CN209118737U - Oled屏半衰期自动测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种显示屏寿命测量装置，尤其是OLED屏半衰期自动测量装置，包括机架、抽屉、硅光二极管、导通探针、治具盖板和治具底座；所述机架上设有多个插口，所述抽屉滑动插在插口中；所述治具底座固定在抽屉上，治具底座的顶部设有固定槽，固定槽内放置有OLED屏；所述导通探针安装在治具盖板或治具底座上，导通探针正对在OLED屏的电极；所述硅光二极管安在治具盖板和/或治具底座的固定槽上，硅光二极管正对着OLED屏；所述治具盖板安装在治具底座上。本实用新型提供的OLED屏半衰期自动测量装置极大的缩小了设备的占地面积，降低了测试人员的技能要求，同时测试的OLED屏数量更多，大大提高了测量效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种显示屏寿命测量装置，尤其是OLED屏半衰期自动测量装置。
背景技术
随着时代的进步与科技的发展，显示屏行业的发展越来越快，需求也越来越多，而要求又越来越严苛，在如今全面进入OLED时代的背景下，对于OLED产品的性能测试需求也是不断增加，而OLED半衰期的测量也是诸多OLED性能测量中最为基础和常见的一种测量项目。在现有技术中对，对于OLED半衰期的测量通常采用三轴机台，在一个平台上点亮一定数量的产品，经过三轴驱动仪器对各个产品分别进行测量，这样的机台测量样品数量有限，占地面积大，测量效率低等诸多缺点，无法满足现社会各企业及科研单位对产品测试的需求。
实用新型内容
为解决上述问题，本实用新型提供一种占到面积小、测量效率高的OLED屏半衰期自动测量装置，具体技术方案为：
OLED屏半衰期自动测量装置，包括机架、抽屉、硅光二极管、导通探针、治具盖板和治具底座；所述机架上设有多个插口，所述抽屉滑动插在插口中；所述治具底座固定在抽屉上，治具底座的顶部设有固定槽，固定槽内放置有OLED屏；所述导通探针安装在治具盖板或治具底座上，导通探针正对在OLED屏的电极；所述硅光二极管安在治具盖板和/或治具底座的固定槽上，硅光二极管正对着OLED屏；所述治具盖板安装在治具底座上。
通过采用上述技术方案，机架上可以设置多个插口，即插口层状阵列设置，从而使单位面积放置的OLED屏数量更多，减小占到面积，放置较多的OLED屏也提高了检测效率。
抽屉用于放置测量治具，从而方便将测量治具放置到机架的内部，测量治具位于机架的内部可以减少占到面积，方便OLED屏的安装，减少装配时间。
固定槽用于放置OLED屏，使OLED屏放置快速，无需校对位置。
治具盖板和治具底座上均装有硅光二极管使测试人员无需区分OLED屏是顶发光还是底发光，均能准确的测量。
导通探针为电流针，用于连接OLED屏的电极，从而使OLED屏通道发光。电流针是OLED屏的连接简单，方便OLED屏的拆装。
硅光二极管能够将光信号转换成电信号，然后根据电信号的衰减来检测OLED屏的半衰期。
优选的，所述治具盖板上设有信号传输探针，信号传输探针与硅光二极管连接，治具底座上设有信号接收柱，所述信号传输探针正对着信号接收柱，信号接收柱与底座上的牛角接头连接。
通过采用上述技术方案，将治具盖板上的电信号通过信号传输探针和信号接收柱传给牛角接头，通过牛角接头传输给检测系统，从而简化了线路设置。
优选的，所述治具盖板与治具底座之间通过轴转动连接。
通过采用上述技术方案，通过轴转动连接使治具盖板和治具底座打开和闭合方便。
优选的，所述治具盖板与治具底座上均装有磁铁，且治具盖板上的磁铁与治具底座上的磁铁相对设置。
通过采用上述技术方案，磁铁能够将治具盖板和治具底座吸附到一起，实现治具盖板对OLED屏的压合，使连接装置结构简单，治具盖板开关方便。
优选的，所述治具底座为POM制造。
通过采用上述技术方案，POM是一种防静电材料，能够减少对OLED屏的测量干扰，保证测量结果的准确性。
优选的，所述机架为立式铝型材机架。
通过采用上述技术方案，立式铝型材机架占到面积小，重量轻。
优选的，还包括限位装置，所述限位装置包括限位柱和限位销，所述限位销固定在抽屉的末端，且位于抽屉的一侧；所述限位柱固定在机架上，且与正对着限位销。
通过采用上述技术方案，限位销和限位柱防止抽屉脱落。
与现有技术相比本实用新型具有以下有益效果：
本实用新型提供的OLED屏半衰期自动测量装置极大的缩小了设备的占地面积，降低了测试人员的技能要求，同时测试的OLED屏数量更多，大大提高了测量效率。
附图说明
图1是本实用新型的总体的装配结构示意图；
图2是机架和抽屉的装配结构示意图；
图3是治具底座和治具盖板打开状态的结构示意图；
图4是限位装置的结构示意图。
具体实施方式
现结合附图对本实用新型作进一步说明。
如图1至图4所示，OLED屏半衰期自动测量装置，包括机架1、抽屉2、硅光二极管6、导通探针7、治具盖板4和治具底座3；机架1上设有多个插口，抽屉2滑动插在插口中；治具底座3固定在抽屉2上，治具底座3的顶部设有固定槽31，固定槽31内放置有OLED屏5；导通探针7安装在治具盖板4上，导通探针7正对在OLED屏5的电极；硅光二极管6安在治具盖板4和治具底座3的固定槽31上，硅光二极管6正对着OLED屏5；治具盖板4安装在治具底座3上。
机架1上可以设置多个插口，插口层状阵列设置，即插口设有多层，每层插口设有多个，从而使单位面积放置的OLED屏5数量更多，减小占到面积，放置较多的OLED屏5也提高了检测效率，缩短了测量周期。
抽屉2用于放置测量治具，从而方便将测量治具放置到机架1的内部，测量治具位于机架1的内部可以减少占到面积，方便OLED屏5的安装，减少装配时间。
固定槽31用于放置OLED屏5，使OLED屏5放置快速，无需校对位置。
治具盖板4和治具底座3上均装有硅光二极管6，从而使测试人员无需区分OLED屏5是顶发光还是底发光，均能准确的测量，实现OLED屏5顶发光和底发光的兼容测量。
导通探针7为电流针，用于连接OLED屏5的电极，从而使OLED屏5通电发光。电流针使OLED屏5的连接简单，方便OLED屏5的拆装，缩短装夹时间，提高了效率。治具底座3和治具盖板4上均可以安装电流针，根据OLED屏5的情况决定。
硅光二极管6能够将光信号转换成电信号，然后根据电信号的衰减来检测OLED屏5的半衰期。
治具盖板4和治具底座3上均装有PCB板，即线路板，线路板与硅光二极管6和电流针连接。
治具底座3上还装有开关33。
机架1为立式铝型材机架。立式铝型材机架1占到面积小，重量轻。机架1上还可以装玻璃门。机架1上还装有电脑10，电脑10上装有测量系统，电脑10通过数据线与治具底座3上的线路板连接，测量系统接收硅光二极管6输出的电信号，记录并分析数据，从而得出OLED屏5的半衰期。
治具盖板4上设有信号传输探针42，信号传输探针42与硅光二极管6连接，治具底座3上设有信号接收柱32，信号传输探针42正对着信号接收柱32，信号接收柱32与底座上的牛角接头连接。将治具盖板4上的电信号通过信号传输探针42和信号接收柱32传给牛角接头，通过牛角接头传输给检测系统，从而简化了线路设置。信号传输探针42也可以为电流针，信号传输探针42与治具盖板4上的线路板连接。信号接收柱32为金属柱或触点，可以设置在治具底座3上的线路板上，当治具盖板4与治具底座3合起来时信号传输探针42与信号接收柱32实现导通，进行信号传输。
治具盖板4与治具底座3之间通过轴8转动连接。通过轴8转动连接使治具盖板4和治具底座3形成翻盖形式，打开和闭合非常方便，缩短了OLED屏5的装卸时间，提高了效率。
治具盖板4与治具底座3上均装有磁铁41，且治具盖板4上的磁铁41与治具底座3上的磁铁41相对设置。磁铁41能够将治具盖板4和治具底座3吸附到一起，实现治具盖板4对OLED屏5的压合，使连接装置结构简单，治具盖板4开关方便。
治具底座3为POM制造。POM是一种防静电材料，能够减少对OLED屏5的测量干扰，保证测量结果的准确性。
还包括限位装置，限位装置包括限位柱11和限位销21，限位销21固定在抽屉2的末端，且位于抽屉2的一侧；限位柱11固定在机架1上，且与正对着限位销21。限位销21和限位柱11防止抽屉2脱落。可以避免测试过程中抽屉2被完全拉出，造成治具掉落及信号线被拉断。
使用时，将需要测量的样品准备就绪，然后设置测量参数，再将准备好待测量的OLED屏5逐一放置到各个治具中去。按照顺序从机架1上依次抽出抽屉2，然后打开治具盖板4，并检查治具底座3是否有上次测量遗漏的样品，如没有则可将OLED屏5放置于治具底座3的固定槽31内，注意需要将OLED屏5的电极对应导通探针7，OLED屏5放置好后放下治具盖板4，完成一片待测OLED屏5的放置，循环上述动作，将需要测量的OLED屏5逐一放置到测试治具中，所有样品放置结束后启动测量，进行该批次的测量工作。
Claims (7)
1.OLED屏半衰期自动测量装置，其特征在于，包括机架(1)、抽屉(2)、硅光二极管(6)、导通探针(7)、治具盖板(4)和治具底座(3)；
所述机架(1)上设有多个插口，所述抽屉(2)滑动插在插口中；
所述治具底座(3)固定在抽屉(2)上，治具底座(3)的顶部设有固定槽(31)，固定槽(31)内放置有OLED屏(5)；
所述导通探针(7)安装在治具盖板(4)或治具底座(3)上，导通探针(7)正对在OLED屏(5)的电极；
所述硅光二极管(6)安在治具盖板(4)和/或治具底座(3)的固定槽(31)上，硅光二极管(6)正对着OLED屏(5)；
所述治具盖板(4)安装在治具底座(3)上。
2.根据权利要求1所述的OLED屏半衰期自动测量装置，其特征在于，
所述治具盖板(4)上设有信号传输探针(42)，信号传输探针(42)与硅光二极管(6)连接，治具底座(3)上设有信号接收柱(32)，所述信号传输探针(42)正对着信号接收柱(32)，信号接收柱(32)与底座上的牛角接头连接。
3.根据权利要求1所述的OLED屏半衰期自动测量装置，其特征在于，
所述治具盖板(4)与治具底座(3)之间通过轴(8)转动连接。
4.根据权利要求1或3所述的OLED屏半衰期自动测量装置，其特征在于，
所述治具盖板(4)与治具底座(3)上均装有磁铁(41)，且治具盖板(4)上的磁铁(41)与治具底座(3)上的磁铁(41)相对设置。
5.根据权利要求1所述的OLED屏半衰期自动测量装置，其特征在于，
所述治具底座(3)为POM制造。
6.根据权利要求1所述的OLED屏半衰期自动测量装置，其特征在于，
所述机架(1)为立式铝型材机架。
7.根据权利要求1所述的OLED屏半衰期自动测量装置，其特征在于，
还包括限位装置，所述限位装置包括限位柱(11)和限位销(21)，所述限位销(21)固定在抽屉(2)的末端，且位于抽屉(2)的一侧；
所述限位柱(11)固定在机架(1)上，且与正对着限位销(21)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201821691846.4U CN209118737U (zh) | 2018-10-18 | 2018-10-18 | Oled屏半衰期自动测量装置 |
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN209118737U true CN209118737U (zh) | 2019-07-16 |
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ID=67201389
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|---|---|
| CN (1) | CN209118737U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110706630A (zh) * | 2019-10-22 | 2020-01-17 | 友达光电（昆山）有限公司 | 应用于窄边框显示面板的电检测治具及电检测方法 |
| CN114446209A (zh) * | 2022-01-25 | 2022-05-06 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 点灯治具 |
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2018
- 2018-10-18 CN CN201821691846.4U patent/CN209118737U/zh active Active
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