TWI825252B - Mura校正系統 - Google Patents

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Abstract

本發明提供了一種Mura校正系統，其對通過拍攝顯示面板而獲得的檢測圖像中的Mura進行檢測和校正。Mura校正系統通過基於亮度值檢查通過拍攝顯示在顯示面板上的測試圖像而獲得的檢測圖像來檢測Mura區塊，生成Mura校正方程式之係數的係數值，並生成包括Mura區塊的位置值和Mura校正方程式之係數的係數值的Mura校正資料。

Description

Mura校正系統
本發明各種實施方式總體有關Mura校正系統，並且更具體地，有關在通過拍攝顯示面板而獲得的檢測圖像中檢測Mura並校正Mura缺陷的Mura校正系統。
近來，LCD面板和OLED面板已被廣泛用作顯示面板。
由於製造過程中的誤差等，可能在顯示面板中出現亮度不均勻(Mura)的現象。Mura表示顯示圖像在像素或某個區域處具有斑點形式的不均勻亮度。出現Mura的缺陷稱為Mura缺陷。
需要對Mura缺陷進行檢測和校正，以允許顯示面板具有改善的圖像品質。
各種實施方式有關這樣一種Mura校正系統：其基於檢測圖像中的亮度值來檢測Mura區塊，並生成待應用於二階Mura校正方程式的Mura校正資料以對Mura區塊的亮度值進行校正，其中，所述檢測圖像通過檢測顯示在顯示面板上的測試圖像而獲得。
此外，各種實施方式有關這樣一種Mura校正系統：其生成Mura區塊的位置值和二階Mura校正方程式之係數的係數值作為Mura校正資料，以對Mura區塊的亮度值進行校正；並且通過將能夠改變Mura區塊的亮度表示範圍的適應性範圍應用於Mura校正方程式的係數，而使Mura區塊的每個灰階的Mura測量值和Mura校正值的總和最大程度地近似於顯示面板的平均像素亮度值。
另外，各種實施方式有關這樣一種Mura校正系統：其基於檢測圖像中的亮度值來檢測區塊中的Mura像素，並且生成待應用於二階Mura像素校正方程式的Mura像素校正資料以對Mura像素的亮度值進行校正，其中，所述檢測圖像是通過檢測顯示在顯示面板上的測試圖像而獲得的。
此外，各種實施方式有關這樣一種Mura校正系統：其生成Mura像素的位置值和二階Mura像素校正方程式之係數的係數值作為Mura像素校正資料，以對Mura像素的亮度值進行校正，並通過將能夠改變Mura像素的亮度表示範圍的適應性範圍應用於Mura像素校正方程式的係數，而使Mura像素的每個灰階的像素測量值與像素校正值的總和最大化地近似於平均像素亮度值。
在一個實施方式中，Mura校正系統可以包括測試圖像供應單元、圖像檢測單元和Mura校正裝置，其中：測試圖像供應單元配置成將灰階的測試圖像提供給顯示面板；圖像檢測單元配置成提供檢測圖像，所述檢測圖像是通過拍攝顯示在顯示面板上的測試圖像而獲得的；Mura校正裝置配置成：通過基於亮度值且以包括多個像素的區塊單元的形式檢查每個檢測圖像來檢測具有Mura的Mura區塊，生成Mura校正方程式 (其是二階方程式)之係數的係數值用於將Mura區塊的每個灰階的測量值校正成顯示面板的平均像素亮度值，將Mura校正方程式之係數中的第一係數配置成包括能夠改變Mura區塊的亮度表示範圍以使得針對Mura區塊的Mura測量值與Mura校正值之和近似於平均像素亮度值的適應性範圍位元，以及生成包括Mura區塊的位置值和Mura校正方程式之係數的係數值的Mura校正資料。
在實施方式中，Mura校正系統可以包括Mura校正裝置，所述Mura校正裝置配置成接收與顯示面板的每個灰階的測試圖像對應的檢測圖像，並生成用於Mura區塊的Mura校正資料。
Mura校正裝置可以包括Mura區塊檢測器、第一係數生成器、儲存器與輸出電路，其中：Mura區塊檢測器配置成通過基於亮度值且以包括多個像素的區塊單元的形式檢查每個檢測圖像來檢測具有Mura的Mura區塊；第一係數生成器配置成生成Mura校正方程式(其是二階方程式)之係數的係數值用於將Mura區塊的每個灰階的測量值校正成顯示面板的平均像素亮度值，並且第一係數生成器配置成將Mura校正方程式之係數中的第一係數配置成包括能夠改變Mura區塊的亮度表示範圍以使得針對Mura區塊的Mura測量值與Mura校正值之和近似於平均像素亮度值的適應性範圍位元；儲存器配置成儲存包括Mura區塊的位置值和Mura校正方程式之係數的係數值的Mura校正資料；輸出電路配置成將Mura校正資料輸出到用於驅動顯示面板的驅動器。
根據本公開的實施方式，Mura校正系統可以檢測顯示面板的Mura區塊和區塊中的Mura像素，並且可以生成二階Mura校正方程式 之係數的係數值以對Mura區塊的亮度值進行校正，並且生成二階Mura像素校正方程式之係數的係數值以對Mura像素的亮度值進行校正。
根據本公開的實施方式，可以生成Mura區塊的位置值和Mura校正方程式之係數的係數值作為Mura校正資料，並且可以生成Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式之係數的係數值作為Mura像素校正資料。在Mura區塊或Mura像素的每個灰階的亮度值出現很大變化的情況下，可以將能夠改變Mura區塊和Mura像素中的每個的亮度表示範圍的適應性範圍應用於Mura校正方程式和Mura像素校正方程式中的每個的係數。
根據本公開的實施方式，由於生成了待提供給對顯示面板進行驅動的驅動器的Mura校正資料和Mura像素校正資料，以使其即使在Mura區塊或Mura像素的亮度值出現很大變化的情況下也能夠被應用於Mura校正，因此能夠改善顯示面板的圖像品質。
10:顯示面板
20:測試圖像供應單元
30:圖像檢測單元
40:相機校準單元
100:Mura校正裝置
110:圖像接收單元
120:雜訊衰減濾波器
130:Mura校正單元
140:Mura區塊檢測器
142:係數生成器
150:Mura像素檢測器
152:係數生成器
160:儲存器
170:輸出電路
200:驅動器
B11、B12~B23:區塊
P11、P12~P44:像素
X:Mura測量值
Y:平均像素亮度值
a、b、c:係數
GA、GB、GC:基礎範圍位元
AR:適應性範圍位元
圖1是根據本公開的實施方式的Mura校正系統的功能方塊示意圖；圖2A和圖2B是測試圖像的示意圖；圖3是圖1的Mura校正裝置的功能方塊示意圖；圖4是與用於相應灰階的測試圖像對應的檢測圖像示意圖；圖5是用於幫助對分析檢測圖像中的Mura區塊的方法進行說明的示意圖； 圖6是每個灰階的Mura區塊的測量值、Mura校正值和顯示面板的平均像素亮度值之間的關係的示意圖；圖7是通過應用適應性範圍來儲存Mura校正方程式的係數值的儲存器映射的示意圖；圖8是儲存普通係數值的儲存器映射的示意圖；圖9是用於幫助對用於通過改變Mura區塊的亮度值的表示範圍來獲得實際所需係數的方法進行說明的示意圖；以及圖10是用於幫助對用於檢測區塊中的Mura像素的方法進行說明的示意圖。
在下文中，將參照附圖詳細描述本公開的實施方式。本文和申請專利範圍書中使用的術語不應解釋為受限於一般含義或詞典含義，而是應基於與本公開的技術方面對應的含義和概念來解釋。
本文中描述的實施方式和在附圖中示出的配置是本公開的優選實施方式，但是並不代表本公開的所有技術特徵。因此，在提交本申請時可以存在能夠對本公開作出的多種等同和修改。
由於製造過程中的誤差等，在顯示圖像的像素中會出現具有斑點形式的Mura。顯示面板的Mura缺陷可以通過精確地檢測在顯示面板上顯示的測試圖像、分析檢測圖像中的Mura並對Mura進行校正作為分析Mura的結果來解決。
為此，根據本公開的實施方式的Mura校正系統可以如圖1所示。
參照圖1，Mura校正系統包括：測試圖像供應單元20，其將每個灰階的測試圖像提供給顯示面板10；圖像檢測單元30，其拍攝顯示在顯示面板10上的測試圖像並提供拍攝的檢測圖像；相機校準單元40，其分析檢測圖像，並且從而提供用於允許圖像檢測單元30獲得精確的檢測圖像的校準訊息；以及Mura校正裝置100，其對檢測圖像執行Mura分析，並生成與Mura分析對應的Mura校正資料。Mura校正裝置100配置成將Mura校正資料提供給驅動器200。
在以上配置中，顯示面板10可以使用LCD面板或OLED面板。
測試圖像供應單元20可以提供如圖2A和圖2B所示的測試圖像。圖2A示出以矩陣結構形成小的方形白色圖案，並且圖2B示出以矩陣結構形成大的方形黑色圖案。
與圖2A和圖2B不同，可以根據顯示面板10的尺寸或形狀來不同地應用測試圖像。即，在測試圖像中，圖案的形狀、尺寸、排列狀態或數量可以根據顯示面板10的尺寸或形狀來確定。另外，不僅可以應用四邊形形狀而且可以應用與之不同的形狀作為包括在測試圖像中的圖案的形狀，並且四邊形形狀和所述不同形狀可以單獨地或組合地形成。
測試圖像供應單元20可以分開提供用於校準圖像檢測單元30的拍攝狀態的測試圖像和用於分析顯示面板10的Mura的測試圖像。用於校準圖像檢測單元30的拍攝狀態的測試圖像可以配置成具有易於對圖 像的尺寸、旋轉和畸變進行分析的圖案，並且用於分析顯示面板10的Mura的測試圖像可以配置成容易獲取到顯示面板10的每個灰階的像素亮度值。在本公開的實施方式的描述中，這兩種情況都將統稱為測試圖像。
顯示面板10可以接收測試圖像(即，從測試圖像供應單元20供應的測試圖像資料)，可以根據測試圖像資料來驅動以矩陣形式佈置的像素，並且可以通過像素的驅動來顯示測試圖像。
圖像檢測單元30可以理解為使用圖像感測器的相機，並且其通過拍攝顯示在顯示面板10上的測試圖像來獲得檢測圖像以對Mura進行分析。可以根據顯示面板10的形狀或尺寸來不同地配置圖像檢測單元30的拍攝狀態。圖像檢測單元30可以將拍攝的檢測圖像(即，檢測圖像資料)提供給相機校準單元40和Mura校正裝置100。可以與可以被相機校準單元40和Mura校正裝置100接收的多種協議對應的格式來發送表示檢測圖像的檢測圖像資料。在下面的描述中，檢測圖像可以被理解為檢測圖像資料。
相機校準單元40可以配置成：在單獨的顯示裝置(圖中未示)上顯示校準訊息，或將校準訊息反饋回圖像檢測單元30，其中，所述校準訊息用於根據對通過拍攝圖2A或圖2B所示的測試圖像而獲得的檢測圖像進行分析的結果來對拍攝狀態進行校準。
在相機校準單元40在單獨的顯示裝置上顯示校準訊息的情況下，用戶可以檢查校準訊息並手動校準圖像檢測單元30的拍攝狀態。在圖像檢測單元30配置成能夠通過參考反饋回的校準訊息來自動校準拍攝 狀態的情況下，可以在相機校準單元40將校準訊息反饋給圖像檢測單元30時，自動實施拍攝狀態的校準。
Mura分析使用由圖像檢測單元30拍攝的檢測圖像。因此，圖像檢測單元30的拍攝狀態的配置可能對Mura分析結果產生實質性影響。
根據本公開的實施方式，通過使用相機校準單元40客觀地確定出檢測圖像沒有保持測試圖像的原始值並且具有尺寸變化、旋轉或畸變的情況，可以對圖像檢測單元30的拍攝狀態進行校準，並且通過校準，可以減少可能因圖像檢測單元30而出現的誤差。
Mura校正裝置100從圖像檢測單元30接收檢測圖像，並對檢測圖像執行Mura分析並生成Mura校正資料。
Mura校正裝置100可以例示為如圖3所示的那樣。在圖3中，檢測圖像由V_DATA表示，並且Mura校正資料由C_DATA表示。
Mura校正裝置100包括對檢測圖像V_DATA執行預處理操作的圖像接收單元110和雜訊衰減濾波器120，並且包括用於對經預處理的檢測圖像V_DATA進行Mura校正的Mura校正單元130。
圖像接收單元110是用於接收從外部圖像檢測單元30發送的檢測圖像V_DATA並將所接收的檢測圖像V_DATA發送到雜訊衰減濾波器120的埠口部分。
雜訊衰減濾波器120用於對檢測圖像V_DATA的雜訊進行濾波。
從圖像檢測單元30提供的檢測圖像V_DATA由於圖像感測器的電特性而具有雜訊。雜訊可能會成為在Mura分析中增加誤差偏差的因素。
因此，應從檢測圖像V_DATA中對由於圖像感測器的電特性引起的雜訊進行濾波。為此，可以使用低通濾波器來配置雜訊衰減濾波器120。低通濾波器可以理解為通常指定的高斯濾波器、均值濾波器、中值濾波器等。
檢測圖像V_DATA在經過圖像接收單元110和雜訊衰減濾波器120以進行預處理之後，被輸入到Mura校正單元130。
Mura校正單元130接收其中的雜訊被雜訊衰減濾波器120衰減的檢測圖像V_DATA，並且通過確定每個檢測圖像V_DATA在包括多個像素的區塊單元中的亮度值，來檢測具有Mura的Mura區塊。Mura校正單元130生成Mura校正方程式(其是二階方程式)係數的係數值，用於將Mura區塊的每個灰階的測量值校正成顯示面板10的平均像素亮度值。
Mura校正單元130將Mura校正方程式之係數中的第一係數(例如，最高階的係數)配置成包括能夠改變Mura區塊的亮度表示範圍的適應性範圍位元。適應性範圍位元用於將第一係數的係數值配置成使得Mura區塊的Mura測量值和Mura校正值之和近似於平均像素亮度值。Mura校正單元130生成Mura校正資料，其包括Mura區塊的位置值和Mura校正方程式係數的係數值。
為此，Mura校正單元130包括Mura區塊檢測器140、係數生成器142、Mura像素檢測器150、係數生成器152、儲存器160和輸出電路170。
Mura區塊檢測器140接收其中的雜訊被雜訊衰減濾波器120衰減的檢測圖像V_DATA，並通過確定每個檢測圖像V_DATA在包括多個像素的區塊單元中的亮度值，來檢測具有Mura的Mura區塊。
例如，可以從圖像檢測單元30以具有不同灰階值的幀單元A、B、C...D(如圖4所示)提供檢測圖像V_DATA，並且Mura區塊檢測器140針對每個幀單元在區塊單元中檢測Mura區塊。圖4可以理解為將18個灰階、48個灰階、100個灰階和150個灰階的幀表示為檢測圖像V_DATA。
例如，如圖5所示，可以將每個幀的檢測圖像V_DATA劃分成以矩陣形式排列的多個區塊，並且每個區塊包括以矩陣的形式排列的多個像素。在圖5中，附圖標記B11、B12...B23分別表示相應的區塊，並且附圖標記P11、P12...P44分別表示相應的像素。
可以在圖5的區塊單元中確定Mura區塊。Mura區塊可以基於顯示面板10的檢測圖像V_DATA的每個灰階的平均亮度值來確定。例如，區塊可以具有通過包括在所述區塊中的像素的亮度進行計算的平均亮度值。在區塊之中，可以將其平均亮度值相對於顯示面板10的每個灰階的平均亮度值偏離標準偏差至少預定水準的區塊確定為Mura區塊。
Mura區塊檢測器140生成被確定為Mura區塊的區塊的位置值。例如，可以將Mura區塊的位置值指定為包括在Mura區塊中的像素中 的特定一個像素的位置值。更具體地，當圖5的區塊B23是Mura區塊並且區塊B23的像素P11的坐標是(5，9)時，Mura區塊的位置值可以被指定為(5，9)。
Mura區塊檢測器140將包括Mura區塊的位置值的資料以及該區塊的檢測圖像V_DATA輸出到係數生成器142，並且將用於檢測圖像V_DATA的區塊的訊息(所述訊息包括位置訊息和檢測圖像V_DATA)輸出到Mura像素檢測器150。
係數生成器142生成Mura校正方程式(其是二階方程式)係數的係數值，用於將Mura區塊的每個灰階的測量值校正為顯示面板10的每個灰階的平均像素亮度值，並且將Mura區塊的位置值和Mura校正方程式係數的係數值儲存在儲存器160中。將Mura區塊的位置值和Mura校正方程式係數的係數值儲存在儲存器160中以與彼此結合，並且可以限定為Mura校正資料。
在本公開的實施方式中，在驅動器200中執行用於Mura區塊的Mura校正。為了進行Mura校正，需要能夠精確表示Mura區塊的每個灰階的亮度值的近似方程式(即，Mura校正方程式)。在確定了Mura校正方程式的情況下，只要確定出每個灰階的Mura校正方程式係數的係數值，則可以精確地執行Mura校正。
在本公開的實施方式中，Mura校正裝置100可以生成用於對Mura區塊進行Mura校正的Mura校正方程式的係數值，作為Mura校正資料。驅動器200可以具有根據Mura校正方程式執行計算的算法，並且可以通過將輸入資料(顯示資料)應用於將從Mura校正裝置100提供的係 數值應用到其中的Mura校正方程式，來向顯示面板10提供能夠相應於顯示資料顯示具有改善的圖像品質的屏幕的驅動訊號。
本公開實施成使用二階Mura校正方程式，以將每個灰階的Mura區塊的亮度值最大程度地近似於顯示面板10的平均像素亮度值。因此，Mura校正裝置100生成Mura校正方程式(其是二階方程式)係數的係數值，並且驅動器200將係數的係數值應用於Mura校正方程式，通過Mura校正方程式校正輸入值(顯示資料)，並輸出與經校正的顯示資料對應的驅動訊號。
下文中將參考圖6描述Mura校正方程式。在圖6中，曲線CM表示顯示面板10的每個灰階的平均像素亮度值，曲線CA表示每個灰階的Mura校正值，並且曲線CB表示每個灰階的Mura測量值。
[方程式1]Y=aX2+bX+c+X
在方程式1中，每個灰階的Mura校正值表示為aX2+bX+c，每個灰階的Mura測量值表示為X，並且顯示面板10的每個灰階的平均像素亮度值表示為Y。在方程式1中，X是每個灰階的Mura測量值(即，灰階的灰階值)，並且Mura校正方程式的各階係數表示為a、b和c。
在本公開的實施方式中，可以使用如圖7所示的儲存器映射來儲存Mura校正方程式的各階的係數值。可以由儲存器映射在儲存容量範圍內配置Mura校正方程式的係數。
在一般情況下，Mura校正方程式的各階的係數值可以配置為例如由8位元表示，並且可以使用如圖8所示的儲存器映射進行儲存。在 圖8中，PGA指的是表示係數a的係數值的位元，PGB指的是表示係數b的係數值的位元，並且PGC指的是表示係數c的係數值的位元。
如果Mura區塊的每個灰階的亮度值沒有顯著變化，則通過圖8中所示的8位元可以充分表示係數a、b和c的係數值。然而，如果Mura區塊的每個灰階的亮度值的變化是很大的，則難以通過8位元來充分表示係數a、b和c的係數值。
為了解決這個問題，本公開的實施方式可以配置成通過應用適應性範圍來配置係數中的至少一個指定係數。例如，為了解決圖8的上述問題，本公開的實施方式配置成通過應用如圖7所示的適應性範圍來配置係數之中的最高階的係數a。
參照圖7，係數之中的最高階的係數a配置成包括適應性範圍位元AR和基礎範圍位元GA，並且其餘係數b和c配置成包括基礎範圍位元GB和GC。係數a、b和c的基礎範圍位元GA、GB和GC可以配置成具有相同的位元數。適應性範圍位元AR被示例為3位元，而基礎範圍位元GA、GB和GC被示例為7位元。
另一方面，各個係數的基礎範圍位元GA、GB和GC可以配置成具有不同位元數。換言之，係數a的基礎範圍位元GA的數量可以配置成m1，係數b的基礎範圍位元GB的數量可以配置成m2，係數a的基礎範圍位元GC的數量可以配置成m3，並且適應性範圍位元AR的數量可以配置成n。這裡，m1、m2、m3和n是自然數。
即，儲存器映射的總容量是m1+m2+m3+n位元。在總容量中，可以指定除了被指定給係數a的m1+n位元之外的其餘位元，以表示係數 b和係數c的基礎範圍位元GB和GC。例如，可以將係數a配置成具有2位元(n=2)的適應性範圍位元AR和7位元(m1=7)的基礎範圍位元GA，可以將係數b配置成具有7位元(m2=7)的基礎範圍位元GB，並且可以將係數c配置成具有8位元(m3=8)的基礎範圍位元GC。
上述的適應性範圍位元AR將改變Mura區塊的亮度表示範圍，以使得Mura區塊的Mura測量值和Mura校正值之和近似於平均像素亮度值。通過適應性範圍位元AR的值的變化而確定的Mura區塊的亮度表示範圍包括解析度和亮度值範圍。即，適應性範圍位元AR的變化改變了Mura區塊的亮度表示範圍、解析度和亮度值範圍。
在本公開的實施方式中，可以通過改變適應性範圍位元AR來改變係數a。換言之，在Mura區塊的亮度值的變化很大並且因此Mura校正方程式的值不能通過配置係數a、b和c的基礎範圍位元來達到顯示面板10的平均像素亮度值的情況下，可以通過改變適應性範圍位元AR來改變係數a的係數值。通過配置適應性範圍位元AR，係數a可以具有最接近於Mura區塊的亮度表示範圍中的實際所需係數值的係數值。
下面將參照圖9描述對根據本公開的實施方式的Mura校正方程式的對其應用適應性範圍的係數a進行配置的方法。
係數a由適應性範圍位元AR和基礎範圍位元GA表示。在適應性範圍位元AR是3位元的情況下，係數a可以具有與8個級的表示範圍(諸如，Range0至Range7)對應的值。
圖9示出了Mura區塊的亮度表示範圍改變成Range0、Range1和Range2，其中Mura區塊的亮度表示範圍在Range0中最窄，並且在Range2中最寬。
隨著適應性範圍位元AR的值更高，Mura區塊的亮度表示範圍變得更寬。即，Mura區塊的亮度值範圍變寬，並且Mura區塊的解析度變低。
表1示出了係數a的適應性範圍位元AR的用於表示256個灰階的變化。
Figure 108147246-A0305-02-0016-1
在表1中，在係數a的適應性範圍位元AR是3位元的情況下，適應性範圍位元AR的值(000)2表示為0，並且與圖9的Range0對應；適應性範圍位元AR的值(001)2表示為1，並且與圖9的Range1對應；以及適應性範圍位元AR的值(010)2表示為2，並且與圖9的Range2對應。
如表1所示，當適應性範圍位元AR的值改變時，Range0、Range1和Range2的表示範圍、亮度值範圍和解析度隨著適應性範圍位元AR的值變得更高而改變。
在上文中，Range0與可以由係數a的基礎範圍位元GA表示的最大值對應。
如圖9所示，在將係數a配置成表示範圍Range0並且近似於平均像素亮度值實際所需的係數值REF與表示範圍Range0有所偏離的情況下，出現誤差F1。
為了消除誤差F1，在本公開的實施方式中，可以改變適應性範圍位元AR的值。
在適應性範圍位元AR的值為2的情況下，可以由實際所需的係數值REF表示的平均像素亮度值被包括在表示範圍Range2中。然而，在可以由實際所需的係數值REF表示的平均像素亮度值與可以由表示範圍Range2的灰階值表示的值之中最接近的值之間，出現誤差F2。
在適應性範圍位元AR的值為1的情況下，可以由實際所需的係數值REF表示的平均像素亮度值被包括在表示範圍Range1中。可以由實際所需的係數值REF表示的平均像素亮度值與表示範圍Range1的最大值+MAX對應。
根據本公開的實施方式，在以上所描述的圖9和表1的情況下，可以將適應性範圍位元AR的值配置成1，並且係數a的係數值可以通過將與1對應的適應性範圍位元AR的值與基礎範圍位元GA的最大值相結合而獲得。
在本公開的實施方式中，可以如以上參考圖9和表1描述的方法中那樣配置Mura校正方程式的係數a。
在與適應性範圍位元AR的變化對應的表示範圍中不存在與所需的係數值REF完全對應的值的情況下，係數a的係數值可以通過將與 在其中存在最接近值的表示範圍對應的適應性範圍位元AR的值與基礎範圍位元GA的最大值相結合而獲得。
如上所述，係數生成器142首先通過使用基礎範圍位元GA、GB和GC來確定Mura校正方程式的係數a、b和c的係數值。在顯示面板10的每個灰階的平均像素亮度值與通過Mura校正方程式得到的值範圍偏離的情況下，將最高階的係數a的適應性範圍位元AR配置成使得實際所需的係數值REF具有最接近平均像素亮度值的值。
當如上所述生成用於Mura區塊的Mura校正方程式之係數的係數值時，係數生成器142將Mura區塊的位置值和Mura校正方程式之係數的係數值儲存在儲存器160中，作為Mura校正資料。Mura區塊的位置值和Mura校正方程式之係數的係數值以查找表的形式儲存在儲存器160中。Mura區塊的位置值被用作索引。Mura區塊的位置值和Mura校正方程式之係數的係數值與彼此結合，使得可以從Mura區塊的位置值讀取Mura校正方程式之係數的係數值。
如上所述，在Mura校正單元130中，Mura區塊檢測器140檢測到Mura區塊，並且由此生成Mura區塊的位置值，並且係數生成器142生成Mura校正方程式之係數的係數值。
此後，Mura區塊檢測器140可以幀單元或區塊單元的形式將檢測圖像V_DATA輸出到Mura像素檢測器150。Mura區塊檢測器140將用於普通區塊和Mura區塊的檢測圖像V_DATA的區塊的訊息(所述訊息包括位置訊息和檢測圖像V_DATA)輸出到Mura像素檢測器150。
Mura像素是指具有缺陷並且表示由於製造過程中的誤差等而出現的具有像素尺寸的點狀Mura的像素。
Mura像素可以在檢測圖像V_DATA的區塊單元中進行確定。可以基於顯示面板10的平均像素亮度值和相鄰像素的亮度值來檢測Mura像素。
更具體地，在Mura像素(諸如白點Mura、黑點Mura和黑白點Mura)的亮度值等於或大於基於平均像素亮度值、基於相鄰像素的亮度值或者基於平均像素亮度值和相鄰像素的亮度值兩者配置的參考值的情況下，將相應像素檢測為Mura像素。
例如，如圖10所示，區塊B23包括以矩陣形式排列的多個像素。
在圖10的區塊B23中，可以將具有等於或大於參考值的亮度值的像素確定為Mura像素。圖10示出了將像素P33確定為Mura像素。
Mura像素檢測器150生成Mura像素的位置值。在圖10中，在像素P11的坐標是(5，9)的情況下，可以生成Mura像素P33的坐標(7，11)作為位置值。
Mura像素檢測單元150可以將包括Mura像素的位置值和針對該Mura像素的檢測圖像V_DATA的資料輸出到係數生成器152，並且可以將從Mura區塊檢測器140傳送的Mura區塊位置值以及自生成的Mura像素位置值輸出到輸出電路170。
係數生成器152生成Mura像素校正方程式(其是二階方程式)係數的係數值用於將Mura像素的每個灰階的測量值校正成平均像素 亮度值，生成包括Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式係數的係數值的Mura像素校正資料，並且將Mura像素校正資料輸出到儲存器160。
在本公開的實施方式中，在驅動器200中執行針對Mura像素的Mura校正。以與用於Mura區塊的Mura校正相同的方式，針對Mura像素的Mura校正需要能夠精確表示Mura像素的每個灰階的亮度值的近似方程式，即Mura像素校正方程式。在確定出Mura像素校正方程式的情況下，只要確定出每個灰階的Mura像素校正方程式之係數的係數值，便可以精確地執行針對Mura像素的Mura校正。
在本公開的實施方式中，Mura校正裝置100可以生成用於Mura像素的Mura校正的Mura像素校正方程式的係數值，作為Mura像素校正資料。驅動器200可以具有根據Mura像素校正方程式執行計算的算法，並且可以通過將輸入資料(顯示資料)應用於將從Mura校正裝置100提供的係數值應用到其中的Mura像素校正方程式，來向顯示面板10提供能夠顯示具有改善的圖像品質的Mura像素的驅動訊號。
本公開實施成使用Mura像素校正方程式(其是二階方程式)，用於將Mura像素的每個灰階的亮度值最大程度地近似於顯示面板10的平均像素亮度值。因此，Mura校正裝置100生成Mura像素校正方程式(其是二階方程式)之係數的係數值，並且驅動器200將係數的係數值應用於Mura像素校正方程式，通過Mura像素校正方程式來對輸入值(顯示資料)進行校正，並將與經校正的顯示資料對應的驅動訊號輸出到Mura像素。
可以通過與Mura校正方程式之係數的係數值相同的方法來生成針對Mura像素的Mura像素校正方程式之係數的係數值。
另外，可以與Mura校正方程式相同的方法來配置通過應用適應性範圍來配置Mura像素校正方程式的係數中的最高階的係數a。
可以將針對Mura像素的Mura像素校正方程式的最高階係數配置成包括能夠改變Mura像素的亮度表示範圍以使得Mura像素的Mura測量值與Mura校正值之和近似於平均像素亮度值的適應性範圍位元。
這樣，Mura校正方程式和Mura像素校正方程式的係數可以具有相同的格式，並且可以相同的方法進行配置。因此，這裡將省略對用於生成Mura像素校正方程式之係數的係數值的方法的詳細描述。
通過以上描述，儲存器160可以儲存從係數生成器142提供的包括Mura區塊的位置值和Mura校正方程式之係數的係數值的Mura校正資料，以及從係數生成器152提供的包括Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式之係數的係數值的Mura像素校正資料。
如果完成了通過Mura區塊檢測器140進行的Mura區塊檢測和通過Mura像素檢測器150進行的Mura像素檢測，則輸出電路170從儲存器160接收從Mura區塊檢測器140傳送的與Mura區塊的位置值對應的Mura校正資料以及從Mura像素檢測器150傳送的與Mura像素的位置值對應的Mura像素校正資料，並將Mura校正資料和Mura像素校正資料提供給驅動器200。
驅動器200將Mura校正資料和Mura像素校正資料儲存在諸如配置在其中的快閃記憶體的儲存位置中。
通過上述方法測試的顯示面板10可以製作為具有驅動器200的集合，在其中儲存有Mura校正資料和Mura像素校正資料。驅動器200 可以通過使用Mura校正資料和Mura像素校正資料來校正Mura區塊或Mura像素的顯示資料。
結果，顯示面板10可以通過校正顯示資料來顯示具有改善的圖像品質的屏幕。
儘管上面已經描述了各種實施方式，但是本領域技術人員將理解，所描述的實施方式僅是示例性的。因此，不應基於所描述的實施方式來限制本文中所描述的公開內容。
10:顯示面板
20:測試圖像供應單元
30:圖像檢測單元
40:相機校準單元
100:Mura校正裝置
200:驅動器

Claims (13)

  1. 一種Mura校正系統，包括：一測試圖像供應單元，配置成將呈現灰階的多個測試圖像提供給一顯示面板；一圖像檢測單元，配置成提供多個檢測圖像，所述檢測圖像是通過拍攝顯示在所述顯示面板上的所述測試圖像而獲得的；以及一Mura校正裝置，配置成：基於一亮度值且以包括多個像素的一區塊單元的形式檢查每個所述檢測圖像，以檢測具有Mura的一Mura區塊；生成一Mura校正方程式之係數的係數值，用於將所述Mura區塊的每個灰階的測量值校正成所述顯示面板的一平均像素亮度值；其中，所述Mura校正方程式是二階方程式；將所述Mura校正方程式之係數中的一第一係數配置成包括多個適應性範圍位元，所述適應性範圍位元能夠改變所述Mura區塊的一亮度表示範圍，以使得針對所述Mura區塊的一第一Mura測量值與一第一Mura校正值之和近似於所述平均像素亮度值；生成包括所述Mura區塊的位置值和所述Mura校正方程式之係數的係數值的一Mura校正資料；以及通過改變所述適應性範圍位元的值，來改變包括在所述Mura區塊之所述亮度表示範圍中的一解析度和一亮度值範圍。
  2. 根據申請專利範圍第1項所述的Mura校正系統，其中，在由所述第一Mura校正值aX2+bX+c與所述第一Mura測量值X之和表示的所述Mura校正方程式中，所述Mura校正裝置生成所述第一Mura校正值之係數的係數值，X是灰階的灰階值，並且a、b和c是係數。
  3. 根據申請專利範圍第2項所述的Mura校正系統，其中，所述Mura校正裝置將所述第一Mura校正值之最高階的係數a配置為所述第一係數。
  4. 根據申請專利範圍第3項所述的Mura校正系統，其中，所述Mura校正裝置，更配置成：將所述第一係數配置成包括所述適應性範圍位元和多個基礎範圍位元，並且將其餘係數配置成包括多個基礎範圍位元；利用在一儲存器映射的被分配用於表示係數的全部位元之中的且除了表示所述係數a的位元之外的其餘位元，來配置所述係數b和所述係數c；以及將所述適應性範圍位元的值配置成在所述Mura區塊中變化的所述亮度表示範圍中最接近於所述第一係數實際所需之係數的係數值。
  5. 根據申請專利範圍第1項所述的Mura校正系統，其中，所述Mura校正裝置，更配置為：在基於所述亮度值進行檢查時，檢測與所述Mura區塊中的其他像素相比具有至少一預定水準亮度差的一Mura像素； 生成一Mura像素校正方程式之係數的係數值，用於將所述Mura像素的每個灰階的測量值校正成所述平均像素亮度值；其中，所述Mura像素校正方程式是二階方程式；以及進一步生成包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式之係數的係數值的一Mura像素校正資料。
  6. 根據申請專利範圍第5項所述的Mura校正系統，其中，所述Mura校正裝置將所述Mura像素校正方程式之係數中的最高階的一第二係數配置成包括能夠改變所述Mura像素的所述亮度表示範圍，以使得所述Mura像素的一第二Mura測量值與一第二Mura校正值之和近似於所述平均像素亮度值的所述適應性範圍位元。
  7. 根據申請專利範圍第6項所述的Mura校正系統，其中，所述Mura校正裝置將所述Mura校正方程式和所述Mura像素校正方程式的係數配置成具有相同的格式。
  8. 一種Mura校正系統，包括：一Mura校正裝置，配置成接收檢測圖像，並生成用於Mura區塊的Mura校正資料，所述檢測圖像與一顯示面板的每個灰階的一測試圖像對應，所述Mura校正裝置包括：一Mura區塊檢測器，配置成通過基於一亮度值且以包括多個像素的一區塊單元的形式檢查每個所述檢測圖像，以檢測具有Mura的一Mura區塊；一第一係數生成器，所述第一係數生成器配置成生成一Mura校正方程式之係數的係數值，用於將所述Mura區塊的每個灰階的測量值校正 成所述顯示面板的一平均像素亮度值；其中，所述Mura校正方程式是二階方程式，並且所述第一係數生成器配置成將所述Mura校正方程式之係數中的一第一係數配置成包括多個適應性範圍位元，所述適應性範圍位元能夠改變所述Mura區塊的一亮度表示範圍，以使得針對所述Mura區塊的一第一Mura測量值與一第一Mura校正值之和近似於所述平均像素亮度值，且所述第一係數生成器配置成通過改變所述適應性範圍位元的值來改變包括在所述Mura區塊之所述亮度表示範圍中的一解析度和一亮度值範圍；一儲存器，配置成儲存包括所述Mura區塊的位置值和所述Mura校正方程式之係數的係數值的一Mura校正資料；以及一輸出電路，配置成將所述Mura校正資料輸出到用於驅動所述顯示面板的一驅動器。
  9. 根據申請專利範圍第8項所述的Mura校正系統，其中，在由所述第一Mura校正值aX2+bX+c與所述第一Mura測量值X之和表示的所述Mura校正方程式中，所述第一係數生成器生成所述第一Mura校正值之係數的係數值，X是灰階的灰階值，並且a、b和c是係數。
  10. 根據申請專利範圍第9項所述的Mura校正系統，其中，所述第一係數生成器將所述第一Mura校正值的最高階的係數a配置為所述第一係數。
  11. 根據申請專利範圍第10項所述的Mura校正系統，其中，所述第一係數生成器，更配置成：將所述第一係數配置成包括所述適應性範圍位元和多個基礎範圍位元，並且將其餘係數配置成包括多個基礎範圍位元； 利用在所述儲存器映射的被分配用於表示係數的全部位元之中的且除了表示所述係數a的位元之外的其餘位元，來配置所述係數b和所述係數c；以及將所述適應性範圍位元的值配置成在所述Mura區塊的變化的所述亮度表示範圍中最接近於所述第一係數實際所需之係數的係數值。
  12. 根據申請專利範圍第8項所述的Mura校正系統，其中，Mura校正裝置包括：一Mura像素檢測器，配置成在基於所述亮度值進行檢查時，檢測與所述Mura區塊中的其他像素相比具有至少一預定水準亮度差的一Mura像素；以及一第二係數生成器，所述第二係數生成器配置成生成一Mura像素校正方程式之係數的係數值，用於將所述Mura像素的每個灰階的測量值校正成所述平均像素亮度值；其中，所述Mura像素校正方程式是二階方程式，並且所述第二係數生成器配置成生成包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式之係數的係數值的一Mura像素校正資料；其中，所述儲存器還儲存所述Mura像素校正資料，所述Mura像素校正資料包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式之係數的係數值；其中，所述輸出電路還向所述驅動器輸出所述Mura像素校正資料。
  13. 根據申請專利範圍第12項所述的Mura校正系統，其中，所述第二係數生成器將所述Mura像素校正方程式之係數中的最高階的一第二係數配置成包括能夠改變所述Mura像素的所述亮度表示範圍，以使 得所述Mura像素的一第二Mura測量值與一第二Mura校正值之和近似於所述平均像素亮度值的所述適應性範圍位元。
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