KR101594563B1 - 검사시스템용 소켓 이송장치 - Google Patents

검사시스템용 소켓 이송장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101594563B1
KR101594563B1 KR1020150122455A KR20150122455A KR101594563B1 KR 101594563 B1 KR101594563 B1 KR 101594563B1 KR 1020150122455 A KR1020150122455 A KR 1020150122455A KR 20150122455 A KR20150122455 A KR 20150122455A KR 101594563 B1 KR101594563 B1 KR 101594563B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
socket
terminal
lifting
inspection system
plate
Prior art date
Application number
KR1020150122455A
Other languages
English (en)
Inventor
남한성
Original Assignee
위드시스템 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 위드시스템 주식회사 filed Critical 위드시스템 주식회사
Priority to KR1020150122455A priority Critical patent/KR101594563B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101594563B1 publication Critical patent/KR101594563B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 검사시스템용 소켓 이송장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피검사체의 공급 또는 제거가 용이하도록 피검사체의 상부에서 단자와 접촉하기 위한 소켓부를 이송시키기 위한 검사시스템용 소켓 이송장치에 관한 것이다.
또한, 피검사체의 단자와 접촉하여 회로 연결되기 위한 소켓부와 상기 소켓부를 상승 또는 하강시키기 위한 승강부를 포함하며, 상기 승강부를 통해 소켓부를 하강시켜 피검사체의 단자와 소켓부를 연결하여 검사를 수행한 후 소켓부를 상승시켜 연결을 해제하는 것을 특징으로 한다.

Description

검사시스템용 소켓 이송장치{socket transfer apparatus for inspection system}
본 발명은 검사시스템용 소켓 이송장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피검사체의 공급 또는 제거가 용이하도록 피검사체의 상부에서 단자와 접촉하기 위한 소켓부를 이송시키기 위한 검사시스템용 소켓 이송장치에 관한 것이다.
일반적으로 전자기기에 구성되는 회로기판은 많은 전자부품들이 배치되어 있으며, 많은 전자 부품의 설치되는 과정에서 발생하는 불량은 회로기판을 전기적으로 연결하여 회로를 구성한 후 전기적 신호를 통해 불량여부를 판단하게 된다.
이때, 회로기판은 완성된 전자기기의 회로기판이거나, 전자기기의 회로기판에 배치될 복수 개의 개별적인 부품의 회로기판일 수도 있다.
예를 들면, 무선통신 단말기의 회로기판이거나, 무선통신 단말기를 구성하는 디스플레이, 카메라모듈 등 개별적인 각 부품별로 제조과정에서 검사를 수행하게 된다.
즉, 완성된 형태뿐만 아니라, 제조과정 중에 각 부품별로 지속적인 검사를 수행하게 되는 것이다.
이때 각 전자부품의 소켓을 통해 검사시스템이 전기적으로 연결되어 회로로 구성되어 검사를 수행하게 되며, 종래에는 한국등록특허 제10-1019417호 "카메라모듈 검사용 소켓"과 같이 작업자가 각 부품별을 안착시킨 덮개를 덮어 전기적으로 연결시키는 방법이 주로 사용되었다.
하지만, 작업자가 덮개를 안착시키는 과정에서 소켓이 손상되거나, 작업자가 이와 같은 일련의 과정을 수행하는데 소요되는 시간으로 인해 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.
이에 따라, 실린더를 이용하여 검사를 위한 소켓을 피 검사체에 결합시키기 위한 장치가 개발되었으나,
검사를 위해 지그에 피 검사체를 공급할 때 또는 검사가 완료된 피 검사체를 제거할 때 피 검사체의 이동경로상에 위치할 수 밖에 없는 소켓 및 소켓의 이송을 위한 실린더에 의해 작업자가 피 검사체를 공급하거나 제거하기 어려운 문제점이 있었다.
또한, 작업상의 편의성을 위해 검사시스템이 더욱 축소되어야할 필요성이 있었으나, 상기 소켓 및 소켓의 이송을 위한 실린더에 의한 공간상의 제약을 해소하기에는 어려운 문제점이 있었다.
한국등록특허 제10-1019417호 "카메라모듈 검사용 소켓"
본 발명의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 소켓 및 소켓의 이송을 위한 실린더가 피 검사체를 공급 또는 제거하기 위한 이동경로상에서 이동되기 위한 검사시스템용 소켓 이송장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 소켓 및 소켓의 이송을 위한 실린더가 이동될 수 있으면서도 이송을 위한 구조가 외부로 돌출되는 것을 방지하기 위한 검사시스템용 소켓 이송장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 피 검사체의 단자 형상 또는 위치가 변경되더라도 기기전체의 교체 없이 사용하기 위한 검사시스템용 소켓 이송장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 피 검사체의 종류 형태가 다르더라도 기기전체의 교체 없이 사용하기 위한 검사시스템용 소켓 이송장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치는 피검사체의 단자와 접촉하여 회로 연결되기 위한 소켓부와 상기 소켓부를 상승 또는 하강시키기 위한 승강부를 포함하며, 상기 승강부를 통해 소켓부를 하강시켜 피검사체의 단자와 소켓부를 연결하여 검사를 수행한 후 소켓부를 상승시켜 연결을 해제하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 소켓부는 전면측에 피검사체의 단자와 회로 구성되기 위한 인터페이스 블럭을 더 포함하며, 상기 인터페이스 블럭은 피검사체의 단자 형상에 따라 다른 형태의 인터페이스 블럭으로 교체하거나, 단자의 위치에 따라 인터페이스 블럭의 고정 위치를 이동할 수 있도록 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 소켓부는 승강부의 제1 실린더 로드에 결합되는 승강 플레이트와 상기 승강 플레이트의 상부에 핀 결합되어 회동되는 회동 플레이트와 상기 승강 플레이트의 일측 상면에 배치되어 회동 플레이트의 일측 하면을 탄성지지하기 위한 복수 개의 탄성체를 포함하며, 상기 탄성체의 개수를 변경하여 상기 회동 플레이트를 지지하는 탄성력을 조절할 수 있는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 승강부의 양측으로 형성된 가이드 홀과 상기 소켓부의 하면 양측으로 형성된 가이드를 더 포함하며, 상기 가이드 홀에 삽입된 가이드에 의해 상기 소켓부가 기울어짐 없이 수평하게 상승 또는 하강하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 소켓부를 전면 방향으로 전진시켜 피검사체의 단자 상부에 위치시키거나, 검사가 완료된 피검사체의 제거가 용이하도록 상기 소켓부를 후면 방향으로 후퇴시키기 위한 이송부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 이송부는 제2 실린더가 일체형으로 구성되어 검사시스템의 하면에 고정되는 고정 플레이트와 상기 고정 플레이트의 하면에 위치한 복수 개의 레일을 포함하여 구성되며, 상기 승강부는 제2 실린더의 동작에 따라 상기 레일을 따라 이송되는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치에 의하면, 피 검사체를 공급 또는 제거할 때 소켓 및 소켓의 이송을 위한 실린더를 이동시켜 피 검사체의 이동경로상에서 제거할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치에 의하면, 소켓 및 소켓의 이송을 위한 실린더를 이동시키기 위한 구조가 피 검사체의 안착을 위한 지그의 하면에 배치될 수 있음에 따라 공간상의 제약을 해소할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치에 의하면, 피 검사체의 단자 형상 또는 위치가 변경되더라도 기기전체의 교체 없이 피 검사체의 단자와 연결되는 부분만 교체하여 사용할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치에 의하면, 피 검사체의 종류 형태가 다르더라도 기기전체의 교체 없이 피 검사체가 안착되는 지그의 하면에 부착하여 사용할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치를 도시한 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 동작을 도시한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 승강부 및 이송부를 도시한 도면.
도 4는 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 승강부 및 소켓부를 도시한 도면.
도 5 또는 도 6은 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 소켓부를 도시한 도면.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치를 도시한 사시도이며, 도 2는 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 동작을 도시한 도면이고, 도 3은 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 승강부 및 이송부를 도시한 도면이며, 도 4는 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 승강부 및 소켓부를 도시한 도면이고, 도 5는 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 소켓부를 도시한 도면이다.
도 1 또는 도 2는 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치 및 그 동작을 도시한 것이며, 피검사체(9)의 단자(10)와 접촉하여 회로 연결되기 위한 소켓부(1)와 상기 소켓부(1)를 상승 또는 하강시키기 위한 승강부(2)를 포함하며, 상기 승강부(2)를 통해 소켓부(1)를 하강시켜 피검사체(9)의 단자(10)와 소켓부(1)를 연결하여 검사를 수행한 후 소켓부(1)를 상승시켜 연결을 해제하도록 구성된다.
보다 상세하게는, 작업자 또는 트랜스퍼에 의해 이송되어 지그(8)에 피 검사체(9)가 안착되면, 도 2의 (2-I)에 도시된 바와 같이 상기 소켓부(1)가 승강부(2)에 의해 하강하여 피 검사체(9)의 검사를 위한 단자(10)에 밀착되고 검사시스템(미도시)의 회로와 연결되어 검사를 수행된다.
또한, 상기 소켓부(1)는 승강부(2)의 제1 실린더 로드(21)에 결합되는 승강 플레이트(13)와 상기 승강 플레이트(13)의 상부에 핀(15) 결합되어 회동되는 회동 플레이트(14)와 상기 승강 플레이트(13)의 일측 상면에 배치되어 회동 플레이트(14)의 일측 하면을 탄성지지하기 위한 복수 개의 탄성체(16)를 포함하도록 구성된다.
또한, 상기 탄성체(16)는 상기 회동 플레이트(14)에 배치되는 인터페이스 블럭(11)과 피 검사체(9)의 단자(10) 사이에서 발생하는 압력에 의해 어느 하나가 파손되는 것을 방지하게 된다.
또한, 상기 탄성체(16)는 인터페이스 블럭(11)과 피 검사체(9)의 단자(10) 사이를 탄성력을 이용하여 밀착시켜주는 기능도 수행하게 된다.
즉, 탄성력을 이용하여 적절한 압력으로 밀착시켜주면서 탄성력 이상의 압력을 받을 시 탄성체(16)가 수축하면서 인터페이스 블럭(11)이 배치된 회동 플레이트(14)가 핀(15)을 중심으로 회동하여 인터페이스 블럭(11) 또는 단자(10)의 파손을 방지하게 되는 것이다.
또한, 피 검사체(9)의 검사가 완료되면, 도 2의 (2-II)에 도시된 바와 같이 상기 소켓부(1)가 승강부(2)에 의해 상승하여 피 검사체(9)의 검사를 위한 단자(10)로부터 이격되고 검사시스템(미도시)의 회로와 연결이 해제된다.
이때, 작업자 또는 트랜스퍼가 지그(8)에 안착된 피 검사체(9)를 제거(배출)하거나 새로운 피 검사체를 안착시키는 과정에서 피 검사체(9)와 상기 소켓부(1) 사이 거리가 가까워 충돌이 발생할 위험이 있다.
이를 방지하기 위해 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치는 상기 소켓부(1)를 전면 방향으로 전진시켜 피검사체(9)의 단자(10) 상부에 위치시키거나, 검사가 완료된 피검사체(9)의 제거가 용이하도록 상기 소켓부(1)를 후면 방향으로 후퇴시키기 위한 이송부(3)를 더 포함하도록 구성될 수도 있다.
상기 이송부(3)는 소켓부(1)를 전면 또는 후면 방향으로 이송시키기 위한 다양한 이송수단이 사용될 수 있지만, 이송을 위한 구조가 외부로 돌출되는 것을 방지하여 공간상의 제약을 해소하기 위해 하기와 같이 구성됨이 가장 바람직하다.
도 3의 (3-I)에 도시된 바와 같이, 상기 이송부(3)는 제2 실린더(30)가 일체형으로 구성되어 검사시스템의 하면에 고정되는 고정 플레이트(32)와 상기 고정 플레이트(32)의 하면에 위치한 복수 개의 레일(33)을 포함하여 구성된다.
또한, 상기 승강부(2)는 제2 실린더(30)의 제2 실린더 로드(31)에 결합되어 제2 실린더(30)의 동작에 따라 상기 레일(33)을 따라 이송된다.
상기와 같은 동작을 위해 상기 승강부(2)는 "ㄴ"자 형태의 프레임 구조를 가지면서, 후면측에 승하강을 위한 제1 실린더(20)가 내부에 일체형을 구성되고, 전면측으로 돌출된 부분이 이송부(3)의 하단으로 삽입되어 레일(33)을 통해 이송부(3)와 결합된다.
또한, 부피를 최대한으로 줄이고자, 제1 실린더(20)와 승강부(2)의 프레임, 제2 실린더(30)와 이송부(3)의 프레임은 각각 일체형으로 구성되어 있으며, 제2 실린더(30)의 동작에 따라 제2 실린더(30)의 제2 실린더 로드(31)와 결합된 승강부(2)는 레일(33)을 따라 이송된다.
이를 통해 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치는 상기 승강부(2) 및 소켓부(1)를 전면 방향으로 전진시켜 검사를 수행하거나, 검사가 완료된 피검사체(9)를 제거(배출) 또는 새로운 피 검사체의 안착 과정에서 피 검사체(9)와 상기 소켓부(1) 사이의 충돌을 방지하고자 상기 승강부(2) 및 소켓부(1)를 후면 방향으로 후퇴시키게 된다.
즉, 피 검사체(9)를 공급 또는 제거할 때 승강부(2) 및 소켓부(1)를 이동시켜 피 검사체의 이동경로상에서 제거할 수 있는 것이다.
도 4는 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 승강부 및 소켓부를 도시한 것이며, 회동 플레이트(14)의 하면과 승강 플레이트(13)의 상면에는 복수 개의 탄성체 홀(16A, 16B)이 대응되는 위치에 형성되어 있으며, 각각의 탄성체 홀(16A, 16B)에는 탄성체(16)가 삽입되어 회동 플레이트(14)와 승강 플레이트(13) 사이에서 회동 플레이트(14)를 탄성지지하게 된다.
또한, 상기 복수 개의 탄성체 홀(16A, 16B) 중 어느 하나 이상에서 탄성체(16)를 제거하여 회동 플레이트(14)를 탄성지지하는 탄성력의 세기를 조절할 수 있도록 구성된다.
또한, 상기 승강부(2)에 의해 상승 또는 하강하는 소켓부(1)는 피 검사체의 단자와 접촉될 때 접촉불량으로 인한 손상을 방지하기 위해 상승 또는 하강하는 과정에서 기울어지지 않고, 평행을 유지한 상태로 동작될 필요성이 있다.
이에 따라, 본 발명에 따른 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치는 상기 승강부(2)의 제1 실린더(20) 및 제1 실린더 로드(21) 양측으로 형성된 가이드 홀(23)과 상기 소켓부(1)의 하면 양측으로 형성된 가이드(22)를 더 포함하도록 구성될 수도 있으며, 상기 가이드 홀(23)에 삽입된 가이드(22)에 의해 상기 소켓부(1)가 기울어짐 없이 수평하게 상승 또는 하강할 수 있는 것이다.
즉, 상기 소켓부(1)는 상승 또는 하강할 때 상기 소켓부(1)에 형성된 가이드(22)가 가이드 홀(23)을 따라 이동되기 때문에 상기 소켓부(1)는 항상 수평한 상태를 유지하게 된다.
도 5 또는 도 6은 본 발명에 따른 검사시스템용 소켓 이송장치의 소켓부를 도시한 것이며, 상기 소켓부(1)는 전면측에 피검사체의 단자와 회로 구성되기 위한 인터페이스 블럭(11)을 더 포함하며, 상기 인터페이스 블럭(11)은 피검사체의 단자 형상에 따라 다른 형태의 인터페이스 블럭으로 교체하거나, 단자의 위치에 따라 인터페이스 블럭(11)의 고정 위치를 이동할 수 있도록 구성된다.
보다 상세하게는, 상기 소켓부(1)의 인터페이스 블럭(11)은 회동 플레이트(14)에 조절판(12)을 통해 결합되도록 구성되며, 상기 조절판(12)은 상기 회동 플레이트(14)에 탈부착 가능하도록 복수 개의 고정나사(17)에 의해 고정된다.
이에 따라, 피 검사체의 단자가 변경되거나, 피검사체의 종류가 변경되어 상기 인터페이스 블럭(11)의 핀 개수 또는 인터페이스 블럭(11)의 크기 또는 형태가 변경될 필요성이 있을 경우, 상기 인터페이스 블럭(11)이 결합되는 조절판(2)을 회동 플레이트(14)로부터 분리, 제거한 후 변경될 인터페이스 블럭에 대응하는 다른 조절판(2)을 부착, 고정시켜 사용할 수 있다.
또한, 도 6에 도시된 바와 같이, 조절판(2)에 끼움결합되는 인터페이스 블럭(11)은 상면에서 하면으로 관통하는 복수 개의 관통 홀에 삽입되어 몸체의 상면과 하면으로 돌출되는 복수 개의 프로브(11C)가 내장되어 있으며, 전면과 배면에 조절판(2)과 결합시 결합위치를 조절하기 위한 복수 개의 위치 조절돌기(11A)를 포함하여 구성된다.
또한, 상기 조절판(2)에는 상기 위치 조절돌기(11A)의 형상에 대응하는 복수 개의 위치 고정 홈(11B)이 형성되어 상기 복수 개의 위치 고정홈(11B) 중 상기 위치 조절돌기(11A)가 끼움결합되는 위치에 따라 인터페이스 블럭(11)의 위치가 조절된다.
즉, 상기 위치 고정홈(11B) 중 인터페이스 블럭(11)의 위치 조절돌기(11A)가 결합되는 위치 고정 홈(11B)의 위치에 따라 11L과 같이 끼움결합되는 인터페이스 블럭(11)의 위치가 조절될 수 있는 것이다.
이를 통해 조절판(2)의 교환없이 인터페이스 블럭(11)을 횡방향으로 위치 고정 홈(11B)간의 사이 거리(11L)만큼 조절할 수 있다.
이상과 같이 본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 중심으로 기술되었지만 당업자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 범주를 벗어남이 없이 많은 다양한 자명한 변형이 가능하다는 것은 명백하다. 따라서 본 발명의 범주는 이러한 많은 변형의 예들을 포함하도록 기술된 청구범위에 의해서 해석되어져야 한다.
1 : 소켓부
2 : 승강부
3 : 이송부
4 : 분산제
5 : 열확산 플레이트
8 : 지그
9 : 피 검사체
10 : 단자
11 : 인터페이스 블럭
12 : 위치 조절판
13 : 승강 플레이트
14 : 회동 플레이트
15 : 핀
16 : 탄성체
17 : 고정나사
20 : 제1 실린더
21 : 제1 실린더 로드
22 : 가이드
23 : 가이드 홀
30 : 제2 실린더
31 : 제2 실린더 로드
32 : 고정 플레이트
33 : 레일

Claims (6)

  1. 피검사체의 단자와 접촉하여 회로 연결되기 위한 소켓부와;
    상기 소켓부를 상승 또는 하강시키기 위한 승강부를 포함하며,
    상기 승강부를 통해 소켓부를 하강시켜 피검사체의 단자와 소켓부를 연결하여 검사를 수행한 후 소켓부를 상승시켜 연결을 해제하는 것을 특징으로 하고,
    상기 소켓부는, 승강부의 제1 실린더 로드에 결합되는 승강 플레이트와;
    상기 승강 플레이트의 상부에 핀 결합되어 회동되는 회동 플레이트와;
    상기 승강 플레이트의 일측 상면에 배치되어 회동 플레이트의 일측 하면을 탄성지지하기 위한 복수 개의 탄성체를 포함하며,
    상기 탄성체의 개수를 변경하여 상기 회동 플레이트를 지지하는 탄성력을 조절할 수 있는 것을 특징으로 하는
    검사시스템용 소켓 이송장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 소켓부는 전면측에 피검사체의 단자와 회로 구성되기 위한 인터페이스 블럭을 더 포함하며,
    상기 인터페이스 블럭은 피검사체의 단자 형상에 따라 다른 형태의 인터페이스 블럭으로 교체하거나, 단자의 위치에 따라 인터페이스 블럭의 고정 위치를 이동할 수 있도록 구성되는 것을 특징으로 하는
    검사시스템용 소켓 이송장치.
  3. 삭제
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 승강부의 양측으로 형성된 가이드 홀과;
    상기 소켓부의 하면 양측으로 형성된 가이드를 더 포함하며,
    상기 가이드 홀에 삽입된 가이드에 의해 상기 소켓부가 기울어짐 없이 수평하게 상승 또는 하강하는 것을 특징으로 하는
    검사시스템용 소켓 이송장치.
  5. 피검사체의 단자와 접촉하여 회로 연결되기 위한 소켓부와;
    상기 소켓부를 상승 또는 하강시키기 위한 승강부를 포함하며,
    상기 승강부를 통해 소켓부를 하강시켜 피검사체의 단자와 소켓부를 연결하여 검사를 수행한 후 소켓부를 상승시켜 연결을 해제하는 것을 특징으로 하고,
    상기 소켓부를 전면 방향으로 전진시켜 피검사체의 단자 상부에 위치시키거나, 검사가 완료된 피검사체의 제거가 용이하도록 상기 소켓부를 후면 방향으로 후퇴시키기 위한 이송부를 더 포함하며,
    상기 이송부는,
    제2 실린더가 일체형으로 구성되어 검사시스템의 하면에 고정되는 고정 플레이트와;
    상기 고정 플레이트의 하면에 위치한 복수 개의 레일을 포함하여 구성되며,
    상기 승강부는 제2 실린더의 동작에 따라 상기 레일을 따라 이송되는 것을 특징으로 하는
    검사시스템용 소켓 이송장치.
  6. 삭제
KR1020150122455A 2015-08-31 2015-08-31 검사시스템용 소켓 이송장치 KR101594563B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150122455A KR101594563B1 (ko) 2015-08-31 2015-08-31 검사시스템용 소켓 이송장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150122455A KR101594563B1 (ko) 2015-08-31 2015-08-31 검사시스템용 소켓 이송장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101594563B1 true KR101594563B1 (ko) 2016-02-16

Family

ID=55448164

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150122455A KR101594563B1 (ko) 2015-08-31 2015-08-31 검사시스템용 소켓 이송장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101594563B1 (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200492667Y1 (ko) * 2020-07-16 2020-11-19 위드시스템 주식회사 디스플레이 모듈 검사를 위한 커넥터 연결 장치
KR102181039B1 (ko) * 2020-07-16 2020-11-19 위드시스템 주식회사 지그가 일체형으로 형성된 디스플레이 검사용 연결 장치
KR20220136617A (ko) * 2021-04-01 2022-10-11 주식회사 케이아이 전기적 특성 검사 장치
CN115902318A (zh) * 2022-12-14 2023-04-04 杭州布雷科电气有限公司 一种高压直流继电器测试平台

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001051008A (ja) * 1999-05-31 2001-02-23 Nidec Copal Corp 基板検査装置
KR20080082997A (ko) * 2005-12-28 2008-09-12 가부시키가이샤 아드반테스트 착탈장치, 테스트 헤드 및 전자부품 시험장치
KR101019417B1 (ko) 2008-09-03 2011-03-07 주식회사 엔티에스 카메라모듈 검사용 소켓
KR20140012600A (ko) * 2012-07-20 2014-02-03 세이코 엡슨 가부시키가이샤 전자 부품 반송 장치 및 전자 부품 검사 장치
KR101387418B1 (ko) * 2013-11-19 2014-04-25 주식회사 메카텍시스템즈 카메라 모듈용 테스트 소켓

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001051008A (ja) * 1999-05-31 2001-02-23 Nidec Copal Corp 基板検査装置
KR20080082997A (ko) * 2005-12-28 2008-09-12 가부시키가이샤 아드반테스트 착탈장치, 테스트 헤드 및 전자부품 시험장치
KR101019417B1 (ko) 2008-09-03 2011-03-07 주식회사 엔티에스 카메라모듈 검사용 소켓
KR20140012600A (ko) * 2012-07-20 2014-02-03 세이코 엡슨 가부시키가이샤 전자 부품 반송 장치 및 전자 부품 검사 장치
KR101387418B1 (ko) * 2013-11-19 2014-04-25 주식회사 메카텍시스템즈 카메라 모듈용 테스트 소켓

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200492667Y1 (ko) * 2020-07-16 2020-11-19 위드시스템 주식회사 디스플레이 모듈 검사를 위한 커넥터 연결 장치
KR102181039B1 (ko) * 2020-07-16 2020-11-19 위드시스템 주식회사 지그가 일체형으로 형성된 디스플레이 검사용 연결 장치
KR20220136617A (ko) * 2021-04-01 2022-10-11 주식회사 케이아이 전기적 특성 검사 장치
KR102583949B1 (ko) 2021-04-01 2023-10-05 주식회사 케이아이 전기적 특성 검사 장치
CN115902318A (zh) * 2022-12-14 2023-04-04 杭州布雷科电气有限公司 一种高压直流继电器测试平台

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11007768B2 (en) Board work device having support member conveyance section for conveying board support member
KR101594563B1 (ko) 검사시스템용 소켓 이송장치
KR101732629B1 (ko) 멀티 프로브 검사기용 정렬장치
KR101346952B1 (ko) Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법
KR101035570B1 (ko) Lcd 검사 장비용 자동 프로브 유니트 교체장치
CN217369300U (zh) 一种激光芯片测试分选机
KR101611922B1 (ko) 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법
CN107466197B (zh) 部件安装装置以及部件安装方法
KR101346895B1 (ko) Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 모델 교체 방법
KR20140136076A (ko) 반도체소자 테스트용 핸들러의 트레이 적재장치
JP2009135215A (ja) 基板位置決め装置及び基板位置決め方法
US7741861B2 (en) Test apparatus for the testing of electronic components
JP7113989B2 (ja) 対基板作業装置
JP2007093302A (ja) 試験装置およびテストヘッド
CN114451079B (zh) 基板支撑销设置用夹具、基板支撑销设置方法
JP5223819B2 (ja) 基板固定装置及び電子部品実装装置
KR101716407B1 (ko) 스크린 프린터용 기판 안착 모듈 교체 장치
JP7033155B2 (ja) 対基板作業装置
KR20000072967A (ko) 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치
KR101174861B1 (ko) 디스플레이 글래스 테스트기판의 교체장치
JPWO2015145741A1 (ja) 基板処理装置
JP7353436B2 (ja) 印刷装置
US20240208201A1 (en) Automatic mask replacement device for screen printer
KR20120131148A (ko) 프로브 유니트용 크리너
KR100999029B1 (ko) 백업유닛 승강장치

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190207

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200205

Year of fee payment: 5