CN111044961A - 测试机台自检系统及检测方法 - Google Patents

测试机台自检系统及检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111044961A
CN111044961A CN201811195848.9A CN201811195848A CN111044961A CN 111044961 A CN111044961 A CN 111044961A CN 201811195848 A CN201811195848 A CN 201811195848A CN 111044961 A CN111044961 A CN 111044961A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
circuit
self
voltage
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201811195848.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111044961B (zh
Inventor
吴茂祥
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN201811195848.9A priority Critical patent/CN111044961B/zh
Publication of CN111044961A publication Critical patent/CN111044961A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111044961B publication Critical patent/CN111044961B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明提供了一种测试机台自检系统及检测方法，所述测试机台自检系统包括：一检测电路，供设于所述测试机台及供测试一电子产品的电路结构；一标准电阻，具有一标准电阻值，电性连接所述检测电路以形成一自检电路；一电压检测单元，电性连接所述自检电路；其中，当输电至所述自检电路时，所述电压检测单元取得所述自检电路的一测试电压值，所述电压检测单元依据所述测试电压值计算所述标准电阻的一测试电阻值，所述电压检测单元并依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路的一检测结果。

Description

测试机台自检系统及检测方法
技术领域
本发明与测试机台检测有关，特別是有关于一种测试机台自检系统及检测方法。
背景技术
在电路板的制造过程中，为保证所制造的产品品质，通常会进行电性表现的测试，以确保所述产品的电路结构沒有开路、短路或其他损坏的状况。然，当测试机台故障时，常会造成检测结果的误判，造成庞大的成本损失。部分测试机台虽具有自我检测功能，但其多为机台内部各部件的性能检测，执行时间长且耗费人力。此外，公知的测试机台的自我检测通常仅于产品测试前执行一次，当发现测试机台故障时常难以追溯故障的起始点，存在亟待改善的缺点。
因此，有必要提供一种新颖且具有进步性的测试机台自检系统及检测方法，以解决上述的问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种测试机台自检系统及检测方法，可快速进行自我检测。
为达成上述目的，本发明提供一种测试机台自检系统，包括：一检测电路，供设于所述测试机台及供测试一电子产品的电路结构；一标准电阻，具有一标准电阻值，电性连接所述检测电路以形成一自检电路；一电压检测单元，电性连接所述自检电路；其中，当输电至所述自检电路时，所述电压检测单元取得所述自检电路的一测试电压值，所述电压检测单元依据所述测试电压值计算所述标准电阻的一测试电阻值，所述电压检测单元并依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路的一检测结果。
具体的，作为上述方案的优选，所述自检电路包括一开路测试回路及一短路测试回路，所述电压检测单元电性连接所述开路测试回路及所述短路测试回路，所述电压检测单元可选择性地切换以使所述标准电阻仅与所述开路测试回路或所述短路测试回路电性导通，其中所述标准电阻与所述开路测试回路或所述短路测试回路串连。
作为上述方案的优选，所述自检电路另包括一四端点电阻测量测试回路，所述电压检测单元可选择性地切换以使所述标准电阻仅与所述四端点电阻测量测试回路形成串联连接。
作为上述方案的优选，所述标准电阻内建于所述测试机台的数位可程式化标准电阻。
为达成上述目的，本发明另提供一种测试机台检测方法，包括以下步骤：输电至所述自检电路；以所述电压检测单元取得所述自检电路的测试电压值；以所述电压检测单元依据所述测试电压值计算所述标准电阻的测试电阻值；以所述电压检测单元依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路的所述检测结果。
具体的，作为上述方案的优选，以定电流或定电压输电至所述自检电路。
作为上述方案的优选，所述方法依序包括以下步骤：定电流输电至所述自检电路进行所述自检电路的开路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一开路检测结果；定电压输低压电至所述自检电路进行所述自检电路的低压短路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一低压短路检测结果；定电压输高压电至所述自检电路进行所述自检电路的高压短路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一高压短路检测结果，其中所述高压电定义为相对高压于所述低压电。
作为上述方案的优选，另于所述开路测试后或所述高压短路测试后，定电流输电至所述自检电路进行所述自检电路的四端点电阻测量测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一四端点电阻测量检测结果。
作为上述方案的优选，另分別于所述开路测试、所述低压短路测试及所述高压短路测试的后进行所述电子产品的电路结构的开路测试、低压短路测试及高压短路测试。
作为上述方案的优选，另分別于所述开路测试、所述低压短路测试、所述高压短路测试及所述四端点电阻测量测试的后进行所述电子产品的电路结构的开路测试、低压短路测试、高压短路测试及四端点电阻测量测试。
本发明提供了一种测试机台自检系统及检测方法，所述测试机台自检系统包括：一检测电路，供设于所述测试机台及供测试一电子产品的电路结构；一标准电阻，具有一标准电阻值，电性连接所述检测电路以形成一自检电路；一电压检测单元，电性连接所述自检电路；其中，当输电至所述自检电路时，所述电压检测单元取得所述自检电路的一测试电压值，所述电压检测单元依据所述测试电压值计算所述标准电阻的一测试电阻值，所述电压检测单元并依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路的一检测结果。本发明的优点是测试机台的内部回路故障时，则可追溯至所述检测结果异常后的各批电子产品，便于管理且可减少成本耗费。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一较佳实施例的配置方块图；
图2为本发明一较佳实施例的开路测试回路示意图；
图3为本发明一较佳实施例的短路测试回路示意图；
图4为本发明一较佳实施例的四端点电阻测量测试回路示意图；
图5为本发明一较佳实施例的自检流程图；
图6为本发明一较佳实施例的检测流程图；
其中，1：测试机台自检系统；10：检测电路；20：标准电阻；30：电压检测单元；40：自检电路；41：开路测试回路；42：短路测试回路；421：分压取样电阻；43：四端点电阻测量测试回路；S1～S4,P1～P3,Ps：步骤。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
以下仅以实施例說明本发明可能的实施态样，然并非用以限制本发明所欲保护的范畴，合先敘明。
如图1至图6所示，其显示本发明的一较佳实施例，本发明的测试机台自检系统1包括一检测电路10、一标准电阻20及一电压检测单元30。
所述检测电路10供设于所述测试机台及供测试一电子产品的电路结构；所述标准电阻20具有一标准电阻值且电性连接所述检测电路10以形成一自检电路40；所述电压检测单元30，电性连接所述自检电路40；其中，当输电至所述自检电路40时，所述电压检测单元30取得所述自检电路40的一测试电压值，所述电压检测单元30依据所述测试电压值计算所述标准电阻20的一测试电阻值，所述电压检测单元30并依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路10的一检测结果。藉此，所述测试机台可快速进行自我检测，避免因所述测试机台故障所造成的所述电子产品效能误判。然，所述电压检测单元亦可直接依据所述标准电阻的一理论电压值与所述测试电压值判断所述检测结果。
所述自检电路40包括一开路(open)测试回路41及一短路(short)测试回路42，所述电压检测单元30电性连接所述开路测试回路41及所述短路测试回路42，所述电压检测单元30可选择性地切换以使所述标准电阻20仅与所述开路测试回路41或所述短路测试回路42电性导通，以分別进行测试。所述标准电阻20与所述开路测试回路41或所述短路测试回路42串连，以测试所述测试机台内部的电路是否有开路或短路的状況，如图2及图3所示。
较佳地，所述自检电路40另包括一四端点电阻测量(Kelvin(4-wire)resistancemeasurement,4W)测试回路43，依据所述电子产品的检测需求，所述电压检测单元30可选择性地切换以使所述标准电阻20仅与所述四端点电阻测量测试回路43形成串联连接，如图4所示，可确认所述测试机台的四端点电阻测量检测功能是否正常。较佳地，所述标准电阻20内建于所述测试机台的数位可程式化标准电阻20，可满足于不同自检模式下所需的标准电阻值。
本发明另提供一种测试机台检测方法，包括以下步骤。步骤S1：输电至所述自检电路40；步骤S2：以所述电压检测单元30取得所述自检电路40的测试电压值；步骤S3：以所述电压检测单元30依据所述测试电压值计算所述标准电阻20的测试电阻值；步骤S4：以所述电压检测单元30依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路10的所述检测结果。于本实施例中，于进行所述自检电路40的开路测试及四端点电阻测量测试时(图2及图4)，定电流输电至所述自检电路40；于进行所述自检电路40的短路测试时(图3)，定电压输电至所述自检电路40，所述短路测试回路42中额外串联一分压取样电阻421而可利用分压法计算所述测试电阻值。然，亦可依据测试回路的配置与模式不同，选择以定电压或定电流输电至所述自检电路40。
本发明的测试机台检测方法中，依序包括以下步骤。步骤P1：定电流输电至所述自检电路40进行所述自检电路40的开路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路10的一开路检测结果；步骤P2：定电压输低压电至所述自检电路40进行所述自检电路40的低压短路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路10的一低压短路检测结果；步骤P3：定电压输高压电至所述自检电路40进行所述自检电路40的高压短路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路10的一高压短路检测结果，其中所述高压电定义为相对高压于所述低压电。其中，所述自检电路40的低压短路测试及高压短路测试可依据所述电子产品的检测需求择一进行或依序进行，增加测试的灵敏度。当所述开路检测结果、所述低压短路检测结果或所述高压短路检测结果任一者异常时，即可进行所述测试机台的检修，避免所述测试机台故障造成产品检测结果的误判。
更进一步说，所述测试机台检测方法另分別于所述开路测试、所述低压短路测试及所述高压短路测试的后进行所述电子产品的电路结构的开路测试、低压短路测试及高压短路测试。所述测试机台的自我检测与所述电子产品的检测可交错进行，例如但不限，所述测试机台进行一次所述自检电路40的开路测试后，进行一批量所述电子产品的电路结构的开路测试，接著进行一次所述自检电路40的短路测试后，再进行一批量所述电子产品的电路结构的短路测试，如此循环进行。藉此，当所述测试机台的内部回路故障时，则可追溯至所述检测结果异常后的各批电子产品，便于管理且可减少成本耗费。然，亦可于每一次检测所述电子产品的电路结构前进行一次所述自检电路40的测试，可确保各所述电子产品的检测结果的准确性。
依据所述电子产品的检测需求，所述测试机台检测方法可于所述开路测试后或所述高压短路测试后，另包括步骤Ps：定电流输电至所述自检电路40进行所述自检电路40的四端点电阻测量测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路10的一四端点电阻测量检测结果。相同地，所述测试机台可另分別于所述开路测试、所述低压短路测试、所述高压短路测试及所述四端点电阻测量测试的后进行所述电子产品的电路结构的开路测试、低压短路测试、高压短路测试及四端点电阻测量测试，如图6所示。其中，所述测试机台检测顺序可依序为所述开路测试、所述低压短路测试、所述高压短路测试及所述四端点电阻测量测试，或为所述开路测试、所述四端点电阻测量测试、所述低压短路测试及所述高压短路测试。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种测试机台自检系统，其特征在于，包括：
一检测电路，供设于所述测试机台及供测试一电子产品的电路结构；
一标准电阻，具有一标准电阻值，电性连接所述检测电路以形成一自检电路；
一电压检测单元，电性连接所述自检电路；
其中，当输电至所述自检电路时，所述电压检测单元取得所述自检电路的一测试电压值，所述电压检测单元依据所述测试电压值计算所述标准电阻的一测试电阻值，所述电压检测单元并依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路的一检测结果。
2.根据权利要求1所述的测试机台自检系统，其特征在于，所述自检电路包括一开路测试回路及一短路测试回路，所述电压检测单元电性连接所述开路测试回路及所述短路测试回路，所述电压检测单元可选择性地切换以使所述标准电阻仅与所述开路测试回路或所述短路测试回路电性导通，其中所述标准电阻与所述开路测试回路或所述短路测试回路串连。
3.根据权利要求2所述的测试机台自检系统，其其特征在于，所述自检电路另包括一四端点电阻测量测试回路，所述电压检测单元可选择性地切换以使所述标准电阻仅与所述四端点电阻测量测试回路形成串联连接。
4.根据权利要求1所述的测试机台自检系统，其特征在于，所述标准电阻係内建于所述测试机台的数位可程式化标准电阻。
5.一种利用根据权利要求1至4任一项所述的测试机台自检系统的测试机台检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
输电至所述自检电路；
以所述电压检测单元取得所述自检电路的测试电压值；
以所述电压检测单元依据所述测试电压值计算所述标准电阻的测试电阻值；
以所述电压检测单元依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路的所述检测结果。
6.根据权利要求5所述的测试机台检测方法，其特征在于，以定电流或定电压输电至所述自检电路。
7.根据权利要求5所述的测试机台检测方法，其特征在于，所述方法依序包括以下步骤：定电流输电至所述自检电路进行所述自检电路的开路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一开路检测结果；
定电压输低压电至所述自检电路进行所述自检电路的低压短路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一低压短路检测结果；
定电压输高压电至所述自检电路进行所述自检电路的高压短路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一高压短路检测结果，其中所述高压电定义为相对高压于所述低压电。
8.根据权利要求7所述的测试机台检测方法，其特征在于，另于所述开路测试后或所述高压短路测试后，定电流输电至所述自检电路进行所述自检电路的四端点电阻测量测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一四端点电阻测量检测结果。
9.根据权利要求7所述的测试机台检测方法，其特征在于，另分別于所述开路测试、所述低压短路测试及所述高压短路测试的后进行所述电子产品的电路结构的开路测试、低压短路测试及高压短路测试。
10.根据权利要求9所述的测试机台检测方法，其特征在于，另分別于所述开路测试、所述低压短路测试、所述高压短路测试及所述四端点电阻测量测试的后进行所述电子产品的电路结构的开路测试、低压短路测试、高压短路测试及四端点电阻测量测试。
CN201811195848.9A 2018-10-15 2018-10-15 测试机台自检系统及检测方法 Active CN111044961B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811195848.9A CN111044961B (zh) 2018-10-15 2018-10-15 测试机台自检系统及检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811195848.9A CN111044961B (zh) 2018-10-15 2018-10-15 测试机台自检系统及检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111044961A true CN111044961A (zh) 2020-04-21
CN111044961B CN111044961B (zh) 2022-06-10

Family

ID=70230530

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811195848.9A Active CN111044961B (zh) 2018-10-15 2018-10-15 测试机台自检系统及检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111044961B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112731241A (zh) * 2020-12-23 2021-04-30 华虹半导体(无锡)有限公司 晶圆测试机台的校准工具和校准方法
CN114019285A (zh) * 2021-11-05 2022-02-08 深圳市新威尔电子有限公司 电池检测设备开路检测方法

Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101228447A (zh) * 2005-08-29 2008-07-23 丰田自动车株式会社 绝缘电阻降低检测器和绝缘电阻降低检测器的故障自我诊断方法
CN101393243A (zh) * 2007-09-18 2009-03-25 京元电子股份有限公司 具有自我检测功能的测试系统与方法
US20090174392A1 (en) * 2006-04-25 2009-07-09 Nxp B.V. Circuit arrangement and corresponding method for voltage reference and/or for current reference
JP2009211356A (ja) * 2008-03-04 2009-09-17 Oki Semiconductor Co Ltd シミュレータ、及び当該シミュレータを用いた素子耐圧検証方法
CN201477160U (zh) * 2009-08-24 2010-05-19 华北电力科学研究院有限责任公司 电阻箱自动校验系统
CN202548311U (zh) * 2012-04-10 2012-11-21 江西通用光电应用技术研究所有限责任公司 电缆综合测试仪校验标准器
CN202794494U (zh) * 2012-09-28 2013-03-13 贵州航天计量测试技术研究所 一种检定四探针电阻率测试仪的装置
CN203858353U (zh) * 2014-05-15 2014-10-01 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 一种测试机台校准系统
CN104220887A (zh) * 2012-03-27 2014-12-17 株式会社Lg化学 具有故障自诊断功能的绝缘电阻测量设备及使用该设备的故障自诊断方法
CN104237823A (zh) * 2014-07-31 2014-12-24 上海华力微电子有限公司 一种有效验证探针卡异常的方法
CN104280651A (zh) * 2013-07-10 2015-01-14 晶豪科技股份有限公司 测试系统以及半导体元件
CN204989442U (zh) * 2015-07-08 2016-01-20 南车青岛四方机车车辆股份有限公司 一种接触电阻测试仪校准装置
CN105487033A (zh) * 2016-01-11 2016-04-13 无锡市计量检定测试中心 线材测试仪的校准装置
CN206671482U (zh) * 2017-02-16 2017-11-24 苏州维信电子有限公司 一种电路板测试系统
CN107561319A (zh) * 2017-08-23 2018-01-09 上海华力微电子有限公司 一种wat机台探针卡清针方法
CN206960588U (zh) * 2017-08-04 2018-02-02 中国长江电力股份有限公司 一种用于短接端子排的通断检测仪
CN107831369A (zh) * 2017-12-19 2018-03-23 成都信息工程大学 一种带自检和校正的接地电阻监测仪
TW202117356A (zh) * 2019-10-23 2021-05-01 吳茂祥 測試機台自檢系統及檢測方法

Patent Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101228447A (zh) * 2005-08-29 2008-07-23 丰田自动车株式会社 绝缘电阻降低检测器和绝缘电阻降低检测器的故障自我诊断方法
US20090174392A1 (en) * 2006-04-25 2009-07-09 Nxp B.V. Circuit arrangement and corresponding method for voltage reference and/or for current reference
CN101393243A (zh) * 2007-09-18 2009-03-25 京元电子股份有限公司 具有自我检测功能的测试系统与方法
JP2009211356A (ja) * 2008-03-04 2009-09-17 Oki Semiconductor Co Ltd シミュレータ、及び当該シミュレータを用いた素子耐圧検証方法
CN201477160U (zh) * 2009-08-24 2010-05-19 华北电力科学研究院有限责任公司 电阻箱自动校验系统
CN104220887A (zh) * 2012-03-27 2014-12-17 株式会社Lg化学 具有故障自诊断功能的绝缘电阻测量设备及使用该设备的故障自诊断方法
CN202548311U (zh) * 2012-04-10 2012-11-21 江西通用光电应用技术研究所有限责任公司 电缆综合测试仪校验标准器
CN202794494U (zh) * 2012-09-28 2013-03-13 贵州航天计量测试技术研究所 一种检定四探针电阻率测试仪的装置
CN104280651A (zh) * 2013-07-10 2015-01-14 晶豪科技股份有限公司 测试系统以及半导体元件
CN203858353U (zh) * 2014-05-15 2014-10-01 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 一种测试机台校准系统
CN104237823A (zh) * 2014-07-31 2014-12-24 上海华力微电子有限公司 一种有效验证探针卡异常的方法
CN204989442U (zh) * 2015-07-08 2016-01-20 南车青岛四方机车车辆股份有限公司 一种接触电阻测试仪校准装置
CN105487033A (zh) * 2016-01-11 2016-04-13 无锡市计量检定测试中心 线材测试仪的校准装置
CN206671482U (zh) * 2017-02-16 2017-11-24 苏州维信电子有限公司 一种电路板测试系统
CN206960588U (zh) * 2017-08-04 2018-02-02 中国长江电力股份有限公司 一种用于短接端子排的通断检测仪
CN107561319A (zh) * 2017-08-23 2018-01-09 上海华力微电子有限公司 一种wat机台探针卡清针方法
CN107831369A (zh) * 2017-12-19 2018-03-23 成都信息工程大学 一种带自检和校正的接地电阻监测仪
TW202117356A (zh) * 2019-10-23 2021-05-01 吳茂祥 測試機台自檢系統及檢測方法

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A. REKIK 等: "Self-test and self-calibration of a MEMS convective accelerometer", 《2013 SYMPOSIUM ON DESIGN, TEST, INTEGRATION AND PACKAGING OF MEMS/MOEMS (DTIP)》 *
TAO LIU 等: "A digitally controlled DC-DC buck converter with lossless load-current sensing and BIST functionality", 《2011 IEEE INTERNATIONAL SOLID-STATE CIRCUITS CONFERENCE》 *
周辉: "直流低电势电位差计自检方法的探讨", 《电测与仪表》 *
王恒新 等: "空空导弹发射装置通用自动测试系统的设计", 《科技信息》 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112731241A (zh) * 2020-12-23 2021-04-30 华虹半导体(无锡)有限公司 晶圆测试机台的校准工具和校准方法
CN112731241B (zh) * 2020-12-23 2024-01-19 华虹半导体(无锡)有限公司 晶圆测试机台的校准工具和校准方法
CN114019285A (zh) * 2021-11-05 2022-02-08 深圳市新威尔电子有限公司 电池检测设备开路检测方法
CN114019285B (zh) * 2021-11-05 2024-06-11 深圳市新威尔电子有限公司 电池检测设备开路检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN111044961B (zh) 2022-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012122856A (ja) 組電池装置
CN111044961B (zh) 测试机台自检系统及检测方法
WO2018192434A1 (zh) 直流电源系统的绝缘电阻的检测电路及检测方法
CN109490790A (zh) 采用补偿脉冲法的锂动力电池功率特性测试方法及装置
JP2014106220A (ja) 検査装置および検査方法
CN111781521B (zh) 一种车辆的蓄电池检测的方法以及电池检测设备
TWI731448B (zh) 測試機台自檢系統及檢測方法
CN218240380U (zh) 一种电池内阻仪点检装置
CN111346843A (zh) 一种锂电池电芯的筛选方法、存储介质及测试设备
CN116125163A (zh) 电阻测试装置和电阻测试方法
CN113093037B (zh) 电池故障检测装置、方法、模块以及车辆
CN206362860U (zh) 一种gis或gil设备回路电阻的测试装置
CN115494351A (zh) 快速筛查电池模组绝缘问题的测试方法、装置、存储介质以及车辆
CN108169664B (zh) 电路板故障检测方法和装置、计算机设备和存储介质
CN210604863U (zh) Ptc加热器交流耐压测试机
CN208795821U (zh) 一种输电杆塔地网综合分析仪的接收电路的检测工装
CN112540301A (zh) 电池检测方法、装置及存储介质
CN218633960U (zh) WiFi模组测试系统和装置
CN113985270B (zh) 一种有载分接开关切换时序检测方法、系统和介质
CN204168240U (zh) 耐压测试仪点检制具
CN219715663U (zh) 一种led晶粒测试机的高精度检测装置
CN110750403B (zh) 基于电力终端的停上电测试方法及相关装置
CN219552618U (zh) 一种电池内阻测试系统
CN215641776U (zh) 一种蓄电池监测模块的生产测试平台
CN220137333U (zh) 一种纽扣电池的电压测量系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant