CN214953789U - 一种软接触银胶阻抗测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及测试治具技术领域,尤其是指一种软接触银胶阻抗测试治具,其包括产品载板、设置在产品载板一侧的铰链座以及转动设置于铰链座的翻转板,翻转板的底面设置有两个软触头,翻转板用于盖设在所述产品载板上,翻转板远离铰链座的一端设置有第一磁铁,所述产品载板上设置有与所述第一磁铁配合磁吸的第二磁铁。本实用新型结构新颖,转动所述翻转板使软触头与智能手机显示屏的两银胶抵接,当智能手机显示屏上两银胶呈现导通状态或非导通状态时阻抗导电性测试的设备将会作出相应的提示,从而完成对智能手机显示屏上银胶阻抗导电性的测试;本实用新型提高测试效率,操作简便,方便连续重复地对智能手机显示屏进行银胶阻抗导电性的检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及智能手机显示屏技术领域,尤其是指一种软接触银胶阻抗测试治具。
背景技术
随着智能手机显示屏行业的高速发展,智能手机显示屏的屏占比越来越高,在智能手机显示屏制造过程中,为了导通TFT和CF上的静电到FPC上,需要在TFT和CF贴合形成的台阶处滴上银胶,但由于考虑到显示屏屏占比问题,所滴的银胶面积则受限制,在使用铜探针进行两点的银胶阻抗导电性测试是存在一定的风险。例如,由于银胶点较小探针如果达不到要求精度则很难准确测量。再如,由于银胶是滴在TFT和CF贴合的台阶处,所以在用铜探针插到银胶上测量时,存在会将银胶插落或者插裂的风险,致使显示屏的不良发生。针对解决上述问题,发明了本专利一种软接触银胶阻抗测试治具
发明内容
本实用新型针对现有技术的问题提供一种软接触银胶阻抗测试治具,结构新颖,转动所述翻转板使软触头与智能手机显示屏的两银胶抵接,当智能手机显示屏上两银胶呈现导通状态或非导通状态时阻抗导电性测试的设备将会作出相应的提示,从而完成对智能手机显示屏上银胶阻抗导电性的测试;本实用新型提高测试效率,操作简便,方便连续重复地对智能手机显示屏进行银胶阻抗导电性的检测。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:
本实用新型提供的一种软接触银胶阻抗测试治具,包括产品载板、设置在产品载板一侧的铰链座以及转动设置于铰链座的翻转板,所述翻转板的底面设置有两个软触头,所述翻转板用于盖设在所述产品载板上,所述翻转板远离铰链座的一端设置有第一磁铁,所述产品载板上设置有与所述第一磁铁配合磁吸的第二磁铁。
其中,所述铰链座转动设置有铰链轴,所述铰链轴与所述翻转板连接。
其中,所述产品载板上设置有产品定位槽。
其中,所述软触头的末端连接有引线。
其中,所述产品载板的一侧设置有螺孔,所述铰链座的一侧设置有安装孔,所述安装孔与所述螺孔对应设置。
其中,所述螺孔和所述安装孔均设置有两个。
本实用新型的有益效果:
本实用新型结构新颖、设计巧妙,使用时,软触头与外界的阻抗导电性测试设备连接上,智能手机显示屏放置在产品载板上,转动所述翻转板使软触头与智能手机显示屏的两银胶抵接,当智能手机显示屏上两银胶呈现导通状态或非导通状态时阻抗导电性测试的设备将会作出相应的提示,从而完成对智能手机显示屏上银胶阻抗导电性的测试;其中,翻转所述翻转板盖设在产品载板上时,利用第一磁铁与第二磁铁相互吸附,保证翻转板不易松动,稳定性好,保证测试效果,结构可靠;本实用新型提高测试效率,操作简便,方便连续重复地对智能手机显示屏进行银胶阻抗导电性的检测。
附图说明
图1为本实用新型的一种软接触银胶阻抗测试治具的结构示意图。
图2为本实用新型的一种软接触银胶阻抗测试治具的结构分解图。
在图1至图2中的附图标记包括:
1、产品载板;2、铰链座;3、翻转板;4、软触头;5、第一磁铁;6、第二磁铁;7、铰链轴;8、产品定位槽;9、引线;10、螺孔;11、安装孔。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员的理解,下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明,实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。
一种软接触银胶阻抗测试治具,如图1至图2所示,包括产品载板1、设置在产品载板1一侧的铰链座2以及转动设置于铰链座2的翻转板3,所述翻转板3的底面设置有两个软触头4,所述翻转板3用于盖设在所述产品载板1上,所述翻转板3远离铰链座2的一端设置有第一磁铁5,所述产品载板1上设置有与所述第一磁铁5配合磁吸的第二磁铁6。
具体地,本实用新型结构新颖、设计巧妙,使用时,软触头4与外界的阻抗导电性测试设备连接上,智能手机显示屏放置在产品载板1上,转动所述翻转板3使软触头4与智能手机显示屏的两银胶抵接,当智能手机显示屏上两银胶呈现导通状态或非导通状态时阻抗导电性测试的设备将会作出相应的提示,从而完成对智能手机显示屏上银胶阻抗导电性的测试;其中,翻转所述翻转板3盖设在产品载板1上时,利用第一磁铁5与第二磁铁6相互吸附,保证翻转板3不易松动,稳定性好,保证测试效果,结构可靠;本实用新型提高测试效率,操作简便,方便连续重复地对智能手机显示屏进行银胶阻抗导电性的检测。
本实用新型通过设计选用导电性较好的软触头4代替传统的铜探针,在治具使用中,软触头4对智能手机显示屏起保护的同时也同时保护了银胶。同时将两软触头4的接线连接到测试设备上,实现了只需操作治具上的翻转板3,既可以连续重复的对智能手机显示屏进行银胶阻抗导电性的检测。
本实施例所述的一种软接触银胶阻抗测试治具,所述铰链座2转动设置有铰链轴7,所述铰链轴7与所述翻转板3连接。具体地,上述设置方便翻转板3的转动。
本实施例所述的一种软接触银胶阻抗测试治具,所述产品载板1上设置有产品定位槽8。具体地,上述设置方便对待检测产品进行定位放置。
本实施例所述的一种软接触银胶阻抗测试治具,所述软触头4的末端连接有引线9。具体地,通过引线9连接在外界的阻抗导电性测试的设备上,当智能手机显示屏上两银胶呈现导通状态或非导通状态时阻抗导电性测试的设备将会作出相应的提示,从而完成对智能手机显示屏上银胶阻抗导电性的测试。
本实施例所述的一种软接触银胶阻抗测试治具,所述产品载板1的一侧设置有螺孔10,所述铰链座2的一侧设置有安装孔11,所述安装孔11与所述螺孔10对应设置。其中,所述螺孔10和所述安装孔11均设置有两个。具体地,上述设置方便通过螺丝与安装孔11和螺孔10螺接,进而将铰链座2与产品锁紧安装,方便组装和拆卸。
以上所述,仅是本实用新型较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制,虽然本实用新型以较佳实施例公开如上,然而并非用以限定本实用新型,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本实用新型技术方案范围内,当利用上述揭示的技术内容作出些许变更或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本实用新型技术方案内容,依据本实用新型技术是指对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (6)
1.一种软接触银胶阻抗测试治具,其特征在于:包括产品载板、设置在产品载板一侧的铰链座以及转动设置于铰链座的翻转板,所述翻转板的底面设置有两个软触头,所述翻转板用于盖设在所述产品载板上,所述翻转板远离铰链座的一端设置有第一磁铁,所述产品载板上设置有与所述第一磁铁配合磁吸的第二磁铁。
2.根据权利要求1所述的一种软接触银胶阻抗测试治具,其特征在于:所述铰链座转动设置有铰链轴,所述铰链轴与所述翻转板连接。
3.根据权利要求1所述的一种软接触银胶阻抗测试治具,其特征在于:所述产品载板上设置有产品定位槽。
4.根据权利要求1所述的一种软接触银胶阻抗测试治具,其特征在于:所述软触头的末端连接有引线。
5.根据权利要求1所述的一种软接触银胶阻抗测试治具,其特征在于:所述产品载板的一侧设置有螺孔,所述铰链座的一侧设置有安装孔,所述安装孔与所述螺孔对应设置。
6.根据权利要求5所述的一种软接触银胶阻抗测试治具,其特征在于:所述螺孔和所述安装孔均设置有两个。
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CN202121433983.XU CN214953789U (zh) | 2021-06-24 | 2021-06-24 | 一种软接触银胶阻抗测试治具 |
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CN116504162A (zh) * | 2023-06-28 | 2023-07-28 | 苏州凌云光工业智能技术有限公司 | 一种屏幕测试治具和屏幕测试设备 |
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2021
- 2021-06-24 CN CN202121433983.XU patent/CN214953789U/zh active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN116504162A (zh) * | 2023-06-28 | 2023-07-28 | 苏州凌云光工业智能技术有限公司 | 一种屏幕测试治具和屏幕测试设备 |
CN116504162B (zh) * | 2023-06-28 | 2023-09-15 | 苏州凌云光工业智能技术有限公司 | 一种屏幕测试治具和屏幕测试设备 |
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