CN212160276U - 一种lcd模组探针测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种LCD模组探针测试治具，包括定位型腔，其开设在治具本体上，用于容置需要进行测试的产品；连接器安装槽，其开设在治具本体上，且与定位型腔连通，用于容置连接器；以及测试点位，其设置在治具本体上，用于对产品参数进行测试。本实用新型通过在治具本体上开设多组定位型腔，且治具本体上设置了多组测试点位，测试点位通过连接器与被测产品连接，实现了一个治具能够对LCD屏测试多种不同产品参数，有效的避免了多次安装产品和更换治具，极大的提高了测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及LCD测试设备技术领域，具体为一种LCD模组探针测试治具。
背景技术
随着平板显示技术的不断发展，LCD以其低电压、微功耗、平板化、小型便携、易于电路集成等优点不断满足人们日益多样化的功能需求及个性化需求，被广泛应用于各种电子产品中，如手机、数码相机、笔记本电脑等等。通常LCD屏在封装制程之前都会对其进行各种参数的测试，通过测试治具产生测试信号，传送至LCD屏中，以检测LCD屏的质量，但是，由于需要测试各种不同的产品参数，因此需要进行多次安装测试和更换治具，测试效率低、劳动强度大。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种LCD模组探针测试治具，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种LCD模组探针测试治具，包括
定位型腔，其开设在治具本体上，用于容置需要进行测试的产品；
连接器安装槽，其开设在治具本体上，且与定位型腔连通，用于容置连接器；以及
测试点位，其设置在治具本体上，用于对产品参数进行测试。
优选的，所述测试点位包括点灯测试点位和银胶点阻抗测试点位。
优选的，所述点灯测试点位包括上夹子，所述上夹子一端通过转轴可转动的与设置在PCB板上的下夹子连接，其另一端通过第一锁定块与下夹子锁定，所述上夹子上设置有压块，所述下夹子上相对于压块的位置上设置有用于连接连接器的探针模组，所述PCB板的另一端上设置有压板。
优选的，所述银胶点阻抗测试点位包括上压板，所述上压板一端通过转轴可转动的与设置在下连接板上的下压板连接，其另一端通过第二锁定块与下压板锁定，所述上压板上设置有固定板，所述上压板内设置有与连接器和测试产品电性连接的接触模组，所述接触模组通过上连接板与下连接板电性连接。
优选的，所述治具本体上相对于测试点位上设置有微动开关。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
本实用新型通过在治具本体上开设多组定位型腔，且治具本体上设置了多组测试点位，测试点位通过连接器与被测产品连接，实现了一个治具能够对LCD屏测试多种不同产品参数，有效的避免了多次安装产品和更换治具，极大的提高了测试效率。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的正视图；
图3为本实用新型的背面结构示意图；
图4为本实用新型的点灯测试点位结构示意图；
图5为本实用新型的银胶点阻抗测试点位结构示意图。
图中：1治具本体、2定位型腔、3连接器安装槽、4测试点位、41点灯测试点位、411上夹子、412压块、413探针模组、414下夹子、415 PCB板、416第一锁定块、417压板、42银胶点阻抗测试点位、421第二锁定块、422固定板、423上压板、424上连接板、425接触模组、426下压板、427下连接板、5微动开关。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5，本实用新型提供一种技术方案：
一种LCD模组探针测试治具，用于同时测试LCD屏多个产品参数，包括
定位型腔2，其开设在治具本体1上，用于容置需要进行测试的产品，本实施例的技术方案中，定位型腔2共设置有两组，多组定位型腔2的设置能够提高检测效率；
连接器安装槽3，其开设在治具本体1上，且与定位型腔2连通，用于容置连接器，测试主机通过连接器与被测LCD屏电性连接；以及
测试点位4，其设置在治具本体1上，用于对产品相关参数进行测试，测试点位4包括点灯测试点位41和银胶点阻抗测试点位42，点灯测试点位41用于实现产品点亮，对不良品进行及时拦检，保证出货产品质量；银胶点阻抗测试点位42用于对银胶点的阻抗值进行测试，进而得出测试数据；
点灯测试点位41包括上夹子411，上夹子411一端通过转轴可转动的与设置在PCB板415上的下夹子414连接，其另一端通过第一锁定块416与下夹子414锁定，上夹子411上设置有压块412，下夹子414上相对于压块412的位置上设置有用于连接连接器的探针模组413，PCB板415的另一端上设置有压板417，压板417一端上设置有接入端口，测试主机通过接入端口连接，依次通过压板417、PCB板415和探针模组413实现和连接器和被测LCD屏电性连接；治具本体1背面相对于点灯测试点位41上设置有微动开关，微动开关是一种防止短路的开关，用于保护被测LCD屏幕，避免在测试过程中出现短路，导致屏幕损坏，当微动开关处于打开状态上，则无法进行测试；
银胶点阻抗测试点位42包括上压板423，上压板423一端通过转轴可转动的与设置在下连接板427上的下压板426连接，其另一端通过第二锁定块421与下压板426锁定，上压板423上设置有固定板422，上压板423内设置有与连接器和测试产品电性连接的接触模组425，接触模组425通过上连接板424与下连接板427电性连接，下连接板427上设置有测试主机接入口。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种LCD模组探针测试治具，其特征在于：包括
定位型腔(2)，其开设在治具本体(1)上，用于容置需要进行测试的LCD屏；
连接器安装槽(3)，其开设在治具本体(1)上，且与定位型腔(2)连通，用于容置连接器；以及
测试点位(4)，其设置在治具本体(1)上，用于对LCD屏参数进行测试。
2.根据权利要求1所述的一种LCD模组探针测试治具，其特征在于：所述测试点位(4)包括点灯测试点位(41)和银胶点阻抗测试点位(42)。
3.根据权利要求2所述的一种LCD模组探针测试治具，其特征在于：所述点灯测试点位(41)包括上夹子(411)，所述上夹子(411)一端通过转轴可转动的与设置在PCB板(415)上的下夹子(414)连接，其另一端通过第一锁定块(416)与下夹子(414)锁定，所述上夹子(411)上设置有压块(412)，所述下夹子(414)上相对于压块(412)的位置上设置有用于连接连接器的探针模组(413)，所述PCB板(415)的另一端上设置有压板(417)。
4.根据权利要求2所述的一种LCD模组探针测试治具，其特征在于：所述银胶点阻抗测试点位(42)包括上压板(423)，所述上压板(423)一端通过转轴可转动的与设置在下连接板(427)上的下压板(426)连接，其另一端通过第二锁定块(421)与下压板(426)锁定，所述上压板(423)上设置有固定板(422)，所述上压板(423)内设置有与连接器和测试产品电性连接的接触模组(425)，所述接触模组(425)通过上连接板(424)与下连接板(427)电性连接。
5.根据权利要求1所述的一种LCD模组探针测试治具，其特征在于：所述治具本体(1)上相对于测试点位(4)上设置有微动开关。
Priority Applications (1)
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| CN212160276U true CN212160276U (zh) | 2020-12-15 |
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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2020
- 2020-06-01 CN CN202020967663.1U patent/CN212160276U/zh active Active
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