CN204666778U - 一种石英晶体谐振器精准测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种石英晶体谐振器精准测试装置。本石英晶体谐振器精准测试装置包括测试底座、测试定位块、测试导引部，所述测试底座上开设有用于盛放石英晶体的测试槽，所述石英晶体的电极布置在石英晶体的同一表面，且所述石英晶体设置有电极的一面背离测试槽的槽底放置；所述测试定位块、测试导引部上分别开设有供测试探针竖向依次穿过的定位孔、导引孔，所述定位孔的中心线重合于导引孔的中心线，所述测试探针的针头用于和石英晶体的两个电极接触；所述测试定位块与所述测试导引部之间弹性连接。本实用新型能够快速准确地与石英晶体上的电极接触，从而准确测得石英晶体的各项性能参数，以及准确评判该石英晶体谐振器是否符合规定的标准。

Description

一种石英晶体谐振器精准测试装置

技术领域

本实用新型属于电子元器件测试技术领域，特别涉及一种石英晶体谐振器精准测试装置。

背景技术

在对电子元器件进行性能测试时，例如石英晶体谐振器，对石英晶体谐振器进行性能测试即是对石英晶体谐振器中的石英晶体进行测试，经常通过测试探针的针头与石英晶体的电极接触进行测试。然而，在测试探针的针头与石英晶体的电极接触时，会存在以下缺陷：测试探针的针头难以与石英晶体的电极快速精确对准且有效接触，若测试探针的针头与石英晶体的电极不能精确对准，则会导致不能准确测试石英晶体的各项性能参数，从而不能准确评判该石英晶体谐振器是否符合规定的标准。因此，对石英晶体进行性能测试时，其测试探针的探头与石英晶体的电极精确对准及稳定接触成为亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型为了克服上述现有技术的不足，提供了一种石英晶体谐振器精准测试装置，本石英晶体谐振器精准测试装置结构简单，易于加工，使用方便，能够快速准确地与石英晶体上的电极接触，从而准确测得石英晶体谐振器中石英晶体的各项性能参数，以及准确评判该石英晶体谐振器是否符合规定的标准。

为实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：

一种石英晶体谐振器精准测试装置，包括测试底座、测试定位块、测试导引部，所述测试底座上开设有用于盛放石英晶体的测试槽，所述石英晶体的电极布置在石英晶体的同一表面，且所述石英晶体设置有电极的一面背离所述测试槽的槽底放置；所述测试定位块、测试导引部上分别开设有供测试探针竖向依次穿过的定位孔、导引孔，所述定位孔的中心线重合于所述导引孔的中心线，所述测试探针的针头用于和所述石英晶体的两个电极接触；所述测试定位块与所述测试导引部之间弹性连接。

本实用新型还可以通过以下步骤进一步实现。

优选的，所述测试槽的深度小于所述石英晶体的厚度0.2mm～0.5mm。

进一步。所述导引孔呈倒立的喇叭状。

进一步，所述测试定位块与所述测试导引部的两端端部分别通过弹簧连接。

本实用新型的有益效果在于：

1)本实用新型中测试定位块和测试导引部弹性连接，测试时，测试定位块和测试导引部整体向下移动，且与测试底座稳定接触，从而带动测试探针的针头与石英晶体的引脚电极接触。本石英晶体谐振器精准测试装置结构简单，易于加工，使用方便，能够快速准确地与石英晶体上的电极接触，从而准确测得石英晶体谐振器中石英晶体的各项性能参数，以及准确评判该石英晶体谐振器是否符合规定的标准。

2)本实用新型中测试槽的深度小于石英晶体厚度，也即石英晶体放置于测试槽中，石英晶体的上端部则会露出测试槽；在测试时，测试导引部的底端压在石英晶体的上表面后，测试探针向下移动，使得其针头与石英晶体的引脚电极精确对准且稳定接触。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中未安装被测试元件和测试探针的结构示意图。

图中标注符号的含义如下：

10—测试底座     11—测试槽     20—测试定位块    21—定位孔

22—导引部       23—导引孔     24—弹簧          25—测试探针

30—石英晶体     31a/31b—电极

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1、图2所示，一种石英晶体谐振器精准测试装置，包括测试底座10、测试定位块20、测试导引部22，所述测试底座10上开设有测试槽11，将待测石英晶体30放置在测试底座10的测试槽11内，所述石英晶体30的电极31a、31b布置在石英晶体30的同一表面、且所述石英晶体30设置有电极31a、31b的一面背离所述测试槽11的槽底放置，所述石英晶体30的电极31a、31b封装后表面有一层引脚电极膜，所述测试槽11的深度小于所述石英晶体30的厚度0.2mm～0.5mm，也就是说石英晶体30放置在测试槽11内后，石英晶体30的上表面略高于测试槽11的敞开处。所述测试定位块20、测试导引部22上分别开设有供测试探针25竖向依次穿过的定位孔21、导引孔23，所述定位孔21的中心线重合于所述导引孔23的中心线，为了便于测试探针25顺利通过导引孔23与石英晶体的引脚电极膜接触，所述导引孔23呈倒立的喇叭状；所述测试定位块20与所述测试导引部22之间弹性连接，所述测试定位块20与所述测试导引部22的两端端部分别通过弹簧24连接。

测试时，施加一个外力给测试定位块20，测试定位块20驱使测试导引部22向下移动至测试底座10，从而带动依次穿过定位孔21、导引孔23的测试探针25向下移动，测试导引部22的底部压在测试底座10和待测石英晶体30的上表面，所述测试定位块20与测试导引部22之间发生微小形变，向下移动测试探针25，使得测试探针25的针头和所述石英晶体30的两个引脚电极膜精确、稳定地接触。

Claims (4)

1.一种石英晶体谐振器精准测试装置，其特征在于：包括测试底座(10)、测试定位块(20)、测试导引部(22)，所述测试底座(10)上开设有用于盛放石英晶体(30)的测试槽(11)，所述石英晶体(30)的电极(31a、31b)布置在石英晶体(30)的同一表面，且所述石英晶体(30)设置有电极(31a、31b)的一面背离所述测试槽(11)的槽底放置；所述测试定位块(20)、测试导引部(22)上分别开设有供测试探针(25)竖向依次穿过的定位孔(21)、导引孔(23)，所述定位孔(21)的中心线重合于所述导引孔(23)的中心线，所述测试探针(25)的针头用于和所述石英晶体(30)的两个电极接触；所述测试定位块(20)与所述测试导引部(22)之间弹性连接。

2.如权利要求1所述的石英晶体谐振器精准测试装置，其特征在于：所述测试槽(11)的深度小于所述石英晶体(30)的厚度0.2mm～0.5mm。

3.如权利要求1所述的石英晶体谐振器精准测试装置，其特征在于：所述导引孔(23)呈倒立的喇叭状。

4.如权利要求1所述的石英晶体谐振器精准测试装置，其特征在于：所述测试定位块(20)与所述测试导引部(22)的两端端部分别通过弹簧(24)连接。