CN111383565B - Mura校正系统 - Google Patents

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Abstract

一种Mura校正系统，其对通过拍摄显示面板而获得的检测图像中的Mura进行检测和校正。Mura校正系统通过基于亮度值检查通过拍摄显示在显示面板上的测试图像而获得的检测图像来检测Mura块，生成Mura校正方程式的系数的系数值，并生成包括Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据。

Description

Mura校正系统
技术领域
多种实施方式总体上涉及Mura校正系统，并且更具体地，涉及在通过拍摄显示面板而获得的检测图像中检测Mura并校正Mura缺陷的Mura校正系统。
背景技术
近来，LCD面板和OLED面板已被广泛用作显示面板。
由于制造过程中的误差等，可能在显示面板中出现亮度不均匀(Mura)。Mura表示显示图像在像素或某个区域处具有斑点形式的不均匀亮度。出现Mura的缺陷称为Mura缺陷。
需要对Mura缺陷进行检测和校正，以允许显示面板具有改善的图像质量。
发明内容
各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其基于检测图像中的亮度值来检测Mura块，并生成待应用于二次Mura校正方程式的Mura校正数据以对Mura块的亮度值进行校正，其中，所述检测图像通过检测显示在显示面板上的测试图像而获得。
此外，各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其生成Mura块的位置值和二次Mura校正方程式的系数的系数值作为Mura校正数据，以对Mura块的亮度值进行校正；并且通过将能够改变Mura块的亮度表示范围的适应性范围应用于Mura校正方程式的系数，而使Mura块的每个灰度级的Mura测量值和Mura校正值的总和最大程度地近似于显示面板的平均像素亮度值。
另外，各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其基于检测图像中的亮度值来检测块中的Mura像素，并且生成待应用于二次Mura像素校正方程式的Mura像素校正数据以对Mura像素的亮度值进行校正，其中，所述检测图像是通过检测显示在显示面板上的测试图像而获得的。
此外，各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其生成Mura像素的位置值和二次Mura像素校正方程式的系数的系数值作为Mura像素校正数据，以对Mura像素的亮度值进行校正，并通过将能够改变Mura像素的亮度表示范围的适应性范围应用于Mura像素校正方程式的系数，而使Mura像素的每个灰度级的像素测量值与像素校正值的总和最大化地近似于平均像素亮度值。
在一个实施方式中，Mura校正系统可以包括测试图像供应单元、图像检测单元和Mura校正装置，其中：测试图像供应单元配置成将灰度级的测试图像提供给显示面板；图像检测单元配置成提供检测图像，所述检测图像是通过拍摄显示在显示面板上的测试图像而获得的；Mura校正装置配置成：通过基于亮度值以包括多个像素的块单元的形式检查每个检测图像来检测具有Mura的Mura块，生成Mura校正方程式(其是二次方程式)的系数的系数值用于将Mura块的每个灰度级的测量值校正成显示面板的平均像素亮度值，将Mura校正方程式的系数之中的第一系数设置成包括能够改变Mura块的亮度表示范围以使得针对Mura块的Mura测量值与Mura校正值之和近似于平均像素亮度值的适应性范围比特，以及生成包括Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据。
在实施方式中，Mura校正系统可以包括Mura校正装置，所述Mura校正装置配置成接收与显示面板的每个灰度级的测试图像对应的检测图像，并生成用于Mura块的Mura校正数据。
Mura校正装置可以包括Mura块检测器、第一系数生成器、存储器与输出电路，其中：Mura块检测器配置成通过基于亮度值以包括多个像素的块单元的形式检查每个检测图像来检测具有Mura的Mura块；第一系数生成器配置成生成Mura校正方程式(其是二次方程式)的系数的系数值用于将Mura块的每个灰度级的测量值校正成显示面板的平均像素亮度值，并且第一系数生成器配置成将Mura校正方程式的系数之中的第一系数设置成包括能够改变Mura块的亮度表示范围以使得针对Mura块的Mura测量值与Mura校正值之和近似于平均像素亮度值的适应性范围比特；存储器配置成存储包括Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据；输出电路配置成将Mura校正数据输出到用于驱动显示面板的驱动器。
根据本公开的实施方式，Mura校正系统可以检测显示面板的Mura块和块中的Mura像素，并且可以生成二次Mura校正方程式的系数的系数值以对Mura块的亮度值进行校正，并且生成二次Mura像素校正方程式的系数的系数值以对Mura像素的亮度值进行校正。
根据本公开的实施方式，可以生成Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值作为Mura校正数据，并且可以生成Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式的系数的系数值作为Mura像素校正数据。在Mura块或Mura像素的每个灰度级的亮度值出现很大变化的情况下，可以将能够改变Mura块和Mura像素中的每个的亮度表示范围的适应性范围应用于Mura校正方程式和Mura像素校正方程式中的每个的系数。
根据本公开的实施方式，由于生成了待提供给对显示面板进行驱动的驱动器的Mura校正数据和Mura像素校正数据，以使其即使在Mura块或Mura像素的亮度值出现很大变化的情况下也能够被应用于Mura校正，因此能够改善显示面板的图像质量。
附图说明
图1是示出根据本公开的实施方式的Mura校正系统的示例的表示的框图。
图2A和图2B是示出测试图像的示例的表示的图。
图3是示出图1的Mura校正装置的示例的表示的框图。
图4是示出与用于相应灰度级的测试图像对应的检测图像的示例的表示的图。
图5是用于帮助对分析检测图像中的Mura块的方法进行说明的图的示例的表示。
图6是示出每个灰度级的Mura块的测量值、Mura校正值和显示面板的平均像素亮度值之间的关系的示例的表示的图。
图7是示出通过应用适应性范围来存储Mura校正方程式的系数值的存储器映射的示例的表示的图。
图8是示出存储普通系数值的存储器映射的示例的表示的图。
图9是用于帮助对用于通过改变Mura块的亮度值的表示范围来获得实际所需系数的方法进行说明的图的示例的表示。
图10是用于帮助对用于检测块中的Mura像素的方法进行说明的图的示例的表示。
具体实施方式
在下文中，将参照附图详细描述本公开的实施方式。本文和权利要求书中使用的术语不应解释为受限于一般含义或词典含义，而是应基于与本公开的技术方面对应的含义和概念来解释。
本文中描述的实施方式和在附图中示出的配置是本公开的优选实施方式，但是并不代表本公开的所有技术特征。因此，在提交本申请时可以存在能够对本公开作出的多种等同和修改。
由于制造过程中的误差等，在显示图像的像素中会出现具有斑点形式的Mura。显示面板的Mura缺陷可以通过精确地检测在显示面板上显示的测试图像、分析检测图像中的Mura并对Mura进行校正作为分析Mura的结果来解决。
为此，根据本公开的实施方式的Mura校正系统可以如图1所示。
参照图1，Mura校正系统包括：测试图像供应单元20，其将每个灰度级的测试图像提供给显示面板10；图像检测单元30，其拍摄显示在显示面板10上的测试图像并提供拍摄的检测图像；相机校准单元40，其分析检测图像，并且从而提供用于允许图像检测单元30获得精确的检测图像的校准信息；以及Mura校正装置100，其对检测图像执行Mura分析，并生成与Mura分析对应的Mura校正数据。Mura校正装置100配置成将Mura校正数据提供给驱动器200。
在以上配置中，显示面板10可以使用LCD面板或OLED面板。
测试图像供应单元20可以提供如图2A和图2B所示的测试图像。图2A示出以矩阵结构形成小的方形白色图案，并且图2B示出以矩阵结构形成大的方形黑色图案。
与图2A和图2B不同，可以根据显示面板10的尺寸或形状来不同地应用测试图像。即，在测试图像中，图案的形状、尺寸、排列状态或数量可以根据显示面板10的尺寸或形状来确定。另外，不仅可以应用四边形形状而且可以应用与之不同的形状作为包括在测试图像中的图案的形状，并且四边形形状和所述不同形状可以单独地或组合地形成。
测试图像供应单元20可以分开提供用于校准图像检测单元30的拍摄状态的测试图像和用于分析显示面板10的Mura的测试图像。用于校准图像检测单元30的拍摄状态的测试图像可以配置成具有易于对图像的尺寸、旋转和畸变进行分析的图案，并且用于分析显示面板10的Mura的测试图像可以配置成容易获取到显示面板10的每个灰度级的像素亮度值。在本公开的实施方式的描述中，这两种情况都将统称为测试图像。
显示面板10可以接收测试图像(即，从测试图像供应单元20供应的测试图像数据)，可以根据测试图像数据来驱动以矩阵形式布置的像素，并且可以通过像素的驱动来显示测试图像。
图像检测单元30可以理解为使用图像传感器的相机，并且其通过拍摄显示在显示面板10上的测试图像来获得检测图像以对Mura进行分析。可以根据显示面板10的形状或尺寸来不同地设置图像检测单元30的拍摄状态。图像检测单元30可以将拍摄的检测图像(即，检测图像数据)提供给相机校准单元40和Mura校正装置100。可以以与可以被相机校准单元40和Mura校正装置100接收的多种协议对应的格式来发送表示检测图像的检测图像数据。在下面的描述中，检测图像可以被理解为检测图像数据。
相机校准单元40可以配置成：在单独的显示装置(未示出)上显示校准信息，或将校准信息反馈回图像检测单元30，其中，所述校准信息用于根据对通过拍摄图2A或图2B所示的测试图像而获得的检测图像进行分析的结果来对拍摄状态进行校准。
在相机校准单元40在单独的显示装置上显示校准信息的情况下，用户可以检查校准信息并手动校准图像检测单元30的拍摄状态。在图像检测单元30配置成能够通过参考反馈回的校准信息来自动校准拍摄状态的情况下，可以在相机校准单元40将校准信息反馈给图像检测单元30时，自动实施拍摄状态的校准。
Mura分析使用由图像检测单元30拍摄的检测图像。因此，图像检测单元30的拍摄状态的设置可能对Mura分析结果产生实质性影响。
根据本公开的实施方式，通过使用相机校准单元40客观地确定出检测图像没有保持测试图像的原始值并且具有尺寸变化、旋转或畸变的情况，可以对图像检测单元30的拍摄状态进行校准，并且通过校准，可以减少可能因图像检测单元30而出现的误差。
Mura校正装置100从图像检测单元30接收检测图像，并对检测图像执行Mura分析并生成Mura校正数据。
Mura校正装置100可以例示为如图3所示的那样。在图3中，检测图像由V_DATA表示，并且Mura校正数据由C_DATA表示。
Mura校正装置100包括对检测图像V_DATA执行预处理操作的图像接收单元110和噪声衰减滤波器120，并且包括用于对经预处理的检测图像V_DATA进行Mura校正的Mura校正单元130。
图像接收单元110是用于接收从外部图像检测单元30发送的检测图像V_DATA并将所接收的检测图像V_DATA发送到噪声衰减滤波器120的接口部分。
噪声衰减滤波器120用于对检测图像V_DATA的噪声进行滤波。
从图像检测单元30提供的检测图像V_DATA由于图像传感器的电特性而具有噪声。噪声可能会成为在Mura分析中增加误差偏差的因素。
因此，应从检测图像V_DATA中对由于图像传感器的电特性引起的噪声进行滤波。为此，可以使用低通滤波器来配置噪声衰减滤波器120。低通滤波器可以理解为通常指定的高斯滤波器、均值滤波器、中值滤波器等。
检测图像V_DATA在经过图像接收单元110和噪声衰减滤波器120以进行预处理之后，被输入到Mura校正单元130。
Mura校正单元130接收其中的噪声被噪声衰减滤波器120衰减的检测图像V_DATA，并且通过确定每个检测图像V_DATA在包括多个像素的块单元中的亮度值，来检测具有Mura的Mura块。Mura校正单元130生成Mura校正方程式(其是二次方程式)系数的系数值，用于将Mura块的每个灰度级的测量值校正成显示面板10的平均像素亮度值。
Mura校正单元130将Mura校正方程式的系数之中的第一系数(例如，最高阶的系数)设置成包括能够改变Mura块的亮度表示范围的适应性范围比特。适应性范围比特用于将第一系数的系数值设置成使得Mura块的Mura测量值和Mura校正值之和近似于平均像素亮度值。Mura校正单元130生成Mura校正数据，其包括Mura块的位置值和Mura校正方程式系数的系数值。
为此，Mura校正单元130包括Mura块检测器140、系数生成器142、Mura像素检测器150、系数生成器152、存储器160和输出电路170。
Mura块检测器140接收其中的噪声被噪声衰减滤波器120衰减的检测图像V_DATA，并通过确定每个检测图像V_DATA在包括多个像素的块单元中的亮度值，来检测具有Mura的Mura块。
例如，可以从图像检测单元30以具有不同灰度值的帧单元A、B、C...D(如图4所示)提供检测图像V_DATA，并且Mura块检测器140针对每个帧单元在块单元中检测Mura块。图4可以理解为将18个灰度级、48个灰度级、100个灰度级和150个灰度级的帧表示为检测图像V_DATA。
例如，如图5所示，可以将每个帧的检测图像V_DATA划分成以矩阵形式排列的多个块，并且每个块包括以矩阵的形式排列的多个像素。在图5中，附图标记B11、B12...B23分别表示相应的块，并且附图标记P11、P12...P44分别表示相应的像素。
可以在图5的块单元中确定Mura块。Mura块可以基于显示面板10的检测图像V_DATA的每个灰度级的平均亮度值来确定。例如，块可以具有通过包括在所述块中的像素的亮度进行计算的平均亮度值。在块之中，可以将其平均亮度值相对于显示面板10的每个灰度级的平均亮度值偏离标准偏差至少预定水平的块确定为Mura块。
Mura块检测器140生成被确定为Mura块的块的位置值。例如，可以将Mura块的位置值指定为包括在Mura块中的像素中的特定一个像素的位置值。更具体地，当图5的块B23是Mura块并且块B23的像素P11的坐标是(5，9)时，Mura块的位置值可以被指定为(5，9)。
Mura块检测器140将包括Mura块的位置值的数据以及该块的检测图像V_DATA输出到系数生成器142，并且将用于检测图像V_DATA的块的信息(所述信息包括位置信息和检测图像V_DATA)输出到Mura像素检测器150。
系数生成器142生成Mura校正方程式(其是二次方程式)系数的系数值，用于将Mura块的每个灰度级的测量值校正为显示面板10的每个灰度级的平均像素亮度值，并且将Mura块的位置值和Mura校正方程式系数的系数值存储在存储器160中。将Mura块的位置值和Mura校正方程式系数的系数值存储在存储器160中以与彼此结合，并且可以限定为Mura校正数据。
在本公开的实施方式中，在驱动器200中执行用于Mura块的Mura校正。为了进行Mura校正，需要能够精确表示Mura块的每个灰度级的亮度值的近似方程式(即，Mura校正方程式)。在确定了Mura校正方程式的情况下，只要确定出每个灰度级的Mura校正方程式系数的系数值，则可以精确地执行Mura校正。
在本公开的实施方式中，Mura校正装置100可以生成用于对Mura块进行Mura校正的Mura校正方程式的系数值，作为Mura校正数据。驱动器200可以具有根据Mura校正方程式执行计算的算法，并且可以通过将输入数据(显示数据)应用于将从Mura校正装置100提供的系数值应用到其中的Mura校正方程式，来向显示面板10提供能够相应于显示数据显示具有改善的图像质量的屏幕的驱动信号。
本公开实施成使用二次Mura校正方程式，以将每个灰度级的Mura块的亮度值最大程度地近似于显示面板10的平均像素亮度值。因此，Mura校正装置100生成Mura校正方程式(其是二次方程式)系数的系数值，并且驱动器200将系数的系数值应用于Mura校正方程式，通过Mura校正方程式校正输入值(显示数据)，并输出与经校正的显示数据对应的驱动信号。
下文中将参考图6描述Mura校正方程式。在图6中，曲线CM表示显示面板10的每个灰度级的平均像素亮度值，曲线CA表示每个灰度级的Mura校正值，并且曲线CB表示每个灰度级的Mura测量值。
【方程式1】
Y＝aX2+bX+c+X
在方程式1中，每个灰度级的Mura校正值表示为aX2+bX+c，每个灰度级的Mura测量值表示为X，并且显示面板10的每个灰度级的平均像素亮度值表示为Y。在方程式1中，X是每个灰度级的Mura测量值(即，灰度级的灰度值)，并且Mura校正方程式的各阶系数表示为a、b和c。
在本公开的实施方式中，可以使用如图7所示的存储器映射来存储Mura校正方程式的各阶的系数值。可以由存储器映射在存储容量范围内设置Mura校正方程式的系数。
在一般情况下，Mura校正方程式的各阶的系数值可以设置为例如由8比特表示，并且可以使用如图8所示的存储器映射进行存储。在图8中，PGA指的是表示系数a的系数值的比特，PGB指的是表示系数b的系数值的比特，并且PGC指的是表示系数c的系数值的比特。
如果Mura块的每个灰度级的亮度值没有显著变化，则通过图8中所示的8比特可以充分表示系数a、b和c的系数值。然而，如果Mura块的每个灰度级的亮度值的变化是很大的，则难以通过8比特来充分表示系数a、b和c的系数值。
为了解决这个问题，本公开的实施方式可以配置成通过应用适应性范围来设置系数中的至少一个指定系数。例如，为了解决图8的上述问题，本公开的实施方式配置成通过应用如图7所示的适应性范围来设置系数之中的最高阶的系数a。
参照图7，系数之中的最高阶的系数a设置成包括适应性范围比特AR和基础范围比特GA，并且其余系数b和c设置成包括基础范围比特GB和GC。系数a、b和c的基础范围比特GA、GB和GC可以设置成具有相同的比特数。适应性范围比特AR被示例为3比特，而基础范围比特GA、GB和GC被示例为7比特。
另一方面，各个系数的基础范围比特GA、GB和GC可以设置成具有不同比特数。换言之，系数a的基础范围比特GA的数量可以设置成m1，系数b的基础范围比特GB的数量可以设置成m2，系数a的基础范围比特GC的数量可以设置成m3，并且适应性范围比特AR的数量可以设置成n。这里，m1、m2、m3和n是自然数。
即，存储器映射的总容量是m1+m2+m3+n比特。在总容量中，可以指定除了被指定给系数a的m1+n比特之外的其余比特，以表示系数b和系数c的基础范围比特GB和GC。例如，可以将系数a设置成具有2比特(n＝2)的适应性范围比特AR和7比特(m1＝7)的基础范围比特GA，可以将系数b设置成具有7比特(m2＝7)的基础范围比特GB，并且可以将系数c设置成具有8比特(m3＝8)的基础范围比特GC。
上述的适应性范围比特AR将改变Mura块的亮度表示范围，以使得Mura块的Mura测量值和Mura校正值之和近似于平均像素亮度值。通过适应性范围比特AR的值的变化而确定的Mura块的亮度表示范围包括分辨率和亮度值范围。即，适应性范围比特AR的变化改变了Mura块的亮度表示范围、分辨率和亮度值范围。
在本公开的实施方式中，可以通过改变适应性范围比特AR来改变系数a。换言之，在Mura块的亮度值的变化很大并且因此Mura校正方程式的值不能通过设置系数a、b和c的基础范围比特来达到显示面板10的平均像素亮度值的情况下，可以通过改变适应性范围比特AR来改变系数a的系数值。通过设置适应性范围比特AR，系数a可以具有最接近于Mura块的亮度表示范围中的实际所需系数值的系数值。
下面将参照图9描述对根据本公开的实施方式的Mura校正方程式的对其应用适应性范围的系数a进行设置的方法。
系数a由适应性范围比特AR和基础范围比特GA表示。在适应性范围比特AR是3比特的情况下，系数a可以具有与8个级的表示范围(诸如，Range0至Range7)对应的值。
图9示出了Mura块的亮度表示范围改变成Range0、Range1和Range2，其中Mura块的亮度表示范围在Range0中最窄，并且在Range2中最宽。
随着适应性范围比特AR的值更高，Mura块的亮度表示范围变得更宽。即，Mura块的亮度值范围变宽，并且Mura块的分辨率变低。
表1示出了系数a的适应性范围比特AR的用于表示256个灰度级的变化。
【表1】
AR -MAX～+MAX 亮度值范围 分辨率
0 -2-8～2-8 2×2-8 (2×2-8)/256
1 -2-9～2-9 2×2-9 (2×2-9)/256
2 -2-10～2-10 2×2-10 (2×2-10)/256
在表1中，在系数a的适应性范围比特AR是3比特的情况下，适应性范围比特AR的值(000)2表示为0，并且与图9的Range0对应；适应性范围比特AR的值(001)2表示为1，并且与图9的Range1对应；以及适应性范围比特AR的值(010)2表示为2，并且与图9的Range2对应。
如表1所示，当适应性范围比特AR的值改变时，Range0、Range1和Range2的表示范围、亮度值范围和分辨率随着适应性范围比特AR的值变得更高而改变。
在上文中，Range0与可以由系数a的基础范围比特GA表示的最大值对应。
如图9所示，在将系数a设置成表示范围Range0并且近似于平均像素亮度值实际所需的系数值REF与表示范围Range0有所偏离的情况下，出现误差F1。
为了消除误差F1，在本公开的实施方式中，可以改变适应性范围比特AR的值。
在适应性范围比特AR的值为2的情况下，可以由实际所需的系数值REF表示的平均像素亮度值被包括在表示范围Range2中。然而，在可以由实际所需的系数值REF表示的平均像素亮度值与可以由表示范围Range2的灰度值表示的值之中最接近的值之间，出现误差F2。
在适应性范围比特AR的值为1的情况下，可以由实际所需的系数值REF表示的平均像素亮度值被包括在表示范围Range1中。可以由实际所需的系数值REF表示的平均像素亮度值与表示范围Range1的最大值+MAX对应。
根据本公开的实施方式，在以上所描述的图9和表1的情况下，可以将适应性范围比特AR的值设置成1，并且系数a的系数值可以通过将与1对应的适应性范围比特AR的值与基础范围比特GA的最大值相结合而获得。
在本公开的实施方式中，可以如以上参考图9和表1描述的方法中那样设置Mura校正方程式的系数a。
在与适应性范围比特AR的变化对应的表示范围中不存在与所需的系数值REF完全对应的值的情况下，系数a的系数值可以通过将与在其中存在最接近值的表示范围对应的适应性范围比特AR的值与基础范围比特GA的最大值相结合而获得。
如上所述，系数生成器142首先通过使用基础范围比特GA、GB和GC来确定Mura校正方程式的系数a、b和c的系数值。在显示面板10的每个灰度级的平均像素亮度值与通过Mura校正方程式得到的值范围偏离的情况下，将最高阶的系数a的适应性范围比特AR设置成使得实际所需的系数值REF具有最接近平均像素亮度值的值。
当如上所述生成用于Mura块的Mura校正方程式的系数的系数值时，系数生成器142将Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值存储在存储器160中，作为Mura校正数据。Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值以查找表的形式存储在存储器160中。Mura块的位置值被用作索引。Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值与彼此结合，使得可以从Mura块的位置值读取Mura校正方程式的系数的系数值。
如上所述，在Mura校正单元130中，Mura块检测器140检测到Mura块，并且由此生成Mura块的位置值，并且系数生成器142生成Mura校正方程式的系数的系数值。
此后，Mura块检测器140可以以帧单元或块单元的形式将检测图像V_DATA输出到Mura像素检测器150。Mura块检测器140将用于普通块和Mura块的检测图像V_DATA的块的信息(所述信息包括位置信息和检测图像V_DATA)输出到Mura像素检测器150。
Mura像素是指具有缺陷并且表示由于制造过程中的误差等而出现的具有像素尺寸的点状Mura的像素。
Mura像素可以在检测图像V_DATA的块单元中进行确定。可以基于显示面板10的平均像素亮度值和相邻像素的亮度值来检测Mura像素。
更具体地，在Mura像素(诸如白点Mura、黑点Mura和黑白点Mura)的亮度值等于或大于基于平均像素亮度值、基于相邻像素的亮度值或者基于平均像素亮度值和相邻像素的亮度值两者设置的参考值的情况下，将相应像素检测为Mura像素。
例如，如图10所示，块B23包括以矩阵形式排列的多个像素。
在图10的块B23中，可以将具有等于或大于参考值的亮度值的像素确定为Mura像素。图10示出了将像素P33确定为Mura像素。
Mura像素检测器150生成Mura像素的位置值。在图10中，在像素P11的坐标是(5，9)的情况下，可以生成Mura像素P33的坐标(7，11)作为位置值。
Mura像素检测器150可以将包括Mura像素的位置值和针对该Mura像素的检测图像V_DATA的数据输出到系数生成器152，并且可以将从Mura块检测器140传送的Mura块位置值以及自生成的Mura像素位置值输出到输出电路170。
系数生成器152生成Mura像素校正方程式(其是二次方程式)系数的系数值用于将Mura像素的每个灰度级的测量值校正成平均像素亮度值，生成包括Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式系数的系数值的Mura像素校正数据，并且将Mura像素校正数据输出到存储器160。
在本公开的实施方式中，在驱动器200中执行针对Mura像素的Mura校正。以与用于Mura块的Mura校正相同的方式，针对Mura像素的Mura校正需要能够精确表示Mura像素的每个灰度级的亮度值的近似方程式，即Mura像素校正方程式。在确定出Mura像素校正方程式的情况下，只要确定出每个灰度级的Mura像素校正方程式的系数的系数值，便可以精确地执行针对Mura像素的Mura校正。
在本公开的实施方式中，Mura校正装置100可以生成用于Mura像素的Mura校正的Mura像素校正方程式的系数值，作为Mura像素校正数据。驱动器200可以具有根据Mura像素校正方程式执行计算的算法，并且可以通过将输入数据(显示数据)应用于将从Mura校正装置100提供的系数值应用到其中的Mura像素校正方程式，来向显示面板10提供能够显示具有改善的图像质量的Mura像素的驱动信号。
本公开实施成使用Mura像素校正方程式(其是二次方程式)，用于将Mura像素的每个灰度级的亮度值最大程度地近似于显示面板10的平均像素亮度值。因此，Mura校正装置100生成Mura像素校正方程式(其是二次方程式)的系数的系数值，并且驱动器200将系数的系数值应用于Mura像素校正方程式，通过Mura像素校正方程式来对输入值(显示数据)进行校正，并将与经校正的显示数据对应的驱动信号输出到Mura像素。
可以通过与Mura校正方程式的系数的系数值相同的方法来生成针对Mura像素的Mura像素校正方程式的系数的系数值。
另外，可以以与Mura校正方程式相同的方法来配置通过应用适应性范围来设置Mura像素校正方程式的系数中的最高阶的系数a。
可以将针对Mura像素的Mura像素校正方程式的最高阶系数设置成包括能够改变Mura像素的亮度表示范围以使得Mura像素的Mura测量值与Mura校正值之和近似于平均像素亮度值的适应性范围比特。
这样，Mura校正方程式和Mura像素校正方程式的系数可以具有相同的格式，并且可以以相同的方法进行设置。因此，这里将省略对用于生成Mura像素校正方程式的系数的系数值的方法的详细描述。
通过以上描述，存储器160可以存储从系数生成器142提供的包括Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据，以及从系数生成器152提供的包括Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据。
如果完成了通过Mura块检测器140进行的Mura块检测和通过Mura像素检测器150进行的Mura像素检测，则输出电路170从存储器160接收从Mura块检测器140传送的与Mura块的位置值对应的Mura校正数据以及从Mura像素检测器150传送的与Mura像素的位置值对应的Mura像素校正数据，并将Mura校正数据和Mura像素校正数据提供给驱动器200。
驱动器200将Mura校正数据和Mura像素校正数据存储在诸如配置在其中的闪速存储器的存储位置中。
通过上述方法测试的显示面板10可以制作为具有驱动器200的集合，在其中存储有Mura校正数据和Mura像素校正数据。驱动器200可以通过使用Mura校正数据和Mura像素校正数据来校正Mura块或Mura像素的显示数据。
结果，显示面板10可以通过校正显示数据来显示具有改善的图像质量的屏幕。
尽管上面已经描述了各种实施方式，但是本领域技术人员将理解，所描述的实施方式仅是示例性的。因此，不应基于所描述的实施方式来限制本文中所描述的公开内容。

Claims (13)

1.Mura校正系统，包括：
测试图像供应单元，配置成将灰度级的测试图像提供给显示面板；
图像检测单元，配置成提供检测图像，所述检测图像是通过拍摄显示在所述显示面板上的所述测试图像而获得的；以及
Mura校正装置，配置成：
基于亮度值以包括多个像素的块单元的形式检查每个所述检测图像以检测具有Mura的Mura块，
生成Mura校正方程式的系数的系数值，用于将所述Mura块的每个灰度级的测量值校正成所述显示面板的平均像素亮度值，其中，所述Mura校正方程式是二次方程式，
将所述Mura校正方程式的系数之中的第一系数设置成包括适应性范围比特，所述适应性范围比特能够改变所述Mura块的亮度表示范围以使得针对所述Mura块的Mura测量值与Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值，以及
生成包括所述Mura块的位置值和所述Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据,
其中，所述Mura校正装置通过改变所述适应性范围比特的值来改变包括在所述Mura块的亮度表示范围中的分辨率和亮度值范围。
2.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，在由所述Mura校正值aX2+bX+c与所述Mura测量值X之和表示的所述Mura校正方程式中，所述Mura校正装置生成所述Mura校正值的系数的系数值，X是灰度级的灰度值，并且a、b和c是系数。
3.根据权利要求2所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置将所述Mura校正值的最高阶的系数a设置为所述第一系数。
4.根据权利要求3所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置：
将所述第一系数设置成包括所述适应性范围比特和基础范围比特，并且将其余系数设置成包括基础范围比特，
利用在存储器映射的被分配用于表示系数的全部比特之中的、除了表示所述系数a的比特之外的其余比特，来设置所述系数b和所述系数c，以及
将所述适应性范围比特的值设置成在所述Mura块的变化的亮度表示范围中最接近于所述第一系数实际所需的系数值的值。
5.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置：
在基于所述亮度值进行检查时，检测与所述Mura块中的其他像素相比具有至少预定水平的亮度差的Mura像素，
生成Mura像素校正方程式的系数的系数值，用于将所述Mura像素的每个灰度级的测量值校正成所述平均像素亮度值，其中，所述Mura像素校正方程式是二次方程式，以及
进一步生成包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据。
6.根据权利要求5所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置将所述Mura像素校正方程式的系数之中的最高阶的第二系数设置成包括能够改变所述Mura像素的亮度表示范围以使得所述Mura像素的Mura测量值与Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值的适应性范围比特。
7.根据权利要求6所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置将所述Mura校正方程式和所述Mura像素校正方程式的系数设置成具有相同的格式。
8. Mura校正系统，包括：
Mura校正装置，配置成接收检测图像，并生成用于Mura块的Mura校正数据，所述检测图像与显示面板的每个灰度级的测试图像对应，
所述Mura校正装置包括：
Mura块检测器，配置成通过基于亮度值以包括多个像素的块单元的形式检查每个所述检测图像来检测具有Mura的Mura块；
第一系数生成器，所述第一系数生成器配置成生成Mura校正方程式的系数的系数值用于将所述Mura块的每个灰度级的测量值校正成所述显示面板的平均像素亮度值，其中，所述Mura校正方程式是二次方程式，并且所述第一系数生成器配置成将所述Mura校正方程式的系数之中的第一系数设置成包括适应性范围比特，所述适应性范围比特能够改变所述Mura块的亮度表示范围以使得针对所述Mura块的Mura测量值与Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值；
存储器，配置成存储包括所述Mura块的位置值和所述Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据；以及
输出电路，配置成将所述Mura校正数据输出到用于驱动所述显示面板的驱动器,
其中，所述第一系数生成器通过改变所述适应性范围比特的值来改变包括在所述Mura块的亮度表示范围中的分辨率和亮度值范围。
9.根据权利要求8所述的Mura校正系统，其中，在由所述Mura校正值aX2+bX+c与所述Mura测量值X之和表示的所述Mura校正方程式中，所述第一系数生成器生成所述Mura校正值的系数的系数值，X是灰度级的灰度值，并且a、b和c是系数。
10.根据权利要求9所述的Mura校正系统，其中，所述第一系数生成器将所述Mura校正值的最高阶的系数a设置为所述第一系数。
11.根据权利要求10所述的Mura校正系统，其中，所述第一系数生成器：
将所述第一系数设置成包括所述适应性范围比特和基础范围比特，并且将其余系数设置成包括基础范围比特，
利用在存储器映射的被分配用于表示系数的全部比特之中的、除了表示所述系数a的比特之外的其余比特，来设置所述系数b和所述系数c，以及
将所述适应性范围比特的值设置成在所述Mura块的变化的亮度表示范围中最接近于所述第一系数实际所需的系数值的值。
12.根据权利要求8的Mura校正系统，
其中，Mura校正装置包括：
Mura像素检测器，配置成在基于所述亮度值进行检查时，检测与所述Mura块中的其他像素相比具有至少预定水平的亮度差的Mura像素，以及
第二系数生成器，所述第二系数生成器配置成生成Mura像素校正方程式的系数的系数值，用于将所述Mura像素的每个灰度级的测量值校正成所述平均像素亮度值，其中，所述Mura像素校正方程式是二次方程式，并且所述第二系数生成器配置成生成包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据，
其中，所述存储器还存储所述Mura像素校正数据，所述Mura像素校正数据包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式的系数的系数值，以及
其中，所述输出电路还向所述驱动器输出所述Mura像素校正数据。
13.根据权利要求12所述的Mura校正系统，其中，所述第二系数生成器将所述Mura像素校正方程式的系数之中的最高阶的第二系数设置成包括能够改变所述Mura像素的亮度表示范围以使得所述Mura像素的Mura测量值与Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值的适应性范围比特。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI663577B (zh) * 2018-06-04 2019-06-21 宏碁股份有限公司 針對非平面螢幕之色不均瑕疵補償系統
KR102552033B1 (ko) * 2018-12-26 2023-07-05 주식회사 엘엑스세미콘 무라 보상 드라이버
KR102575130B1 (ko) * 2018-12-26 2023-09-05 주식회사 엘엑스세미콘 무라 보상 시스템
KR20210143381A (ko) 2020-05-19 2021-11-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 휘도 프로파일 측정 방법
CN111968557A (zh) * 2020-09-03 2020-11-20 广州视源电子科技股份有限公司 背光模组的补偿方法和补偿系统
KR20220077553A (ko) 2020-12-02 2022-06-09 주식회사 엘엑스세미콘 무라 보상을 위한 무라 보상장치 및 데이터처리회로
CN112508922B (zh) * 2020-12-14 2021-12-21 深圳精智达技术股份有限公司 Mura检测方法、装置、终端设备以及存储介质
TW202303553A (zh) * 2021-06-28 2023-01-16 韓商Ｌｘ半導體科技有限公司 顯示面板電壓降補償系統及補償電壓降的顯示驅動裝置
CN114359055B (zh) * 2022-03-21 2022-05-31 湖南大学 一种多相机拍摄屏体的图像拼接方法及相关装置
US11810531B1 (en) * 2022-04-28 2023-11-07 Pixelworks Semiconductor Technology (Shanghai) Co., Ltd. Methods and systems for calibrating and controlling a display device
WO2023234658A1 (ko) * 2022-05-30 2023-12-07 주식회사 엘엑스세미콘 무라 보상 모듈, 이를 포함하는 디스플레이 제어장치 및 이를 이용한 무라 보상 방법
CN117392937B (zh) * 2023-12-13 2024-03-19 武汉精测电子集团股份有限公司 显示面板白画面的色点分离、demura方法、装置及系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105280098A (zh) * 2014-06-10 2016-01-27 三星电子株式会社 用于校正显示不均匀性的显示装置
CN105590604A (zh) * 2016-03-09 2016-05-18 深圳市华星光电技术有限公司 Mura现象补偿方法
CN107680526A (zh) * 2017-10-13 2018-02-09 深圳吉迪思电子科技有限公司 一种亮度Mura补偿方法
CN108921797A (zh) * 2018-06-14 2018-11-30 合肥市商巨智能装备有限公司 畸变图像的校准方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101127843B1 (ko) * 2005-10-25 2012-03-21 엘지디스플레이 주식회사 평판표시장치 및 그 화질제어방법
KR101127829B1 (ko) * 2005-12-07 2012-03-20 엘지디스플레이 주식회사 평판표시장치와 그 제조방법, 제조장치, 화질 제어장치 및화질 제어방법
US20080007565A1 (en) * 2006-07-03 2008-01-10 Shinichi Nogawa Color correction circuit, driving device, and display device
KR101374989B1 (ko) 2006-12-27 2014-03-17 엘지디스플레이 주식회사 무라 검출장치 및 그의 구동방법
TWI375198B (en) 2007-05-17 2012-10-21 Tpo Displays Corp A system for displaying images
US8665295B2 (en) 2008-11-20 2014-03-04 Global Oled Technology Llc Electroluminescent display initial-nonuniformity-compensated drve signal
JP5026545B2 (ja) 2010-03-30 2012-09-12 シャープ株式会社 表示装置、輝度ムラ補正方法、補正データ作成装置、および補正データ作成方法
KR101830679B1 (ko) * 2010-07-29 2018-02-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 검사 장치 및 그 방법
KR101958634B1 (ko) 2012-12-13 2019-03-15 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치의 무라 검출 장치 및 방법
KR102090706B1 (ko) * 2012-12-28 2020-03-19 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법
JP5855607B2 (ja) * 2013-06-28 2016-02-09 富士フイルム株式会社 画像記録方法及び装置並びにプログラム
JP2015222332A (ja) 2014-05-22 2015-12-10 株式会社Ｊｏｌｅｄ 表示パネルの製造方法
US9799257B2 (en) * 2014-06-02 2017-10-24 Samsung Display Co., Ltd. Hierarchical prediction for pixel parameter compression
CN104409066B (zh) * 2014-12-10 2017-04-19 深圳市华星光电技术有限公司 一种获取像素的灰阶补偿值的方法
EP3264402A4 (en) 2015-03-20 2018-01-17 Huawei Technologies Co., Ltd. Method for correcting screen asymmetry and device and system thereof
CN105206239B (zh) * 2015-10-16 2018-03-30 深圳市华星光电技术有限公司 Mura现象补偿方法
KR102537463B1 (ko) 2016-01-20 2023-05-30 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널의 얼룩 보상 장치, 이를 이용하는 표시 패널의 얼룩 보상 방법 및 이를 포함하는 표시 패널의 구동 방법
KR102544123B1 (ko) 2016-03-10 2023-06-16 삼성디스플레이 주식회사 얼룩 검사 장치, 이의 구동 방법 및 얼룩 보정값을 포함하는 표시 장치
CN106328083B (zh) 2016-10-10 2017-11-10 深圳市华星光电技术有限公司 一种液晶显示器及其补偿数据存储方法
KR101747405B1 (ko) 2017-01-06 2017-06-15 주식회사 브이오 디스플레이 패널의 무라 보정방법
US10176761B2 (en) * 2017-02-23 2019-01-08 Synaptics Incorporated Compressed data transmission in panel display system
US10170063B2 (en) * 2017-05-03 2019-01-01 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd Mura compensation method for display panel and display panel

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105280098A (zh) * 2014-06-10 2016-01-27 三星电子株式会社 用于校正显示不均匀性的显示装置
CN105590604A (zh) * 2016-03-09 2016-05-18 深圳市华星光电技术有限公司 Mura现象补偿方法
WO2017152457A1 (zh) * 2016-03-09 2017-09-14 深圳市华星光电技术有限公司 Mura现象补偿方法
CN107680526A (zh) * 2017-10-13 2018-02-09 深圳吉迪思电子科技有限公司 一种亮度Mura补偿方法
CN108921797A (zh) * 2018-06-14 2018-11-30 合肥市商巨智能装备有限公司 畸变图像的校准方法

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