CN201732128U

CN201732128U - 测试玻璃基板的设备

Info

Publication number: CN201732128U
Application number: CN2010202202363U
Authority: CN
Inventors: 白国晓; 高原; 王耀伟; 田震寰
Original assignee: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: BOE Technology Group Co Ltd
Priority date: 2010-06-01
Filing date: 2010-06-01
Publication date: 2011-02-02
Anticipated expiration: 2020-06-01

Abstract

本实用新型提供一种测试玻璃基板的设备，包括承载玻璃基板的载台和向玻璃基板加载测试信号的探针框架，其中，还包括：定位装置，分别固设在载台的边缘上，用于调整探针框架到指定位置，指定位置为探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点对准的位置；固定装置，设置在探针框架上，用于当定位装置调整探针框架到指定位置之后，固定探针框架。本实用新型通过在载台的边缘上设置的定位装置，解决了现有技术中当探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点接触不良时，需要操作人员对探针框架的位置进行手动调整的问题，实现了自动调整探针框架的位置，节省了人力资源，从而提高了设备运行稼动率和玻璃基板的产量。

Description

测试玻璃基板的设备

技术领域

本实用新型实施例涉及测试技术，尤其涉及一种测试玻璃基板的设备。

背景技术

探针框架是生产线中的常用设备，以液晶显示器(Liquid CrystalDisplay，简称LCD)的生产过程为例，其中涉及一种薄膜晶体管(Thin FilmTransistor，简称TFT)基板电学测试设备上的探针框架，作为向玻璃基板上加载测试信号的设备。

图1为现有技术中测试玻璃基板的设备的俯视结构示意图，如图1所示，该设备包括承载玻璃基板的载台1、向玻璃基板加载测试信号的探针框架2和不同探针框架尺寸进行切换的探针框架的轨道4。在玻璃基板装载到设备上或从设备上卸载的过程中，探针框架会有升起(Up)和下降(Down)的动作，此动作会导致探针框架在水平位置上发生了微小的位移，如果探针框架的位移过大，可能会致使探针框架上的探针(pin)与玻璃基板上的信号加入金属触点(pad)没有发生接触或接触面积过小，从而就会导致检测信号无法加载到玻璃基板上，进而导致设备报警而终止测试。操作人员听到报警之后，对探针框架的位置进行手动调整，浪费了大量的人力资源，导致了设备运行稼动率的降低，从而降低了玻璃基板的产量。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种测试玻璃基板的设备，用以自动调整探针框架的位置，节省人力资源，提高设备运行稼动率和玻璃基板的产量。

本实用新型实施例提供一种测试玻璃基板的设备，包括承载玻璃基板的载台和向玻璃基板加载测试信号的探针框架，其中，还包括：

定位装置，固设在所述载台的边缘上，用于调整所述探针框架到指定位置，所述指定位置为所述探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点对准的位置；

固定装置，设置在所述探针框架上，用于当所述定位装置调整所述探针框架到指定位置之后，固定所述探针框架。

如上所述的测试玻璃基板的设备，其中：还包括控制装置，与所述固定装置连接，用于在所述探针框架未到指定位置时，控制所述固定装置不固定所述探针框架，在所述探针框架到指定位置时，控制所述固定装置固定所述探针框架。

如上所述的测试玻璃基板的设备，其中：所述固定装置为电磁铁。

如上所述的测试玻璃基板的设备，其中：所述定位装置的个数为四个或八个。

如上所述的测试玻璃基板的设备，其中：所述定位装置包括驱动组件、滑动组件和定位组件，其中：

所述驱动组件与所述滑动组件连接，用于控制所述滑动组件到所述指定位置或其他未指定的位置；

所述滑动组件设置在所述载台的边缘上，用于在所述驱动组件的控制下滑动到所述指定位置或其他未指定的位置；

所述定位组件设置在所述滑动组件上，用于在所述滑动组件的带动下将所述探针框架调整到所述指定位置或在所述滑动组件的带动下到其他未指定的位置。

如上所述的测试玻璃基板的设备，其中：所述滑动组件包括左右滑动部件，或者包括左右滑动部件和上下滑动部件。

如上所述的测试玻璃基板的设备，其中：所述驱动组件为气动元件或马达。

本实用新型提供的测试玻璃基板的设备，通过在载台的边缘上分别设置至少四个定位装置，解决了现有技术中当探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点接触不良时，需要操作人员对探针框架的位置进行手动调整的问题，实现了自动调整探针框架的位置，节省了人力资源，从而提高了设备运行稼动率和玻璃基板的产量。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中测试玻璃基板的设备的俯视结构示意图；

图2A为本实用新型实施例一提供的测试玻璃基板的设备的俯视结构示意图；

图2B为本实用新型实施例一提供的测试玻璃基板的设备中的探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点的对准示意图；

图3为本实用新型实施例二提供的测试玻璃基板的设备的俯视结构示意图；

图4A为本实用新型实施例三提供的测试玻璃基板的设备中定位装置的结构示意图；

图4B为本实用新型实施例四提供的测试玻璃基板的设备中定位装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型实施例所述的探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点接触不良的根本原因在于，在玻璃基板装载到设备上或从设备上卸载的过程中，探针框架会有升起(Up)和下降(Down)的动作，此动作会导致探针框架在水平位置上发生了微小的位移，如果探针框架的位移过大，可能会致使探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点没有发生接触或接触面积过小，从而就会导致检测信号无法加载到玻璃基板上。

图2A为本实用新型实施例一提供的测试玻璃基板的设备的俯视结构示意图，如图2A所示，该设备包括承载玻璃基板的载台1、向玻璃基板加载测试信号的探针框架2、设置在探针框架2上的固定装置3、不同探针框架尺寸进行切换的探针框架的轨道4、定位装置5、定位装置6、定位装置7和定位装置8。四个定位装置分别固设在载台1的边缘上，用于调整探针框架2到指定位置，该指定位置为探针框架2上的探针15与玻璃基板上的信号加入金属触点16对准的位置，固定装置3用于当上述四个定位装置调整探针框架2到指定位置之后，固定探针框架2，如图2B所示。

探针框架2有三个最重要的位置：运行(“run”)、清洗(“scrub”)、装载(“load”)。“run”的位置是探针框架最低的位置，也就是向玻璃基板加载信号时的位置；“scrub”的位置是探针框架上的探针距离玻璃基板的垂直距离在2～4毫米之间时的位置，这个位置是设备在固定和调整玻璃基板位置时用到的(因为在固定或调整玻璃基板位置时，为了避免玻璃基板被紧紧的粘在载台上，载台上的好多小孔是吹着气的，这时玻璃基板是悬浮着的，探针框架在“scrub”这个位置就可以避免探针框架上的探针划损玻璃基板上沉积的电路，同时玻璃基板也不会被探针框架上的探针紧紧的压在载台上)；“load”的位置是探针框架最高的位置，也就是在更换玻璃时的位置，当这张玻璃基板测试完毕之后，探针框架会升起来，这时玻璃基板也会被顶起，这时机器人就会取走已经测试完的玻璃基板并放上另一张玻璃基板。

进一步地，本实用新型的测试玻璃基板的设备还可以进一步包括控制装置(图中未示出)，与固定装置3连接，用于在探针框架2未到指定位置时，控制固定装置3不固定探针框架2，在探针框架2到指定位置时，控制固定装置3固定探针框架2。

上述固定装置3可以包括设置在载台1上的电磁铁和对应设置在探针框架2上的铁块。本实用新型通过在载台的每个边缘上分别设置一个定位装置，当探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点接触不良时，控制装置可以控制电磁铁断电，四个定位装置则重新校正探针框架的位置，实现了自动调整探针框架的位置，节省了人力资源，从而提高了设备运行稼动率和玻璃基板的产量。

图3为本实用新型实施例二提供的测试玻璃基板的设备的俯视结构示意图，如图3所示，与上一实施例相比，本实施例中在载台1的边缘上还设置了定位装置9、定位装置10、定位装置11和定位装置12，即在载台1的每个边缘上设置两个定位装置。

本实用新型通过在载台的每个边缘上分别设置两个定位装置，当探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点接触不良时，控制装置可以控制电磁铁断电，八个定位装置则重新校正探针框架的位置，实现了自动调整探针框架的位置，节省了人力资源，从而提高了设备运行稼动率和玻璃基板的产量。

需要说明的是：本实用新型实施例中涉及的探针框架的轨道4是不需要进行横向的位置调整的，本实用新型实施例通过将探针框架的轨道4的槽做得尽可能的宽，可以更方便设备自动调整探针框架的位置。

图4A为本实用新型实施例三提供的测试玻璃基板的设备中定位装置的结构示意图，如图4A所示，本实施例的定位装置可以包括驱动组件(图中未示出)、滑动组件13和定位组件14，其中：

驱动组件与滑动组件13连接，用于控制滑动组件13到指定位置或其他未指定的位置；

滑动组件13设置在载台1的边缘上，用于在驱动组件的控制下滑动到指定位置或其他未指定的位置；

定位组件14设置在滑动组件13上，用于在滑动组件13的带动下将探针框架2调整到指定位置或在滑动组件13的带动下到其他未指定的位置。

定位装置可以先通过滑动组件13滑动到指定位置，再利用定位组件14将探针框架2调整到指定位置。由于需要校正探针框架2的位置，所以定位装置5～定位装置12中的滑动组件13可以包括左右滑动部件。

进一步地，由于设备在更换探针框架2的时候，探针框架2必须保持水平的状态从载台1上抽出，图4B为本实用新型实施例四提供的测试玻璃基板的设备中定位装置的结构示意图，如图4B所示，定位装置5、定位装置9、定位装置10和定位装置12中的滑动组件13还可以进一步包括上下滑动部件，从而使得其定位组件14降在下面。

本实施例的测试玻璃基板的设备的工作过程如下：

在更换探针框架的时候，首先将更换好的探针框架的位置调到最好即探针框架上的探针15与玻璃基板上的信号加入金属触点16对准，然后通过控制装置控制电磁铁上电，然后设置定位装置5～定位装置12的位置，即定位组件14的位置(让定位组件14的触头紧紧的贴在探针框架的侧边)，设置好之后在设备上进行保存。定位装置5～定位装置12可以有两个位置：第一位置(“in”位置)和第二位置(“out”位置)，“in”位置是定位装置中定位组件14的触头紧贴探针框架的侧面，“out”的位置可以设定为“in”位置退后一定的距离，例如：1厘米。定位装置5～定位装置12的位置设置完毕之后，将其移动到“out”位置，设备就可以正常工作了。

在设备正常工作之后，若出现探针框架的位置偏移的情况时，控制装置控制电磁铁断电，然后定位装置5～定位装置12会切换到其“in”位置，这时探针框架就被定位装置5～定位装置12调整到了最好的位置，这时控制装置控制电磁铁上电，将探针框架进行固定，定位装置5～定位装置12切换到“out”位置。本实用新型中，探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点接触良好的情况下，定位装置5～定位装置12一直位于其“out”位置，直到出现探针框架的位置偏移时，定位装置5～定位装置12才会切换到其“in”位置对探针框架的位置进行调整。

上述本实用新型实施例中的定位装置5～定位装置12中的驱动组件可以是气动元件，还可以是马达。

本实用新型中，每当测试完毕一张玻璃基板，并换上另外一张新玻璃基板时，都可以通过定位装置5～定位装置12对探针框架的位置进行重新调整并固定。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims

1.一种测试玻璃基板的设备，包括承载玻璃基板的载台和向玻璃基板加载测试信号的探针框架，其特征在于，还包括：

2.根据权利要求1所述的测试玻璃基板的设备，其特征在于，还包括控制装置，与所述固定装置连接，用于在所述探针框架未到指定位置时，控制所述固定装置不固定所述探针框架，在所述探针框架到指定位置时，控制所述固定装置固定所述探针框架。

3.根据权利要求1或2所述的测试玻璃基板的设备，其特征在于，所述固定装置包括设置在所述载台上的电磁铁和对应设置在所述探针框架上的铁块。

4.根据权利要求1所述的测试玻璃基板的设备，其特征在于，所述定位装置的个数为四个或八个。

5.根据权利要求1所述的测试玻璃基板的设备，其特征在于，所述定位装置包括驱动组件、滑动组件和定位组件，其中：

6.根据权利要求5所述的测试玻璃基板的设备，其特征在于，所述滑动组件包括左右滑动部件，或者包括左右滑动部件和上下滑动部件。

7.根据权利要求5或6所述的测试玻璃基板的设备，其特征在于，所述驱动组件为气动元件或马达。