CN110189669B - 一种点灯测试治具及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种点灯测试治具，至少包括相对设置的底座和盖板、设置于所述底座与所述盖板之间的探针基架、设置于所述探针基架上的探针基座、以及设置于所述探针基座面向所述底座一侧或者面向所述盖板一侧的探针；其中，所述探针基架可分离地设置于所述底座上，且所述探针可面向所述底座一侧或面向所述盖板一侧切换设置，以实现对顶发射显示面板或者底发射显示面板的点灯测试；有益效果：本发明实施例提供的点灯测试治具，通过将治具的探针设计成可上下切换的形式，探针向下切换时对应顶发射产品，探针向上切换时对应底发射产品，实现了顶发射产品与底发射产品共用的技术效果。

Description

一种点灯测试治具及测试方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种点灯测试治具及测试方法。
背景技术
目前AMOLED(Active-matrix Organic Light Emitting Diode，有源矩阵有机发光二极体)产品包括两种发光模式，顶部发光(顶发射)以及底部发光(底发射)，顶发射产品的光是从盖板侧发出，而底发射产品是由TFT侧的阵列基板发出，由于在点灯测试时，治具的信号的探针接触的是阵列基板上制作的金属Pad(端口)，所以，正常设计的点灯测试治具只能对应某一种方式的产品。
综上所述，现有技术的点灯测试治具只能对应某一种方式的产品，不能实现顶发射与底发射产品的共用，导致测试不便，造成治具的浪费。故，有必要开发一款新的点灯测试治具及测试方法来改善这一缺陷。
发明内容
本发明实施例提供一种点灯测试治具，用于解决现有技术的点灯测试治具只能对应某一种方式的产品，不能实现顶发射与底发射产品的共用，导致测试不便，造成治具的浪费的技术问题。
本发明实施例提供一种点灯测试治具，包括相对设置的底座和盖板、设置于所述底座与所述盖板之间的探针基架、设置于所述探针基架上的探针基座、以及设置于所述探针基座面向所述底座一侧或者面向所述盖板一侧的探针；其中，所述探针基架可分离地设置于所述底座上，且所述探针可面向所述底座一侧或面向所述盖板一侧切换设置，以实现对顶发射显示面板或者底发射显示面板的点灯测试。
根据本发明一优选实施例，所述底座上设置有支撑板，所述支撑板用于支撑所述显示面板或者用于支撑所述探针基架。
根据本发明一优选实施例，所述探针基架可相对所述底座垂直移动。
根据本发明一优选实施例，所述探针基架上设置有滑轨，所述探针基座可相对所述探针基架平行滑动。
根据本发明一优选实施例，所述探针基座面向所述底座的一侧设置有第一插孔组，所述探针基座面向所述盖板的一侧设置有第二插孔组，所述第一插孔组和所述第二插孔组均用于插入所述探针。
根据本发明一优选实施例，所述探针基架可旋转地设置于所述探针基座上。
本发明实施例提供一种上述点灯测试治具的测试方法，包括步骤：
S10、提供一显示面板；
S20、若所述显示面板为顶发射显示面板，则将探针基架升至第一预设高度，将探针切换至面向底座的一侧；若所述显示面板为底发射显示面板，则将所述探针基架移动至与所述底座的支撑板平齐，将所述探针切换至面向盖板的一侧；
S30、将所述显示面板置于所述点灯测试治具内；
S40、移动探针基座至所述探针与所述显示面板的测试端口对准；
S50、压合所述探针与所述显示面板的测试端口以实现点亮所述显示面板，进行测试。
根据本发明一优选实施例，在S20中，所述第一预设高度小于所述盖板与所述底座之间的直线距离。
根据本发明一优选实施例，在S30中，若所述显示面板为顶发射显示面板，则将所述显示面板置于所述底座的支撑板上；若所述显示面板为底发射显示面板，则将所述显示面板置于所述探针基架上。
根据本发明一优选实施例，在S50中，若所述显示面板为顶发射显示面板，则将所述探针基架下压；若所述显示面板为底发射显示面板，则将所述盖板下压。
有益效果：本发明实施例提供的点灯测试治具，通过将治具的探针设计成可上下切换的形式，探针向下切换时对应顶发射产品，探针向上切换时对应底发射产品，实现了顶发射产品与底发射产品共用的技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的点灯测试治具的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的探针基座的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的显示面板测试方法流程图；
图4为本发明实施例提供的顶发射面板测试示意图；
图5为本发明实施例提供的底发射面板测试示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
现有技术的点灯测试治具，由于只能对应某一种方式的产品，不能实现顶发射与底发射产品的共用，导致测试不便，造成治具的浪费，本实施例能够解决该缺陷。
如图1所示，本发明实施例提供的点灯测试治具的结构示意图，从图中可以很直观地看到本实施例的各部分几何形状以及相对位置关系，所述点灯测试治具至少包括相对设置的底座101和盖板102、设置于所述底座101与所述盖板102之间的探针基架103、设置于所述探针基架103上的探针基座104、以及设置于所述探针基座104面向所述底座101一侧或者面向所述盖板102一侧的探针。
其中，所述探针基架103可分离地设置于所述底座101上，且所述探针可面向所述底座101一侧或面向所述盖板102一侧切换设置，以实现对顶发射显示面板或者底发射显示面板的点灯测试。
在本发明实施例中，所述底座101上设置有支撑板，所述支撑板用于支撑所述显示面板或者用于支撑所述探针基架103，所述探针基架103可压合在所述底座101上；所述探针基架103与所述底座101之间设置有升降装置，比如弹簧或者升降基台等，使得所述探针基架103可相对所述底座101垂直移动，即相对所述底座101上升或者下降，以改变所述探针基架103与所述底座101之间的距离，满足顶发射显示面板与底发射显示面板放置位置不同的需求；所述探针基架103上还设置有滑轨，所述探针基座104可相对所述探针基架103平行滑动，用于调整所述探针的位置，以对准所述显示面板的测试端口；所述盖板102与所述底座101之间也设置有升降装置，所述盖板102可盖合在所述底座101上。
如图2所示，本发明实施例提供的探针基座的结构示意图，所述探针基座201面向所述底座的一侧设置有第一插孔组，所述探针基座201面向所述盖板的一侧设置有第二插孔组，所述第一插孔组和所述第二插孔组均用于插入探针，即所述第一插孔202用于插入探针204，所述第二插孔203用于插入探针205。
在此实施例中，探针205向上安装的状态对应测试底发射显示面板，是由于底发射显示面板的测试端位于阵列基板侧；探针204向下安装的状态对应测试顶发射显示面板，是由于顶发射显示面板的测试端位于盖板侧，具体地，当需要切换探针的方向时，应先取下探针，再插入另一侧的插孔。
在此实施例中，当所述探针基架可旋转地设置于所述探针基座上时，也可实现所述探针面向所述底座一侧或面向所述盖板一侧的切换。
如图3所示，本发明实施例提供的显示面板测试方法流程图，所述测试方法包括如下步骤：
S301、提供一显示面板；
S302、若所述显示面板为顶发射显示面板，则将探针基架升至第一预设高度，将探针切换至面向底座的一侧；若所述显示面板为底发射显示面板，则将所述探针基架移动至与所述底座的支撑板平齐，将所述探针切换至面向盖板的一侧；
S303、将所述显示面板置于所述点灯测试治具内；
S304、移动探针基座至所述探针与所述显示面板的测试端口对准；
S305、压合所述探针与所述显示面板的测试端口以实现点亮所述显示面板，进行测试。
其中，在S20中，所述第一预设高度小于所述盖板与所述底座之间的直线距离；在S30中，若所述显示面板为顶发射显示面板，则将所述显示面板置于所述底座的支撑板上；若所述显示面板为底发射显示面板，则将所述显示面板置于所述探针基架上；在S50中，若所述显示面板为顶发射显示面板，则将所述探针基架下压；若所述显示面板为底发射显示面板，则将所述盖板下压。
如图4所示，本发明实施例提供的顶发射面板测试示意图，本发明提供的点灯测试治具至少包括相对设置的底座401和盖板402、设置于所述底座401与所述盖板402之间的探针基架403、设置于所述探针基架403上的探针基座404、以及设置于所述探针基座404面向所述底座401一侧或者面向所述盖板402一侧的探针；当显示面板405为顶发射显示面板时，由于顶发射显示面板的测试端在盖板侧，则探针的方向需要向下与显示面板405接触，此时应将探针基架403升起至一预设高度，所述预设高度应小于底座401与盖板402之间的直线距离，显示面板405需放置于底座401的支撑板上，移动探针基座以调整各探针基座之间的间隙，即调整探针的位置，以对准显示面板405的测试端口，对准之后将探针基架404向下移动，与底座401压合，以实现点亮所述显示面板405，进行点灯测试。
其中，若测试之前探针处于向上安装的状态，则需切换至向下安装的状态，切换方式包括：先取下探针再安装至另一端、转动探针基座404使得探针的方向随探针基座404的转动而切换或者其他可行方案。
如图5所示，本发明实施例提供的底发射面板测试示意图，本发明提供的点灯测试治具至少包括相对设置的底座501和盖板502、设置于所述底座501与所述盖板502之间的探针基架503、设置于所述探针基架503上的探针基座504、以及设置于所述探针基座504面向所述底座501一侧或者面向所述盖板502一侧的探针；当显示面板505为底发射显示面板时，由于底发射显示面板的测试端在阵列基板侧，则探针的方向需要向上与显示面板405接触，此时应将探针基架503移动至与所述底座501的支撑板平齐，显示面板505需放置于探针基架503上，移动探针基座以调整各探针基座之间的间隙，即调整探针的位置，以对准显示面板505的测试端口，对准之后将盖板502向下移动，与底座501压合，以实现点亮所述显示面板505，进行点灯测试。
在此实施例中，若测试之前探针处于向下安装的状态，则需先将探针切换至向上安装的状态，再将所述探针基架503向下移动至与所述底座501的支撑板平齐，避免探针被压断，其中，探针的切换方式包括：先取下探针再安装至另一端、转动探针基座404使得探针的方向随探针基座404的转动而切换或者其他可行方案。
综上所述，本发明实施例提供的一种点灯测试治具，通过将治具的探针设计成可上下切换的形式，探针向下切换时对应顶发射产品，探针向上切换时对应底发射产品，实现了顶发射产品与底发射产品共用的技术效果，解决了现有技术的点灯测试治具只能对应某一种方式的产品，不能实现顶发射与底发射产品的共用，导致测试不便，造成治具的浪费的技术问题。
以上对本发明实施例所提供的一种点灯测试治具及测试方法进行了详细介绍。应理解，本文所述的示例性实施方式应仅被认为是描述性的，用于帮助理解本发明的方法及其核心思想，而并不用于限制本发明。

Claims (8)

1.一种点灯测试治具的测试方法，其特征在于，所述点灯测试治具至少包括相对设置的底座和盖板、设置于所述底座与所述盖板之间的探针基架、设置于所述探针基架上的探针基座、以及设置于所述探针基座面向所述底座一侧或者面向所述盖板一侧的探针；其中，所述探针基架可分离地设置于所述底座上，且所述探针可面向所述底座一侧或面向所述盖板一侧切换设置，以实现对顶发射显示面板或者底发射显示面板的点灯测试，所述测试方法包括步骤：
S10、提供一显示面板；
S20、若所述显示面板为所述顶发射显示面板，则将所述探针基架升至第一预设高度，将所述探针切换至面向所述底座的一侧；若所述显示面板为所述底发射显示面板，则将所述探针基架移动至与所述底座的支撑板平齐，将所述探针切换至面向所述盖板的一侧；
S30、将所述显示面板置于所述点灯测试治具内；
S40、移动所述探针基座至所述探针与所述显示面板的测试端口对准；
S50、压合所述探针与所述显示面板的测试端口以实现点亮所述显示面板，进行测试。
2.如权利要求1所述的点灯测试治具的测试方法，其特征在于，在S20中，所述第一预设高度小于所述盖板与所述底座之间的直线距离。
3.如权利要求1所述的点灯测试治具的测试方法，其特征在于，在S30中，若所述显示面板为所述顶发射显示面板，则将所述显示面板置于所述底座的所述支撑板上；若所述显示面板为所述底发射显示面板，则将所述显示面板置于所述探针基架上。
4.如权利要求1所述的点灯测试治具的测试方法，其特征在于，在S50中，若所述显示面板为所述顶发射显示面板，则将所述探针基架下压；若所述显示面板为所述底发射显示面板，则将所述盖板下压。
5.如权利要求1所述的点灯测试治具的测试方法，其特征在于，所述探针基架可相对所述底座垂直移动。
6.如权利要求5所述的点灯测试治具的测试方法，其特征在于，所述探针基架上设置有滑轨，所述探针基座可相对所述探针基架平行滑动。
7.如权利要求6所述的点灯测试治具的测试方法，其特征在于，所述探针基座面向所述底座的一侧设置有第一插孔组，所述探针基座面向所述盖板的一侧设置有第二插孔组，所述第一插孔组和所述第二插孔组均用于插入所述探针。
8.如权利要求6所述的点灯测试治具的测试方法，其特征在于，所述探针基座可旋转地设置于所述探针基架上。
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