CN109039333A - 增益控制放大装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种范围较大且高精度的增益控制放大装置，用于使作为测定对象的电流适合于A/D转换器的输入范围。该增益控制放大装置包括：针对测定对象电流或电压具有不同增益的多个差动放大器(A1、A2)；对差动放大器的输出(Va2)和阈值电压(Vref)进行比较的阈值控制电路(A3)；基于阈值控制电路(A3)的输出选择多个差动放大器(A1、A2)的其中一个差动放大器的输出的开关(M1、M2)；以及用于将偏移电压与其中一个差动放大器的输出相加的偏移控制电路(OF)和加法电路(KA)。

Description

增益控制放大装置
技术领域
本发明涉及一种增益控制放大装置，用于控制放大以使作为测定对象的电流或电压适合于A/D转换器的输入范围。
背景技术
电流或电压的测定器中，将以一定增益放大后的输入电压输入到微机通常附带的A/D转换器，从而对测定对象电流或电压进行测定。确定A/D转换器的最小输入电压和最大输入电压，且其比特数决定了测定对象的精度。并且决定上述增益，使其适合于该A/D转换器的输入电压范围。
例如，如图6所示，想要对流过分流电阻Rshunt的电流进行测定。在微机内置的A/D转换器的规格为输入电压范围0V～5V、精度10bit((5-0)/(210)＝约4.88mV)、分流电阻Rshunt为1mΩ、测定对象电流0～5A的情况下，为了充分利用A/D转换器的范围和精度，将差动放大器A1的增益R2/R1设定为1000即可。此时的电流检测精度为约4.88mA。
然而，对于测定对象电压或电流的精度要求不一定要在测定范围内是相同的，有时会在电压或电流较小时要求较高的精度，反之在电压或电流较大时允许较低的精度。例如，假设0[A]～0.5[A]的检测精度为2[mA]，0.5[A]～5[A]的检测精度为6[mA]即可。
在上述差动放大器A1中，在所要求的测定精度不一定在测定范围内是相同的情况下，对于要求精度较高的一方来说，测定范围将会不够，而对于要求精度较低的一方来说，将无法满足低范围的检测精度。此外，若利用开关或继电器来切换上述测定电路，则必须将从电流导出的运算结果反馈至开关控制，从而在响应性方面无法满足要求。
另一方面，在将检测信号转换成模拟电信号输入至A/D转换器，并利用转换后的数字信号对检测信号的电平进行测定的情况下，包含在模拟电信号中的不需要的直流偏移电压的大小会导致超过A/D转换器的输入范围。为了去除上述偏移电压，已知有如下发明：向差动放大器的一个输入端输入检测信号，向另一个输入端反馈输入偏移去除电压，从而高精度地去除叠加有不需要的直流分量的信号的偏移(参照专利文献1)。
此外，在测定像电流的大小、或与电流相关联的电学量、功率量等物理量的情况下，为了将电流转换成电压而使用I/V转换电阻，但以往是根据作为对象的电流的大小，通过利用开关、继电器、或半导体开关切换(范围切换)多种不同电阻值的I/V转换电阻来进行测定。
上述测定方法对于动态范围较大且高速变化的电流一般难以进行范围切换，在测定对象电流较小而使得半导体开关的漏电流的影响成为误差主要原因的情况下难以得到实用。
因此，为了解决该问题，已知有如下发明：设置误差放大用运算放大器和将I/V转换电阻设为负反馈电阻的I/V转换用运算放大器，分别将电流通/断用的半导体开关的一个端子连接至误差放大用运算放大器的反相输入端子，将另一个端子连接至I/V转换用运算放大器的反相输入端子，利用范围通/断用的半导体开关，能够选择I/V转换用运算放大器的非反相输入端子的连接对象是误差放大用运算放大器的输出还是接地，通过使电流通/断用的半导体开关和范围通/断用的半导体开关的双方或某一方通/断，从而获得由半导体开关的漏电流或偏置电流而引起的测定误差较少的电流/电压转换电路(参照专利文献2)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本专利特开2007－88845号公报
专利文献2：日本专利第4800371号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
专利文献1高精度地去除叠加了不需要的直流分量的信号的偏移，但并没有对测定范围较大的测定对象进行应对，仍必须反馈偏移去除电压，从而响应性上存在问题。
此外，专利文献2是用于提供一种由半导体开关的漏电流、偏置电流而引起的测定误差较少的电流/电压转换电路的发明，并非是根据要求适当地调谐测定范围和精度的发明，并且电路结构也较复杂。
本发明是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供一种增益控制放大装置，其能根据要求适当地对测定范围和精度进行动态控制。
解决技术问题的技术方案
本发明所涉及的增益控制放大装置包括：针对测定对象电流或电压具有不同增益的多个差动放大器；对差动放大器的输出和阈值电压进行比较的阈值控制电路；基于阈值控制电路的输出选择多个差动放大器的其中一个差动放大器的输出的开关；以及用于将偏移电压与其中一个差动放大器的输出相加的偏移控制电路和加法电路。
发明效果
根据本发明，即使在测定对象电流或电压的测定范围较大并且要求高精度的情况下，也能通过根据要求适当地调谐测定范围和检测精度，从而实时地满足精度要求，而不会不必要地使用昂贵的A/D转换器并且使测定范围变窄，也不会损害响应性。
附图说明
图1是表示本发明实施方式1中的增益控制放大装置的结构的图。
图2是表示基于本发明实施方式1中的增益控制放大装置来实现不同的要求精度的放大率和偏移的图。
图3是表示针对于高精度要求的放大率的图。
图4是表示针对于低精度要求的放大率和偏移的图。
图5是表示测定对象电流的输入例的图。
图6是表示一般的差动放大电路的结构的图。
具体实施方式
实施方式1.
以下，基于图1至图5对本发明实施方式1所涉及的增益控制放大装置进行说明。
图1是本发明实施方式1所涉及的增益控制放大装置的电路结构图，增益控制放大装置包括：用于对测定对象电流I0进行测定的分流电阻Rshunt；具有不同增益的多个差动放大器A1、A2；差动放大器A1、A2的输入电阻R1及反馈电阻R2、R3；PMOS开关M1；NMOS开关M2；通过与阈值电压Vref比较来进行MOS开关M1和M2的通/断控制的阈值控制电路A3；用于向差动放大器A2的输出电位提供偏移电压的偏移控制电路OF和加法电路KA；以及作为连接到MCU(微机)的A/D输入的接口的输出电压端子V3，输出电压端子V3(端子的电压设为V3)通常连接至MCU的A/D转换器的输入端子。
此处，差动放大器A1是实现高增益R2/R1的高精度放大器，差动放大器A2是实现低增益R3/R1的低精度放大器。此外，阈值电压Vref设为用于排除由差动放大器A1、A2分别测定的范围外测定结果的基准值，可适当地进行改变。
本发明中，取决于所要求的检测精度，准备具有多个检测精度和增益的差动放大器A1、A2。例如与上述示例相同，若要求0[A]～0.5[A]的检测精度为2[mA]，0.5[A]～5[A]的检测精度为6[mA]，则准备2个具有该检测精度的差动放大器。
如图2所示，针对于电流检测范围0[A]～0.5[A]的测定结果，分配A/D转换器的输入范围为0[V]～1.25[V]的28个步长(s t e p)，针对于电流检测范围0.5[A]～5[A]的测定结果，分配A/D转换器的输入范围为1.25[V]～5[V]的3×28个步长，从而进行10比特(b i t)的输入范围分配(210)。于是，前者的检测范围为约1.95[mA]，后者的检测范围为约5.86[mA]，满足检测精度要求。对于输入电流的放大增益分别为2500倍和833倍。
前者的电流测定范围为0[A]～0.5[A]，如图3所示，输出2500倍的值，排除超过0.5[A]的测定结果。后者的电流测定范围为0.5[A]～5[A]，如图4所示，输出833倍的值，排除0.5[A]以下的测定结果，并且必须将作为该电流测定结果的差动放大电压值约0.4165[V]校正(偏移)到1.25[V]。进行该偏移的理由是为了在切换想要设为有效的差动放大器的输出时，缓和因双方的差动放大器的增益不同而产生的差异。
为了排除范围外测定结果，如图1所示，使用此处将阈值电压Vref设定为约0.4165[V]的阈值控制电路A3。即，在差动放大器A2的输出Va2小于阈值电压Vref时，使PMOS开关M1导通，使NMOS开关M2截止，来输出差动放大器A1的输出Va1。此外，在差动放大器A2的输出Va2为阈值电压Vref以上时，使PMOS开关M1截止，使NMOS开关M2导通，来输出差动放大器A2的输出Va2。此时，为了使0.5[A]时的输出Va2的值0.4165[V]偏移到1.25V，使用偏移控制电路OF，并利用加法电路KA将该偏移电压值与测定结果相加。
如上所述，本发明中，根据测定对象电流I0经由分流电阻Rshunt而在端子V1和端子V2上产生的电压差(V2-V1)的测定量，动态地切换所使用的差动放大器A1和差动放大器A2，并且将该电压差(V2-V1)转换成规定的输出电压V3，使用微机根据该电压V3进行测定对象电流I0的判断。
即，MCU根据经由A/D转换器输入的电压值，以相应的测定精度使输入电压标准化，并使用在MCU内部存储的转换映射来倒算原先的输入电流值，在本例中，范围为0[V]～5[V]，步长为10bit，即210＝1024，因此上述的测定精度为4.88m[V]。
【实施例1】
在本实施例1中，对于经由本发明的增益控制放大装置测定图5所示的输入电流的实施例进行阐述。电流测定对象设为凸轮轴位置、车辆速度、加热器等动态地变化的模拟值，横轴为测定时间[ms]，纵轴为测定时间下的输入电流[A]。
在图5中，各时刻下的输入电流是：T1[ms]:0.3[A]，T2[ms]:0.5[A]，T3[ms]:1.6[A]，T4[ms]:0.5[A]，T5[ms]:0.4[A]。差动放大器A1和差动放大器A2的增益如上所述，分别为2500倍和833倍，分流电阻Rshunt为1mΩ，阈值电压Vref为0.4165[V]，偏移电压Voffset为(1.25-0.4165)＝0.8335[V]。以下，按照时序说明电路动作。
在时刻T1时，V2-V1＝0.3[A]×0.001[Ω]＝0.3[mV]，因此Va1、Va2分别为0.3×2500＝0.75[V]、0.3×833＝0.25[V]。此处，Va2＜Vref，因此PMOS开关M1导通，NMOS开关M2截止，差动放大器A1的输出Va1的电压0.75[V]直接输出到输出电压端子V3，并被A/D转换器读取。如图3、图4所示，MCU中预先存储有用于从A/D转换器读取到的输入电压值逆向转换为原先的电流值的表格，从而计算出原先的电流值。
在时刻T2，V2-V1＝0.5[A]×0.001[Ω]＝0.5[mV]，因此Va1、Va2分别为0.5×2500＝1.25[V]、0.5×833＝0.4165[V]。此处，Va2的值将要超过阈值电压Vref，因此PMOS开关M1由导通切换成截止，NMOS开关M2由截止切换成导通，输出到输出电压端子V3的电压值切换为差动放大器A2的输出Va2加上加法电路KA要进行相加的相加(偏移)值，本示例中为加上0.8335[V]后得到的值，即切换成0.4165+0.8335＝1.25[V]。
在时刻T3时，V2-V1＝1.6[A]×0.001[Ω]＝1.6[mV]，因此Va1、Va2分别为1.6×2500＝4.000[V]、1.6×833＝1.333[V]。此处，Va2＞Vref，因此PMOS开关M1截止，NMOS开关M2导通，差动放大器A2的输出Va2的电压1.333[V]与0.8335[V]相加后得到的电压2.1665[V]输出到输出电压端子V3，并被A/D转换器读取。与上述相同，在MCU中，利用从A/D转换器所读取到的输入电压值进行逆向转换的表格，来计算原先的电流值。
在时刻T4，V2-V1＝0.5[A]×0.001[Ω]＝0.5[mV]，因此Va1、Va2分别为0.5×2500＝1.25[V]、0.5×833＝0.4165[V]。此处，Va2的值将要低于阈值电压Vref，因此PMOS开关M1由截止切换成导通，NMOS开关M2由导通切换成截止，输出到输出电压端子V3的电压值切换成差动放大器A1的输出Va1的1.25[V]，该输出到输出电压端子V3的电压值在这之前是差动放大器A2的输出Va2加上加法电路KA要进行相加的相加值后得到的值。
在时刻T5时，V2-V1＝0.4[A]×0.001[Ω]＝0.4[mV]，因此Va1、Va2分别为0.4×2500＝1.000[V]、0.4×833＝0.333[V]。此处，Va2＜Vref，因此PMOS开关M1导通，NMOS开关M2截止，差动放大器A1的输出Va1的电压1.000[V]直接输出到输出电压端子V3，并被A/D转换器读取。与上述相同，在MCU中，利用从A/D转换器所读取到的输入电压值进行逆向转换的表格，来计算原先的电流值。
由此，能根据输入电流，动态地切换所需要的增益和偏移电压，能确保要求电流精度。此外，虽然将电流作为测定对象进行了说明，但将电压作为测定对象的情况也相同。
如上所述，本发明使用具有不同的检测精度和增益的差动放大器，根据作为输出接口的A/D转换器的存储比特数和输入电压规格，计算要求精度切换阈值，对高精度放大器和低精度放大器进行分配，并设定各个放大器的增益，使得A/D转换器的输入范围与各个放大器的输出电压相匹配。通过将设定好的切换点作为阈值的阈值控制电路，来切换要设为有效的放大器的输出，为了缓和因双方的放大器的增益不同而产生的差异，使用偏移控制电路，并利用加法电路使由偏移控制电路提供的偏移电压值与测定结果相加。
由此，即使在测定范围较大并且要求高精度的情况下，也能根据电流或电压的测定值自动地对测定精度进行动态控制。
以上，对本发明的实施方式进行了阐述，但本发明并不局限于实施方式，能进行各种设计变更，在其发明的范围内，能够对实施方式进行适当变形、省略。
工业上的实用性
本发明适用于搭载在汽车上的传动系统用电子元器件。
标号说明
A1、A2：差动放大器
R1：输入电阻
R2、R3：反馈电阻
M1：PMOS开关
M2：NMOS开关
A3：阈值控制电路
OF：偏移控制电路
KA：加法电路
V3：输出电压端子。

Claims (3)

1.一种增益控制放大装置，其特征在于，包括：
多个差动放大器，该多个差动放大器对于测定对象电流或电压具有不同的增益；阈值控制电路，该阈值控制电路对所述差动放大器的输出和阈值电压进行比较；开关，该开关基于所述阈值控制电路的输出选择多个所述差动放大器的其中一个差动放大器的输出；以及偏移控制电路和加法电路，该偏移控制电路和加法电路用于将偏移电压与所述其中一个差动放大器的输出相加。
2.如权利要求1所述的增益控制放大装置，其特征在于，
对于多个所述差动放大器，分配高精度放大器和低精度放大器，所述阈值控制电路对所述低精度放大器的输出电压和阈值电压进行比较，在所述输出电压小于所述阈值电压的情况下，使所述开关选择所述高精度放大器的输出。
3.如权利要求1或2所述的增益控制放大装置，其特征在于，
对于多个所述差动放大器，分配高精度放大器和低精度放大器，所述阈值控制电路对所述低精度放大器的输出电压和阈值电压进行比较，在所述输出电压大于所述阈值电压的情况下，使所述开关选择所述低精度放大器的输出，并且所述偏移控制电路和加法电路将偏移电压与所述低精度放大器的输出相加。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11283613B2 (en) * 2019-10-17 2022-03-22 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Secure control of intelligent electronic devices in power delivery systems

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1380743A (zh) * 2001-03-16 2002-11-20 株式会社东芝 偏移补偿电路及偏移补偿方法
JP2002352348A (ja) * 2001-05-28 2002-12-06 Matsushita Electric Works Ltd 煙感知器の感度試験方法
US20030160653A1 (en) * 2002-02-28 2003-08-28 Pioneer Corporation BTL amplifying system
US20050151587A1 (en) * 2002-10-08 2005-07-14 Masayuki Ozasa Differential amplifier and calculation amplifier
JP2005323207A (ja) * 2004-05-10 2005-11-17 Shimada Phys & Chem Ind Co Ltd 信号変換装置および信号処理方法
CN101420209A (zh) * 2008-11-21 2009-04-29 北京时代民芯科技有限公司 一种高速大动态范围数字化自动增益控制电路
CN101860335A (zh) * 2010-06-03 2010-10-13 复旦大学 一种双输入运算放大器共享的余量增益放大电路
CN102288802A (zh) * 2010-05-12 2011-12-21 吉歌网络有限公司 测量高压ac信号的方法以及电路
JP2013167546A (ja) * 2012-02-16 2013-08-29 Tdk Corp 電流測定回路
CN103944523A (zh) * 2014-04-26 2014-07-23 长沙云腾微电子有限公司 一种可编程增益放大器
CN104936115A (zh) * 2014-03-18 2015-09-23 英飞凌科技股份有限公司 麦克风封装体以及用于提供麦克风封装体的方法
CN105136281A (zh) * 2015-10-14 2015-12-09 基康仪器股份有限公司 振弦式传感器的频率测量装置和方法
JP2015233296A (ja) * 2015-07-13 2015-12-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0563572A (ja) * 1991-09-04 1993-03-12 Hitachi Ltd 自動ゲイン切替機能付信号処理装置
JPH0843455A (ja) * 1994-08-01 1996-02-16 Oki Micro Design Miyazaki:Kk 絶対値回路
JPH1038509A (ja) * 1996-07-23 1998-02-13 Ando Electric Co Ltd 電気マイクロメータ
JP3999414B2 (ja) * 1999-07-30 2007-10-31 富士通株式会社 電流モニター回路
JP4719972B2 (ja) * 2000-12-11 2011-07-06 富士電機システムズ株式会社 充放電電流測定装置
JP4250984B2 (ja) * 2003-03-24 2009-04-08 ミツミ電機株式会社 電流検出回路
JP2006266738A (ja) * 2005-03-22 2006-10-05 Denso Corp 感度切換型センサ回路及び感度切換型センサ回路を用いる電子回路装置
JP2007088845A (ja) 2005-09-22 2007-04-05 Sentencia Corp オフセット除去回路
JP4800371B2 (ja) 2008-07-30 2011-10-26 富士男 小澤 レンジ切り替え回路
JP2011109352A (ja) * 2009-11-17 2011-06-02 Ricoh Co Ltd アナログフロントエンド回路
JP2011139259A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Fujitsu Ltd Ａ／ｄ変換方法、ａ／ｄ変換装置および読出回路
US9993386B2 (en) * 2013-11-29 2018-06-12 Louis G. RACETTE Instrumentation absolute value differential amplifier circuit and applications

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1380743A (zh) * 2001-03-16 2002-11-20 株式会社东芝 偏移补偿电路及偏移补偿方法
JP2002352348A (ja) * 2001-05-28 2002-12-06 Matsushita Electric Works Ltd 煙感知器の感度試験方法
US20030160653A1 (en) * 2002-02-28 2003-08-28 Pioneer Corporation BTL amplifying system
US20050151587A1 (en) * 2002-10-08 2005-07-14 Masayuki Ozasa Differential amplifier and calculation amplifier
JP2005323207A (ja) * 2004-05-10 2005-11-17 Shimada Phys & Chem Ind Co Ltd 信号変換装置および信号処理方法
CN101420209A (zh) * 2008-11-21 2009-04-29 北京时代民芯科技有限公司 一种高速大动态范围数字化自动增益控制电路
CN102288802A (zh) * 2010-05-12 2011-12-21 吉歌网络有限公司 测量高压ac信号的方法以及电路
CN101860335A (zh) * 2010-06-03 2010-10-13 复旦大学 一种双输入运算放大器共享的余量增益放大电路
JP2013167546A (ja) * 2012-02-16 2013-08-29 Tdk Corp 電流測定回路
CN104936115A (zh) * 2014-03-18 2015-09-23 英飞凌科技股份有限公司 麦克风封装体以及用于提供麦克风封装体的方法
CN103944523A (zh) * 2014-04-26 2014-07-23 长沙云腾微电子有限公司 一种可编程增益放大器
JP2015233296A (ja) * 2015-07-13 2015-12-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置
CN105136281A (zh) * 2015-10-14 2015-12-09 基康仪器股份有限公司 振弦式传感器的频率测量装置和方法

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