CN109283414A - 一种显示面板、点灯检测装置及其控制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种显示面板、点灯检测装置及其控制方法,涉及显示技术领域,用于改善点灯模块和引线组无法自动精确对位的问题。点灯检测装置,包括底座、间隔排布的多个点灯模块以及与所述多个点灯模块中的每个连接的控制组件;所述多个点灯模块中的每个包括检测组件,所述检测组件包括第一导电探头、第二导电探头以及处理单元,所述处理单元通过检测所述第一导电探头和所述第二导电探头之间的阻值,得到点灯模块的偏移量,并将所述偏移量发送至所述控制组件;所述控制组件用于带动该点灯模块移动所述偏移量。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板、点灯检测装置及其控制方法。
背景技术
近年来,各种平板显示装置,例如液晶显示装置、等离子显示装置、有机发光二极管显示装置等,由于具有诸如画面质量卓越、重量轻、厚度薄以及功耗低等优点,已经替代了传统的阴极射线管显示装置,成为显示产品的主流。
平板显示装置的制造过程中,在将栅控制芯片和数据控制芯片与显示面板绑定之前,需要使用点灯检测装置对显示面板进行检测,以检测其能否正常工作,是否有亮斑、亮线等不良。
常用的一种检测方法为:点灯检测装置通过底座(PU Base)上的对位相机(AlignCamera)拍摄显示面板上的对位标记(Align Mark),将点灯检测装置和显示面板初步对位。初步对位后,点灯检测装置中的点灯模块(Probe Block)和显示面板的引线组(Lead Pad)一一对应,并且相互对应的两个点灯模块和引线组接触(Contact)。点灯模块和引线组接触实质上是点灯模块中多个探针中的每个和引线组中多个引线条中的每个一一接触,而探针和引线条能否接触对检测结果至关重要。
现有技术中,在点灯检测装置和显示面板初步对位后,探针和引线条的对位是在显微镜(Scope)下进行手动的调整。由于引线组中相邻引线之间的间距(Pitch)只有几十微米,手动调整导致对位误差较大,且量产过程中易发生偏移,造成信号加载异常。
发明内容
本发明的实施例提供一种显示面板、点灯检测装置及其控制方法,用于改善点灯模块和引线组无法自动精确对位的问题。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
一方面,提供一种点灯检测装置,包括底座、间隔排布的多个点灯模块以及与所述多个点灯模块中的每个连接的控制组件;所述多个点灯模块中的每个包括检测组件,所述检测组件包括第一导电探头、第二导电探头以及处理单元,所述处理单元通过检测所述第一导电探头和所述第二导电探头之间的阻值,得到点灯模块的偏移量,并将所述偏移量发送至所述控制组件;所述控制组件用于带动该点灯模块移动所述偏移量。
可选的,所述点灯模块还包括探针组,所述探针组包括多个平行设置的探针;沿所述多个点灯模块的排布方向,所述多个点灯模块中的每个包括的所述第一导电探头和所述第二导电探头设置在所述探针组的两侧。
可选的,沿所述多个点灯模块的排布方向,所述多个点灯模块中的每个包括的所述第一导电探头和所述第二导电探头到所述探针组的距离相等。
可选的,所述底座上设置有滑轨和多个滑块,所述多个点灯模块与所述多个滑块一一对应且固定连接,所述控制组件控制滑块带动点灯模块沿着所述滑轨移动。
第二方面,提供一种采用第一方面任一项所述的点灯检测装置检测的显示面板,包括引线区,所述引线区包括间隔设置的多个引线组,所述多个引线组中的每个包括多条平行设置的引线;所述显示面板还包括多个被检组件,所述多个被检组件与所述多个引线组一一对应;所述多个被检组件中的每个包括第一电阻以及与所述第一电阻的第一端连接的连接线。
可选的,所述多个被检组件中的每个还包括与所述第一电阻阻值不同的第二电阻,所述连接线的另一端连接所述第二电阻的第一端;沿所述多个引线组的排布方向,所述多个被检组件中的每个包括的所述第一电阻和所述第二电阻设置在与该被检组件对应的引线组的两侧;所述第一电阻的第一端和所述第二电阻的第一端设置在靠近引线组一侧。
可选的,所述多个被检组件中的每个还包括与所述第一电阻阻值不同的第二电阻,所述连接线的另一端连接所述第二电阻的第一端;沿所述多个引线组的排布方向,所述多个被检组件中的每个包括的所述第一电阻和所述第二电阻设置在与该被检组件对应的引线组的两侧;所述第一电阻的第二端和所述第二电阻的第二端设置在靠近引线组一侧。
可选的,所述多个被检组件中的每个包括的所述第一电阻和所述第二电阻与所述多个引线组同层设置。
可选的,所述第一电阻和所述第二电阻与所述连接线异层设置。
可选的,沿所述多个引线组的排布方向,所述第一电阻的长度等于所述第二电阻的长度。
可选的,所述多个被检组件中的每个包括的所述第一电阻和所述第二电阻到与该被检组件对应的引线组的距离相等。
第三方面,提供一种点灯检测装置的控制方法,包括:整体对位过程:控制第一方面任一项所述的点灯检测装置与第二方面所述的不包括第二电阻的显示面板整体对位,使所述点灯检测装置的一个点灯模块对应所述显示面板中的一个引线组,且使点灯模块的第一导电探头和第二导电探头分别连接与该引线组对应的第一电阻和连接线;点灯模块对位过程:每个点灯模块上的处理单元根据检测到所述第一导电探头和所述第二导电探头之间的阻值,得到点灯模块与引线组的偏移量,并将所述偏移量发送至控制组件,所述控制组件带动该点灯模块移动所述偏移量;循环所述点灯模块对位过程,直至所述偏移量等于设定值。
第四方面,提供一种点灯检测装置的控制方法,包括:整体对位过程:控制第一方面任一项所述的点灯检测装置与敌人方面所述的包括第二电阻的显示面板整体对位,使所述点灯检测装置的一个点灯模块连接所述显示面板中的一个引线组,且使点灯模块的第一导电探头和第二导电探头分别连接与该引线组对应的第一电阻和第二电阻;点灯模块对位过程:每个点灯模块上的处理单元根据检测到所述第一导电探头和所述第二导电探头之间的阻值,得到点灯模块与引线组的偏移量,并将所述偏移量发送至控制组件,所述控制组件带动该点灯模块移动所述偏移量;循环所述点灯模块对位过程,直至所述偏移量等于设定值。
本发明实施例提供的显示面板、点灯检测装置及其控制方法,通过在点灯模块中增加检测组件,并将点灯模块与控制组件连接。这样一来,当点灯检测装置对显示面板进行检测时,检测组件可检测到其所隶属的点灯模块的对位偏移量,并将对位偏移量发送至控制组件,使控制组件带动该点灯模块移动偏移量,以使点灯模块实现精准对位。整个精准对位的过程是由检测组件和控制组件来完成的,无需认为参与,使得点灯模块的偏移量的检测结果准确,且控制点灯模块移动偏移量的移动精度准确,从而可实现点灯模块的精确对位。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种点灯检测装置的结构示意图一;
图2为本发明实施例提供的一种点灯模块的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的一种点灯检测装置的结构示意图二;
图4为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图一;
图5为本发明实施例提供的一种引线组与被检组件的位置关系示意图一;
图6为本发明实施例提供的一种引线组与被检组件的位置关系示意图二;
图7为本发明实施例提供的一种点灯检测装置的控制方法的流程图一;
图8为本发明实施例提供的一种点灯检测装置与显示面板的对位示意图;
图9为本发明实施例提供的一种点灯模块和引线组以及被检组件的对位示意图一;
图10为本发明实施例提供的点灯检测装置和显示面板的整体对位方式图;
图11为本发明实施例提供的一种点灯检测装置的控制方法的流程图二;
图12为本发明实施例提供的一种点灯模块和引线组以及被检组件的对位示意图二;
图13为本发明实施例提供的一种点灯模块和引线组以及被检组件的对位示意图三;
图14为本发明实施例提供的一种点灯模块和引线组以及被检组件的对位示意图四;
图15为本发明实施例提供的一种点灯模块和引线组精准对位时和未精准对位时的位置对比图。
附图标记:
10-底座;20-点灯模块;21-检测组件;211-第一导电探头;212-第二导电探头;213-处理单元;22-探针组;221-探针;30-控制组件;40-对位相机;01-引线区;100-引线组;110-引线;200-被检组件;210-第一电阻;220-连接线;230-第二电阻;300-对位标记。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种点灯检测装置,如图1所示,包括底座10、间隔排布的多个点灯模块20以及与多个点灯模块20中的每个连接的控制组件30;如图2所示,多个点灯模块20中的每个包括检测组件21,检测组件21包括第一导电探头211、第二导电探头212以及处理单元213,处理单元213通过检测第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值,得到点灯模块20的偏移量ΔX,并将偏移量ΔX发送至控制组件30,控制组件30带动该点灯模块20移动偏移量ΔX。
需要说明的是,第一,多个点灯模块20中的每个均与控制组件30连接,以使控制组件30带动每个点灯模组20独立移动。此处,可以是控制组件30包括多个子控制组件,一个点灯模块20连接一个子控制组件,子控制组件带动点灯模块20移动;也可以是多个点灯模块20连接同一个控制组件30,但控制组件30对多个点灯模块20独立控制。
第二,处理单元213例如可以包括检测电路,通过检测电路对第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值进行测量。第一导电探头211和第二导电探头212的具体设置位置,可根据需要选择。
关于处理单元213根据阻值得到点灯模块20的偏移量ΔX的方式,例如可以预先设定表格,一个阻值对应一个偏移量ΔX,通过查表得到偏移量ΔX。也可以是设定一种计算方式,通过实时计算得到偏移量ΔX。
其中,本领域技术人员应该明白,每个点灯模块20包括的检测组件21中的处理单元213检测的必然是和处理单元213隶属同一点灯模块20的第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值,得到的点灯模块20的偏移量ΔX必然也是处理单元213所隶属的那个点灯模块20的偏移量ΔX,控制组件30带动该点灯模块20移动偏移量ΔX。
第三,以图2中的视角来看,若点灯模块20对位准确,则偏移量ΔX为0,示例性的,当偏移量ΔX为负数时,控制组件30带动点灯模块20向右移动|ΔX|,当偏移量ΔX为正数时,控制组件30带动点灯模块20向左移动|ΔX|,偏移量ΔX中的正负代表了移动的方向,移动的距离始终为|ΔX|。
点灯模块20可相对底座10移动,因此,点灯模块20和底座10活动连接,在点灯模块20正确对位后,相对底座10固定。关于点灯模块20与底座10的活动连接的方式,本发明实施例不做限定,只要在控制组件30带动点灯模块20移动过程中,点灯模块20可相对底座10移动,移动到目标位置后,点灯模块20相对底座10固定即可。
第四,如图1所示,在一些实施例中,底座10上还设置有一组对位相机40,沿点灯模块20的排布方向,对位相机40设置在多个点灯模块20的两侧。对位相机40的具体结构、原理、设置位置可以参考相关技术。
本发明实施例提供的点灯检测装置,通过在点灯模块20中增加检测组件21,并将点灯模块20与控制组件30连接。这样一来,当点灯检测装置对显示面板进行检测时,检测组件21可检测到其所隶属的点灯模块20的对位偏移量ΔX,并将对位偏移量ΔX发送至控制组件30,使控制组件30带动该点灯模块20移动偏移量ΔX,以使点灯模块20实现精准对位。整个精准对位的过程是由检测组件21和控制组件30来完成的,无需认为参与,使得点灯模块20的偏移量ΔX的检测结果准确,且控制点灯模块20移动偏移量ΔX的移动精度准确,从而可实现点灯模块20的精确对位。
为了能进一步精确的得到点灯模块20的偏移量ΔX,在一些实施例中,如图2所示,点灯模块20还包括探针组22,探针组22包括多个平行设置的探针221;沿多个点灯模块20的排布方向,多个点灯模块20中的每个包括的第一导电探头211和第二导电探头212设置在探针组22的两侧。
其中,关于探针221的具体结构和排布方式,可参考相关技术。
第一导电探头211和第二导电探头212可以与探针221平行设置,进一步的,第一导电探头211和第二导电探头212和显示面板接触的下表面与探针221与显示面板接触的下表面在同一平面上。
在一些实施例中,第一导电探头211和第二导电探头212的结构可以与探针221的结构相同。
为了便于计算出点灯模块20的偏移量ΔX,在一些实施例中,如图2所示,沿多个点灯模块20的排布方向,多个点灯模块20中的每个包括的第一导电探头211和第二导电探头212到探针组22的距离相等。
其中,第一导电探头211和第二导电探头212到探针组22的距离Y可以根据需要合理设计。第一导电探头211到探针组22的距离Y,实际上是第一导电探头211到探针组22中距离第一导电探头211最近的探针221的距离Y。相应的,第二导电探头212到探针组22的距离Y,实际上是第二导电探头212到探针组22中距离第二导电探头212最近的探针221的距离Y。
在一些实施例中,如图3所示,底座10上设置有滑轨11和多个滑块12,多个点灯模块20与多个滑块12一一对应且固定连接,控制组件30控制滑块12带动点灯模块20沿着滑轨11移动。
其中,控制组件30例如可以是线性马达(Linear Motor)。
通过在底座10上设置滑轨11和滑块12,滑块12与点灯模块20固定连接,使得控制组件30控制滑块12带动点灯模块20沿着滑轨11移动,结构简单,易于实现。
本发明实施例还提供一种显示面板,如图4所示,包括引线区01,引线区01包括间隔设置的多个引线组100,多个引线组100中的每个包括多条平行设置的引线110;显示面板还包括多个被检组件200,多个被检组件200与多个引线组100一一对应;多个被检组件200中的每个包括第一电阻210以及与第一电阻210的第一端连接的连接线220。
需要说明的是,第一,关于显示面板中引线组100的划分,可以参考相关技术,示例性的,例如可以是将在显示面板绑定过程中,与同一IC(Integrated Circuit,集成电路)连接的引线110划分为同一引线组100中。
第二,被检组件200与引线组100一一对应,在检测过程中,点灯检测装置中的检测组件21与显示面板中的被检组件200连接,检测组件21得到的偏移量ΔX即为与被检组件200对应的引线组100和检测组件21所隶属的点灯模块20之间的偏移量ΔX。
对被检组件200的具体设置位置不做限定,与点灯检测装置中的检测组件21相互配合,使得点灯检测装置与显示面板对位后,检测组件21能够与被检组件200接触即可。
第三,此处的显示面板与点灯检测装置对位后,第一导电探头211和第二导电探头212分别连接显示面板的第一电阻210和连接线220,通过检测第一导电探头211和第二导电探头212之间的电阻,即可得知第一导电探头211在第一电阻210上的相对位置,从而可得到引线组100点灯模块20之间的偏移量ΔX。
其中,第二导电探头212与连接线220连接,因此,连接线220在显示面板中的位置,应避免出现第二导电探头212与连接线220连接时,会与第一电阻210连接的情况。例如可将第一电阻210和连接线220异层设置,或者连接线220绕开第一电阻210设置(如图4所示)。第一电阻210和连接线220的设置位置与第一导电探头211和第二导电探头212的设置位置是相互配合的。
第四,在一些实施例中,如图4所示,显示面板还包括对位标记300,用于与点灯检测装置进行整体对位,点灯检测装置中的对位相机40和显示面板中的对位标记300配合使用。
本发明实施例提供的显示面板,当采用上述点灯检测装置检测时,检测组件21可检测到其所隶属的点灯模块20和与被检组件200对应的引线组100之间的对位偏移量ΔX,并将对位偏移量ΔX发送至控制组件30,使控制组件30带动该点灯模块20移动偏移量ΔX,以使点灯模块20与引线组100精准对位。整个精准对位的过程是由检测组件21检测被检组件200以得到偏移量ΔX,控制组件30控制点灯模块20移动偏移量ΔX来完成的,无需人为参与,使得点灯模块20相对引线组100的偏移量ΔX的检测结果准确,且控制点灯模块20移动偏移量ΔX的移动精度准确,从而可实现点灯模块20与引线组100的精确对位。
在一些实施例中,如图5所示,多个被检组件200中的每个还包括与第一电阻210阻值不同的第二电阻230,连接线220的另一端连接第二电阻230的第一端a′;沿多个引线组100的排布方向,多个被检组件200中的每个包括的第一电阻210和第二电阻230设置在与该被检组件200对应的引线组100的两侧;第一电阻210的第一端a和第二电阻230的第一端a′设置在靠近引线组100一侧。
沿多个引线组100的排布方向,第一电阻210的第一端a设置在靠近引线组100一侧,则第一电阻210的第二端b相对于第一端a必然设置在远离引线组100一侧。同理,第二电阻230的第一端a′设置在靠近引线组100一侧,则第二电阻230的第二端b′相对于第一端a′必然设置在远离引线组100一侧。如图5所示,第一电阻210和第二电阻220平行,且沿多个引线组100的排布方向延伸。
在一些实施例中,如图6所示,多个被检组件200中的每个还包括与第一电阻210阻值不同的第二电阻230,连接线220的另一端连接第二电阻230的第一端a′;沿多个引线组100的排布方向,多个被检组件200中的每个包括的第一电阻210和第二电阻230设置在与该被检组件200对应的引线组100的两侧;第一电阻210的第二端b和第二电阻230的第二端b′设置在靠近引线组100一侧。
沿多个引线组100的排布方向,第一电阻210的第二端b设置在靠近引线组100一侧,则第一电阻210的第一端a相对于第二端b必然设置在远离引线组100一侧。同理,第二电阻230的第二端b′设置在靠近引线组100一侧,则第二电阻230的第一端a′相对于第二端b′必然设置在远离引线组100一侧。如图6所示,第一电阻210和第二电阻220平行且沿多个引线组100的排布方向延伸。
以上,需要说明的是,第一,由于探针110和用于连接第一电阻210和第二电阻230的连接线220均为导体,为了避免出现短路,连接线220必然不会与探针110连接。
例如,可以通过合理选择连接线220的设置位置,以避免连接线220与探针110连接;还可以是将连接线220与探针110异层设置,以避免连接线220与探针110连接。
第二,关于第一电阻210和第二电阻230的长度,可以相同,也可以不同。
在一些实施例中,为了简化获取偏移量ΔX的算法,沿多个引线组100的排布方向,将第一电阻210的长度和第二电阻230的长度设置为相同。
例如可以通过选择不同的材料,以使第一电阻210和第二电阻230的阻值不同,也可以是通过将材料相同的第一电阻210和第二电阻230的宽度设置为不同,以使第一电阻210和第二电阻230的阻值不同。
第三,关于第一电阻210和第二电阻220到与被检组件200的距离,可以相同,也可以不同。
在一些实施例中,为了简化获取偏移量ΔX的算法,沿多个引线组100的排布方向,每个被检组件200包括的第一电阻210和第二电阻220到与该被检组件200对应的引线组100的距离相等。
第四,此处的显示面板与点灯检测装置对位后,第一导电探头211和第二导电探头212分别连接显示面板的第一电阻210和第二电阻230,通过检测第一导电探头211和第二导电探头212之间的电阻,即可得知第一导电探头211在第一电阻210上的相对位置,从而可得到引线组100点灯模块20之间的偏移量ΔX。
被检组件200增加第二电阻230后,第二导电探头212通过和连接线220连接的第二电阻230与连接线220连接。
以上,通过使被检组件200包括阻值不同的第一电阻210和第二电阻230,第一电阻210和第二电阻230通过连接线220连接,第一电阻210和第二电阻230设置在引线组100的两侧,从而可以精准的得到引线组100点灯模块20之间的偏移量ΔX。
在一些实施例中,多个被检组件200中的每个包括的第一电阻210和第二电阻230与多个引线组100同层设置。
通过将第一电阻210和第二电阻230与多个引线组100同层设置,使得在点灯检测装置和显示面板对位后,引线组100和探针组22、第一导电探头211和第一电阻210、第二导电探头212和第二电阻230易于接触,可简化点灯检测装置和显示面板的结构。
在一些实施例中,第一电阻210和第二电阻230与连接线220异层设置。
通过将第一电阻210和第二电阻230与连接线220异层设置,可较容易的避免连接线220与引线组100接触,结构简单,易于实现。
本发明实施例还提供一种点灯检测装置的控制方法,如图7所示,包括:
S10、整体对位过程:
如图8所示,控制上述点灯检测装置与上述不包括第二电阻230的显示面板整体对位,如图9所示,使点灯检测装置的一个点灯模块20对应显示面板中的一个引线组100,且使点灯模块20的第一导电探头211和第二导电探头212分别连接与该引线组100对应的第一电阻210和连接线220。
其中,点灯检测装置与显示面板对位,如图10所示,例如可以通过点灯检测装置中的对位相机40识别显示面板上的对位标记300,以实现点灯检测装置与显示面板的整体对位。
此处,不同的显示面板引线组100的排布方式不完全相同,可在对点灯检测装置与显示面板的整体对位前,对点灯检测装置中的点灯模块20的位置进行初步调位。
S20、点灯模块对位过程:
每个点灯模块20上的处理单元213根据检测到第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值,得到点灯模块20与引线组100的偏移量ΔX,并将偏移量ΔX发送至控制组件30,控制组件30带动该点灯模块20移动偏移量ΔX。
其中,连接线220连接第一电阻210的一端,通过检测第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值,可通过对位精确对位时第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值和未精确对位时第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值,得到点灯模块20与引线组100的偏移量ΔX。
S30、循环点灯模块对位过程(S20),直至偏移量ΔX等于设定值。
其中,设定值例如可以是零,或者是允许的误差范围,此数值可以结合显示面板和点灯检测装置中各结构的具体参数得到。
精确对位后,即可进行下一步的信号加载,以检测产品是否存在不良。
本发明实施例提供的点灯检测装置的控制方法,包括上述点灯检测装置,可通过简单的方式实现点灯模块20和引线组100的智能精确对位。
本发明实施例还提供一种点灯检测装置的控制方法,如图11所示,包括:
S100、整体对位过程:
如图8所示,控制上述点灯检测装置与上述包括第二电阻230的显示面板整体对位,如图12所示,使点灯检测装置的一个点灯模块20连接显示面板中的一个引线组100,且使点灯模块20的第一导电探头211和第二导电探头212分别连接与该引线组100对应的第一电阻210和第二电阻230。
其中,为了示意清楚各部件的连接关系,从图12的视角来看,连接线220和引线组100接触,但其实两者是不会接触的。
当第一电阻210和第二电阻230与引线组100同层,第一导电探头211和第二导电探头212与探针组22同层时,第一导电探头211和第一电阻2120的连接如图13所示,第二导电探头212和第二电阻230的连接如图14所示。
S200、点灯模块对位过程:
每个点灯模块20上的处理单元213根据检测到第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值,得到点灯模块20与引线组100的偏移量ΔX,并将偏移量ΔX发送至控制组件30,控制组件30带动该点灯模块20移动偏移量ΔX。
示例性的,如图15所示,第一电阻210和第二电阻230的长度为L,第一电阻210的阻值为R1,第二电阻230的阻值为R2,点灯模块20与引线组100精确对位时,第一导电探头211到第一电阻210的第一端a的距离为L1,第二导电探头212到第二电阻230的第一端a′的距离为L2,第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值未精确对位时,第一导电探头211和第二导电探头212之间的阻值未精确对位时,第一导电探头211到第一电阻210的第一端a的距离为L'1,未精确对位时,第二导电探头212到第二电阻230的第一端a′的距离为L'2。可得到未精确对位时,点灯模块20与引线组100的偏移量
S300、循环点灯模块对位过程(S200),直至偏移量ΔX等于设定值。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种点灯检测装置,其特征在于,包括底座、间隔排布的多个点灯模块以及与所述多个点灯模块中的每个连接的控制组件;
所述多个点灯模块中的每个包括检测组件,所述检测组件包括第一导电探头、第二导电探头以及处理单元,所述处理单元通过检测所述第一导电探头和所述第二导电探头之间的阻值,得到点灯模块的偏移量,并将所述偏移量发送至所述控制组件;
所述控制组件用于带动该点灯模块移动所述偏移量。
2.根据权利要求1所述的点灯检测装置,其特征在于,所述点灯模块还包括探针组,所述探针组包括多个平行设置的探针;
沿所述多个点灯模块的排布方向,所述多个点灯模块中的每个包括的所述第一导电探头和所述第二导电探头设置在所述探针组的两侧。
3.根据权利要求2所述的点灯检测装置,其特征在于,沿所述多个点灯模块的排布方向,所述多个点灯模块中的每个包括的所述第一导电探头和所述第二导电探头到所述探针组的距离相等。
4.根据权利要求1所述的点灯检测装置,其特征在于,所述底座上设置有滑轨和多个滑块,所述多个点灯模块与所述多个滑块一一对应且固定连接,所述控制组件控制滑块带动点灯模块沿着所述滑轨移动。
5.一种采用权利要求1-4任一项所述的点灯检测装置检测的显示面板,包括引线区,其特征在于,所述引线区包括间隔设置的多个引线组,所述多个引线组中的每个包括多条平行设置的引线;
所述显示面板还包括多个被检组件,所述多个被检组件与所述多个引线组一一对应;
所述多个被检组件中的每个包括第一电阻以及与所述第一电阻的第一端连接的连接线。
6.根据权利要求5所述的显示面板,其特征在于,所述多个被检组件中的每个还包括与所述第一电阻阻值不同的第二电阻,所述连接线的另一端连接所述第二电阻的第一端;
沿所述多个引线组的排布方向,所述多个被检组件中的每个包括的所述第一电阻和所述第二电阻设置在与该被检组件对应的引线组的两侧;
所述第一电阻的第一端和所述第二电阻的第一端设置在靠近引线组一侧;
或者,
所述第一电阻的第二端和所述第二电阻的第二端设置在靠近引线组一侧。
7.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述多个被检组件中的每个包括的所述第一电阻和所述第二电阻与所述多个引线组同层设置;
和/或,
所述第一电阻和所述第二电阻与所述连接线异层设置。
8.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,沿所述多个引线组的排布方向,所述第一电阻的长度等于所述第二电阻的长度;
和/或;
所述多个被检组件中的每个包括的所述第一电阻和所述第二电阻到与该被检组件对应的引线组的距离相等。
9.一种点灯检测装置的控制方法,其特征在于,包括:
整体对位过程:控制权利要求1-4任一项所述的点灯检测装置与权利要求5所述的显示面板整体对位,使所述点灯检测装置的一个点灯模块对应所述显示面板中的一个引线组,且使点灯模块的第一导电探头和第二导电探头分别连接与该引线组对应的第一电阻和连接线;
点灯模块对位过程:每个点灯模块上的处理单元根据检测到所述第一导电探头和所述第二导电探头之间的阻值,得到点灯模块与引线组的偏移量,并将所述偏移量发送至控制组件,所述控制组件带动该点灯模块移动所述偏移量;
循环所述点灯模块对位过程,直至所述偏移量等于设定值。
10.一种点灯检测装置的控制方法,其特征在于,包括:整体对位过程:控制权利要求1-4任一项所述的点灯检测装置与权利要求6-8任一项所述的显示面板整体对位,使所述点灯检测装置的一个点灯模块连接所述显示面板中的一个引线组,且使点灯模块的第一导电探头和第二导电探头分别连接与该引线组对应的第一电阻和第二电阻;
点灯模块对位过程:每个点灯模块上的处理单元根据检测到所述第一导电探头和所述第二导电探头之间的阻值,得到点灯模块与引线组的偏移量,并将所述偏移量发送至控制组件,所述控制组件带动该点灯模块移动所述偏移量;
循环所述点灯模块对位过程,直至所述偏移量等于设定值。
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