KR101742093B1 - 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그 - Google Patents

Abstract

본 발명은 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 관한 것으로, 평판 디스플레이 모듈이 안착되는 제1프레임과, 전원 및 신호 전달을 위한 회로배선 및 소자, 그리고 상기 평판 디스플레이 모듈과의 전기적 연결을 위한 모듈연결용 커넥터 및 검사 장비와의 전기적 연결을 위한 장비연결용 커넥터를 포함하는 기판이 설치된 제2프레임으로 구성된 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 관한 것이다.

Description

평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그{JIG FOR TESTING FLAT PANEL DISPLAY MODULE}

본 발명은 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 관한 것으로, 보다 자세하게는 다양한 모델의 평판 디스플레이 모듈를 탑재할 수 있고 평판 디스플레이 모듈과의 커넥터 연결이 용이한 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 관한 것이다.

기술의 발전에 따라 기존의 텔레비젼과 컴퓨터 모니터 뿐만 아니라 핸드폰이나 태블릿 기기에 대한 평판 디스플레이 시장이 증가하고 있으며, 대표적인 디스플레이 패널로는 LCD, PDP, FED, LED 등이 널리 사용되고 있다.

또한, 최근에는 모바일 기기에 대한 수요가 높아지면서 모바일 기기를 생산하는 생산라인 중에는 모바일 기기에 사용되는 디스플레이 패널 예컨대, 액정디스플레이(LCD)나 유기발광다이오드(OLED) 모듈을 테스트하기 위한 검사 장비가 구비되어 있고, 일반적으로 이러한 검사 장비는 구동신호를 발생하는 신호발생기와 디스플레이모듈을 장착하는 지그(Jig)로 구성된다.

즉, 평판 디스플레이는 제조된 모듈 상태로 지그에 장착되어 입력패드를 통해 인가되는 구동신호에 의해 화상이 디스플레이되고 그 불량 여부를 판정한다.

상기에서 입력패드는 일측은 평판 디스플레이 모듈과 연결되고 타측은 검사 장비와 연결되는 것으로 검사 장비와의 연결지점에 검사 장비의 연결핀이 삽입되는 소켓이 위치한다. 따라서 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그는 평판 디스플레이 모듈의 입력패드에 따라 각각 다른 형태를 갖게 되므로 범용성이 부족하다는 단점이 있다.

또한, 테스트 공정별로 평판 디스플레이 모듈을 이송하면서 검사가 진행되고, 이 과정에서 각각의 테스트 공정에 사용되는 검사 장비와 평판 디스플레이 모듈을 연결해야 하므로 테스트 공정의 횟수만큼 평판 디스플레이 모듈의 연결·해제가 반복된다. 이로 인해, 연결 지점에서의 내구성이 저하되어 물리적 손상이 발생하게 되어 정확한 측정이 이루어지지 않는 단점이 있다.

대한민국 특허공개번호 2015-0038943호(2015.04.09) "표시 패널 검사용 지그 및 이를 포함하는 표시 패널 검사 장비"

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로, 테스트에 필요한 회로배선 및 소자, 그리고 평판 디스플레이 모듈 및 검사 장비와의 연결을 위한 커넥터 등을 포함하는 기판이 설치된 프레임에 다양한 크기의 평판 디스플레이 모듈을 수용함으로써 평판 디스플레이 모듈과 기판의 1회 연결로 모든 테스트 진행이 가능하고, 테스트 공겅 간 이동이 지그로서 이루어지는 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그를 제공하는 것을 발명의 목적으로 한다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 창안된 본 발명은 평판 디스플레이 모듈이 안착되는 제1프레임과, 상기 제1프레임의 일측에 연장되게 형성된 제2프레임을 포함하는 베이스 및 상기 제2프레임 상에 설치되며, 전원 및 신호 전달을 위한 회로배선 및 소자, 그리고 상기 평판 디스플레이 모듈과의 전기적 연결을 위한 모듈연결용 커넥터 및 검사 장비와의 전기적 연결을 위한 장비연결용 커넥터가 형성된 기판을 포함하는 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그를 제공한다.

여기서, 상기 제1프레임은 상기 평판 디스플레이 모듈이 안착되는 상부면에 상기 평판 디스플레이 모듈에 상응하는 형상의 홈부가 형성된 것과, 상기 제1프레임은 중앙에 개구부가 형성된 것을 특징으로 할 수 있다.

그리고, 상기 제2프레임은 상기 기판에 상응하는 크기로 형성하되 상기 기판의 가장자리를 제외한 나머지 공간에 대해 개방된 구조를 갖고, 이러한 제2프레임의 개방된 공간을 통해 노출되도록 상기 모듈연결용 커넥터는 기판의 하면에 형성되고, 상기 회로배선 및 소자는 상기 기판의 상면에 형성되는 것을 특징으로 할 수 있다.

또한, 상기 모듈연결용 커넥터와 상응하는 위치에 구비되되 상기 기판 표면에 탈부착되고, 상기 커넥터를 노출시키는 공극이 형성된 연결제거용 부재를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.

본 발명의 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 따르면, 검사 장비와의 접촉이 용이해지고 접촉 횟수를 줄일 수 있어 평판 디스플레이 모듈의 연결 신뢰성을 향상시킬 수 있으며 이에 따라 테스트 정확도를 높일 수 있다.

또한, 본 발명의 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그는 다양한 크기의 평판 디스플레이 모듈을 수용하므로 종래 범용성이 부족한 단점을 보완할 수 있다.

또한, 본 발명의 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그는 평판 디스플레이 모듈이 장착된 상태에서 지그 단위로 테스트 공정 간의 운송이 이루어지므로 경박단소화된 평판 디스플레이 모듈의 안정성을 보장할 수 있다.

도 1은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그의 평면도
도 2는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그의 정면도
도 3은 도 1에서 기판이 제거된 도면
도 4는 도 1에서 평판 디스플레이 모듈이 안착된 도면
도 5a와 도 5b는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 평판 디스플레이 모듈이 안착된 모습을 나타낸 사진

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 기술 등은 첨부되는 도면들과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있다. 본 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 함과 더불어, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공될 수 있다.

본 명세서에서 사용된 용어들은 실시 예를 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 다수형도 포함한다. 또한, 본 명세서에서 언급된 구성요소, 단계, 동작은 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.

한편, 도면의 구성요소는 반드시 축척에 따라 그려진 것은 아니고, 예컨대, 본 발명의 이해를 돕기 위해 도면의 일부 구성요소의 크기는 다른 구성요소에 비해 과장될 수 있다. 또한, 각 도면에 걸쳐 표시된 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭하고, 도시의 간략화 및 명료화를 위해, 도면은 일반적 구성 방식을 도시하고 있다, 또한, 본 발명의 설명된 실시 예의 논의를 불필요하게 불명료하도록 하는 것을 피하기 위해 공지된 특징 및 기술의 상세한 설명은 생략될 수 있다.

이하에서는 본 발명을 구현하기 위한 구체적인 실시예에 대하여 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그의 평면도, 도 2는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그의 정면도, 도 3은 도 1에서 기판이 제거된 도면, 도 4는 도 1에서 평판 디스플레이 모듈이 안착된 도면, 도 5a와 도 5b는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 평판 디스플레이 모듈이 안착된 모습을 나타낸 사진으로서 도 5a는 위에서 바라본 사진이고 도 5b는 바닥에서 바라본 사진이다.

도 1 내지 도 5b를 참조하면, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그(100)는 크게 베이스(110)와 기판(120)의 결합으로 이루어진다.

상기 기판(120)은 테스트가 진행되는 평판 디스플레이 모듈(1)에 전원 및 신호를 인가하기 위한 회로배선 및 소자, 그리고 평판 디스플레이 모듈(1) 및 검사 장비(도면 미도시)와의 연결을 위한 커넥터 등을 포함한다. 그리고 상기 베이스(110)는 제1프레임(111)과 제1프레임(111)의 일측에 연장되게 형성된 제2프레임(112)을 포함한다.

상기 제1프레임(111)은 그 상부면에 피검사체인 평판 디스플레이 모듈(1)이 안착되며, 테스트 종료 후 평판 디스플레이 모듈(1)의 이탈을 용이하도록 하기 위한 개구부(111a)가 중앙에 마련되어 있다. 또한, 평판 디스플레이 모듈(1)의 유동이 없도록 하기 위하여 평판 디스플레이 모듈(1)이 안착되는 부위에 평판 디스플레이 모듈(1)에 대응하는 형상을 갖는 홈부(111b)가 형성될 수 있다.

상기 홈부(111b)는 다양한 크기의 평판 디스플레이 모듈(1)이 수용될 수 있도록 복수의 홈이 계단식으로 형성된 구조로 형성될 수 있다. 즉, 가장 작은 크기의 홈이 최하부에 형성되고 그 위에 그보다 더 큰 크기의 홈이 차례로 형성되는 구조를 취할 수 있다.

상기 제2프레임(112)은 기판(120)에 대응하는 크기로 형성되고 나사 등의 결합부재(112a)를 통해 상기 기판(120)을 고정 설치한다. 따라서, 제2프레임(112)은 일반적으로 제1프레임(111)보다 작게 형성된다. 한편, 발명의 이해를 돕기 위해 지그(100)의 몸체를 그 기능에 따라 제1프레임(111)과 제2프레임(112)으로 구분하였을 뿐 본 발명의 지그(100) 제작 시 제1프레임(111)과 제2프레임(112)은 일체로 사출 성형될 수 있다.

보다 구체적으로, 상기 제2프레임(112)은 기판(120)의 가장자리를 제외한 나머지 공간에 대해 개방된 구조를 갖는다. 또한, 후설하는 FPCB(2)의 배치를 위해 제1프레임(111)과 제2프레임(112)의 연결부위 역시 개방된 형태가 된다. 이에 따라 제2프레임(112)은 'ㄷ' 형상이 되고 제1프레임(111)과 제2프레임(112)은 각각의 테두리가 이어지는 형태로 결합한다.

이러한 구조의 제2프레임(112) 위로 기판(120)이 설치됨에 따라 상기 기판(120)은 그 하방이 제2프레임(112)을 통해 노출되는 구조가 되며, 이하부터는 제2프레임(112)을 통해 노출되는 기판(120)의 일면을 기판(120)의 '하면'으로 정의하고, 그 반대편 면을 기판(120)의 '상면'으로 정의하기로 한다. 다만, 이러한 방향성은 설명의 편이를 위해 임의상 정할 것일 뿐 그 용어에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아님을 밝혀 둔다.

상기 제2프레임(112)과 접하는 기판(120)의 하면보다 기판(120)의 상면이 실장 공간에 있어 좀 더 여유가 있으므로 전원 및 신호 전달을 위한 회로배선 및 체크 포인트, 그리고 검사 장비와의 연결을 위한 커넥터(이하, 장비연결용 커넥터)(120b)는 기판(120)의 상면에 형성될 수 있다.

그리고 기판(120)의 하면에는 평판 디스플레이 모듈(1)과의 연결을 위한 커넥터(이하, 모듈연결용 커넥터)(120a)가 형성될 수 있다. 도면에 나타나 있지 않지만 상기 모듈연결용 커넥터(120a)는 비아를 통해 기판(120) 상면의 회로배선 및 체크 포인트 등에 전기적으로 연결된다.

이와 같이, 기판(120)의 하면에 모듈연결용 커넥터(120a)가 형성되더라도 제2프레임(112)의 개방된 공간을 통해 모듈연결용 커넥터(120a)는 외부로 노출되므로 평판 디스플레이 모듈(1)과의 컨택이 이루어질 수 있다. 또한, 본 발명은 실장 면적이 비교적 큰 모듈연결용 커넥터(120a)를 회로배선과 분리 배치함으로써 회로의 집적도를 높일 수 있다. 한편, 본 실시 예에서는 상기 장비연결용 커넥터(120b)가 기판(120)의 상면에 배치된 구조를 예시하고 있으나, 필요한 경우 기판(120)의 하면에 배치될 수도 있음은 물론이다.

상기 기판(120)과 평판 디스플레이 모듈(1) 간의 컨택은 입력패드 즉, 평판 디스플레이 모듈(1)로부터 인출되는 연성기판(Flexible Printed Circuit Board. 이하 FPCB)(2)을 통해 이루어진다. 즉, FPCB(2)는 제1 및 제2프레임(111,112)의 개방된 공간을 통해 모듈연결용 커넥터(120a)의 위치까지 인출되고 그 단부에 연결핀(2a)이 형성되어 모듈연결용 커넥터(120a)에 체결된다. 여기서, 상기 연결핀(2a)은 전원공급을 위한 연결핀과 신호전달을 위한 연결핀 등으로 구성될 수 있고, 이에 대응하여 상기 모듈연결용 커넥터(120a) 역시 전원공급용 연결핀에 체결되는 커넥터와 신호전달용 연결핀에 체결되는 커넥터 등으로 구성될 수 있다.

본 발명의 지그(100)를 사용하여 테스트 진행 시 장비연결용 커넥터(120b)를 통해 검사 장비마다 공통된 컨택 방식을 적용하므로 일단 평판 디스플레이 모듈(1)을 지그(100)에 장착하기만 하면 이후 테스트 공정 간의 이송은 지그 단위로 진행된다.

또한, 상기 기판(120)에는 테스트에 필요한 회로배선 및 소자가 모두 집약되어 있고 테스트 공정별로 체크 포인트가 분류되어 있어 모든 테스트 공정이 지그(100)에 대해 진행될 수 있다. 따라서, 종래에는 테스트 공정의 횟수만큼 평판 디스플레이 모듈(1)의 연결 및 해제를 반복하였으나, 본 발명에서는 평판 디스플레이 모듈(1) 장착 후 연결핀(2a)을 모듈연결용 커넥터(120a)에 1회 접속하면 되므로 반복되는 연결 및 해제로 인한 연결핀의 물리적 손상을 방지하고 연결 신뢰성을 크게 향상시킬 수 있다.

한편, 본 발명은 테스트 종료 후 연결 해제 시 기판(120)과 평판 디스플레이 모듈(1) 간의 분리를 용이하게 수행하기 위한 연결제거용 부재(121)를 더 포함한다.

상기 연결제거용 부재(121)는 소정 크기의 패드로서 기판(120) 표면에 돌출된 모듈연결용 커넥터(120a)의 높이에 상응하는 두께로 형성되고, 기판(120)의 하면 즉, 모듈연결용 커넥터(120a)가 형성된 기판(120) 표면에 탈부착 되게끔 구비된다. 이러한 연결제거용 부재(121)는 모듈연결용 커넥터(120a)와 상응하는 위치에 배치되고, 다만 연결핀(2a)과의 컨택을 위해 모듈연결용 커넥터(120a)를 노출시키는 공극(121a)을 갖는다. 상기 공극(121a)은 모듈연결용 커넥터(120a)와 동일한 모양으로 형성되는 것이 바람직하다.

상기 연결제거용 부재(121)가 기판(120) 표면에 부착된 상태에서, FPCB(2)의 연결핀(2a)은 상기 공극(121a)을 통해 모듈연결용 커넥터(120a)에 체결되고, 체결 해제 시 기판(120)으로부터 이격되는 연결제거용 부재(121)에 의해 연결핀(2a)도 함께 밀려나 모듈연결용 커넥터(120a)로부터 안정되게 분리된다.

이처럼, 기판(120) 표면에 대해 탈부착이 가능한 연결제거용 부재(121)를 구현하기 위한 구조로서, 기판(120)을 관통하는 돌출부(121b)가 연결제거용 부재(121)에 일체로 형성될 수 있다. 상기 돌출부(121b)의 두께는 기판(120)보다 크고, 따라서 돌출부(121b)의 끝을 끼움부재(121c)로 결합하면 연결제거용 부재(121)는 기판(120) 표면에 이격되게 설치됨으로써 기판(120) 표면에 탈부착된다. 물론, 이외에도 통상의 구조로서 탈부착 가능한 연결제거용 부재(121)를 구현할 수 있고, 본 발명이 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.

이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하는 것이다. 또한, 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내고 설명하는 것에 불과하며, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있다. 즉, 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위 내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 전술한 실시 예들은 본 발명을 실시하는데 있어 최선의 상태를 설명하기 위한 것이며, 본 발명과 같은 다른 발명을 이용하는데 당업계에 알려진 다른 상태로의 실시, 그리고 발명의 구체적인 적용 분야 및 용도에서 요구되는 다양한 변경도 가능하다. 따라서, 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한, 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.

100: 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그
110: 베이스 111: 제1프레임
112: 제2프레임 120: 기판
120a: 모듈연결용 커넥터 120b: 장비연결용 커넥터
121: 연결제거용 부재

Claims (6)

1. 평판 디스플레이 모듈이 안착되는 제1프레임과, 상기 제1프레임의 일측에 연장되게 형성된 제2프레임을 포함하는 베이스; 및
   상기 제2프레임 상에 설치되며, 전원 및 신호 전달을 위한 회로배선과 소자, 그리고 상기 평판 디스플레이 모듈과의 전기적 연결을 위한 모듈연결용 커넥터 및 검사 장비와의 전기적 연결을 위한 장비연결용 커넥터가 형성된 기판;을 포함하며.
   상기 베이스부의 상기 제1프레임은; 그 상부면에 평판 디스플레이 모듈이 안착되어 테스트를 종료 후 평판 디스플레이 모듈의 이탈을 용이할 수 있도록 중앙에 개구부가 형성되며, 평판 디스플레이 모듈의 유동이 없도록 평판 디스플레이 모듈이 안착되는 부위에 평판 디스플레이 모듈에 대응하는 형상을 갖는 홈부가 형성되며,
   상기 홈부는; 다양한 크기의 평판 디스플레이 모듈이 수용될 수 있도록 복수의 홈이 계단식으로 형성된 구조로 형성되며, 상기 홈은 가장 작은 크기의 홈이 최하부에 형성되고 그 위에 그보다 더 큰 크기의 홈이 차례로 형성되는 구조로 형성되며,
   상기 베이스부의 제2프레임은; 상기 기판에 상응하는 크기로 형성되되 상기 기판의 가장자리를 제외한 나머지 공간에 대해 개방된 구조를 갖으며,‘ㄷ’자 형상으로 형성되며, 나사 등의 결합부재에 의하여 상기 기판에 고정 설치하며,
   상기 베이스부의 상기 제1프레임과 상기 베이스부의 제2프레임은 각각의 테두리가 이어지는 형태로 결합되며,
   상기 기판의 모듈연결용 커넥터는; 상기 평판 디스플레이 모듈과의 연결을 위하여 상기 제2프레임의 개방된 공간을 통해 노출되도록 상기 기판의 하면에 형성되고, 상기 회로배선 및 소자는 상기 기판의 상면에 형성되며,
   상기 모듈연결용 커넥터와 상응하는 위치에 구비되되, 상기 기판의 표면에 탈부착되고 상기 커넥터를 노출시키는 공극이 형성된 연결제거용 부재;를 더 포함하며,
   상기 연결제거용 부재는; 패드로서 기판 표면에 돌출된 모듈연결용 커넥터의 높이에 상응하는 두께로 형성되고, 모듈연결용 커넥터가 형성된 기판 표면에 탈부착 되도록 구비되며, 연결핀과의 전기적인 연결을 위해 모듈연결용 커넥터를 노출시키기 위하여 모듈연결용 커넥터와 동일한 모양으로 형성되는 공극을 갖으며,
   상기 연결제거용 부재가 기판 표면에 부착된 상태에서, FPCB의 연결핀은 상기 공극을 통해 모듈연결용 커넥터에 체결되고, 체결 해제 시 기판으로부터 이격되는 연결제거용 부재에 의해 연결핀도 함께 밀려나 모듈연결용 커넥터로부터 안정되게 분리되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그.
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