JP2013213787A - 検査用データ作成装置および回路基板検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導体パターン102を有する基板101に電子部品103が搭載された回路基板100における導体パターン102上に設けられている検査ポイントPにおいて測定した電気的パラメータの測定値Rmと電気的パラメータの基準値とに基づいて回路基板100の検査を行う際の測定の対象とする検査ポイントPを指定する情報および基準値を示す情報を含む検査用データDeを作成可能に構成され、導体パターン102に関する情報および電子部品103に関する情報を含んで回路基板100の回路構成を示す回路設計データDdを記憶する記憶部17と、回路設計データDdに基づいて回路基板100の動作をシミュレートするシミュレーション処理を実行する処理部19とを備え、処理部19は、回路設計データDdに基づいて検査用データDeを作成する。
【選択図】図1
Description
14 測定部
17 記憶部
18 操作部
19 処理部
100 回路基板
101 基板
102 導体パターン
103 電子部品
De 検査用データ
Dd 回路設計データ
Rm 測定値
Ru 上下限値
P 検査ポイント
Claims (3)
- 導体パターンを有する基板に電子部品が搭載された回路基板における当該導体パターン上に設けられている検査ポイントにおいて測定した電気的パラメータの測定値と当該電気的パラメータの基準値とに基づいて当該回路基板の検査を行う際の当該測定の対象とする当該検査ポイントを指定する情報および当該基準値を示す情報を含む検査用データを作成する検査用データ作成装置であって、
前記導体パターンに関する情報および前記電子部品に関する情報を含んで前記回路基板の回路構成を示す回路設計データを記憶する記憶部と、前記回路設計データに基づいて前記回路基板の動作をシミュレートするシミュレーション処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記回路設計データに基づいて前記検査用データを作成する検査用データ作成装置。 - 前記回路設計データの内容を修正する修正操作が可能な操作部を備え、
前記処理部は、前記修正操作に応じて前記回路設計データを修正して前記記憶部に記憶させると共に、当該修正した回路設計データに基づいて前記検査用データを作成する請求項1記載の検査用データ作成装置。 - 請求項1または2記載の検査用データ作成装置と、当該検査用データ作成装置によって作成された前記検査用データを用いて前記回路基板の検査を行う検査部とを備えている回路基板検査装置。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160006119A (ko) | 2014-07-08 | 2016-01-18 | 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤 | 검사용 데이터 작성 장치, 검사용 데이터 작성 방법, 기록 매체에 기록된 프로그램 및 그 프로그램을 기록한 기록 매체 |
JP2016038239A (ja) * | 2014-08-06 | 2016-03-22 | 日置電機株式会社 | データ生成装置およびデータ生成方法 |
JP2016194477A (ja) * | 2015-04-01 | 2016-11-17 | 日置電機株式会社 | データ生成装置およびデータ生成方法 |
JP2020020608A (ja) * | 2018-07-30 | 2020-02-06 | 東芝情報システム株式会社 | 基板検査装置 |
CN112969925A (zh) * | 2018-11-09 | 2021-06-15 | 日本电产理德股份有限公司 | 检查指示信息产生装置、基板检查系统、检查指示信息产生方法以及检查指示信息产生程序 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01156681A (ja) * | 1987-12-15 | 1989-06-20 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査方法 |
JPH0245781A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-15 | Fujitsu Ltd | プリント基板の試験データ生成装置 |
JPH09304478A (ja) * | 1996-05-09 | 1997-11-28 | Fujitsu Ltd | 検査データ生成方法及び装置 |
JPH1091665A (ja) * | 1996-09-17 | 1998-04-10 | Oki Electric Ind Co Ltd | 論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法 |
JPH11237446A (ja) * | 1998-02-20 | 1999-08-31 | Nec Corp | プリント基板の実測波形シミュレーションシステム及び方法 |
JP2000121705A (ja) * | 1998-10-09 | 2000-04-28 | Agilent Technol Inc | 基板モデル修正方法および装置 |
JP2004132805A (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Zuken Inc | 検査方法、検査装置、プログラムおよび記録媒体 |
-
2012
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01156681A (ja) * | 1987-12-15 | 1989-06-20 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査方法 |
JPH0245781A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-15 | Fujitsu Ltd | プリント基板の試験データ生成装置 |
JPH09304478A (ja) * | 1996-05-09 | 1997-11-28 | Fujitsu Ltd | 検査データ生成方法及び装置 |
JPH1091665A (ja) * | 1996-09-17 | 1998-04-10 | Oki Electric Ind Co Ltd | 論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法 |
JPH11237446A (ja) * | 1998-02-20 | 1999-08-31 | Nec Corp | プリント基板の実測波形シミュレーションシステム及び方法 |
JP2000121705A (ja) * | 1998-10-09 | 2000-04-28 | Agilent Technol Inc | 基板モデル修正方法および装置 |
JP2004132805A (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Zuken Inc | 検査方法、検査装置、プログラムおよび記録媒体 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160006119A (ko) | 2014-07-08 | 2016-01-18 | 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤 | 검사용 데이터 작성 장치, 검사용 데이터 작성 방법, 기록 매체에 기록된 프로그램 및 그 프로그램을 기록한 기록 매체 |
CN105259492A (zh) * | 2014-07-08 | 2016-01-20 | 日置电机株式会社 | 检查用数据生成装置、检查用数据生成方法以及程序 |
JP2016038239A (ja) * | 2014-08-06 | 2016-03-22 | 日置電機株式会社 | データ生成装置およびデータ生成方法 |
JP2016194477A (ja) * | 2015-04-01 | 2016-11-17 | 日置電機株式会社 | データ生成装置およびデータ生成方法 |
JP2020020608A (ja) * | 2018-07-30 | 2020-02-06 | 東芝情報システム株式会社 | 基板検査装置 |
JP7005451B2 (ja) | 2018-07-30 | 2022-01-21 | 東芝情報システム株式会社 | 基板検査装置 |
CN112969925A (zh) * | 2018-11-09 | 2021-06-15 | 日本电产理德股份有限公司 | 检查指示信息产生装置、基板检查系统、检查指示信息产生方法以及检查指示信息产生程序 |
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