KR102033886B1 - 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓 - Google Patents

디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓 Download PDF

Info

Publication number
KR102033886B1
KR102033886B1 KR1020180065727A KR20180065727A KR102033886B1 KR 102033886 B1 KR102033886 B1 KR 102033886B1 KR 1020180065727 A KR1020180065727 A KR 1020180065727A KR 20180065727 A KR20180065727 A KR 20180065727A KR 102033886 B1 KR102033886 B1 KR 102033886B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lifter
display panel
connector
test
pin block
Prior art date
Application number
KR1020180065727A
Other languages
English (en)
Inventor
김광일
Original Assignee
주식회사 메카텍시스템즈
김광일
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 메카텍시스템즈, 김광일 filed Critical 주식회사 메카텍시스템즈
Priority to KR1020180065727A priority Critical patent/KR102033886B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102033886B1 publication Critical patent/KR102033886B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓을 개시한다. 본 발명은 액츄에이터(actuator)에 의해서 테스트 지그에 안착된 디스플레이 패널에 대해 접근 및 멀어지도록 이동하는 슬라이더(slider); 이 슬라이더의 상부에 설치되어 수평이동하며, 액츄에이터에 의해 승강하는 리프터(lifter); 이 리프터에 지지되어 승강하며, 하면에 디스플레이 패널의 커넥터에 접속되는 테스트 핀블록을 구비하는 서브 회로기판; 및 커넥터의 거치 상태에 대응하여 테스트 핀블록의 틸팅(tilting)을 허용하는 핀블록 틸팅수단;을 포함한다. 핀블록 틸팅수단은, 서브 회로기판에 고정되는 푸시블록과, 리프터를 관통하여 푸시블록에 나사 결합되는 행거볼트와, 리프터와 푸시블록 사이에 개재되어 양자를 서로 반대방향으로 탄성바이어스 시키는 복수의 탄발수단을 구비하고, 푸시블록이 리프터와 소정간격을 유지하며, 행거볼트가 관통하는 리프터의 관통구멍 지름이 행거볼트 지름보다 소정간극만큼 크게 형성된다. 본 발명은, 리프터가 복수의 가이드샤프트에 지지되어 에어실린더에 의해 승강하므로 테스트 핀블록이 정확히 수평을 유지한 상태로 매우 안정되고 용이하게 승강할 수 있는 바, 테스트 핀블록이 디스플레이 패널의 커넥터에 정확히 접속될 수 있다.

Description

디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓{Contating socket for display panel test jig}
본 발명은 디스플레이 패널(display panet)의 불량 여부를 검사하는데 사용되는 디스플레이 패널 테스트 지그에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 디스플레이 패널의 PCB 커넥터(connector)와 테스트 지그의 프로브핀(probe pin)을 자동으로 정확하게 접속시킬 수 있음은 물론 접속 시 PCB 커넥터의 파손을 확실하게 방지할 수 있도록 된 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓에 관한 것이다.
주지하다시피 LCD, LED, PDP 및 OLED 등과 같은 평판 디스플레이 패널(이하 "디스플레이 패널"이라 약칭함)은 얇고 가벼우면서 선명한 화질을 구현할 수 있을 뿐만 아니라 저소비전력으로 구동할 수 있는 장점에 따라 TV, 컴퓨터용 모니터, 노트북 등을 비롯한 각종 전기,전자제품의 화상표시장치로 자리매김하여 광범위하게 이용되고 있다.
특히, 근래들어 정보통신기술이 급속하게 발달함에 따라 저소비전력을 실현하면서 소형,경량화 측면에서 대단히 유리한 디스플레이 패널이 휴대폰과 휴대용 태블릿 기기 등을 비롯한 각종 휴대용 기기들의 화상표시용으로 각광 받으면서 그 수요가 폭발적으로 증가하고 있다.
이러한 디스플레이 패널은 크게 어레이(Array) 공정, 컬러필터(Color Filter) 공정, 액정 셀(Cell) 공정 및 모듈(Module) 공정을 거쳐 제조되고, 이 후 광원인 백라이트(back light)와 조립함으로써 완성된다. 그리고 완제품의 불량발생률을 낮추고 동작의 신뢰성을 담보하기 위해서 표시 신호선 등의 단선 또는 단락의 유무를 비롯한 화소의 동작과 컬러의 결함 유무 등을 각 제조과정에서 사전에 검사하는 과정을 거치게 된다.
한편, 이와 같은 디스플레이 패널의 검사는 통상 테스트 지그상에 검사할 디스플레이 패널을 거치하고, 디스플레이 패널의 커넥터에 테스트용 프로브핀을 접속하여 디스플레이 패널에 전원을 인가함과 동시에 소정의 구동 및 테스트 신호를 인가하여 동작유무 등을 테스트 하는 것이 일반적이다.
따라서 디스플레이 패널의 정확한 테스트를 위해서는 테스트용 프로브핀을 디스플레이 패널의 커넥터와 정확하게 접속시키는 것이 우선적으로 중요하며, 이를 위한 여러 형태의 접속기구들이 제안되어 있다.
예를 들어 한국 등록특허 10-1174851호에는 고정피스톤에 의해 가이드유닛을 따라 수평으로 이동하는 슬라이디유닛에 승강피스톤을 구비하고, 슬라이딩유닛에 탑재된 고정베이스의 일측에 프로브핀을 갖는 컨택부가 승강가이드에 이동 가능하게 지지되는 한편 슬라이딩유닛의 타측에 작동부가 힌지(hinge) 연결되어서 복원부재의 탄성과 승강피스톤의 복합작용에 의해 컨택부를 수평상태로 승강시킴으로써 프로프핀을 디스플레이 패널의 커넥터에 접속시키는 기술이 개시되어 있다.
그런데 이와 같은 선행기술은, 컨택부가 승강가이드에 외팔보 형태로 지지되어서 작동부의 레버운동에 의해 승강하는 구성이기 때문에 컨택부의 승강이 원할하게 이루어지기 곤란하고, 이에 따라 디스플레이 패널의 커넥터에 대한 프로브핀의 정확한 접속과 확실한 접속해제를 보장하기 어려운 문제가 있다.
즉, 외팔보 형태로 지지된 컨택부를 작동부가 회동하면서 그 선단에 컨택부의 일측을 삽입하도록 돌출된 하강지지대 및 상승지지대로 누르고 밀어올리는 바, 컨택부에는 모멘트가 발생될 수밖에 없어 컨택부의 승강이 원활하게 이루어질 수 없는 것이며, 이는 결국 프로브핀과 커넥터의 정확한 접속과 해제에 악영향을 끼치게 되는 것이다.
이러한 문제는 디스플레이 패널의 테스트 신뢰도를 떨어뜨리게 될 뿐 아니라 자칫 부정확한 테스트로 양품을 불량처리하거나 반대로 불량을 양품으로 판단하는 등의 오류로 이어질 수 있음은 물론 심한 경우 커넥터 파손을 유발할 우려도 없지 않다.
특히, 휴대폰용 디스플레이 패널의 경우 커넥터가 상당히 작게 구성되면서 FPCB에 마련되기 때문에 지그상에 정확히 수평으로 거치되기 어려운 바, 프로프핀을 커넥터에 손상없이 정확히 접속시키기가 더욱 어렵다.
한국 등록특허 10-1174851
본 발명은 상술한 종래의 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로서, 디스플레이 패널의 커넥터와 테스트 지그의 프로브핀을 자동으로 정확하게 접속시킬 수 있음은 물론이고, 접속 시 디스플레이 패널 커넥터의 파손을 최대한 방지함으로써 안정되고 정확한 성능검사를 담보할 수 있는 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓을 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은, 디스플레이 패널의 FPCB 커넥터의 거치상태에 구애받지 않고 테스트용 프로브핀을 커넥터에 정확히 접속시킬 수 있는 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓을 제공하는 것이다.
이와 같은 목적들을 달성하기 위한 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓은, 액츄에이터(actuator)에 의해서 테스트 지그에 안착된 디스플레이 패널에 대해 접근 및 멀어지도록 이동하는 슬라이더(slider); 상기 슬라이더 위에 수직으로 설치되는 복수의 가이드샤프트와, 상기 가이드샤프트에 이동 가능하게 결합되는 승강플레이트와, 상기 슬라이더에 대해서 상기 승강플레이트를 수직으로 승강시키는 에어실린더를 구비하여 이루어지는 리프터(lifter); 상기 리프터에 지지되어 승강하며, 하면에 상기 디스플레이 패널의 커넥터에 접속되는 테스트 핀블록을 구비하는 서브 회로기판; 및 상기 서브 회로기판 상면에 고정되는 푸시블록과, 상기 리프터를 관통하여 상기 푸시블록에 나사 결합되는 행거볼트와, 상기 리프터와 푸시블록 사이에 개재되어 양자를 서로 반대방향으로 탄성바이어스 시키는 복수의 탄발수단을 구비하고, 상기 푸시블록이 상기 리프터와 소정간격을 유지하며, 상기 행거볼트가 관통하는 상기 리프터의 관통구멍 지름이 상기 행거볼트 지름보다 소정간극만큼 크게 형성됨으로써 상기 커넥터의 거치상태에 대응하여 상기 테스트 핀블록의 틸팅(tilting)을 허용하는 핀블록 틸팅수단;을 포함하여 이루어지는 특징이 있다.
삭제
본 발명의 다른 바람직한 특징에 의하면, 리프터의 승강스트로크를 제한하는 승강제한수단을 더 포함하여, 테스트 핀블록이 디스플레이 패널의 커넥터와 정확히 접속될 수 있도록 리프터의 초기 승강스트로크를 설정할 수 있다.
본 발명의 또 다른 바람직한 특징에 의하면, 리프터를 수동으로 승강시키는 수동승강수단을 더 포함하여, 예기치 않은 정전시 등에도 리프터를 간편하게 승강시킬 수 있다.
또, 본 발명의 슬라이더는, 가이드레일을 가지고 테스트 지그에 고정되는 가이드 베이스와, 가이드레일에 이동 가능하게 결합되는 가이드블록을 가지고 가이드 베이스 위에 설치되는 슬라이드 테이블과, 이 슬라이드 테이블을 왕복 이동시키는 에어실린더를 구비할 수 있다.
삭제
이와 같은 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓에 의하면, 리프터가 복수의 가이드샤프트에 지지되어서 에어실린더에 의해 승강하므로 테스트 핀블록을 갖는 서브 회로기판이 정확히 수평을 유지한 상태로 매우 안정되고 용이하게 승강할 수 있게 된다.
따라서 테스트 핀블록이 디스플레이 패널의 커넥터에 정확히 접속될 수 있어 안정된 신호전달로 정확한 성능검사를 보장할 수 있음은 물론, 자칫 발생할 수 있는 접속불량에 따른 오작동 등의 테스트불량도 확실하게 방지할 수 있고, 테스트 핀블록과 커넥터의 정렬불일치로 인한 커넥터의 파손우려도 최소화 할 수 있다.
특히, 핀블록 틸팅수단에 의해서 지그상에 거치된 커넥터의 거치상태에 대응하도록 핀블록의 틸팅이 허용되는 바, 커텍터의 거치 상태에 구애받지 않고 항상 테스트 핀블록이 정확히 커넥터에 접속될 수 있으며, 이에 따라 디스플레이 패널의 안정된 성능검사를 보장할 수 있다.
그러므로 본 발명은 디스플레이 패널 테스트 지그의 정확성과 안전성 및 신뢰성 담보에 큰 효과를 발휘하게 된다.
도 1은 본 발명에 의한 컨택소켓이 적용되는 디스플레이 패널 테스트 지그를 도시한 사시도,
도 2는 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓을 도시한 사시도,
도 3은 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓의 측면도,
도 4는 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓을 도시한 분해 사시도,
도 5는 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓의 결합상태 단면도,
도 6은 도 5의 Ⅵ-Ⅵ선을 따라 취한 단면도,
도 7은 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓을 도시한 부분절단 측면도,
도 8은 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓의 작동상태를 순차적으로 도시한 사시도,
도 9는 본 발명에 의한 테스트 지그용 컨택소켓이 디스플레이 패널에 접속된 상태를 개략적으로 도시한 평면도이다.
이와 같은 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓의 구체적 특징과 다른 이점들은 첨부된 도면을 참조한 이하의 바람직한 실시 예의 설명으로 더욱 명확해질 것이다.
도 1에서, 디스플레이 패널 테스트 지그(J)는 베이스(B) 상에 테스트 대상 디스플레이 패널(D)이 안착되는 복수의 진공흡착패드(P)가 일정 간격으로 배치되어 있고, 각 진공흡착패드(P)의 일측에 디스플레이 패널(D)의 커넥터에 테스트 핀블록을 접속시키기 위한 컨택소켓(1)이 구비되어 있다.
도 2 내지 도 7에서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓(1)은, 지그(J)의 베이스(B) 상에서 진공흡착패드(P) 위에 안착되어 있는 검사대상 디스플레이 패널(P)에 대해 접근하거나 멀어지도록 수평이동하는 슬라이더(10)와, 이 슬라이더(10)에 설치되어 슬라이더(10)와 함께 수평이동하면서 승강하는 리프터(20)와, 이 리프터(20)에 지지되어 승강하면서 테스트 핀블록(31)을 디스플레이 패널(P)의 커넥터(C)에 접속 및 접속 해제시키는 서브 회로기판(30)과, 커넥터(C)의 거치상태에 대응하여 테스트 핀블록(31)의 틸팅을 허용하는 핀블록 틸팅수단(40)을 포함한다.
슬라이더(10)는 지그(J)의 베이스(B) 상에 고정되는 가이드 베이스(11)와, 이 가이드 베이스(11) 위에서 수평이동하는 슬라이드 테이블(12) 및 이 슬라이드 테이블(12)을 왕복 이동시키는 액츄에이터, 예를 들어 제1에어실린더(13)로 구성될 수 있다.
가이드 베이스(11)는 상면 중간에 돌출부(14)를 가지며, 이 돌출부(14)의 상면에 가이드레일(15)을 갖는다. 가이드레일(15)은 정확한 이송을 위해 LM가이드레일로 이루어지는 것이 바람직하다.
슬라이드 테이블(12)은 하면에 가이드 베이스(11)의 돌출부(14)을 삽입하는 결합채널(16)을 가지며, 이 결합채널(16)의 천정에 가이드레일(15)을 이동 가능하게 삽입하는 가이드블록(17)을 갖는다. 결합채널(16)은 후술한 피스톤로드(19)의 자유단을 고정할 수 있도록 슬라이드 테이블(12)의 이동방향 한쪽 끝단이 막힌 형태를 취한다.
제1에어실린더(13)는 별도의 구성으로 구비될 수도 있으나, 바람직하기로는 도시된 바와 같이 가이드 베이스(11)의 돌출부(14)에 외부로부터 압축공기가 주입되는 실린더홀(18)을 형성하고, 이 실린더홀(18)에 자유단이 슬라이드 테이블(12)의 결합채널(16) 끝단에 고정된 피스톤로드(19)를 결합하여 구성될 수 있다.
리프터(20)는 슬라이드 테이블(12)의 상면에 수직으로 배열 설치되는 복수의 가이드 샤프트(21)와, 이들 가이드 샤프트(21)에 이동 가능하게 지지되어서 승강하는 승강플레이트(22)와, 이 승강플레이트(22)를 슬라이드 테이블(12)에 대해 승강시키는 액츄에이터로서의 복수의 제2에어실린더(23)로 구성될 수 있다.
가이드 샤프트(21) 역시 정밀한 이송을 위해 LM 가이드 샤프트로 이루어지는 것이 바람직하다.
승강플레이트(22)는 각 가이드 샤프트(21)를 이동 가능하게 삽입하는 복수의 결합구멍(24)을 대응되게 갖는다. 이러한 승강플레이트(22)는 하나의 몸체로 구성될 수도 있고, 도시된 바와 같이 그 일측으로 돌출하도록 체결되는 연결브래킷(25)을 포함하는 구성으로 이루어질 수도 있다.
제2에어실린더(23) 역시 별도의 구성으로 구비될 수도 있으나, 바람직하기로는 도시된 바와 같이 슬라이드 테이블(12)에 외부로부터 압축공기가 주입되는 복수의 실린더홀(26)을 형성하고, 이 실린더홀(25)에 자유단이 승강플레이트(22)에 고정된 피스톤로드(27)를 결합하여 구성될 수 있다.
서브 회로기판(30)은 리프터(20)의 승강플레이트(22) 일측에 체결된 연결브래킷(25) 하면에 지지되어 승강플레이트(22)를 따라 함께 승강된다. 이러한 서브 회로기판(30)은 하면에 디스플레이 패널(D)의 커넥터(C)에 접속하여 각종 테스트 신호를 인가하는 테스트 핀블록(31)을 갖는다.
테스트 핀블록(31)은 다수의 프로브핀(33)이 고정된 언더베이스(32)와, 핀베이스(34), 커넥터(C)와의 원활한 접속을 가이드하는 어댑터(35) 및 핀커버(36)가 적층 조립된 구성을 갖는다.
바람직하기로 이와 같은 서브 회로기판(30)은 디스플레이 패널(D) 커넥터(C)의 거치상태에 대응할 수 있도록 후술한 핀블록 틸팅수단(40)을 통해 연결브래킷(25)에 지지된다.
핀블록 틸팅수단(40)은 서브 회로기판(30) 상에 고정되는 푸시블록(41)과, 리프터(20)의 연결브래킷(25)의 하부에 푸시블록(41)을 지지시키는 복수의 행거볼트(42)와, 연결브래킷(25)과 푸시블록(41) 사이에 개재되어 양자를 서로 반대방향으로 탄성바이어스 시키는 복수의 압축코일스프링(43)으로 구성될 수 있다.
푸시블록(41)에는 각 행거볼트(42)가 체결되는 복수의 체결구멍(44)이 적절히 이격되어 형성됨과 함께, 압축코일스프링(43)의 하단부가 삽입 지지되는 복수의 스프링홈(45)들이 소정형태로 배열 형성된다.
행거볼트(42)는 푸시블록(41)의 체결구멍(44)들과 대응되게 형성된 연결브래킷(25)의 관통구멍(46)들을 통과하여 푸시블록(41)의 체결구멍(44)에 나사결합됨으로써 서브 회로기판(30)이 리프터(20)의 연결브래킷(25)에 대하여 미세하게 유동가능한 상태를 허용하여 테스트 핀블록(31)의 틸팅을 유도한다.
이를 위해 푸시블록(41)은 연결브래킷(25)과 소정간극(d)만큼 이격되고, 행거볼트(42) 역시 연결브래킷(25)의 관통구멍(46)과 소정간극(s)을 유지하여 테스트 핀블록(31)의 틸팅을 허용한다. 여기서, 푸시블록(41)과 연결브래킷(25)의 간극(d)은 약 0.8㎜ 이내가 바람직하고, 행거볼트(42)의 지름과 연결브래킷(25) 관통구멍(46)의 간극(s)은 약 0.05㎜ 이내가 바람직하다.
이는 상술한 간극(d)(s)들보다 클 경우 연결브래킷(25)에 대한 테스트 핀블록(31)의 유동량이 과도해져 오히려 테스트 핀블록(31)과 디스플레이 패널(D) 커넥터(C)의 접속에 지장을 초래할 우려가 있기 때문이다.
여기서, 연결브래킷(25)의 관통구멍(46)에는 연결브래킷(25)에 대한 푸시블록(41)의 보다 안정된 지지와 원활한 틸팅작용을 위해 부시블록(47)이 구비되는 것이 바람직할 수 있다.
이와 같은 핀블록 틸팅수단(40)은 디스플레이 패널(D) 커넥터(C)의 거치상태, 즉 디스플레이 패널(D) 커넥터(C)는 FPCB에 구비되기 때문에 테스트 지그(J)에 정확히 수평상태로 거치되지 않을 수 있는데, 이때 접속되는 과정에서 테스트 핀블록(31)이 커넥터(C)의 거치상태에 대응하도록 적절히 틸팅되면서 결합됨으로써 정확한 접속이 이루어지도록 유도할 수 있다.
또한, 테스트 핀블록(31)과 커넥터(C)가 정확히 정렬되지 않고 미세하게 어긋나 있더라도 틸팅수단(40)에 부여된 간극(d)(s)들에 의해 양자가 결합되는 과정에서 테스트 핀블록(31)의 위치정렬이 이루어져 정확한 접속이 가능해지게 된다.
한편, 본 발명의 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓(1)은, 바람직하기로 리프터(20)의 승강스트로크를 제한하기 위한 승강제한수단(50)과, 리프터(20)를 수동으로 승강시키기 위한 수동승강수단(60)을 더 포함할 수 있다.
승강제한수단(50)은 리프터(20)의 승강플레이트(22)에 형성되는 조정구멍(51)과, 이 조정구멍(51)을 관통하도록 체결되는 조정볼트(52)로 구성될 수 있다. 조정볼트(52)는 무두볼트가 바람직할 수 있다. 이러한 승강제한수단(50)은 컨택소켓(1)의 세팅 시 검사할 디스플레이 패널(D)의 커넥터(C)에 대한 테스트 핀블록(31)의 승강스트로크를 정확히 조정하는데 이용된다.
그리고 수동승강수단(60)은 예컨대 테스트 도중 등에 갑작스런 정전이 발생하는 경우 등에 리프터(20)를 수동으로 제어하기 위한 것으로, 승강플레이트(22)에 형성되는 나사구멍(61) 및 이 나사구멍(61)을 관통하도록 체결되는 수동조작볼트(62)로 이루어질 수 있다.
나머지 부호 13a와 23a는 제1 및 제2의 에어실린더(13)(23)에 압축공기를 주입하기 위한 피팅(fitting)들이다.
다음, 이와 같이 구성된 본 발명에 의한 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓(1)의 작동을 도 8 및 도 9를 병행하여 설명한다.
도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 컨택소켓(1)은 초기에는 리프터(20)가 슬라이더(10)에 대해 하강한 상태에서, 지그(J)의 진공흡착패드(P) 상에 테스트할 디스플레이 패널(D)이 거치되고 나면 먼저, 리프터(20)의 제2에어실린더(23)가 신장된다. 이에 따라 승강플레이트(22)가 가이드샤프트(21)을 따라 슬라이더(10)에 대해 상승한다.
그러면, 연결브래킷(25)에 지지된 서브 회로기판(30)이 승강플레이트(22)를 따라 상승하게 됨으로써 테스트 핀블록(31)이 동시에 상승한다.
다음, 제1에어실린더(13)가 신장되고, 이에 따라 슬라이더(10)의 슬라이드 테이블(12)이 가이드 베이스(11)에 안내되면서 디스플레이 패널(D) 쪽으로 수평이동하게 된다.
그러면, 슬라이드 테이블(12)에 지지된 리프터(20)가 슬라이드 테이블(12)과 동시에 수평이동됨으로써 리프터)20)의 연결브래킷(25)에 지지되어 있는 서브 회로기판(30)이 함께 이동되어 서브 회로기판(30)의 하면에 설치된 테스트 핀블록(31)이 지그(J)상에 거치된 디스플레이 패널(D)의 커넥터(C) 상부에 위치하게 된다.
이어서, 제2에어실린더(13)가 축소되어 리프터(20)의 승강플레이트(22)가 가이드 샤프트(21)에 안내되면서 수평상태를 유지한 상태로 하강하게 된다. 이에 따라 승강플레이트(22)의 연결브래킷(25)에 지지된 서브 회로기판(30)의 테스트 핀블록(31)이 동시에 하강하여 지그(J)에 거치된 디스플레이 패널(D)의 커넥터(C)에 접속되는데, 본 발명은 승강플레이트(22)가 수평상태를 유지하면서 제2에어실린더(23)에 의해 승강되기 때문에 커넥터(C)와 정확하게 접속되게 된다.
이때, 커넥터(C)의 거치상태가 정확히 수평을 유지하지 못한 경우라도 핀블록 틸팅수단(40)에 의해 테스트 핀블록(31)이 커넥터(C)의 거치상태에 대응하여 적절히 틸팅되므로 테스트 핀블록(31)이 커넥터(C)에 정확히 접속될 수 있다.
따라서 디스플레이 패널(D)에 대한 안정되고 정확한 테스트가 가능하여 성능검사의 신뢰성을 담보할 수 있음은 물론이고, 정렬불량으로 인한 커넥터(C)의 파손우려도 효과적으로 방지된다.
1 : 컨택소켓 10 : 슬라이더
11 : 가이드 베이스 12 : 슬라이드 테이블
13 : 제1에어실린더 15 : 가이드레일
17 : 가이드블록 20 ; 리프터
21 : 가이드 샤프트 22 : 승강플레이트
23 : 제2에어실린더 25 : 연결브래킷
30 : 서브 회로기판 31 : 테스트 핀블록
40 : 핀블록 틸팅수단 41 : 푸시블록
42 : 행거볼트 43 : 압축코일스프링
44 : 체결구멍 46 : 관통구멍
50 : 승강제한수단 60 : 수동승강수단
J ; 테스트 지그 P : 진공흡착패드
D : 디스플레이 패널 C ; 커넥터

Claims (6)

  1. 액츄에이터에 의해서 테스트 지그에 안착된 디스플레이 패널에 대해 접근 및 멀어지도록 이동하는 슬라이더;
    상기 슬라이더 위에 수직으로 설치되는 복수의 가이드샤프트와, 상기 가이드샤프트에 이동 가능하게 결합되는 승강플레이트와, 상기 슬라이더에 대해서 상기 승강플레이트를 수직으로 승강시키는 에어실린더를 구비하여 이루어지는 리프터;
    상기 리프터에 지지되어 승강하며, 하면에 상기 디스플레이 패널의 커넥터에 접속되는 테스트 핀블록을 구비하는 서브 회로기판; 및
    상기 서브 회로기판 상면에 고정되는 푸시블록과, 상기 리프터를 관통하여 상기 푸시블록에 나사 결합되는 행거볼트와, 상기 리프터와 푸시블록 사이에 개재되어 양자를 서로 반대방향으로 탄성바이어스 시키는 복수의 탄발수단을 구비하고, 상기 푸시블록이 상기 리프터와 소정간격을 유지하며, 상기 행거볼트가 관통하는 상기 리프터의 관통구멍 지름이 상기 행거볼트 지름보다 소정간극만큼 크게 형성됨으로써 상기 커넥터의 거치상태에 대응하여 상기 테스트 핀블록의 틸팅을 허용하는 핀블록 틸팅수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 승강플레이트의 일단에 조정구멍이 형성되고, 이 조정구멍을 관통하도록 체결되는 조정볼트가 구비되어 상기 리프터의 승강스트로크를 제한하는 승강제한수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 승강플레이트의 일단에 나사구멍이 형성되고, 이 나사구멍을 관통하여 체결되는 수동조작볼트가 구비되어 상기 리프터를 수동으로 승강시키는 수동승강수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓.
KR1020180065727A 2018-06-07 2018-06-07 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓 KR102033886B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180065727A KR102033886B1 (ko) 2018-06-07 2018-06-07 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180065727A KR102033886B1 (ko) 2018-06-07 2018-06-07 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR102033886B1 true KR102033886B1 (ko) 2019-10-18

Family

ID=68462802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180065727A KR102033886B1 (ko) 2018-06-07 2018-06-07 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102033886B1 (ko)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111103712A (zh) * 2019-12-31 2020-05-05 台龙电子（昆山）有限公司 一种点灯测试装置
CN111856798A (zh) * 2020-08-11 2020-10-30 深圳市灵触科技有限公司 一种tft液晶显示屏点亮测试治具
KR102508229B1 (ko) * 2022-06-29 2023-03-09 주식회사 프로이천 상하전후구동블록조립체 및 프로브장치
KR102541974B1 (ko) 2022-08-24 2023-06-13 주식회사 디팜스 Esd 특성을 갖는 테스트 캐리어 지그 플레이트 및 그 제조방법
CN116540151A (zh) * 2023-07-06 2023-08-04 深圳市智诚测控技术有限公司 一种电池底板器件自动测试设备及其生产线
CN117012123A (zh) * 2023-06-30 2023-11-07 广州鸿宇数字科技有限公司 一种液晶显示器坏点检测设备及检测方法
US11815544B2 (en) 2020-08-24 2023-11-14 Samsung Display Co., Ltd. Jig for inspection of display panel
KR102678579B1 (ko) 2023-01-30 2024-06-27 주식회사미래기계기술 인쇄회로기판 테스트용 지그

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070094350A (ko) * 2006-03-17 2007-09-20 양 전자시스템 주식회사 프로브 검사장치
KR101174851B1 (ko) 2012-04-17 2012-08-23 위드시스템 주식회사 슬라이딩 구동모듈을 가지는 디스플레이모듈 컨택장치
KR200471343Y1 (ko) * 2013-06-10 2014-02-25 주식회사 프로이천 수직형 매니퓰레이터
KR101741094B1 (ko) * 2016-12-27 2017-06-01 주식회사 디에스케이 매니퓰레이터

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070094350A (ko) * 2006-03-17 2007-09-20 양 전자시스템 주식회사 프로브 검사장치
KR101174851B1 (ko) 2012-04-17 2012-08-23 위드시스템 주식회사 슬라이딩 구동모듈을 가지는 디스플레이모듈 컨택장치
KR200471343Y1 (ko) * 2013-06-10 2014-02-25 주식회사 프로이천 수직형 매니퓰레이터
KR101741094B1 (ko) * 2016-12-27 2017-06-01 주식회사 디에스케이 매니퓰레이터

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111103712A (zh) * 2019-12-31 2020-05-05 台龙电子（昆山）有限公司 一种点灯测试装置
CN111856798A (zh) * 2020-08-11 2020-10-30 深圳市灵触科技有限公司 一种tft液晶显示屏点亮测试治具
US11815544B2 (en) 2020-08-24 2023-11-14 Samsung Display Co., Ltd. Jig for inspection of display panel
KR102508229B1 (ko) * 2022-06-29 2023-03-09 주식회사 프로이천 상하전후구동블록조립체 및 프로브장치
KR102541974B1 (ko) 2022-08-24 2023-06-13 주식회사 디팜스 Esd 특성을 갖는 테스트 캐리어 지그 플레이트 및 그 제조방법
KR102678579B1 (ko) 2023-01-30 2024-06-27 주식회사미래기계기술 인쇄회로기판 테스트용 지그
CN117012123A (zh) * 2023-06-30 2023-11-07 广州鸿宇数字科技有限公司 一种液晶显示器坏点检测设备及检测方法
CN117012123B (zh) * 2023-06-30 2023-12-22 广州鸿宇数字科技有限公司 一种液晶显示器坏点检测设备及检测方法
CN116540151A (zh) * 2023-07-06 2023-08-04 深圳市智诚测控技术有限公司 一种电池底板器件自动测试设备及其生产线
CN116540151B (zh) * 2023-07-06 2023-09-26 深圳市智诚测控技术有限公司 一种电池底板器件自动测试设备及其生产线

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102033886B1 (ko) 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓
KR100793699B1 (ko) 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그
KR100538796B1 (ko) 액정표시장치의 기판 모듈 검사장치
KR20150066018A (ko) Ａｍｏｌｅｄ 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법
KR101907447B1 (ko) 표시 패널 검사 장치
KR101115874B1 (ko) 어레이 테스트 장치
KR101052490B1 (ko) 어레이 테스트 장치
KR102308418B1 (ko) 비전인식을 통한 피검사체 자동정렬이 가능한 검사용 연결장치
KR102181039B1 (ko) 지그가 일체형으로 형성된 디스플레이 검사용 연결 장치
KR102149703B1 (ko) 디스플레이 패널의 사이즈에 따른 간격 가변 검사장치
KR101741094B1 (ko) 매니퓰레이터
KR100768914B1 (ko) 프로브 검사장치
KR101014780B1 (ko) 프로브 유닛
KR200471343Y1 (ko) 수직형 매니퓰레이터
KR101776810B1 (ko) 전자부품용 테스트 소켓
US20110163755A1 (en) Self-aligning test fixture for printed circuit board
CN110189669B (zh) 一种点灯测试治具及测试方法
KR102570532B1 (ko) 멀티 프로브 검사장치
KR100756438B1 (ko) 엘씨디 셀 검사용 프로빙장치
KR102149698B1 (ko) 디스플레이 패널의 양변 검사장치
KR20190107221A (ko) 디스플레이 모듈 커넥터 가이드 플레이트 모듈
KR20190086260A (ko) 디스플레이패널 검사용 콘택터 마운트 조립체
KR100358322B1 (ko) 액정표시장치(ｌｃｄ) 테스트 핸들러
KR102617807B1 (ko) 전자부품 테스트용 핸들러
JPH07294580A (ja) ディスプレイパネル用検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant