KR101549679B1 - 표시 패널 검사 장치 및 그 방법 - Google Patents

Abstract

표시 패널 검사 장치 및 그 방법이 개시된다.
본 발명의 실시 예에 따른, 공장에서 생산된 복수의 표시 패널을 검사하기 위한 표시 패널 검사 장치는 공장에서 생산된 복수의 표시 패널을 검사하기 위한 표시 패널 검사 장치에 있어서, 본체에 각각 설치되며, 표시 패널의 수평 이송을 위한 레일과 수평 실린더를 포함하는 고정플레이트상에 설치되어 상면에 표시 패널이 실장 되면 패널 검사를 위한 검사 위치로 상기 표시 패널을 수평 이송하는 패널 이송 테이블; 및 상기 패널 이송 테이블에 의해 이송된 상기 표시 패널의 패널 핀 블록과 수직으로 마주하는 위치에 검사신호 인가를 위한 컨택터 핀 블록을 위치시키고, 단동 실린더를 통해 상부 핀 고정 블록을 수직으로 하강하여 상기 컨택터 핀 블록과 패널 핀 블록을 전기적으로 접촉시키는 컨택터 접촉기를 포함한다.

Description

표시 패널 검사 장치 및 그 방법{DISPLAY PANEL TESTING APPARATUS AND METHOD}

본 발명은 표시 패널 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 공장에서 다량으로 생산된 표시 패널의 특성을 자동으로 검사하기 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.

일반적으로 액정표시장치(Liquid Crystal Display) 및 OLED(Organic Light Emitting Diodes) 등의 표시 패널은 구동신호에 따라 화상을 표시하는 표시장치로 휴대용 정보통신기기에 사용되고 있다.

최근에는 정보통신기술의 발전에 따라 기존의 테블릿 PC, 휴대형 음향 장치 및 스마트폰과 같은 휴대형 단말기에 적용되는 표시 패널뿐 아니라 냉장고 및 세탁기와 같은 가전제품의 소형 화면을 표시하기 위한 수단으로서 널리 이용되고 있다.

표시 패널의 제작 공정 중에는 표시 패널에 전기적 신호를 인가하여 정상적으로 작동하는지 검사하는 공정이 수행되며 이때 사용되는 장치가 디스플레이 검사 장치이다.

이러한, 디스플레이 검사 장치는 표시 패널에 형성되어 있는 전기(극) 접점에 전기적인 신호를 인가하기 위하여 컨택터(Contactor)를 접촉시켜 전기적인 특성을 테스트하는 방법이 주로 사용되고 있다.

종래에 컨택터를 표시 패널의 접점에 접촉시키기 위해서는 컨택터를 들어올리고 내리기 위한 기구로 지렛대(Lever) 형식의 회전체와 회전축이 구비된 승하강 유닛을 구성하고, 컨택터를 들어올린 상태에서 표시 패널의 접촉 위치로 이송하여 컨택터를 하강시켜 접점에 접촉시키는 기술이 사용되고 있다.

그러나, 종래에는 컨택터가 지렛대 형식으로 회전운동을 하여 표시 패널의 접점과 일치시키는데 어려움이 있었으며, 컨택터와 접점이 일치하지 않는 경우 제대로 컨택되지 않아 표시 패널을 손상시키는 문제가 있다.

또한, 이러한 문제를 해결하기 위하여 지렛대 형식의 회전운동을 수직운동으로 변환하는 컨택터 승하강 유닛이 개발되었으나, 회전축과 회전체가 여전히 존재하고 회전체(레버)를 들어올리기 위한 별도의 장비가 더 구비됨에 따른 기구적 복잡도와 부품이 증가하는 문제점이 있다.

또한, 표시 패널은 적용 단말기의 종류에 따라 패널 사이즈, 성능 및 연성회로기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB) 부착형태 등이 다양한 방식으로 생산될 수 있는 반면, 종래에는 검사 대상 표시 패널의 변경에 따른 검사 장치의 모델 교체가 용이하지 않은 문제점이 있다.

특허문헌 1 : 한국등록특허 제1346952호 (2014.01.16. 공고)

본 발명의 실시 예는 공장에서 다량으로 생산된 표시 패널을 간단한 컨택터 접촉구성을 통해 자동으로 검사하기 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한, 본 발명의 실시 예는 표시 패널의 모델 변경에 적응하여 다양한 방식으로 표시 패널과의 접촉이 가능한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 일 측면에 따르면, 공장에서 생산된 복수의 표시 패널을 검사하기 위한 표시 패널 검사 장치에 있어서, 본체에 각각 설치되며, 표시 패널의 수평 이송을 위한 레일과 수평 실린더를 포함하는 고정플레이트상에 설치되어 상면에 표시 패널이 실장 되면 패널 검사를 위한 검사 위치로 상기 표시 패널을 수평 이송하는 패널 이송 테이블; 및 상기 패널 이송 테이블에 의해 이송된 상기 표시 패널의 패널 핀 블록과 수직으로 마주하는 위치에 검사신호 인가를 위한 컨택터 핀 블록을 위치시키고, 단동 실린더를 통해 상부 핀 고정 블록을 수직으로 하강하여 상기 컨택터 핀 블록과 패널 핀 블록을 전기적으로 접촉시키는 컨택터 접촉기를 포함한다.

또한, 표시 패널 검사 장치는, 상기 컨택터 핀 블록을 통해 상기 패널 핀 블록과 전기적으로 연결되면 상기 검사 신호를 인가하여 표시 패널을 점등시켜 패널검사를 수행하는 제어부; 및 상기 패널 이송 테이블의 수평 이동간격을 미세 조정하는 마이크로미터를 더 포함할 수 있다.

또한, 상기 수평 실린더는, 일단이 상기 고정플레이트의 내부에 고정되고 타단이 상기 패널 이송 테이블의 일면에 결합되어 피스톤의 전진 또는 후진 구동에 따라 상기 패널 이송 테이블을 수평으로 이동시킬 수 있다.

또한, 상기 수평 실린더는, 상기 표시 패널을 실장하는 로딩 및 반출하는 언로딩 시 상기 패널 이송테이블을 후진하여 상기 컨택터 접촉기와 일정 이격 거리를 유지할 수 있다.

또한, 상기 마이크로미터는, 상기 고정플레이트의 일면에 장착된 마이크로미터 고정블록에 설치되며, 이송된 상기 패널 핀 블록의 위치가 접촉을 위한 검사위치와 맞지 않는 경우 상기 패널 이송 테이블의 일면에 설치된 스토퍼와 접촉된 상태에서 레버의 회전으로 상기 패널 이송 테이블의 전후진 이송 간격을 미세 조정할 수 있다.

또한, 상기 패널 이송 테이블은, 상부에 상기 표시 패널의 실장 위치를 안내하는 패널 가이드; 및 패널 가이드 영역 내 실장된 상기 표시 패널을 진공 흡착방식으로 고정하는 진공 흡착부를 포함할 수 있다.

또한, 상기 진공 흡착부는, 복수의 패널 진공홀 및 FPCB 진공홀을 포함하고 상기 패널 이송 테이블의 상면에 접촉된 표시 패널의 패널과 FPCB를 진공 흡착하여 실장위치를 고정할 수 있다.

또한, 상기 컨택터 접촉기는, 상기 고정플레이트의 일측면에 고정된 컨택 메인 블록의 하부에 수직으로 설치된 단동 실린더; 상기 단동 실린더의 전진 및 후진 동작에 따라 수직으로 왕복 운동하며, 상기 컨택 메인 블록을 관통하여 상기 상부 핀 고정 블록에 연결되는 한 쌍의 제1 가이드 샤프트; 및 상기 제1 가이드 샤프트가 관통하는 컨택 메인 블록과 상부 핀 고정 블록 사이에 안정적인 컨택을 위해 완충구조를 가지는 스프링과 스트로크 스토퍼를 포함하되, 상기 스프링은 상기 단동 실린더의 전진시 압축되고 후진 시 복원력으로 상기 상부 핀 고정블록의 상승을 도울 수 있다.

또한, 상기 컨택 메인 블록은, 상부에 복수의 제2 가이드 샤프트가 수직으로 설치되고 각각 상부 핀 고정 블록을 관통하여 상기 상부 핀 고정 블록의 하강 및 상승을 가이드 하며, 상기 제1 가이드 샤프트와 제2 가이드 샤프트는 각 샤프트 홀과 샤프트가 일정 여유공간을 가질 수 있다.

또한, 상기 단동 실린더는, 포트에 공기(Air)를 공급하여 실린더 로드가 전진하면 실린더 로드 앤드에 결합된 샤프트 플레이트를 기준으로 서로 결합된 상기 제1 가이드 샤프트와 상기 상부 핀 고정 블록이 하강하여 상기 컨택터 핀 블록을 상기 패널 핀 블록에 접촉시키고, 상기 공기 공급을 중단하면 실린더 내부 스프링과 상기 스프링의 복원력에 의해 상기 실린더 로드가 후진하여 상기 컨택터 핀 블록의 접촉을 해제시킬 수 있다.

또한, 상기 표시 패널의 모델에 따라 상기 패널 핀 블록이 상부를 향하고 있으면 상부로부터 상기 컨택터 핀 블록을 수직으로 접촉시키는 상부 컨택트(Top Contact) 방식; 및 상기 패널 핀 블록이 하부를 향하고 있으면 하부로부터 상기 컨택터 핀 블록을 수직으로 접촉시키는 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식을 선택적으로 지원할 수 있다.

또한, 상기 상부 컨택트 방식에 있어서, 상기 컨택터 접촉기는, 상기 상부 핀 고정 블록의 하부에 완충 기능을 가지는 상부 핀 가이드 블록을 결합하고, 상기 상부 핀 가이드 블록하부에 상기 컨택터 핀 블록이 하부를 향하도록 위치한 상부 핀 블록을 설치할 수 있다.

또한, 상기 하부 컨택트 방식에 있어서, 상기 컨택터 접촉기는, 상기 상부 핀 고정 블록의 하부에 완충 기능을 가지는 상부 핀 가이드 블록을 결합하고, 상기 패널 이송 테이블의 상부에 상기 컨택터 핀 블록이 상부를 향하도록 위치한 하부 핀 블록을 설치할 수 있다.

한편, 본 발명의 일 측면에 따른, 공장에서 생산된 복수의 표시 패널을 검사하는 표시 패널 검사 장치의 표시 패널 검사 방법은, a) 본체에 복수로 배치된 패널 이송 테이블의 패널 가이드 영역에 각각 표시 패널이 실장 되면 상기 표시 패널을 컨택터 접촉기가 있는 검사위치로 수평 이송하는 단계; b) 상기 패널 이송 테이블에 의해 이송된 상기 표시 패널의 패널 핀 블록과 마주하는 위치에 컨택터 핀 블록이 위치한 상기 컨택터 접촉기의 단동 실린더를 통해 상부 핀 고정 블록을 수직으로 하강하여 상기 컨택터 핀 블록과 패널 핀 블록을 전기적으로 접촉시키는 단계; c) 전기적으로 접촉된 상기 패널 핀 블록을 통해 검사 신호를 인가하여 표시 패널의 패널을 점등시키고 디스플레이 특성을 검사하는 단계; 및 d) 상기 검사가 완료되면 상기 단동 실린더를 통해 상기 상부 핀 고정 블록을 수직으로 상승하여 상기 컨택터 핀 블록과 패널 핀 블록의 접촉을 해제하는 단계를 포함한다.

또한, 상기 a) 단계는, 상기 패널 가이드 영역 내에 복수로 구성된 패널 진공홀 및 연성회로기판(FPCB) 진공홀을 통해 상기 표시 패널의 패널 및 FPCB를 흡착하여 상기 표시 패널의 실장위치를 고정하는 단계를 포함할 수 있다.

또한, 상기 b) 단계는, 상기 패널 핀 블록이 상부를 향하고 있는 경우 상부로부터 컨택터 핀 블록을 수직으로 접촉시키는 상부 컨택트(Top Contact) 방식으로 접촉시킬 수 있다.

또한, 상기 b) 단계는, 상기 패널 핀 블록이 하부를 향하고 있는 경우 하부로부터 컨택터 핀 블록을 수직으로 접촉시키는 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식으로 접촉시킬 수 있다.

또한, 상기 d) 단계 이후에, 상기 패널 이송 테이블을 복귀시켜 검사가 끝난 상기 표시 패널을 반송하는 단계를 더 포함할 수 있다.

한편, 본 발명의 다른 실시 예에 따른, 공장에서 생산된 표시 패널을 검사하기 위한 표시 패널 검사 장치는, 본체에 각각 설치되며, 표시 패널의 수평 이송을 위한 레일과 수평 실린더를 포함하는 고정플레이트 상에 설치되어 상기 표시 패널을 수평 이송하는 패널 이송 테이블; 및 단동 실린더를 통해 상부 핀 고정 블록을 상승하며, 이송된 상기 표시 패널의 패널 핀 블록과 수직으로 마주하는 위치에 검사신호 인가를 위한 컨택터 핀 블록을 위치시키고, 스프링의 복원력으로 상기 상부 핀 고정 블록을 하강하여 상기 컨택터 핀 블록과 패널 핀 블록을 전기적으로 접촉시키는 컨택터 접촉기를 포함한다.

또한, 상기 단동 실린더는, 포트를 통해 공기를 공급(ON)하여 실린더 로드를 후진시키면, 실린더 로드 앤드에 연결된 샤프트 연결 플레이트를 기준으로 서로 결합된 한 쌍의 제1 가이드 샤프트에 의해 관통된 상기 스프링과 실린더 내부 스프링를 압축하고, 상기 포트를 통한 공기 공급을 중단(OFF)하면, 압축된 상기 스프링 및 실린더 내부 스프링의 복원력으로 상기 실린더 로드를 하부로 전진할 수 있다.

본 발명의 실시 예들에 따르면, 컨택터 접촉기가 단동 실린더의 수직운동 만으로 컨택터 핀 블록을 직접 표시 패널에 접촉시킬 수 있으므로, 기존의 컨택터 승하강 유닛에 사용된 지렛대 형식을 배제하고 회전축과 회전체를 생략하여 부품의 복잡도를 줄일 수 있는 효과가 있다.

또한, 표시 패널의 패널 핀 블록이 배치된 방향에 따라 상부 컨택트(Top Contact) 방식과 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식을 선택적으로 지원함으로써 검사 대상 패널의 변경에 따른 모델 교체가 용이한 효과가 있다.

그리고, 검사 대상 패널이 실장 되는 패널 이송 테이블이 패널 검사 시에만 컨택터 접촉기가 있는 방향으로 이동함으로써 패널의 로딩 및 언로딩 시 컨택터 접촉기에 의해 발생되는 간섭을 예방할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 장치의 구성을 개략적으로 나타낸다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 고정플레이트와 패널 이송 테이블의 세부 구성을 나타낸 분해 사시도이다.
도 3 및 도4는 본 발명의 실시 예에 따른 패널 이송 테이블의 동작 상태를 나타낸 단면도이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 상부 컨택트(Top Contact) 방식의 컨택터 접촉기를 나타낸다.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 컨택터 접촉기의 구성을 나타낸 분해 사시도이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 다른 단동 실린더의 동작상태를 나타낸 단면도이다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식의 컨택터 접촉기를 나타낸다.
도 9 및 도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 컨텍트 얼라인(Contact Align) 방법을 나타낸다.
도 11은 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 12는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 패널 및 FPCB의 결합구조에 따라 적용된 패널 이송 테이블을 나타낸다.
도 13은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 컨택터 접촉기의 구성을 나타낸 분해 사시도이다.
도 14는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 단동 실린더와 스프링의 동작상태를 나타낸 단면도이다.

아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시 예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "…부", "…기", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.

또한, 명세서 전체에서 모델 교체는 검사 대상 표시 패널의 변경에 따라 디스플레이 검사 장치에 기 장착된 컨택터를 분리하고 새로운 컨택터로 교체 장착하는 것과 컨택터의 접점 위치를 변경하는 것을 모두 의미한다.

이제 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 장치 및 그 방법에 대하여 도면을 참조로 하여 상세하게 설명한다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 장치의 구성을 개략적으로 나타낸다.

첨부된 도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 장치(1)는 본체의 상면에 해당되는 메인 베이스의 상부와 하부에 각각 복수로 배치되는 고정플레이트(100), 패널 이송 테이블(200), 컨택터 접촉기(300), 케이블부(400) 및 제어부(500)를 포함한다.

다만, 도 1에서는 설명의 편의를 위한 하나의 실시 예로 각 구성(100 ~ 500)이 4개씩 배치되는 것으로 도시되었으나 그 배치 개수가 이에 한정되지 않는다. 또한, 제어부(500)를 복수로 도시하였으나 이에 한정되지 않으며 하나의 제어부(500)에 각각 채널 별로 케이블부(400)가 연결되는 구조로 구성할 수 있다.

고정플레이트(100)는 메인 베이스 상에 설치되어 패널 이송 테이블(200)을 수평으로 이동시키기 위한 레일구조와 수평 실린더, 그리고 패널 이송 테이블(200)의 수평 이동간격을 미세 조정하는 마이크로미터를 포함한다.

패널 이송 테이블(200)은 고정플레이트(100)상에 설치되어 로더(Loader, 미도시)로부터 표시 패널(10)이 로딩(Loading)되면 컨택터 접촉기(300)의 검사위치(접촉위치)로 표시 패널(10)을 수평 이송한다. 상기 로더는 도면에서는 생략되었으나 복수의 표시 패널(10)이 보관된 버퍼로부터 검사를 위해 표시 패널(10)을 패널 이송 테이블(200)에 실장하는 이송 장치로 구성될 수 있다.

여기서, 표시 패널(10)은 패널(11)과 연성회로기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB)(12)이 연결되어 모듈화 된 상태로 패널 이송 테이블(200)상에 실장 되며, FPCB(12)의 단부에는 접점(Contact point)에 해당되는 패널 핀 블록(Panel Pin Block)(13)이 형성된다.

컨택터 접촉기(300)는 패널 이송 테이블(200)에 의해 이송된 표시 패널(10)의 패널 핀 블록(13)과 마주보는 위치에 컨택터 핀 블록을 위치시키고, 단동 실린더(미도시)를 통해 상부 핀 고정 블록(350)을 수직으로 하강하여 컨택터 핀 블록을 패널 핀 블록(13)과 전기적으로 접촉시킨다.

또한, 컨택터 접촉기(300)는 표시 패널(10)의 검사가 완료되면 상부 핀 고정 블록(350)을 수직으로 들어올려 접촉을 해제하고, 패널 이송 테이블(200)은 검사가 끝난 표시 패널(10)을 반송하여 컨택터 접촉기(300)와 이격된 원래의 위치로 돌아간다. 그리고, 검사가 완료된 표시 패널(10)은 패널 이송 테이블(200)로부터 적출되고 새로운 표시 패널(10)이 자동 실장 된다.

케이블부(400)는 일측 단부가 제어부(500)에 연결되고 타측단부는 고정플레이트(100)의 제1 PCB 하부 단자에 전기적으로 연결된다.

제어부(500)는 패턴 제너레이터(Pattern Generator)를 포함하며 표시 패널(10)의 검사 및 각 기계적 구성을 제어하기 위한 프로그램 및 데이터를 저장하고, 그에 따른 검사와 각 구성의 전반적인 동작을 제어한다.

제어부(500)는 패널 이송 테이블(200)에 표시 패널(10)이 실장되면 컨택터 접촉기(300)로 수평 이송하고, 컨택터 접촉기(300)의 상부 핀 고정 블록(350)을 수직으로 하강하여 컨택터 핀 블록(310)을 패널 핀 블록(13)과 전기적으로 접촉시키는 제어를 한다.

그리고, 제어부(500)는 표시 패널(10)과 전기적으로 연결되면 검사 신호를 인가하여 패널(11)을 점등시켜 화질 검사 및 목시 검사를 수행하고, 검사가 완료된 표시 패널(10)의 반출동작을 제어한다.

한편, 도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 고정플레이트와 패널 이송 테이블의 세부 구성을 나타낸 분해 사시도이다.

또한, 도 3 및 도4는 본 발명의 실시 예에 따른 패널 이송 테이블의 동작 상태를 나타낸 단면도이다.

첨부된 도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 고정플레이트(100)는 메인 베이스상에 고정 설치되며, 패널 이송 테이블(200)이 슬라이딩 결합되는 레일부(110), 패널 이송 테이블을 수평 방향으로 전진 또는 후진시키는 수평 실린더(120) 및 패널 이송 테이블(200)의 전후진 이동간격을 미세 조정하는 마이크로미터(130)를 포함한다.

수평 실린더(120)는 일단이 고정플레이트(100)의 내부에 고정되고 실린더 로드의 타단이 패널 이송 테이블(200)의 일면에 결합되어 피스톤의 전/후진 구동에 따라 패널 이송 테이블(200)을 이동시킨다.

예컨대, 도 3에서 수평 실린더(120)의 포트 A에 공기(Air)를 주입하면 실린더가 패널 이송 테이블(200)을 컨택터 접촉기(300)가 있는 방향으로 전진하고, 포트 B에 에어를 주입하면 패널 이송 테이블(200)을 컨택터 접촉기(300)가 있는 반대 방향으로 후진한다.

마이크로미터(130)는 고정플레이트(100) 일면에 장착된 마이크로미터 고정블록(131)에 설치되어 패널 이송 테이블(200)의 전진 시 마주보는 패널 이송 테이블(200)의 일면에 설치된 스토퍼(220)와 접촉된다.

마이크로미터(130)는 패널 핀 블록(13)의 컨택위치(검사위치)가 맞지 않는 경우 스토퍼(220)와 접촉된 상태에서 레버의 회전으로 패널 이송 테이블(200)이 전진 또는 후진하는 간격을 미세 조정할 수 있다. 따라서, 표시 패널(10)의 이송 시 패널 핀 블록(13)의 위치를 컨택터 핀 블록(310)과 수직한 검사 위치에 정확히 정렬할 수 있다.

패널 이송 테이블(200)은 상부에 표시 패널(10)이 정확한 위치에 실장될 수 있도록 안내하는 패널 가이드(210)를 포함한다. 패널 가이드(210)는 표시 패널(10)의 크기에 따라 간격을 미세 조절하여 다양한 모델에 맞게 설정할 수 있다.

패널 이송 테이블(200)은 표시 패널(10)을 실장하는 이송 장치(예; X,Y,Z Robot)가 표시 패널(10)을 진공으로 흡착하여 테이블에 올려 놓을 때 컨택터 접촉기(300)와의 상호 간섭을 방지하기 위해 X축 방향으로 적정 이격 거리를 유지하고, 실장이 완료되면 컨택터 접촉기(300)가 있는 X축 방향으로 수평 이동한다.

한편, 본 발명의 실시 예에 따른 컨택터 접촉기(300)는 표시 패널(10)의 모델에 따라 패널 핀 블록(13)이 상부를 향하고 있으면 상부로부터 컨택터 핀 블록(310)을 수직으로 접촉시키는 상부 컨택트(Top Contact) 방식을 지원한다. 또한 이와 반대로 패널 핀 블록(13)이 하부를 향하고 있으면 하부로부터 컨택터 핀 블록(310)을 수직으로 접촉시키는 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식을 지원하며 두 방식에 대한 설명은 아래의 도 5 내지 도 8을 통해 자세히 설명한다.

먼저, 본 발명의 실시 예에 따른 상부 컨택트(Top Contact) 방식의 컨택터 접촉기(300)의 구성을 설명한다.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 상부 컨택트(Top Contact) 방식의 컨택터 접촉기를 나타낸다.

도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 컨택터 접촉기의 구성을 나타낸 분해 사시도이다.

도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 단동 실린더의 동작상태를 나타낸 단면도이다.

첨부된 도 5 내지 도 7을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 컨택터 접촉기(300)는 고정플레이트(100)의 일측면에 고정된 컨택 메인 블록(330)의 하부에 수직으로 설치된 단동 실린더(320), 단동 실린더(320)의 전진 및 후진 동작에 따라 수직으로 왕복 운동하는 한 쌍의 제1 가이드 샤프트(340), 제1 가이드 샤프트(340)에 연결된 상부 핀 고정 블록(350)을 포함하며, 상부 핀 고정 블록(350)의 하부에는 컨택터 핀 블록(310)이 결합된다.

이 때, 상부 컨택트(Top Contact) 방식의 검사 신호 연결 구성은 제어부(500) -> 케이블부(400) -> 제1 PCB -> 제1 FPCB -> 제2 PCB -> 상부 핀 고정 블록(350) 하부에 결합된 컨택터 핀 블록(310)순으로 연결된다.

컨택터 접촉기(300)는 단동 실린더(320)가 전진 및 후진하는 동작에 따라 제1 가이드 샤프트(340)에 연결된 상부핀 고정 블록(350)이 수직으로 하강 및 상승하면서 그 하부에 부착된 컨택터 핀 블록(310)을 패널 핀 블록(13)과 전기적으로 접촉 및 접촉해제 시킨다. 이 때, 컨택 메인 블록(330)의 상부에는 복수의 제2 가이드 샤프트(331)가 수직으로 설치되고 각각 상부 핀 고정 블록(350)을 관통하여 최하부에 컨택터 핀 블록(310)이 결합된 상부 핀 고정 블록(350)의 안정적인 하강 및 상승을 가이드 한다. 그리고, 제1 가이드 샤프트(340)와 제2 가이드 샤프트(331)는 컨택터 핀 블록(310)과 패널 핀 블록(13)의 접촉을 원활히 하기 위해 각 샤프트 홀과 샤프트가 미세한 여유공간을 가질 수 있다. 단동 실린더(320)는 실린더 로드 앤드(322)가 샤프트 연결 플레이트(360)에 결합되고, 샤프트 연결 플레이트(360)를 기준으로 양측에는 제1 가이드 샤프트(340)가 수직으로 결합되어 실린더 로드(321)의 수직 운동과 함께 연동된다.

또한, 제1 가이드 샤프트(340)는 컨택 메인 블록(330)을 수직으로 관통하여 상부 핀 고정 블록(350)과 연결함으로써 실린더 로드(321)의 수직 운동을 전달한다.

도 7(A)와 같이, 단동 실린더(320)는 포트 A에 공기(Air)를 공급(ON)하여 실린더 로드(321)가 전진하면 실린더 로드 앤드(322)에 결합된 샤프트 연결 플레이트(360)를 기준으로 서로 결합된 제1 가이드 샤프트(340)와 상부 핀 고정 블록(350)이 하강하여 하부에 장착된 컨택터 핀 블록(310)을 패널 핀 블록(13)에 접촉시킨다.

반면, 도 7(B)와 같이, 단동 실린더(320)는 공기(Air) 공급을 중단하면(Off) 실린더 내부 스프링(323)의 복원력에 의해 실린더 로드(321)가 후진함으로써 컨택터 핀 블록(310)의 접촉을 해제시킨다.

이 때, 도 6과 같이, 제1 가이드 샤프트(340)에 의해 연결되는 컨택 메인 블록(330)과 상부 핀 고정 블록(350) 사이에는 안정적인 컨택을 위해 스프링(351) 및 스트로크 스토퍼(352)가 구성된다.

스프링(351)은 상부 핀 고정블록(350)의 하강시 압축되면서 컨택이 틀어짐을 최소화하는 완충역할을 하고, 단동 실린더(320)의 후진 시 복원력으로 상부 핀 고정블록(350)의 상승을 돕는 역할을 한다.

스트로크 스토퍼(352)는 실린더 스트로크 5mm를 사용하여 하되, 컨택 하강시 불안전 상태를 줄이기 위해 5mm 에서 3mm의 스트로크만 사용할 수 있다.

그리고, 상부 핀 고정 블록(350)의 하부에는 완충이 가능한 쿠션재 또는 완충부재를 가지는 상부 핀 가이드 블록(353)이 결합되고, 그 하부에는 컨택터 핀 블록(310)을 장착하기 위한 상부 핀 블록(354)이 볼트로 결합된다.

상부 핀 블록(354)의 중앙에는 컨택터 핀 블록(310)이 위치하며, 상부 핀 블록(354)는 표시 패널(10)의 모델에 따라 다른 사이즈 및 핀 구조의 컨택터 핀 블록(310)을 간단히 교체할 수 있다.

한편, 도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식의 컨택터 접촉기를 나타낸다.

첨부된 도 8을 참조하면, 본 발명의 하부 컨택트 방식은 앞서 설명한 상부 컨택트 방식의 구성과 유사하며, 다만, 모델 변경으로 표시 패널(10)의 패널 핀 블록(13)이 하부를 향하고 있는 것에 대응하여 컨택터 핀 블록(310)을 하부에 위치시키는 것과 그에 따른 검사 신호 연결 구성의 위치가 변경되는 부분만 다소 차이가 있다. 따라서, 상부 컨택트 방식과 동일한 구성에 대해서는 중복된 설명을 생략하고 차이가 있는 구성에 대해서만 설명하도록 한다.

하부 컨택트 방식에서는, 패널 이송 테이블(200)의 상면에 컨택터 핀 블록(310)이 상부를 향하도록 배치한다. 이 때, 컨택터 핀 블록(310)은 하부 핀 블록(355)을 통해 볼트 결합되어 설치될 수 있다.

패널 이송 테이블(200)은 컨택터 핀 블록(310)이 설치된 상태에서 로더에 의해 표시 패널(10)이 로딩되면 컨택터 핀 블록(310)과 표시 패널(10)의 패널 핀 블록(13)이 서로 수직으로 마주하게 된다.

패널 이송 테이블(200)은 앞선 설명과 동일하게 컨택터 접촉기(300)가 있는 방향으로 수평 이송하여 컨택터 핀 블록(310)과 패널 핀 블록(13)을 검사위치에 위치시킨다.

컨택터 접촉기(300)는 앞선 설명과 동일하게 단동 실린더(320)를 작동하여 상부 핀 고정 블록(350)하강하여 하부에 상부 핀 가이드 블록(353)으로 패널 핀 블록(13)을 눌러 컨택터 핀 블록(310)과 접촉시킨다.

상부 핀 가이드 블록(353)은 상부 컨택트(Top Contact) 방식과는 달리 하부에 상부 핀 블록(354)이 제거된 상태이며, 완충구조를 가지므로 패널 핀 블록(13)을 수 밀리미터 이내로 가볍게 누를 수 있다.

그리고, 상부 핀 블록(354)과 컨택터 핀 블록(310)의 결합 두께와 하부 핀 블록(355)과 컨택터 핀 블록(310)의 두께는 실질적으로 동일하기 때문에 상부 컨택트 방식과 하부 컨택트 방식에서 컨택터 접촉기(300)의 수직 동작 범위는 동일하게 가져갈 수 있다.

즉, 패널 핀 블록(13)과 컨택터 핀 블록(310)이 패널 핀 블록(13) 배면측 FPCB(12)의 위에서 압력만 인가하면 바로 접촉이 되는 형태의 구조를 가지므로 컨택이 완료되어 패널(11)이 점등된다.

또한, 하부 컨택트 방식에서는, 컨택터 핀 블록(310)이 패널 이송 테이블(200)에 설치되므로, 이 때, 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식의 검사 신호 연결 구성은 제어부(500) -> 케이블부(400) -> 제1 PCB -> 제2 FPCB -> 제3 PCB -> 패널 이송 테이블(200)에 설치된 컨택터 핀 블록(310)순으로 연결된다.

이와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 상부 컨택트 방식과 하부 컨택트 방식은 표시 패널(10)의 모델에 따라 컨택터 핀 블록(310)의 위치와 그에 따른 신호 연결 구성만을 간단히 변경하여 잦은 모델 교체에 적용할 수 있는 이점이 있다.

한편, 도 9 및 도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 컨텍트 얼라인(Contact Align) 방법을 나타낸다.

먼저, 첨부된 도 9를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 장치(1)의 상부 컨택트 방식에서의 컨택 이전을 상태를 보여주며, 컨택터 핀 블록(310)과 패널 핀 블록(13)은 적정 이격 거리를 유지하고 있다.

패널 이송 테이블(200)은 컨택트 얼라인을 위해 표시 패널(10)이 패널 가이드(210) 영역 내에 실장 되면 이송 및 컨택 과정에서 임의로 실장위치가 변경되는 것을 방지하기 위하여 표시 패널(10)을 고정하는 진공 흡착부(230)를 포함한다.

진공 흡착부(230)는 복수로 구성되는 패널 진공홀(231) 및 FPCB 진공홀(232)을 포함하여 각각 패널 이송 테이블(200)의 상면에 접촉되는 패널(11)과 FPCB(12)를 진공 흡착하여 실장위치를 고정할 수 있다.

또한, 앞서 설명한 마이크로미터(130)는 컨택위치가 맞지 않는 경우 패널 이송 테이블(200)의 컨택터 접촉기(300) 방향으로의 이동 간격을 미세 조절할 수 있다.

다음, 첨부된 도 10을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 장치(1)가 컨택 중인 상태로 컨택터 핀 블록(310)과 패널 핀 블록(13)이 일체화된 것을 보여준다. 이 때, 컨택터 핀 블록(310)은 포고핀(Pogo Pin) 형태를 가지며, 패널 핀 블록(13)은 상기 포고핀에 대응하는 전극 형태로 형성되어 접촉이 이루어질 수 있다.

한편, 전술한 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 장치(1)의 구성을 바탕으로 하는 표시 패널 검사 방법을 다음의 도 11을 통해 설명한다.

도 11은 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 방법을 나타낸 흐름도이다.

첨부된 도 11을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 검사 장치(1)는 패널 이송 테이블(200) 상부의 패널 가이드(210) 영역에 표시 패널(10)이 실장되면(S101), 표시 패널(10)을 컨택터 접촉기(300)가 있는 검사위치로 수평 이송한다(S102).

이 때, 표시 패널 검사 장치(1)는 패널 이송 테이블(200)의 패널 가이드(210)영역 내에 복수로 구성되는 패널 진공홀(231) 및 FPCB 진공홀(232)을 통해 표시 패널(10)을 흡착하여 실장위치를 고정하고, 수평 실린더(120)를 전진하여 표시 패널(10)을 이송하도록 제어한다.

표시 패널 검사 장치(1)는 표시 패널(10)이 컨택터 접촉기(300) 측으로 이송되면 단동 실린더(320)의 구동으로 상부 핀 고정 블록(350)을 수직으로 하강하여 컨택터 핀 블록(310)을 패널 핀 블록(13)과 전기적으로 접촉시킨다(S103).

그리고, 표시 패널 검사 장치(1)는 전기적으로 연결된 패널 핀 블록(13)을 통해 검사 신호를 인가하여 표시 패널(10)의 패널(11)을 점등시키고 디스플레이 특성을 검사한다(S104).

예컨대, 표시 패널 검사 장치(1)는 패널(11)의 화질 검사 및 목시 검사를 수행할 수 있으며, 이 밖에도 패널의 생산공정에서 수행하는 공지된 다양한 검사를 수행할 수 있다.

표시 패널 검사 장치(1)는 디스플레이 특성 검사가 완료되면 상부 핀 고정 블록(350)을 수직으로 상승하여 컨택터 핀 블록(310)과 패널 핀 블록(13)의 접촉을 해제시킨다(S105).

표시 패널 검사 장치(1)는 패널 이송 테이블(200)을 원래의 위치로 복귀시켜 검사가 끝난 표시 패널(10)을 반송한다(S106).

표시 패널 검사 장치(1)는 검사가 대기중인 표시 패널(10)이 더 존재하면(S107; 예) 상기 S101 단계로 돌아가 검사를 반복하고, 존재하지 않으면(S107; 아니오) 검사를 종료한다.

한편, 상기 S103 단계에서, 표시 패널 검사 장치(1)는 패널 핀 블록(13)이 상부를 향하고 있는 경우 상부로부터 컨택터 핀 블록(310)을 수직으로 접촉시키는 상부 컨택트(Top Contact) 방식으로 접촉시킬 수 있으며, 반대로 패널 핀 블록(13)이 하부를 향하고 있는 경우 하부로부터 컨택터 핀 블록(310)을 수직으로 접촉시키는 하부 컨택트(Top Contact) 방식으로 접촉시킬 수 있다.

이 때, 상기 상부 컨택트 방식은 컨택터 핀 블록(310)을 상부 핀 고정 블록(350)의 최하단에 설치하고, 하부 컨택트 방식은 컨택터 핀 블록(310)을 패널 이송 테이블(200)의 단부에 설치할 수 있다.

이와 같이, 본 발명의 실시 예에 따르면, 컨택터 접촉기가 단동 실린더의 수직운동 만으로 컨택터 핀 블록을 직접 표시 패널에 접촉시킬 수 있으므로, 기존의 컨택터 승하강 유닛에 사용된 지렛대 형식을 배제하고 회전축과 회전체를 생략하여 부품의 복잡도를 줄일 수 있는 효과가 있다.

또한, 표시 패널의 패널 핀 블록 배치 방향에 따른 상부 컨택트(Top Contact) 방식과 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식을 지원함으로써 검사 대상 패널의 변경에 따른 모델 교체가 용이한 효과가 있다.

그리고, 검사 대상 패널이 실장 되는 패널 이송 테이블이 검사 시에만 컨택터 접촉기가 있는 방향으로 이동함으로써 패널의 로딩 및 언로딩 시 컨택터 접촉기에 의한 간섭을 예방할 수 있다.

이상에서는 본 발명의 실시 예에 대하여 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시 예에만 한정되는 것은 아니며 그 외의 다양한 변경이 가능하다.

예컨대, 전술한 본 발명의 실시 예에서는 표시 패널(10)의 패널 핀 블록(13) 방향(상부/하부)에 따른 모델 교체 검사가 가능한 것을 설명하였으나 이에 한정되지 않으며, 패널(11)과 FPCB(12)의 결합 형태에 따라 패널 이송 테이블(200)을 변경하여 배치할 수 있다.

예를 들면, 도 12는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 패널 및 FPCB의 결합구조에 따라 적용된 패널 이송 테이블을 나타낸다.

전술한 본 발명의 실시 예에서는 패널(11)에 'ㄱ'자 형태의 FPCB(12)가 결합되어 패널 이송 테이블(200)이 X축 방향으로 이동하는 이송 구조를 가졌으나, 첨부된 도 12를 참조하면, 패널(11)과 FPCB(12)가 Y축 방향의 일자형태로 결합되어 Y축 방향으로 이동하는 패널 이송 테이블(200)을 적용할 수 있다.

또한, 전술한 본 발명의 실시 예에서는 표시 패널 검사 장치(1)가 상부 컨택트 방식을 지원하거나 또는 하부 컨택트 방식을 지원하는 것으로 설명하였으나 이에 한정되지 않으며, 상부 컨택트 방식과 하부 컨택트 방식을 동시에 지원할 수 도 있다.

예컨대, 도 1과 같이 4개의 검사 장비에서 2개는 상부 컨택트 방식으로 배치하고, 2개는 하부 컨택트 방식으로 배치하여 동시에 이종의 표시 패널(10)의 검사가 가능한 장점이 있다.

따라서, 정보통신 단말기의 설계구조에 따라 요구되는 표시 패널(10)의 모델이 변경될 때 마다 검사 장치를 설계해야 하는 문제를 해결하고, 표시 패널(10)의 모델 변경에 따라 패널 이송 테이블(200)만을 교체함으로써 다양한 모델 교체가 가능한 이점이 있다.

또한, 전술한 본 발명의 실시 예에서는 도 6 및 도 7에서와 같이 단동 실린더(320)의 포트에 공기를 공급(ON)하여 실린더 로드(321)가 전진하면 이와 연동된 상부 핀 고정 블록(350)이 하강 하여 컨탠터 접촉이 이루어지고, 공기 공급을 중단(Off)하면 내부 스프링(323) 및 스프링(351)의 복원력으로 상부 핀 고정 블록(350)이 상승하여 컨택터 접촉이 해제되는 것으로 설명하였으나 이에 한정되지 않고 그 반대의 경우로 각 스프링(323, 351)의 복원력에 의해 접촉하는 방법으로도 실시가 가능하다.

예컨대, 도 13은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 컨택터 접촉기의 구성을 나타낸 분해 사시도이다.

도 14는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 단동 실린더와 스프링의 동작상태를 나타낸 단면도이다.

첨부된 도 13 및 도 14를 참조하면, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 컨택터 접촉기(300')는 단동 실린더(320')의 작동으로 상부핀 고정 블록(350)을 수직으로 상승시키고, 컨택 메인 블록(330)의 하부에 설치된 스프링(350')의 복원력으로 상부핀 고정 블록(350)을 하강시켜 컨택터 접촉이 이루어지는 점에서 전술한 실시 예와 다르다.

즉, 첨부된 도 14의 (A)와 같이, 단동 실린더(320')의 포트를 통해 공기를 공급(ON)하여 실린더 로드(321')를 후진시키면, 실린더 로드 앤드(322')에 연결된 샤프트 연결 플레이트(360)를 기준으로 서로 결합된 제1 가이드 샤프트(340)와 상부핀 고정블록(350)이 상승한다.

이 때, 컨택 메인 블록(330)과 샤프트 연결 플레이트(360) 사이에 설치된 스프링(351')과 실린더 로드(321)의 후진에 따른 실린더 내부 스프링(323')이 압축된다.

그리고, 첨부된 도 14의 (B)와 같이, 패널 이송 테이블(200)에 의해 표시 패널(10)이 이송된 후에, 단동 실린더(320)의 포트를 통한 공기 공급을 중단(Off)하면, 각각 압축된 스프링(351') 및 실린더 내부 스프링(323')의 복원력으로 실린더 로드(321')가 하부로 전진한다.

이 때, 샤프트 연결 플레이트(360)를 기준으로 결합된 상부핀 고정 블록(350)이 하강하여 컨택터 핀 블록(310)을 패널 핀 블록(13)과 접촉시킬 수 있다.본 발명의 실시 예는 이상에서 설명한 장치 및/또는 방법을 통해서만 구현이 되는 것은 아니며, 본 발명의 실시 예의 구성에 대응하는 기능을 실현하기 위한 프로그램, 그 프로그램이 기록된 기록 매체 등을 통해 구현될 수도 있으며, 이러한 구현은 앞서 설명한 실시 예의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야의 전문가라면 쉽게 구현할 수 있는 것이다.

이상에서 본 발명의 실시 예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

10: 표시 패널 11: 패널
12: FPCB 13: 패널 핀 블록
1: 표시 패널 검자 장치 100: 고정플레이트
110: 레일부 120: 수평 실린더
130: 마이크로미터 131: 마이크로미터 고정블록
200: 패널 이송 테이블 210: 패널 가이드
220: 스토퍼 230: 진공 흡착부
231: 패널 흡착홀 232: FPCB 흡착홀
300: 컨택터 접촉기 310: 컨택터 핀 블록
320: 단동 실린더 321: 실린더 로드
322: 실린더 로드 앤드 323: 실린더 내부 스프링
330: 컨택 메인 블록 340: 제1 가이드 샤프트
331: 제2 가이드 샤프트 350: 상부 핀 고정 블록
351: 스프링 352: 스트로크 스토퍼
353: 상부 핀 가이드 블록 354: 상부핀 블록
360: 샤프트 연결 플레이트 400: 케이블부
500: 제어부

Claims (20)

1. 공장에서 생산된 복수의 표시 패널을 검사하기 위한 표시 패널 검사 장치에 있어서,
   본체에 각각 설치되며, 표시 패널의 수평 이송을 위한 레일과 수평 실린더를 포함하는 고정플레이트상에 설치되어 상면에 표시 패널이 실장 되면 패널 검사를 위한 검사 위치로 상기 표시 패널을 수평 이송하는 패널 이송 테이블;
   상기 패널 이송 테이블에 의해 이송된 상기 표시 패널의 패널 핀 블록과 수직으로 마주하는 위치에 검사신호 인가를 위한 컨택터 핀 블록을 위치시키고, 단동 실린더를 통해 상부 핀 고정 블록을 수직으로 하강하여 상기 컨택터 핀 블록과 패널 핀 블록을 전기적으로 접촉시키는 컨택터 접촉기;
   상기 컨택터 핀 블록을 통해 상기 패널 핀 블록과 전기적으로 연결되면 상기 검사 신호를 인가하여 표시 패널을 점등시켜 패널검사를 수행하는 제어부; 및
   상기 패널 이송 테이블의 수평 이동간격을 미세 조정하는 마이크로미터를
   를 포함하는 표시 패널 검사 장치.
2. 삭제
3. 제 1 항에 있어서,
   상기 수평 실린더는,
   일단이 상기 고정플레이트의 내부에 고정되고 타단이 상기 패널 이송 테이블의 일면에 결합되어 피스톤의 전진 또는 후진 구동에 따라 상기 패널 이송 테이블을 수평으로 이동시키는 표시 패널 검사 장치.
4. 제 3 항에 있어서,
   상기 수평 실린더는,
   상기 표시 패널을 실장하는 로딩 및 반출하는 언로딩 시 상기 패널 이송테이블을 후진하여 상기 컨택터 접촉기와 일정 이격 거리를 유지하는 표시 패널 검사 장치.
5. 제 1 항에 있어서,
   상기 마이크로미터는,
   상기 고정플레이트의 일면에 장착된 마이크로미터 고정블록에 설치되며, 이송된 상기 패널 핀 블록의 위치가 접촉을 위한 검사위치와 맞지 않는 경우 상기 패널 이송 테이블의 일면에 설치된 스토퍼와 접촉된 상태에서 레버의 회전으로 상기 패널 이송 테이블의 전후진 이송 간격을 미세 조정하는 표시 패널 검사 장치.
6. 제 1 항에 있어서,
   상기 패널 이송 테이블은,
   상부에 상기 표시 패널의 실장 위치를 안내하는 패널 가이드; 및
   패널 가이드 영역 내 실장된 상기 표시 패널을 진공 흡착방식으로 고정하는 진공 흡착부를 포함하는 표시 패널 검사 장치.
7. 제 6 항에 있어서,
   상기 진공 흡착부는,
   복수의 패널 진공홀 및 FPCB 진공홀을 포함하고 상기 패널 이송 테이블의 상면에 접촉된 표시 패널의 패널과 FPCB를 진공 흡착하여 실장위치를 고정하는 표시 패널 검사 장치.
8. 제 1 항에 있어서,
   상기 컨택터 접촉기는,
   상기 고정플레이트의 일측면에 고정된 컨택 메인 블록의 하부에 수직으로 설치된 단동 실린더;
   상기 단동 실린더의 전진 및 후진 동작에 따라 수직으로 왕복 운동하며, 상기 컨택 메인 블록을 관통하여 상기 상부 핀 고정 블록에 연결되는 한 쌍의 제1 가이드 샤프트; 및
   상기 제1 가이드 샤프트가 관통하는 컨택 메인 블록과 상부 핀 고정 블록 사이에 안정적인 컨택을 위해 완충구조를 가지는 스프링과 스트로크 스토퍼를 포함하되, 상기 스프링은 상기 단동 실린더의 전진시 압축되고 후진 시 복원력으로 상기 상부 핀 고정블록의 상승을 돕는 표시 패널 검사 장치.
9. 제 8 항에 있어서,
   상기 컨택 메인 블록은,
   상부에 복수의 제2 가이드 샤프트가 수직으로 설치되고 각각 상부 핀 고정 블록을 관통하여 상기 상부 핀 고정 블록의 하강 및 상승을 가이드 하며,
   상기 제1 가이드 샤프트와 제2 가이드 샤프트는 각 샤프트 홀과 샤프트가 일정 여유공간을 가지는 표시 패널 검사 장치.
10. 제 8 항에 있어서,
    상기 단동 실린더는,
    포트에 공기(Air)를 공급하여 실린더 로드가 전진하면 실린더 로드 앤드에 결합된 샤프트 플레이트를 기준으로 서로 결합된 상기 제1 가이드 샤프트와 상기 상부 핀 고정 블록이 하강하여 상기 컨택터 핀 블록을 상기 패널 핀 블록에 접촉시키고,
    상기 공기 공급을 중단하면 실린더 내부 스프링과 상기 스프링의 복원력에 의해 상기 실린더 로드가 후진하여 상기 컨택터 핀 블록의 접촉을 해제시키는 표시 패널 검사 장치.
11. 제 1 항 및 제 3 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 표시 패널의 모델에 따라 상기 패널 핀 블록이 상부를 향하고 있으면 상부로부터 상기 컨택터 핀 블록을 수직으로 접촉시키는 상부 컨택트(Top Contact) 방식; 및
    상기 패널 핀 블록이 하부를 향하고 있으면 하부로부터 상기 컨택터 핀 블록을 수직으로 접촉시키는 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식을 선택적으로 지원하는 표시 패널 검사 장치.
12. 제 11 항에 있어서,
    상기 상부 컨택트 방식에 있어서,
    상기 컨택터 접촉기는, 상기 상부 핀 고정 블록의 하부에 완충 기능을 가지는 상부 핀 가이드 블록을 결합하고,
    상기 상부 핀 가이드 블록하부에 상기 컨택터 핀 블록이 하부를 향하도록 위치한 상부 핀 블록을 설치하는 표시 패널 검사 장치.
13. 제 11 항에 있어서,
    상기 하부 컨택트 방식에 있어서,
    상기 컨택터 접촉기는, 상기 상부 핀 고정 블록의 하부에 완충 기능을 가지는 상부 핀 가이드 블록을 결합하고,
    상기 패널 이송 테이블의 상부에 상기 컨택터 핀 블록이 상부를 향하도록 위치한 하부 핀 블록을 설치하는 표시 패널 검사 장치.
14. 공장에서 생산된 복수의 표시 패널을 검사하는 표시 패널 검사 장치의 표시 패널 검사 방법에 있어서,
    a) 본체에 복수로 배치된 패널 이송 테이블의 패널 가이드 영역에 각각 표시 패널이 실장 되면 상기 표시 패널을 컨택터 접촉기가 있는 검사위치로 수평 이송하는 단계;
    b) 상기 패널 이송 테이블에 의해 이송된 상기 표시 패널의 패널 핀 블록과 마주하는 위치에 컨택터 핀 블록이 위치한 상기 컨택터 접촉기의 단동 실린더를 통해 상부 핀 고정 블록을 수직으로 하강하여 상기 컨택터 핀 블록과 패널 핀 블록을 전기적으로 접촉시키는 단계;
    c) 전기적으로 접촉된 상기 패널 핀 블록을 통해 검사 신호를 인가하여 표시 패널의 패널을 점등시키고 디스플레이 특성을 검사하는 단계; 및
    d) 상기 검사가 완료되면 상기 단동 실린더를 통해 상기 상부 핀 고정 블록을 수직으로 상승하여 상기 컨택터 핀 블록과 패널 핀 블록의 접촉을 해제하는 단계
    를 포함하는 표시 패널 검사 방법.
15. 제 14 항에 있어서,
    상기 a) 단계는,
    상기 패널 가이드 영역 내에 복수로 구성된 패널 진공홀 및 연성회로기판(FPCB) 진공홀을 통해 상기 표시 패널의 패널 및 FPCB를 흡착하여 상기 표시 패널의 실장위치를 고정하는 단계를 포함하는 표시 패널 검사 방법.
16. 제 14 항에 있어서,
    상기 b) 단계는,
    상기 패널 핀 블록이 상부를 향하고 있는 경우 상부로부터 컨택터 핀 블록을 수직으로 접촉시키는 상부 컨택트(Top Contact) 방식으로 접촉시키는 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사 방법.
17. 제 14 항에 있어서,
    상기 b) 단계는,
    상기 패널 핀 블록이 하부를 향하고 있는 경우 하부로부터 컨택터 핀 블록을 수직으로 접촉시키는 하부 컨택트(Bottom Contact) 방식으로 접촉시키는 것을 특징으로 하는 표시 패널 검사 방법.
18. 제 14 항에 있어서,
    상기 d) 단계 이후에,
    상기 패널 이송 테이블을 복귀시켜 검사가 끝난 상기 표시 패널을 반송하는 단계를 더 포함하는 표시 패널 검사 방법.
19. 공장에서 생산된 복수의 표시 패널을 검사하기 위한 표시 패널 검사 장치에 있어서,
    본체에 각각 설치되며, 표시 패널의 수평 이송을 위한 레일과 수평 실린더를 포함하는 고정플레이트 상에 설치되어 상기 표시 패널을 수평 이송하는 패널 이송 테이블; 및
    단동 실린더를 통해 상부 핀 고정 블록을 상승하며, 이송된 상기 표시 패널의 패널 핀 블록과 수직으로 마주하는 위치에 검사신호 인가를 위한 컨택터 핀 블록을 위치시키고, 스프링의 복원력으로 상기 상부 핀 고정 블록을 하강하여 상기 컨택터 핀 블록과 패널 핀 블록을 전기적으로 접촉시키는 컨택터 접촉기를 포함하되,
    상기 단동 실린더는, 포트를 통해 공기를 공급(ON)하여 실린더 로드를 후진시키면, 실린더 로드 앤드에 연결된 샤프트 연결 플레이트를 기준으로 서로 결합된 한 쌍의 제1 가이드 샤프트에 의해 관통된 상기 스프링과 실린더 내부 스프링이 압축되고, 상기 포트를 통한 공기 공급을 중단(OFF)하면, 압축된 상기 스프링 및 실린더 내부 스프링의 복원력으로 상기 실린더 로드를 하부로 전진하는 표시 패널 검사 장치.
    
20. 삭제

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