CN107037909A - 触摸检测装置和带触摸检测功能的显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的目的在于，提供能够在抑制边框区域的宽度增大的同时，还能抑制看到设于边框区域的边框配线的触摸检测装置和带触摸检测功能的显示装置。具有：基板，设有用于显示图像的显示区域、显示区域的外侧的第一边框区域和第一边框区域的外侧的第二边框区域；多个检测电极，在与基板平行的面上设于显示区域，并具有多个金属配线；以及多个边框配线，从多个检测电极引出而分别设于第一边框区域和第二边框区域，第一边框区域中多个边框配线的覆盖面积相对于基板的规定面积的比率小于第二边框区域中多个边框配线的覆盖面积相对于基板的规定面积的比率。

Description

触摸检测装置和带触摸检测功能的显示装置
技术领域
本发明涉及能够检测外部接近物体的触摸检测装置和带触摸检测功能的显示装置。
背景技术
近年来，被称为所谓的触摸面板的、能够检测外部接近物体的触摸检测装置受到关注。触摸面板装配于液晶显示装置等显示装置上或者与其实现一体化而用作带触摸检测功能的显示装置。并且，带触摸检测功能的显示装置通过在显示装置上显示各种按钮图像等，从而能够使触摸面板取代通常的机械式按钮输入信息。
下述专利文献1中记载了静电电容方式的触摸面板。该触摸面板包括：设于显示区域并用于检测触摸输入的电极；以及从电极引出而设于边框区域的边框配线。设于边框区域的边框配线与盖玻璃的装饰层重叠配置，由此抑制从外部看到(视觉辨认)边框配线。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2015-011491号公报
但是，为了实现触摸面板的窄边框化，设于边框区域的边框配线有时会设于显示区域的旁边，在从斜向观察时有可能看到边框配线。为此，有时不易将边框配线设于显示区域的旁边，有可能增大边框区域的宽度。另外，在如上所述对盖玻璃设置装饰层的情况下，需要考虑装饰层的位置精度、盖玻璃的对准精度。为此，需要增大装饰层的面积，有可能增大边框区域的宽度。
发明内容
本发明的目的在于，提供能够抑制边框区域的宽度增大的同时，还能抑制看到设于边框区域的边框配线的触摸检测装置和带触摸检测功能的显示装置。
本发明的一方式的触摸检测装置具有：基板，设有用于显示图像的显示区域、所述显示区域的外侧的第一边框区域和所述第一边框区域的外侧的第二边框区域；多个检测电极，在与所述基板平行的面上设于所述显示区域，并具有多个金属配线；以及多个边框配线，从多个所述检测电极引出而分别设于所述第一边框区域和所述第二边框区域，所述第一边框区域中多个所述边框配线的覆盖面积相对于所述基板的规定面积的比率小于所述第二边框区域中多个所述边框配线的覆盖面积相对于所述基板的规定面积的比率。
本发明的一方式的带触摸检测功能的显示装置具有：多个像素电极，呈矩阵配置于与所述基板平行的面上的所述显示区域；以及显示功能层，在所述显示区域内发挥图像显示功能。
附图说明
图1是表示第一实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一构成例的框图。
图2是用于说明互静电电容方式的触摸检测的基本原理的、表示手指未接触或者接近的状态的说明图。
图3是表示图2所示的手指未接触或者接近状态的等效电路的例子的说明图。
图4是用于说明互静电电容方式的触摸检测的基本原理的、表示手指接触或者接近的状态的说明图。
图5是表示图4所示的手指接触或者接近状态的等效电路的例子的说明图。
图6是表示互静电电容方式的触摸检测的驱动信号和触摸检测信号的一例波形的图。
图7是表示带触摸检测功能的显示装置的概略截面结构的截面图。
图8是示意性地表示构成带触摸检测功能的显示装置的TFT基板的平面图。
图9是示意性地表示构成带触摸检测功能的显示装置的玻璃基板的平面图。
图10是表示第一实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示部的像素排列的电路图。
图11是表示第一实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示部的驱动电极和触摸检测电极的一构成例的立体图。
图12是表示1帧期间中的显示动作期间和触摸检测期间的一例配置的示意图。
图13是将触摸检测电极和边框配线局部地放大示出的示意性平面图。
图14是用于说明显示区域与边框区域的关系的示意性截面图。
图15是将第二实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极和边框配线局部地放大示出的示意性平面图。
图16是将第二实施方式的触摸检测电极与边框配线的连接部分放大示出的示意性平面图。
图17是将第二实施方式的变形例所涉及的触摸检测电极与边框配线的连接部分放大示出的示意性平面图。
图18是将第三实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极和边框配线局部地放大示出的示意性平面图。
图19是将第四实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极和边框配线局部地放大示出的示意性平面图。
图20是表示第五实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极和边框配线的示意性平面图。
图21是用于示意性说明驱动电极与边框配线之间的边缘电场的立体图。
图22是第六实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示装置的示意性截面图。
具体实施方式
参照附图对用于实施本发明的方式(实施方式)进行详细说明。下面的实施方式中所记载的内容并非对本发明进行限定。此外，下面所记载的构成成分中包括本领域技术人员容易想到的成分、实质上相同的成分。进而，下面所记载的构成成分可以进行适当地组合。需要注意的是，公开的终归仅为一个例子，对本领域技术人员来说能够容易想到的在发明主旨范围内的适当变更当然也包含在本发明的范围之内。另外，附图为了使说明更加明确，有时与实际的方式相比，示意性示出各部分的宽度、厚度、形状等，这些不过是一个例子，并非用来限定本发明的解释。另外，在本说明书与各图中，对于与在已经出现过的附图中描述过的成分相同的成分，标注相同的符号，有时适当省略其详细的说明。
(第一实施方式)
图1是表示第一实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一构成例的框图。如图1所示，带触摸检测功能的显示装置1包括：带触摸检测功能的显示部10、控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14以及触摸检测部40。带触摸检测功能的显示装置1是带触摸检测功能的显示部10内置有触摸检测功能的显示装置。带触摸检测功能的显示部10是将采用了液晶显示元件作为显示元件的显示面板20和作为检测触摸输入的触摸检测装置的触摸面板30一体化而成的装置。需要注意的是，带触摸检测功能的显示部10也可以是将触摸面板30装配在显示面板20之上的、所谓的on-cell型的装置。显示面板20例如也可以是有机EL显示面板。
如后所述，显示面板20是按照从栅极驱动器12供给的扫描信号Vscan，1水平线1水平线地依次扫描并进行显示的元件。控制部11是基于从外部供给的影像信号Vdisp而分别向栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14以及触摸检测部40供给控制信号以控制它们彼此同步地进行动作的电路。
栅极驱动器12具有基于从控制部11供给的控制信号依次选择作为带触摸检测功能的显示部10的显示驱动的对象的1水平线的功能。
源极驱动器13是基于从控制部11供给的控制信号向带触摸检测功能的显示部10的后述的各子像素SPix供给像素信号Vpix的电路。
驱动电极驱动器14是基于从控制部11供给的控制信号向带触摸检测功能的显示部10的后述的驱动电极COML供给驱动信号Vcom的电路。
触摸面板30基于静电电容型触摸检测的基本原理进行动作，根据互静电电容方式进行触摸检测动作，检测外部的导体对显示区域的接触或接近。需要注意的是，触摸面板30也可以根据自静电电容方式进行触摸检测动作。
触摸检测部40是基于从控制部11供给的控制信号与从触摸面板30供给的触摸检测信号Vdet来检测有无对触摸面板30的触摸的电路。另外，触摸检测部40在有触摸的情况下求出进行了触摸输入的坐标等。该触摸检测部40包括触摸检测信号放大部42、A/D转换部43、信号处理部44以及坐标提取部45。检测时机控制部46基于从控制部11供给的控制信号，控制A/D转换部43、信号处理部44以及坐标提取部45同步地进行动作。
如上所述，触摸面板30基于静电电容型触摸检测的基本原理进行动作。在此，参照图2～图6，对本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1的互静电电容方式的触摸检测的基本原理进行说明。图2是用于说明互静电电容方式的触摸检测的基本原理的、表示手指未接触或接近的状态的说明图。图3是表示图2所示的手指未接触或接近状态的等效电路的例子的说明图。图4是用于说明互静电电容方式的触摸检测的基本原理的、表示手指接触或接近的状态的说明图。图5是表示图4所示的手指接触或接近状态的等效电路的例子的说明图。图6是表示驱动信号以及触摸检测信号的波形的一个例子的图。需要注意的是，在以下的说明中说明的是手指接触或接近的情况，但不限于手指，例如也可以是包括手写笔等导体的物体。
例如，如图2所示，电容元件C1包括隔着电介质D彼此相对配置的一对电极、驱动电极E1以及触摸检测电极E2。如图3所示，电容元件C1其一端连接于交流信号源(驱动信号源)S，另一端与电压检测器DET连接。电压检测器DET例如是包括在图1所示的触摸检测信号放大部42中的积分电路。
当从交流信号源S向驱动电极E1(电容元件C1的一端)施加了规定频率(例如数kHz～数百kHz左右)的交流矩形波Sg时，经由与触摸检测电极E2(电容元件C1的另一端)侧连接的电压检测器DET，显现图6所示那样的输出波形(触摸检测信号Vdet)。需要注意的是，该交流矩形波Sg例如相当于从驱动电极驱动器14输入的驱动信号Vcom。
在手指未接触或接近的状态(非接触状态)下，如图2以及图3所示，伴随着对电容元件C1的充放电，流动与电容元件C1的电容值相应的电流I0。图3所示的电压检测器DET将与交流矩形波Sg相应的电流I0的变动转换为电压的变动(实线的波形V0(参照图6))。
另一方面，在手指接触或接近的状态(接触状态)下，如图4所示，由手指形成的静电电容C2与触摸检测电极E2接触或者位于附近，由此屏蔽处于驱动电极E1与触摸检测电极E2之间的边缘(fringe)相应的静电电容。为此，如图5所示，电容元件C1作为电容值比非接触状态下的电容值小的电容元件C1′发挥作用。然后，观察图5所示的等效电路，在电容元件C1′中流通电流I1。如图6所示，电压检测器DET将与交流矩形波Sg相应的电流I1的变动转换为电压的变动(虚线的波形V1)。在这种情况下，波形V1与上述的波形V0相比，振幅变小。由此，波形V0与波形V1的电压差(電圧差分)的绝对值|ΔV|根据手指等从外部接触或接近的导体的影响进行变化。需要注意的是，为了电压检测器DET高精度地检测波形V0与波形V1的电压差的绝对值|ΔV|，更优选的是，对电压检测器DET的动作设置通过电路内的转换并配合交流矩形波Sg的频率对电容器的充放电进行复位的期间Reset。
图1所示的触摸面板30按照从驱动电极驱动器14供给的驱动信号Vcom，一检测块一检测块地依次扫描，进行基于互静电电容方式的触摸检测。
触摸面板30经由图3或图5所示的电压检测器DET从后述的多个触摸检测电极TDL按每个检测块地输出触摸检测信号Vdet。触摸检测信号Vdet供给至触摸检测部40的触摸检测信号放大部42。
触摸检测信号放大部42对从触摸面板30供给的触摸检测信号Vdet进行放大。需要注意的是，触摸检测信号放大部42也可以包括去除触摸检测信号Vdet中含有的高频成分(噪声成分)后加以输出的低通模拟滤波器、即模拟LPF(Low Pass Filter)。
A/D转换部43在与驱动信号Vcom同步的时机下，分别对从触摸检测信号放大部42输出的模拟信号进行采样并将它们转换为数字信号。
信号处理部44包括减少A/D转换部43的输出信号中含有的、对驱动信号Vcom进行了采样的频率以外的频率成分(噪声成分)的数字滤波器。信号处理部44是基于A/D转换部43的输出信号来检测有无对触摸面板30的触摸的逻辑电路。信号处理部44进行仅提取由手指导致的检测信号的差分的处理。该由手指导致的差分的信号是上述波形V0与波形V1的差分的绝对值|ΔV|。信号处理部44也可以进行对每一检测块的绝对值|ΔV|进行平均化的运算来求出绝对值|ΔV|的平均值。由此，信号处理部44能够降低噪声的影响。信号处理部44将检测出的由手指导致的差分的信号与规定的阈值电压进行比较，若不足该阈值电压，则判断外部接近物体为非接触状态。另一方面，信号处理部44将检测出的由手指导致的差分的信号与规定的阈值电压进行比较，若为阈值电压以上，则判断是外部接近物体的接触状态。这样一来，触摸检测部40能够进行触摸检测。
坐标提取部45是在信号处理部44中检测到触摸时求出其触摸面板坐标的逻辑电路。坐标提取部45将触摸面板坐标作为检测信号输出Vout进行输出。如上所述，本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1能够基于互静电电容方式的触摸检测的基本原理进行触摸检测动作。
接着，详细地说明带触摸检测功能的显示装置1的构成例。图7是表示带触摸检测功能的显示装置的概略截面结构的截面图。图8是示意性地表示构成带触摸检测功能的显示装置的TFT基板的平面图。图9是示意性地表示构成带触摸检测功能的显示装置的玻璃基板的平面图。如图7所示，带触摸检测功能的显示部10包括：像素基板2；对置基板3，在与该像素基板2的表面垂直的方向上与像素基板2相对配置；以及液晶层6，夹设于像素基板2与对置基板3之间。
如图7所示，像素基板2包括：作为电路基板的TFT(Thin Film Transistor：薄膜晶体管)基板21；多个像素电极22，呈矩阵状配设于该TFT基板21的上方；多个驱动电极COML，设于TFT基板21与像素电极22之间；以及绝缘层24，将像素电极22与驱动电极COML绝缘。也可以通过粘接层66将偏光板65设于TFT基板21的下侧。
显示控制用IC19设于TFT基板21。显示控制用IC19是以COG(Chip On Glass：玻璃上芯片)方式安装于TFT基板21的芯片，并内置有上述控制部11。另外，在TFT基板21的端部上连接有柔性基板72。显示控制用IC19基于从外部的主机IC(未图示)供应的影像信号Vdisp(参照图1)将控制信号输出到后述的扫描信号线GCL和像素信号线SGL等。
如图8所示，TFT基板21具有用于显示图像的显示区域10a和显示区域10a的外侧的边框区域10b。显示区域10a是具有长边和短边的矩形形状。边框区域10b呈包围显示区域10a的四条边的框状。
多个驱动电极COML设于TFT基板21的显示区域10a，它们在沿着显示区域10a的长边的方向上延伸。另外，驱动电极COML在沿着显示区域10a的短边的方向上排列有多个。驱动电极COML例如采用ITO(Indium Tin Oxide：铟锡氧化物)等具有透光性的导电性材料。
在TFT基板21的边框区域10b的短边侧配置有驱动电极驱动器14和显示控制用IC19，在边框区域10b的长边侧配置有栅极驱动器12。另外，柔性基板72连接于边框区域10b的短边侧。驱动电极驱动器14和柔性基板72配置在驱动电极COML的延伸方向的端部附近。为此，能够缩短从驱动电极COML引出的配线的长度，能够缩小边框区域10b的面积。
如图7所示，对置基板3包括玻璃基板31和形成于该玻璃基板31的一面的彩色滤光片32。在玻璃基板31的另一面设有作为触摸面板30的检测电极的触摸检测电极TDL。在触摸检测电极TDL之上设有保护层38。进而，在触摸检测电极TDL的上方隔着粘接层39设有偏光板35。另外，在玻璃基板31上连接有柔性基板71。柔性基板71经由边框配线37与触摸检测电极TDL连接。
如图9所示，在玻璃基板31的显示区域10a中设有触摸检测电极TDL。触摸检测电极TDL在沿着显示区域10a的短边的方向上延伸，并在沿着显示区域10a的长边的方向上排列有多个。触摸检测电极TDL分别具有多个金属配线33a、33b。多个金属配线33a、33b以具有多个弯曲部的方式形成为Z字线(zigzag)或者波浪线，并在沿着显示区域10a的短边的方向上延伸。金属配线33a和金属配线33b在沿着显示区域10a的长边的方向上排列。在本实施方式中，金属配线33a的弯曲部与金属配线33b的弯曲部相互连接，触摸检测电极TDL构成为网眼状的金属配线。金属配线33a和金属配线33b通过设于图9的虚线A所示的部位的狭缝SL而分离。被狭缝SL分离的金属配线33a和金属配线33b分别作为一个触摸检测电极TDL发挥功能。
金属配线33a、33b由铝(Al)、铜(Cu)、银(Ag)、钼(Mo)和它们的合金中的至少一种金属材料形成。另外，金属配线33a、33b也可以是使用一种以上的上述金属材料层叠多层而成的层叠体。铝(Al)、铜(Cu)、银(Ag)和它们的合金中的至少一种金属材料的电阻低于作为透明电极的材料的ITO等透光性导电氧化物的电阻。由于铝(Al)、铜(Cu)、银(Ag)和它们的合金中的至少一种金属材料与ITO等透光性导电氧化物相比具有遮光性，因此存在透射率降低的可能性或者看到触摸检测电极TDL的图案的可能性。在本实施方式中，一个触摸检测电极TDL具有多个宽度窄的金属配线33a、33b，金属配线33a、33b设有比线宽大的间隔而配置为网眼状，由此能够实现低电阻化和不可见化。其结果，触摸检测电极TDL能够实现低电阻化，带触摸检测功能的显示装置1能够实现薄型化、大画面化或者高清晰化。
优选金属配线33a、33b的宽度位于2μm以上且10μm以下的范围。其原因是，在金属配线33a、33b的宽度为10μm以下时，覆盖显示区域10a中不被黑矩阵或者扫描信号线GCL和像素信号线SGL抑制光的透射的区域、即开口部的面积减小，有损开口率的可能性变低。另外，其原因是，若金属配线33a、33b的宽度为2μm以上，则形状稳定且断线的可能性变低。
如图9所示，在玻璃基板31的边框区域10b中设有多个从触摸检测电极TDL引出的边框配线37。柔性基板71与玻璃基板31的边框区域10b的短边侧连接。边框配线37沿着边框区域10b的长边延伸，并与柔性基板71连接。在柔性基板71上搭载有触摸检测用IC18。触摸检测用IC18安装有图1所示的触摸检测部40，从触摸检测电极TDL输出的触摸检测信号Vdet经由边框配线37和柔性基板71供应到触摸检测用IC18。
如图7所示，TFT基板21和玻璃基板31隔着间隔物61而以设有规定间隔的方式相对配置。在TFT基板21与玻璃基板31之间的空间设有液晶层6。液晶层6根据电场的状态来调制通过其的光，例如采用包括FFS(边缘场切换)的IPS(面内切换)等横电场模式的液晶。需要注意的是，也可以在图7所示的液晶层6与像素基板2之间、以及液晶层6与对置基板3之间分别配设取向膜。
接着，说明显示面板20的显示动作。图10是表示第一实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示部的像素排列的电路图。在TFT基板21上形成有图10所示的各子像素SPix的薄膜晶体管元件(以下称作TFT元件)Tr、向各像素电极22供给像素信号Vpix的像素信号线SGL、供给驱动各TFT元件Tr的驱动信号的扫描信号线GCL等配线。像素信号线SGL以及扫描信号线GCL在与TFT基板21的表面平行的平面上延伸。
图10所示的显示面板20具有呈矩阵状排列的多个子像素SPix。子像素SPix分别包括TFT元件Tr以及液晶元件LC。TFT元件Tr由薄膜晶体管构成，在本例中，由n沟道的MOS(Metal Oxide Semiconductor：金属氧化物半导体)型的TFT构成。TFT元件Tr的源极与像素信号线SGL连接，栅极与扫描信号线GCL连接，漏极与液晶元件LC的一端连接。液晶元件LC的一端与TFT元件Tr的漏极连接，另一端与驱动电极COML连接。
子像素SPix通过扫描信号线GCL与显示面板20的属于相同行的其它子像素SPix相互连接。扫描信号线GCL与栅极驱动器12(参照图1)连接，从栅极驱动器12供给扫描信号Vscan。另外，子像素SPix通过像素信号线SGL与显示面板20的属于相同列的其它子像素SPix相互连接。像素信号线SGL与源极驱动器13(参照图1)连接，从源极驱动器13供给像素信号Vpix。进而，子像素SPix通过驱动电极COML与属于相同列的其它子像素SPix相互连接。驱动电极COML与驱动电极驱动器14(参照图1)连接，从驱动电极驱动器14供给驱动信号Vcom。换句话说，在该例中，属于相同的一列的多个子像素SPix共用一条驱动电极COML。
图1所示的栅极驱动器12以依次扫描的方式驱动扫描信号线GCL。栅极驱动器12经由扫描信号线GCL向子像素SPix的TFT元件Tr的栅极施加扫描信号Vscan(参照图1)，从而将子像素SPix中的1行(一水平线)依次选择作为显示驱动的对象。另外，在带触摸检测功能的显示装置1中，对于属于一水平线的子像素SPix，源极驱动器13经由图10所示的像素信号线SGL向选择的构成一水平线的子像素SPix供给像素信号Vpix。于是，在这些子像素SPix中，根据供给的像素信号Vpix，一水平线一水平线地进行显示。在进行该显示动作时，驱动电极驱动器14对驱动电极COML施加驱动信号Vcom。像素电极22通过显示动作的驱动信号Vcom被供给公共电位。
在图7所示的彩色滤光片32中，例如也可以使着色为红(R)、绿(G)、蓝(B)这三色的彩色滤光片的颜色区域周期性排列。R、G、B这三色的颜色区域作为一组与上述的图10所示的各子像素SPix建立对应，与三色的颜色区域32R、32G、32B对应的子像素SPix作为一组构成像素Pix。如图7所示，彩色滤光片32在与TFT基板21垂直的方向上与液晶层6相对。需要注意的是，若将彩色滤光片32着色为不同的颜色，则也可以是其它颜色的组合。另外，彩色滤光片32不限于三色的组合，也可以是四色以上的组合。
如图10所示，在本实施方式中，驱动电极COML在与像素信号线SGL的延伸方向平行的方向延伸，并在与扫描信号线GCL的延伸方向交叉的方向延伸。为此，能够将来自驱动电极COML的配线引出到边框区域10b的短边侧(柔性基板72侧)(参照图8)。因而，与在与像素信号线SGL正交的方向设置驱动电极COML的情况相比，无需在边框区域10b的长边侧设置驱动电极驱动器14，能够减小边框区域10b的宽度。需要注意的是，驱动电极COML不限于此，例如也可以在与扫描信号线GCL平行的方向上延伸。
图7和图8所示的驱动电极COML作为对显示面板20的多个像素电极22提供公共电位的公共电极发挥功能，并且还作为进行触摸面板30的互静电电容方式的触摸检测时的驱动电极发挥功能。另外，驱动电极COML也可以作为进行触摸面板30的自静电电容方式的触摸检测时的检测电极发挥功能。图11是表示第一实施方式涉及的带触摸检测功能的显示部的驱动电极和触摸检测电极的一构成例的立体图。触摸面板30包括设于像素基板2的驱动电极COML和设于对置基板3的触摸检测电极TDL。
驱动电极COML包括在图11的左右方向上延伸的多个条纹状的电极图案。触摸检测电极TDL包括在与驱动电极COML的电极图案的延伸方向交叉的方向上延伸的多个电极图案。而且，触摸检测电极TDL在与TFT基板21(参照图7)的表面垂直的方向上与驱动电极COML相对。触摸检测电极TDL的各电极图案分别与触摸检测部40的触摸检测信号放大部42的输入连接(参照图1)。在驱动电极COML的各电极图案与触摸检测电极TDL的各电极图案的交叉部分分别形成静电电容。
触摸检测电极TDL和驱动电极COML(驱动电极块)不限于按条纹状分割为多个的形状。例如，触摸检测电极TDL和驱动电极COML也可以是梳齿形状等。或者，触摸检测电极TDL和驱动电极COML分割为多个即可，分割驱动电极COML的狭缝的形状既可以是直线，也可以是曲线。
根据上述构成，在触摸面板30中，当进行互静电电容方式的触摸检测动作时，驱动电极驱动器14驱动驱动电极COML，将其作为驱动电极块分时地依次对其进行扫描，从而依次选择驱动电极COML的一检测块。然后，通过从触摸检测电极TDL输出触摸检测信号Vdet，从而进行一检测块的触摸检测。换句话说，驱动电极块与上述的互静电电容方式的触摸检测的基本原理中的驱动电极E1对应，触摸检测电极TDL与触摸检测电极E2对应，触摸面板30按照该基本原理检测触摸输入。如图11所示，在触摸面板30中，相互交叉的触摸检测电极TDL及驱动电极COML使静电电容式触摸传感器构成为矩阵状。因此，通过在触摸面板30的整个触摸检测面进行扫描，从而能够检测产生来自外部的导体的接触或接近的位置。
作为带触摸检测功能的显示装置1的动作方法的一例，带触摸检测功能的显示装置1分时地进行触摸检测动作(触摸检测期间)和显示动作(显示动作期间)。触摸检测动作与显示动作可以任意分割地进行，以下说明在显示面板20的1帧期间(1F期间)、即显示一画面量的影像信息所需的时间中将触摸检测动作和显示动作分别分割为多次而进行的方法。
图12是表示1帧期间中的显示动作期间和触摸检测期间的一例配置的示意图。1帧期间(1F)包括两个显示动作期间Pd1、Pd2和两个触摸检测期间Pt1、Pt2，上述各期间在时间轴上以显示动作期间Pd1、触摸检测期间Pt1、显示动作期间Pd2、触摸检测期间Pt2的方式交替配置。
控制部11(参照图1)经由栅极驱动器12和源极驱动器13对在各显示动作期间Pd1、Pd2选择的多行的像素Pix(参照图10)供应像素信号Vpix。
另外，控制部11(参照图1)经由驱动电极驱动器14对在各触摸检测期间Pt1、Pt2选择的驱动电极COML(参照图11)供应触摸检测用的驱动信号Vcom。触摸检测部40基于从触摸检测电极TDL供应的触摸检测信号Vdet进行有无触摸输入和输入位置的坐标的运算。
需要说明的是，在本实施方式中，驱动电极COML兼用作显示面板20的公共电极，因此控制部11在显示动作期间Pd1、Pd2中对经由驱动电极驱动器14选择的驱动电极COML供应作为显示用的公共电极电位的驱动信号Vcom。
当在触摸检测动作中不使用驱动电极COML而仅通过触摸检测电极TDL进行检测动作时、例如当基于自静电电容方式的触摸检测原理进行触摸检测时，驱动电极驱动器14也可以对触摸检测电极TDL供应触摸检测用的驱动信号Vcom。
图12中，在1帧期间(1F)中将1画面量的影像显示分为两次进行，但也可以将1帧期间(1F)内的显示动作期间分为更多的次数。关于触摸检测期间，也可以在1帧期间(1F)中设置更多的次数。
触摸检测期间Pt1、Pt2既可以各自进行一画面的一半的触摸检测，也可以各自进行一画面量的触摸检测。另外，还可以根据需要进行细化(間引き)检测等。另外，也可以不将1帧期间(1F)中的显示动作和触摸检测动作分为多次而是一次一次地进行。
在触摸检测期间Pt1、Pt2中，扫描信号线GCL和像素信号线SGL(参照图10)也可以设为未被供应电压信号且电位不固定的浮动(floating)状态。另外，扫描信号线GCL和像素信号线SGL也可以被供应与驱动信号Vcom同步的同一波形的信号。
接着，说明本实施方式涉及的触摸检测电极TDL和边框配线37的详细的构成。图13是将触摸检测电极和边框配线局部放大后示出的示意性平面图。图14是用于说明显示区域与边框区域的关系的示意性截面图。
如图13所示，玻璃基板31具有用于显示图像的显示区域10a和显示区域10a的外侧的边框区域10b。如图13和图14所示，边框区域10b与显示区域10a的外周相接，示出从显示区域10a的外周到玻璃基板31的外周的区域。边框配线37包括第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e。在显示区域10a中设有触摸检测电极TDL，在边框区域10b中设有第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e。第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e在沿着边框区域10b的一边的方向上相互并列地延伸。另外，如图14所示，在玻璃基板31的下表面的、与边框区域10b重叠的位置设有遮光层36。遮光层36着色为抑制光的透射的黑色等，设置成使得不会从外部看到第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e。在本说明书中，显示区域10a是比遮光层36的内周侧的端部36a更靠内侧的区域，示出与彩色滤光片32重叠的区域。
如图13所示，触摸检测电极TDL具有多个金属配线33a、33b。金属配线33a、33b分别具有相对于沿着显示区域10a的短边的方向(图13所示的第一方向Dx)倾斜的细线片Ua和细线片Ub。细线片Ua和细线片Ub向彼此相反的方向倾斜。细线片Ua和细线片Ub在第一方向Dx上反复交替地配置，以在弯曲部处折返的方式而相连接。这样，金属配线33a、33b形成为具有弯曲部的Z字线或者波浪线。细线片Ua和细线片Ub虽是直线状，但不限于此，也可以是曲线状。细线片Ua和细线片Ub相对于与彩色滤光片32的颜色区域32R、32G、32B的延伸方向平行的方向具有角度地彼此向相反的方向倾斜。由此，细线片Ua和细线片Ub依次遮挡颜色区域32R、32G、32B，从而能够抑制彩色滤光片32的特定颜色区域的透射率下降。
金属配线33a和金属配线33b是以与显示区域10a的短边平行的直线为对称轴的线对称的形状。金属配线33a和金属配线33b在沿着显示区域10a的长边的方向(图13所示的第二方向Dy)上交替地排列。在第二方向Dy上排列的多个金属配线33a和多个金属配线33b的弯曲部彼此结合而形成交叉部TDX。通过该交叉部TDX使金属配线33a与金属配线33b导通。通过上述构成，金属配线33a和金属配线33b形成被细线片Ua和细线片Ub包围的包围区域mesh1，在显示区域10a中设有网眼状的金属配线。
边框区域10b具有第一边框区域FA1、第二边框区域FA2和第三边框区域FA3。第一边框区域FA1是与显示区域10a相接、且从显示区域10a的外周起具有图14所示的宽度Wa的框状的区域。在此，显示区域10a的外周是与遮光层36的端部36a重叠的位置。第一边框区域FA1的宽度Wa是玻璃基板31的厚度tg的1/2以上的大小。即使在设有遮光层36的情况下，当从斜向观察时，第一边框区域FA1也是与彩色滤光片32重叠并有可能从外部被看到的区域。
第一边框配线57a-57c设于第一边框区域FA1。第一边框配线57a-57c沿着第二方向Dy延伸，并在第一方向Dx上彼此具有间隔地平行排列。金属配线33a、33b从显示区域10a延伸到第一边框区域FA1，第一边框配线57a和金属配线33a、33b通过连接部UX连接。需要注意的是，第一边框配线57b、57c分别与未图示的不同的触摸检测电极TDL连接。
第二边框区域FA2是与第一边框区域FA1相接、且设于第一边框区域FA1的外侧的框状的区域。第二边框区域FA2具有比第一边框区域FA1大的宽度。在第二边框区域FA2中设有第二边框配线58a-58e。第二边框配线58a-58e与第一边框配线57a-57c平行地沿着第二方向Dy延伸，并在第一方向Dx上排列有多个。第二边框配线58a-58e分别与未图示的不同的触摸检测电极TDL连接。
第三边框区域FA3是与第二边框区域FA2相接、且是从第二边框区域FA2的外周到玻璃基板31的外周的区域。第三边框区域FA3是第二边框配线58e的外侧的区域，是未设置第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e的区域。如图14所示，第三边框区域FA3包括涂覆有保护层38的区域FA3a和未涂覆保护层38的、玻璃基板31的上表面从保护层38露出的区域FA3b。区域FA3a是将保护层38的涂覆区域扩大至第二边框配线58e的外侧而使第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e可靠地被保护层38覆盖的区域。未涂覆保护层38的区域FA3b是在制造工序上所设置的区域，但也可以不设置区域FA3b而将保护层38设置至玻璃基板31的外周。
在本实施方式中，第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e采用与金属配线33a、33b相同的金属材料。并且，相对于显示区域10a中的金属配线33a、33b的配线密度，第一边框区域FA1的至少一边的第一边框配线57a-57c的配线密度较大。进而，相对于第一边框区域FA1中的第一边框配线57a-57c的配线密度，第二边框区域FA2中的第二边框配线58a-58e的配线密度较大。
在此，金属配线33a、33b的配线密度表示俯视时相对于玻璃基板31的显示区域10a的面积，金属配线33a、33b的覆盖面积所占的比率。第一边框配线57a-57c的配线密度表示俯视时相对于玻璃基板31的第一边框区域FA1的面积，第一边框配线57a-57c的覆盖面积所占的比率。第二边框配线58a-58e的配线密度表示俯视时相对于玻璃基板31的第二边框区域FA2的面积，第二边框配线58a-58e的覆盖面积所占的比率。需要注意的是，各配线密度例如也可以是将包含形成包围区域mesh1的四根细线片Ua和细线片Ub的菱形形状或者矩形形状作为玻璃基板31的单位面积，相对于该单位面积，各配线的面积所占的比率。
例如，通过将第一边框配线57a-57c设为与金属配线33a、33b相同的宽度、使第一边框配线57a-57c彼此的间隔小于相邻的交叉部TDX彼此的间隔，从而能够使第一边框区域FA1的配线密度大于显示区域10a的配线密度。另外，也可以将第一边框配线57a-57c设为与金属配线33a、33b不同的宽度。通过使第一边框配线57a-57c的宽度大于金属配线33a、33b，从而能够增大配线密度。
优选第一边框配线57a-57c的宽度与金属配线33a、33b同样地位于2μm以上且10μm以下的范围。另外，优选将第一边框配线57a-57c彼此的间隔设为第一边框配线57a-57c的宽度以上的大小。通过这样构成，能够实现第一边框配线57a-57c的低电阻化和不可见化。
关于第一边框配线57a-57c，通过使相邻的第一边框配线57a-57c彼此的间隔大于相邻的第二边框配线58a-58e彼此的间隔，能够使第一边框配线57a-57c的配线密度小于第二边框配线58a-58e的配线密度。另外，通过使第一边框配线57a-57c的宽度小于第二边框配线58a-58e的宽度，能够使第一边框配线57a-57c的配线密度小于第二边框配线58a-58e的配线密度。
关于第二边框配线58a-58e，通过相对于第一边框配线57a-57c缩小间隔且增大宽度，从而能够实现低电阻化。即使在这种情况下，由于第二边框配线58a-58e与图14所示的遮光层36重叠配置，因此也能够通过使用与金属配线33a、33b相同的金属材料来实现不可见化。
也可以使第二边框配线58a-58e的宽度以随着从第二边框区域FA2的内周侧朝向外周侧逐渐增大的方式而不同。由于配置于外周侧的第二边框配线58e与配置于内周侧的第二边框配线58a相比，连接到离柔性基板71(参照图9)更远位置的触摸检测电极TDL，因此配线变长。第二边框配线58a-58e的长度越长，宽度越大，由此能够抑制电阻值的增大。另外，如图13所示，第一边框配线57a-57c虽具有相同的宽度，但也可以与第二边框配线58a-58e同样地，越是配置于外周侧的配线、即配线的长度越长，越增大宽度。
如上所述，通过随着从显示区域10a朝向边框区域10b的外周逐渐增大配线密度，由此即使在从斜向观察时看到了第一边框区域FA1的情况下，也能抑制看到第一边框配线57a-57c。另外，由于能够在显示区域10a近旁的第一边框区域FA1中设置第一边框配线57a-57c，因此能够缩小边框区域10b的宽度。因而，本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1能够在抑制边框区域10b的宽度增大的同时，抑制看到设于边框区域10b的第一边框配线57a-57c。
第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e通过采用与金属配线33a、33b相同的金属材料，从而能够用同一工序制造。但不限于此。第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e也可以采用与金属配线33a、33b不同的金属材料。另外，在金属配线33a、33b是层叠了多个金属材料的层叠体的情况下，也可以使层叠体的局部的层不同。能够适当地变更第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e的根数。设于第一边框区域FA1的第一边框配线既可以是1根，也可以是4根以上。设于第二边框区域FA2的第二边框配线既可以是4根以下，也可以是6根以上。
触摸检测电极TDL通过使金属配线33a与金属配线33b连接而构成网眼状的金属配线，但不限于此，也可以适当地变更。例如，也可以是使金属配线33a在图13所示的第二方向Dy上隔开间隔地配置有多个的图案。
(第二实施方式)
图15是将第二实施方式涉及的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极和边框配线局部放大后示出的示意性平面图。本实施方式如图15所示，第一边框配线57a-57c的图案不同。第一边框配线57a-57c具有细线片W1和细线片W2。细线片W1和细线片W2在第二方向Dy上反复交替地配置，以在弯曲部WX处折返的方式而相连接。这样，第一边框配线57a-57c形成为具有弯曲部WX的Z字线状或者波浪线状。另外，第一边框配线57a-57c在第一方向Dx上具有间隔地彼此并列配置。
第一边框配线57a的弯曲部WX和金属配线33a、33b的交叉部TDX通过连接部UX连接。由此，触摸检测电极TDL与第一边框配线57a导通。
在本实施方式中，也是第一边框区域FA1中的第一边框配线57a-57c的配线密度大于显示区域10a中的金属配线33a、33b的配线密度。另外，第二边框区域FA2中的第二边框配线58a-58e的配线密度大于第一边框区域FA1中的第一边框配线57a-57c的配线密度。因而，能够在抑制边框区域10b的宽度增大的同时，抑制看到设于边框区域10b的第一边框配线57a-57c。
另外，由于第一边框配线57a-57c是与金属配线33a、33b同样的Z字线状或者波浪线状，因此，从显示区域10a透射的光的图案与从第一边框区域FA1透射的光的图案类似。因而，即使是在从斜向观察的情况下，也能够抑制看到第一边框区域FA1的第一边框配线57a-57c。
图16是将第二实施方式的触摸检测电极与边框配线的连接部分放大示出的示意性平面图。如图15和图16所示，第一边框配线57a的节距(pitch)P2比金属配线33a、33b的节距(pitch)P1小。如图16所示，金属配线33a、33b的节距P1设为在第二方向Dy上相邻的交叉部TDX彼此的间隔。第一边框配线57a的节距P2是反复配置细线片W1与细线片W2的间隔，并设为弯曲部WX中的配置于第一方向Dx侧的多个弯曲部WX在第二方向Dy上彼此相邻的间隔。本实施方式的第一边框配线57a的节距P2是金属配线33a、33b的节距P1的1/2的大小。为此，在第二方向Dy上排列多个弯曲部WX，金属配线33a、33b的交叉部TDX与多个弯曲部WX中的一个弯曲部WX一致。另外，能够增多可与金属配线33a、33b连接的第一边框配线57a的弯曲部WX的个数。因而，可确保第一边框配线57a与金属配线33a、33b的导通。
图17是将第二实施方式的变形例所涉及的触摸检测电极与边框配线的连接部分放大示出后的示意性平面图。在图17所示的变形例中，第一边框配线57a的节距P3变小、且是金属配线33a、33b的节距P1的1/4的大小。图17所示的被连接的细线片W1与细线片W2所成的角度小于图16所示的细线片W1与细线片W2的角度。即，细线片W1和细线片W2相对于第一方向Dx的倾斜角变小。
优选第一边框配线57a的节距是金属配线33a、33b的节距P1的1/n(n为自然数)。这样的话，以多个弯曲部WX中的一个弯曲部WX与金属配线33a、33b的交叉部TDX的位置一致的方式在第二方向Dy上排列有多个细线片W1和细线片W2，因此，第一边框配线57a与金属配线33a、33b的连接变得容易。
需要说明的是，在本实施方式中，第一边框配线57a-57c设为Z字线状或者波浪线状，但也可以是网眼状的图案等。另外，第二边框配线58a-58e设为直线状，但也可以与第一边框配线57a-57c同样地设为Z字线状或者波浪线状。
(第三实施方式)
图18是表示第三实施方式涉及的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极和边框配线的示意性平面图。在本实施方式中，第一边框配线57a设于显示区域10a。第一边框配线57a沿着显示区域10a与边框区域10b的边界设于边界的显示区域10a侧。第一边框配线57b、57c设于第一边框区域FA1。在触摸检测电极TDL中，金属配线33a、33b的端部位于比显示区域10a与边框区域10b的边界更靠内侧(第一方向Dx侧)的位置。第一边框配线57a与金属配线33a、33b通过显示区域10a内的连接部UX而连接。
本实施方式的第一边框配线57a是在第二方向Dy上反复连接细线片W1和细线片W2而成的Z字线状或者波浪线状的金属配线。为此，设于显示区域10a的第一边框配线57a能够与金属配线33a、33b同样地实现不可见化。另外，通过将边框配线的一部分配置于边框区域10b近旁的显示区域10a内，由此能够缩小边框区域10b的宽度。
第一边框配线57a的细线片W1和细线片W2按照比金属配线33a、33b小的节距排列。为此，通过将第一边框配线57a设于显示区域10a，从而能够屏蔽在第一边框配线57b、57c、第二边框配线58a-58e与驱动电极COML(参照图7)之间产生的边缘电场。该边缘电场将于后述。
(第四实施方式)
图19是将第四实施方式涉及的触摸检测电极和边框配线局部放大示出的示意性平面图。第一边框配线57a-57c是在第二方向Dy上反复连接细线片Ua与细线片Ub而成的Z字线状或者波浪线状。触摸检测电极TDL和第一边框配线57a被狭缝SLa分离。第一边框配线57a和第一边框配线57b被狭缝SLb分离。第一边框配线57a和第一边框配线57b是以与第二方向Dy平行的直线为对称轴的线对称的形状。第一边框配线57b和第一边框配线57c被狭缝SLc分离。第一边框配线57b和第一边框配线57c是以与第二方向Dy平行的直线为对称轴的线对称的形状。
第一边框配线57a设于显示区域10a。第一边框配线57b沿着显示区域10a与第一边框区域FA1的边界跨显示区域10a和第一边框区域FA1而设置。第一边框配线57c设于第一边框区域FA1。由于将第一边框配线57b的一部分和第一边框配线57a设于显示区域10a，因此能够缩小边框区域10b的宽度。另外，第一边框配线57a、57b能够屏蔽在驱动电极COML(未图示)与第一边框配线57c之间以及在驱动电极COML与第二边框配线58a-58e之间产生的边缘电场。
本实施方式的第一边框配线57a-57c的细线片Ua、细线片Ub是通过狭缝SLa、SLb、SLc将触摸检测电极TDL的金属配线33a、33b在第一方向Dx上分离而成的。即，第一边框配线57a的细线片Ua和细线片Ub分别具有与触摸检测电极TDL的金属配线33a、33b的细线片Ua、Ub相同的宽度、长度和倾斜角。因而，第一边框配线57a-57c的配线密度是与触摸检测电极TDL的金属配线33a、33b的配线密度大致相等的值。为此，第一边框配线57a-57c能够与金属配线33a、33b同样地实现不可见化和低电阻化。
如上所述，在本实施方式中也能够在抑制边框区域10b的宽度增大的同时，抑制看到设于边框区域10b的第一边框配线57a-57c。
(第五实施方式)
图20是表示第五实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极和边框配线的示意性平面图。图21是用于示意性说明驱动电极与边框配线之间的边缘电场的立体图。
在本实施方式中，与触摸检测电极TDL的金属配线33a、33b隔开地设有不作为触摸检测电极发挥功能的虚设电极TDD。虚设电极TDD通过在金属配线33a、33b的由图20的虚线B所示的部位设置狭缝SLd而与触摸检测电极TDL隔开。虚设电极TDD是分别在沿着第一方向Dx的方向具有长边的矩形形状，并在一个触摸检测电极TDL中沿第二方向Dy排列有多个。
虚设电极TDD具有在第一方向Dx上反复连接多个细线片Ud1和细线片Ud2而成的金属配线，该金属配线在第二方向Dy上连接。虚设电极TDD是具有被细线片Ud1和细线片Ud2包围的包围区域mesh2的网眼状。在各细线片Ud1和细线片Ud2的中途设有狭缝SLd。由于设有虚设电极TDD，因此能够减小触摸检测电极TDL与驱动电极COML(参照图11)之间的静电电容。另外，在设有虚设电极TDD的部分和设有触摸检测电极TLD的部分间，光的透射率大致相等，因此能够实现触摸检测电极TLD的不可见化。需要注意的是，狭缝SLd也可以设于细线片Ud1与细线片Ud2的交叉部。
触摸检测电极TDL被设于金属配线33a、33b的狭缝SL分开，分开的触摸检测电极TDL沿第二方向Dy排列有多个。图20示出了多个触摸检测电极TDL中的两个触摸检测电极TDL。例如，图20的上侧所示的触摸检测电极TDL在第一方向Dx侧的第一边框区域FA1处与第一连接配线57d连接。图20的下侧所示的触摸检测电极TDL在与第一方向Dx相反一侧的第一边框区域FA1处与第一连接配线57a连接。触摸检测电极TDL分别在未与第一连接配线57a、57d连接的一侧与用于将多个金属配线33a、33b彼此连接的连接配线34连接。
触摸检测电极TDL包括第一部分TDLa和第二部分TDLb。第一部分TDLa在第一方向Dx上延伸，并配置于在第二方向Dy上排列的虚设电极TDD彼此之间。第二部分TDLb配置于触摸检测电极TDL的两端部，分别在第一方向Dx上延伸。第二部分TDLb沿着显示区域10a与第一边框区域FA1的边界配置。在配置于两端的第二部分TDLb彼此之间配置有第一部分TDLa，第一部分TDLa与第二部分TDLb连接。第一部分TDLa主要作为上述互静电电容方式的触摸检测原理中的触摸检测电极发挥功能。
在将第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e(部分未图示)设于边框区域10b的显示区域10a近旁的情况下，如图21所示，在驱动电极COML与第一边框配线57a-57c之间产生边缘电场Ef。需要注意的是，虽然图21中示出的是第一边框配线57a-57c，但与面积大的第二边框配线58a-58e(未在图21中图示)之间也会产生边缘电场Ef。在手指等导体与第一边框配线57a-57c接触或者接近的情况下，由于边缘电场Ef被屏蔽而使静电电容发生变化。由于该静电电容的变化，有时会发生误检测。
在本实施方式中，由于设有第二部分TDLb，因此第二部分TDLb作为屏蔽驱动电极COML与第一边框配线57a-57c之间的边缘电场Ef的屏障发挥功能。为此，能够减少边缘电场Ef而抑制误检测。需要注意的是，第二部分TDLb作为屏障发挥功能，而且还作为检测与第二部分TDLb接触或者接近的手指等的触摸检测电极发挥功能。
需要说明的是，虽然图20中将第一边框配线57a-57c配置于第一边框区域FA1，但通过如图18所示那样，将节距小的第一边框配线57a配置于显示区域10a内，从而提高屏蔽边缘电场Ef的效果。另外，也可以与图19同样地将第二部分TLDb的端部用作边框配线。这种情况下，可采用设置在第一方向Dx上分离第二部分TLDb的端部的狭缝并在第一方向Dx上反复连接细线片Ua和细线片Ub而成的边框配线。通过将第二部分TLDb的一部分用作边框配线，从而既能屏蔽边缘电场Ef，又能缩小边框区域10b的宽度。
(第六实施方式)
图22是第六实施方式所涉及的带触摸检测功能的显示装置的示意性截面图。在本实施方式中，在玻璃基板31的上方设有覆盖部件5。覆盖部件5设于与像素基板2和对置基板3(参照图7)重叠的位置，覆盖整个显示区域10a和边框区域10b。
覆盖部件5包括覆盖基材51和着色层52。覆盖基材51是用于覆盖并保护像素基板2和对置基板3的保护部件。覆盖基材51既可以是玻璃基板，也可以是使用了树脂材料等的膜状的基材。在覆盖基材51的与玻璃基板31相对的面一侧设有着色层52。着色层52设于与边框区域10b重叠的区域。由于设有着色层52，因此能够抑制从外部看到栅极驱动器12、驱动电极驱动器14等电路、边框配线、柔性基板71、72等(参照图8、图9)。着色层52例如采用被着色为抑制光的透射的树脂材料、金属材料。
本实施方式的第一边框配线57a-57c是与上述第一实施方式至第四实施方式同样的构成，第一边框配线57a-57c的配线密度小于第二边框配线58a-58e的配线密度。为此，即使在从斜向观察的情况下，也能抑制看到第一边框配线57a-57c。另外，第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e具有与上述触摸检测电极TDL的金属配线33a、33b(未在图22中图示)相同的金属材料。并且，在玻璃基板31的下表面设有遮光层36。由于第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a-58e具有与遮光层36相同的颜色，因此即使从上方观察也可以实现不可见化。
覆盖部件5的着色层52覆盖第二边框区域FA2的一部分和第三边框区域FA3，着色层52的显示区域10a侧的端部52a与第二边框区域FA2重叠。比端部52a更靠显示区域10a侧的第二边框区域FA2和第一边框区域FA1未被着色层52覆盖。这样，在第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a、58b未被着色层52覆盖的情况下，也能如上所述地实现不可见化。
假设在设置覆盖整个边框区域10b的着色层52的情况下，考虑到通过印刷等涂布形成着色层52时的位置偏移、覆盖部件5的贴合误差，需要将着色层52扩展设置到显示区域10a侧。为此，存在边框区域10b的宽度增大的可能性。在本实施方式中，由于能够实现第一边框配线57a-57c和第二边框配线58a、58b的不可见化，因此能够将着色层52设于边框区域10b的一部分。因而，能够缩小边框区域10b的宽度。
以上说明了本发明的优选实施方式，但本发明不限于这样的实施方式。在实施方式中公开的内容终究不过为一个例子，可在不脱离本发明的宗旨的范围内进行各种变更。在不脱离本发明的宗旨的范围内进行的适当的变更当然也属于本发明的技术范围。
例如，说明了驱动电极兼用作显示面板的公共电极的情况，但不限于此。也可以是在显示面板设有公共电极并在该显示面板之上装配有触摸面板的带触摸检测功能的显示装置。另外，说明了基于互静电电容方式的触摸检测，但也可以是使用了触摸检测电极的基于自静电电容方式的触摸检测。例如，能够将触摸检测电极构成为，将包括金属配线的多个小电极部矩阵配置于显示区域，通过各个小电极部进行基于自静电电容方式的触摸检测。这种情况下，边框配线从各小电极部引出而设于边框区域。
触摸检测电极具有金属配线，但触摸检测电极例如也可以是ITO等具有透光性的导电性材料。这种情况下，也通过使第一边框配线和第二边框配线为在各实施方式中说明的构成，从而能够在抑制边框区域的宽度增大的同时，实现边框区域的不可见化。
附图标记说明
1带触摸检测功能的显示装置；2像素基板；3对置基板；5覆盖部件；6液晶层；10带触摸检测功能的显示部；10a显示区域；10b边框区域；11控制部；12栅极驱动器；13源极驱动器；14驱动电极驱动器；19显示控制用IC；20显示面板；21TFT基板；22像素电极；30触摸面板；31玻璃基板；32彩色滤光片；36遮光层；37边框配线；40触摸检测部；42触摸检测信号放大部；43A/D转换部；44信号处理部；45坐标提取部；46检测时机控制部；51覆盖基材；52着色层；57a-57c第一边框配线；58a-58e第二边框配线；61间隔物；71、72柔性基板；FA1第一边框区域；FA2第二边框区域；FA3第三边框区域；COML驱动电极；GCL扫描信号线；Pd显示动作期间；Pt触摸检测期间；Pix像素；SL、SLa、SLb、SLc、SLd狭缝；SPix子像素；SGL像素信号线；TDL触摸检测电极；Vcom驱动信号；Vdet触摸检测信号；Vdisp影像信号；Vpix像素信号；Vscan扫描信号。

Claims (16)

1.一种触摸检测装置，具有：
基板，设有用于显示图像的显示区域、所述显示区域的外侧的第一边框区域和所述第一边框区域的外侧的第二边框区域；
多个检测电极，在与所述基板平行的面上设于所述显示区域，并具有多个金属配线；以及
多个边框配线，从多个所述检测电极引出而设于所述第一边框区域和所述第二边框区域，
所述第一边框区域中多个所述边框配线的覆盖面积相对于所述基板的规定面积的比率小于所述第二边框区域中多个所述边框配线的覆盖面积相对于所述基板的规定面积的比率。
2.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中，
在所述第一边框区域的至少一边处，相对于所述基板的规定面积的多个所述边框配线的覆盖面积大于所述显示区域中相对于所述基板的规定面积的多个所述金属配线的覆盖面积。
3.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中，
所述第一边框区域与所述显示区域相接，并且，配置于所述第二边框区域与所述显示区域之间的所述第一边框区域的宽度为所述基板的厚度的1/2以上。
4.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中，
分别设于所述第一边框区域和所述第二边框区域的多个所述边框配线在沿着所述显示区域的外周的方向上并列延伸，
在所述第一边框区域中相邻的所述边框配线彼此的间隔大于在所述第二边框区域中相邻的所述边框配线彼此的间隔。
5.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中，
所述第一边框区域的所述边框配线的宽度小于所述第二边框区域的所述边框配线的宽度。
6.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中，
在所述边框配线中，第一细线片和第二细线片在沿着所述显示区域的外周的方向上交替连接，所述第一细线片与沿着所述显示区域的外周的方向形成第一角度，所述第二细线片与沿着所述显示区域的外周的方向形成第二角度。
7.根据权利要求6所述的触摸检测装置，其中，
所述金属配线在沿着所述显示区域的外周的方向上排列有多个，
反复配置所述边框配线的所述第一细线片和所述第二细线片的节距小于所述金属配线的排列节距。
8.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中，
所述金属配线和所述边框配线包括相同的金属材料。
9.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中，
多个所述边框配线中的一部分所述边框配线设于所述第一边框区域近旁的所述显示区域。
10.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中，
在所述显示区域中设有与所述金属配线隔开且不作为所述检测电极发挥功能的虚设电极。
11.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中，
所述触摸检测装置还具有包括覆盖基材和设于所述覆盖基材的外周的着色层的覆盖部件，
所述着色层至少覆盖设于所述第二边框区域的所述边框配线。
12.根据权利要求11所述的触摸检测装置，其中，
设于所述第一边框区域的所述边框配线配置于不与所述着色层重叠的位置。
13.一种触摸检测装置，具有：
基板，设有用于显示图像的显示区域、所述显示区域的外侧的第一边框区域和所述第一边框区域的外侧的第二边框区域；
多个检测电极，在与所述基板平行的面上设于所述显示区域；以及
多个边框配线，从多个所述检测电极引出而分别设于所述第一边框区域和所述第二边框区域，
所述第一边框区域中多个所述边框配线的覆盖面积相对于所述基板的规定面积的比率小于所述第二边框区域中多个所述边框配线的覆盖面积相对于所述基板的规定面积的比率。
14.一种触摸检测装置，具有：
基板，设有用于显示图像的显示区域和所述显示区域的外侧的边框区域；
多个检测电极，在与所述基板平行的面上设于所述显示区域，并具有多个金属配线；以及
多个边框配线，从多个所述检测电极引出而设于所述边框区域，
多个所述边框配线中的一部分的所述边框配线设于所述边框区域近旁的所述显示区域。
15.一种带触摸检测功能的显示装置，具有：
根据权利要求1所述的触摸检测装置；
多个像素电极，呈矩阵配置于与所述基板平行的面上的所述显示区域；以及
显示功能层，在所述显示区域内发挥图像显示功能。
16.根据权利要求15所述的带触摸检测功能的显示装置，其中，
所述基板设有俯视时彼此交叉地配设的多条像素信号线和多条扫描信号线，
驱动电极在与所述像素信号线平行的方向上延伸。
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