CN218349371U

CN218349371U - 一种半导体用数控模块变距针脚测试装置

Info

Publication number: CN218349371U
Application number: CN202221863604.5U
Authority: CN
Inventors: 桑艳平; 谢维静; 迮继洋
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 2022-07-20
Filing date: 2022-07-20
Publication date: 2023-01-20
Anticipated expiration: 2032-07-20

Abstract

本实用新型公开了一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，包括底座，所述底座的上端面靠中心处固定设置有压台，所述底座的上端卖面两侧均开设有移动槽，两个所述移动槽的内部均转动设置有双向螺纹丝杠，两个所述双向螺纹丝杠的一端均伸出底座并固定连接有转轮，两个所述转轮之间设置有传动皮带，一所述转轮的一侧固定连接有手轮，两个所述双向螺纹丝杠之间套设有两个测距板，所述底座的后端面固定设置有支撑板，所述支撑板的上端固定连接有连接板。本实用新型提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，可以通过更换不同孔距的测距板和不同规格的模块夹便来对不同的模块进行针脚间距测试，使用方便，适用范围广。

Description

一种半导体用数控模块变距针脚测试装置

技术领域

本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种半导体用数控模块变距针脚测试装置。

背景技术

半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机、电视机、测温、计算机、手机等等领域中有着广泛的应用，例如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。

半导体在生产出来之后，一般通过抽查测试方式对同一批半导体的质量进行检查，不同类型的半导体，其宽度、针脚距离、主体形状等各个参数都不一样，现有的针脚距离测试装置一般仅能进行单一类型模块针脚距离测试，适用范围较小，为此本实用新型提出了一种半导体用数控模块变距针脚测试装置。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，包括底座，所述底座的上端面靠中心处固定设置有压台，所述底座的上端卖面两侧均开设有移动槽，两个所述移动槽的内部均转动设置有双向螺纹丝杠，两个所述双向螺纹丝杠的一端均伸出底座并固定连接有转轮，两个所述转轮之间设置有传动皮带，一所述转轮的一侧固定连接有手轮，两个所述双向螺纹丝杠之间套设有两个测距板；

所述测距板包括板体和两个移动座，所述板体的下端面两侧均固定设置有配合头，所述板体的一侧开设有多个测距孔，两个所述移动座的上端面均开设有配合槽，两个所述移动座的一侧均开设有螺孔，两个所述配合头均分别活动设置在两个配合槽内部；

所述底座的后端面固定设置有支撑板，所述支撑板的上端固定连接有连接板，所述连接板的下端固定设置有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的下端固定设置有安装板，所述安装板的下端面通过螺钉固定连接有模块夹，所述模块夹包括上夹头和下夹头，所述上夹头的两侧均固定设置有安装头，所述下夹头的上端面两侧均固定嵌设有磁吸块，所述上夹头的下端面和下夹头的上端面均开设有夹槽。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述底座的前端面一侧固定设置有控制面板。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述底座的后端面固定连接有电源线。

作为上述技术方案的进一步描述：

多个所述移动座的前后两端均固定设置有限位头，两个所述移动槽的两侧内壁均开设有限位槽。

作为上述技术方案的进一步描述：

多个所述限位头均分别滑动设置在限位槽内部。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述支撑板和连接板之间固定连接有加强板。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述模块夹由金属铁制作而成。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述测距板由铝合金制作而成。

本实用新型具有如下有益效果：

1、本实用新型提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，该装置在使用时，将数控模块放置于模块夹内，启动电动伸缩杆下降至压台处，转动手轮，观察数控模块的针脚是否全数通过测距孔，即可了解数控模块的针脚间距是否合格，使用起来快捷方便，测量准确。

2、本实用新型提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，该装置在使用时，设置的测距板和模块夹均可以方便的进行拆卸，通过更换不同孔距的测距板和不同规格的模块夹便可以对不同的模块进行针脚间距测试，使用方便，适用范围广。

3、本实用新型提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，该装置在使用时，设置的电动伸缩杆可以保证模块夹始终位于压台正上方，使得测试数据准确，同时配合设置的磁吸块也更便于测试人员拿取数控模块，实用性强。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置的轴测图；

图2为本实用新型提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置的移动槽的内部结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置的测距板的结构示意图；

图4为本实用新型提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置的模块夹的结构示意图。

图例说明：

1、底座；2、转轮；3、电源线；4、支撑板；5、加强板；6、连接板；7、电动伸缩杆；8、安装板；9、模块夹；10、压台；11、移动槽；12、控制面板；13、测距板；14、双向螺纹丝杠；15、限位槽；16、手轮；17、传动皮带；18、板体；19、配合头；20、测距孔；21、移动座；22、配合槽；23、螺孔；24、限位头；25、安装头；26、上夹头；27、磁吸块；28、下夹头；29、夹槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

参照图1-4，本实用新型提供的一种实施例：一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，包括底座1，底座1的上端面靠中心处固定设置有压台10，底座1的上端卖面两侧均开设有移动槽11，两个移动槽11的内部均转动设置有双向螺纹丝杠14，两个双向螺纹丝杠14的一端均伸出底座1并固定连接有转轮2，两个转轮2之间设置有传动皮带17，一转轮2的一侧固定连接有手轮16，两个双向螺纹丝杠14之间套设有两个测距板13。

测距板13包括板体18和两个移动座21，板体18的下端面两侧均固定设置有配合头19，板体18的一侧开设有多个测距孔20，两个移动座21的上端面均开设有配合槽22，两个移动座21的一侧均开设有螺孔23，两个配合头19均分别活动设置在两个配合槽22内部，测距板13的板体18可以进行更换，便于对不同的模块进行针脚间距测试。

底座1的后端面固定设置有支撑板4，支撑板4的上端固定连接有连接板6，连接板6的下端固定设置有电动伸缩杆7，电动伸缩杆7的下端固定设置有安装板8，安装板8的下端面通过螺钉固定连接有模块夹9，通过拧开螺钉来更换不同的模块夹9，模块夹9包括上夹头26和下夹头28，上夹头26的两侧均固定设置有安装头25，下夹头28的上端面两侧均固定嵌设有磁吸块27，上夹头26的下端面和下夹头28的上端面均开设有夹槽29，将数控模块放置在两个夹槽29之间，而针脚由夹槽29两侧伸出，便于测距。

底座1的前端面一侧固定设置有控制面板12，通过设置的控制面板12来操控电动伸缩杆7进行升降，底座1的后端面固定连接有电源线3，电源线3通电以对电动伸缩杆7进行供能，多个移动座21的前后两端均固定设置有限位头24，两个移动槽11的两侧内壁均开设有限位槽15，多个限位头24均分别滑动设置在限位槽15内部，支撑板4和连接板6之间固定连接有加强板5，加强板5可以加强连接板6和支撑板4的连接强度，使得电动伸缩杆7安装更稳定，模块夹9由金属铁制作而成，金属铁制作而成的模块夹9便于使用磁吸块27进行配合，测距板13由铝合金制作而成。

工作原理：本实用新型提出的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，该装置在使用时，首先将该装置取出，选取适配的模块夹9和测距板13并安装好，之后将电源线3通电，取下下夹头28，将待测模块放置在配合槽22内，并通过磁吸块27将下夹头28于上夹头26吸附，之后启动电动伸缩杆7下降直至模块夹9于压台10接触，之后转动手轮16使两个转轮2转动，两个转轮2带动两个双向螺纹丝杠14转动，使得两个测距板13均朝向模块夹9进行运动，直至数控模块的针脚通过测距孔20，若针脚全数通过则测试合格，若有针脚无法通过测距孔20，则说明该模块的针脚间距不合格。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，包括底座（1），其特征在于：所述底座（1）的上端面靠中心处固定设置有压台（10），所述底座（1）的上端卖面两侧均开设有移动槽（11），两个所述移动槽（11）的内部均转动设置有双向螺纹丝杠（14），两个所述双向螺纹丝杠（14）的一端均伸出底座（1）并固定连接有转轮（2），两个所述转轮（2）之间设置有传动皮带（17），一所述转轮（2）的一侧固定连接有手轮（16），两个所述双向螺纹丝杠（14）之间套设有两个测距板（13）；

所述测距板（13）包括板体（18）和两个移动座（21），所述板体（18）的下端面两侧均固定设置有配合头（19），所述板体（18）的一侧开设有多个测距孔（20），两个所述移动座（21）的上端面均开设有配合槽（22），两个所述移动座（21）的一侧均开设有螺孔（23），两个所述配合头（19）均分别活动设置在两个配合槽（22）内部；

所述底座（1）的后端面固定设置有支撑板（4），所述支撑板（4）的上端固定连接有连接板（6），所述连接板（6）的下端固定设置有电动伸缩杆（7），所述电动伸缩杆（7）的下端固定设置有安装板（8），所述安装板（8）的下端面通过螺钉固定连接有模块夹（9），所述模块夹（9）包括上夹头（26）和下夹头（28），所述上夹头（26）的两侧均固定设置有安装头（25），所述下夹头（28）的上端面两侧均固定嵌设有磁吸块（27），所述上夹头（26）的下端面和下夹头（28）的上端面均开设有夹槽（29）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，其特征在于：所述底座（1）的前端面一侧固定设置有控制面板（12）。

3.根据权利要求1所述的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，其特征在于：所述底座（1）的后端面固定连接有电源线（3）。

4.根据权利要求1所述的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，其特征在于：多个所述移动座（21）的前后两端均固定设置有限位头（24），两个所述移动槽（11）的两侧内壁均开设有限位槽（15）。

5.根据权利要求4所述的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，其特征在于：多个所述限位头（24）均分别滑动设置在限位槽（15）内部。

6.根据权利要求1所述的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，其特征在于：所述支撑板（4）和连接板（6）之间固定连接有加强板（5）。

7.根据权利要求1所述的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，其特征在于：所述模块夹（9）由金属铁制作而成。

8.根据权利要求1所述的一种半导体用数控模块变距针脚测试装置，其特征在于：所述测距板（13）由铝合金制作而成。