CN112077767A - 一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构 - Google Patents

一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构,包括竖直的C型导轨,C型导轨两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽,限位沟槽靠近C型导轨开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽,C型导轨的后侧壁上插接有与定位槽相对的顶料板,顶料板固定在顶料气缸的活塞杆上,顶料气缸固定在顶料气缸支架上,顶料气缸支架固定在C型导轨的后侧壁上;所述C型导轨一侧限位沟槽的上、下端分别成型有贯穿顶料气缸外壁的滚针进孔和滚针出孔,C型导轨另一侧的限位沟槽上成型有与滚针出孔相对的插孔,C型导轨的插孔内插接有顶杆。本发明可以减小肖特基二极管检测时误检的状况,同时输送过程中,肖特基二极管的针脚隐藏在导轨内,导轨可以对肖特基二极管进行保护。

Description

一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构
本申请是申请号为:2018116339682,名称为:“一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构”的发明专利申请的分案申请,原案申请日为:2018年12月29日。
技术领域:
本发明涉及电子元件检测设备的技术领域,更具体地说涉及一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构。
背景技术:
肖特基二极管是一种常见的电子元件,目前有部分带封装的肖特基二极管呈矩形,肖特基二极管的一侧设有若干针脚、另一侧设有封装片,封装片上成型有便于安装的插孔。肖特基二极管生产完成后需要进行性能检测,防止次品流出工厂,而性能检测一般采用性能测试仪器对肖特基二极管的针脚进行接触测试,现有的检测设备采用肖特基二极管逐个测试的方式进行测试,其肖特基二极管排列在槽轨内,但检测时,性能测试仪器会发生触碰到相邻肖特基二极管的针脚状况,会发生误检的问题,从而需要对肖特基二极管检测定位的槽轨进行改进,减小误检的问题。
发明内容:
本发明的目的就是针对现有技术之不足,而提供了一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构,其能减小误检的问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案如下:
一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构,包括竖直的C型导轨,C型导轨两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽,限位沟槽靠近C型导轨开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽,C型导轨的后侧壁上插接有与定位槽相对的顶料板,顶料板固定在顶料气缸的活塞杆上,顶料气缸固定在顶料气缸支架上,顶料气缸支架固定在C型导轨的后侧壁上;所述C型导轨一侧限位沟槽的上、下端分别成型有贯穿C型导轨外壁的滚针进孔和滚针出孔,C型导轨另一侧的限位沟槽上成型有与滚针出孔相对的插孔,C型导轨的插孔内插接有顶杆,顶杆固定在出料气缸的活塞杆上,出料气缸固定在出料气缸支架上,出料气缸支架上固定有若干支撑杆,支撑杆固定在C型导轨的外壁上;
所述C型导轨下端的两侧成型有向下延伸的侧板,侧板的下端固定在底板上,所述底板的上端面成型有与侧板相对的侧挡边,所述C型导轨的侧板之间插设有推料板,推料板固定在推料气缸的活塞杆上,推料气缸固定在L型的推料气缸支架上,推料气缸支架固定在C型导轨的后端面上。
优选的,所述C型导轨上定位槽上、下侧的内壁上固定有连接片,连接片上成型有斜置的弹性片。
优选的,所述C型导轨的外侧壁上分别固定有与滚针进孔和滚针出孔相连通的滚针进料座和滚针出料座,滚针进料座和滚针出料座均为半圆形的料槽。
优选的,所述的定位槽位于C型导轨的中部,C型导轨上端相对的内侧壁上固定竖直的挡杆。
优选的,所述C型导轨上滚针进孔或滚针出孔的孔径等于C型导轨上限位沟槽的宽度,插孔的孔径小于滚针出孔的孔径。
优选的,所述顶料板的宽度等于C型导轨两侧内壁之间的间距。
本发明的有益效果在于:其可以减小肖特基二极管检测时误检的状况,同时输送过程中,肖特基二极管的针脚隐藏在导轨内,导轨可以对肖特基二极管进行保护。
附图说明:
图1为本发明立体的结构示意图;
图2为本发明侧视的结构示意图;
图3为图2中A-A处的剖视结构示意图。
图中:1、C型导轨;1a、限位沟槽;1b、定位槽;1c、滚针进孔;1d、滚针出孔;1e、定位槽;1f、侧板;2、底板;2a、侧挡边;3、滚针进料座;4、滚针出料座;5、出料气缸;6、连接片;6a、弹性片;7、顶料板;8、顶料气缸;9、顶料气缸支架;10、推料板;11、推料气缸支架;12、推料气缸;13、挡杆;14、出料气缸支架;15、支撑杆。
具体实施方式:
实施例:见图1至3所示,一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构,包括竖直的C型导轨1,C型导轨1两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽1a,限位沟槽1a靠近C型导轨1开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽1b,C型导轨1的后侧壁上插接有与定位槽1b相对的顶料板7,顶料板7固定在顶料气缸8的活塞杆上,顶料气缸8固定在顶料气缸支架9上,顶料气缸支架9固定在C型导轨1的后侧壁上;所述C型导轨1一侧限位沟槽1a的上、下端分别成型有贯穿C型导轨1外壁的滚针进孔1c和滚针出孔1d,C型导轨1另一侧的限位沟槽1a上成型有与滚针出孔1d相对的插孔1e,C型导轨1的插孔1e内插接有顶杆,顶杆固定在出料气缸5的活塞杆上,出料气缸5固定在出料气缸支架14上,出料气缸支架14上固定有若干支撑杆15,支撑杆15固定在C型导轨1的外壁上;
所述C型导轨1下端的两侧成型有向下延伸的侧板1f,侧板1f的下端固定在底板2上,所述底板2的上端面成型有与侧板1f相对的侧挡边2a,所述C型导轨1的侧板1f之间插设有推料板10,推料板10固定在推料气缸12的活塞杆上,推料气缸12固定在L型的推料气缸支架11上,推料气缸支架11固定在C型导轨1的后端面上。
优选的,所述C型导轨1上定位槽1b上、下侧的内壁上固定有连接片6,连接片6上成型有斜置的弹性片6a。
优选的,所述C型导轨1的外侧壁上分别固定有与滚针进孔1c和滚针出孔1d相连通的滚针进料座3和滚针出料座4,滚针进料座3和滚针出料座4均为半圆形的料槽。
优选的,所述的定位槽1b位于C型导轨1的中部,C型导轨1上端相对的内侧壁上固定竖直的挡杆13。
优选的,所述C型导轨1上滚针进孔1c或滚针出孔1d的孔径等于C型导轨1上限位沟槽1a的宽度,插孔1e的孔径小于滚针出孔1d的孔径。
优选的,所述顶料板7的宽度等于C型导轨1两侧内壁之间的间距。
工作原理:本发明为二极管性能检测设备上的定位导轨结构,使用时,肖特基二极管插接在C型导轨1内,挡杆13限位,实现肖特基二极管的针脚都隐藏在C型导轨1内,在C型导轨1移动过程中,通过滚针进孔1c进入滚针,滚针插接在肖特基二极管封装片的安装孔内,则当肖特基二极管移动到定位槽1b处时,通过启动顶料气缸8推动肖特基二极管,肖特基二极管上的滚针进入定位槽1b,利用定位槽1b实现中心定位,肖特基二极管的针脚伸出C型导轨1进行测试;同时肖特基二极管会接触弹性片6a,致使弹性片6a弹性变形,当顶料气缸8复位,弹性片6a会将肖特基二极管的针脚推送回限位沟槽1a内;
最后移动到C型导轨1的下部,通过出料气缸5将肖特基二极管上的滚针退出C型导轨1和肖特基二极管,最后利用推料气缸12将肖特基二极管推出C型导轨1,并可实现C型导轨1内肖特基二极管逐个移动。
所述实施例用以例示性说明本发明,而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下,对所述实施例进行修改,因此本发明的权利保护范围,应如本发明的权利要求所列。

Claims (2)

1.一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构,包括竖直的C型导轨(1),其特征在于:C型导轨(1)两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽(1a),限位沟槽(1a)靠近C型导轨(1)开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽(1b),C型导轨(1)的后侧壁上插接有与定位槽(1b)相对的顶料板(7),顶料板(7)固定在顶料气缸(8)的活塞杆上,顶料气缸(8)固定在顶料气缸支架(9)上,顶料气缸支架(9)固定在C型导轨(1)的后侧壁上;所述C型导轨(1)一侧限位沟槽(1a)的上、下端分别成型有贯穿C型导轨(1)外壁的滚针进孔(1c)和滚针出孔(1d),C型导轨(1)另一侧的限位沟槽(1a)上成型有与滚针出孔(1d)相对的插孔(1e),C型导轨(1)的插孔(1e)内插接有顶杆,顶杆固定在出料气缸(5)的活塞杆上,出料气缸(5)固定在出料气缸支架(14)上,出料气缸支架(14)上固定有若干支撑杆(15),支撑杆(15)固定在C型导轨(1)的外壁上;
所述C型导轨(1)下端的两侧成型有向下延伸的侧板(1f),侧板(1f)的下端固定在底板(2)上,所述底板(2)的上端面成型有与侧板(1f)相对的侧挡边(2a),所述C型导轨(1)的侧板(1f)之间插设有推料板(10),推料板(10)固定在推料气缸(12)的活塞杆上,推料气缸(12)固定在L型的推料气缸支架(11)上,推料气缸支架(11)固定在C型导轨(1)的后端面上;
所述C型导轨(1)上滚针进孔(1c)或滚针出孔(1d)的孔径等于C型导轨(1)上限位沟槽(1a)的宽度,插孔(1e)的孔径小于滚针出孔(1d)的孔径,所述顶料板(7)的宽度等于C型导轨(1)两侧内壁之间的间距。
2.根据权利要求1所述的一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构,其特征在于:所述C型导轨(1)的外侧壁上分别固定有与滚针进孔(1c)和滚针出孔(1d)相连通的滚针进料座(3)和滚针出料座(4),滚针进料座(3)和滚针出料座(4)均为半圆形的料槽。
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