CN107677953B - 一种探针系统及其控制方法、点灯机 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种探针系统及其控制方法、点灯机，涉及显示技术领域，能够自动对每一个探针单元进行位置调整，以与待测试面板上的屏幕电极位置相对应，解决现有技术中人工对探针进行对位操作耗时较长且对位准确性较差的问题。包括：探针，探针在其所在的平面内以垂直于其长度方向排列设置有多个，其中，至少一个探针组成探针单元。感光元件，设置在探针单元上，感光元件朝向待测试面板的方向发射光信号并接收由待测试面板反射的光信号。控制模块，连接感光元件，用于根据感光元件接收的光信号的强度发出控制信号。驱动件，驱动件与控制模块相连接，用于根据控制模块发出的控制信号驱动探针单元移动。

Description

一种探针系统及其控制方法、点灯机

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种探针系统及其控制方法、点灯机。

背景技术

面板测试(Cell Test，简称CT)是在面板制造过程中，对已完成相互对盒的面板进行通电点亮，以对面板上存在的不良进行评判的测试过程。对面板进行测试的主要设备即是点灯机。

点灯机通常包括信号发生器以及探针系统(Probe Unit，简称PU)，探针系统通常由多个探针块(Block)组成，其中，每一个探针块包含多个探针，探针在测试时需要与面板上的引脚、或引脚图案的位置相对应，信号发生器发出的模拟真实的显示画面的信号通过探针输入面板的对应的屏幕电极，以实现对面板的点灯测试。

现有技术中，在使用点灯机对面板进行点灯测试前，为了保证探针系统的每个探针块上的多个探针能够与待测试面板之间精确对位，以使得每一个探针均与对应的屏幕电极相对位，就需要技术人员通过显微镜观察对位标的位置，根据对位标的偏差方向和偏移程度控制移动装置将放置在工作台上的待测试面板在其所在的平面内进行四个方向以及旋转角度的微调。上述对位调整过程耗时较长，尤其是对于大尺寸面板产品，由于其测试时需要对应的探针块数量较多，往往需要耗费大量的时间，且调整对位工作对于技术人员的操作能力及工作熟练性要求较高，一旦对位不准确，就会在实际测试中出现扎针位置偏移、点灯不亮等不稳定状态，导致测试失败。而且，对于大尺寸产品的点灯测试，由于探针系统中包括有多个探针块，难以保证待测试面板与所有探针块均准确对位，有时还需要通过敲击探针系统以使得探针块震动的方式调整位置，这也容易对探针块造成不同程度的损伤，导致探针块的使用寿命降低。

发明内容

本发明实施例提供一种探针系统及其控制方法、点灯机，能够自动对每一个探针单元进行位置调整，以与待测试面板上的屏幕电极位置相对应，解决现有技术中人工对探针进行对位操作耗时较长且对位准确性较差的问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

本发明实施例的一方面，提供一种探针系统，包括：探针，探针在其所在的平面内以垂直于其长度方向排列设置有多个，其中，至少一个探针组成探针单元。感光元件，设置在探针单元上，感光元件朝向待测试面板的方向发射光信号并接收由待测试面板反射的光信号。控制模块，连接感光元件，用于根据感光元件接收的光信号的强度发出控制信号。驱动件，驱动件与控制模块相连接，用于根据控制模块发出的控制信号驱动探针单元移动。

进一步的，本发明实施例的探针系统，还包括基板，探针排列设置在基板上。

优选的，在基板上还设置有导向轨道，驱动件设置在导向轨道内。

优选的，导向轨道的延伸方向与探针的长度方向垂直。

进一步的，基板上还设置有辅助轨道，辅助轨道的延伸方向与探针的长度方向平行，导向轨道可在辅助轨道内移动位置。

优选的，导向轨道设置有多条，导向轨道的延伸方向与探针的长度方向平行，且多条导向轨道相互平行，每一个驱动件对应设置在一个导向轨道内。驱动件包括压电敏感元件组，压电敏感元件组包括两个沿探针的宽度方向连接设置在探针单元两侧的压电敏感元件，控制模块向压电敏感元件组的至少一个压电敏感元件输出电压信号，以驱动与该驱动件连接的探针单元沿与探针的长度方向垂直的方向移动。

进一步的，感光元件在探针单元上沿探针的长度方向至少排布有两个，感光元件分别与控制模块连接。驱动件至少包括两组沿探针的长度方向排列设置的压电敏感元件组。控制模块向压电敏感元件组的至少一个压电敏感元件输出控制电压，以驱动与该驱动件固定连接的探针单元沿探针的长度方向和/或沿垂直于探针的长度方向移动位置，或者驱动与该驱动件固定连接的探针单元在其所在的平面内转动角度。

优选的，压电敏感元件为压电陶瓷。

进一步的，本发明实施例的探针系统，还包括伸缩元件，伸缩元件设置在探针单元背离待测试面板的一侧且与控制模块连接，用于在控制模块的控制下推动探针单元朝向待测试面板的方向伸缩运动。

本发明实施例的另一方面，提供一种点灯机，包括上述任一项的探针系统，还包括与探针系统电连接的PCB板和信号发生器。

本发明实施例的再一方面，提供一种探针系统的控制方法，探针系统包括多个探针，多个探针在其所在的平面内且垂直于其长度方向排列设置有多个，至少一个探针组成探针单元，在探针单元上设置有朝向待测试面板的方向发射光信号并接收由待测试面板反射的光信号的感光单元，以及用于驱动探针单元移动的驱动件。控制方法包括：获取感光元件接收到的光信号的强度；根据感光元件接收到的光信号的强度向驱动件发出控制信号，以控制驱动件驱动探针单元移动。

进一步的，探针系统还包括基板，探针固定设置在基板上，驱动件包括压电敏感元件组，压电敏感元件组包括两个沿探针的宽度方向连接设置在探针单元两侧的压电敏感元件。控制驱动件移动具体包括：向压电敏感元件组中的至少一个压电敏感元件输出电压信号，以使得根据压电敏感元件的形变驱动探针单元沿与探针的长度方向垂直的方向移动。

进一步的，探针系统还包括伸缩元件，伸缩元件设置在探针单元背离待测试面板的一侧。控制方法还包括：控制伸缩元件形变，以推动探针单元朝向待测试面板的方向伸缩运动。

本发明实施例提供一种探针系统及其控制方法、点灯机，包括：探针，探针在其所在的平面内以垂直于其长度方向排列设置有多个，其中，至少一个探针组成探针单元。感光元件，设置在探针单元上，感光元件朝向待测试面板的方向发射光信号并接收由待测试面板反射的光信号。控制模块，连接感光元件，用于根据感光元件接收的光信号的强度发出控制信号。驱动件，驱动件与控制模块相连接，用于根据控制模块发出的控制信号驱动探针单元移动。通过感光元件朝向待测试面板发射光信号并接收由待测试面板反射的光信号，根据待测试面板上引脚或引脚图案所在的位置与引脚或引脚图案之间的非金属区域对光信号的反射能力的差别，向控制模块输入对应的光强度信号或根据光强度信号转换的电信号，以判断探针单元的设置位置是否正确，并通过控制模块控制相应的驱动件的移动与否，使得位置发生偏差的探针单元能够自动移动对位，从而能够对应控制各个探针单元的移动对位，节省了探针对位的时间成本，且提高了探针对位的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种探针系统的结构示意图；

图2为图1的A-A剖视图；

图3为本发明实施例提供的一种探针系统包括有基板的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种探针系统还包括有导向轨道的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的一种探针系统还包括有辅助轨道的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的一种探针系统中驱动件为压电敏感元件组的结构示意图之一；

图7为本发明实施例提供的一种探针系统中驱动件为压电敏感元件组的结构示意图之二；

图8为本发明实施例的探针系统中探针单元在压电敏感元件组的驱动下的移动示例之一；

图9为本发明实施例的探针系统中探针单元在压电敏感元件组的驱动下的移动示例之二；

图10为本发明实施例的探针系统中探针单元在压电敏感元件组的驱动下的移动示例之三；

图11为图6的B-B剖视图之一；

图12为图6的B-B剖视图之二；

图13为本发明实施例提供的一种点灯机的结构示意图；

图14为本发明实施例提供的一种探针系统的控制方法的流程图之一；

图15为本发明实施例提供的一种探针系统的控制方法的流程图之二；

图16为本发明实施例提供的一种探针系统的控制方法的流程图之三。

附图标记：

01-探针系统；02-PCB板；03-信号发生器；10-探针单元；11-探针；20-感光元件；30-控制模块；40-驱动件；41-压电敏感元件组；410-压电敏感元件；50-待测试面板；60-基板；70-导向轨道；80-辅助轨道；90-伸缩元件。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种探针系统，如图1所示，包括：探针11，探针11在其所在的平面内以垂直于其长度方向排列设置有多个，其中，至少一个探针11组成探针单元10。感光元件20，设置在探针单元10上，感光元件20朝向待测试面板50的方向发射光信号并接收由待测试面板50反射的光信号。控制模块30，连接感光元件20，用于根据感光元件20接收的光信号的强度发出控制信号。驱动件40，驱动件40与控制模块30相连接，用于根据控制模块30发出的控制信号驱动探针单元10移动。

需要说明的是，第一，如图1所示，探针11的形状通常为长条状，探针单元10由至少一个探针11在其所在平面内以垂直于其长度方向排列组成。其中，本发明实施例的探针系统中对于设置探针单元10的数量不做具体限制。在待测试面板50上，示例的，如图1所示，可以仅包括一个探针单元10，在一个探针单元10中至少设置有与待测试面板50上待测试的引脚图案或屏幕电极(图1中待测试面板50上示出的规则排布的条形)数量对应的探针11，以使得通过控制探针单元10的位置移动，使得探针11与待测试面板50上待测试的引脚图案或屏幕电极位置相对应并进行点灯测试。或者，也可以包括多个探针单元10，当包括多个探针单元10时，多个探针单元10之间也以垂直于探针11的长度方向排列。通过控制模块30分别控制每一个探针单元10的位置移动，以使每个探针单元10中的探针11移动位置以与待测试面板50上待测试的引脚图案或屏幕电极对应。

第二，如图2所示，在探针单元10上设置有朝向待测试面板的方向发射光信号并接收反射光信号的感光元件20，示例的，如图2所示，可以在探针单元10的每一个探针11上均设置感光元件20，也可以在一个探针单元10内仅设置一个感光元件20。本发明实施例中对于感光单元20的设置数量不做具体限定，只要能够通过感光元件20朝向待测试面板50的方向发射光信号并接收反射光信号，以根据感光元件20接收的光信号的强度指示探针单元10的移动即可。

第三，如图1所示，控制模块30与感光元件20电连接(控制模块与感光元件20以及驱动件40之间的连接线在图1和图2中未示出)，并且连接驱动件40，能够根据由感光元件20接收的光信号的强度，向驱动件40发出相应的控制信号，以控制驱动件40驱动探针单元10的移动。其中，本发明实施例对于驱动件40的结构以及驱动件40的设置位置不做具体限定，可以如图1所示，设置在探针单元10上，也可以通过其他方式与探针单元10相连接，只要能够在控制模块30的控制下，驱动探针单元10移动即可。此外，驱动件40驱动探针单元10移动，可以为驱动整个探针单元10中的所有探针11共同移动(如图1中所示)，也可以为分别驱动探针单元10中的每一个探针11分别移动。

本发明实施例提供一种探针系统及其控制方法、点灯机，包括：探针，探针在其所在的平面内以垂直于其长度方向排列设置有多个，其中，至少一个探针组成探针单元。感光元件，设置在探针单元上，感光元件朝向待测试面板的方向发射光信号并接收由待测试面板反射的光信号。控制模块，连接感光元件，用于根据感光元件接收的光信号的强度发出控制信号。驱动件，驱动件与控制模块相连接，用于根据控制模块发出的控制信号驱动探针单元移动。通过感光元件朝向待测试面板发射光信号并接收由待测试面板反射的光信号，根据待测试面板上引脚或引脚图案所在的位置与引脚或引脚图案之间的非金属区域对光信号的反射能力的差别，向控制模块输入对应的光强度信号或根据光强度信号转换的电信号，以判断探针单元的设置位置是否正确，并通过控制模块控制相应的驱动件的移动与否，使得位置发生偏差的探针单元能够自动移动对位，从而能够对应控制各个探针单元的移动对位，节省了探针对位的时间成本，且提高了探针对位的准确性。

进一步的，如图3所示，本发明实施例的探针系统，还包括基板60，探针11排列设置在基板60上。

如图3所示，探针单元10中的多个探针11排列设置在基板60上，这样一来，能够使得多个探针11之间保持较好的平面性，设置在基板60上的探针单元10中每一个探针11与待测试面板50(图3中未示出)之间的贴合距离相等，从而能够提高探针系统在对待测试面板50进行点灯测试时，探针11与待测试面板50上对应的引脚图案或屏幕电极之间的连接可靠性。

需要说明的是，如图3所示，由于探针单元10中的多个探针11在进行点灯测试时需要与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极之间接触连接，因此，本领域技术人员应当知晓，基板60需设置于探针11背离待测试面板50的一侧，以避免对探针11与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极的连接造成影响。而且，在本发明实施例的探针系统包括有基板60的情况下，驱动件40通常也应设置于基板60上并驱动探针单元10的移动。

优选的，如图4所示，在基板60上还设置有导向轨道70，驱动件40设置在导向轨道70内。

为了提高驱动件40在控制模块30的控制下驱动探针单元10移动时的移动稳定性，如图4所示，在基板60上还设置有导向轨道70，驱动件40设置在导向轨道70内，在控制模块30控制驱动件40移动时，驱动件40在导向轨道70内沿着导向轨道70的延伸方向运动。这样一来，就能够通过导向轨道70的导向作用，使得驱动件40在驱动探针单元10移动时，移动过程较为稳定。

优选的，如图4所示，导向轨道70的延伸方向与探针11的长度方向垂直。

这样一来，如图4所示，就能够使得探针单元10通过驱动件40的驱动，在导向轨道70的延伸方向上、下移动(如图4中双向箭头所示的方向)。当本发明实施例的探针系统在进行点灯测试前，探针系统的放置位置与待测试面板50之间存在如图4所示的上、下错位时，示例的，人为输入控制信号，使得整个探针系统在如图4所示的上、下方向上进行移动调整。

进一步的，如图5所示，基板60上还设置有辅助轨道80，辅助轨道80的延伸方向与探针11的长度方向平行，导向轨道70可在辅助轨道80内移动位置。

通过探针系统对待测试面板50进行点灯测试，探针系统中的探针11与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极需要对应设置，示例的，每一个条状的探针11与一个条状的屏幕电极之间沿长度方向对应设置，当感光元件30朝向待测试面板50发出光线，检测到由待测试面板50反射回的光线的光强度较低时，由于光在金属材质上的反光强度大于在非金属材质上的反光强度，因此，可以认为该感光元件30所在的探针单元10上的探针11与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极之间的位置不对应。在这种情况下若直接将探针系统靠近并贴合待测试面板50进行点灯测试，就可能由于探针11不能与屏幕电极之间相接触，而导致待测试面板50无法点亮，即点灯失败。因此，在进行点灯测试之前，对探针系统中探针单元10上的探针11与引脚图案或屏幕电极之间进行的对位，主要需要在垂直于探针11的长度方向对探针11的位置进行调整。因此，如图5所示，设置延伸方向与探针11的长度方向平行的辅助轨道80，并将导向轨道70设置在辅助轨道80上，以使得导向轨道70可在辅助轨道80内移动位置，这样一来，就能够使得本发明实施例的探针系统能够在平行于探针11的长度方向上移动位置的基础上，还能够整体在垂直于探针11的长度方向进行移动对位(即为可在如图5中相互垂直的两个双箭头所示的方向上分别移动)。

这样一来，当需要对探针11的位置进行调整时，通过控制模块30发出控制信号控制驱动件40，使得驱动件40根据控制信号，驱动探针单元10在导向轨道70内移动相应的方向和距离，以与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极之间位置对应。

优选的，如图6所示，导向轨道70设置有多条，导向轨道70的延伸方向与探针11的长度方向平行，且多条导向轨道70相互平行，每一个驱动件40对应设置在一个导向轨道70内。驱动件40包括压电敏感元件组41，压电敏感元件组41包括两个沿探针11的宽度方向连接设置在探针单元10两侧的压电敏感元件410，控制模块30向压电敏感元件组41的至少一个压电敏感元件410输出电压信号，以驱动与该驱动件40连接的探针单元10沿与探针11的长度方向垂直的方向移动。

如图6所示，以下以一个探针11组成一个探针单元10为例进行具体说明。导向轨道70沿探针11的长度的方向平行设置有多条，在每一个导向轨道70内对应设置一个探针单元10以及一个驱动件40，其中，驱动件40为压电敏感元件组41，压电敏感元件组41包括两个沿探针11的宽度方向连接设置在探针单元10的两侧的压电敏感元件410，压电敏感元件410具有在不同电压信号的作用下改变其自身体积或外形尺寸的性质，通过控制模块30发出的控制信号，向压电敏感元件组41中的至少一个压电敏感元件410输出相应的电压信号，就能够使得压电敏感元件组41中的至少一个压电敏感元件410膨胀或收缩，示例的，若由于电压信号的作用使得压电敏感元件组41其中一个压电敏感元件410膨胀变大，则与该压电敏感元件组41相连接的探针单元10在该膨胀变大的压电敏感元件410的作用下，会沿垂直于探针11的长度方向朝向背离该膨胀变大的压电敏感元件410的另一侧移动相应的距离。或者，也可以通过控制模块30同时向同一个压电敏感元件组41中的两个压电敏感元件410分别输出电压信号，使得一个压电敏感元件410膨胀变大的同时，另一个压电敏感元件410相应的收缩，以进一步提高探针单元10在压电敏感元件组41的作用下移动的准确性。

这样一来，能够分别对每一个探针单元10进行控制，通过设置在探针单元10上的感光元件20判断该探针单元10与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极的对位是否准确，根据反射的光强度进行判断，若判断为对位不正确，则通过控制模块30发出控制信号，向压电敏感元件组41中的至少一个压电敏感元件410施加电压信号，使得在压电敏感元件组41的膨胀或收缩作用下，推动该探针单元10移动相应的距离，以进行对位调整。其中，上述的检测和调整的过程可以多次反复，直至最终通过感光元件20反射光强度判断该探针单元10对位正确为止。

进一步的，如图7所示，感光元件20在探针单元10上沿探针11的长度方向至少排布有两个，感光元件20分别与控制模块30连接。驱动件40至少包括两组沿探针11的长度方向排列设置的压电敏感元件组41。控制模块30向压电敏感元件组41的至少一个压电敏感元件410输出控制电压，以驱动与该驱动件40固定连接的探针单元10沿探针11的长度方向和/或沿垂直于探针11的长度方向移动位置，或者驱动与该驱动件40固定连接的探针单元10在其所在的平面内转动角度。

如图7所示，感光元件20在探针单元10上沿探针11的长度方向至少排布有两个并分别与控制模块30连接，其中，较为优选的，两个感光元件20分别设置在探针单元10的两端(即探针11的两端)，两个感光元件20分别朝向待测试面板50的方向发射光信号并接收由待测试面板50反射的光信号，并分别向控制模块30传输检测结果。驱动件40包括两组沿探针11的长度方向排列设置的压电敏感元件组41。两个感光元件20的检测结果分别用于输入控制模块30后，使得控制模块30分别对两组压电敏感元件组41中的压电敏感元件410进行控制。

示例的，当探针单元10上的两个感光元件20接收到的反射光强度均较弱，则可以认为探针单元10整体与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极之间存在横向的偏移，即未能与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极相对应，这种情况下，控制模块30向两个压电敏感元件组41输出相同的电压信号，使得两个压电敏感元件组41驱动探针单元10的移动方向相同，例如，如图8所示，使得两个压电敏感元件组41中位于探针单元10左侧的压电敏感元件410在电压信号的作用下收缩、两个压电敏感元件组41中位于探针单元10右侧的压电敏感元件410在电压信号的作用下膨胀，这样一来，如图8所示，就能够使得探针单元10整体在垂直于探针11的长度方向上向左侧平移。

又例如，当探针单元10上的两个感光元件20接收到的反射光强度一个较强、一个较弱，则可以认为探针单元10与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极之间存在角度偏转导致的偏移，即可能探针单元11的设置方向与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极的延伸方向之间存在夹角。这种情况下，控制模块30分别两个压电敏感元件组41输出不同的电压信号，使得两个压电敏感元件组41驱动探针单元10的移动方向相反，例如，如图9所示，使得一个压电敏感元件组41中位于探针单元10左侧的压电敏感元件410在电压信号的作用下收缩、另一个压电敏感元件组41中位于探针单元10右侧的压电敏感元件410在电压信号的作用下收缩，这样一来，如图9所示，探针单元10的上部向左偏移、下部向右偏移，则整个探针单元10实现在其所在平面内转动角度。

此外，还包括一种情形，即探针单元10上的两个感光元件20接收到的反射光强度一个较强、一个较弱，且通过人眼观测可知探针单元10在探针11的长度方向上与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极发生位置的偏移，这种情况下，如图10所示，在导向轨道70的四角位置处分别设置有两组压电敏感元件组41，控制模块30控制反射光强度较弱的感光元件20所在的一端的压电敏感元件组41中的两个压电敏感元件410均膨胀，控制探针单元10另外一端的压电敏感元件组41中的两个压电敏感元件410均收缩，其中，在探针单元10中部可以设置有其他压电敏感元件组41，且控制模块30不向位于中部的压电敏感元件组41输出电压信号，也可以在探针单元10部不设置其他压电敏感元件组41。这样一来，就能够使得探针单元10在压电敏感元件组41的作用下，沿探针11的长度方向向下移动。

优选的，压电敏感元件410为压电陶瓷。

压电陶瓷作为一种压电敏感元件410，具有压电敏感元件410的压电特性，而且成本较低，工艺成熟，便于制作成各种大小和形状，以配合在驱动件40中使用。

进一步的，如图11所示，本发明实施例的探针系统，还包括伸缩元件90，伸缩元件90设置在探针单元10背离待测试面板50的一侧且与控制模块30连接，用于在控制模块30的控制下推动探针单元10朝向待测试面板50的方向伸缩运动。

在探针系统的探针单元10与待测试面板50之间对位调整的过程中，为了避免探针11与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极之间接触摩擦导致磨损，探针系统在对位调整时不与待测试面板50相接触。在对位调整完成后，如图11所示，通过控制模块30驱动伸缩元件90伸缩运动，使得整个探针系统如图11中箭头所示，朝向待测试面板50的方向运动，直至探针11与待测试面板50贴合，即可通电进行点灯测试。这种方式只能够使得探针系统整体与待测试面板50之间靠近或远离。

需要说明的是，本发明实施例的探针系统中，对于伸缩元件90的设置位置不做具体限定，可以如图11中所示，设置在整个探针系统背离待测试面板50的一侧，以控制整个探针系统与待测试面板50之间靠近或远离，或者，还可以如图12所示，在每一个探针单元10背离待测试面板50的一侧分别设置伸缩元件90，这样一来，就能够在控制模块30的驱动控制下，分别对每一个探针单元10与待测试面板50之间的靠近或远离进行单独调整。此外，本发明实施例的伸缩元件90也不限定具体的形状和材质，只要能够设置在探针单元10背离待测试面板50的一侧，并能够在控制模块30发出的控制信号的控制下伸缩运动，调节探针单元10与待测试面板50之间的距离即可。示例的，伸缩元件90可以为压电敏感元件。

本发明实施例的另一方面，提供一种点灯机，如图13所示，包括上述任一项的探针系统01，还包括与探针系统01电连接的PCB板02和信号发生器03。

如图13所示，本发明实施例的点灯机在用于对待测试面板50进行点灯测试时，首先将探针系统01设置在与待测试面板50对应的位置，并通过上述任意一种方式对探针系统01中的探针单元10与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极之间进行对应位置的调整，在对位完成后，通过信号发生器03将电信号通过PCB板02分别传输至探针系统01中的每一个探针11，由于探针11能够与待测试面板50上的引脚图案或屏幕电极之间很好的对位，因此，既能够保证对待测试面板50的点灯测试的效果。

本发明实施例的再一方面，提供一种探针系统的控制方法，如图1所示，探针系统包括多个探针11，多个探针11在其所在的平面内且垂直于其长度方向排列设置有多个，至少一个探针11组成探针单元10，在探针单元10上设置有朝向待测试面板50的方向发射光信号并接收由待测试面板50反射的光信号的感光单元20，以及用于驱动探针单元10移动的驱动件40。如图14所示，控制方法包括：

S101、获取感光元件20接收到的光信号的强度。

S102、根据感光元件20接收到的光信号的强度向驱动件40发出控制信号，以控制驱动件40驱动探针单元10移动。

如图14所示，首先获取感光元件20接收到的光信号的强度。感光元件20朝向待测试面板50发出光线，待测试面板50会将光线进行反射又回到感光元件20，并被感光元件20接收。然后，根据感光元件20接收到的光信号的强度向驱动件40发出控制信号，以控制驱动件40驱动探针单元10移动。由于光照射在金属材质的表面后反射的光的强度较强，而光照射在非金属材质的表面后反射的光的强度较弱，通过对感光元件20接收到的光信号的强度进行判断，就能够判定该感光元件20所在的探针元件10的对应上方为待测试面板50的屏幕电极，还是屏幕电极之间的非金属区域。示例的，可以预先设置感光元件20发出光线在金属材质表面反光后的光强度范围，将获取到的反射光信号与上述光强度范围进行比对，若比对结果属于光强度范围内，即可判断感光元件20所在的探针元件10对应待测试面板50的区域为屏幕电极的位置，即对应位置正确，则无需驱动探针单元10移动。若比对结果不在上述光强度范围内，则说明对应位置不正确，需进行相应的位置调节，即根据控制模块30相应的控制信号来控制驱动件40驱动探针单元10移动。

进一步的，如图3所示，探针系统还包括基板60，探针11固定设置在基板60上，驱动件40包括压电敏感元件组41，压电敏感元件组41包括两个沿探针11的宽度方向连接设置在探针单元10两侧的压电敏感元件410。如图15所示，控制驱动件40移动具体包括：

S1021、向压电敏感元件组41中的至少一个压电敏感元件410输出电压信号，以使得根据压电敏感元件410的形变驱动探针单元10沿与探针11的长度方向垂直的方向移动。

如图15所示，当驱动件40为包括有两个沿探针11的宽度方向连接设置在探针单元10两侧的压电敏感元件410的压电敏感元件组41时，向压电敏感元件组41中的至少一个压电敏感元件410输出电压信号，压电敏感元件410能够在施加不同的电压信号的情况下产生自身体积或外形尺寸的相应增大或缩小，这样一来，就能够根据压电敏感元件410的形变来驱动与该压电敏感元件组41连接设置的探针单元10沿在与探针11的长度方向垂直的方向上进行相应的移动。

进一步的，如图11所示，探针系统还包括伸缩元件90，伸缩元件90设置在探针单元10背离待测试面板50的一侧。如图16所示，控制方法还包括：

S201、控制伸缩元件90形变，以推动探针单元10朝向待测试面板50的方向伸缩运动。

如图16所示，当需要使探针单元10移动与待测试面板50之间靠近或远离，以调整探针单元10与待测试面板50之间的距离时，通过控制伸缩元件90的形变，使得伸缩元件90推动探针单元10朝向待测试面板50的方向拉伸或收缩。

在上述对于本发明实施例的探针系统以及包括有探针系统的点灯机的具体说明中，已经对于探针系统的控制方法进行了相应的详细说明，此处不再赘述。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (7)

1.一种探针系统，其特征在于，包括：

探针，所述探针在其所在的平面内以垂直于其长度方向排列设置有多个，其中，至少一个所述探针组成探针单元；

感光元件，设置在所述探针单元上，所述感光元件朝向待测试面板的方向发射光信号并接收由所述待测试面板反射的光信号；

控制模块，连接所述感光元件，用于根据所述感光元件接收的光信号的强度发出控制信号；

驱动件，所述驱动件与所述控制模块相连接，用于根据所述控制模块发出的控制信号驱动所述探针单元移动；

还包括基板，所述探针排列设置在所述基板上；

在所述基板上还设置有导向轨道；

所述导向轨道的延伸方向与所述探针的长度方向垂直；

所述基板上还设置有辅助轨道，所述辅助轨道的延伸方向与所述探针的长度方向平行，所述导向轨道可在所述辅助轨道内移动位置；

或者，

所述导向轨道设置有多条，所述导向轨道的延伸方向与所述探针的长度方向平行，且多条所述导向轨道相互平行，每一个所述驱动件对应设置在一个所述导向轨道内；

所述驱动件包括压电敏感元件组，所述压电敏感元件组包括两个沿所述探针的宽度方向连接设置在所述探针单元两侧的压电敏感元件，所述控制模块向所述压电敏感元件组的至少一个压电敏感元件输出电压信号，以驱动与该驱动件连接的所述探针单元沿与所述探针的长度方向垂直的方向移动；

所述感光元件在所述探针单元上沿所述探针的长度方向至少排布有两个，所述感光元件分别与所述控制模块连接；

所述驱动件至少包括两组沿所述探针的长度方向排列设置的压电敏感元件组；

所述控制模块向所述压电敏感元件组的至少一个压电敏感元件输出控制电压，以驱动与该驱动件固定连接的所述探针单元沿所述探针的长度方向和/或沿垂直于所述探针的长度方向移动位置，或者驱动与该驱动件固定连接的所述探针单元在其所在的平面内转动角度。

2.根据权利要求1所述的探针系统，其特征在于，所述驱动件设置在所述导向轨道内。

3.根据权利要求1所述的探针系统，其特征在于，所述压电敏感元件为压电陶瓷。

4.根据权利要求1所述的探针系统，其特征在于，还包括伸缩元件，所述伸缩元件设置在所述探针单元背离所述待测试面板的一侧且与所述控制模块连接，用于在所述控制模块的控制下推动所述探针单元朝向所述待测试面板的方向伸缩运动。

5.一种点灯机，其特征在于，包括如权利要求1-4任一项所述的探针系统，还包括与所述探针系统电连接的PCB板和信号发生器。

6.一种探针系统的控制方法，其特征在于，所述探针系统包括多个探针，多个所述探针在其所在的平面内且垂直于其长度方向排列设置有多个，至少一个所述探针组成探针单元，在所述探针单元上设置有朝向待测试面板的方向发射光信号并接收由所述待测试面板反射的光信号的感光单元，以及用于驱动所述探针单元移动的驱动件；

所述控制方法包括：

获取感光元件接收到的光信号的强度；

根据所述感光元件接收到的光信号的强度向所述驱动件发出控制信号，以控制所述驱动件驱动所述探针单元移动；

所述探针系统还包括基板，所述探针固定设置在所述基板上，所述驱动件包括压电敏感元件组，所述压电敏感元件组包括两个沿所述探针的宽度方向连接设置在所述探针单元两侧的压电敏感元件；

所述控制驱动件移动具体包括：

向所述压电敏感元件组中的至少一个压电敏感元件输出电压信号，以使得根据压电敏感元件的形变驱动所述探针单元沿与所述探针的长度方向垂直的方向移动。

7.根据权利要求6所述的控制方法，其特征在于，所述探针系统还包括伸缩元件，所述伸缩元件设置在所述探针单元背离待测试面板的一侧；

所述控制方法还包括：

控制所述伸缩元件形变，以推动所述探针单元朝向所述待测试面板的方向伸缩运动。

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