CN114446209A - 点灯治具 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种点灯治具，所述点灯治具包括：底座，盖板与探针组件，所述底座与所述盖板围合形成一面板容置空间；所述探针组件位于所述面板容置空间内，包括设置于所述底座靠近所述盖板的一侧的第一探针组与设置于所述盖板靠近所述底座一侧的第二探针组，所述第一探针组用于向底发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，所述第二探针组用于向顶发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，同型号的顶发射显示面板与底发射显示面板可共用一种点灯治具进行点灯测试，或双面发光型显示面板两个显示面仅需一种点灯治具进行点灯测试，从而实现测试效率的提升，以及治具成本的降低。

Description

点灯治具
技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种点灯治具。
背景技术
目前，有源矩阵有机发光二极管(AMOLED，Active-matrix Organic LightEmitting Diode)型显示面板包括三种发光模式，顶部发光(顶发射)、底部发光(底发射)或双面发光。
在点灯测试时，点灯治具中的探针需接触显示面板上中特定的测试端子(Pad)从而灌入测试信号，目前，常规的点灯治具均是针对单侧发光的显示面板进行设计，即，一种点灯治具只能对应其一种方式的产品，不能实现顶发射显示面板与底发射显示面板或双面显示面板的共用，导致测试效率低以及治具成本的增加，进而增加了显示面板的制造成本与制造周期，故，亟需开发一款新的点灯治具来改善这一缺陷。
发明内容
本发明提供一种点灯治具，可兼容底发射型显示面板与底发射型显示面板的点灯测试、以及双面发光型显示面板的两个显示面的点灯测试。
为解决上述问题，本发明提供一种点灯治具，所述点灯治具包括：
底座；
盖板，与所述底座相对设置，且所述底座与所述盖板围合形成一面板容置空间；
探针组件，位于所述面板容置空间内，且包括第一探针组与第二探针组，其中，所述第一探针组设置于所述底座靠近所述盖板的一侧所述第二探针组设置于所述盖板靠近所述底座的一侧。
在一实施例所提供的点灯治具中，所述第一探针组包括多个第一探针，所述第二探针组包括多个第二探针；
所述点灯治具包括多个测试单元，一所述测试单元包括一所述第一探针和一所述第二探针，一所述测试单元内，所述第一探针和所述第二探针用于传输相同的测试信号。
在一实施例所提供的点灯治具中，所述面板容置空间包括相互垂直的第一对称轴与第二对称轴，且所述第一对称轴和第二对称轴与所述盖板平行；
任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的正投影与所述第二探针在所述底座上的正投影相较所述第一对称轴对称设置；或
任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的正投影与所述第二探针在所述底座上的正投影相较所述第二对称轴对称设置。
在一实施例所提供的点灯治具中，所述第一探针组和所述第二探针组位于所述面板容置空间内，且设置于所述面板容置空间的边缘。
在一实施例所提供的点灯治具中，所述盖板包括一与所述面板容置空间设置的可视窗，所述第二探针组设置于所述可视窗外围。
在一实施例所提供的点灯治具中，所述点灯治具还包括设置于所述底座上的电源供给模组，所述第一探针组与所述第二探针组通过一连接线路与所述电源供给模组连接。
在一实施例所提供的点灯治具中，所述连接线路包括多条分别与所述电源供给模组电性连接的信号线，任一所述测试单元内，一所述第一探针与所述第二探针与同一所述的信号线电性连接。
在一实施例所提供的点灯治具中，所述电源供给模组包括第一电源部与第二电源部，部分的所述信号线电性连接所述第一电源部，剩余部分的所述信号线电性连接所述第二电源部。
在一实施例所提供的点灯治具中，所述盖板的第一侧边与所述底座铰接。
在一实施例所提供的点灯治具中，所述盖板的第二侧边上设有第一连接件，所述底座上设有与所述第一连接件可拆卸连接的第二连接件。
有益效果：本发明提供了一种点灯治具，通过在底座与盖板上分别各设置独立的第一探针组与第二探针组，所述第一探针组用于向底发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，所述第二探针组用于向顶发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，同型号的顶发射显示面板与底发射显示面板可共用一种点灯治具进行点灯测试，或双面发光型显示面板的两个显示面仅需一种点灯治具进行点灯测试，从而实现测试效率的提升，以及治具成本的降低。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供一种点灯治具在打开状态下的结构示意图；
图2是本发明实施例提供一种点灯治具在盖合状态下的结构示意图；
图3是本发明实施例提供一组待测试顶发射显示面板与待测试底发射显示面板的点灯测试端子的分布示意图；
图4是本发明实施例提供另一组待测试顶发射显示面板与待测试底发射显示面板的点灯测试端子的分布示意图；
图5是本发明实施例提供另一种点灯治具在打开状态下的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本发明，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本发明。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本发明的描述变得晦涩。因此，本发明并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。
本发明实施例提供一种点灯治具，以下结合图1示出的该点灯治具进行详细说明。
所述点灯治具包括底座110、盖板120以及探针组件T，所述盖板120与所述底座110相对设置，且所述底座110与所述盖板120围合形成一面板容置空间111，所述面板容置空间111通常由一设置于所述底座110的容置槽与所述盖板120围合而成，用于放置待测试的显示面板，所述探针组件T位于所述面板容置空间111内，且包括第一探针组T1与第二探针组T2，其中，所述第一探针组T1设置于所述底座110靠近所述盖板120的一侧,所述第二探针组T2设置于所述盖板120靠近所述底座110的一侧。
对于顶发射型显示面板而言，其用于点灯测试的测试端子设置于所述显示面板出光方向的一侧，当放置于所述点灯治具进行点灯测试时，显示面需朝上放置以供测试人员进行检测，此时，测试端子同样位于上侧，则使用设置于所述盖板上的第二探针组T2对测试端子灌入测试信号而点亮显示面板进行测试；
对于底发射型显示面板而言，其用于点灯测试的测试端子设置于所述显示面板背离出光方向的一侧，当放置与所述点灯治具进行点灯测试时，显示面需朝上放置以供测试人员进行检测，此时，测试端子位于下侧，则使用设置于所述底座上的第一探针组T1对测试端子灌入测试信号而点亮显示面板进行测试；
而对于双面发光型显示面板而言，包括与第一显示面以及与所述相对设置的第二显示面，所述第一显示面与用于点灯测试的测试端子同侧设置，所述第二显示面与用于点灯测试的测试端子异侧设置，那么，当对所述第一显示面进行点灯测试时，使用设置于所述盖板上的第二探针组T2对测试端子灌入测试信号而点亮显示面板的第一显示面进行测试；当对所述第二显示面进行点灯测试时，使用设置于所述底座上的第一探针组T1对测试端子灌入测试信号而点亮显示面板的第二显示面进行测试。
在本实施例所提供的点灯装置中，通过在底座与盖板上分别各设置独立的第一探针组与第二探针组，所述第一探针组用于向底发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，所述第二探针组用于向顶发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，同型号的顶发射显示面板与底发射显示面板可共用一种点灯治具进行点灯测试，或双面发光型显示面板的两个显示面仅需一种点灯治具进行点灯测试，从而实现测试效率的提升，以及治具成本的降低。
补充说明的是，所述探针组件T的具体位置取决于待测显示面板中用于点灯测试的测试端子的实际设置位置，通常情况下，大尺寸显示面板的测试端子设置于显示区相对的两侧边以外，此时，所述第一探针组T1或所述第二探针组T2对应地设置两排探针，即如图1所示，或测试端子环绕地设置于显示区的四侧边外，相对应地，所述第一探针组T1或所述第二探针组T2设置四排探针；而小尺寸显示面板的测试端子通常仅设置于显示区的一侧边外，相对应地，所述第一探针组T1或所述第二探针组T2仅设置一排探针。
另，为了清除地阐明所述点灯治具的内部具体结构，以上结合了图1示出的该点灯治具的底座与盖板处于打开的状态下的结构示意图进行说明，在实际测试状态下，所述点灯治具的盖板与底座为盖合状态，具体可参见图2示出的结构示意图。
在一些实施例中，请结合图1与图2，所述盖板120的第一侧边与所述底座110铰接，所述盖板120可以所述第一侧边为轴相较所述底座110旋转，根据实际需要，所述盖板120处于打开状态或盖合状态。
进一步地，所述盖板120的第二侧边上设有第一连接件141，所述底座110上设有与所述第一连接件141可拆卸连接的第二连接件142，所述第二侧面与所述第一侧边通常相对设置，在进行点灯测试时，所述第一连接件141与所述第二连接件142固定连接，使得所述盖板120紧密地盖合于所述底座110，进而使得放置于面板容置空间里的显示面板的测试端子与对应的探针保持良好的接触，提高点灯测试的稳定性，示例性地，所述第一连接件141与所述第二连接件142中的一者为插销头，另一者为插销座，或所述第一连接件141与所述第二连接件142中的一者为卡扣头，另一者为卡合槽。
进一步地，对于使用同一点灯治具进行点灯测试的顶发射型显示面板与底发射显示面板而言，两者的驱动电路通常设置相同，进而两者用于进行点灯测试的测试端子存在对应的关系，底发射型显示面板设置的测试端子的数量与顶发射型显示面板的测试端子的数量相同且两两对应设置，即底发射型显示面板中的一测试端子与底发射型显示面板中的相对应的一测试端子需灌入相同的测试信号；
相对应地，在一些实施例中，所述第一探针组T1包括多个第一探针，图中示例性地示出了T1-1～T1-16共十六个第一探针，所述第二探针组包括多个第二探针，图中示例性地示出了T2-1～T2-16共十六个第二探针；
所述点灯治具包括多个测试单元，一所述测试单元包括一所述第一探针和一所述第二探针，一所述测试单元内，所述第一探针和所述第二探针用于传输相同的测试信号，示例性地，一测试单元包括第一探针T1-1与第二探针T2-1，在测试时，所述第一探针T1-1与所述第二探针T2-1用于传输相同的测试信号，即，所述第一探针与所述第二探针的数量相同，一所述的第一探针与一所述的第二探针相互组合形成一测试单元，用于传输相同的测试信号。
跟进一步地，使用同一点灯治具进行点灯测试的顶发射显示面板与底发射显示面板的测试端子存在一定的对称关系，使得所述第一探针组与所述第二探针组的设置位置同样存在一定的对称关系。
具体地，在一种情形下，请参阅图3提供的显示面板的测试端子分布示意图，底发射型显示面板210上设置有测试端子P1～P16，当显示面朝上放置，即处于点灯测试状态下的测试端子排布如图3所示，顶发射型显示面板220上设置有测试端子P1’～P16’，当显示面朝上放置，即处于点灯测试状态下的测试端子排布如图3所示，所述底发射型显示面板210上一测试端子与所述顶发射型显示面板220上一用于接收相同测试信号的端子相较L3呈对称分布，示例性地，测试端子P1与测试端子P1’相较L3呈对称分布，此时相对应地，在所述点灯治具中，请继续参阅图1，任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的投影与所述第二探针在所述底座上的投影相较所述第一对称轴L1对称设置，示例性地，所述第一探针T1-1在所述底座上的投影与所述第二探针T2-1在所述底座上的投影相较所述第一对称轴L1对称设置，其中，所述第一对称轴为所述面板容置空间的一对称轴，可以理解的是，此处所述的第一探针与所述第二探针的对称关系是所述盖板120盖合于所述底座110时，即如图2所示的状态下时所呈现的对称关系，使用图1所示的展开状态下的结构示意图旨在清楚地示意出所述第一探针与所述第二探针的具体位置；
在另一种情形下，请参阅图4提供的显示面板的测试端子分布示意图，底发射型显示面板210上设置有测试端子P1～P16，当显示面朝上放置，即处于点灯测试状态下的测试端子排布如图4所示，顶发射型显示面板220上设置有测试端子P1’～P16’，当显示面朝上放置，即处于点灯测试状态下的测试端子排布如图4所示，所述底发射型显示面板210上一测试端子与所述顶发射型显示面板220上一用于接收相同测试信号的端子相较L4呈对称分布，示例性地，测试端子P1与测试端子P1’相较L4呈对称分布，L4与L3相互垂直，此时相对应地，在所述点灯治具中，请参阅图5，任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的投影与所述第二探针在所述底座上的投影相较所述第二对称轴L2对称设置，示例性地，所述第一探针T1-1在所述底座上的投影与所述第二探针T2-1在所述底座上的投影相较所述第二对称轴L2对称设置，其中，所述第二对称轴L2为所述面板容置空间的对称轴，所述第一对称轴L1与所述第二对称轴L2相互垂直，且在所述盖板120盖合于所述底座110时，所述第一对称轴L1和第二对称轴L2与所述盖板120平行。
在一些实施例中，由于待测试显示面板的点灯测试端子通常设置于所述显示面板的边缘，相对应地，所述第一探针组T1和所述第二探针组T2位于所述面板容置空间内，且设置于所述面板容置空间111的边缘。
在一些实施例中，所述盖板120包括一与所述面板容置空间111设置的可视窗121，所述可视窗使得放置于所述面板容置空间111中的显示面板的显示区显露以进行测试，所述第二探针组T2设置于所述可视窗外围，即对应所述显示面板显示区外围设置测试端子的区域，所述可视窗121可以由所述盖板在对应区域设置的镂空部形成，也可由所述镂空部进一步嵌设的透明板材形成。
在一些实施例中，请继续参阅图1，所述点灯治具还包括设置于所述底座上的电源供给模组130，所述第一探针组T1与所述第二探针组T2通过一连接线路(图中未示出)与所述电源供给模组连接130，所述电源供给模组130将测试信号通过所述连接线路传输至所述第一探针组T1与所述第二探针组T2，进而再传输至待测试显示面板的测试端子，最终点亮所述显示面板而进行测试。
在一些实施例中，所述连接线路包括多条分别与所述电源供给模组电性130连接的信号线，任一所述测试单元内，一所述第一探针与所述第二探针与同一所述的信号线电性连接，由于在一测试单元内，一所述第一探针与所述第二探针用于传输相同的测试信号，因此，可共用一信号线与所述电源供给模组130进行连接，从而简化所述连接线路。
进一步地，所述电源供给模组130包括第一电源部131与第二电源部132，部分的所述信号线电性连接所述第一电源部131，剩余部分的所述信号线电信连接所述第二电源部132，其中，所述第一电源部131通常用于提供直流信号，如VDD、VSS信号，而所述第二电源部132通常用于提供data(RGB)、WR、RD、sense等信号，此类信号包括高电平与低电平两种信号，所述第二电源部132内部设置有开关，用于选择输出高电平或低电平信号。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对其他实施例的详细描述，此处不再赘述。
以上对本发明实施例所提供的一种点灯治具进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种点灯治具，其特征在于，所述点灯治具包括：
底座；
盖板，与所述底座相对设置，且所述底座与所述盖板围合形成一面板容置空间；
探针组件，位于所述面板容置空间内，且包括第一探针组与第二探针组，其中，所述第一探针组设置于所述底座靠近所述盖板的一侧所述第二探针组设置于所述盖板靠近所述底座的一侧。
2.根据权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，所述第一探针组包括多个第一探针，所述第二探针组包括多个第二探针；
所述点灯治具包括多个测试单元，一所述测试单元包括一所述第一探针和一所述第二探针，一所述测试单元内，所述第一探针和所述第二探针用于传输相同的测试信号。
3.根据权利要求2所述的点灯治具，其特征在于，所述面板容置空间包括相互垂直的第一对称轴与第二对称轴，且所述第一对称轴和第二对称轴与所述盖板平行；
任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的正投影与所述第二探针在所述底座上的正投影相较所述第一对称轴对称设置；或
任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的正投影与所述第二探针在所述底座上的正投影相较所述第二对称轴对称设置。
4.根据权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，所述第一探针组和所述第二探针组位于所述面板容置空间内，且设置于所述面板容置空间的边缘。
5.根据权利要求4所述的点灯治具，其特征在于，所述盖板包括一与所述面板容置空间设置的可视窗，所述第二探针组设置于所述可视窗外围。
6.根据权利要求2所述的点灯治具，其特征在于，所述点灯治具还包括设置于所述底座上的电源供给模组，所述第一探针组与所述第二探针组通过一连接线路与所述电源供给模组连接。
7.根据权利要求6所述的点灯治具，其特征在于，所述连接线路包括多条分别与所述电源供给模组电性连接的信号线，任一所述测试单元内，一所述第一探针与所述第二探针与同一所述的信号线电性连接。
8.根据权利要求7所述的点灯治具，其特征在于，所述电源供给模组包括第一电源部与第二电源部，部分的所述信号线电性连接所述第一电源部，剩余部分的所述信号线电性连接所述第二电源部。
9.根据权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，所述盖板的第一侧边与所述底座铰接。
10.根据权利要求9所述的点灯治具，其特征在于，所述盖板的第二侧边上设有第一连接件，所述底座上设有与所述第一连接件可拆卸连接的第二连接件。
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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN208420981U (zh) * 2018-04-24 2019-01-22 深圳市凯力迪科技有限公司 一种ic功能测试座
CN109916595A (zh) * 2019-03-27 2019-06-21 京东方科技集团股份有限公司 一种点亮夹具及大视角光学测试装置
CN209118737U (zh) * 2018-10-18 2019-07-16 苏州弗士达科学仪器有限公司 Oled屏半衰期自动测量装置
CN110189669A (zh) * 2019-06-12 2019-08-30 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种点灯测试治具及测试方法
CN110706630A (zh) * 2019-10-22 2020-01-17 友达光电（昆山）有限公司 应用于窄边框显示面板的电检测治具及电检测方法
CN212321659U (zh) * 2019-12-24 2021-01-08 江苏集萃有机光电技术研究所有限公司 Oled器件测试治具、oled器件寿命测试仪
CN214895452U (zh) * 2021-10-18 2021-11-26 武汉精毅通电子技术有限公司 压接导通装置、压接治具及测试设备

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN208420981U (zh) * 2018-04-24 2019-01-22 深圳市凯力迪科技有限公司 一种ic功能测试座
CN209118737U (zh) * 2018-10-18 2019-07-16 苏州弗士达科学仪器有限公司 Oled屏半衰期自动测量装置
CN109916595A (zh) * 2019-03-27 2019-06-21 京东方科技集团股份有限公司 一种点亮夹具及大视角光学测试装置
CN110189669A (zh) * 2019-06-12 2019-08-30 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种点灯测试治具及测试方法
CN110706630A (zh) * 2019-10-22 2020-01-17 友达光电（昆山）有限公司 应用于窄边框显示面板的电检测治具及电检测方法
CN212321659U (zh) * 2019-12-24 2021-01-08 江苏集萃有机光电技术研究所有限公司 Oled器件测试治具、oled器件寿命测试仪
CN214895452U (zh) * 2021-10-18 2021-11-26 武汉精毅通电子技术有限公司 压接导通装置、压接治具及测试设备

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