CN111816104A - 显示装置及其检查方法 - Google Patents

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Abstract

提供一种显示装置及其检查方法。显示装置包括：子像素，配置于显示区域，并沿第1列至第8列排列；第1布线焊盘至第4布线焊盘，配置于非显示区域，并且配置于显示区域的一侧，所述非显示区域是显示区域的周边区域；裂纹感测线，配置于非显示区域；第1扇出线至第4扇出线，连接沿第1列至第8列排列的子像素和第1布线焊盘至第4布线焊盘；以及检查部，配置于第1布线焊盘至第4布线焊盘和显示区域之间，并且与裂纹感测线以及第1扇出线至第4扇出线电连接，检查部构成为将测试电压施加于第1扇出线至第4扇出线而检查第1扇出线至第4扇出线的短路及断线，并将测试电压施加于裂纹感测线而检查所述裂纹感测线的损伤。

Description

显示装置及其检查方法
技术领域
本公开涉及一种显示装置及其检查方法。
背景技术
随着信息化社会的发展，对用于显示图像的显示装置的要求在以各种形态增加。例如，显示装置适用于智能电话、数码相机、笔记本电脑、导航仪以及智能电视之类各种电子设备。显示装置可以是液晶显示装置(Liquid CrystaLDisplay Device)、场发射显示装置(Field Emission Display Device)、发光显示装置(Light Emitting Display Device)等之类平板显示装置。在这种平板显示装置中，发光显示装置由于包括显示面板的像素各自可以自身发光的发光元件，因此无需向显示面板提供光的背光单元也可以显示图像。
发光显示装置可以包括多个像素，多个像素各自可以包括：发光元件；驱动晶体管，根据栅极电极的电压调整供应于发光元件的驱动电流的量；以及扫描晶体管，用于响应扫描线的扫描信号而将数据线的数据电压供应于驱动晶体管的栅极电极。这种显示装置需要点亮检查、裂纹检查以及传递驱动IC的输出的蛛网式(Spider)布线检查。
发明内容
本公开所要解决的课题是提供一种能够进行点亮检查、裂纹检查以及蛛网式布线检查的显示装置及其检查方法。
本公开的课题并不限于上述所提及的课题，本领域技术人员可以通过下面的记载来清楚地理解未提及的其它技术课题。
用于解决所述课题的一实施例的显示装置包括：子像素，配置于显示区域，并沿第1列、第2列、第3列、第4列、第5列、第6列、第7列以及第8列排列；第1布线焊盘、第2布线焊盘、第3布线焊盘以及第4布线焊盘，配置于非显示区域，并且配置于所述显示区域的一侧，所述非显示区域是所述显示区域的周边区域；裂纹感测线，配置于所述非显示区域；第1扇出线、第2扇出线、第3扇出线以及第4扇出线，连接沿所述第1列至所述第8列排列的子像素和所述第1布线焊盘至所述第4布线焊盘；以及检查部，配置于所述第1布线焊盘至所述第4布线焊盘和所述显示区域之间，并且与所述裂纹感测线以及所述第1扇出线至所述第4扇出线电连接，所述检查部构成为将测试电压施加于所述第1扇出线至所述第4扇出线而检查所述第1扇出线至所述第4扇出线的短路及断线，并将测试电压施加于所述裂纹感测线而检查所述裂纹感测线的损伤。
可以是，所述第1扇出线以及所述第3扇出线配置于相同层，所述第2扇出线以及所述第4扇出线配置于相同层，并且所述第1扇出线以及所述第3扇出线和所述第2扇出线以及所述第4扇出线配置于彼此不同层。
可以是，所述检查部包括：第1开关、第2开关、第3开关以及第4开关；第1控制线，将第1检查控制信号供应于所述第1开关以及所述第2开关各自的栅极；第2控制线，将第2检查控制信号供应于所述第3开关以及所述第4开关各自的栅极；以及数据电压线，将测试电压供应于所述第1开关至所述第4开关各自的第1端子。
可以是，所述第1开关的第2端子与所述第1扇出线连接，所述第2开关的第2端子与所述第2扇出线连接，所述第3开关的第2端子与所述第3扇出线连接，所述第4开关的第2端子与所述第4扇出线连接。
可以是，所述显示装置还包括：第1数据线，与沿所述第1列排列的子像素连接；第2数据线，与沿所述第2列排列的子像素连接；第3数据线，与沿所述第3列排列的子像素连接；第4数据线，与沿所述第4列排列的子像素连接；第5数据线，与沿所述第5列排列的子像素连接；第6数据线，与沿所述第6列排列的子像素连接；第7数据线，与沿所述第7列排列的子像素连接；以及第8数据线，与沿所述第8列排列的子像素连接，所述显示装置还包括：解复用部，配置于所述非显示区域，并且位于所述显示区域和所述检查部之间，所述第1数据线以及所述第2数据线通过所述解复用部与所述第1扇出线连接，所述第3数据线以及所述第4数据线通过所述解复用部与所述第2扇出线连接，所述第5数据线以及所述第6数据线通过所述解复用部与所述第3扇出线连接，所述第7数据线以及所述第8数据线通过所述解复用部与所述第4扇出线连接。
可以是，所述解复用部包括：第5开关、第6开关、第7开关、第8开关、第9开关、第10开关、第11开关以及第12开关；第3控制线，将第1解复用控制信号供应于所述第5开关、所述第7开关、所述第9开关以及所述第11开关各自的栅极；以及第4控制线，将第2解复用控制信号供应于所述第6开关、所述第8开关、所述第10开关以及所述第12开关各自的栅极。
可以是，所述第5开关以及所述第6开关的第1端子与所述第1扇出线连接，所述第7开关以及所述第8开关的第1端子与所述第2扇出线连接，所述第9开关以及所述第10开关的第1端子与所述第3扇出线连接，所述第11开关以及所述第12开关的第1端子与所述第4扇出线连接。
可以是，所述第5开关的第2端子与所述第1数据线连接，所述第6开关的第2端子与所述第2数据线连接，所述第7开关的第2端子与所述第3数据线连接，所述第8开关的第2端子与所述第4数据线连接，所述第9开关的第2端子与所述第5数据线连接，所述第10开关的第2端子与所述第6数据线连接，所述第11开关的第2端子与所述第7数据线连接，所述第12开关的第2端子与所述第8数据线连接。
可以是，所述显示装置还包括：点亮电路部，配置于所述显示区域和所述解复用部之间。
可以是，所述点亮电路部还包括：点亮检查信号线，将白色数据电压供应于所述第2数据线、所述第4数据线、所述第6数据线以及所述第8数据线。
可以是，所述测试电压是黑色数据电压。
可以是，所述子像素包括：红色子像素以及蓝色子像素，交替排列于所述第1列、所述第3列、所述第5列以及所述第7列；以及绿色子像素，排列于所述第1列和所述第3列之间的所述第2列、所述第3列和所述第5列之间的所述第4列、所述第5列和所述第7列之间的所述第6列以及在所述第7列外侧配置的所述第8列，在所述第3列以及所述第7列，以与所述第1列以及所述第5列相反的顺序交替排列所述红色子像素以及所述蓝色子像素。
可以是，所述第1开关至所述第4开关由晶体管构成，并且所述栅极是栅极电极，所述第1端子是漏极电极，所述第2端子是源极电极。
用于解决所述课题的另一实施例的显示装置包括：子像素，配置于显示区域；显示驱动电路，配置于非显示区域，并且位于所述显示区域的下侧，所述非显示区域是所述显示区域的周边区域；裂纹感测线，配置于所述非显示区域；扇出线，连接所述子像素和所述显示驱动电路；以及检查部，配置于所述显示区域和所述显示驱动电路之间，并且与所述显示驱动电路相邻设置，与所述裂纹感测线和所述扇出线电连接，所述检查部构成为将测试电压施加于所述扇出线而检查所述扇出线的短路及断线，并将测试电压施加于所述裂纹感测线而检查所述裂纹感测线的损伤。
可以是，所述显示装置还包括：布线焊盘，与所述扇出线电连接，所述显示驱动电路包括凸块以及驱动集成电路，所述驱动集成电路通过凸块与所述布线焊盘接通。
可以是，所述显示装置还包括：显示焊盘，配置于所述显示驱动电路的外侧，并附着电路板。
可以是，所述显示装置还包括：点亮电路部，配置于所述显示区域和所述检查部之间，并且与所述显示区域相邻设置。
可以是，所述显示装置还包括：第1数据线、第2数据线、第3数据线以及第4数据线，与所述子像素连接，所述扇出线包括第1扇出线、第2扇出线、第3扇出线以及第4扇出线，所述第1数据线与所述第1扇出线连接，所述第2数据线与所述第2扇出线连接，所述第3数据线与所述第3扇出线连接，所述第4数据线与所述第4扇出线连接。
可以是，所述子像素是沿多个列排列并在相同列配置相同颜色的子像素的条带形式。
用于解决所述课题的一实施例的显示装置的检查方法是，所述显示装置包括：子像素，配置于显示区域；显示驱动电路，配置于非显示区域，并且位于所述显示区域的下侧，所述非显示区域是所述显示区域的周边区域；裂纹感测线，配置于所述非显示区域；扇出线，连接所述子像素和所述显示驱动电路；以及检查部，配置于所述显示区域和所述显示驱动电路之间，并且与所述显示驱动电路相邻设置，与所述裂纹感测线和所述扇出线电连接，其中，所述检查部包括：将测试电压施加于所述扇出线而检查所述扇出线的短路及断线的步骤；以及将测试电压施加于所述裂纹感测线而检查所述裂纹感测线的损伤的步骤。
其它实施例的具体事项包括在详细的说明以及附图中。
公开效果
根据实施例的显示装置及其检查方法，可以通过一个检查部实现裂纹检查以及蛛网式布线检查。由此，可以去掉用于蛛网式布线检查的电路部，可以减少无效区(deadspace)。
根据实施例的效果并不限于以上例示的内容，更各种效果包括在本说明书中。
附图说明
图1是示出根据一实施例的显示装置的立体图。
图2是示出根据一实施例的显示装置的俯视图。
图3是示出根据一实施例的显示装置的框图。
图4是详细示出根据一实施例的子像素的电路图。
图5是示出施加于图4的第k-1扫描线、第k扫描线、第k+1扫描线以及第k发光线的信号的波形图。
图6至图9是用于说明在图5的第1期间至第4期间中第1子像素的驱动方法的电路图。
图10是示出根据一实施例的显示装置的电路结构的图。
图11以及图12是用于说明根据一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图。
图13是用于说明根据一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。
图14是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图。
图15以及图16是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图。
图17是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。
图18是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图。
图19以及图20是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图。
图21是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。
图22是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图。
图23以及图24是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图。
图25是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。
图26是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图。
图27以及图28是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图。
图29是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。
图30是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图。
图31以及图32是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图。
图33是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。
附图标记说明
150：检查部 151：第1控制线
153：第2控制线 155：数据电压线
160：解复用部 161：第3控制线
163：第4控制线 170：点亮电路部
171：第5控制线 173：第6控制线
175：第7控制线 177：第1点亮检查信号线
178：第2点亮检查信号线 179：第3点亮检查信号线
DP1：第1布线焊盘 DP2：第2布线焊盘
DP3：第3布线焊盘 DP4：第4布线焊盘
FOL1：第1扇出线 FOL2：第2扇出线
FOL3：第3扇出线 FOL4：第4扇出线
具体实施方式
参照与所附附图一起后述的实施例，本公开的优点和特征以及实现它们的方法会变得清楚。但是，本公开并不限于下面所公开的实施例，可以实现为彼此不同的各种形式，本实施例仅仅是为了使本公开的公开完整且为了将公开的范围完整地传达给本公开所属技术领域中具有通常知识的人而提供，本公开仅通过权利要求书的范畴限定。
指称元件(elements)或者层在其它元件或者层“上(on)”是包括直接在其它元件之上或者在中间隔有其它层或其它元件的所有情况。在整个说明书中，相同的附图标记是指相同构成要件。在用于说明实施例的附图中公开的形状、尺寸、比例、角度、数量等是示例性的，因此本公开并不限于图示的事项。
第1、第2等为了叙述各种构成要件而使用，但显然这些构成要件并不限于这些术语。这些术语仅仅是为了区分一个构成要件与其它构成要件而使用。因此，显然在下面提及的第1构成要件在本公开的技术构思范围内也可以是第2构成要件。
本公开的诸多实施例的各个特征可以在局部或者整体上彼此结合或者组合，可以在技术上进行各种连动以及驱动，各实施例相对于彼此既可以独立实施，也可以以关联关系一起实施。
下面，参照所附附图说明具体实施例。
图1是示出根据一实施例的显示装置的立体图。图2是示出根据一实施例的显示装置的俯视图。图3是示出根据一实施例的显示装置的框图。
在本说明书中，“上方”、“顶”、“顶面”是指以显示面板100为基准的上方方向，即Z轴方向，“下方”、“底”、“底面”是指以显示面板100为基准的下方方向，即Z轴方向的相反方向。另外，“左”、“右”、“上”、“下”是指在平面上观察显示面板100时的方向。例如，“左”是指X轴方向的相反方向，“右”是指X轴方向，“上”是指Y轴方向，“下”是指Y轴方向的相反方向。
参照图1至图3，显示装置10作为显示动态图像或静止图像的装置，不仅是移动电话(mobile phone)、智能电话(smart phone)、平板PC(tablet personaLcomputer)以及智能手表(smart watch)、手表手机(watch phone)、移动通信终端、电子笔记本、电子书、PMP(portable multimedia player，便携式多媒体播放器)、导航仪、UMPC(Ultra Mobile PC，超级移动电脑)等之类便携式电子设备，也可以用作电视机、笔记本电脑、监控器、广告牌、物联网(internet of things，IOT)等各种产品的显示画面。
显示装置10可以是利用有机发光二极管的有机发光显示装置、包括量子点发光层的量子点发光显示装置、包括无机半导体的无机发光显示装置以及利用超小型发光二极管(micro light emitting diode(LED))的超小型发光显示装置之类发光显示装置。下面，以显示装置10是有机发光显示装置的情况为中心进行说明，但本公开并不限于此。
显示装置10包括：显示面板100、显示驱动电路200以及电路板300。
显示面板100可以形成为具有第1方向(X轴方向)的短边和与第1方向(X轴方向)交叉的第2方向(Y轴方向)的长边的矩形形式的平面。第1方向(X轴方向)的短边和第2方向(Y轴方向)的长边相交的角(corner)可以形成为圆形以具有预定的曲率或者形成为直角。显示面板100的平面形式并不限于四边形，可以形成为其它多边形、圆形或者椭圆形。显示面板100可以平坦地形成，但并不限于此，可以包括形成于左右侧末端且具有固定的曲率或者具有变化的曲率的曲面部。除此之外，显示面板100可以柔软地形成，以便能够弯折、打弯、弯曲、折叠或者卷曲。
显示面板100可以包括形成有子像素SP并显示图像的显示区域DA和显示区域DA的周边区域即非显示区域NDA。在显示区域DA中，不仅是子像素SP，也可以配置与子像素SP接通的扫描线SL、发光线ELL、数据线DL以及第1驱动电压线VDDL。可以是扫描线SL和发光线ELL向第1方向(X轴方向)并排形成，数据线DL向与第1方向(X轴方向)交叉的第2方向(Y轴方向)并排形成。可以是第1驱动电压线VDDL在显示区域DA中向第2方向(Y轴方向)并排形成。在显示区域DA中向第2方向(Y轴方向)并排形成的第1驱动电压线VDDL可以在非显示区域NDA彼此连接。
各个像素SP可以接通于扫描线SL中的至少任意一个、数据线DL中的任意一个、发光线ELL中的至少一个、第1驱动电压线VDDL。图2中例示出各个子像素SP接通于两个扫描线SL、一个数据线DL、一个发光线ELL以及第1驱动电压线VDDL，但并不限于此。例如，各个子像素SP可以接通于三个扫描线SL，而不是两个扫描线SL。
各个子像素SP可以包括驱动晶体管、至少一个晶体管、发光元件以及电容器。晶体管当从扫描线SL施加扫描信号时导通，由此数据线DL的数据电压可以施加于驱动晶体管DT(参照图4)的栅极电极。驱动晶体管DT可以根据施加于栅极电极的数据电压将驱动电流供应于发光元件而发光。驱动晶体管DT和至少一个晶体管ST可以是薄膜晶体管(thin filmtransistor)。发光元件可以根据驱动晶体管DT的驱动电流发光。发光元件可以是包括第1电极、有机发光层以及第2电极的有机发光二极管(organic light emitting diode)。电容器可以起到恒定维持施加于驱动晶体管DT(参照图4)的栅极电极的数据电压的作用。
非显示区域NDA可以定义为从显示区域DA的外侧到显示面板100的边缘的区域。在非显示区域NDA可以配置用于将扫描信号施加于扫描线SL的扫描驱动电路。
在数据线DL和显示驱动电路200之间可以配置检查像素的不良与否的点亮电路部170、解复用部160、检查显示面板100的裂纹产生及蛛网式布线的不良的检查部150以及传递显示驱动电路200的输出的蛛网式布线(以下，扇出线FOL)。
在一些实施例中，第奇数个扇出线FOL1、FOL3、……、FOLm-1和第偶数个扇出线FOL2、FOL4、……、FOLm可以将至少一个绝缘膜置于中间而配置于彼此不同层。例如，可以是第奇数个扇出线FOL1、FOL3、……、FOLm-1相邻排列于下方层，在第奇数个扇出线FOL1、FOL3、……、FOLm-1上方形成至少一个绝缘膜，第偶数个扇出线FOL2、FOL4、……、FOLm相邻排列于至少一个绝缘膜上方的层。此时，在第奇数个扇出线FOL1、FOL3、……、FOLm-1之间可以排列第偶数个扇出线FOL2、FOL4、……、FOLm。作为其它例，可以是第偶数个扇出线FOL2、FOL4、……、FOLm相邻排列于下方层，在第偶数个扇出线FOL2、FOL4、……、FOLm上方形成至少一个绝缘膜，第奇数个扇出线FOL1、FOL3、……、FOLm-1相邻排列于至少一个绝缘膜上方的层。但是，并不限于此，一些实施例中扇出线FOL1～FOLm也可以排列于相同层。
扇出线FOL1～FOLm以5微米(um)至10微米(um)的间隔构成为类似蜘蛛网，进行工艺后因异物等经常发生短路(short)或开路(open)不良，因此需要对扇出线FOL1～FOLm的不良与否进行检查。
解复用部160在扇出线FOL1～FOLm和数据线DL之间连接数据线DL和扇出线FOL1～FOLm。解复用部160将通过扇出线FOL1～FOLm传递的多个信号通过多个开关传递于对应的数据线DL。
在非显示区域NDA可以配置接通于显示驱动电路200的显示焊盘PAD。显示驱动电路200和显示焊盘PAD可以配置于显示面板100的一侧边缘。显示焊盘PAD可以比显示驱动电路200更靠近显示面板100的一侧边缘配置。
扫描驱动电路可以通过多个扫描控制线与显示驱动电路200连接。扫描驱动电路可以通过多个扫描控制线从显示驱动电路200接收输入扫描控制信号SCS和发光控制信号ECS。
如图3所示，扫描驱动电路SDC可以包括扫描驱动部410和发光控制驱动部420。
扫描驱动部410可以根据扫描控制信号SCS生成扫描信号，将扫描信号依次输出于扫描线SL。发光控制驱动部420可以根据发光控制信号ECS生成发光控制信号，将发光控制信号依次输出于发光线ELL。
如图3所示，显示驱动电路200可以包括时序控制部210、数据驱动部220以及电源供应部230。
时序控制部210从电路板300接收输入数字视频数据DATA和时序信号。时序控制部210可以根据时序信号生成用于控制扫描驱动部410的工作时序的扫描控制信号SCS，生成用于控制发光控制驱动部420的工作时序的发光控制信号ECS，生成用于控制数据驱动部220的工作时序的数据控制信号DCS。时序控制部210可以通过多个扫描控制线将扫描控制信号SCS向扫描驱动部410输出，将发光控制信号ECS向发光控制驱动部420输出。时序控制部210可以将数字视频数据DATA和数据控制信号DCS输出于数据驱动部220。
数据驱动部220将数字视频数据DATA转换为模拟正极性/负极性数据电压并通过扇出线FOL输出于数据线DL。通过扫描驱动电路SDC的扫描信号选择子像素SP，数据电压供应于选择的子像素SP。
电源供应部230可以生成第1驱动电压并向第1驱动电压线VDDL供应。另外，电源供应部230可以生成第2驱动电压并向各个子像素SP的有机发光二极管的阴极电极供应。第1驱动电压可以是用于有机发光二极管的驱动的高电位电压，第2驱动电压可以是用于有机发光二极管的驱动的低电位电压。即，第1驱动电压可以具有比第2驱动电压高的电位。
显示驱动电路200可以形成为集成电路(integrated circuit，IC)并以COP(chipon plastic)方式附着在显示面板100上，但并不限于此。在一些实施例中，显示驱动电路200也可以形成为集成电路(integrated circuit，IC)并以COG(chip on glass)方式、COP(chip on plastic)方式或者超声波接合方式附着在显示面板100上，在一些实施例中，显示驱动电路200可以附着在电路板300上。下面，将显示驱动电路200形成为集成电路(integrated circuit，IC)并以COP(chip on plastic)方式附着在显示面板100上的情况作为一例进行说明。
在一些实施例中，显示驱动电路200可以包括驱动集成电路以及多个凸块。驱动集成电路可以通过多个凸块接通于图10中示出的多个布线焊盘DP1、DP2、DP3、DP4。
电路板300可以利用各向异性导电膜(anisotropic conductive film)附着在显示焊盘PAD上。由此，电路板300的引线可以与显示焊盘PAD电连接。电路板300可以是柔性印刷电路板(flexible prinited circuit board)、印刷电路板(printed circuit board)或者覆晶薄膜(chip on film)之类柔性膜(flexible film)。
在一些实施例中，显示面板100的点亮检查、裂纹检查以及扇出线FOL1～FOLm的检查可以在附着电路板300之前进行，在进行显示面板100的点亮检查、裂纹检查以及扇出线FOL1～FOLm的检查时，检查用电路板可以附着于显示焊盘PAD。检查用电路板可以供应显示面板100的点亮检查、裂纹检查以及扇出线FOL1～FOLm的检查所需的信号。
在非显示区域NDA可以配置裂纹感测线CDL。裂纹感测线CDL可以以围绕显示区域DA周边的形式配置，裂纹感测线CDL可以与检查部150连接。例如，裂纹感测线CDL的一端以及另一端可以分别与检查部150连接。可以通过基于裂纹感测线CDL的损伤的电阻变化来感测显示面板100的裂纹产生与否。
另外，可以是扇出线FOL1～FOLm的一端与数据线DL连接，并且扇出线FOL1～FOLm的另一端与检查部150连接。检查部150可以检查由扇出线FOL1～FOLm的短路(short)或开路(open)引起的不良与否。如此，检查部150可以检查裂纹感测线CDL的损伤与否以及扇出线FOL1～FOLm的不良与否。后面更加详细说明检查部150对裂纹感测线CDL的损伤与否以及扇出线FOL1～FOLm的不良与否的检查。
图4是详细示出根据一实施例的子像素的电路图。
参照图4，子像素SP可以接通于第k-1(k为2以上的正整数)扫描线Sk-1、第k扫描线Sk、第k+1扫描线Sk+1以及第j(j为正整数)数据线Dj。另外，子像素SP可以接通于供应第1驱动电压的第1驱动电压线VDDL、供应初始化电压Vini的初始化电压线VIL以及供应第2驱动电压的第2驱动电压线VSSL。
子像素SP包括驱动晶体管(transistor)DT、发光元件(Light Emitting Element，LE)、开关元件、电容器C等。开关元件包括第1晶体管ST1、第2晶体管ST2、第3晶体管ST3、第4晶体管ST4、第5晶体管ST5以及第6晶体管ST6。
驱动晶体管DT根据施加于栅极电极的数据电压控制漏极-源极间的电流Ids(以下称为“驱动电流”)。如数学式1，流经驱动晶体管DT的沟道的驱动电流Ids与驱动晶体管DT的栅极-源极间的电压差Vsg和阈值电压(threshold voltage)间的差的平方成比例。
(数学式1)
Ids＝k′×(Vsg-Vth)2
在数学式1中，k'意指通过驱动晶体管DT的结构和物理特性确定的比例系数，Vsg意指驱动晶体管DT的栅极-源极间电压，Vth意指驱动晶体管的阈值电压。
发光元件EL根据驱动电流Ids发光。发光元件EL的发光量可以与驱动电流Ids成比例。
发光元件EL可以是包括阳极电极、阴极电极以及配置于阳极电极和阴极电极之间的有机发光层的有机发光二极管。或者，发光元件EL可以是包括阳极电极、阴极电极以及配置于阳极电极和阴极电极之间的无机半导体的无机发光元件。或者，发光元件EL可以是包括阳极电极、阴极电极以及配置于阳极电极和阴极电极之间的量子点发光层的量子点发光元件。或者，发光元件EL可以是微型发光二极管(micro light emitting diode)。
可以是发光元件EL的阳极电极接通于第4晶体管ST4的第1电极和第6晶体管ST6的第2电极，阴极电极接通于第2驱动电压线VSSL。在发光元件EL的阳极电极和阴极电极之间可以形成寄生电容Cel。
第1晶体管ST1通过第k扫描线Sk的扫描信号来导通而使驱动晶体管DT的第1电极和第j数据线Dj接通。可以是第1晶体管ST1的栅极电极接通于第k扫描线Sk，第1电极接通于驱动晶体管DT的第1电极，第2电极接通于数据线Dj。
第2晶体管ST2可以由包括第2-1晶体管ST2-1和第2-2晶体管ST2-2的双晶体管形成。第2-1晶体管ST2-1和第2-2晶体管ST2-2通过第k扫描线Sk的扫描信号来导通而使驱动晶体管DT的栅极电极和第2电极接通。即，当第2-1晶体管ST2-1和第2-2晶体管ST2-2导通时，驱动晶体管DT的栅极电极和第2电极接通，因此驱动晶体管DT以二极管(diode)驱动。可以是第2-1晶体管ST2-1的栅极电极接通于第k扫描线Sk，第1电极接通于第2-2晶体管ST2-2的第2电极，第2电极接通于驱动晶体管DT的栅极电极。可以是第2-2晶体管ST2-2的栅极电极接通于第k扫描线Sk，第1电极接通于驱动晶体管DT的第2电极，第2电极接通于第2-1晶体管ST2-1的第1电极。
第3晶体管ST3可以由包括第3-1晶体管ST3-1和第3-2晶体管ST3-2的双晶体管形成。第3-1晶体管ST3-1和第3-2晶体管ST3-2通过第k-1扫描线Sk-1的扫描信号来导通而使驱动晶体管DT的栅极电极和初始化电压线VIL接通。驱动晶体管DT的栅极电极可以以初始化电压线VIL的初始化电压放电。可以是第3-1晶体管ST3-1的栅极电极接通于第k-1扫描线Sk-1，第1电极接通于驱动晶体管DT的栅极电极，第2电极接通于第3-2晶体管ST3-2的第1电极。可以是第3-2晶体管ST3-2的栅极电极接通于第k-1扫描线Sk-1，第1电极接通于第3-1晶体管ST3-1的第2电极，第2电极接通于初始化电压线VIL。
第4晶体管ST4通过第k+1扫描线Sk+1的扫描信号来导通而使发光元件EL的阳极电极和初始化电压线VIL接通。发光元件EL的阳极电极可以以初始化电压放电。第4晶体管ST4的栅极电极接通于第k+1扫描线Sk+1，第1电极接通于发光元件EL的阳极电极，第2电极接通于初始化电压线VIL。
第5晶体管ST5通过第k发光线Ek的发光控制信号来导通而使驱动晶体管DT的第1电极和第1驱动电压线VDDL接通。第5晶体管ST5的栅极电极接通于第k发光线Ek，第1电极接通于第1驱动电压线VDDL，第2电极接通于驱动晶体管DT的第1电极。
第6晶体管ST6接通于驱动晶体管DT的第2电极和发光元件EL的阳极电极之间。第6晶体管ST6通过第k发光线Ek的发光控制信号来导通而使驱动晶体管DT的第2电极和发光元件EL的阳极电极接通。第6晶体管ST6的栅极电极接通于第k发光线Ek，第1电极接通于驱动晶体管DT的第2电极，第2电极接通于发光元件EL的阳极电极。当第5晶体管ST5和第6晶体管ST6均导通时，驱动电流Ids可以供应于发光元件EL。
电容器C形成在驱动晶体管DT的栅极电极和第1驱动电压线VDDL之间。可以是电容器C的一电极接通于驱动晶体管DT的栅极电极，另一电极接通于第1驱动电压线VDDL。电容器C起到将驱动晶体管DT的栅极电极的电压维持一个帧期间的作用。
当第1晶体管ST1、第2晶体管ST2、第3晶体管ST3、第4晶体管ST4、第5晶体管ST5、第6晶体管ST6以及驱动晶体管DT各自的第1电极为源极电极时，第2电极可以是漏极电极。或者，当第1晶体管ST1、第2晶体管ST2、第3晶体管ST3、第4晶体管ST4、第5晶体管ST5、第6晶体管ST6以及驱动晶体管DT各自的第1电极为漏极电极时，第2电极可以是源极电极。
第1晶体管ST1、第2晶体管ST2、第3晶体管ST3、第4晶体管ST4、第5晶体管ST5、第6晶体管ST6以及驱动晶体管DT各自的有源层也可以由多晶硅(Poly Silicon)、非晶硅以及氧化物半导体中的任意一个形成。当第1晶体管ST1、第2晶体管ST2、第3晶体管ST3、第4晶体管ST4、第5晶体管ST5、第6晶体管ST6以及驱动晶体管DT各自的半导体层由多晶硅形成时，用于形成其的工艺可以是低温多晶硅(Low Temperature Poly Silicon：LTPS)工艺。
另外，在图4中，以第1晶体管ST1、第2晶体管ST2、第3晶体管ST3、第4晶体管ST4、第5晶体管ST5、第6晶体管ST6以及驱动晶体管DT由P型MOSFET(MetaLOxide SemiconductorField Effect Transistor)形成的情况为中心进行说明，但并不限于此，也可以由N型MOSFET形成。当第1晶体管ST1、第2晶体管ST2、第3晶体管ST3、第4晶体管ST4、第5晶体管ST5、第6晶体管ST6以及驱动晶体管DT由N型MOSFET形成时，应修改图5的时序图，以适合N型MOSFET的特性。
可以考虑驱动晶体管DT的特性、发光元件EL的特性等来设定第1驱动电压线VDDL的第1驱动电压、第2驱动电压线VSSL的第2驱动电压、初始化电压线Vini的初始化电压。例如，初始化电压和供应于驱动晶体管DT的源极电极的数据电压间的电压差可以设置成比驱动晶体管DT的阈值电压小。
图5是示出施加于图4的第k-1扫描线、第k扫描线、第k+1扫描线以及第k发光线的信号的波形图。
参照图5，施加于第k-1扫描线Sk-1的第k-1扫描信号SCANk-1是用于控制第3晶体管ST3的导通和关断的信号。施加于第k扫描线Sk的第k扫描信号SCANk是用于控制第1晶体管ST1和第2晶体管ST2各自的导通和关断的信号。施加于第k+1扫描线Sk+1的第k+1扫描信号SCANk+1是用于控制第4晶体管ST4的导通和关断的信号。第k发光信号EMk是用于控制第5晶体管ST5和第6晶体管ST6的信号。
第k-1扫描信号SCANk-1、第k扫描信号SCANk、第k+1扫描信号SCANk+1以及第k发光信号EMk可以以一个帧期间为周期来生成。一个帧期间可以划分为第1期间t1至第4期间t4。第1期间t1是初始化驱动晶体管DT的栅极电极的期间，第2期间t2是将数据电压供应于驱动晶体管DT的栅极电极并采样驱动晶体管DT的阈值电压的期间，第3期间t3是初始化发光元件EL的阳极电极的期间，第4期间t4是发光元件EL发光的期间。
第k-1扫描信号SCANk-1、第k扫描信号SCANk、第k+1扫描信号SCANk+1可以依次以第1期间t1、第2期间t1以及第3期间t3输出为栅极导通电压Von。例如，可以是第k-1扫描信号SCANk-1在第1期间t1具有栅极导通电压Von，在剩余期间具有栅极关断电压Voff。可以是第k扫描信号SCANk在第2期间t2具有栅极导通电压Von，在剩余期间具有栅极关断电压Voff。可以是第k+1扫描信号SCANk+1在第3期间t3具有栅极导通电压Von，在剩余期间具有栅极关断电压Voff。在图5中例示了第k-1扫描信号SCANk-1具有栅极导通电压Von的期间比第1期间t1短，但是第k-1扫描信号SCANk-1具有栅极导通电压Von的期间可以与第1期间t1实质相同。另外，在图5中例示了第k扫描信号SCANk具有栅极导通电压Von的期间比第2期间t2短，但是第k扫描信号SCANk具有栅极导通电压Von的期间可以与第2期间t2实质相同。另外，在图5中例示了第k+1扫描信号SCANk+1具有栅极导通电压Von的期间比第3期间t3短，但是第k+1扫描信号SCANk+1具有栅极导通电压Von的期间可以与第3期间t3实质相同。
可以是第k发光信号EMk在第4期间t4具有栅极导通电压Von，在剩余期间具有栅极关断电压Voff。
在图5中例示了第1期间t1、第2期间t2以及第3期间t3分别为一个水平期间。一个水平期间指定数据电压供应于与显示面板100的某扫描线连通的各个子像素SP的期间，因此可以定义为一个水平线扫描期间。数据电压可以同步于各个扫描信号的栅极导通电压Von而供应于数据线DL。
栅极导通电压Von对应于能够使第1晶体管ST1、第2晶体管ST2、第3晶体管ST3、第4晶体管ST4、第5晶体管ST5以及第6晶体管ST6的各个导通的导通电压。栅极关断电压Voff对应于能够使第1晶体管ST1、第2晶体管ST2、第3晶体管ST3、第4晶体管ST4、第5晶体管ST5以及第6晶体管ST6的各个关断的关断电压。
图6至图9是用于说明在图5的第1期间至第4期间中第1子像素的驱动方法的电路图。
下面，结合图5至图9详细说明在第1期间t1至第4期间t4中子像素SP的工作。
第一，在第1期间t1，具有栅极导通电压Von的第k-1扫描信号SCANk-1供应于第k-1扫描线Sk-1。如图6所示，在第1期间t1，第3晶体管ST3通过具有栅极导通电压Von的第k-1扫描信号SCANk-1来导通。由于第3晶体管ST3的导通，驱动晶体管DT的栅极电极初始化为初始化电压线VIL的初始化电压Vini。
第二，在第2期间t2，具有栅极导通电压Von的第k扫描信号SCANk供应于第k扫描线Sk。如图7所示，在第2期间t2，第1晶体管ST1和第2晶体管ST2分别通过具有栅极导通电压Von的第k扫描信号SCANk来导通。
通过第2晶体管ST2的导通，驱动晶体管DT的栅极电极和第2电极彼此接通，驱动晶体管DT以二极管驱动。通过第1晶体管ST1的导通，数据电压Vdata供应于驱动晶体管DT的第1电极。此时，驱动晶体管DT的栅极电极和第1电极间的电压差(Vsg＝Vdata-Vini)大于阈值电压Vth，因此驱动晶体管DT形成电流通路，直至栅极电极和源极电极间的电压差Vsg达到阈值电压Vth。由此，在第2期间t2，驱动晶体管DT的栅极电极和第2电极上升至数据电压Vdata和驱动晶体管DT的阈值电压Vth的差电压(Vdata-Vth)。电容器C中可以存储“Vdata-Vth”。
第三，在第3期间t3，具有栅极导通电压Von的第k+1扫描信号SCANk+1供应于第k+1扫描线Sk+1。如图8所示，在第3期间t3，第4晶体管ST4通过具有栅极导通电压Von的第k+1扫描信号SCANk+1来导通。通过第4晶体管ST4的导通，发光元件EL的阳极电极初始化为初始化电压线VIL的初始化电压Vini。
第四，在第4期间t4，具有栅极导通电压Von的第k发光信号EMk供应于第k发光线Ek。如图9所示，在第4期间t4，第5晶体管ST5和第6晶体管ST6分别通过具有栅极导通电压Von的第k发光信号EMk来导通。
通过第5晶体管ST5的导通，驱动晶体管DT的第1电极接通于第1驱动电压线VDDL。通过第6晶体管ST6的导通，驱动晶体管DT的第2电极接通于发光元件EL的阳极电极。
当第5晶体管ST5和第6晶体管ST6导通时，根据驱动晶体管DT的栅极电极的电压而流动的驱动电流Ids可以供应于发光元件EL。驱动电流Ids可以如数学式2那样定义。
(数学式2)
Ids＝k′×(ELVDD-(Vdata-Vth)-Vth)2
在数学式2中，k'是指通过驱动晶体管DT的结构和物理特性确定的比例系数，Vth是指驱动晶体管DT的阈值电压，ELVDD是指第1驱动电压线VDDL的第1驱动电压，Vdata是指数据电压。驱动晶体管DT的栅极电压是“Vdata-Vth”，第1电极的电压是ELVDD。若整理数学式2，则导出数学式3。
(数学式3)
Ids＝k′×(ELVDD-Vdata)2
最终，如数学式3所示，驱动电流Ids并不依赖于驱动晶体管DT的阈值电压Vth。即，驱动晶体管DT的阈值电压Vth被补偿。
另一方面，如图9所示，驱动电流Ids不仅是发光元件EL，还供应于寄生电容Cel。但是，驱动晶体管DT由并联连接的双晶体管构成而能够提供高的驱动电流Ids，可以在以高亮度驱动发光元件EL的同时，减少对寄生电容Cel充电的时间。
图10是示出根据一实施例的显示装置的电路结构的图，图11以及图12是用于说明根据一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图，图13是用于说明根据一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。
参照图10，在一些实施例中，显示装置10可以包括配置于子像素SP和布线焊盘DP之间的检查部150、解复用部160以及点亮电路部170。
为了便于说明，图10仅示出配置于显示装置10的子像素SP中的一部分，仅示出连接于子像素SP的第1数据线DL1至第8数据线DL8。
在一些实施例中，子像素SP可以包括发出红色的光的红色子像素R和发出蓝色的光的蓝色子像素B以及发出绿色的光的绿色子像素G。可以是红色子像素R和蓝色子像素B在相同列交替排列，绿色子像素G在排列有红色子像素R和蓝色子像素B的列的相邻列配置成一列。此时，红色子像素R和蓝色子像素B以排列有绿色子像素G的列为中心，红色子像素R自己以及蓝色子像素B自己位于对角线方向而排列成棋盘(checker board)形式。即，红色子像素R以及蓝色子像素B各自可以交替配置，以便不会在彼此相邻的两行中重复配置于相同的列。各列中配置数据线DL。
在一些实施例中，可以是在红色子像素R和蓝色子像素B交替排列的第1列连接第1数据线DL1，在排列有绿色子像素G的第2列连接第2数据线DL2，在以与第1列相反的顺序交替排列红色子像素R和蓝色子像素B的第3列连接第3数据线DL3，在排列绿色子像素G的第4列连接第4数据线DL4，在以与第1列相同的顺序交替排列红色子像素R和蓝色子像素B的第5列连接第5数据线DL5，在排列绿色子像素G的第6列连接第6数据线DL6，在以与第1列相反的顺序交替排列红色子像素R和蓝色子像素B的第7列连接第7数据线DL7，在排列绿色子像素G的第8列连接第8数据线DL8。
在本公开的实施例中，以子像素SP由红色子像素R、蓝色子像素B、绿色子像素G构成的情况进行说明，但是子像素SP也可以还包括红色、绿色以及蓝色之外的颜色。
布线焊盘DP可以如图2那样位于配置显示驱动电路200的区域，驱动集成电路通过多个凸块接通于布线焊盘DP。布线焊盘DP可以例示性地包括第1布线焊盘DP1至第4布线焊盘DP4。
在第1布线焊盘DP1至第4布线焊盘DP4可以配置与第1数据线DL1至第8数据线DL8连接的第1扇出线FOL1至第4扇出线FOL4。例示性地，可以是第1扇出线FOL1使得第1布线焊盘DP1与第1数据线DL1以及第2数据线DL2连接，第2扇出线FOL2使得第2布线焊盘DP2与第3数据线DL3以及第4数据线DL4连接，第3扇出线FOL3使得第3布线焊盘DP3与第5数据线DL5以及第6数据线DL6连接，第4扇出线FOL4使得第4布线焊盘DP4与第7数据线DL7以及第8数据线DL8连接。
第1扇出线FOL1至第4扇出线FOL4可以配置为向第2方向(Y轴方向)延伸且向第1方向(X轴方向)彼此隔开。另外，在一些实施例中，第1扇出线FOL1以及第3扇出线FOL3和第2扇出线FOL2以及第4扇出线FOL4可以将至少一个绝缘膜置于之间而配置于彼此不同层。例如，可以是第1扇出线FOL1以及第3扇出线FOL3相邻排列于下方层，在第1扇出线FOL1以及第3扇出线FOL3上方上形成至少一个绝缘膜，第2扇出线FOL2以及第4扇出线FOL4相邻排列于至少一个绝缘膜上方的层。此时，可以在第1扇出线FOL1以及第3扇出线FOL3之间排列第2扇出线FOL2以及第4扇出线FOL4。作为其它例，可以是第2扇出线FOL2以及第4扇出线FOL4相邻排列于下方层，在第2扇出线FOL2以及第4扇出线FOL4上方形成至少一个绝缘膜，第1扇出线FOL1以及第3扇出线FOL3相邻排列于至少一个绝缘膜上方的层。
可以在子像素SP和第1布线焊盘DP1至第4布线焊盘DP4之间依次配置检查部150、解复用部160以及点亮电路部170。
在一些实施例中，检查部150可以包括第1控制线151、第2控制线153、数据电压线155以及开关。
可以是第1控制线151、第2控制线153以及数据电压线155向第1方向(X轴方向)延伸且向第2方向(Y轴方向)彼此隔开。
可以是检查部150的开关包括：连接于第1扇出线FOL1的第1开关SW11；连接于第2扇出线FOL2的第2开关SW12；连接于第3扇出线FOL3的第3开关SW13以及连接于第4扇出线FOL4的第4开关SW14。
具体地，第1开关SW11可以是栅极连接于供应第1检查控制信号MCD_GATE1的第1控制线151，第1端子连接于第1扇出线FOL1，第2端子连接于供应黑色数据电压VGH的数据电压线155。第1开关SW11可以通过第1检查控制信号MCD_GATE1来导通，使数据电压线155和第1扇出线FOL1接通。
第2开关SW12可以是栅极连接于供应第1检查控制信号MCD_GATE1的第1控制线151，第1端子连接于第2扇出线FOL2，第2端子连接于供应黑色数据电压VGH的数据电压线155。第2开关SW12可以通过第1检查控制信号MCD_GATE1来导通，使数据电压线155和第2扇出线FOL2接通。
第3开关SW13可以是栅极连接于供应第2检查控制信号MCD_GATE2的第2控制线153，第1端子连接于第3扇出线FOL3，第2端子连接于供应黑色数据电压VGH的数据电压线155。第3开关SW13可以通过第2检查控制信号MCD_GATE1来导通，使数据电压线155和第3扇出线FOL3接通。
第4开关SW14可以是栅极连接于供应第2检查控制信号MCD_GATE2的第2控制线153，第1端子连接于第4扇出线FOL4，第2端子连接于供应黑色数据电压VGH的数据电压线155。第4开关SW14可以通过第2检查控制信号MCD_GATE2来导通，使数据电压线155和第4扇出线FOL4接通。
在一些实施例中，解复用部160通过多个开关来将通过第1布线焊盘DP1至第4布线焊盘DP4传递的黑色数据电压VGH传递于对应的数据线DL。解复用部160可以包括第3控制线161、第4控制线163以及开关。
可以是第3控制线161以及第4控制线163向第1方向(X轴方向)延伸且向第2方向(Y轴方向)彼此隔开。
解复用部160的开关可以包括：连接于第1扇出线FOL1的第5开关SW21以及第6开关SW22；连接于第2扇出线FOL2的第7开关SW23以及第8开关SW24；连接于第3扇出线FOL3的第9开关SW25以及第10开关SW26；连接于第4扇出线FOL4的第11开关SW27以及第12开关SW28。
具体地，第5开关SW21可以是栅极连接于供应第1解复用控制信号CLA的第3控制线161，第1端子连接于第1扇出线FOL1，第2端子连接于第1数据线DL1。第5开关SW21可以通过第1解复用控制信号CLA来导通，使第1扇出线FOL1和第1数据线DL1接通。
第6开关SW22可以是栅极连接于供应第2解复用控制信号CLB的第4控制线163，第1端子连接于第1扇出线FOL1，第2端子连接于第2数据线DL2。第6开关SW22可以通过第2解复用控制信号CLB来导通，使第1扇出线FOL1和第2数据线DL2接通。
第7开关SW23可以是栅极连接于供应第1解复用控制信号CLA的第3控制线161，第1端子连接于第2扇出线FOL2，第2端子连接于第3数据线DL3。第7开关SW23可以通过第1解复用控制信号CLA来导通，使第2扇出线FOL2和第3数据线DL3接通。
第8开关SW24可以是栅极连接于供应第2解复用控制信号CLB的第4控制线163，第1端子连接于第2扇出线FOL2，第2端子连接于第4数据线DL4。第8开关SW24可以通过第2解复用控制信号CLB来导通，使第2扇出线FOL2和第4数据线DL4接通。
第9开关SW25可以是栅极连接于供应第1解复用控制信号CLA的第3控制线161，第1端子连接于第3扇出线FOL3，第2端子连接于第5数据线DL5。第9开关SW25可以通过第1解复用控制信号CLA来导通，使第3扇出线FOL3和第5数据线DL5接通。
第10开关SW26可以是栅极连接于供应第2解复用控制信号CLB的第4控制线163，第1端子连接于第3扇出线FOL3，第2端子连接于第6数据线DL6。第10开关SW26可以通过第2解复用控制信号CLB来导通，使第3扇出线FOL3和第6数据线DL6接通。
第11开关SW27可以是栅极连接于供应第1解复用控制信号CLA的第3控制线161，第1端子连接于第4扇出线FOL4，第2端子连接于第7数据线DL7。第11开关SW27可以通过第1解复用控制信号CLA来导通，使第4扇出线FOL4和第7数据线DL7接通。
第12开关SW28可以是栅极连接于供应第2解复用控制信号CLB的第4控制线163，第1端子连接于第4扇出线FOL4，第2端子连接于第8数据线DL8。第12开关SW28可以通过第2解复用控制信号CLB来导通，使第4扇出线FOL4和第8数据线DL8接通。
在图10中，将解复用部160对应于一个扇出线FOL而配置两个开关的情况作为一例进行了说明，但并不限于此，可以对应于一个扇出线FOL而配置三个以上开关，此时，一个扇出线FOL可以与三个以上数据线DL连接。
在一些实施例中，点亮电路部170可以包括第5控制线171、第6控制线173、第7控制线175、第1点亮检查信号线177、第2点亮检查信号线178、第3点亮检查信号线179以及开关。第5控制线171、第6控制线173、第7控制线175、第1点亮检查信号线177、第2点亮检查信号线178、第3点亮检查信号线179可以向第1方向(X轴方向)延伸且向第2方向(Y轴方向)彼此隔开。
点亮电路部170的开关可以包括：连接于第1数据线DL1的第13开关SW31以及第14开关SW32；连接于第2数据线DL2的第15开关SW33；连接于第3数据线DL3的第16开关SW34以及第17开关SW35；连接于第4数据线DL4的第18开关SW36；连接于第5数据线DL5的第19开关SW37以及第20开关SW38；连接于第6数据线DL6的第21开关SW39；连接于第7数据线DL7的第22开关SW40以及第23开关SW41；连接于第8数据线DL8的第24开关SW42。
具体地，第13开关SW31可以是栅极连接于供应第1点亮检查控制信号TEST_GATE_R的第5控制线171，第1端子连接于供应第1点亮检查信号DC_R的第1点亮检查信号线177，第2端子连接于第1数据线DL1。第13开关SW31可以通过第1点亮检查控制信号TEST_GATE_R来导通，使第1点亮检查信号线177和第1数据线DL1接通。
第14开关SW32可以是栅极连接于供应第2点亮检查控制信号TEST_GATE_B的第6控制线173，第1端子连接于供应第2点亮检查信号DC_B的第2点亮检查信号线178，第2端子连接于第1数据线DL1。第14开关SW32可以通过第2点亮检查控制信号TEST_GATE_B来导通，使第2点亮检查信号线178和第1数据线DL1接通。
第15开关SW33可以是栅极连接于供应第3点亮检查控制信号TEST_GATE_G的第7控制线175，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第2数据线DL2。第15开关SW33可以通过第3点亮检查控制信号TEST_GATE_G来导通，使第3点亮检查信号线179和第2数据线DL2接通。
第16开关SW34可以是栅极连接于供应第2点亮检查控制信号TEST_GATE_B的第6控制线173，第1端子连接于供应第1点亮检查信号DC_R的第1点亮检查信号线177，第2端子连接于第3数据线DL3。第16开关SW34可以通过第2点亮检查控制信号TEST_GATE_B来导通，使第1点亮检查信号线177和第3数据线DL3接通。
第17开关SW35可以是栅极连接于供应第1点亮检查控制信号TEST_GATE_R的第5控制线171，第1端子连接于供应第2点亮检查信号DC_B的第2点亮检查信号线178，第2端子连接于第3数据线DL3。第17开关SW35可以通过第1点亮检查控制信号TEST_GATE_R来导通，使第2点亮检查信号线178和第3数据线DL3接通。
第18开关SW36可以是栅极连接于供应第3点亮检查控制信号TEST_GATE_G的第7控制线175，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第4数据线DL4。第18开关SW36可以通过第3点亮检查控制信号TEST_GATE_G来导通，使第3点亮检查信号线179和第4数据线DL4接通。
第19开关SW37可以是栅极连接于供应第1点亮检查控制信号TEST_GATE_R的第5控制线171，第1端子连接于供应第1点亮检查信号DC_R的第1点亮检查信号线177，第2端子连接于第5数据线DL5。第19开关SW37可以通过第1点亮检查控制信号TEST_GATE_R来导通，使第1点亮检查信号线177和第5数据线DL5接通。
第20开关SW38可以是栅极连接于供应第2点亮检查控制信号TEST_GATE_B的第6控制线173，第1端子连接于供应第2点亮检查信号DC_B的第2点亮检查信号线178，第2端子连接于第5数据线DL5。第20开关SW38可以通过第2点亮检查控制信号TEST_GATE_B来导通，使第2点亮检查信号线178和第5数据线DL5接通。
第21开关SW39可以是栅极连接于供应第3点亮检查控制信号TEST_GATE_G的第7控制线175，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第6数据线DL6。第21开关SW39可以通过第3点亮检查控制信号TEST_GATE_G来导通，使第3点亮检查信号线179和第6数据线DL6接通。
第22开关SW40可以是栅极连接于供应第2点亮检查控制信号TEST_GATE_B的第6控制线173，第1端子连接于供应第1点亮检查信号DC_R的第1点亮检查信号线177，第2端子连接于第7数据线DL7。第22开关SW40可以通过第2点亮检查控制信号TEST_GATE_B来导通，使第1点亮检查信号线177和第7数据线DL7接通。
第23开关SW41可以是栅极连接于供应第1点亮检查控制信号TEST_GATE_R的第5控制线171，第1端子连接于供应第2点亮检查信号DC_B的第2点亮检查信号线178，第2端子连接于第7数据线DL7。第23开关SW41可以通过第1点亮检查控制信号TEST_GATE_R来导通，使第2点亮检查信号线178和第7数据线DL7接通。
第24开关SW42可以是栅极连接于供应第3点亮检查控制信号TEST_GATE_G的第7控制线175，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第8数据线DL8。第24开关SW42可以通过第3点亮检查控制信号TEST_GATE_G来导通，使第3点亮检查信号线179和第8数据线DL8接通。
第1开关SW11至第4开关SW14、第5开关SW21至第12开关SW28以及第13开关SW31至第24开关SW42可以以晶体管实现。此时，第1开关SW11至第4开关SW14、第5开关SW21至第12开关SW28以及第13开关SW31至第24开关SW42的栅极、第1端子以及第2端子可以分别对应于晶体管的栅极电极、第1电极以及第2电极，第1电极以及第2电极可以是源极电极或者漏极电极。
将图10、图11以及图12一起参照来对扇出线FOL的检查进行说明，相同层的相邻扇出线之间(FOL1和FOL3、FOL2和FOL4等)的不良检测可以通过检查部150来执行。
点亮电路部170可以在扇出线FOL的检查期间非激活。例如，可以在点亮电路部170施加高电平的点亮检查控制信号TEST_GATE_R/G/B和点亮检查信号DC_R/G/B。
参照图11，检查部150可以在扇出线FOL的检查期间激活。例如，低电平的第1检查控制信号MCD_GATE1施加于第1开关SW11以及第2开关SW12的栅极，第1开关SW11以及第2开关SW12导通。由此，第1扇出线FOL1和第2扇出线FOL2可以与数据电压线155连接。
在数据电压线155可以输入黑色数据电压VGH。但是，并不限于此，也可以输入其它灰度级的数据电压。可以第1开关SW11以及第2开关SW12导通，黑色数据电压VGH施加于第1扇出线FOL1和第2扇出线FOL2。
另外，高电平的第2检查控制信号MCD_GATE2施加于第3开关SW13以及第4开关SW14的栅极，第3开关SW13以及第4开关SW14维持关断状态。由此，在第3扇出线FOL3和第4扇出线FOL4不施加黑色数据电压VGH。如此，可以在相同层中相邻的第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3施加彼此不同信号。即，在第1扇出线FOL1施加黑色数据电压VGH，在第3扇出线FOL3不施加黑色数据电压VGH。另外，可以在相同层中相邻的第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4施加彼此不同信号。即，在第2扇出线FOL2施加黑色数据电压VGH，在第4扇出线FOL4不施加黑色数据电压VGH。
解复用部160可以在扇出线FOL的检查期间激活。例如，低电平的第1解复用控制信号CLA以及第2解复用控制信号CLB施加于第5开关SW21至第12开关SW28的栅极，第5开关SW21至第12开关SW28导通。
可以是通过第5开关SW21以及第6开关SW22的导通而使得第1扇出线FOL1分别连接于第1数据线DL1以及第2数据线DL2，通过第7开关SW23以及第8开关SW24的导通而使得第2扇出线FOL2分别连接于第3数据线DL3以及第4数据线DL4，通过第9开关SW25以及第10开关SW26的导通而使得第3扇出线FOL3分别连接于第5数据线DL5以及第6数据线DL6，通过第11开关SW27以及第12开关SW28的导通而使得第4扇出线FOL4分别连接于第7数据线DL7以及第8数据线DL8。
由此，在与连接于第1扇出线FOL1的第1数据线DL1以及第2数据线DL2连接的子像素SP显示黑色，在与连接于第2扇出线FOL2的第3数据线DL3以及第4数据线DL4连接的子像素SP显示黑色，在与连接于第3扇出线FOL3的第5数据线DL5以及第6数据线DL6连接的子像素SP显示白色，在与连接于第4扇出线FOL4的第7数据线DL7以及第8数据线DL8连接的子像素SP显示白色。
相同层中相邻的第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3被施加彼此不同灰度级的电压，因此可以通过连接于第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3的子像素SP的点亮状态来判断第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3的不良与否。例如，当第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3短路(Short)时，连接于第3扇出线FOL3的子像素SP显示黑色或者产生暗线，因此可以容易地判别第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3的短路与否。当第1扇出线FOL1断线(Open)时，连接于第1扇出线FOL1的子像素SP显示白色，因此可以容易地判别第1扇出线FOL1的断线与否。
相同层中相邻的第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4被施加彼此不同灰度级的电压，因此可以通过连接于第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4的子像素SP的点亮状态来判断第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4的不良与否。例如，当第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4短路(Short)时，连接于第4扇出线FOL4的子像素SP显示黑色或者产生暗线，因此可以容易地判别第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4的短路与否。当第2扇出线FOL2断线(Open)时，连接于第2扇出线FOL2的子像素SP显示白色，因此可以容易地判别第2扇出线FOL2的断线与否。
参照图12，检查部150可以在扇出线FOL的检查期间激活。例如，低电平的第2检查控制信号MCD_GATE2施加于第3开关SW13以及第4开关SW14的栅极，第3开关SW13以及第4开关SW14导通。由此，第3扇出线FOL3和第4扇出线FOL4可以与数据电压线155连接。
在数据电压线155可以输入黑色数据电压VGH。但是，并不限于此，也可以输入其它灰度级的数据电压。可以第3开关SW13以及第4开关SW14导通，在第3扇出线FOL3和第4扇出线FOL4施加黑色数据电压VGH。
另外，高电平的第1检查控制信号MCD_GATE1施加于第1开关SW11以及第2开关SW12的栅极，第1开关SW11以及第2开关SW12维持关断状态。由此，在第1扇出线FOL1和第2扇出线FOL2不施加黑色数据电压VGH。如此，在相同层中相邻的第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3可以施加彼此不同信号。即，可以是在第1扇出线FOL1不施加黑色数据电压VGH，在第3扇出线FOL3施加黑色数据电压VGH。另外，在相同层中相邻的第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4可以施加彼此不同信号。即，可以是在第2扇出线FOL2不施加黑色数据电压VGH，在第4扇出线FOL4施加黑色数据电压VGH。
解复用部160可以在扇出线FOL的检查期间激活。例如，低电平的第1解复用控制信号CLA以及第2解复用控制信号CLB施加于第5开关SW21至第12开关SW28的栅极，第5开关SW21至第12开关SW28导通。
可以是通过第5开关SW21以及第6开关SW22的导通而使得第1扇出线FOL1分别连接于第1数据线DL1以及第2数据线DL2，通过第7开关SW23以及第8开关SW24的导通而使得第2扇出线FOL2分别连接于第3数据线DL3以及第4数据线DL4，通过第9开关SW25以及第10开关SW26的导通而使得第3扇出线FOL3分别连接于第5数据线DL5以及第6数据线DL6，通过第11开关SW27以及第12开关SW28的导通而使得第4扇出线FOL4分别连接于第7数据线DL7以及第8数据线DL8。
由此，在与连接于第1扇出线FOL1的第1数据线DL1以及第2数据线DL2连接的子像素SP显示白色，在与连接于第2扇出线FOL2的第3数据线DL3以及第4数据线DL4连接的子像素SP显示白色，在与连接于第3扇出线FOL3的第5数据线DL5以及第6数据线DL6连接的子像素SP显示黑色，在与连接于第4扇出线FOL4的第7数据线DL7以及第8数据线DL8连接的子像素SP显示黑色。
相同层中相邻的第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3被施加彼此不同灰度级的电压，因此可以通过连接于第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3的子像素SP的点亮状态来判断第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3的不良与否。例如，当第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3短路(Short)时，连接于第1扇出线FOL1连接的子像素SP显示黑色或者产生暗线，因此可以容易地判别第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3的短路与否。另外，当第3扇出线FOL3断线(Open)时，在连接于第3扇出线FOL3的子像素SP显示白色，因此可以容易地判别第1扇出线FOL1或者第3扇出线FOL3的断线与否。
相同层中相邻的第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4被施加彼此不同灰度级的电压，因此可以通过连接于第2扇出线FO2和第4扇出线FOL4的子像素SP的点亮状态来判断第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4的不良与否。例如，当第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4短路(Short)时，连接于第2扇出线FOL2的子像素SP显示设置的黑色或者产生暗线，因此可以容易地判别第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4的短路与否。另外，当第4扇出线FOL4断线(Open)时，在连接于第4扇出线FOL4的子像素SP显示白色，因此可以容易地判别第4扇出线FOL4的断线与否。
参照图13，在裂纹检查期间，点亮电路部170可以非激活。例如，在点亮电路部可以施加高电平的点亮检查控制信号TEST_GATE_R/G/B和点亮检查信号DC_R/G/B。
解复用部160可以在裂纹检查期间激活。例如，低电平的第1解复用控制信号CLA以及第2解复用控制信号CLB施加于第5开关SW21至第12开关SW28的栅极，第5开关SW21至第12开关SW28导通。
检查部150可以在裂纹检查期间激活。例如，低电平的第1检查控制信号MCD_GATE1以及第2检查控制信号MCD_GATE2施加于第1开关SW11至第4开关SW14的栅极，第1开关SW11至第4开关SW14导通。由此，第1扇出线FOL1至第4扇出线FOL4可以与数据电压线155连接。
在数据电压线155可以输入测试电压。例如，在一些实施例中，测试电压可以是黑色数据电压VGH，在一些实施例中，子像素(R、G、B)也可以是使得显示最低灰度级的电压。测试电压可以巡回图2的裂纹感测线CDL并输入于第1扇出线FOL1至第4扇出线FOL4。此时，当裂纹感测线CDL无损伤时，施加于第1扇出线FOL1至第4扇出线FOL4的电压会与测试电压实质相同。例如，当测试电压为黑色数据电压VGH时，连接于第1扇出线FOL1至第4扇出线FOL4的子像素SP可以显示黑色。当裂纹感测线CDL有损伤时，裂纹感测线CDL的电阻增加，巡回裂纹感测线CDL并施加于第1扇出线FOL1至第4扇出线FOL4的电压会是比测试电压小的电压。例如，当测试电压为黑色数据电压VGH时，可以在连接于第1扇出线FOL1至第4扇出线FOL4的子像素SP识别到明线。可以通过这样的明线来容易地判别显示面板100的裂纹产生与否。
如此，根据本实施例，可以通过一个检查部150来执行扇出线FOL的不良检查以及显示面板100的裂纹检查。由此，无需分别配置用于扇出线FOL的不良检查以及显示面板100的裂纹检查的电路部，因此可以有效减少显示装置10的无效区。
图14是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图，图15以及图16是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图，图17是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。图14至图17的实施例与图10至图13的实施例的区别点在于，点亮电路部170_1的第7控制线由第7a控制线175a和第7b控制线175b构成。省略与图10至图13的实施例重复的说明，以区别点为主进行说明。
参照图14至图17，在一些实施例中，点亮电路部170_1可以包括第5控制线171、第6控制线173、第7a控制线175a、第7b控制线175b、第1点亮检查信号线177、第2点亮检查信号线178、第3点亮检查信号线179以及开关。第5控制线171、第6控制线173、第7a控制线175a、第7b控制线175b、第1点亮检查信号线177、第2点亮检查信号线178、第3点亮检查信号线179可以向第1方向(X轴方向)延伸且向第2方向(Y轴方向)彼此隔开。
点亮电路部170_1的开关可以包括：连接于第1数据线DL1的第13开关SW31以及第14开关SW32；连接于第2数据线DL2的第15开关SW33；连接于第3数据线DL3的第16开关SW34以及第17开关SW35；连接于第4数据线DL4的第18开关SW36；连接于第5数据线DL5的第19开关SW37以及第20开关SW38；连接于第6数据线DL6的第21开关SW39；连接于第7数据线DL7的第22开关SW40以及第23开关SW41；连接于第8数据线DL8的第24开关SW42。
第13开关SW31、第14开关SW32、第16开关SW34、第17开关SW35、第19开关SW37、第20开关SW38、第22开关SW40、第23开关SW41的连接结构与图10的实施例相同，因此省略重复说明。
第15开关SW33可以是栅极连接于供应第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1的第7a控制线175a，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第2数据线DL2。第15开关SW33可以通过第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1来导通，使第3点亮检查信号线179和第2数据线DL2接通。
第18开关SW36可以是栅极连接于供应第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1的第7a控制线175a，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第4数据线DL4。第18开关SW36可以通过第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1来导通，使第3点亮检查信号线179和第4数据线DL4接通。
第21开关SW39可以是栅极连接于供应第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2的第7b控制线175b，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第6数据线DL6。第21开关SW39可以通过第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2来导通，使第3点亮检查信号线179和第6数据线DL6接通。
第24开关SW42可以是栅极连接于供应第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2的第7b控制线175b，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第8数据线DL8。第24开关SW42可以通过第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2来导通，使第3点亮检查信号线179和第8数据线DL8接通。
如此，可以是第15开关SW33以及第18开关SW36通过第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1来导通，第21开关SW39以及第24开关SW42通过3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2来导通。
将图14、图15以及图16一起参照来对扇出线FOL的检查进行说明，相同层的相邻扇出线之间(FOL1和FOL3、FOL2和FOL4等)的不良检测可以通过检查部150来执行。
点亮电路部170_1可以在扇出线FOL的检查期间激活。例如，低电平的第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1以及第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2可以施加于第7a控制线175a以及第7b控制线175b。例如，参照图15，低电平的第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2施加于第21开关SW39以及第24开关SW42的栅极，第21开关SW39以及第24开关SW42导通。由此，第6数据线DL6以及第8数据线DL8可以与第3点亮检查信号线179连接。
施加于第3点亮检查信号线179的第3点亮检查信号DC_G可以是白色数据电压。但是，并不限于此，也可以是能够与黑色数据电压区分的其它灰度级的数据电压。
解复用部160可以在扇出线FOL的检查期间激活。例如，低电平的第1解复用控制信号CLA以及第2解复用控制信号CLB施加于第5开关SW21至第12开关SW28的栅极，第5开关SW21至第12开关SW28导通。
检查部150可以在扇出线FOL的检查期间激活。例如，低电平的第1检查控制信号MCD_GATE1施加于第1开关SW11以及第2开关SW12的栅极，第1开关SW11以及第2开关SW12导通。由此，第1扇出线FOL1和第2扇出线FOL2可以与数据电压线155连接。
由此，在与连接于第1扇出线FOL1的第1数据线DL1以及第2数据线DL2连接的子像素SP显示黑色，在与连接于第2扇出线FOL2的第3数据线DL3以及第4数据线DL4连接的子像素SP显示黑色，在与连接于第3扇出线FOL3的第5数据线DL5以及第6数据线DL6连接的子像素SP显示白色，在与连接于第4扇出线FOL4的第7数据线DL7以及第8数据线DL8连接的子像素SP显示白色。
另外，通过施加于第3点亮检查信号线179的第3点亮检查信号DC_G，在第6数据线DL6以及第8数据线DL8施加白色数据电压。由此，在进行不良检查时，可以调整连接于第6数据线DL6以及第8数据线DL8的子像素SP的亮度。由此，当相同层中相邻的第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3短路(Short)时，可以容易地判别在连接于第3扇出线FOL3的子像素SP产生的暗线，当相同层中相邻的第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4短路(Short)时，可以容易地判别在连接于第4扇出线FOL4的子像素SP产生的暗线。
参照图16，低电平的第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1施加于第15开关SW33以及第18开关SW36的栅极，第15开关SW33以及第18开关SW36导通。由此，第2数据线DL2以及第4数据线DL4可以与第3点亮检查信号线179连接。
低电平的第2检查控制信号MCD_GATE2施加于第3开关SW13以及第4开关SW14的栅极，第3开关SW13以及第4开关SW14导通。由此，第3扇出线FOL3和第4扇出线FOL4可以与数据电压线155连接。
由此，在与连接于第1扇出线FOL1的第1数据线DL1以及第2数据线DL2连接的子像素SP显示白色，在与连接于第2扇出线FOL2的第3数据线DL3以及第4数据线DL4连接的子像素SP显示白色，在与连接于第3扇出线FOL3的第5数据线DL5以及第6数据线DL6连接的子像素SP显示黑色，在与连接于第4扇出线FOL4的第7数据线DL7以及第8数据线DL8连接的子像素SP显示黑色。
另外，通过施加于第3点亮检查信号线179的第3点亮检查信号DC_G，在第2数据线DL2以及第4数据线DL4施加白色数据电压。由此，在进行不良检查时，可以调整连接于第2数据线DL2以及第4数据线DL4的子像素SP的亮度。由此，当相同层中相邻的第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3短路(Short)时，可以容易地判别在连接于第1扇出线FOL1的子像素SP产生的暗线，当相同层中相邻的第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4短路(Short)时，可以容易地判别在连接于第2扇出线FOL3的子像素SP产生的暗线。
参照图17，在裂纹检查期间，点亮电路部170_1可以非激活。例如，高电平的第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1以及第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2可以施加于第7a控制线175a以及第7b控制线175b。其余的裂纹检查的内容与图13相同，因此省略重复说明。
图18是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图，图19以及图20是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图，图21是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。图18至图21的实施例与图10至图13的实施例的区别点在于，省略了解复用部(图10的“160”)。省略与图10至图13的实施例重复的说明，以区别点为主进行说明。
参照图18，在子像素SP和布线焊盘DP1、DP2、DP3、DP4之间可以配置检查部150以及点亮电路部170。例示性地，可以是检查部150与子像素SP相邻配置，在检查部150和布线焊盘DP1、DP2、DP3、DP4之间配置点亮电路部170。
检查部150以及点亮电路部170的连接关系与图10相同，因此省略重复说明。
图18的实施例省略了图10的解复用部(图10的“160”)，扇出线FOL1、FOL2、FOL3、FOL4和数据线DL1、DL2、DL3、DL4一对一连接。例示性地，可以是第1扇出线FOL1使得第1布线焊盘DP1和第1数据线DL1连接，第2扇出线FOL2使得第2布线焊盘DP2和第2数据线DL2连接，第3扇出线FOL3使得第3布线焊盘DP3和第3数据线DL3连接，第4扇出线FOL4使得第4布线焊盘DP4和第4数据线DL4连接。
参照图19，可以在扇出线FOL的检查期间，低电平的第1检查控制信号MCD_GATE1施加于第1开关SW11以及第2开关SW12的栅极，第1开关SW11以及第2开关SW12导通，在第1扇出线FOL1和第2扇出线FOL2施加黑色数据电压VGH。
在扇出线FOL的检查期间，高电平的第2检查控制信号MCD_GATE2施加于第3开关SW13以及第4开关SW14的栅极，在第3扇出线FOL3和第4扇出线FOL4不施加黑色数据电压VGH。
由此，在与连接于第1扇出线FOL1的第1数据线DL1连接的子像素SP以及与连接于第2扇出线FOL2的第2数据线DL2连接的子像素SP显示黑色，在与连接于第3扇出线FOL3的第3数据线DL3连接的子像素SP以及与连接于第3扇出线FOL3的第4数据线DL4连接的子像素SP显示白色。
当第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3短路(Short)时，连接于第3扇出线FOL3的子像素SP显示黑色或者产生暗线，因此可以容易地判别第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3的短路与否。当第1扇出线FOL1断线(Open)时，连接于第1扇出线FOL1的子像素SP显示白色，因此可以容易地判别第1扇出线FOL1的断线与否。
当第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4短路(Short)时，连接于第4扇出线FOL4的子像素SP显示黑色或者产生暗线，因此可以容易地判别第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4的短路与否。当第2扇出线FOL2断线(Open)时，连接于第2扇出线FOL2的子像素SP显示白色，因此可以容易地判别第2扇出线FOL2的断线与否。
参照图20，可以在扇出线FOL的检查期间，低电平的第2检查控制信号MCD_GATE2施加于第3开关SW13以及第4开关SW14的栅极，第3开关SW13以及第4开关SW14导通，在第3扇出线FOL3和第4扇出线FOL4施加黑色数据电压VGH。
在扇出线FOL的检查期间，高电平的第1检查控制信号MCD_GATE1施加于第1开关SW11以及第2开关SW12的栅极，在第1扇出线FOL1和第2扇出线FOL2不施加黑色数据电压VGH。
由此，在与连接于第1扇出线FOL1的第1数据线DL1连接的子像素SP以及与连接于第2扇出线FOL2的第2数据线DL2连接的子像素SP显示白色，在与连接于第3扇出线FOL3的第3数据线DL3连接的子像素SP以及与连接于第4扇出线FOL4的第4数据线DL4连接的子像素SP显示黑色。
当第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3短路(Short)时，连接于第1扇出线FOL1的子像素SP显示黑色或者产生暗线，因此可以容易地判别第1扇出线FOL1和第3扇出线FOL3的短路与否。当第3扇出线FOL3断线(Open)时，连接于第3扇出线FOL1的子像素SP显示白色，因此可以容易地判别第3扇出线FOL3的断线与否
当第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4短路(Short)时，连接于第2扇出线FOL2的子像素SP显示黑色或者产生暗线，因此可以容易地判别第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4的短路与否。当第4扇出线FOL2断线(Open)时，连接于第4扇出线FOL4的子像素SP显示白色，因此可以容易地判别第4扇出线FOL2的断线与否。
参照图21，在裂纹检查期间，点亮电路部170可以非激活。例如，在点亮电路部可以施加高电平的点亮检查控制信号TEST_GATE_R/G/B和点亮检查信号DC_R/G/B。除解复用部(图10的“160”)被省略的点之外，裂纹检查的内容与图13相同，因此省略重复说明。
图22是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图，图23以及图24是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图，图25是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。图22至图25的实施例与图18至图21的实施例的区别点在于，点亮电路部170_1的第7控制线由第7a控制线175a和第7b控制线175b构成。省略与图18至图21的实施例重复的说明，以区别点为主进行说明。
参照图22至图24，在一些实施例中，点亮电路部170_1可以包括第5控制线171、第6控制线173、第7a控制线175a、第7b控制线175b、第1点亮检查信号线177、第2点亮检查信号线178、第3点亮检查信号线179以及开关。第5控制线171、第6控制线173、第7a控制线175a、第7b控制线175b、第1点亮检查信号线177、第2点亮检查信号线178、第3点亮检查信号线179可以向第1方向(X轴方向)延伸且向第2方向(Y轴方向)彼此隔开。
点亮电路部170_1的开关可以包括：连接于第1数据线DL1的第13开关SW31以及第14开关SW32；连接于第2数据线DL2的第15开关SW33；连接于第3数据线DL3的第16开关SW34以及第17开关SW35；连接于第4数据线DL4的第18开关SW36。
第13开关SW31、第14开关SW32、第16开关SW34、第17开关SW35的连接结构与图10的实施例相同，因此省略重复说明。
第15开关SW33可以是栅极连接于供应第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1的第7a控制线175a，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第2数据线DL2。第15开关SW33可以通过第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1来导通，使第3点亮检查信号线179和第2数据线DL2接通。
第18开关SW36可以是栅极连接于供应第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2的第7b控制线175b，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第4数据线DL4。第18开关SW36可以通过第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2来导通，使第3点亮检查信号线179和第4数据线DL4接通。
如此，可以是第15开关SW33通过第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1来导通，第18开关SW36通过3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2来导通。
将图22、图23以及图24一起参照来对扇出线FOL的检查进行说明，相同层的相邻扇出线之间(FOL1和FOL3、FOL2和FOL4等)的不良检测可以通过检查部150来执行。
点亮电路部170_1可以在扇出线FOL的检查期间激活。例如，低电平的第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1以及第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2可以施加于第7a控制线175a以及第7b控制线175b。
参照图23，在扇出线FOL的检查期间，低电平的第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2施加于第18开关SW36的栅极，第18开关SW36导通。由此，第4数据线DL4可以与第3点亮检查信号线179连接。
施加于第3点亮检查信号线179的第3点亮检查信号DC_G可以是白色数据电压。但是，并不限于此，也可以是能够与黑色数据电压区分的其它灰度级的数据电压。
可以在扇出线FOL的检查期间，低电平的第1检查控制信号MCD_GATE1施加于第1开关SW11以及第2开关SW12的栅极，第1开关SW11以及第2开关SW12导通，在第1扇出线FOL1和第2扇出线FOL2施加黑色数据电压VGH。
在扇出线FOL的检查期间，高电平的第2检查控制信号MCD_GATE2施加于第3开关SW13以及第4开关SW14的栅极，在第3扇出线FOL3和第4扇出线FOL4不施加黑色数据电压VGH。
由此，在与连接于第1扇出线FOL1的第1数据线DL1连接的子像素SP以及与连接于第2扇出线FOL2的第2数据线DL2连接的子像素SP显示黑色，在与连接于第3扇出线FOL3的第3数据线DL3连接的子像素SP以及与连接于第4扇出线FOL4的第4数据线DL4连接的子像素SP显示白色。
另外，通过施加于第3点亮检查信号线179的第3点亮检查信号DC_G，在第4数据线DL4施加白色数据电压。由此，在进行不良检查时，可以调整连接于第4数据线DL4的子像素SP的亮度。当相同层中相邻的第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4短路(Short)时，可以更加容易地判别在连接于第4扇出线FOL4的子像素SP产生的暗线。
参照图24，低电平的第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1施加于第15开关SW33的栅极，第15开关SW33导通。由此，第2数据线DL2可以与第3点亮检查信号线179连接。
可以在扇出线FOL的检查期间，低电平的第2检查控制信号MCD_GATE2施加于第3开关SW13以及第4开关SW14的栅极，第3开关SW13以及第4开关SW14导通，在第3扇出线FOL3和第4扇出线FOL4施加黑色数据电压VGH。
在扇出线FOL的检查期间，高电平的第1检查控制信号MCD_GATE1施加于第1开关SW11以及第2开关SW12的栅极，在第1扇出线FOL1和第2扇出线FOL2不施加黑色数据电压VGH。
由此，在与连接于第1扇出线FOL1的第1数据线DL1连接的子像素SP以及与连接于第2扇出线FOL2的第2数据线DL2连接的子像素SP显示白色，在与连接于第3扇出线FOL3的第3数据线DL3连接的子像素SP以及与连接于第4扇出线FOL4的第4数据线DL4连接的子像素SP显示黑色。
另外，通过施加于第3点亮检查信号线179的第3点亮检查信号DC_G，在第2数据线DL2施加白色数据电压。由此，在进行不良检查时，可以调整连接于第2数据线DL2的子像素SP的亮度。由此，当相同层中相邻的第2扇出线FOL2和第4扇出线FOL4短路(Short)时，可以更加容易地判别在连接于第2扇出线FOL2的子像素SP产生的暗线。
参照图25，在裂纹检查期间，点亮电路部170_1可以非激活。例如，高电平的第3_1点亮检查控制信号TEST_GATE_G1以及第3_2点亮检查控制信号TEST_GATE_G2可以施加于第7a控制线175a以及第7b控制线175b。其余的裂纹检查内容与图13相同，因此省略重复说明。
图26是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图，图27以及图28是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图，图29是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。图26至图29的实施例与图10至图13的实施例的区别点在于，子像素以条带形式配置且点亮电路部170_2由点亮检查控制线TGL构成。省略与图10至图13的实施例重复的说明，以区别点为主进行说明。
参照图26，在一些实施例中，子像素SP可以包括发出红色的光的红色子像素R、发出蓝色的光的蓝色子像素B以及发出绿色的光的绿色子像素G。红色子像素R、蓝色子像素B以及绿色子像素G可以是分别在不同列配置成一列的条带形式。例示性地，可以是红色子像素R配置于第1列，绿色子像素G配置于第2列，蓝色子像素B配置于第3列，第1列至第3列可以是向第1方向(X轴方向)重复的形式。在各列配置数据线DL。
在一些实施例中，可以是在配置有红色子像素R的第1列连接第1数据线DL1，在排列有绿色子像素G的第2列连接第2数据线DL2，在排列有蓝色子像素B的第3列连接第3数据线DL3，在排列有红色子像素R的第4列连接第4数据线DL4，在排列有绿色子像素G的第5列连接第5数据线DL5，在排列有蓝色子像素B的第6列连接第6数据线DL6，在排列有红色子像素R的第7列连接第7数据线DL7，在排列有绿色子像素G的第8列连接第8数据线DL8。
在本公开的实施例中，以子像素SP由红色子像素R、蓝色子像素B、绿色子像素G构成的情况进行说明，但是子像素SP也可以还包括红色、绿色以及蓝色之外的颜色。
在一些实施例中，点亮电路部170_2可以包括点亮检查控制线TGL、第1点亮检查信号线177、第2点亮检查信号线178、第3点亮检查信号线179以及开关。点亮检查控制线TGL、第1点亮检查信号线177、第2点亮检查信号线178、第3点亮检查信号线179可以向第1方向(X轴方向)延伸且向第2方向(Y轴方向)彼此隔开。
点亮电路部170_2的开关可以包括：连接于第1数据线DL1的第13开关SW31；连接于第2数据线DL2的第14开关SW32；连接于第3数据线DL3的第15开关SW33；连接于第4数据线DL4的第16开关SW34；连接于第5数据线DL5的第17开关SW35；连接于第6数据线DL6的第18开关SW36；连接于第7数据线DL7的第19开关SW37；连接于第8数据线DL8的第20开关SW28。
具体地，第13开关SW31可以是栅极连接于供应点亮检查控制信号TEST_GATE的点亮检查控制线TGL，第1端子连接于供应第1点亮检查信号DC_R的第1点亮检查信号线177，第2端子连接于第1数据线DL1。第13开关SW31可以通过点亮检查控制信号TEST_GATE来导通，使第1点亮检查信号线177和第1数据线DL1接通。
第14开关SW32可以是栅极连接于供应点亮检查控制信号TEST_GATE的点亮检查控制线TGL，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第2数据线DL2。第14开关SW32可以通过点亮检查控制信号TEST_GATE来导通，使第3点亮检查信号线179和第2数据线DL2接通。
第15开关SW33可以是栅极连接于供应点亮检查控制信号TEST_GATE的点亮检查控制线TGL，第1端子连接于供应第2点亮检查信号DC_B的第2点亮检查信号线178，第2端子连接于第3数据线DL3。第15开关SW33可以通过点亮检查控制信号TEST_GATE来导通，使第2点亮检查信号线178和第3数据线DL3接通。
第16开关SW34可以是栅极连接于供应点亮检查控制信号TEST_GATE的点亮检查控制线TGL，第1端子连接于供应第1点亮检查信号DC_R的第1点亮检查信号线177，第2端子连接于第4数据线DL4。第16开关SW34可以通过点亮检查控制信号TEST_GATE来导通，使第1点亮检查信号线177和第4数据线DL4接通。
第17开关SW35可以是栅极连接于供应点亮检查控制信号TEST_GATE的点亮检查控制线TGL，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第5数据线DL5。第17开关SW35可以通过点亮检查控制信号TEST_GATE来导通，使第3点亮检查信号线179和第5数据线DL5接通。
第18开关SW36可以是栅极连接于供应点亮检查控制信号TEST_GATE的点亮检查控制线TGL，第1端子连接于供应第2点亮检查信号DC_B的第2点亮检查信号线178，第2端子连接于第6数据线DL6。第18开关SW36可以通过点亮检查控制信号TEST_GATE来导通，使第2点亮检查信号线178和第6数据线DL6接通。
第19开关SW37可以是栅极连接于供应点亮检查控制信号TEST_GATE的点亮检查控制线TGL，第1端子连接于供应第1点亮检查信号DC_R的第1点亮检查信号线177，第2端子连接于第7数据线DL7。第19开关SW37可以通过点亮检查控制信号TEST_GATE来导通，使第1点亮检查信号线177和第7数据线DL7接通。
第20开关SW38可以是栅极连接于供应点亮检查控制信号TEST_GATE的点亮检查控制线TGL，第1端子连接于供应第3点亮检查信号DC_G的第3点亮检查信号线179，第2端子连接于第8数据线DL8。第20开关SW38可以通过点亮检查控制信号TEST_GATE来导通，使第3点亮检查信号线179和第8数据线DL8接通。
如此，当将子像素SP以条带形式配置时，具有简化点亮检查电路部170_2的构成的优点。解复用部160以及检查部150的构成与图10相同，因此省略重复说明。
参照图27至图29，点亮电路部170_2可以在扇出线FOL的检查期间以及裂纹检查期间非激活。例如，在点亮电路部170_2可以施加高电平的点亮检查控制信号TEST_GATE和点亮检查信号DC_R/G/B。关于扇出线FOL的检查以及裂纹检查的内容与图11至图13相同，因此省略重复说明。
图30是示出根据另一实施例的显示装置的电路结构的图，图31以及图32是用于说明根据另一实施例的显示装置中扇出线检查的时序图，图33是用于说明根据另一实施例的显示装置中裂纹检查的时序图。图30至图33的实施例与图26至图29的实施例的区别点在于，省略了解复用部(图26的“160”)。省略与图26至图29的实施例重复的说明，以区别点为主进行说明。
参照图30，在子像素SP和布线焊盘DP1、DP2、DP3、DP4之间可以配置检查部150以及点亮电路部170_2。例示性地，可以是检查部150与子像素SP相邻配置，在检查部150和布线焊盘DP1、DP2、DP3、DP4之间配置点亮电路部170_2。
检查部150以及点亮电路部170_2的连接关系与图26相同，因此省略重复说明。
图30的实施例省略了图26的解复用部(图26的“160”)，扇出线FOL、FOL2、FOL3、FOL4和数据线DL1、DL2、DL3、DL4一对一连接。例示性地，可以是第1扇出线FOL1使得第1布线焊盘DP1和第1数据线DL1连接，第2扇出线FOL2使得第2布线焊盘DP2和第2数据线DL2连接，第3扇出线FOL3使得第3布线焊盘DP3和第3数据线DL3连接，第4扇出线FOL4使得第4布线焊盘DP4和第4数据线DL4连接。
参照图31至图33，点亮电路部170_2可以在扇出线FOL的检查期间以及裂纹检查期间非激活。例如，在点亮电路部170_2可以施加高电平的点亮检查控制信号TEST_GATE和点亮检查信号DC_R/G/B。关于扇出线FOL的检查以及裂纹检查的内容与图19至图21相同，因此省略重复说明。
如此，根据本实施例，可以通过一个检查部150来执行扇出线FOL的不良检查以及显示面板100的裂纹检查。由此，无需分别配置用于扇出线FOL的不良检查以及显示面板100的裂纹检查的电路部，因此可以有效减少显示装置10的无效区。
以上，参照所附附图来说明了本公开的实施例，但能够理解本公开所属技术领域中具有一般知识的人在不改变本公开的其技术构思或必要特征的情况下可以以其它具体形式实施。因此，应当理解为以上叙述的实施例在所有方面是示例性的而不是限定性的。

Claims (20)

1.一种显示装置，其中，包括：
子像素，配置于显示区域，并沿第1列、第2列、第3列、第4列、第5列、第6列、第7列以及第8列排列；
第1布线焊盘、第2布线焊盘、第3布线焊盘以及第4布线焊盘，配置于非显示区域，并且配置于所述显示区域的一侧，所述非显示区域是所述显示区域的周边区域；
裂纹感测线，配置于所述非显示区域；
第1扇出线、第2扇出线、第3扇出线以及第4扇出线，连接沿所述第1列至所述第8列排列的子像素和所述第1布线焊盘至所述第4布线焊盘；以及
检查部，配置于所述第1布线焊盘至所述第4布线焊盘和所述显示区域之间，并且与所述裂纹感测线以及所述第1扇出线至所述第4扇出线电连接，
所述检查部构成为将测试电压施加于所述第1扇出线至所述第4扇出线而检查所述第1扇出线至所述第4扇出线的短路及断线，并将测试电压施加于所述裂纹感测线而检查所述裂纹感测线的损伤。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，
所述第1扇出线以及所述第3扇出线配置于相同层，所述第2扇出线以及所述第4扇出线配置于相同层，并且所述第1扇出线以及所述第3扇出线和所述第2扇出线以及所述第4扇出线配置于彼此不同层。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其中，
所述检查部包括：第1开关、第2开关、第3开关以及第4开关；第1控制线，将第1检查控制信号供应于所述第1开关以及所述第2开关各自的栅极；第2控制线，将第2检查控制信号供应于所述第3开关以及所述第4开关各自的栅极；以及数据电压线，将测试电压供应于所述第1开关至所述第4开关各自的第1端子。
4.根据权利要求3所述的显示装置，其中，
所述第1开关的第2端子与所述第1扇出线连接，所述第2开关的第2端子与所述第2扇出线连接，所述第3开关的第2端子与所述第3扇出线连接，所述第4开关的第2端子与所述第4扇出线连接。
5.根据权利要求4所述的显示装置，其中，
所述显示装置还包括：第1数据线，与沿所述第1列排列的子像素连接；第2数据线，与沿所述第2列排列的子像素连接；第3数据线，与沿所述第3列排列的子像素连接；第4数据线，与沿所述第4列排列的子像素连接；第5数据线，与沿所述第5列排列的子像素连接；第6数据线，与沿所述第6列排列的子像素连接；第7数据线，与沿所述第7列排列的子像素连接；以及第8数据线，与沿所述第8列排列的子像素连接，
所述显示装置还包括：解复用部，配置于所述非显示区域，并且位于所述显示区域和所述检查部之间，
所述第1数据线以及所述第2数据线通过所述解复用部与所述第1扇出线连接，所述第3数据线以及所述第4数据线通过所述解复用部与所述第2扇出线连接，所述第5数据线以及所述第6数据线通过所述解复用部与所述第3扇出线连接，所述第7数据线以及所述第8数据线通过所述解复用部与所述第4扇出线连接。
6.根据权利要求5所述的显示装置，其中，
所述解复用部包括：第5开关、第6开关、第7开关、第8开关、第9开关、第10开关、第11开关以及第12开关；第3控制线，将第1解复用控制信号供应于所述第5开关、所述第7开关、所述第9开关以及所述第11开关各自的栅极；以及第4控制线，将第2解复用控制信号供应于所述第6开关、所述第8开关、所述第10开关以及所述第12开关各自的栅极。
7.根据权利要求6所述的显示装置，其中，
所述第5开关以及所述第6开关的第1端子与所述第1扇出线连接，所述第7开关以及所述第8开关的第1端子与所述第2扇出线连接，所述第9开关以及所述第10开关的第1端子与所述第3扇出线连接，所述第11开关以及所述第12开关的第1端子与所述第4扇出线连接。
8.根据权利要求7所述的显示装置，其中，
所述第5开关的第2端子与所述第1数据线连接，所述第6开关的第2端子与所述第2数据线连接，所述第7开关的第2端子与所述第3数据线连接，所述第8开关的第2端子与所述第4数据线连接，所述第9开关的第2端子与所述第5数据线连接，所述第10开关的第2端子与所述第6数据线连接，所述第11开关的第2端子与所述第7数据线连接，所述第12开关的第2端子与所述第8数据线连接。
9.根据权利要求8所述的显示装置，其中，
所述显示装置还包括：点亮电路部，配置于所述显示区域和所述解复用部之间。
10.根据权利要求9所述的显示装置，其中，
所述点亮电路部还包括：点亮检查信号线，将白色数据电压供应于所述第2数据线、所述第4数据线、所述第6数据线以及所述第8数据线。
11.根据权利要求1所述的显示装置，其中，
所述测试电压是黑色数据电压。
12.根据权利要求1所述的显示装置，其中，
所述子像素包括：
红色子像素以及蓝色子像素，交替排列于所述第1列、所述第3列、所述第5列以及所述第7列；以及
绿色子像素，排列于所述第1列和所述第3列之间的所述第2列、所述第3列和所述第5列之间的所述第4列、所述第5列和所述第7列之间的所述第6列以及在所述第7列外侧配置的所述第8列，
在所述第3列以及所述第7列，以与所述第1列以及所述第5列相反的顺序交替排列所述红色子像素以及所述蓝色子像素。
13.根据权利要求4所述的显示装置，其中，
所述第1开关至所述第4开关由晶体管构成，并且所述栅极是栅极电极，所述第1端子是漏极电极，所述第2端子是源极电极。
14.一种显示装置，其中，包括：
子像素，配置于显示区域；
显示驱动电路，配置于非显示区域，并且位于所述显示区域的下侧，所述非显示区域是所述显示区域的周边区域；
裂纹感测线，配置于所述非显示区域；
扇出线，连接所述子像素和所述显示驱动电路；以及
检查部，配置于所述显示区域和所述显示驱动电路之间，并且与所述显示驱动电路相邻设置，与所述裂纹感测线和所述扇出线电连接，
所述检查部构成为将测试电压施加于所述扇出线而检查所述扇出线的短路及断线，并将测试电压施加于所述裂纹感测线而检查所述裂纹感测线的损伤。
15.根据权利要求14所述的显示装置，其中，
所述显示装置还包括：布线焊盘，与所述扇出线电连接，
所述显示驱动电路包括凸块以及驱动集成电路，所述驱动集成电路通过凸块与所述布线焊盘接通。
16.根据权利要求15所述的显示装置，其中，
所述显示装置还包括：显示焊盘，配置于所述显示驱动电路的外侧，并附着电路板。
17.根据权利要求16所述的显示装置，其中，
所述显示装置还包括：点亮电路部，配置于所述显示区域和所述检查部之间，并且与所述显示区域相邻设置。
18.根据权利要求17所述的显示装置，其中，
所述显示装置还包括：第1数据线、第2数据线、第3数据线以及第4数据线，与所述子像素连接，
所述扇出线包括第1扇出线、第2扇出线、第3扇出线以及第4扇出线，所述第1数据线与所述第1扇出线连接，所述第2数据线与所述第2扇出线连接，所述第3数据线与所述第3扇出线连接，所述第4数据线与所述第4扇出线连接。
19.根据权利要求18所述的显示装置，其中，
所述子像素是沿多个列排列并在相同列配置相同颜色的子像素的条带形式。
20.一种显示装置的检查方法，所述显示装置包括：子像素，配置于显示区域；显示驱动电路，配置于非显示区域，并且位于所述显示区域的下侧，所述非显示区域是所述显示区域的周边区域；裂纹感测线，配置于所述非显示区域；扇出线，连接所述子像素和所述显示驱动电路；以及检查部，配置于所述显示区域和所述显示驱动电路之间，并且与所述显示驱动电路相邻设置，与所述裂纹感测线和所述扇出线电连接，其中，
所述检查部包括：
将测试电压施加于所述扇出线而检查所述扇出线的短路及断线的步骤；以及
将测试电压施加于所述裂纹感测线而检查所述裂纹感测线的损伤的步骤。
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