。
图6为本发明的第二实施例的快速空中产线测试平台的侧面示意图。
图7为S21功率电位扫描的量化图(以9x9喇叭天线阵列为例)。
图8为本发明的第二实施例的快速空中产线测试平台包括旋转马达的立体示意图。
图9A为本发明的第二实施例的快速空中产线测试平台中的待测物旋转一角度的侧面示意图。
图9B为本发明的第二实施例的快速空中产线测试平台中的待测物旋转一角度的立体示意图。
图10为本发明的第三实施例的快速空中产线测试平台的立体示意图。
图11A为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆曲面、长轴a与短轴b的比率为1.1以及b值为250mm、500mm、750mm的条件下)。
图11B为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆曲面、长轴a与短轴b的比率为1.3以及b值为250mm、500mm、750mm的条件下)。
图12A为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆曲面、长轴a与短轴b的比率为1.1以及b值为250mm条件下)。
图12B为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆曲面、长轴a与短轴b的比率为1.3以及b值为250mm条件下)。
图13为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆曲面以及b值固定为250mm条件下)。
附图标记说明:
1:快速空中产线测试平台
11:待测物
12:天线阵列
13:反射板
14:波束成形电路
2:快速空中产线测试平台
21:待测物
22:天线阵列
23:第一喇叭天线阵列
24:第二喇叭天线阵列
25:折弯波导
26:旋转马达
3:快速空中产线测试平台
31:待测物
32:天线阵列
33:立体椭圆曲面
C1:第一圆心
C2:第二圆心
F1:第一焦点
F2:第二焦点
具体实施方式
以下借由特定的具体实施例加以说明本发明的实施方式,而熟悉此技术的人士可由本说明书所公开的内容轻易地了解本发明的其他优点和技术效果,亦可借由其他不同的具体实施例加以施行或应用。
为了解决上述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种适用于毫米波(mmWave)第五代移动通信(5G)的快速空中(over-the-air,OTA)产线测试平台,本发明的具体实施例说明如下。
请参照图1,其用于说明天线阵列发射或接收指向性电磁波示意图。在本发明的各实施例中,第一分量角θ为发射向量在xz平面上的投影相对于法线方向(z轴)的夹角,而第二分量角
Figure BDA0002629444330000041
为电磁波发射方向在yz平面上的投影相对于z轴的夹角。
首先,需先说明者,在本发明的实施例中,信号源(即,发射端)的信号强度表示为PS,通常随第一分量角θ及第二分量角
Figure BDA0002629444330000042
而变化,如图2A及图2B所示的信号通过待测物的功率电位扫描的等高线示意图,所述高线并非为正圆形,由于随着两个分量角不同,发射角度所获得的信号强度也会稍微不同,此为天线阵列的特性。因此,信号源的信号强度可表示为
Figure BDA0002629444330000043
而路径损耗则表示为PL,由于路径损耗与路径长度R相关的函数,基本上可以表示为PL(R),接收端(即,待测物)的噪声强度可表示为PN,对于同一个待测物而言,通常设为常数,也就是,在同一次测量中,噪声强度通常是特定频率并且环境假设不变(实际上,噪声强度仍会随着频率及环境产生变化),另外,由于接收端的增益会随着指向接收角度的第一分量角θ及第二分量角
Figure BDA0002629444330000051
而变化(此与信号源的信号强度类似),所以接收端的增益可以表示为
Figure BDA0002629444330000052
因此,接收端接收到的信号噪声比(signal-to-noise ratio,SNR)可以表示为:
Figure BDA0002629444330000053
由上述数学式(1)可知,除了接收端的增益
Figure BDA0002629444330000054
之外,其余皆为已知,所以依据接收端接收到的SNR与路径损耗PL及/或信号源的信号强度
Figure BDA0002629444330000055
与(选择性的)接收端噪声强度PN,可借由测量及计算获得接收端的增益
Figure BDA0002629444330000056
接着通过功率电位扫描的量化方格图来获得待测物的天线场型。在某些应用中,也可以直接计算能量。于一些实施方式中,当待测物并非为单一天线而是天线阵列时,并且信号源亦为天线阵列,将以信号源的第一分量角θm及第二分量角
Figure BDA0002629444330000057
对待测物发射毫米波,则待测物也需要相应切换至θm
Figure BDA0002629444330000058
[即(θmn)]。于另一些实施方式中,当待测物为天线阵列时,信号源以第一分量角θm及第二分量角
Figure BDA0002629444330000059
对待测物发射毫米波,则待测物也需要相应切换至θx
Figure BDA00026294443300000510
[即
Figure BDA00026294443300000511
],其中,x为m-2~m+2,而y为n-2~n+2,但非限制于本发明。本发明的下列具体实施例皆可借由测量及计算获得接收端接收到的SNR(如上所述),进而通过功率电位扫描的量化方格图来获得待测物的天线场型。于另一些实施方式中,也可以直接计算待测物接收到的信号强度并以上述数学式(1)得到待测物的天线场型。此外,所属领域技术人员当能理解,以测量及计算接收端所接收到的信号强度(功率)实质上均等于前述以SNR所实现的方法。
于以下各实施例中,是以已知特性的天线阵列及电磁波导引装置来实现以多方向测定待测物天线场型的概念。
在本发明的各实施例中,天线阵列用于对多个发射方向分别发射测试波束,电磁波导引装置用于导引测试波束,测试机台用于装设待测物并控制待测物从多个接收方向分别接收被导引的测试波束,而控制器则电性连接测试机台及天线阵列,并且至少依据待测物对应于多个接收方向所接收的功率及天线阵列的发射功率来计算待测物的天线场型。
[第一实施例]
图3A至图3D为本公开的快速空中产线测试平台1的实施例示意图。本发明的快速空中产线测试平台1包括天线阵列(antenna array)12、两个反射板13以及波束成形(beamforming)电路14,用以对待测物(device under test,DUT)11进行测试。于本实施例中,前述电磁波导引装置实质上至少包含前述两个反射板13。
在本发明的实施例中,待测物11具备波束成形功能,天线阵列12则设置于待测物11的相对面并以波束成形方式发射测试波束,而两个反射板13为彼此相对设置并位于待测物11及天线阵列12之间,以借由两侧的反射板13的反射来进行待测物11的波束空中测试。
具体而言,天线阵列12具备波束成形能力,两侧的反射板13可以依据需求测试不同的待测物的波束方向。如图3A-图3D所示,通过直接传输(direct transmission)、一次反射、二次反射以及三次反射,本发明的实施例可以测试共7组不同的角度,如图4所示的示意图。值得一提的是,由于某些实施方式中,本实施例的路径长度与两分量角有关,所以本实施例中的路径损耗可表示为
Figure BDA0002629444330000061
因此,在本实施例中,待测物11(即,接收端)于特定接收角度上的增益可以依据接收到的SNR(或是功率)与其他已知参数,借由测量及上述数学式(1)计算获得,从而收集各接收角度的数据而得到待测物11的天线场型。
此外,值得注意的是,本发明的波束成形电路14可连接至天线阵列12,由于波束成形电路14具备波束成形的电子扫描探头,可进行二维的平面扫描。依据空中测试的需要,波束成形电路14可连接至网络分析仪、信号产生器、信号分析仪或基频设备,以进行不同的项目测试。另外,依据测试设备的频段,也可以视情况加入具备升降频功能的升降频电路。
[第二实施例]
请参阅图5及图6,其为本发明的快速空中产线测试平台2的实施例示意图。本发明的快速空中产线测试平台2包括天线阵列22、第一喇叭天线阵列(first horn antennaarray)23、第二喇叭天线阵列(second horn antenna array)24以及多个折弯波导(bending waveguide)25,用以对待测物21进行测试。于本实施例中,前述电磁波导引装置实质上至少包含第一喇叭天线阵列(first horn antenna array)23、第二喇叭天线阵列(second horn antenna array)24以及多个折弯波导(bending waveguide)25。
在本实施例中,待测物21同样具备波束成形功能,第一喇叭天线阵列23及第二喇叭天线阵列24分别排列聚焦于第一圆心C1及第二圆心C2,多个折弯波导25可连接于第一喇叭天线阵列23及第二喇叭天线阵列24之间。因此,天线阵列22可于第一圆心C1按序向第一喇叭天线阵列23以波束成形方式发射,而待测物21则于第二圆心C2接收,如此可进行待测物21的波束空中测试。
如图5及图6所示,本实施例有别于现有的暗室场型测试方式,只需要利用第一喇叭天线阵列23及第二喇叭天线阵列24分别排列聚焦于两圆心(即,第一圆心C1及第二圆心C2)特性,天线阵列22于第一圆心C1以波束成形技术发射,借由第一喇叭天线阵列23及第二喇叭天线阵列24结合多个折弯波导25,待测物21可于第二圆心C2(另一圆心)波束成形接收。当然作为发射端的天线阵列22于第一圆心C1也可当作接收端,而作为接收端的待测物21于第二圆心C2也可当发射端,如此即可进行场型一发一收的测量。
另外,第一喇叭天线阵列23及第二喇叭天线阵列24排列的分辨率取决于第一喇叭天线阵列23及第二喇叭天线阵列24中的喇叭天线的数量、喇叭天线之间的间距以及待测物21与天线阵列22分别至第一喇叭天线阵列23与第二喇叭天线阵列24的距离。值得一提的是,在本实施例中,多个折弯波导25用以将发射端界面的波束成形引导进入接收端界面的定义角度,不需要通过反射面来达到波束峰值功率电位(beam peak power level)及相位(phase)的测量。
此外,值得注意的是,在本实施例中,由于本实施例的路径长度为自由空间的路径长度(即,从发射端的天线阵列22到第一喇叭天线阵列23的距离以及从待测物21至第二喇叭天线阵列24的距离),而多个折弯波导25则假设为没有任何路径损耗,所以本实施例中的路径损耗可设为常数。据此,待测物21(即,接收端)于特定接收角度与旋转方向上的增益可以依据接收到的SNR(或是功率)与其他已知参数,借由测量及上述数学式(1)计算获得,接着通过功率电位扫描的量化方格图(如图7所示)来获得待测物21的天线场型。然而,在另一种情况下,若多个折弯波导25假设有路径损耗(因不同角度的波导的长度会略为不同),本实施例的路径长度则可表示为
Figure BDA0002629444330000081
于一实施例中,若自由空间的路径长度(即,从发射端的天线阵列22到第一喇叭天线阵列23的距离以及从待测物21至第二喇叭天线阵列24的距离)分别小于天线阵列22的远场距离与待测物21的远场距离,则需要引入补偿模型。
图7为S21信号通过待测物的功率电位扫描的量化图(以9x9喇叭天线阵列为例)。发射端于第一圆心C1按序向9x9喇叭天线阵列以波束成形指向性发射,接收端则于第二圆心C2固定视轴(boresight)为0度沿正Y轴进行接收,由图7可看出,功率电位在phi(即,
Figure BDA0002629444330000082
)=0,theta(即,θ)=0时为最大值,在水平极化(如图7左边所标示的H)及垂直极化(如图6右边所标示的V)下,皆可达到波束成形产品测试的目的。
如图8所示,本实施例还包括旋转马达26,该旋转马达26用于旋转待测物21,借此可增加应用上的弹性。
另外,本实施例还包括波束成形电路(未显示),该波束成形电路可连接至天线阵列22。
图9A及图9B为待测物21旋转的示意图。若待测物21的波束角度(beamwidth)为分辨率×n+m(n为大于等于0的整数值,0<m<分辨率及m为整数)时,则可借由承载的旋转马达26(波束指向相反方向)来达到将待测物21波束指向发射端视轴或分辨率整数倍的角度,以利用本实施例进行测量。例如,待测物21的波束指向为X轴旋转-9度及Z轴旋转-9度,承载的旋转马达26可将待测物21的天线面反方向转至X轴旋转+9度及Z轴旋转+9度,以进行指向性波束的测量。
简言之,本实施例使用圆形排列的喇叭天线阵列结合折弯波导,进而实现发射端及接收端同时进行三维波束成形的测量。本实施例可以有效地减少波束成形验证及测量的时间,亦即仅需将波束切换时间乘以所需角度点数即可完成。此外,本实施例只需使用折弯波导及喇叭天线阵列,不需要使用反射面或繁复的机构组件,从而可以有效地降低测量成本。
[第三实施例]
图10为本发明的快速空中产线测试平台3的实施例示意图。本发明的快速空中产线测试平台3包括天线阵列32与立体椭圆曲面33,用以对待测物31进行测试。待测物31具备波束成形能力,待测物31的平面与天线阵列32的平面彼此正交,天线阵列32设置于立体椭圆曲面33的第二焦点F2以波束成形技术发射,通过一次反射,待测物31于立体椭圆曲面33的第一焦点F1接收,以达到待测物31的波束空中测试的目的。于本实施例中,前述电磁波导引装置实质上至少包含立体椭圆曲面33。
换言之,本实施例利用立体椭圆曲面方程式的两焦点(即,第一焦点F1及第二焦点F2)特性,位于第二焦点F2的天线阵列32(即,发射端)以波束成形技术发射,通过一次反射,可于另一焦点(即,第一焦点F1)的待测物31(即,接收端)以波束成形技术接收,其反射角度可由入射角度与椭圆曲面方程式计算得出。当然第二焦点F2的发射端也可当作接收端,而第一焦点F1的接收端也可当作发射端,以进行场型一发一收的测量。另外,值得注意的是,由于本实施例的椭圆曲面特性,本实施例的路径长度皆相同,所以本实施例的路径长度可设为常数。据此,待测物31于特定接收角度与旋转方向上的增益可以依据接收到的SNR(或是功率)与其他已知参数,借由测量及上述数学式(1)计算获得,接着通过功率电位扫描的量化方格图来获得待测物31的天线场型。然而,在另一种情况下,若考量本实施例的反射曲面特性,本实施例的路径长度则可表示为
Figure BDA0002629444330000091
值得一提的是,在本实施例中,由于待测物31的平面与天线阵列32的平面彼此呈正交状态,所以待测物31的平面垂直于发射端的平面可有效地利用波束成形的涵盖范围。
此外,本实施例还包括波束成形电路(未显示),波束成形电路可连接至天线阵列32。
如图10所示,以立体椭圆曲面33中的长轴a与短轴b的比率为1.3为例,使用1/4面积的立体椭圆曲面33,可以实现发射端及接收端双方同时进行波束成形的测量。因此,本实施例可以有效地缩短波束成形验证及测量的时间。此外,1/4面积的立体椭圆曲面33的可测量的角度为90-arc(sin(b/a))=39.7度。值得一提的是,在本实施例中,除了使用1/4面积的立体椭圆曲面33之外,立体椭圆曲面33亦可为1/8面积的立体椭圆反射面或局部面积的立体椭圆反射面。
此外,值得注意的是,在本发明的实施例中,若往Y轴延长立体椭圆曲面,则可增加测量角度的范围。若待测物31平躺于X-Y平面(水平面),则可将阻塞效应(blockageeffect)减到最低。图11A为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆曲面、长轴a与短轴b的比率为1.1以及b值为250mm、500mm、750mm的条件下)。由图11A的模拟结果可知,在长轴a与短轴b的比率固定下,不同的b值可得到接近的反射特性。
图11B为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆曲面、长轴a与短轴b的比率为1.3以及b值为250mm、500mm、750mm的条件下)。由图11B的模拟结果可知,在长轴a与短轴b的比率固定下,不同的b值仍可得到接近的反射特性。图11A及图11B是在第一焦点F1以90度固定接收,而在第二焦点F2为入射不同角度下,即不同扫描角度(sweep angle),所扫描的在第一焦点F1的待测物的功率电位(power level)。
图12A为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆曲面、长轴a与短轴b的比率为1.1以及b值为250mm条件下)。由图12A的模拟结果可知,待测物的功率峰值(powerpeak)的角度为原焦点发射的角度。
图12B为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆反射面、长轴a与短轴b的比率为1.3以及b值为250mm条件下)。同样,由图12B的模拟结果可知,待测物的功率峰值的角度为原焦点发射的角度。图12A及图12B为在第一焦点F1以Beam不同角度接收,即不同待测物扫描角度(DUT Sweep Angle),由第二焦点F2发射扫描所得的功率电位(powerlevel)。
图13为S21功率电位扫描的模拟结果(在1/4面积的立体椭圆曲面以及b值固定为250mm条件下)。由图13的模拟结果可知,在不同的比率(即,长轴a与短轴b的比率)所呈现出的不同扫瞄范围(scan coverage),比率越大,则角度辨识率趋缓;反之,比率越小,则角度辨识率越高。因此,若取比率为1.1至1.5,并借由加大曲面来达到更广的反射范围,则可达到各种不同的应用需求。
简而言之,本实施例主要是利用立体椭圆方程式两焦点的特性,借由实际立体椭图曲面或分段(piecewise)曲面来实现快速波束空中测试,而不需使用反射板或繁复的机构组件,从而有效降低测量成本。
综上所述,本发明的前述各具体实施例使用具备波束成形技术的电子探头来进行电子式扫描,并且搭配反射平面的设计,可以达到待测物在不同角度测试的目的。由于本发明采用电子式扫描方式,所以在速度及精确度上能突破机械式扫描的限制。另外,也由于本发明采用电子式探头,在整体空中测试系统整合上,更加具备自动化测试的弹性。
上述实施形态仅为例示性说明本发明的技术原理、特点及其技术效果,并非用以限制本发明的可实施范围,任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神与范围下,对上述实施形态进行修饰与改变。然任何运用本发明所示启示内容而完成的等效修饰及改变,均仍应为下述的权利要求所涵盖。而本发明的权利保护范围,应如权利要求书所列。

Claims (16)

1.一种快速空中产线测试平台,其特征在于,包括:
天线阵列,其对多个发射方向分别发射测试波束;
电磁波导引装置,其导引该测试波束;
测试机台,其装设待测物并控制该待测物从多个接收方向分别接收被导引的该测试波束;以及
控制器,其电性连接该测试机台及该天线阵列,并至少依据该待测物对应于该多个接收方向所接收的功率及该天线阵列的发射功率计算该待测物的天线场型。
2.如权利要求1所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该电磁波导引装置包括:
两个反射板,彼此相对设置并位于该待测物及该天线阵列之间,
其中,该测试波束于该天线阵列、该待测物及所述两个反射板之间传播,以进行该待测物的波束空中测试。
3.如权利要求2所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该传播包括直接传输、一次反射、二次反射以及三次反射。
4.如权利要求1所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该电磁波导引装置包括:
第一喇叭天线阵列及第二喇叭天线阵列,分别排列聚焦于第一圆心及第二圆心;以及
多个折弯波导,连接于该第一喇叭天线阵列及该第二喇叭天线阵列之间,
其中,该天线阵列于该第一圆心按序向该第一喇叭天线阵列以波束成形发射该测试波束,经过该多个折弯波导的引导后,由具有波束成形功能的待测物于该第二圆心接收该测试波束,以进行该待测物的波束空中测试。
5.如权利要求4所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该平台还包括:连接至该待测物的旋转马达。
6.如权利要求4所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,若该天线阵列于该第二圆心按序向该第二喇叭天线阵列以波束成形发射该测试波束,该待测物则于该第一圆心接收该测试波束。
7.如权利要求4所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该第一喇叭天线阵列及该第二喇叭天线阵列的分辨率取决于该第一喇叭天线阵列及该第二喇叭天线阵列中的喇叭天线的数量、该喇叭天线之间的间距以及该天线阵列与该待测物至该喇叭天线的距离。
8.如权利要求4所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该多个折弯波导用以将该天线阵列的波束成形引导至接收端的定义角度,而该待测物则设置于该接收端。
9.如权利要求1所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该电磁波导引装置包括:
立体椭圆曲面,
其中,该天线阵列的平面与具有波束成形功能的待测物的平面为彼此正交,且该天线阵列于该立体椭圆曲面的第一焦点以波束成形发射该测试波束,以通过该立体椭圆曲面的反射,由该待测物于该立体椭圆曲面的第二焦点接收该测试波束,以进行该待测物的波束空中测试。
10.如权利要求9所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该反射的角度由入射角度与椭圆曲面方程式计算而得出。
11.如权利要求9所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该立体椭圆曲面为1/4面积的立体椭圆曲面、1/8面积的立体椭圆曲面或局部面积的立体椭圆曲面。
12.如权利要求9所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该立体椭圆曲面的长轴往该第一焦点及该第二焦点的方向延伸,以增加测量张角的范围。
13.如权利要求9所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该待测物设置于X-Y水平面以降低阻塞效应。
14.如权利要求2、4或9中任一项所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该平台还包括:连接至该天线阵列并具有波束成形的电子扫描探头的波束成形电路。
15.如权利要求14所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该波束成形电路连接至网络分析仪、信号产生器、信号分析仪或基频设备。
16.如权利要求2、4或9中任一项所述的快速空中产线测试平台,其特征在于,该波束空中测试为毫米波第五代移动通信(5G)的波束空中测试。
CN202010806834.7A 2019-08-16 2020-08-12 快速空中产线测试平台 Pending CN112394234A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201962887815P 2019-08-16 2019-08-16
US62/887,815 2019-08-16

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112394234A true CN112394234A (zh) 2021-02-23

Family

ID=72087893

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010723854.8A Pending CN112394233A (zh) 2019-08-16 2020-07-24 天线封装验证板
CN202010725266.8A Active CN112397863B (zh) 2019-08-16 2020-07-24 用于毫米波的转接结构以及多层转接结构
CN202010806834.7A Pending CN112394234A (zh) 2019-08-16 2020-08-12 快速空中产线测试平台

Family Applications Before (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010723854.8A Pending CN112394233A (zh) 2019-08-16 2020-07-24 天线封装验证板
CN202010725266.8A Active CN112397863B (zh) 2019-08-16 2020-07-24 用于毫米波的转接结构以及多层转接结构

Country Status (5)

Country Link
US (4) US11316240B2 (zh)
EP (3) EP3780259B1 (zh)
JP (4) JP7179803B2 (zh)
CN (3) CN112394233A (zh)
TW (3) TWI741695B (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11536760B2 (en) * 2017-11-28 2022-12-27 Ase Test, Inc. Testing device, testing system, and testing method
CN112394233A (zh) * 2019-08-16 2021-02-23 稜研科技股份有限公司 天线封装验证板
EP4145149A1 (en) 2021-09-07 2023-03-08 TMY Technology Inc. Broadband measurement system and measurement method for broadband property
TWI800098B (zh) * 2021-11-15 2023-04-21 貿聯國際股份有限公司 測試板
WO2023150221A1 (en) 2022-02-03 2023-08-10 Jackson James M Systems and methods for magnetic joints
TWI816468B (zh) * 2022-07-14 2023-09-21 國立臺灣大學 陣列式射頻系統

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0566261A (ja) * 1991-09-06 1993-03-19 Nec Corp 複合給電形レーダ空中線
RU2125275C1 (ru) * 1997-05-06 1999-01-20 Акционерное общество открытого типа Нижегородский авиастроительный завод "Сокол" Устройство для имитации целей
JP2006214938A (ja) * 2005-02-04 2006-08-17 Mitsubishi Electric Corp レーダ断面積測定装置
CN101217322A (zh) * 2008-01-16 2008-07-09 中兴通讯股份有限公司 无线usb调制解调器空中性能的测试系统和测试方法
US20080305754A1 (en) * 2006-06-07 2008-12-11 Michael Foegelle Systems and methods for over-the-air testing of wireless systems
TW201618379A (zh) * 2014-11-14 2016-05-16 亞東技術學院 天線系統的遠場調校系統
CN106291145A (zh) * 2015-05-12 2017-01-04 深圳市通用测试系统有限公司 无线终端的测试系统
EP3182144A1 (en) * 2015-04-10 2017-06-21 General Test Systems Inc. Wireless terminal testing system and method for controlling same
CN106936524A (zh) * 2015-12-31 2017-07-07 深圳市通用测试系统有限公司 无线终端的测试系统
CN109100639A (zh) * 2018-09-13 2018-12-28 苏州永安丰新能源科技有限公司 一种用于通信设备环境适应性测试的ota测试装置及方法
US20190162780A1 (en) * 2017-11-28 2019-05-30 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Over-the-air test system and method for testing a device under test
US20190181963A1 (en) * 2017-12-11 2019-06-13 RF DSP Inc. Millimeter wave rf channel emulator
CN109889239A (zh) * 2019-03-27 2019-06-14 北京邮电大学 一种用于mimo ota测试的双暗室结构及测试方法

Family Cites Families (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61239701A (ja) * 1985-04-16 1986-10-25 Mitsubishi Electric Corp トリプレ−ト線路形t分岐
JP2000216630A (ja) * 1999-01-20 2000-08-04 Alps Electric Co Ltd アンテナ付き送受信器
JP2001308547A (ja) * 2000-04-27 2001-11-02 Sharp Corp 高周波多層回路基板
JP4734723B2 (ja) * 2001-01-31 2011-07-27 凸版印刷株式会社 同軸ビアホールを用いた多層配線基板の製造方法
US7024165B2 (en) * 2001-06-14 2006-04-04 Honeywell Federal Manufacturing & Technologies, Llc ISM band to U-NII band frequency transverter and method of frequency transversion
DE10137838A1 (de) * 2001-08-02 2003-02-13 Philips Corp Intellectual Pty GPS-Empfangsmodul
JP2003204209A (ja) * 2002-01-07 2003-07-18 Kyocera Corp 高周波用配線基板
JP2004108898A (ja) * 2002-09-17 2004-04-08 Advantest Corp パフォーマンスボード及び試験システム
US20060226928A1 (en) * 2005-04-08 2006-10-12 Henning Larry C Ball coax interconnect
KR100926561B1 (ko) * 2007-09-19 2009-11-12 한국전자통신연구원 유한 거리간 안테나 방사 패턴 측정 장치 및 방법
JP5468085B2 (ja) * 2008-12-12 2014-04-09 ナンヤン テクノロジカル ユニヴァーシティ グリッドアレイアンテナおよび一体化構造
CN102113171B (zh) 2009-05-12 2014-04-16 松下电器产业株式会社 天线评价装置及天线评价方法
EP2438699A4 (en) * 2009-06-03 2015-01-21 Elektrobit System Test Oy OVER-THE-AIR TEST
DE102009037336A1 (de) * 2009-08-14 2011-08-04 Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, 30167 Antennencharakterisierung in einem Wellenleiter
US8360806B2 (en) * 2010-12-22 2013-01-29 Tyco Electronics Corporation RF module
US9671445B2 (en) * 2013-03-15 2017-06-06 Litepoint Corporation System and method for testing radio frequency wireless signal transceivers using wireless test signals
DE102013102714A1 (de) * 2013-03-18 2014-09-18 Schott Ag Hochfrequenzdurchführung
CN103297161B (zh) 2013-05-28 2016-03-02 惠州Tcl移动通信有限公司 一种终端天线接收灵敏度测试方法及系统
US9154972B2 (en) * 2013-06-12 2015-10-06 Apple Inc. Methods and apparatus for testing electronic devices with antenna arrays
JP6402962B2 (ja) * 2013-07-17 2018-10-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波モジュール
US10014566B2 (en) * 2013-10-01 2018-07-03 Sony Semiconductor Solutions Corporation Connector apparatus and communication system
US10310009B2 (en) * 2014-01-17 2019-06-04 Nuvotronics, Inc Wafer scale test interface unit and contactors
EP3158345B1 (en) * 2014-06-20 2023-11-15 Xcerra Corporation Test socket assembly and related methods
CN105634627B (zh) * 2014-10-28 2021-04-02 中兴通讯股份有限公司 一种天线阵耦合校准网络装置及校准方法
CN204243214U (zh) * 2014-10-28 2015-04-01 中兴通讯股份有限公司 一种智能天线装置
US10297923B2 (en) * 2014-12-12 2019-05-21 The Boeing Company Switchable transmit and receive phased array antenna
CA2913777A1 (en) * 2014-12-15 2016-06-15 University Of Windsor Shielded rf transmission lines in low temperature co-fired ceramic constructs and method of making same
ES2843513T3 (es) * 2015-12-16 2021-07-19 Ranlos Ab Método y aparato para probar comunicación inalámbrica con vehículos
TWI594502B (zh) * 2016-03-10 2017-08-01 Nat Chung-Shan Inst Of Science And Tech Millimeter wave antenna device and its millimeter wave antenna array device
US11489598B2 (en) * 2016-04-26 2022-11-01 Rf Dsp Inc Over-the-air channel state information acquirement for a massive MIMO channel emulator with over-the-air connection
DE102016111884A1 (de) * 2016-06-29 2018-01-04 Infineon Technologies Ag Vorrichtung, System und Verfahren zum automatischen Testen integrierter Antennen
US10085162B2 (en) * 2016-07-22 2018-09-25 Ets-Lindgren, Inc. System and method for over-the-air testing of milli-meter wave and other beamforming technologies
CN106159404B (zh) * 2016-09-29 2019-10-11 上海航天测控通信研究所 一种非均匀微带线至带状线过渡结构
SE540655C2 (en) * 2017-03-06 2018-10-09 Bluetest Ab Arrangement and method for measuring the performance of devices with wireless capability
EP3651850A1 (en) * 2017-07-10 2020-05-20 Smart Medical Devices, Inc. Sterilizable wireless communication devices
TWI635290B (zh) * 2017-07-11 2018-09-11 川升股份有限公司 應用於多重路徑環境下的天線輻射場型量測系統
IT201700086529A1 (it) * 2017-07-27 2019-01-27 Thales Alenia Space Italia Spa Con Unico Socio Modulo d'antenna a microonde per applicazioni spaziali comprendente un modulo trasmetti/ricevi ibrido di tipo package su package
CN107834233B (zh) * 2017-09-27 2019-04-02 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种垂直过渡结构
EP3698428A4 (en) * 2017-10-17 2021-07-07 Commscope Technologies LLC VERTICAL TRANSITIONS FOR MICROWAVE AND MILLIMETERWAVE COMMUNICATION SYSTEMS WITH MULTI-LAYER SUBSTRATES
US10462686B2 (en) * 2017-10-23 2019-10-29 Keysight Technologies, Inc. Over the air (OTA) beamforming testing with a reduced number of receivers
KR102387939B1 (ko) * 2017-11-28 2022-04-19 삼성전자주식회사 안테나 및 그 안테나를 포함하는 전자 장치
WO2019133097A1 (en) * 2017-12-29 2019-07-04 Xcerra Corporation Test socket assembly with antenna and related methods
US10916854B2 (en) * 2018-03-29 2021-02-09 Mediatek Inc. Antenna structure with integrated coupling element and semiconductor package using the same
CN108598690B (zh) * 2018-03-29 2024-02-20 广东通宇通讯股份有限公司 毫米波Massive MIMO天线单元及阵列天线
US10725080B2 (en) * 2018-09-25 2020-07-28 National Instruments Corporation Correlation of device-under-test orientations and radio frequency measurements
TWM581775U (zh) * 2018-11-23 2019-08-01 耀登科技股份有限公司 High frequency antenna device
TWI720535B (zh) * 2019-07-08 2021-03-01 中華精測科技股份有限公司 天線封裝積體電路測試裝置
CN112394233A (zh) * 2019-08-16 2021-02-23 稜研科技股份有限公司 天线封装验证板
CN111416200A (zh) * 2020-04-16 2020-07-14 中国电子科技集团公司第五十四研究所 圆极化封装天线
US11695206B2 (en) * 2020-06-01 2023-07-04 United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Monolithic decade-bandwidth ultra-wideband antenna array module
TWI784709B (zh) * 2020-09-25 2022-11-21 創未來科技股份有限公司 用於測試天線陣列之近場測試裝置及其相關的近場測試網格與方法

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0566261A (ja) * 1991-09-06 1993-03-19 Nec Corp 複合給電形レーダ空中線
RU2125275C1 (ru) * 1997-05-06 1999-01-20 Акционерное общество открытого типа Нижегородский авиастроительный завод "Сокол" Устройство для имитации целей
JP2006214938A (ja) * 2005-02-04 2006-08-17 Mitsubishi Electric Corp レーダ断面積測定装置
US20080305754A1 (en) * 2006-06-07 2008-12-11 Michael Foegelle Systems and methods for over-the-air testing of wireless systems
CN101217322A (zh) * 2008-01-16 2008-07-09 中兴通讯股份有限公司 无线usb调制解调器空中性能的测试系统和测试方法
TW201618379A (zh) * 2014-11-14 2016-05-16 亞東技術學院 天線系統的遠場調校系統
EP3182144A1 (en) * 2015-04-10 2017-06-21 General Test Systems Inc. Wireless terminal testing system and method for controlling same
CN106291145A (zh) * 2015-05-12 2017-01-04 深圳市通用测试系统有限公司 无线终端的测试系统
CN106936524A (zh) * 2015-12-31 2017-07-07 深圳市通用测试系统有限公司 无线终端的测试系统
US20190162780A1 (en) * 2017-11-28 2019-05-30 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Over-the-air test system and method for testing a device under test
US20190181963A1 (en) * 2017-12-11 2019-06-13 RF DSP Inc. Millimeter wave rf channel emulator
CN109100639A (zh) * 2018-09-13 2018-12-28 苏州永安丰新能源科技有限公司 一种用于通信设备环境适应性测试的ota测试装置及方法
CN109889239A (zh) * 2019-03-27 2019-06-14 北京邮电大学 一种用于mimo ota测试的双暗室结构及测试方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DAVID REYES: "Over-the-Air test method for 5G mmWave devices with beamforming capabilities", 《2018 IEEE GLOBECOM WORKSHOPS》, 9 December 2018 (2018-12-09), pages 1 - 6, XP033519083, DOI: 10.1109/GLOCOMW.2018.8644187 *
YIHONG QI: "5G Over-the-Air Measurement Challenges: Overview", 《IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY》, 5 October 2017 (2017-10-05), pages 1 - 10 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021035058A (ja) 2021-03-01
TWI748579B (zh) 2021-12-01
US20220069428A1 (en) 2022-03-03
EP3780259A1 (en) 2021-02-17
TWI751645B (zh) 2022-01-01
CN112394233A (zh) 2021-02-23
US11682818B2 (en) 2023-06-20
JP7074811B2 (ja) 2022-05-24
EP3780275A1 (en) 2021-02-17
JP7179803B2 (ja) 2022-11-29
JP2022059609A (ja) 2022-04-13
US20210050923A1 (en) 2021-02-18
JP2021034729A (ja) 2021-03-01
TW202109064A (zh) 2021-03-01
TWI741695B (zh) 2021-10-01
JP2021035054A (ja) 2021-03-01
CN112397863B (zh) 2022-02-22
JP7329085B2 (ja) 2023-08-17
JP7062219B2 (ja) 2022-05-06
US11205827B2 (en) 2021-12-21
EP3780275B1 (en) 2023-07-19
TW202109965A (zh) 2021-03-01
TW202109059A (zh) 2021-03-01
US11316240B2 (en) 2022-04-26
US20210050643A1 (en) 2021-02-18
US20210050674A1 (en) 2021-02-18
EP3779477A3 (en) 2021-05-26
US11600894B2 (en) 2023-03-07
EP3780259B1 (en) 2023-06-28
CN112397863A (zh) 2021-02-23
EP3779477A2 (en) 2021-02-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112394234A (zh) 快速空中产线测试平台
US20210250107A1 (en) Methods and apparatuses for testing wireless communication to vehicles
KR101099949B1 (ko) 방사효율 측정장치 및 방사효율 측정방법
WO2019214570A1 (zh) 一种阵列天线总辐射功率的测量方法、装置和系统
CN112425002B (zh) 用于天线阵列远程无线电控制的近场天线
CN211061611U (zh) 一种车载雷达测试装置
KR20210086620A (ko) 소형 다중대역, 근거리장 원거리장 및 직접 원거리장을 위한 테스트 시스템
EP3282266A1 (en) Wireless terminal testing system and method for controlling same
US11372037B2 (en) Freespace antenna measurement system
CN210294411U (zh) 一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统
CN112034264A (zh) 一种多探头紧缩场天线测试系统和生成方法
CN114284752A (zh) 一种用于非均匀相控阵天线的高精度波束赋形方法
Salhi et al. Near-and far-field characterization of planar mm-wave antenna arrays with waveguide-to-microstrip transition
CN214375029U (zh) 紧缩场天线测试系统
Budé et al. Wide-scan focal plane arrays for mmwave point-to-multipoint communications
CN113917241A (zh) 一种天线方向图快速测量和预估方法、系统、设备及终端
CN113691329A (zh) 一种基于多通道接收机的天线测试系统及方法
CN111213324B (zh) 信号传输装置及系统
CN112867045A (zh) 一种多紧缩场测量系统和方法
Mandaris High strength electromagnetic field generation for radiated EMI measurements
KR102504392B1 (ko) 5g 이동통신 기기 시험용 catr 측정 챔버의 평탄도 측정 시스템 및 그 방법
Albert Galí Millimeter-Wave Beam-Formed Array Antenna for Connected Driving Scenarios

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination