CN109916595A - 一种点亮夹具及大视角光学测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及显示技术领域，公开了一种点亮夹具及大视角光学测试装置，该点亮夹具包括：载板，载板的一侧面形成承载面，承载面上包括放置区；安装于承载面上的多个探针组件，多个探针组件沿放置区周边分布，每个探针组件包括一端安装于承载面的弹片、以及安装于承载面且与弹片对应的导电柱，每个探针组件中，弹片可绕垂直于承载面的一轴线转动地安装于承载面，导电柱的轴线与承载面垂直；与各探针组件中的弹片和导电柱均电连接的供电装置。该点亮夹具中，载板上设置多个结构简单的探针组件对待测器件进行测试，可以对底发射器件进行测试也可以对顶发射器件进行测试，实用性较强，且探针组件占用空间小，可以有效提高对待测器件的视角测试效果。

Description

一种点亮夹具及大视角光学测试装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种点亮夹具及大视角光学测试装置。

背景技术

近几年，由于OLED手机终端的市场的打开，客户对于OLED显示的要求越来越高，特别是大视角下的显示要求也越来越高，但目前的是测试设备市场对于研发阶段的器件结构视角测试的有效角度最大为±70°，而目前终端市场的要求已达到±80°，且对于研发阶段的器件结构视角测试的影响因素大多是在于测试用的夹具对器件结构视角测试的有效角度的影响，尤其是目前的测试用的夹具一般结构较为复杂，不仅影响对器件结构视角测试的有效角度，测试时使用也很不方便，故，为了缓解上述问题，现在亟需研究一种在研发阶段使用方便且可以提高对器件结构视角测试效果的夹具。

发明内容

本发明公开了一种点亮夹具及大视角光学测试装置，该点亮夹具中，载板上设置多个结构简单的探针组件对待测器件进行测试，既可以对底发射器件进行测试也可以对顶发射器件进行测试，实用性较强，且探针组件占用空间小，可以有效提高对待测器件的视角测试效果。

为达到上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种点亮夹具，包括：

用于承载待测器件的载板，所述载板的一侧面形成用于支撑所述待测器件的承载面，所述承载面上包括用于放置所述待测器件的放置区；

安装于所述载板的承载面上、且位于所述放置区周侧的多个探针组件，所述多个探针组件沿所述放置区的周边分布，每个所述探针组件包括一端安装于所述承载面的弹片、以及安装于所述承载面且与所述弹片对应的导电柱，且每个所述探针组件中，所述弹片可绕垂直于所述承载面的一轴线转动地安装于所述承载面，所述导电柱的轴线与所述承载面垂直；

与各所述探针组件中的弹片和导电柱均电连接且用于给每个所述探针组件供电的供电装置。

上述点亮夹具中，载板的顶面可以形成承载面，承载面上设置有一个放置区，待测器件可以放置在放置区内，多个探针组件沿放置区的周边分布并安装在载板上，其中，每个探针组件包括一个安装在载板上的导电的弹片和与弹片对应的导电柱，弹片或导电柱与放置在放置区的待测器件的电极端对应，弹片和导电柱分别与供电装置电连接，可以与电极端连接以给待测器件载入电信号，其中，为便于说明，以承载面背离载板的方向为上，即，待测器件放在载板上面，当待测器件为顶发射器件时，转动弹片以避让开放置区，将顶发射器件放置在放置区，可以搭在导电柱上，顶发射器件的电极端朝向上方，然后再次转动弹片，将弹片压在顶发射器件的电极端，则弹片与顶发射器件的电极端接触并电连接；当待测器件为底发射器件时，转动弹片以避让开放置区，将底发射器件放置在放置区，可以搭在导电柱上，底发射器件的电极端朝向下方，导电柱与底发射器件的电极端对应，所以，导电柱直接与底发射器件的电极端接触并电连接，则，上述点亮夹具皆可以用于测试顶发射器件也可以用于测试底发射器件，实用性强，且设置了多个待测组件，可以对待测器件进行多个测试点位测试，便于测试，另外，仅是在载板上设置弹片和导电柱用于与待测器件电连接给待测器件载入电信号，结构非常简单，使用方便，占用空间很小，几乎不会挡光，不会对待测器件发出的光产生检测影响，即，有助于对待测器件的大视角光学特性的检测，提高对待测器件的视角测试效果。

因此，上述点亮夹具中，在载板上设置多个结构简单的探针组件对待测器件进行测试，既可以对底发射器件进行测试也可以对顶发射器件进行测试，实用性较强，且探针组件占用空间小，可以有效提高对待测器件的视角测试效果。

可选地，所述点亮夹具还包括：与所述供电装置信号连接以控制每个所述探针组件的供电状况的控制装置。

可选地，每个所述探针组件中，所述弹片的一端通过一垂直于所述承载面的第一连接轴安装于所述承载面，所述弹片与所述第一连接轴之间转动连接。

可选地，每个所述探针组件中，所述导电柱包括固定安装于所述载板的第一柱体，所述第一柱体背离所述载板的一侧设有第一凹槽，且所述第一凹槽内套设有导电触头，所述第一凹槽内设有与所述导电触头连接且用于给所述导电触头提供自所述导电触头背离所述第一凹槽的槽底的方向的弹力的弹簧组件。

可选地，所述载板上设有第二凹槽，所述第二凹槽位于所述放置区内以用于与所述待测器件对应。

本发明还提供了一种大视角光学测试装置，包括：转盘、设于所述转盘上且绕所述转盘的中心轴线分布的多个如上述技术方案所提供的任意一种点亮夹具以及用于驱动所述转盘转动的驱动装置。

可选地，所述点亮夹具的载板上设有用于固定待测器件的固定装置，所述固定装置位于所述放置区的周侧。

可选地，所述固定装置包括四个分别位于所述载板的角落的弹性固定夹。

可选地，所述点亮夹具绕所述转盘的中心轴线均匀间隔的分布。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种点亮夹具的结构示意图；

图2为图1中沿A向的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种导电柱的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种大视角光学测试装置的结构示意图；

图标：1-点亮夹具；2-转盘；3-转轴；11-载板；12-探针组件；13-弹性固定夹；111-放置区；121-弹片；122-导电柱；1221-第一柱体；1222-导电触头；1223-弹簧组件。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1和图2所示，本发明实施例提供了一种点亮夹具1，包括：用于承载待测器件的载板11，载板11的一侧面形成用于支撑待测器件的承载面，承载面上包括用于放置待测器件的放置区111；安装于载板11的承载面上、且位于放置区111周侧的多个探针组件12，多个探针组件12沿放置区111的周边分布，每个探针组件12包括一端安装于承载面的弹片121、以及安装于承载面且与弹片121对应的导电柱122，且每个探针组件12中，弹片121可绕垂直于承载面的一轴线转动地安装于承载面，导电柱122的轴线与承载面垂直；与各探针组件12中的弹片121和导电柱122均电连接且用于给每个探针组件12供电的供电装置。

上述点亮夹具1中，载板11的顶面可以形成承载面，承载面上设置有一个放置区111，待测器件可以放置在放置区111内，多个探针组件12沿放置区111的周边分布并安装在载板11上，其中，每个探针组件12包括一个安装在载板11上的导电的弹片121和与弹片121对应的导电柱122，弹片121或导电柱122与放置在放置区111的待测器件的电极端对应，弹片121和导电柱122分别与供电装置电连接，可以与电极端连接以给待测器件载入电信号，其中，为便于说明，以承载面背离载板11的方向为上，即，待测器件放在载板11上面，当待测器件为顶发射器件时，转动弹片121以避让开放置区111，将顶发射器件放置在放置区111，可以搭在导电柱122上，顶发射器件的电极端朝向上方，然后再次转动弹片121，将弹片121压在顶发射器件的电极端，则弹片121与顶发射器件的电极端接触并电连接；当待测器件为底发射器件时，转动弹片121以避让开放置区111，将底发射器件放置在放置区111，可以搭在导电柱122上，底发射器件的电极端朝向下方，导电柱122与底发射器件的电极端对应，所以，导电柱122直接与底发射器件的电极端接触并电连接，则，上述点亮夹具1皆可以用于测试顶发射器件也可以用于测试底发射器件，实用性强，且设置了多个待测组件，可以对待测器件进行多个测试点位测试，便于测试，另外，仅是在载板11上设置弹片121和导电柱122用于与待测器件电连接给待测器件载入电信号，结构非常简单，使用方便，占用空间很小，几乎不会挡光，不会对待测器件发出的光产生检测影响，即，有助于对待测器件的大视角光学特性的检测，提高对待测器件的视角测试效果。

因此，上述点亮夹具1中，在载板11上设置多个结构简单的探针组件12对待测器件进行测试，既可以对底发射器件进行测试也可以对顶发射器件进行测试，实用性较强，且探针组件12占用空间小，可以有效提高对待测器件的视角测试效果。

上述点亮夹具1还包括与供电装置信号连接以控制每个探针组件12的供电状况的控制装置。控制装置与供电装置电连接，可以控制供电装置对每个探针组件12的供电状况，每个探针组件12可以为阴极探针组件或阳极探针组件，与载入的电信号相关，每两个探针组件12可以组成一对相互配合，分别形成阴极探针组件和阳极探针组件以对待测器件中的一个测试点进行测试。

如图2所示，每个探针组件12中，弹片121的一端通过一垂直于承载面的第一连接轴安装于承载面，弹片121与第一连接轴之间转动连接。弹片121的一端通过一个连接轴可旋转的安装在承载面上，结构简单，且操作方便。

如图2和图3所示，每个探针组件12中，导电柱122包括固定安装于载板11的第一柱体1221，第一柱体1221背离载板11的一侧设有第一凹槽，且第一凹槽内套设有导电触头1222，第一凹槽内设有与导电触头1222连接且用于给导电触头1222提供自导电触头1222背离第一凹槽的槽底的方向的弹力的弹簧组件1223。弹簧组件1223可以设置在第一凹槽的槽底与导电触头1222朝向第一凹槽的一侧之间，给导电触头1222提供向上的弹力，使导电触头1222可以沿第一凹槽的轴线方向有一定的移动距离，便于各导电触头1222均与待测器件的电极端接触良好，连接稳定，进而有利于提高测试的稳定性。

具体地，载板11上可以设置第二凹槽，第二凹槽位于放置区111内以用于与待测器件对应。当待测器件为玻璃封装的底发射器件时，便于检测。

如图4所示，本发明实施例还提供了一种大视角光学测试装置，包括：转盘2、设于转盘2上且绕转盘2的中心轴线分布的多个如上述技术方案所提供的任意一种点亮夹具1以及用于驱动转盘2转动的驱动装置。

上述大视角光学测试装置中，将多个点亮夹具1设置在转盘2上，转盘2与驱动装置连接，其中，驱动装置可以包括一个与转盘2固定连接的转轴3以及与转轴3传动连接动力源，其中，动力源可以为电机，电机启动可以驱动随转轴3转动，则位于转盘2上的各点亮夹具1的位置会变化，则对点亮夹具1上的待测器件的测试角度会发生改变，即可以对待测器件进行多角度的光学特性测试，有利于提高测试效果，且转盘2上分布多个点亮夹具1，不需要每测试一个待测器件就更换一个，可以对多个待测器件进行测试，便于测试作业。

如图1所示，上述点亮夹具1的载板11上设有用于固定待测器件的固定装置，固定装置位于放置区111的周侧，固定装置为四个分别位于载板11的角落的弹性固定夹13。在点亮夹具1上设置固定装置，将待测器件更稳定的固定在载板11上，当转盘2转动时，待测器件相对载板11不会发生移动，有利于提高测试的准确性，进而提高测试效果。

具体地，点亮夹具1在转盘2上的分布可以根据点亮夹具1的尺寸和数量进行排布，其中可以设置点亮夹具1绕转盘2的中心轴线均匀间隔的分布，便于设置。

显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种点亮夹具，其特征在于，包括：

用于承载待测器件的载板，所述载板的一侧面形成用于支撑所述待测器件的承载面，所述承载面上包括用于放置所述待测器件的放置区；

安装于所述载板的承载面上、且位于所述放置区周侧的多个探针组件，所述多个探针组件沿所述放置区的周边分布，每个所述探针组件包括一端安装于所述承载面的弹片、以及安装于所述承载面且与所述弹片对应的导电柱，且每个所述探针组件中，所述弹片可绕垂直于所述承载面的一轴线转动地安装于所述承载面，所述导电柱的轴线与所述承载面垂直；

与各所述探针组件中的弹片和导电柱均电连接且用于给每个所述探针组件供电的供电装置。

2.根据权利要求1所述的点亮夹具，其特征在于，还包括：与所述供电装置信号连接以控制每个所述探针组件的供电状况的控制装置。

3.根据权利要求1所述的点亮夹具，其特征在于，每个所述探针组件中，所述弹片的一端通过一垂直于所述承载面的第一连接轴安装于所述承载面，所述弹片与所述第一连接轴之间转动连接。

4.根据权利要求1所述的点亮夹具，其特征在于，每个所述探针组件中，所述导电柱包括固定安装于所述载板的第一柱体，所述第一柱体背离所述载板的一侧设有第一凹槽，且所述第一凹槽内套设有导电触头，所述第一凹槽内设有与所述导电触头连接且用于给所述导电触头提供自所述导电触头背离所述第一凹槽的槽底的方向的弹力的弹簧组件。

5.根据权利要求1所述的点亮夹具，其特征在于，所述载板上设有第二凹槽，所述第二凹槽位于所述放置区内以用于与所述待测器件对应。

6.一种大视角光学测试装置，其特征在于，包括：转盘、设于所述转盘上且绕所述转盘的中心轴线分布的多个如权利要求1-5任一项所述的点亮夹具以及用于驱动所述转盘转动的驱动装置。

7.根据权利要求6所述的大视角光学测试装置，其特征在于，所述点亮夹具的载板上设有用于固定待测器件的固定装置，所述固定装置位于所述放置区的周侧。

8.根据权利要求7所述的大视角光学测试装置，其特征在于，所述固定装置包括四个分别位于所述载板的角落的弹性固定夹。

9.根据权利要求6所述的大视角光学测试装置，其特征在于，所述点亮夹具绕所述转盘的中心轴线均匀间隔的分布。