CN108828350A - 一种测试方法 - Google Patents

一种测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108828350A
CN108828350A CN201810420972.4A CN201810420972A CN108828350A CN 108828350 A CN108828350 A CN 108828350A CN 201810420972 A CN201810420972 A CN 201810420972A CN 108828350 A CN108828350 A CN 108828350A
Authority
CN
China
Prior art keywords
tested
test fixture
electronic product
instruction
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201810420972.4A
Other languages
English (en)
Inventor
李东声
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
World Finance & Electronics (tianjin) Co Ltd
Original Assignee
World Finance & Electronics (tianjin) Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by World Finance & Electronics (tianjin) Co Ltd filed Critical World Finance & Electronics (tianjin) Co Ltd
Priority to CN201810420972.4A priority Critical patent/CN108828350A/zh
Publication of CN108828350A publication Critical patent/CN108828350A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明提供一种测试方法,该方法包括:控制端在启动按键的状态值为第二状态值时,向测试工装发送上电指令;测试工装接收上电指令,根据上电指令给N个待测试电子产品同时进行上电,控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,控制端向测试工装发送待下载信息,测试工装接收待下载信息,利用待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,控制端向测试工装发送老化测试指令;测试工装接收老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,控制端向测试工装发送下电指令;测试工装接收下电指令,根据下电指令给N4个老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电。

Description

一种测试方法
技术领域
本发明涉及一种电子技术领域,尤其涉及一种测试方法。
背景技术
电子产品在出厂之前,通常需要进行产品测试以确定产品的性能是否稳定和质量是否达标。现有技术中,采用人力手动进行产品测试,测试效率较低,测试效果无法保证。
发明内容
本发明旨在解决上述问题。
本发明的主要目的在于提供一种测试方法。
为达到上述目的,本发明的技术方案具体是这样实现的:
本发明提供了一种测试方法,包括:控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值;所述控制端在所述启动按键的状态值为第一状态值时,继续监测并获取所述测试工装上启动按键的状态值;在所述启动按键的状态值为第二状态值时,向所述测试工装发送上电指令;所述测试工装接收所述上电指令,根据所述上电指令给N个所述待测试电子产品同时进行上电,其中,所述N为正整数;所述控制端获取所述上电的结果,根据所述上电的结果生成第一控制指令;向所述测试工装发送所述第一控制指令;所述测试工装接收所述第一控制指令,根据所述第一控制指令控制所述测试工装上与N个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自上电的结果;所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,所述N1为正整数且小于等于N;所述控制端获取所述过流检测的结果,根据所述过流检测的结果生成第二控制指令;向所述测试工装发送所述第二控制指令;所述测试工装接收所述第二控制指令,根据所述第二控制指令控制所述测试工装上与N1个所述上电成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的过流检测的结果;所述控制端向所述测试工装发送待下载信息,所述测试工装接收所述待下载信息,利用所述待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,所述N2为正整数且小于等于N1;所述控制端获取所述下载流程的进程,并向所述测试工装发送进程指示信息,所述进程指示信息用于指示所述下载流程的进程,所述测试工装接收到所述进程指示信息,根据所述进程指示信息控制所述测试工装上的第二指示部件指示所述下载流程的进程;所述控制端获取所述待测试电子产品的下载流程的执行结果,根据所述下载流程的执行结果生成第三控制指令;向所述测试工装发送所述第三控制指令;所述测试工装接收所述第三控制指令,根据所述第三控制指令控制所述测试工装上与N2个所述过流检测通过的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的下载流程的执行结果;所述控制端向所述测试工装发送老化测试指令;所述测试工装接收所述老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,所述N3为正整数且小于等于N2;所述控制端获取所述老化测试的结果,根据所述老化测试的结果生成第四控制指令;向所述测试工装发送所述第四控制指令;所述测试工装接收所述第四控制指令,根据所述第四控制指令控制所述测试工装上与N3个所述下载流程执行成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的老化测试的结果;所述控制端向所述测试工装发送下电指令;所述测试工装接收所述下电指令,根据所述下电指令给N4个所述老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电,所述N4为正整数且小于等于N3。
此外,在控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值之前,还包括:所述控制端获取测试工装上的当前时间;所述控制端将所述控制端的本地时间同步设置为所述测试工装上的当前时间。
此外,所述待下载信息至少包括:所述控制端的本地时间和所述测试工装的标识。
此外,所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,包括:所述控制端向所述测试工装发送第一电压调整指令,所述测试工装接收所述第一电压调整指令,并根据所述第一电压调整指令进行第一电压调整,所述第一电压调整为:将所述N1个上电成功的待测试电子产品各自的供电电压同时调整为第一电压值,所述第一电压值为所述待测试电子产品支持的供电电压范围中的最大值和最小值中的一个;所述控制端向所述测试工装发送第一流检测指令,所述测试工装接收所述第一过流检测指令,获取并向所述控制端发送经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品各自的电流值,所述控制端接收经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值,并分别判断经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值是否超出预设过流门限值,其中,第一过流检测的结果未通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值,第一过流检测的结果通过是指经过所述第一电压调整后的所述待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值;所述控制端再次向所述测试工装发送第二电压调整指令;所述测试工装接收所述电压调整指令,并根据所述第二电压调整指令进行第二电压调整,所述第二电压调整为将所述第一过流检测的结果通过的各个待测试电子产品各自的供电电压同时调整为第二电压值,所述第二电压值为所述待测试电子产品支持的供电电压范围中的最大值和最小值中的另一个;所述控制端向所述测试工装发送第二过流检测指令,所述测试工装接收所述第二过流检测指令,获取并向所述控制端发送经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中的电流值,所述控制端接收经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中的电流值,并分别判断经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值是否超出预设过流门限值,其中,第二过流检测的结果未通过是指经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值,第二过流检测的结果通过是指经过所述第二电压调整后的所述待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值;其中,过流检测的结果通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值且经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值,过流检测的结果未通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值或经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值。
此外,所述对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试包括:对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时进行预设次数的上下电。
由上述本发明提供的技术方案可以看出,本发明提供了一种测试方法,可以同时对多个待测试电子产品进行上电、过流检测、信息下载、老化测试下电等一系列的测试,与现有技术中需要人工对电子产品进行逐个测试相比,节省了人力成本,实现了测试的自动化,提高了测试效率。由于整个测试过程均有控制端通过相应指令控制测试工装统一并同步对多个待测试电子产品进行测试,将减少测试过程中的出错率,改善测试效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他附图。
图1为本发明实施例1提供的测试方法的流程图。
具体实施方式
下面结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明的保护范围。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或数量或位置。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面将结合附图对本发明实施例作进一步地详细描述。
实施例1
本实施例提供一种测试方法,包括:
步骤101、控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值;所述控制端在所述启动按键的状态值为第一状态值时,继续监测并获取所述测试工装上启动按键的状态值;
本实施例中,控制端用于控制测试工装进行电子产品的测试流程。该控制端可以为PC机等设备,测试工装上设有至少一个测试位,每个测试位用于放置一个待测试电子产品。
该测试工装上还设有启动按键,用于启动测试工装,以便开始后续的测试。若该启动按键的状态值为第一状态值时,说明该启动按键未被按下,需要继续检测该启动按键是否被按下;若启动按键的状态值为第二状态值时,说明该启动按键被按下,则可以继续进行后续的测试流程。
本实施例中,测试工装可以为用于测试电子签名工具的工装,待测试电子产品为电子签名工具。
作为本实施例的一种可选实现方式,在控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值之前,测试方法还包括:所述控制端获取测试工装上的当前时间;所述控制端将所述控制端的本地时间同步设置为所述测试工装上的当前时间。
本实施例中,该测试工装上的当前时间表示的是通过该测试工装对待测试电子产品执行测试的时间。控制端将控制端的本地时间和测试工装上的时间进行同步设置后,可以避免控制端的本地时间和测试工装上的时间不一致导致测试时间出现混乱或者无法确定测试时间的问题。
步骤102、所述控制端在所述启动按键的状态值为第二状态值时,向所述测试工装发送上电指令;所述测试工装接收所述上电指令,根据所述上电指令给N个所述待测试电子产品同时进行上电,其中,所述N为正整数;所述控制端获取所述上电的结果,根据所述上电的结果生成第一控制指令;向所述测试工装发送所述第一控制指令;所述测试工装接收所述第一控制指令,根据所述第一控制指令控制所述测试工装上与N个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自上电的结果;
本实施例中,测试工装收到控制端发送的上电指令后,同时给N个待测试电子产品进行上电测试,与现有技术中逐个对待测试电子产品进行测试相比,本实施例可以实现对多个待测试电子产品的上电测试,提高了上电测试的效率。
本实施例中,该测试工装上每个测试位均设有第一指示部件,该第一指示部件可以为指示灯,可以用于指示待测试电子产品上电的结果,例如,第一指示部件点亮表示上电成功,第一指示部件熄灭表示上电失败;或者,第一指示部件熄灭表示上电成功,第一指示部件点亮表示上电失败。又如,第一指示部件显示绿灯表示上电成功,第一指示部件显示红灯表示上电失败。
本实施例中,第一控制指令中携带有与N个待测试电子产品各自的上电结果相对应的指示信息。测试工装接收到该第一控制指令后,控制所述测试工装上与N个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自上电的结果,通过第一指示部件指示N个所述待测试电子产品各自上电的结果,方便了测试人员直观获得各个待测试电子产品的上电结果。
步骤103、所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,所述N1为正整数且小于等于N;
所述控制端获取所述过流检测的结果,根据所述过流检测的结果生成第二控制指令;向所述测试工装发送所述第二控制指令;所述测试工装接收所述第二控制指令,根据所述第二控制指令控制所述测试工装上与N1个所述上电成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的过流检测的结果;
本实施例中,所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,与现有技术中逐个对待测试电子产品进行测试相比,本实施例可以实现对多个待测试电子产品的过流检测,提高了过流检测的效率。
作为本实施例的一种可选实现方式,本步骤中执行电压调整和过流检测的实现如下:
所述控制端向所述测试工装发送第一电压调整指令,所述测试工装接收所述第一电压调整指令,并根据所述第一电压调整指令进行第一电压调整,所述第一电压调整为:将所述N1个上电成功的待测试电子产品各自的供电电压同时调整为第一电压值,所述第一电压值为所述待测试电子产品支持的供电电压范围中的最大值和最小值中的一个;
所述控制端向所述测试工装发送第一流检测指令,所述测试工装接收所述第一过流检测指令,获取并向所述控制端发送经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品各自的电流值,所述控制端接收经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值,并分别判断经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值是否超出预设过流门限值,其中,第一过流检测的结果未通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值,第一过流检测的结果通过是指经过所述第一电压调整后的所述待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值;
所述控制端再次向所述测试工装发送第二电压调整指令;
所述测试工装接收所述电压调整指令,并根据所述第二电压调整指令进行第二电压调整,所述第二电压调整为将所述第一过流检测的结果通过的各个待测试电子产品各自的供电电压同时调整为第二电压值,所述第二电压值为所述待测试电子产品支持的供电电压范围中的最大值和最小值中的另一个;所述控制端向所述测试工装发送第二过流检测指令,所述测试工装接收所述第二过流检测指令,获取并向所述控制端发送经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中的电流值,所述控制端接收经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中的电流值,并分别判断经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值是否超出预设过流门限值,其中,第二过流检测的结果未通过是指经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值,第二过流检测的结果通过是指经过所述第二电压调整后的所述待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值;
其中,过流检测的结果通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值且经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值,过流检测的结果未通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值或经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值。
上述的可选实现方式中,从待测试电子产品支持的供电电压范围中确定最大值和最小值,并通过电压调整之后,测试该待测试电子产品分别在最大值和最小值下的电流,当然,还可以从待测试电子产品支持的供电电压范围中选取除上述最大值和最小值之外的至少一个电压值,并通过电压调整,以测试该待测试电子产品在选取出的该至少一个电压值下的电流,以便获得更多的过流检测结果,对待测试电子产品的过流检测更全面。
本实施例中,该第一指示部件还可以用于指示上电成功的待测试电子产品执行过流检测的结果,例如,第一指示部件点亮表示过流检测通过,第一指示部件熄灭表示过流检测未通过;或者,第一指示部件熄灭表示过流检测通过,第一指示部件点亮表示过流检测未通过。又如,第一指示部件显示绿灯表示过流检测通过,第一指示部件显示红灯表示过流检测未通过。
本实施例中,第二控制指令中携带有与N1个待测试电子产品各自的过流检测结果相对应的指示信息。测试工装接收到该第二控制指令后,控制所述测试工装上与N1个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自过流检测的结果,通过第一指示部件指示N1个所述待测试电子产品各自过流检测的结果,方便了测试人员直观获得各个待测试电子产品的过流检测结果。
步骤104、所述控制端向所述测试工装发送待下载信息,所述测试工装接收所述待下载信息,利用所述待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,所述N2为正整数且小于等于N1;
所述控制端获取所述下载流程的进程,并向所述测试工装发送进程指示信息,所述进程指示信息用于指示所述下载流程的进程,所述测试工装接收到所述进程指示信息,根据所述进程指示信息控制所述测试工装上的第二指示部件指示所述下载流程的进程;
所述控制端获取所述待测试电子产品的下载流程的执行结果,根据所述下载流程的执行结果生成第三控制指令;向所述测试工装发送所述第三控制指令;所述测试工装接收所述第三控制指令,根据所述第三控制指令控制所述测试工装上与N2个所述过流检测通过的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的下载流程的执行结果;
作为本实施例的一种可选实现方式,所述待下载信息至少包括:所述控制端的本地时间和所述测试工装的标识。当然,除此之外,所述待下载信息还可以包括但不限于:待测试电子产品上的应用信息,配置信息等等。
本实施例中,利用所述待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,具体实现为:同时将待下载信息下载并保存在N2个过流检测通过的待测试电子产品中。
本实施例中,测试工装上还设有第二指示部件,该第二指示部件可以为显示屏,例如显示屏上以进度条的形式显示下载流程的进程,或者还可以指示灯,例如不断闪烁的指示灯来显示下载流程的进程。
本实施例中,所述控制端利用所述待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,与现有技术中逐个对待测试电子产品进行测试相比,本实施例可以实现同时对多个待测试电子产品执行下载流程,提高了下载流程的效率。
本实施例中,该第一指示部件还可以用于指示执行下载流程的结果,例如,第一指示部件点亮表示下载流程执行成功,第一指示部件熄灭表示下载流程执行失败;或者,第一指示部件熄灭表示下载流程执行成功,第一指示部件点亮表示下载流程执行失败。又如,第一指示部件显示绿灯表示下载流程执行成功,第一指示部件显示红灯表示下载流程执行失败。
本实施例中,第三控制指令中携带有与N2个待测试电子产品各自的下载流程执行结果相对应的指示信息。测试工装接收到该第三控制指令后,控制所述测试工装上与N2个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自下载流程执行的结果,通过第一指示部件指示N2个所述待测试电子产品各自下载流程执行的结果,方便了测试人员直观获得各个待测试电子产品的下载流程执行的结果。
步骤105、所述控制端向所述测试工装发送老化测试指令;所述测试工装接收所述老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,所述N3为正整数且小于等于N2;
所述控制端获取所述老化测试的结果,根据所述老化测试的结果生成第四控制指令;向所述测试工装发送所述第四控制指令;所述测试工装接收所述第四控制指令,根据所述第四控制指令控制所述测试工装上与N3个所述下载流程执行成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的老化测试的结果;
作为本实施例的一种可选实现方式,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试的实现如下:对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时进行预设次数的上下电。
本实施例中,预设次数至少为1次。在预设次数的上下电之后,待测试电子产品仍然可以正常上电,则老化测试通过,否则老化测试未通过。
本实施例中,所述控制端对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,与现有技术中逐个对待测试电子产品进行测试相比,本实施例可以实现同时对多个待测试电子产品执行老化测试,提高了老化测试的效率。
本实施例中,该第一指示部件还可以用于指示执行老化测试的结果,例如,第一指示部件点亮表示老化测试通过,第一指示部件熄灭表示老化测试未通过;或者,第一指示部件熄灭表示老化测试通过,第一指示部件点亮表示老化测试未通过。又如,第一指示部件显示绿灯表示老化测试通过,第一指示部件显示红灯表示老化测试未通过。
本实施例中,第四控制指令中携带有与N3个待测试电子产品各自的老化测试结果相对应的指示信息。测试工装接收到该第四控制指令后,控制所述测试工装上与N3个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自老化测试结果,通过第一指示部件指示N3个所述待测试电子产品各自老化测试结果,方便了测试人员直观获得各个待测试电子产品的老化测试执行的结果。
由于老化测试是整个测试流程中最后一项测试,老化测试完成后,通过所述测试工装上与各个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件可以看出各个所述待测试电子产品在整个测试流程完成后的结果。
步骤106、所述控制端向所述测试工装发送下电指令;所述测试工装接收所述下电指令,根据所述下电指令给N4个所述老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电,所述N4为正整数且小于等于N3。
本实施例中,老化测试通过后整个测试流程结束,本步骤中控制端发送下电指令给测试工装,以便给N4个所述老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电。
本实施例提供的测试方法,可以同时对多个待测试电子产品进行上电、过流检测、信息下载、老化测试下电等一系列的测试,与现有技术中需要人工对电子产品进行逐个测试相比,节省了人力成本,实现了测试的自动化,提高了测试效率。由于整个测试过程均有控制端通过相应指令控制测试工装统一并同步对多个待测试电子产品进行测试,将减少测试过程中的出错率,改善测试效果。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为,表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分,并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现,其中可以不按所示出或讨论的顺序,包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序,来执行功能,这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
应当理解,本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。本发明的范围由所附权利要求及其等同限定。

Claims (5)

1.一种测试方法,其特征在于,包括:
控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值;
所述控制端在所述启动按键的状态值为第一状态值时,继续监测并获取所述测试工装上启动按键的状态值;在所述启动按键的状态值为第二状态值时,向所述测试工装发送上电指令;
所述测试工装接收所述上电指令,根据所述上电指令给N个所述待测试电子产品同时进行上电,其中,所述N为正整数;
所述控制端获取所述上电的结果,根据所述上电的结果生成第一控制指令;向所述测试工装发送所述第一控制指令;所述测试工装接收所述第一控制指令,根据所述第一控制指令控制所述测试工装上与N个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自上电的结果;
所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,所述N1为正整数且小于等于N;
所述控制端获取所述过流检测的结果,根据所述过流检测的结果生成第二控制指令;向所述测试工装发送所述第二控制指令;所述测试工装接收所述第二控制指令,根据所述第二控制指令控制所述测试工装上与N1个所述上电成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的过流检测的结果;
所述控制端向所述测试工装发送待下载信息,所述测试工装接收所述待下载信息,利用所述待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,所述N2为正整数且小于等于N1;
所述控制端获取所述下载流程的进程,并向所述测试工装发送进程指示信息,所述进程指示信息用于指示所述下载流程的进程,所述测试工装接收到所述进程指示信息,根据所述进程指示信息控制所述测试工装上的第二指示部件指示所述下载流程的进程;
所述控制端获取所述待测试电子产品的下载流程的执行结果,根据所述下载流程的执行结果生成第三控制指令;向所述测试工装发送所述第三控制指令;所述测试工装接收所述第三控制指令,根据所述第三控制指令控制所述测试工装上与N2个所述过流检测通过的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的下载流程的执行结果;
所述控制端向所述测试工装发送老化测试指令;所述测试工装接收所述老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,所述N3为正整数且小于等于N2;
所述控制端获取所述老化测试的结果,根据所述老化测试的结果生成第四控制指令;向所述测试工装发送所述第四控制指令;所述测试工装接收所述第四控制指令,根据所述第四控制指令控制所述测试工装上与N3个所述下载流程执行成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的老化测试的结果;
所述控制端向所述测试工装发送下电指令;所述测试工装接收所述下电指令,根据所述下电指令给N4个所述老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电,所述N4为正整数且小于等于N3。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值之前,还包括:
所述控制端获取测试工装上的当前时间;
所述控制端将所述控制端的本地时间同步设置为所述测试工装上的当前时间。
3.根据权利要求2所述的测试方法,其特征在于,所述待下载信息至少包括:所述控制端的本地时间和所述测试工装的标识。
4.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,包括:
所述控制端向所述测试工装发送第一电压调整指令,所述测试工装接收所述第一电压调整指令,并根据所述第一电压调整指令进行第一电压调整,所述第一电压调整为:将所述N1个上电成功的待测试电子产品各自的供电电压同时调整为第一电压值,所述第一电压值为所述待测试电子产品支持的供电电压范围中的最大值和最小值中的一个;
所述控制端向所述测试工装发送第一流检测指令,所述测试工装接收所述第一过流检测指令,获取并向所述控制端发送经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品各自的电流值,所述控制端接收经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值,并分别判断经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值是否超出预设过流门限值,其中,第一过流检测的结果未通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值,第一过流检测的结果通过是指经过所述第一电压调整后的所述待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值;
所述控制端再次向所述测试工装发送第二电压调整指令;
所述测试工装接收所述电压调整指令,并根据所述第二电压调整指令进行第二电压调整,所述第二电压调整为将所述第一过流检测的结果通过的各个待测试电子产品各自的供电电压同时调整为第二电压值,所述第二电压值为所述待测试电子产品支持的供电电压范围中的最大值和最小值中的另一个;所述控制端向所述测试工装发送第二过流检测指令,所述测试工装接收所述第二过流检测指令,获取并向所述控制端发送经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中的电流值,所述控制端接收经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中的电流值,并分别判断经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值是否超出预设过流门限值,其中,第二过流检测的结果未通过是指经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值,第二过流检测的结果通过是指经过所述第二电压调整后的所述待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值;
其中,过流检测的结果通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值且经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值,过流检测的结果未通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值或经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值。
5.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试包括:
对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时进行预设次数的上下电。
CN201810420972.4A 2018-05-04 2018-05-04 一种测试方法 Pending CN108828350A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810420972.4A CN108828350A (zh) 2018-05-04 2018-05-04 一种测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810420972.4A CN108828350A (zh) 2018-05-04 2018-05-04 一种测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108828350A true CN108828350A (zh) 2018-11-16

Family

ID=64147417

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810420972.4A Pending CN108828350A (zh) 2018-05-04 2018-05-04 一种测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108828350A (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110907801A (zh) * 2019-11-08 2020-03-24 惠州拓邦电气技术有限公司 一种pcb测试方法及装置
CN111007336A (zh) * 2019-11-29 2020-04-14 四川爱联科技有限公司 基于串口通信的模组生产测试上下电自动检测系统和方法
CN111063386A (zh) * 2019-12-30 2020-04-24 深圳佰维存储科技股份有限公司 Ddr芯片测试方法和装置
CN111381146A (zh) * 2018-12-28 2020-07-07 深圳市优必选科技有限公司 一种测试系统及其测试方法
CN113376500A (zh) * 2020-03-09 2021-09-10 株洲中车时代电气股份有限公司 汽车电机控制器的电路板的成套老化测试系统及方法
CN114111875A (zh) * 2021-10-12 2022-03-01 桂林长海发展有限责任公司 一种云台老化测试的方法、系统、存储介质和电子设备

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101241155A (zh) * 2007-02-09 2008-08-13 扬州奥瑞科技有限公司 电力设备综合自动化检测系统
CN201110878Y (zh) * 2007-10-29 2008-09-03 比亚迪股份有限公司 一种老化测试系统
CN201449427U (zh) * 2009-07-08 2010-05-05 东莞创慈磁性元件有限公司 变压器三合一自动测试机
CN101706550A (zh) * 2009-11-19 2010-05-12 福建联迪商用设备有限公司 一种主板的测试方法
CN101893646A (zh) * 2010-06-23 2010-11-24 江西省智成测控技术研究所有限责任公司 航速仪综合测试系统及其航速仪综合测试台
CN101995326A (zh) * 2009-08-25 2011-03-30 上海诚测电子科技发展有限公司 Led模组综合性能测试试验台
CN102404375A (zh) * 2010-09-17 2012-04-04 上海手机测试公共服务平台有限公司 Ftp数据包下载的比对方法
CN103116102A (zh) * 2013-02-04 2013-05-22 深圳佰维存储科技有限公司 智能掉电测试方法及系统
CN104808095A (zh) * 2015-04-27 2015-07-29 深圳市共进电子股份有限公司 一种自动化生产测试系统及其产品测试方法
CN105929265A (zh) * 2016-04-15 2016-09-07 孝感致诚科技服务有限公司 一种电子镇流器的电老化装置及方法
CN106992898A (zh) * 2016-01-18 2017-07-28 北京同方微电子有限公司 一种非接触智能卡Inlay下载测试装置及其测试方法
CN107632219A (zh) * 2017-10-11 2018-01-26 四川九州电子科技股份有限公司 一种自动开关机测试系统及其测试方法

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101241155A (zh) * 2007-02-09 2008-08-13 扬州奥瑞科技有限公司 电力设备综合自动化检测系统
CN201110878Y (zh) * 2007-10-29 2008-09-03 比亚迪股份有限公司 一种老化测试系统
CN201449427U (zh) * 2009-07-08 2010-05-05 东莞创慈磁性元件有限公司 变压器三合一自动测试机
CN101995326A (zh) * 2009-08-25 2011-03-30 上海诚测电子科技发展有限公司 Led模组综合性能测试试验台
CN101706550A (zh) * 2009-11-19 2010-05-12 福建联迪商用设备有限公司 一种主板的测试方法
CN101893646A (zh) * 2010-06-23 2010-11-24 江西省智成测控技术研究所有限责任公司 航速仪综合测试系统及其航速仪综合测试台
CN102404375A (zh) * 2010-09-17 2012-04-04 上海手机测试公共服务平台有限公司 Ftp数据包下载的比对方法
CN103116102A (zh) * 2013-02-04 2013-05-22 深圳佰维存储科技有限公司 智能掉电测试方法及系统
CN104808095A (zh) * 2015-04-27 2015-07-29 深圳市共进电子股份有限公司 一种自动化生产测试系统及其产品测试方法
CN106992898A (zh) * 2016-01-18 2017-07-28 北京同方微电子有限公司 一种非接触智能卡Inlay下载测试装置及其测试方法
CN105929265A (zh) * 2016-04-15 2016-09-07 孝感致诚科技服务有限公司 一种电子镇流器的电老化装置及方法
CN107632219A (zh) * 2017-10-11 2018-01-26 四川九州电子科技股份有限公司 一种自动开关机测试系统及其测试方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
王尧琦: "《电子产品制作与调试》", 30 June 2014, 河北科学技术出版社 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111381146A (zh) * 2018-12-28 2020-07-07 深圳市优必选科技有限公司 一种测试系统及其测试方法
CN110907801A (zh) * 2019-11-08 2020-03-24 惠州拓邦电气技术有限公司 一种pcb测试方法及装置
CN111007336A (zh) * 2019-11-29 2020-04-14 四川爱联科技有限公司 基于串口通信的模组生产测试上下电自动检测系统和方法
CN111063386A (zh) * 2019-12-30 2020-04-24 深圳佰维存储科技股份有限公司 Ddr芯片测试方法和装置
CN113376500A (zh) * 2020-03-09 2021-09-10 株洲中车时代电气股份有限公司 汽车电机控制器的电路板的成套老化测试系统及方法
CN114111875A (zh) * 2021-10-12 2022-03-01 桂林长海发展有限责任公司 一种云台老化测试的方法、系统、存储介质和电子设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108828350A (zh) 一种测试方法
CN100554983C (zh) 宽带超高频局部放电信号和图形发生器
CN108508343B (zh) 一种印制电路板的检测装置及方法
CN101788632B (zh) 多芯电缆线测试方法及装置
WO2018201763A1 (zh) 连接器的测试方法、装置及存储介质
US9494651B2 (en) Method for testing embedded systems
KR101924149B1 (ko) 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템
CN108845251A (zh) 双工位刀闸的gis组合电器综合测试仪器及测试方法
CN107782208A (zh) 一种多套引信并行测试的全电子引信测试仪及其测试方法
JP2013213787A (ja) 検査用データ作成装置および回路基板検査装置
TWI702541B (zh) 電子產品及其測試方法和裝置
CN108828349A (zh) 一种测试系统
US7847571B2 (en) Semiconductor test system with self-inspection of electrical channel for Pogo tower
CN101614758B (zh) 电子式指示器
TW552424B (en) Screening of semiconductor integrated circuit devices
KR101281823B1 (ko) 고정형 파워 보드와 교체형 코어 보드를 포함하는 자동 테스트 장치
CN115078968A (zh) 芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统
CN108957081A (zh) 示波器、测试和测量系统以及方法
CN206113963U (zh) 一种控制力矩陀螺自动化测试与老炼装置
US20130154663A1 (en) Lens module electrical testing system and testing method
JP5188822B2 (ja) 基板検査装置
CN111044961A (zh) 测试机台自检系统及检测方法
JP6145869B2 (ja) 漏電箇所探査装置
JP2012237756A (ja) プリント回路基板上に取り付けられた電子回路装置の電気接続を自動的に測定する方法及び装置
CN215263870U (zh) 一种芯片管脚状态的自动化测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20181116

RJ01 Rejection of invention patent application after publication