CN112292769A - 发光器件及其制作方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 57
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 249
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 claims abstract description 93
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 claims abstract description 57
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 90
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 90
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 56
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 51
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 50
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 50
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 47
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 43
- -1 9, 9-dioctylfluorenyl-2, 7-diyl Chemical group 0.000 claims description 21
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 20
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 18
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims description 15
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 229920000144 PEDOT:PSS Polymers 0.000 claims description 13
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 13
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 12
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 claims description 12
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 claims description 10
- 229920000172 poly(styrenesulfonic acid) Polymers 0.000 claims description 10
- 229940005642 polystyrene sulfonic acid Drugs 0.000 claims description 10
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 9
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 6
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 6
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 5
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 claims description 4
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 4-Butyrolactone Chemical compound O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 125000000320 amidine group Chemical group 0.000 claims description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 14
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 12
- 229920002873 Polyethylenimine Polymers 0.000 description 11
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 6
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 6
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 5
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000001194 electroluminescence spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 4
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 4
- KISZTEOELCMZPY-UHFFFAOYSA-N 3,3-diphenylpropylamine Chemical class C=1C=CC=CC=1C(CCN)C1=CC=CC=C1 KISZTEOELCMZPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 3
- 239000012296 anti-solvent Substances 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 3
- QDHHCQZDFGDHMP-UHFFFAOYSA-N Chloramine Chemical compound ClN QDHHCQZDFGDHMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000089 atomic force micrograph Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000002159 nanocrystal Substances 0.000 description 2
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000103 photoluminescence spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 2
- KWTSXDURSIMDCE-QMMMGPOBSA-N (S)-amphetamine Chemical class C[C@H](N)CC1=CC=CC=C1 KWTSXDURSIMDCE-QMMMGPOBSA-N 0.000 description 1
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNKUSGQVOMIXLU-UHFFFAOYSA-N Formamidine Chemical group NC=N PNKUSGQVOMIXLU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BHHGXPLMPWCGHP-UHFFFAOYSA-N Phenethylamine Chemical class NCCC1=CC=CC=C1 BHHGXPLMPWCGHP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 150000003973 alkyl amines Chemical class 0.000 description 1
- 125000003282 alkyl amino group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 150000003940 butylamines Chemical class 0.000 description 1
- 125000003739 carbamimidoyl group Chemical group C(N)(=N)* 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 150000003947 ethylamines Chemical class 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- 239000005457 ice water Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- IOQPZZOEVPZRBK-UHFFFAOYSA-N octan-1-amine Chemical class CCCCCCCCN IOQPZZOEVPZRBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 230000036470 plasma concentration Effects 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000002390 rotary evaporation Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001291 vacuum drying Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/17—Carrier injection layers
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- H10K71/421—Thermal treatment, e.g. annealing in the presence of a solvent vapour using coherent electromagnetic radiation, e.g. laser annealing
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- H10K50/17—Carrier injection layers
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- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
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- H10K85/111—Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
- H10K85/113—Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
- H10K85/1135—Polyethylene dioxythiophene [PEDOT]; Derivatives thereof
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Abstract
发光器件及其制作方法。该发光器件的制作方法包括:形成功能层,其中,功能层具有第一表面;对功能层的第一表面进行等离子体处理;以及在经等离子体处理后的第一表面上形成钙钛矿型发光层。
Description
技术领域
本公开至少一实施例涉及一种发光器件及其制作方法。
背景技术
钙钛矿材料通常指包括分子式为ABX3成分的材料,具有优异的光学和光电子特性,基于钙钛矿材料制成的钙钛矿电致发光器件具有外量子效率高、发射光谱连续可调、色纯度高、成本低等特点,使其可在显示和照明等领域得到广泛的应用。然而,目前基于钙钛矿材料制备的钙钛矿发光二极管器件(Perovskite light-emitting diodes,PeLED)存在结构较复杂、外量子效率较低等缺点,相比于目前已经广泛应用的有机电致发光器件(Organic light-emitting diodes,OLED)还有很大的提升空间。高质量的钙钛矿发光薄膜的形成对位于其下方的衬底的表面平整性和润湿性有较严格的要求,使得下层衬底材料的选择受到限制,从而进一步地限制了钙钛矿电致发光器件结构的设计。
发明内容
本公开至少一实施例提供一种发光器件的制作方法,该方法包括:形成功能层,其中,功能层具有第一表面;对功能层的第一表面进行等离子体处理;以及在经等离子体处理后的第一表面上形成钙钛矿型发光层。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,所述等离子体处理包括氧等离子体处理、氮等离子体处理和氩等离子体处理中的至少之一。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,用于进行所述等离子体处理的气体的气压为20Pa~50Pa,所述等离子体处理的时间为2~5分钟。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,所述功能层为空穴注入层,所述功能层的材料包括聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS)、聚乙烯咔唑(PVK)、聚[(9,9-二辛基芴基-2,7-二基)-co-(4,4'-(N-(对丁基苯基))二苯胺)](TFB)、聚[双(4-苯基)(4-丁基苯基)胺](Poly-TPD)中的至少之一。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,所述功能层为电子注入层,所述功能层的材料包括氧化锌(ZnO)。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,所述钙钛矿型发光层包括分子式为ABX3的材料;A为金属阳离子或烷基铵盐离子,B为金属阳离子,X为卤素阴离子。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,A包括有机胺基团、脒基团、Cs+、K+、Rb+中的至少之一;B包括Pb2+、Sn2+、Ge2+、Ga2+、In3+、Cd2+、Hg2+、Ni2+、Mn2+、Bi3+、Sb3+、中的至少之一;X包括Cl-、Br-、I-中的至少之一。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成所述钙钛矿型发光层包括:以AXn、BXm作为溶质溶解于第一溶剂中以形成钙钛矿型发光层的前驱体溶液;以及利用所述钙钛矿型发光层的前驱体溶液在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成所述钙钛矿型发光层;AXn与BXm反应生成ABX3,m和n均为正整数。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,利用所述钛矿型发光层的前驱体溶液在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成所述钛矿型发光层包括:将所述钙钛矿型发光层的前驱体溶液旋涂于经所述等离子体处理后的所述第一表面上;在所述旋涂过程中向所述钙钛矿型发光层的前驱体溶液中加入第二溶剂,其中,所述第二溶剂与所述第一溶剂不互溶;以及进行退火处理以得到所述钙钛矿型发光层。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,所述第一溶剂为无水N,N-二甲基甲酰胺(DMF)、二甲基亚砜(DMSO)、γ-丁内酯(GBL)、乙腈(ACN)中的至少之一,第二溶剂包括甲苯、氯仿、氯苯、丙酮中的至少之一。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,所述退火处理的温度为70℃~80℃,所述退火处理的时间为20~40min。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法中,所述钙钛矿型发光层的前驱体溶液与经所述等离子体处理后的所述第一表面的接触角小于16°。
例如,本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法还包括:以AI、B(I)m作为溶质溶解于所述第一溶剂中以形成第一前驱体溶液,利用所述第一前驱体溶液在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成发射红光的钙钛矿型发光层,其中,AI与B(I)m反应生成ABI3。
例如,本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法还包括:还包括:以ABr、B(Br)m作为溶质溶解于所述第一溶剂中以形成第二前驱体溶液,利用所述第二前驱体溶液在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成发射绿光的钙钛矿型发光层,ABr与B(Br)m反应生成AB(Br)3。
例如,本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法还包括:以ACl、B(Br)m作为溶质溶解于所述第一溶剂中以形成第三前驱体溶液,在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成发射蓝光的钙钛矿型发光层,ACl与B(Br)m反应生成AB(Br)2Cl。
例如,本公开至少一实施例提供的发光器件的制作方法还包括:在进行所述等离子处理之前,对所述功能层进行退火处理。
本公开至少一实施例还提供一种发光器件,发光器件包括:功能层和钙钛矿型发光层。功能层具有第一表面;钙钛矿型发光层与所述功能层的所述第一表面直接接触;功能层的所述第一表面存在亲水基团。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件中,所述等离子体包括氧等离子体、氮等离子体和氩等离子体中的至少之一。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件中,所述钙钛矿型发光层的表面粗糙度小于2nm。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件中,所述功能层为空穴注入层,所述功能层的材料包括聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS)、聚乙烯咔唑(PVK)、聚[(9,9-二辛基芴基-2,7-二基)-co-(4,4'-(N-(对丁基苯基))二苯胺)](TFB)、聚[双(4-苯基)(4-丁基苯基)胺](Poly-TPD)中的至少之一。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件中,所述功能层的材料为聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS),所述PEDOT:PSS的靠近所述钙钛矿型发光层的表面具有所述亲水基团且与所述钙钛矿型发光层直接接触。
例如,本公开至少一实施例提供的发光器件还包括:电子注入层、修饰电极、第一电极和第二电极。电子注入层位于所述钙钛矿型发光层的远离所述空穴注入层的一侧;修饰电极位于所述电子注入层的远离钙钛矿型发光层的一侧;所述空穴注入层、所述钙钛矿型发光层、所述电子注入层和所述修饰电极夹置于所述第一电极与所述第二电极之间。
例如,在本公开至少一实施例提供的发光器件中,所述功能层为电子注入层,所述功能层的材料包括氧化锌(ZnO),所述ZnO的靠近所述钙钛矿型发光层的表面具有所述亲水基团且与所述钙钛矿型发光层直接接触。
例如,本公开至少一实施例提供的发光器件还包括:空穴注入层、修饰电极、第一电极和第二电极。空穴注入层位于所述钙钛矿型发光层的远离所述电子注入层的一侧;修饰电极位于所述电子注入层的远离钙钛矿型发光层的一侧;所述空穴注入层、所述钙钛矿型发光层、所述电子注入层和所述修饰电极夹置于所述第一电极与所述第二电极之间。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案,下面将对实施例的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例,而非对本公开的限制。
图1A-1F为本公开一实施例提供的一种发光器件的制作方法示意图;
图1G-1K为本公开一实施例提供的另一种发光器件的制作方法示意图;
图2A为本公开一实施例提供的一种发光器件的制作方法流程图;
图2B为本公开一实施例提供的另一种发光器件的制作方法流程图;
图3A-3B为本公开一实施例中的功能层的第一表面经等离子体处理前后的接触角测量结果对比图;
图4为本公开一实施例中的功能层经等离子体处理前后的透过率对比曲线图;
图5为本公开一实施例中的发射红光的钙钛矿发光层的表面SEM图像;
图6为本公开一实施例中的发射红光的钙钛矿发光层的表面AFM图像;
图7为本公开一实施例中的发射红光的钙钛矿发光层的吸收和光致发光光谱曲线;
图8为本公开一实施例中的发射绿光的钙钛矿发光层的表面SEM图像;
图9为本公开一实施例中的发射绿光的钙钛矿发光层的表面AFM图像;
图10为本公开一实施例中的发射绿光的钙钛矿发光层的吸收和电致发光光谱曲线;
图11为根据本公开一实施例提供的方法制得的发射绿光的发光器件的电流密度/亮度-电压关系曲线;
图12为根据本公开一实施例提供的方法制得的发射绿光的发光器件的外量子效率/电流效率-电流密度关系曲线;
图13本公开一实施例提供的发射绿光的发光器件的电致发光光谱;
图14为本公开一实施例提供的一种发光器件的结构示意图;
图15为本公开一实施例提供的另一种发光器件的结构示意图。
具体实施方式
为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本公开实施例的附图,对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。以下所描述的实施例是本公开的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例,本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例,都属于本公开保护的范围。
除非另作定义,此处使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。同样,“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
本公开一实施例提供一种发光器件的制作方法,该方法包括:形成功能层,其中,功能层具有第一表面;对功能层的第一表面进行等离子体处理;以及在经等离子体处理后的第一表面上形成钙钛矿型发光层。
示例性地,图1A-1F为本公开一实施例提供的一种发光器件的制作方法示意图,图2A为本公开一实施例提供的一种发光器件的制作方法流程图。该实施例提供的发光器件的制作方法包括以下步骤。
如图1A所示,提供衬底基板1。对衬底基板1进行清洗。例如,依次使用去离子水、丙酮溶液、乙醇溶液、异丙醇溶液对衬底基板1进行擦拭和超声清洗,清洗后采用氮气吹干;将清洗好的衬底基板1进行等离子体预处理,以增强衬底基板1的表面的润湿性。例如,该离子体处理包括氧等离子体处理、氮等离子体处理和氩等离子体处理中的至少之一。例如,衬底基板1的材料可以是玻璃、石英、氧化铟锡(ITO)等无机材料,也可以是聚酰亚胺等有机材料,本公开实施例对此不作限定。
然后,在衬底基板1上形成第一电极21。该电极例如为透明电极或不透明电极。
如图1B所示,在第一电极21的远离衬底基板1的一侧形成功能层3,功能层3具有第一表面31。例如,在一个实施例中,功能层3为空穴注入层,功能层3的材料包括聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS)、聚乙烯咔唑(PVK)、聚[(9,9-二辛基芴基-2,7-二基)-co-(4,4'-(N-(对丁基苯基))二苯胺)](TFB)中的至少之一。
如图1B所示,对功能层3的第一表面31进行等离子体处理。例如,该等离子体处理包括氧等离子体处理、氮等离子体处理和氩等离子体处理中的至少之一。本实施例以功能层3的材料为聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS)、对功能层3的第一表面31进行氧等离子体处理为例对发光器件的制作方法及技术效果进行介绍。
例如,将制备好功能层3的器件移至等离子体清洗机的腔体中,经过多次抽真空/通氧气操作后,保证腔体内为氧气环境。然后,通过调节氧等离子体处理的功率、腔体内的气压和氧等离子体处理时间等参数对处理效果进行调整。例如,用于进行等离子体处理的气体的气压为20Pa~50Pa,以获得适宜的等离子体浓度;等离子体处理的时间为2~5分钟;等离子体处理的功率为30W~40W。例如,该功率指等离子体处理设备的功率。等离子体处理的时间和功率会影响第一表面31突起物的量从而影响比表面面积,还会影响第一表面31含有的含氮或含氧等亲水基团的量,从而影响在经等离子体处理后的第一表面31上形成的钙钛矿型发光层的性能与第一表面31结合的效果。采用上述条件能够使功能层3的第一表面31具有合适的比表面积和含氮或含氧等亲水基团,从而,功能层3的第一表面31得到较好的改性,有利于提高后续在功能层3的第一表面31上形成的钙钛矿型发光层的性能。
如图1C所示,在经等离子体处理后的第一表面31上形成钙钛矿型发光层4。例如,先制备钙钛矿型发光层的前驱体溶液,再利用钙钛矿型发光层的前驱体溶液在经等离子体处理后的第一表面31上形成钙钛矿型发光层4。由于对功能层3的第一表面31进行了等离子体处理,钙钛矿型发光层的前驱体溶液对第一表面31的润湿性得到提高,接触角变小,从而形成的钙钛矿型发光层4更加平整,例如所述钙钛矿型发光层的表面粗糙度小于2nm,从而发光性能得到改善,例如该发光器件的外量子效率提高。并且,经等离子体处理后的功能层3的光透过率提高,有利于提高发光器件的光利用率。
需要说明的是,本公开中的钙钛矿型发光层4不同于有机发光二极管(OLED)发光层。例如,钙钛矿型发光层4包括分子式为ABX3的材料。A为金属阳离子或烷基铵盐离子,B为金属阳离子,X为卤素阴离子。例如,A包括有机胺基团(例如烷胺基团RNH4 +,R为烷基,例如烷胺基团为CH3NH4 +)、脒基团(例如甲脒基团NH2CH=NH2 +等)、Cs+、K+、Rb+中的至少之一;B包括Pb2+、Sn2+、Ge2+、Ga2+、In3+、Cd2+、Hg2+、Ni2+、Mn2+、Bi3+、Sb3+、中的至少之一;X包括Cl-、Br-、I-中的至少之一。
例如,在经等离子体处理后的第一表面31上形成钙钛矿型发光层4包括:以AXn、BXm作为溶质溶解于第一溶剂中以形成钙钛矿型发光层的前驱体溶液;以及利用钙钛矿型发光层的前驱体溶液在经等离子体处理后的第一表面31上形成钙钛矿型发光层4。AXn与BXm反应生成ABX3,m和n均为正整数。例如,当A为一价离子、B为二价离子时,n=1,m=2;或者,当A为一价离子、B为三价离子时,n=1,m=3。
例如,利用钛矿型发光层的前驱体溶液在经等离子体处理后的第一表面31上形成钛矿型发光层3包括:将钙钛矿型发光层的前驱体溶液旋涂于经等离子体处理后的第一表面31上;在旋涂过程中向钙钛矿型发光层的前驱体溶液中加入第二溶剂,其中,第二溶剂与第一溶剂不互溶;以及进行退火处理以得到钙钛矿型发光层4。
例如,第一溶剂为无水N,N-二甲基甲酰胺(DMF)、二甲基亚砜(DMSO)、γ-丁内酯(GBL)、乙腈(ACN)中的至少之一,第二溶剂包括甲苯、氯仿、氯苯、丙酮中的至少之一。当然,第一溶剂和第二溶剂不局限于以上几种,具体可以根据所形成的钛矿材料而定。
例如,本公开一实施例提供的发光器件的制作方法还包括:在用于形成钙钛矿发光层的前驱体溶液中添加卤化的胺配体材料;以及将添加有卤化的胺配体材料的钙钛矿发光层的前驱体溶液旋涂于经等离子体处理后的第一表面31上。例如,卤化的胺配体材料为溴化的铵配体材料,当然也可以采用氯化的铵配体材料或者碘化的胺配体材料等。
具体的,溴化的铵配体材料包括:溴化的3,3-二苯基丙胺、溴化乙胺、溴化丁胺、溴化辛胺、溴化苯乙胺、溴化苯丙胺中的任意一种或者多种。以溴化的铵配体材料为溴化的3,3-二苯基丙胺(DPPA-Br)为例,对该种配体材料的制备进行说明。将一定量的3,3,二苯基丙胺(DPPA)与乙醇以体积比1:1共混,使用冰水浴降温至10℃以下后,逐滴加入稍过量的HBr水溶液,反应两个小时。通过旋蒸干燥后,再用乙醇进行重结晶,最后进行抽滤并用无水乙醚洗涤3次,最后50℃温度下真空干燥12小时。得到溴化的铵配体材料。
例如,在旋涂过程中向钙钛矿型发光层的前驱体溶液中加入一定量的所述第二溶剂以使钙钛矿材料结晶,且使卤化的胺配体材料接枝在结晶的钙钛矿材料上,形成钙钛矿薄膜。例如,开始旋涂后,第6秒滴加第二溶剂,例如1分钟内滴加完毕第二溶剂,以获得较好的钙钛矿材料结晶效果。
例如,所述退火处理的温度为70℃~80℃,退火处理的时间为20~40min,已达到理想的效果。
例如,钙钛矿型发光层的前驱体溶液与经等离子体处理后的第一表面的接触角小于16°。图3A-3B为本公开一实施例中的功能层的第一表面经等离子体处理前后的接触角测量结果对比图。图3A所示的角α为在不经等离子处理的功能层的第一表面上旋涂钙钛矿型发光层的前驱体溶液的情况下的接触角,α=16°。图3B所示的角β为在经等离子处理的功能层的第一表面31上旋涂钙钛矿型发光层的前驱体溶液的情况下的接触角,α=12.5°。由此可见,对功能层3的第一表面31进行等离子体处理能够提高钙钛矿型发光层的前驱体溶液对第一表面31的润湿性,减小将该前驱体溶液形成于经等离子体处理的功能层3的第一表面31时的接触角,从而经退火处理后得到的钙钛矿型发光层4更加平整,发光性能得到改善,例如该发光器件的外量子效率提高。从而,当功能层3为上述空穴注入层时,其兼具空穴传输层的功能,无需再单独设置空穴传输层,简化了该发光器件的制作工艺及结构。
另外,图4为本公开一实施例中的功能层经等离子体处理前后的透过率对比曲线图。经等离子体处理后的功能层3的光透过率高于进行等离子处理之前的光透过,例如经等离子体处理后的功能层3的光透过率可达到96%以上。由此可以证明,对功能层3的第一表面31进行了等离子体处理能够提高功能层3的光透过率,从而提高发光器件的光利用率。
例如,发光器件的制作方法包括:在经等离子体处理后的第一表面31上形成发射红光的钙钛矿型发光层、发射绿光的钙钛矿型发光层以及发射蓝光的钙钛矿型发光层,以实现彩色照明或彩色显示。
例如,以AI、B(I)m作为溶质溶解于第一溶剂中以形成第一前驱体溶液,利用第一前驱体溶液在经等离子体处理后的第一表面上形成发射红光的钙钛矿型发光层,其中,AI与B(I)m反应生成ABI3。本实施例以AI为NH2CH=NH2I、B(I)m为PbI2、第一溶剂为无水DMF为例。
例如,将NH2CH=NH2I、PbI2、胺的卤化物以一定比例溶于第一溶剂中得到第一前驱体溶液。例如,将NH2CH=NH2I、PbI2、胺的卤化物以摩尔比1:1:0.5的比例溶于无水DMF中配成浓度为0.2M的第一前驱体溶液。通过0.22um的尼龙滤头后备用,将第一前驱体溶液旋涂到经过氧等离子体处理的第一表面31上,当旋涂转速达到4000rpm时,例如在开始后的第6秒,快速滴加第二溶剂(反溶剂),1秒内将第二溶剂滴加完毕,以快速形成钙钛矿型薄膜,并控制钙钛矿型薄膜中钙钛矿晶粒的形成。例如,再经过80℃退火后得到发射红光的钙钛矿发光层。发射红光的钙钛矿发光层的表面形貌如图5和图6所示,所制备的发射红光的钙钛矿发光层非常致密,无明显缺陷,表面非常平整均一,表面平均粗糙度低,仅为0.57nm。图7为发射红光的钙钛矿发光层的吸收和电致发光光谱曲线。从图7中可以看出发射峰位于675nm,半峰宽仅为50nm,可利用该发射红光的钙钛矿发光层获得较高的色域。
例如,以ABr、B(Br)m作为溶质溶解于第一溶剂中以形成第二前驱体溶液,利用第二前驱体溶液在经等离子体处理后的第一表面上形成发射绿光的钙钛矿型发光层,ABr与B(Br)m反应生成AB(Br)3。本实施例以ABr为NH2CH=NH2Br、B(Br)m为PbBr2、第一溶剂为无水DMF为例。
例如,将NH2CH=NH2Br、PbBr2、胺的卤化物以一定比例溶于第一溶剂中得到第二前驱体溶液。例如,将NH2CH=NH2Br、PbBr2、胺的卤化物以摩尔比1:1:0.35的比例溶于无水DMF中配成浓度为0.2M的第二前驱体溶液。通过0.22um的尼龙滤头后备用,将第二前驱体溶液旋涂到经过氧等离子体处理的第一表面31上,当旋涂转速达到4000rpm时,例如在开始后的第6秒,快速滴加第二溶剂(反溶剂),1秒内将第二溶剂滴加完毕,以快速形成钙钛矿型薄膜,并控制钙钛矿型薄膜中钙钛矿晶粒的形成。例如,再经过80℃退火后得到发射绿光的钙钛矿发光层。发射绿光的钙钛矿发光层的表面形貌如图8和图9所示,所制备的发射绿光的钙钛矿发光层非常致密,无明显缺陷,表面非常平整均一,表面平均粗糙度低,仅为1.7nm。图10为发射绿光的钙钛矿发光层的吸收和电致发光光谱曲线。从图10中可以看出发射峰位于526nm,半峰宽仅为22nm,可利用该发射绿光的钙钛矿发光层获得较高的色域。
例如,以ACl、B(Br)m作为溶质溶解于第一溶剂中以形成第三前驱体溶液,在经等离子体处理后的第一表面上形成发射蓝光的钙钛矿型发光层,ACl与B(Br)m反应生成AB(Br)2Cl。本实施例以ABr为NH2CH=NH2Cl、B(Br)m为PbBr2、第一溶剂为无水DMF为例。将NH2CH=NH2Cl、PbBr2、胺的卤化物以摩尔比1:1:0.8的比例溶于无水DMF中配成浓度为0.2M的第三前驱体溶液。通过0.22um的尼龙滤头后备用,将第三前驱体溶液旋涂到经过氧等离子体处理的第一表面31上,当旋涂转速达到4000rpm时,例如在开始后的第6秒,快速滴加第二溶剂(反溶剂),1秒内将第二溶剂滴加完毕,以快速形成钙钛矿型薄膜,并控制钙钛矿型薄膜中钙钛矿晶粒的形成。例如,再经过80℃退火后得到发射蓝光的钙钛矿发光层。该发射蓝光的钙钛矿发光层非常致密,无明显缺陷,表面非常平整均一,表面平均粗糙度低,其发射的蓝光的发射峰位于460nm~480nm。
图11和图12为根据本公开上述实施例提供的方法所制备的绿光钙钛矿电致发光器件的性能参数曲线,该发光器件的开启电压为2.9V,在4.6V时达到最大亮度超过8000cd/m2。同时,该发光器件的外量子效率可达16%以上,电流效率超过60cd/A。图13为发射绿光的发光器件的电致发光光谱随电压变化的曲线,由图13可以看出,峰位始终维持的526nm处,光谱的半峰宽为23nm,具有非常高的色纯度,与图10所示的光致发光光谱一致。并且,峰位不随作用于发光器件的电压的升高而改变,具有较高的光谱稳定性。
钙钛矿型发光层由纳米尺寸的钙钛矿纳米晶组成,例如,结晶的钙钛矿材料的尺寸大于20nm。当然,钙钛矿型发光层与可以由纳米尺寸的钙钛矿量子点,例如钙钛矿量子点的尺寸小于20nm。在本实施例的钙钛矿型发光层的制备方法中,通过控制所添加的卤化的配体材料的量,以及第二溶剂的量则可以控制所形成钙钛矿材料结晶后的尺寸。通常情况下,卤化的配体材料的量多,则容易形成钙钛矿量子点,钙钛矿量子点具有较优的发光效率;卤化的配体材料的量少,则容易形成钙钛矿纳米晶,钙钛矿纳米晶具有较优的载流子传输能力。本领域技术人员可以根据需要进行设计。
如图1D所示,在功能层3为空穴注入层的情况下,发光器件的制作方法还包括:形成位于钙钛矿型发光层4的远离空穴注入层3的一侧的电子注入层5,如图1D所示;形成修饰电极6,如图1E所示;以及形成第二电极22,如图1F所示。空穴注入层3、钙钛矿型发光层4和电子注入层5夹置于第一电极21与第二电极22之间。修饰电极6位于电子注入层5的远离钙钛矿型发光层4的一侧。修饰电极6的材料为LiF或CsCO3,以调节电子注入的速率例如减缓电子注入的速率,从而平衡空穴注入的速率与电子注入的速率,达到较优的发光效果和能效。例如,第二电极22可以包括间隔设置的多个部分,如图1F所示的;第二电极22也可以为整面的电极。
例如,电子注入层5的材料包括氧化锌(ZnO)。例如,电子注入层5的材料为ZnO。ZnO具有良好的电子注入功能,兼具电子传输功能,从而可以省略电子传输层。或者,电子注入层5包括堆叠设置的氧化锌层和聚乙烯亚胺(PEI)层,聚乙烯亚胺层位于氧化锌层的远离钙钛矿型发光层4的一侧。PEI层能够调节ZnO的能级,减缓电子注入的速率,从而平衡空穴注入的速率与电子注入的速率,达到较优的发光效果和能效。
在本公开又一实施例中,例如,参考图2B和图1B,发光器件的制作方法还包括:在进行等离子处理之前,对功能层3进行退火处理,以释放功能能层3等衬底基板1上的各个结构的应力,进一步提高后期在功能层3上形成的钙钛矿型发光层的稳定性。本实施例的其他步骤均与之前的实施例中的相同,请参考之前的描述,在此不再赘述。
图1G-1K为本公开一实施例提供的另一种发光器件的制作方法示意图。例如,在图1G-1K所示的发光器件的制作方法中,功能层30为电子注入层。
如图1G所示,发光器件的制作方法包括:在衬底基板10上依次形成第一电极210、修饰电极60和功能层30。功能层30为电子注入层,其材料包括氧化锌(ZnO)。
如图1H所示,发光器件的制作方法还包括:对功能层30(即电子注入层)的第一表面301进行等离子处理,该等离子处理与之前实施例中对电子注入层30所进行的等离子处理相同,请参考之前的描述。
如图1I所示,发光器件的制作方法还包括:在经过等离子处理的电子注入层30的第一表面301上形成钙钛矿型发光层40。形成钙钛矿型发光层40的具体方法请参考之前的描述。
该发光器件的制作方法还包括:形成位于钙钛矿型发光层40的远离电子注入层30的一侧的空穴注入层50,如图1J所示;以及形成第二电极220,如图1K所示。空穴注入层50、钙钛矿型发光层40和电子注入层30夹置于第一电极21与第二电极22之间。
例如,在一个示例中,电子注入层30为氧化锌层,则对氧化锌层的第一表面301进行等离子体处理,在经等离子处理后的氧化锌层的第一表面301上形成所述钙钛矿型发光层40;例如,在另一个示例中,电子注入层30包括堆叠设置的氧化锌层和聚乙烯亚胺(PEI)层,聚乙烯亚胺层位于氧化锌层的靠近衬底基板10的一侧,则对氧化锌层的第一表面301进行等离子体处理,在经等离子处理后的氧化锌层的第一表面301上形成所述钙钛矿型发光层40。
图1G-1K所示的实施例提供的制作方法的其他特征与之前的实施例中的描述相同,能够达到与之前的实施例相同或相似的技术效果。
本公开至少一实施例还提供一种发光器件,该发光器件根据本公开实施例提供的任意一种发光器件的制作方法形成。该发光器件包括:功能层和钙钛矿型发光层。功能层具有第一表面;钙钛矿型发光层与所述功能层的第一表面直接接触;功能层的第一表面存在亲水基团。
示范性地,图14为本公开一实施例提供的一种发光器件的结构示意图。如图14所示,该发光器件根据本公开实施例提供的任意一种发光器件的制作方法形成。该发光器件包括:功能层3和钙钛矿型发光层4。功能层3具有第一表面31;钙钛矿型发光层4与功能层3的第一表面31直接接触;功能层3的第一表面31存在亲水基团。例如,该亲水基团包括含氧亲水基团或含氮亲水基团。含氧亲水基团例如为羟基(OH-),含氮亲水基团例如氨基。例如,该亲水基团是对第一表面31进行等离子体处理而形成的。例如,该等离子体包括氧等离子体、氮等离子体和氩等离子体中的至少之一。第一表面31上存在亲水基团且钙钛矿型发光层4与功能层3的第一表面31直接接触,这能够使得第一表面31更加粗糙,从而在第一表面31上形成钙钛矿型发光层4的过程中,用于形成钙钛矿型发光层4的前驱体溶液对第一表面31的润湿性得到提高,从而钙钛矿型发光层4更加平整,例如,钙钛矿型发光层的表面粗糙度小于2nm,从而其发光性能得到改善,例如该发光器件的外量子效率提高,随着作用于钙钛矿型发光层的电压的变化,发光性能保持稳定。
例如,功能层3为空穴注入层,功能层3的材料包括聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS)、聚乙烯咔唑(PVK)、聚[(9,9-二辛基芴基-2,7-二基)-co-(4,4'-(N-(对丁基苯基))二苯胺)](TFB)聚[双(4-苯基)(4-丁基苯基)胺](Poly-TPD)中的至少之一。
例如,功能层3的材料为聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS),PEDOT:PSS的靠近钙钛矿型发光层4的表面具有所述等离子体且与钙钛矿型发光层4直接接触。此时,功能层3兼具空穴传输层的功能,无需在第一表面31与钙钛矿型发光层4之间再单独设置空穴传输层,简化了该发光器件的制作工艺及结构。
例如,如图14所示,该发光器件还包括:电子注入层5、修饰电极6、第一电极21以及第二电极22。电子注入层5位于钙钛矿型发光层4的远离空穴注入层3的一侧;修饰电极6位于电子注入层5的远离钙钛矿型发光层4的一侧;空穴注入层3、钙钛矿型发光层4、电子注入层5和修饰电极6夹置于第一电极21与第二电极22之间。修饰电极6的材料为LiF或CsCO3,以调节电子注入的速率例如减缓电子注入的速率,从而平衡空穴注入的速率与电子注入的速率,达到较优的发光效果和能效。
钙钛矿型发光层由纳米尺寸的钙钛矿纳米晶组成,例如,结晶的钙钛矿材料的尺寸大于20nm。当然,钙钛矿型发光层与可以由纳米尺寸的钙钛矿量子点,例如钙钛矿量子点的尺寸小于20nm。本领域技术人员可以根据需要进行设计。
该发光器件的其他未提及的特征请参考之前与制作方法相关的实施例中的描述。
需要说明的是,在本公开中,钙钛矿型发光层与功能层的第一表面直接接触是指在垂直于衬底基板的方向上,钙钛矿型发光层与功能层的第一表面之间不存在其他的任何层或结构。
需要说明的是,本公开中的表面粗糙度(surface roughness)是指表面具有的较小间距和微小峰谷的不平度,即表面上两波峰或两波谷之间的在垂直于该表面方向上的距离(波距)。表面粗糙度越小,则表面越光滑。
例如,图15是本公开一实施例提供的另一种发光器件的结构示意图。该发光器件中,功能层30为电子注入层。电子注入层30的第一表面301具有所述亲水基团且钙钛矿型发光层40与第一表面301直接接触。
例如,电子注入层30(即电子注入层)的材料包括氧化锌(ZnO),且ZnO的靠近钙钛矿型发光层40的表面具有所述亲水基团且与钙钛矿型发光层40直接接触。例如,电子注入层5的材料为ZnO。ZnO具有良好的电子注入功能,兼具电子传输功能,从而可以省略电子传输层。或者,电子注入层5包括堆叠设置的氧化锌层和聚乙烯亚胺(PEI)层,聚乙烯亚胺层位于氧化锌层的远离钙钛矿型发光层4的一侧。PEI层能够调节ZnO的能级,减缓电子注入的速率,从而平衡空穴注入的速率与电子注入的速率,达到较优的发光效果和能效。
例如,如图15所示,该发光器件还包括:修饰电极60、空穴注入层50、第一电极210以及第二电极220。空穴注入层50位于钙钛矿型发光层40的远离电子注入层30的一侧;空穴注入层50、钙钛矿型发光层40、功能层30(即电子注入层)和修饰电极60夹置于第一电极210与第二电极220之间。修饰电极60位于电子注入层30的远离钙钛矿型发光层4的一侧。修饰电极60的材料为LiF或CsCO3,以调节电子注入的速率例如减缓电子注入的速率,从而平衡空穴注入的速率与电子注入的速率,达到较优的发光效果和能效。
图15所示的实施例提供的发光器件的其他特征与之前的实施例中的描述相同,能够达到与之前的实施例相同或相似的技术效果。
以上所述仅是本公开的示范性实施方式,而非用于限制本公开的保护范围,本公开的保护范围根据权利要求书所界定的范围确定。
Claims (24)
1.一种发光器件的制作方法,包括:
形成功能层,其中,所述功能层具有第一表面;
对所述功能层的所述第一表面进行等离子体处理;
在经等离子体处理后的所述第一表面上形成钙钛矿型发光层。
2.根据权利要求1所述的发光器件的制作方法,其中,所述等离子体处理包括氧等离子体处理、氮等离子体处理和氩等离子体处理中的至少之一。
3.根据权利要求1所述的发光器件的制作方法,其中,用于进行所述等离子体处理的气体的气压为20Pa~50Pa,所述等离子体处理的时间为2~5分钟。
4.根据权利要求1所述的发光器件的制作方法,其中,所述功能层为空穴注入层,所述功能层的材料包括聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS)、聚乙烯咔唑(PVK)、聚[(9,9-二辛基芴基-2,7-二基)-co-(4,4'-(N-(对丁基苯基))二苯胺)](TFB)聚[双(4-苯基)(4-丁基苯基)胺](Poly-TPD)中的至少之一。
5.根据权利要求1所述的发光器件的制作方法,其中,所述功能层为电子注入层,所述功能层的材料包括氧化锌(ZnO)。
6.根据权利要求1所述的发光器件的制作方法,其中,所述钙钛矿型发光层包括分子式为ABX3的材料,其中,
A为金属阳离子或烷基铵盐离子,B为金属阳离子,X为卤素阴离子。
7.根据权利要求6所述的发光器件的制作方法,其中,A包括有机胺基团、脒基团、Cs+、K+、Rb+中的至少之一;
B包括Pb2+、Sn2+、Ge2+、Ga2+、In3+、Cd2+、Hg2+、Ni2+、Mn2+、Bi3+、Sb3+、中的至少之一;X包括Cl-、Br-、I-中的至少之一。
8.根据权利要求6所述的发光器件的制作方法,其中,在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成所述钙钛矿型发光层包括:
以AXn、BXm作为溶质溶解于第一溶剂中以形成钙钛矿型发光层的前驱体溶液;以及
利用所述钙钛矿型发光层的前驱体溶液在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成所述钙钛矿型发光层;其中,AXn与BXm反应生成ABX3,m和n均为正整数。
9.根据权利要求8所述的发光器件的制作方法,其中,利用所述钛矿型发光层的前驱体溶液在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成所述钛矿型发光层包括:
将所述钙钛矿型发光层的前驱体溶液旋涂于经所述等离子体处理后的所述第一表面上;
在所述旋涂过程中向所述钙钛矿型发光层的前驱体溶液中加入第二溶剂,其中,所述第二溶剂与所述第一溶剂不互溶;以及
进行退火处理以得到所述钙钛矿型发光层。
10.根据权利要求9所述的发光器件的制作方法,其中,所述第一溶剂为无水N,N-二甲基甲酰胺(DMF)、二甲基亚砜(DMSO)、γ-丁内酯(GBL)、乙腈(ACN)中的至少之一,第二溶剂包括甲苯、氯仿、氯苯、丙酮中的至少之一。
11.根据权利要求9所述的发光器件的制作方法,其中,所述退火处理的温度为70℃~80℃,所述退火处理的时间为20~40min。
12.根据权利要求8-11任一所述的发光器件的制作方法,其中,所述钙钛矿型发光层的前驱体溶液与经所述等离子体处理后的所述第一表面的接触角小于16°。
13.根据权利要求8-11任一所述的发光器件的制作方法,还包括:以AI、B(I)m作为溶质溶解于所述第一溶剂中以形成第一前驱体溶液,利用所述第一前驱体溶液在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成发射红光的钙钛矿型发光层,其中,AI与B(I)m反应生成ABI3。
14.根据权利要求8-11任一所述的发光器件的制作方法,还包括:以ABr、B(Br)m作为溶质溶解于所述第一溶剂中以形成第二前驱体溶液,利用所述第二前驱体溶液在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成发射绿光的钙钛矿型发光层,ABr与B(Br)m反应生成AB(Br)3。
15.根据权利要求8-11任一所述的发光器件的制作方法,还包括:以ACl、B(Br)m作为溶质溶解于所述第一溶剂中以形成第三前驱体溶液,在经所述等离子体处理后的所述第一表面上形成发射蓝光的钙钛矿型发光层,ACl与B(Br)m反应生成AB(Br)2Cl。
16.根据权利要求1-11任一所述的发光器件的制作方法,还包括:
在进行所述等离子处理之前,对所述功能层进行退火处理。
17.一种发光器件,包括:
功能层,其中,所述功能层具有第一表面;以及
钙钛矿型发光层,与所述功能层的所述第一表面直接接触;其中,
所述功能层的所述第一表面存在亲水基团。
18.根据权利要求17所述的发光器件,其中,所述等离子体包括氧等离子体、氮等离子体和氩等离子体中的至少之一。
19.根据权利要求17所述的发光器件,其中,所述钙钛矿型发光层的表面粗糙度小于2nm。
20.根据权利要求17-19任一所述的发光器件,其中,所述功能层为空穴注入层,所述功能层的材料包括聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS)、聚乙烯咔唑(PVK)、五氟苯甲基(PFB)中的至少之一。
21.根据权利要求20所述的发光器件,其中,所述功能层的材料为聚(3,4-乙烯二氧噻吩)-聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS),所述PEDOT:PSS的靠近所述钙钛矿型发光层的表面具有所述亲水基团且与所述钙钛矿型发光层直接接触。
22.根据权利要求20所述的发光器件,还包括:
电子注入层,位于所述钙钛矿型发光层的远离所述空穴注入层的一侧;
修饰电极,位于所述电子注入层的远离钙钛矿型发光层的一侧;以及
第一电极和第二电极;其中,所述空穴注入层、所述钙钛矿型发光层、所述电子注入层和所述修饰电极夹置于所述第一电极与所述第二电极之间。
23.根据权利要求17-19任一所述的发光器件,其中,所述功能层为电子注入层,所述功能层的材料包括氧化锌(ZnO),所述ZnO的靠近所述钙钛矿型发光层的表面具有所述亲水基团且与所述钙钛矿型发光层直接接触。
24.根据权利要求23所述的发光器件,还包括:
空穴注入层,位于所述钙钛矿型发光层的远离所述电子注入层的一侧;
修饰电极,位于所述电子注入层的远离钙钛矿型发光层的一侧;以及
第一电极和第二电极;其中,所述空穴注入层、所述钙钛矿型发光层、所述电子注入层和所述修饰电极夹置于所述第一电极与所述第二电极之间。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/CN2019/086646 WO2020227890A1 (zh) | 2019-05-13 | 2019-05-13 | 发光器件及其制作方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112292769A true CN112292769A (zh) | 2021-01-29 |
Family
ID=73289796
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201980000630.XA Pending CN112292769A (zh) | 2019-05-13 | 2019-05-13 | 发光器件及其制作方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11355709B2 (zh) |
EP (1) | EP3972002A4 (zh) |
JP (1) | JP2022539623A (zh) |
CN (1) | CN112292769A (zh) |
WO (1) | WO2020227890A1 (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115458693A (zh) * | 2021-06-09 | 2022-12-09 | 凡泰姆股份公司 | 改性的发光部件 |
CN116884852A (zh) * | 2023-09-04 | 2023-10-13 | 之江实验室 | 非光敏型二极管及其制造方法、图像传感器 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110783459A (zh) * | 2019-10-31 | 2020-02-11 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 膜层制作方法及发光器件 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4622580B2 (ja) * | 2005-02-25 | 2011-02-02 | カシオ計算機株式会社 | 成膜方法及び有機化合物層 |
GB201407606D0 (en) * | 2014-04-30 | 2014-06-11 | Cambridge Entpr Ltd | Electroluminescent device |
KR101752533B1 (ko) * | 2014-11-06 | 2017-07-03 | 포항공과대학교 산학협력단 | 이차원적인 구조를 갖는 유무기 하이브리드 페로브스카이트 나노결정입자 발광체, 그 제조방법 및 이를 이용한 발광소자 |
CN104681731B (zh) * | 2015-02-09 | 2018-03-06 | 南京工业大学 | 一种钙钛矿型电致发光器件及其制备方法 |
US11130910B2 (en) * | 2016-04-22 | 2021-09-28 | The Trustees Of Princeton University | Organic-inorganic hybrid perovskite nanocrystals and methods of making the same |
US9793056B1 (en) | 2016-08-10 | 2017-10-17 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Method for producing high quality, ultra-thin organic-inorganic hybrid perovskite |
CN108511633A (zh) | 2017-02-28 | 2018-09-07 | 中国科学院半导体研究所 | 一种无机钙钛矿发光二极管及其制备方法 |
CN108269940A (zh) * | 2018-01-22 | 2018-07-10 | 苏州大学 | 碱金属卤化物掺杂的钙钛矿发光二极管及其制备方法 |
CN108878672B (zh) | 2018-07-09 | 2020-07-31 | 京东方科技集团股份有限公司 | 量子点发光层、量子点发光器件及其制备方法 |
-
2019
- 2019-05-13 EP EP19929088.3A patent/EP3972002A4/en active Pending
- 2019-05-13 CN CN201980000630.XA patent/CN112292769A/zh active Pending
- 2019-05-13 JP JP2020572857A patent/JP2022539623A/ja active Pending
- 2019-05-13 WO PCT/CN2019/086646 patent/WO2020227890A1/zh unknown
- 2019-05-13 US US16/765,609 patent/US11355709B2/en active Active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115458693A (zh) * | 2021-06-09 | 2022-12-09 | 凡泰姆股份公司 | 改性的发光部件 |
CN116884852A (zh) * | 2023-09-04 | 2023-10-13 | 之江实验室 | 非光敏型二极管及其制造方法、图像传感器 |
CN116884852B (zh) * | 2023-09-04 | 2024-01-09 | 之江实验室 | 非光敏型二极管及其制造方法、图像传感器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3972002A4 (en) | 2022-12-07 |
EP3972002A1 (en) | 2022-03-23 |
WO2020227890A1 (zh) | 2020-11-19 |
US11355709B2 (en) | 2022-06-07 |
US20210408384A1 (en) | 2021-12-30 |
JP2022539623A (ja) | 2022-09-13 |
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---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |