TW202117356A - 測試機台自檢系統及檢測方法 - Google Patents

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Abstract

本發明關於一種測試機台自檢系統及檢測方法，該測試機台自檢系統包括：一檢測電路，供設於該測試機台及供測試一電子產品之電路結構；一標準電阻，具有一標準電阻值，電性連接該檢測電路以形成一自檢電路；一電壓檢測單元，電性連接該自檢電路；其中，當輸電至該自檢電路時，該電壓檢測單元取得該自檢電路之一測試電壓值，該電壓檢測單元依據該測試電壓值計算該標準電阻之一測試電阻值，該電壓檢測單元並依據該標準電阻值及該測試電阻值判斷該檢測電路之一檢測結果。

Description

測試機台自檢系統及檢測方法
本發明係與測試機台檢測有關，特別是有關於一種測試機台自檢系統及檢測方法。
於電路板之製造過程中，為保證所製造之產品品質，通常會進行電性表現之測試，以確保該產品之電路結構沒有開路、短路或其他損壞之狀況。然，當測試機台故障時，常會造成檢測結果之誤判，造成龐大的成本損失。部分測試機台雖具有自我檢測功能，但其多為機台內部各部件之性能檢測，執行時間長且耗費人力。此外，習知之測試機台之自我檢測通常僅於產品測試前執行一次，當發現測試機台故障時常難以追溯故障之起始點，存在亟待改善之缺弊。
因此，有必要提供一種新穎且具有進步性之測試機台自檢系統及檢測方法，以解決上述之問題。
本發明之主要目的在於提供一種測試機台自檢系統及檢測方法，可快速進行自我檢測。
為達成上述目的，本發明提供一種測試機台自檢系統，包括：一檢測電路，供設於該測試機台及供測試一電子產品之電路結構；一標準電阻，具有一標準電阻值，電性連接該檢測電路以形成一自檢電路；一電壓檢測單元，電性連接該自檢電路；其中，當輸電至該自檢電路時，該電壓檢測單元取得該自檢電路之一測試電壓值，該電壓檢測單元依據該測試電壓值計算該標準電阻之一測試電阻值，該電壓檢測單元並依據該標準電阻值及該測試電阻值判斷該檢測電路之一檢測結果。
為達成上述目的，本發明另提供一種測試機台檢測方法，包括以下步驟：輸電至該自檢電路；以該電壓檢測單元取得該自檢電路之測試電壓值；以該電壓檢測單元依據該測試電壓值計算該標準電阻之測試電阻值；以該電壓檢測單元依據該標準電阻值及該測試電阻值判斷該檢測電路之該檢測結果。
以下僅以實施例說明本發明可能之實施態樣，然並非用以限制本發明所欲保護之範疇，合先敘明。
請參考圖1至6，其顯示本發明之一較佳實施例，本發明之測試機台自檢系統1包括一檢測電路10、一標準電阻20及一電壓檢測單元30。
該檢測電路10供設於該測試機台及供測試一電子產品之電路結構；該標準電阻20具有一標準電阻值且電性連接該檢測電路10以形成一自檢電路40；該電壓檢測單元30，電性連接該自檢電路40；其中，當輸電至該自檢電路40時，該電壓檢測單元30取得該自檢電路40之一測試電壓值，該電壓檢測單元30依據該測試電壓值計算該標準電阻20之一測試電阻值，該電壓檢測單元30並依據該標準電阻值及該測試電阻值判斷該檢測電路10之一檢測結果。藉此，該測試機台可快速進行自我檢測，避免因該測試機台故障所造成之該電子產品效能誤判。然，該電壓檢測單元亦可直接依據該標準電阻之一理論電壓值與該測試電壓值判斷該檢測結果。
該自檢電路40包括一開路(open)測試迴路41及一短路(short)測試迴路42，該電壓檢測單元30電性連接該開路測試迴路41及該短路測試迴路42，該電壓檢測單元30可選擇性地切換以使該標準電阻20僅與該開路測試迴路41或該短路測試迴路42電性導通，以分別進行測試。該標準電阻20與該開路測試迴路41或該短路測試迴路42串連，以測試該測試機台內部之電路是否有開路或短路之狀況，如圖2及圖3所示。
較佳地，該自檢電路40另包括一四端點電阻測量(Kelvin (4-wire) resistance measurement, 4W)測試迴路43，依據該電子產品之檢測需求，該電壓檢測單元30可選擇性地切換以使該標準電阻20僅與該四端點電阻測量測試迴路43形成串聯連接，如圖4所示，可確認該測試機台之四端點電阻測量檢測功能是否正常。較佳地，該標準電阻20係內建於該測試機台之數位可程式化標準電阻20，可滿足於不同自檢模式下所需之標準電阻值。
本發明另提供一種測試機台檢測方法，包括以下步驟。步驟S1：輸電至該自檢電路40；步驟S2：以該電壓檢測單元30取得該自檢電路40之測試電壓值；步驟S3：以該電壓檢測單元30依據該測試電壓值計算該標準電阻20之測試電阻值；步驟S4：以該電壓檢測單元30依據該標準電阻值及該測試電阻值判斷該檢測電路10之該檢測結果。於本實施例中，於進行該自檢電路40之開路測試及四端點電阻測量測試時（圖2及圖4），係定電流輸電至該自檢電路40；於進行該自檢電路40之短路測試時（圖3），係定電壓輸電至該自檢電路40，該短路測試迴路42中額外串聯一分壓取樣電阻421而可利用分壓法計算該測試電阻值。然，亦可依據測試迴路之配置與模式不同，選擇以定電壓或定電流輸電至該自檢電路40。
本發明之測試機台檢測方法中，係依序包括以下步驟。步驟P1：定電流輸電至該自檢電路40進行該自檢電路40之開路測試以取得該測試電阻值，並判斷該檢測電路10之一開路檢測結果；步驟P2：定電壓輸低壓電至該自檢電路40進行該自檢電路40之低壓短路測試以取得該測試電阻值，並判斷該檢測電路10之一低壓短路檢測結果；步驟P3：定電壓輸高壓電至該自檢電路40進行該自檢電路40之高壓短路測試以取得該測試電阻值，並判斷該檢測電路10之一高壓短路檢測結果，其中該高壓電定義為相對高壓於該低壓電。其中，該自檢電路40之低壓短路測試及高壓短路測試可依據該電子產品之檢測需求擇一進行或依序進行，增加測試之靈敏度。當該開路檢測結果、該低壓短路檢測結果或該高壓短路檢測結果任一者異常時，即可進行該測試機台之檢修，避免該測試機台故障造成產品檢測結果之誤判。
更進一步說，該測試機台檢測方法另分別於該開路測試、該低壓短路測試及該高壓短路測試之後進行該電子產品之電路結構之開路測試、低壓短路測試及高壓短路測試。該測試機台之自我檢測與該電子產品之檢測可交錯進行，例如但不限，該測試機台進行一次該自檢電路40之開路測試後，進行一批量該電子產品之電路結構之開路測試，接著進行一次該自檢電路40之短路測試後，再進行一批量該電子產品之電路結構之短路測試，如此循環進行。藉此，當該測試機台之內部迴路故障時，則可追溯至該檢測結果異常後之各批電子產品，便於管理且可減少成本耗費。然，亦可於每一次檢測該電子產品之電路結構前進行一次該自檢電路40之測試，可確保各該電子產品之檢測結果之準確性。
依據該電子產品之檢測需求，該測試機台檢測方法可於該開路測試後或該高壓短路測試後，另包括步驟Ps：定電流輸電至該自檢電路40進行該自檢電路40之四端點電阻測量測試以取得該測試電阻值，並判斷該檢測電路10之一四端點電阻測量檢測結果。相同地，該測試機台可另分別於該開路測試、該低壓短路測試、該高壓短路測試及該四端點電阻測量測試之後進行該電子產品之電路結構之開路測試、低壓短路測試、高壓短路測試及四端點電阻測量測試，如圖6所示。其中，該測試機台檢測順序可依序為該開路測試、該低壓短路測試、該高壓短路測試及該四端點電阻測量測試，或為該開路測試、該四端點電阻測量測試、該低壓短路測試及該高壓短路測試。
1:測試機台自檢系統 10:檢測電路 20:標準電阻 30:電壓檢測單元 40:自檢電路 41:開路測試迴路 42:短路測試迴路 421:分壓取樣電阻 43:四端點電阻測量測試迴路 S1~S4, P1~P3, Ps:步驟
圖1為本發明一較佳實施例之配置方塊圖。 圖2為本發明一較佳實施例之開路測試迴路示意圖。 圖3為本發明一較佳實施例之短路測試迴路示意圖。 圖4為本發明一較佳實施例之四端點電阻測量測試迴路示意圖。 圖5為本發明一較佳實施例之自檢流程圖。 圖6為本發明一較佳實施例之檢測流程圖。
1:測試機台自檢系統
10:檢測電路
20:標準電阻
30:電壓檢測單元
40:自檢電路
41:開路測試迴路
42:短路測試迴路
43:四端點電阻測量測試迴路

Claims (10)

  1. 一種測試機台自檢系統，包括： 一檢測電路，供設於該測試機台及供測試一電子產品之電路結構； 一標準電阻，具有一標準電阻值，電性連接該檢測電路以形成一自檢電路； 一電壓檢測單元，電性連接該自檢電路； 其中，當輸電至該自檢電路時，該電壓檢測單元取得該自檢電路之一測試電壓值，該電壓檢測單元依據該測試電壓值計算該標準電阻之一測試電阻值，該電壓檢測單元並依據該標準電阻值及該測試電阻值判斷該檢測電路之一檢測結果。
  2. 如請求項1所述的測試機台自檢系統，其中該自檢電路包括一開路測試迴路及一短路測試迴路，該電壓檢測單元電性連接該開路測試迴路及該短路測試迴路，該電壓檢測單元可選擇性地切換以使該標準電阻僅與該開路測試迴路或該短路測試迴路電性導通，其中該標準電阻與該開路測試迴路或該短路測試迴路串連。
  3. 如請求項2所述的測試機台自檢系統，其中該自檢電路另包括一四端點電阻測量測試迴路，該電壓檢測單元可選擇性地切換以使該標準電阻僅與該四端點電阻測量測試迴路形成串聯連接。
  4. 如請求項1所述的測試機台自檢系統，其中該標準電阻係內建於該測試機台之數位可程式化標準電阻。
  5. 一種利用如請求項1至4任一項所述的測試機台自檢系統之測試機台檢測方法，包括以下步驟： 輸電至該自檢電路； 以該電壓檢測單元取得該自檢電路之測試電壓值； 以該電壓檢測單元依據該測試電壓值計算該標準電阻之測試電阻值； 以該電壓檢測單元依據該標準電阻值及該測試電阻值判斷該檢測電路之該檢測結果。
  6. 如請求項5所述的測試機台檢測方法，係以定電流或定電壓輸電至該自檢電路。
  7. 如請求項5所述的測試機台檢測方法，係依序包括以下步驟： 定電流輸電至該自檢電路進行該自檢電路之開路測試以取得該測試電阻值，並判斷該檢測電路之一開路檢測結果； 定電壓輸低壓電至該自檢電路進行該自檢電路之低壓短路測試以取得該測試電阻值，並判斷該檢測電路之一低壓短路檢測結果； 定電壓輸高壓電至該自檢電路進行該自檢電路之高壓短路測試以取得該測試電阻值，並判斷該檢測電路之一高壓短路檢測結果，其中該高壓電定義為相對高壓於該低壓電。
  8. 如請求項7所述的測試機台檢測方法，另於該開路測試後或該高壓短路測試後，定電流輸電至該自檢電路進行該自檢電路之四端點電阻測量測試以取得該測試電阻值，並判斷該檢測電路之一四端點電阻測量檢測結果。
  9. 如請求項7所述的測試機台檢測方法，另分別於該開路測試、該低壓短路測試及該高壓短路測試之後進行該電子產品之電路結構之開路測試、低壓短路測試及高壓短路測試。
  10. 如請求項9所述的測試機台檢測方法，另分別於該開路測試、該低壓短路測試、該高壓短路測試及該四端點電阻測量測試之後進行該電子產品之電路結構之開路測試、低壓短路測試、高壓短路測試及四端點電阻測量測試。
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