TWI556148B - 附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器 - Google Patents

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TWI556148B
TWI556148B TW102140318A TW102140318A TWI556148B TW I556148 B TWI556148 B TW I556148B TW 102140318 A TW102140318 A TW 102140318A TW 102140318 A TW102140318 A TW 102140318A TW I556148 B TWI556148 B TW I556148B
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倉澤隼人
安住康平
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日本顯示器股份有限公司
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Description

附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器
本發明係關於一種可檢測外部靠近物體之顯示裝置及電子機器，尤其係關於可基於靜電電容之變化檢測外部靠近物體之附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
近年來，稱作所謂觸控面板之可檢測外部靠近物體之觸控檢測裝置已受到關注。觸控面板係安裝或一體化於液晶顯示裝置等顯示裝置上，而用在附觸控檢測功能之顯示裝置。又，附觸控檢測功能之顯示裝置藉由於顯示裝置顯示各種按鈕圖像等，可以觸控面板取代一般機械式按鈕進行資訊輸入。因具有如此之觸控面板之附觸控檢測功能之顯示裝置無需如鍵盤、滑鼠、或輔助鍵盤等之輸入裝置，故除電腦之外，亦有擴大使用於如行動電話般之行動資訊機器等之趨勢。
作為觸控檢測方式，存在光學式、電阻式、及靜電電容式等幾種方式。若將靜電電容式之觸控檢測裝置使用於行動資訊終端等，則可實現具有較簡單之構造且低耗電之機器。例如，專利文獻1中揭示有一種對透明電極圖案之非可視化加以改善之觸控面板。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2010-197576號公報
然而，為了薄型化、大畫面化或高精細化，附觸控檢測功能之顯示裝置要求觸控檢測電極之低電阻化。觸控檢測電極中，將ITO(Indium Tin Oxide：氧化銦錫)等透明導電氧化物用作透明電極之材料。對觸控檢測電極進行低電阻化時，雖使用金屬材料亦不失為有效之舉，但因其較ITO等透明導電氧化物而更具遮光性，而有可能導致透過率降低，或目測到觸控檢測電極之圖案。
本發明係鑒於如此之問題點而完成者，其目的在於提供一種即使使用金屬材料之觸控檢測電極，仍可抑制電阻與圖案之視認性，而進行觸控檢測之附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
本發明之附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給用於顯示圖像之像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面之垂直方向上與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向平行之方向延伸；及複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向、且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線，上述金屬配線以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合。
本發明之附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上與上述複數 個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸；複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向之金屬配線，上述金屬配線以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合；及彩色濾光片，其係於上述垂直方向上與上述顯示功能層對向，且具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；上述複數個觸控檢測電極係朝上述信號線延伸之方向延伸，且與上述彩色濾光片之各顏色區域立體交叉。
本發明之附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸；複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向，且以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合；及彩色濾光片，其係於上述垂直方向上與上述顯示功能層對向，且具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；上述複數個觸控檢測電極包含沿上述彩色濾光片之特定顏色區域而延伸之透明電極，及於延伸方向上斷開且積層於上述透明電極之金屬電極。
本發明之電子機器，其係包含上述附觸控檢測功能之顯示裝置者，例如，其相當於電視裝置、數位相機、個人電腦、視頻攝像機、或行動電話等行動終端裝置等。
本發明之附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器雖使用金屬材料之觸控檢測電極，但卻可抑制金屬材料之觸控檢測電極造成之透過 率降低，或目測到觸控檢測電極之圖案。
根據本發明之附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器，觸控檢測電極可低電阻化，附觸控檢測功能之顯示裝置可進行薄型化、大畫面化或高精細化。
1‧‧‧附觸控檢測功能之顯示裝置
2‧‧‧像素基板
3‧‧‧對向基板
6‧‧‧液晶層
10‧‧‧附觸控檢測功能之顯示部
11‧‧‧控制部
12‧‧‧閘極驅動器
13‧‧‧源極驅動器
14‧‧‧驅動電極驅動器
19A‧‧‧COG
19B‧‧‧COG
20‧‧‧液晶顯示部
21‧‧‧TFT基板
22‧‧‧像素電極
30‧‧‧觸控檢測器件
31‧‧‧玻璃基板
31A‧‧‧玻璃基板
31B‧‧‧玻璃基板
31P‧‧‧接著層
32‧‧‧彩色濾光片
32B‧‧‧顏色區域
32G‧‧‧顏色區域
32R‧‧‧顏色區域
35‧‧‧偏光板
35A‧‧‧偏光板
35B‧‧‧入射側偏光板
40‧‧‧觸控檢測部
42‧‧‧類比LPF部
43‧‧‧A/D轉換部
44‧‧‧信號處理部
45‧‧‧座標抽出部
46‧‧‧檢測時序控制部
510‧‧‧影像顯示畫面部
511‧‧‧前面板
512‧‧‧濾光玻璃
521‧‧‧發光部
524‧‧‧快門按鍵
522‧‧‧顯示部
523‧‧‧選單切換
531‧‧‧本體部
532‧‧‧鏡頭
533‧‧‧開始/停止開關
534‧‧‧顯示部
541‧‧‧本體
542‧‧‧鍵盤
543‧‧‧顯示部
551‧‧‧上側殼體
552‧‧‧下側殼體
553‧‧‧連結部
554‧‧‧顯示器
555‧‧‧次顯示器
556‧‧‧閃光燈
557‧‧‧照相機
A‧‧‧觸控檢測期間
B‧‧‧顯示期間
BM‧‧‧黑色矩陣
C1‧‧‧電容元件
C2‧‧‧電容元件
COML‧‧‧驅動電極
COMLt‧‧‧驅動電極
D‧‧‧介電質
DET‧‧‧電壓檢測器(觸控檢測部)
E1‧‧‧驅動電極
E2‧‧‧觸控檢測電極
GCL‧‧‧掃描信號線
LC‧‧‧液晶元件
P‧‧‧電容元件C1之另一端
p1‧‧‧觸控檢測電極間距
Pix‧‧‧像素
R‧‧‧電阻
S‧‧‧交流信號源(驅動信號源)
Sg‧‧‧交流矩形波
SGL‧‧‧像素信號線
TDD‧‧‧虛設電極
TDDS‧‧‧間隙
TDG‧‧‧檢測配線
TDL‧‧‧觸控檢測電極
TDLi‧‧‧透明電極
TDLm‧‧‧金屬觸控電極(金屬電極)
TDQ‧‧‧彎曲部
TDQD‧‧‧彎曲部
TDQL‧‧‧彎曲部
TDQU‧‧‧彎曲部
TDQX‧‧‧交叉點
TDRQR‧‧‧彎曲部
Tr‧‧‧TFT元件
V0‧‧‧波形
V1‧‧‧波形
v1‧‧‧像素間距
Vcom‧‧‧驅動信號
Vcom(m)‧‧‧驅動信號
Vcom(m+1)‧‧‧驅動信號
Vcom(m-1)‧‧‧驅動信號
Vcomt‧‧‧觸控驅動信號
Vdet‧‧‧觸控檢測信號
Vdisp‧‧‧影像信號
Vpix‧‧‧像素信號
Vscan‧‧‧掃描信號
Vscan(n)‧‧‧掃描信號
Vscan(n+1)‧‧‧掃描信號
Vscan(n-1)‧‧‧掃描信號
Vth‧‧‧臨限值電壓
Θ‧‧‧角度
圖1係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例之方塊圖。
圖2係顯示為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，手指尚未接觸或靠近裝置之狀態之說明圖。
圖3係顯示圖2所示之手指尚未接觸或靠近裝置之狀態之等價電路之例之說明圖。
圖4係顯示為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，手指已接觸或靠近裝置之狀態之說明圖。
圖5係顯示圖4所示之手指接觸或靠近裝置之狀態之等價電路之例之說明圖。
圖6係顯示驅動信號及觸控檢測信號之波形之一例之圖。
圖7係顯示安裝有附觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例之圖。
圖8係顯示安裝有附觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例之圖。
圖9係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖10係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之像素排列之電路圖。
圖11係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之驅動電極及 觸控檢測電極之一構成例之立體圖。
圖12係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置之一動作例之時序波形圖。
圖13係顯示實施形態1之觸控檢測電極之排列之示意圖。
圖14係顯示比較例之觸控檢測電極之排列之示意圖。
圖15係用於說明比較例之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖16係用於說明實施形態1之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖17係用於說明實施形態1之變化例1之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖18係用於說明實施形態1之變化例2之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖19係用於說明實施形態1之變化例3之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖20係顯示實施形態1之變化例4之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖21係顯示實施形態1之變化例5之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖22係顯示實施形態1之變化例6之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖23係顯示實施形態1之變化例7之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖24係顯示實施形態2之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖25係用於說明實施形態2之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片 之顏色區域之關係之示意圖。
圖26係顯示實施形態2之變化例之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖27係用於說明實施形態3之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖28係用於說明實施形態3之變化例之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖29係顯示實施形態4之觸控檢測電極之概略剖面構造之剖面圖。
圖30係用於說明實施形態4之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖31係用於說明實施形態4之變化例1之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖32係用於說明實施形態4之變化例2之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
圖33係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖34係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖35係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖36係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖37係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖38係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電 子機器之一例之圖。
圖39係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖40係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖41係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖42係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖43係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖44係顯示應用本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
一面參照圖式，一面對用於實施本發明之形態(實施形態)進行詳細說明。並非以以下實施形態所揭示之內容限定本發明。而且，以下所揭示之構成要素包含本領域技術人員可容易地予以構建者、實質上相同者。進而，可對以下所揭示之構成要素進行適當組合。另，說明係按照以下順序進行。
1.實施形態(附觸控檢測功能之顯示裝置)
1-1.實施形態1
1-2.實施形態2
1-3.實施形態3
1-4.實施形態4
1-5.其他實施形態及變化例
2.應用例(電子機器)
將上述實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置應用於電子機器之例。
3.本發明之態樣
<1.實施形態>
<1-1.實施形態1>
[構成例]
(全體構成例)
圖1係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例之方塊圖。附觸控檢測功能之顯示裝置1具備：附觸控檢測功能之顯示部10、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40。該附觸控檢測功能之顯示裝置1係附觸控檢測功能之顯示部10內設有觸控檢測功能之顯示裝置。附觸控檢測功能之顯示部10係將使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示部20與靜電電容型之觸控檢測器件30一體化而得之所謂內嵌型(In-cell type)之裝置。另，附觸控檢測功能之顯示部10亦可為於使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示部20之上安裝有靜電電容型之觸控檢測器件30之所謂外嵌型(On-cell type)之裝置。
如後述般，液晶顯示部20係根據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，而依序掃描每1條水平線以進行顯示之器件。控制部11係基於自外部供給之影像信號Vdisp，而對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40分別供給控制信號，以使該等相互同步動作之方式進行控制之電路。
閘極驅動器12具有基於自控制部11供給之控制信號，依序對成為附觸控檢測功能之顯示部10之顯示驅動對象之一條水平線進行選擇之功能。
源極驅動器13係基於自控制部11供給之控制信號，對附觸控檢測 功能之顯示部10之後述之各像素Pix供給像素信號Vpix之電路。
驅動電極驅動器14係基於自控制部11供給之控制信號，對附觸控檢測功能之顯示部10之後述之驅動電極COML供給驅動信號Vcom之電路。
(靜電電容型觸控檢測之基本原理)
觸控檢測器件30基於靜電電容型觸控檢測之基本原理而動作，並輸出觸控檢測信號Vdet。參照圖1至圖6對本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測之基本原理進行說明。圖2係顯示為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，手指尚未接觸或靠近裝置之狀態之說明圖。圖3係顯示圖2所示之手指尚未接觸或靠近裝置之狀態之等價電路之例之說明圖。圖4係顯示為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，手指已接觸或靠近裝置之狀態之說明圖。圖5係顯示圖4所示之手指接觸或靠近裝置之狀態之等價電路之例之說明圖。
例如，如圖2及圖4所示，電容元件C1具備夾著介電質D而彼此對向配置之一對電極，即驅動電極E1及觸控檢測電極E2。如圖3及圖5所示，電容元件C1中，其一端連接於交流信號源(驅動信號源)S，另一端P經由電阻R而接地，且連接於電壓檢測器(觸控檢測部)DET。
若自交流信號源S對驅動電極E1(電容元件C1之一端)施加特定頻率(例如數kHz~數百kHz左右)之交流矩形波Sg，則觸控檢測電極E2(電容元件C1之另一端P)將顯現輸出波形(觸控檢測信號Vdet)。另，該交流矩形波Sg相當於後述之觸控驅動信號Vcomt。
手指尚未接觸(或靠近)之狀態(非接觸狀態)中，如圖2及圖3所示，伴隨對電容元件C1之充放電，而流動有與電容元件C1之電容值相應之電流I0。此時之電容元件C1之另一端P之電位波形例如成為圖6所示之波形V0般，圖3所示之電壓檢測器DET對波形V0進行檢測。
另一方面，如圖4所示，手指接觸(或靠近)之狀態(接觸狀態)中， 因手指而形成之靜電電容恰似作為電容元件C2附加於電容元件C1之方式發揮作用。接著，就圖5所示之等價電路而言，電容元件C2成為串聯追加於電容元件C1之形貌。該狀態下，伴隨對電容元件C1及C2之充放電，於電容元件C1及C2流動有電流I1、I2。此時之電容元件C1之另一端P之電位波形例如成為圖6之波形V1般，電壓檢測器DET對波形V1進行檢測。此時，另一端P之電位成為由流動於電容元件C1、C2之電流I1、I2之值所決定之分壓電位。因此，波形V1成為較非接觸狀態之波形V0更小之值。電壓檢測器DET將檢測出之電壓與特定之臨限值電壓Vth加以比較，若為該臨限值電壓以上，且判定為非接觸狀態，反之，若小於臨限值電壓Vth，則判定為接觸狀態。如此，可進行觸控檢測。
圖1所示之觸控檢測器件30根據自驅動電極驅動器14供給之驅動信號Vcom(後述之觸控驅動信號Vcomt)，依序掃描每1個檢測區塊而進行觸控檢測。
觸控檢測器件30中，自複數個後述之觸控檢測電極TDL對每個檢測區塊輸出觸控檢測信號Vdet，並供給觸控檢測部40。
觸控檢測部40係基於自控制部11供給之控制信號，與自附觸控檢測功能之顯示部10之觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet，檢測有無對觸控檢測器件30之觸控(上述接觸狀態)，並於存在觸控之情形時，求取觸控檢測區域之該座標等之電路。該觸控檢測部40具備：類比LPE(Low Pass Filter，低通濾波器)部42、A/D轉換部43、信號處理部44、座標抽出部45、及檢測時序控制部46。
類比LEP部42係將自觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet作為輸入，除去觸控檢測信號Vdet所包含之較高之頻率成分(雜訊成分)，擷取觸控成分而分別輸出之低通類比濾波器。類比LPF部42之輸入端子各者與接地之間連接有用於賦予直流電位(0V)之電阻R。另， 亦可例如設置開關而取代該電阻R，藉由於特定時間內使該開關成為導通狀態，而賦予直流電位(0V)。
A/D轉換部43係依照與驅動信號Vcom同步之時序，分別對自類比LPF部42輸出之類比信號進行取樣，並將其轉換為數位信號之電路。
信號處理部44具備數位濾波器，其係除去A/D轉換部43之輸出信號中所包含之較對觸控驅動信號Vcomt進行取樣所得之頻率更高之頻率成分(雜訊成分)，而擷取觸控成分者。信號處理部44係基於A/D轉換部43之輸出信號，檢測有無對觸控檢測器件30之觸控之邏輯電路。
座標抽出部45係於信號處理部44檢測出觸控時，求取其之觸控面板座標之邏輯電路。檢測時序控制部46係以使A/D轉換部43、信號處理部44、及座標抽出部45同步動作之方式進行控制。
(模組)
圖7及圖8係顯示安裝有附觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例之圖。如圖7所示般，將附觸控檢測功能之顯示裝置1安裝於模組時，亦可於為玻璃基板之TFT基板21上形成上述驅動電極驅動器14。
如圖7所示，附觸控檢測功能之顯示裝置1具有：附觸控檢測功能之顯示部10、驅動電極驅動器14、及COG(Chip On Class，玻璃覆晶)19A。附觸控檢測功能之顯示部10為所謂橫向式(橫長)者。該附觸控檢測功能之顯示部10中，於相對於後述之TFT基板之表面之垂直方向上，示意性顯示有驅動電極COML、及以與驅動電極COML立體交叉之方式形成之觸控檢測電極TDL。即，驅動電極COML形成於附觸控檢測功能之顯示部10之短邊方向，而觸控檢測電極TDL係形成於附觸控檢測功能之顯示部10之長邊方向。觸控檢測電極TDL之輸出設置於附觸控檢測功能之顯示部10之短邊側，經由由可撓性基板等構成之端子部T，而與安裝於該模組之外部之觸控檢測部40連接。驅動電極 驅動器14形成於玻璃基板即TFT基板21。COG19A係安裝於TFT基板21之晶片，其係內設有圖4所示之控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13等顯示動作所必需之各電路者。且，如圖8所示，附觸控檢測功能之顯示裝置1中，亦可於COG(Chip On Class，玻璃覆晶)中內設驅動電極驅動器14。
如圖8所示，附觸控檢測功能之顯示裝置1之模組具有COG19B。圖8所示之COG19B係除上述顯示動作所必需之各電路外，尚內設有驅動電極驅動器14者。如後述般，附觸控檢測功能之顯示裝置1於顯示動作時，按照每1條水平線逐線依序進行掃描。即，附觸控檢測功能之顯示裝置1係與附觸控檢測功能之顯示部10之短邊方向平行地進行顯示掃描。另一方面，附觸控檢測功能之顯示裝置1於觸控檢測動作時，藉由依序對驅動電極COML施加驅動信號Vcom，而按照每1條檢測線逐線依序進行掃描。即，附觸控檢測功能之顯示裝置1係與附觸控檢測功能之顯示部10之長邊方向平行地進行觸控檢測掃描。
如此，圖7及圖8所示之附觸控檢測功能之顯示裝置1係自附觸控檢測功能之顯示部10之短邊側輸出觸控檢測信號Vdet。藉此，附觸控檢測功能之顯示裝置1不僅可減少觸控檢測電極TDL之數量，且可容易地經由端子部T而佈線用於與觸控檢測部40連接之配線。因圖8所示之附觸控檢測功能之顯示裝置1於COG19B內設有驅動電極驅動器14，故可窄化框架。
(附觸控檢測功能之顯示部10)
接著，詳細說明附觸控檢測功能之顯示部10之構成例。
圖9係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。圖10係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之像素排列之電路圖。附觸控檢測功能之顯示部10具備：像素基板2、於垂直於該像素基板2之表面之方向上對向配置之對向基板3、及插設於 像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。
像素基板2具有：作為電路基板之TFT基板21、及矩陣狀配設於該TFT基板21上之複數個像素電極22。如圖10所示，於TFT基板21上形成有各像素Pix之薄膜電晶體(TFT，Thin Film Transistor)元件Tr、對各像素電極21供給像素信號Vpix之像素信號線SGL、及驅動各TFT元件Tr之掃描信號線GCL等配線。如此，像素信號線SGL係延伸於與TFT基板之表面平行之平面，且對像素供給用於顯示圖像之像素信號。圖10所示之液晶顯示部20具有矩陣狀排列之複數個像素Pix。各像素Pix具備TFT元件Tr、及液晶元件LC。TFT元件Tr係由薄膜電晶體構成，在本例中，其由n通道之MOS(Metal Oxide Semiconductor，金屬氧化物半導體)型TFT構成。TFT元件Tr之源極連接於像素信號線SGL，閘極連接於掃描信號線GCL，汲極連接於液晶元件LC之一端。液晶元件LC中，一端連接於TFT元件Tr之汲極，另一端連接於驅動電極COML。
像素Pix藉由掃描信號線GCL而與液晶顯示部20之屬於相同列之其他像素Pix相互連接。掃描信號線GCL與閘極驅動器12連接，由閘極驅動器12供給掃描信號Vscan。且，像素Pix藉由像素信號線SGL而與液晶顯示部20之屬於相同行之其他像素Pix相互連接。像素信號線SGL與源極驅動器13連接，由閘極驅動器13供給像素信號Vpix。進而，像素Pix藉由驅動電極COML而與液晶顯示部20之屬於相同行之其他像素Pix相互連接。驅動電極COML與驅動電極驅動器14連接，由驅動電極驅動器14供給驅動信號Vcom。即，在本例中，屬於相同行之複數個像素Pix共用一個驅動電極COML。
圖1所示之閘極驅動器12藉由將掃描信號Vscan經由圖10所示之掃描信號線GCL，施加至像素Pix之TFT元件Tr之閘極，而依序將矩陣狀形成於液晶顯示部20之像素Pix中之一列(一條水平線)選作顯示驅動 之對象。圖1所示之源極驅動器13將像素信號Vpix經由圖10所示之像素信號線SGL，分別供給至構成由閘極驅動器12依序選定之一條水平線之各像素Pix。接著，該等像素Pix根據所供給之像素信號Vpix，而進行一條水平線之顯示。圖1所示之驅動電極驅動器14施加驅動信號Vcom，如圖9及圖10所示，對每個包含特定數量之驅動電極COML之區塊驅動驅動電極COML。
如上所述，液晶顯示部20藉由以分時逐線依序掃描掃描信號線GCL之方式驅動閘極驅動器12，而依序選擇一條水平線。且，液晶顯示部20藉由源極驅動器13對屬於一條水平線之像素Pix供給像素信號Vpix，而按照每條水平線逐一進行顯示。進行該顯示動作時，驅動電極驅動器14對包含與該一條水平線對應之驅動電極COML之區塊施加驅動信號Vcom。
對向基板3包含：玻璃基板31、形成於該玻璃基板31之一面之彩色濾光片32、及形成於位於玻璃基板31之相反側之彩色濾光片32之表面上之複數個驅動電極COML。於玻璃基板31之另一面形成有觸控檢測器件30之檢測電極，即觸控檢測電極TDL，進而，於該觸控檢測電極TDL之上配設有偏光板35。
彩色濾光片32中週期性排列有例如著色成紅(R)、綠(G)、藍(B)三色之彩色濾光片，R、G、B之三色為一組與上述圖10所示之各像素Pix建立對應關係。彩色濾光片32係於與TFT基板垂直之方向與液晶層6對向。另，彩色濾光片32若被著色成不同顏色，則亦可為其他顏色之組合。
本實施形態之驅動電極COML係發揮作為液晶顯示部20之共通驅動電極之作用，且亦發揮作為觸控檢測器件30之驅動電極之作用。在本實施形態中，以一個驅動電極COML與一個像素電極22(構成一行之像素電極22)對應之方式配置。實施形態1之驅動電極COML係於相 對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向，並朝與上述像素信號線SGL延伸之方向平行之方向延伸。驅動電極COML經由未圖示之具有導電性之接觸導電柱，自驅動電極驅動器14對驅動電極COML施加交流矩形波形之驅動信號Vcom。
液晶層6係根據電場狀態而調變透過其之光者，例如，可使用TN(Twisted Nematic：扭轉向列)模式、VA(Vertical Alignment：垂直配向)模式、及ECB(Electrically Controlled Birefringence：電控雙折射)模式等各種模式之液晶。
另，於液晶層6與像素電極2之間，及液晶層6與對向基板3之間分別配設有配向膜，而且，於像素基板2之下表面側配置有入射側偏光板。
圖11係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示部之驅動電極及觸控檢測電極之一構成例之立體圖。觸控檢測器件30係由設置於對向基板3之驅動電極COML及觸控檢測電極TDL構成。驅動電極COML係由朝圖之左右方向延伸之複數個條紋狀之電極圖案構成。進行觸控檢測動作時，由驅動電極驅動器14依序對各電極圖案供給驅動信號Vcom，如後述般分時逐線依序進行掃描驅動。觸控檢測電極TDL係由朝與驅動電極COML之電極圖案之延伸方向交叉之方向延伸之條紋狀之電極圖案構成。又，觸控檢測電極TDL係於與TFT基板21之表面垂直之方向上，與驅動電極COML對向。觸控檢測電極TDL之各電極圖案分別與觸控檢測部40之類比LPF部42之輸入連接。驅動電極COML及觸控檢測電極TDL彼此交叉之電極圖案，於其交叉部分產生靜電電容。
根據該構成，觸控檢測器件30係於進行觸控檢測動作時，藉由驅動電極驅動器14以分時逐線依序掃描作為驅動電極區塊之驅動電極COML之方式進行驅動，而依序選擇驅動電極COML之一個檢測區 塊，藉由自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet，進行一個檢測區塊之觸控檢測。即，驅動電極區塊係與上述觸控檢測之基本原理中之驅動電極E1對應，觸控檢測電極TDL係與觸控檢測電極E2對應者，觸控檢測器件30根據該基本原理而對觸控進行檢測。如圖11所示般，彼此交叉之電極圖案矩陣狀地構成靜電電容式觸控感測器。因此，藉由觸控檢測器件30對整個觸控檢測面進行掃描，亦可對外部靠近物體之接觸或靠近而產生之位置進行檢測。
此處，TFT基板21係與本發明之「基板」之一具體例對應。像素電極22係與本發明之「像素電極」之一具體例對應。像素信號線SGL與本發明之「信號線」之一具體例對應。驅動電極COML與本發明之「驅動電極」之一具體例對應。液晶元件LC與本發明之「顯示功能層」之一具體例對應。源極驅動器13及驅動電極驅動器14與本發明之「掃描驅動部」之一具體例對應。觸控檢測部40與本發明之「檢測處理部」之一具體例對應。觸控檢測電極TDL與本發明之「觸控檢測電極」對應。彩色濾光片32與本發明之「彩色濾光片」對應。
[動作及作用]
接著，對實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1之動作及作用進行說明。
由於驅動電極COML發揮作為液晶顯示部20之共通驅動電極之作用，且亦發揮作為觸控檢測器件30之驅動電極之作用，故驅動信號Vcom可能對彼此有所影響。因此，劃分為進行顯示動作之顯示期間B與進行觸控檢測動作之觸控檢測期間A，對驅動電極COML施加驅動信號Vcom。驅動電極驅動器14係於進行顯示動作之顯示期間B，施加作為顯示驅動信號之驅動信號Vcom。接著，驅動電極驅動器14係於進行觸控檢測動作之觸控檢測期間A，施加作為觸控驅動信號之驅動信號Vcom。以下說明中，有將作為顯示驅動信號之驅動信號Vcom記 作顯示驅動信號Vcomd、將作為觸控驅動信號之驅動信號Vcom記作觸控驅動信號Vcomt之情形。
(全體動作概要)
控制部11係基於自外部供給之影像信號Vdisp，對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40分別供給驅動信號，以使該等相互同步動作之方式進行控制。閘極驅動器12係於顯示期間B，對液晶顯示部20供給掃描信號Vscan，依序選擇成為顯示驅動對象之一條水平線。源極驅動器13係於顯示期間B，對構成經閘極驅動器12選定之一條水平線之各像素Pix供給像素信號Vpix。
在顯示期間B，驅動電極驅動器14對一條水平線之驅動電極區塊施加顯示驅動信號Vcomd，而在觸控檢測期間A，驅動電極驅動器14對觸控檢測動作之驅動電極區塊，依序施加頻率較顯示驅動信號Vcomd更高之觸控驅動信號Vcomt，而依序選擇一個檢測區塊。附觸控檢測功能之顯示部10係於顯示期間B，基於由閘極驅動器12、源極驅動器13、及驅動電極驅動器14供給之信號，進行顯示動作。附觸控檢測功能之顯示部10係於觸控檢測期間A，基於由驅動電極驅動器14供給之信號而進行觸控檢測動作，自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet。類比LPE部42對觸控檢測信號Vdet進行放大而輸出。A/D轉換部43係按照與觸控驅動信號Vcomt同步之時序，將自類比LPF部42輸出之類比信號轉換為數位信號。信號處理部44基於A/D轉換部43之輸出信號，檢測有無對觸控檢測器件30之觸控。座標抽出部45係於信號處理部44檢測出觸控時，求取該觸控面板座標。控制部11控制檢測時序控制部46，變更觸控驅動信號Vcomt之取樣頻率。
(詳細動作)
接著，說明附觸控檢測功能之顯示裝置1之詳細動作。圖12係顯示實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置之一動作例之時序波形 圖。如圖12所示，液晶顯示部20根據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，按照掃描信號線GCL中之第(n-1)列、相鄰之第n列、相鄰之第(n+1)列之順序，以每條水平線逐一依序掃描掃描信號線GCL而進行顯示。同樣地，驅動電極驅動器14基於自控制部11供給之控制信號，按照附觸控檢測功能之顯示部10之驅動電極COML中之第(m-1)行、相鄰之第m行、相鄰之第(m+1)行之順序，將驅動信號依序供給驅動電極COML。
如此，附觸控檢測功能之顯示裝置1係於每1個顯示水平期間(1H)，分時進行觸控檢測動作(觸控檢測期間A)與顯示動作(顯示期間B)。在觸控檢測動作中，藉由於每1個顯示水平期間1H，選擇不同之驅動電極COML對其施加驅動信號Vcom，而進行觸控檢測之掃描。以下，詳細說明該動作。
首先，閘極驅動器12對第(n-1)列之掃描信號線GCL施加掃描信號Vscan，掃描信號Vscan(n-1)自低位準變成高位準。藉此，開始一個顯示水平期間1H。
接著，於觸控檢測期間A中，驅動電極驅動器14對第(m-1)行之驅動電極COML施加驅動信號Vcom，驅動信號Vcom(m-1)自低位準變成高位準。該驅動信號Vcom(m-1)經由靜電電容而傳輸至觸控檢測電極TDL，使觸控檢測信號Vdet產生變化。接著，若驅動信號Vcom(m-1)自高位準變成低位準，則觸控檢測信號Vdet亦同樣地進行變化。該觸控檢測期間A中之觸控檢測信號Vdet之波形係與上述觸控檢測之基本原理中之觸控檢測信號Vdet對應者。A/D轉換部43藉由對該觸控檢測期間A中之觸控檢測信號Vdet進行A/D轉換，而進行觸控檢測。藉此，附觸控檢測功能之顯示裝置1進行一條檢測線之觸控檢測。
接著，於顯示期間B中，源極驅動器13對像素信號線SGL施加像 素信號Vpix，進行相對於一條水平線之顯示。另，如圖12所示，該像素信號Vpix之變化經由寄生電容而傳達至觸控檢測電極TDL，促使觸控檢測信號Vdet變化，但於顯示期間B，藉由設A/D轉換部43不進行A/D轉換，可抑制該像素信號Vpix之變化對觸控檢測之影響。於源極驅動器13結束供給像素信號Vpix後，閘極驅動器12使第(n-1)列之掃描信號線GCL之掃描信號Vscan(n-1)自高位準變成低位準，而結束一個顯示水平期間。
接著，閘極驅動器12對與之前不同之第n列掃描信號線GCL施加掃描信號Vscan，而使掃描信號Vscan(n)自低位準變成高位準。藉此，開始下一顯示水平期間。
在下一觸控檢測期間A中，驅動電極驅動器14對與之前不同之第m行驅動電極COML施加驅動信號Vcom。接著，藉由A/D轉換部43對觸控檢測信號Vdet之變化進行A/D轉換，而進行該一條檢測線之觸控檢測。
接著，在顯示期間B中，源極驅動器13對像素信號線SGL施加像素信號Vpix，進行相對於一條水平線之顯示。另，由於本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置1進行點反轉驅動，故源極驅動器13所施加之像素信號Vpix相較於前一顯示水平期間之像素信號Vpix，其極性反轉。結束該顯示期間B後，該一個顯示水平期間1H結束。
此後，藉由反復進行上述動作，附觸控檢測功能之顯示裝置1利用遍及整個顯示面之掃描進行顯示動作，且利用遍及整個觸控檢測面之掃描進行觸控檢測動作。
如上所述，附觸控檢測功能之顯示裝置1係以進行顯示掃描之方向與進行觸控檢測掃描之方向不同之方式動作。其意味著必定於某一顯示水平期間(1H)，對某一像素Pix，進行顯示動作與觸控檢測動作兩者。在附觸控檢測功能之顯示裝置1中，於一個顯示水平期間 (1H)，觸控檢測動作係於觸控檢測期間A進行，顯示動作係於顯示期間B進行。如此，由於在不同期間進行觸控檢測動作與顯示動作，故可於同一顯示水平期間進行顯示動作與觸控檢測動作兩者，且可抑制顯示動作對觸控檢測之影響。
(觸控檢測電極之排列)
圖13係顯示實施形態1之觸控檢測電極之排列之示意圖。圖14係顯示比較例之觸控檢測電極之排列之示意圖。圖15係用於說明比較例之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。
如圖13所示，排列於對向基板3之實施形態1之觸控檢測電極TDL係經由檢測配線TDG而連接於觸控檢測部40。觸控檢測電極TDL係由鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)，或該等之合金之至少一種金屬材料形成。相較於作為透明電極之材料之ITO(Indium Tin Oxide：氧化銦錫)等透明導電氧化物，鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)或該等之合金之至少一種金屬材料為低電阻。因鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)或該等之合金之至少一種金屬材料相較於ITO等透明導電氧化物而更具遮光性，故有可能導致透過率降低，或目測到觸控檢測電極TDL之圖案。
因此，對向基板3中並未與觸控檢測部40連接，而於觸控檢測電極TDL間，即與觸控檢測電極TDL之延伸方向平行地排列虛設電極TDD。虛設電極TDD係由與觸控檢測電極TDL相同之材料形成。藉此，可緩和觸控檢測電極TDL之遮光引起之視認性。以下所說明之與實施形態1、2、3、4及變化例之觸控檢測電極TDL之金屬配線之特定間距有關之說明，亦可適用於虛設電極TDD之金屬配線間之特定間距(觸控檢測電極間距)。同樣地，以下所說明之與實施形態1、2、3、4及變化例之觸控檢測電極TDL之金屬配線之特定間距(觸控檢測電極間距)有關之說明，亦可適用於觸控檢測電極TDL之金屬配線與虛設電極TDD之金屬配線之間之特定間距。
如上述般，實施形態1之驅動電極COML係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向，且朝與上述像素信號線SGL延伸之方向平行之方向延伸。因此，圖13所示之觸控檢測電極TDL係朝與對圖10所示之各像素電極22供給像素信號Vpix之像素信號線SGL延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線，且該金屬配線以特定間距配置。
然而，驅動電極COML有於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向，且朝與上述像素信號線SGL延伸之方向不同之方向延伸之情形。該情形時，圖14所示之觸控檢測電極TDL係朝與對圖10所示之各像素電極22供給像素信號Vpix之像素信號線SGL延伸之方向平行之方向延伸之金屬配線，且該金屬配線以特定間距配置。如圖14所示般地排列觸控檢測電極TDL之金屬配線之情形時，如圖15所示，可能會對彩色濾光片32之特定顏色區域32B遮光。圖15所示之彩色濾光片32具有著色成紅(R)、綠(G)、藍(B)三色之顏色區域32R、32G、32B。顏色區域32R、32G、32B一般分別朝像素信號線SGL延伸之方向延伸。又，由於圖15所示之觸控檢測電極TDL為朝與像素信號線SGL延伸之方向平行之方向延伸之金屬配線，故例如僅將顏色區域32B遮光、可能偏離液晶顯示部20原本所顯示之顏色。
圖16係用於說明實施形態1之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。如圖13所示，觸控檢測電極TDL若為朝與像素信號線SGL延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線，如圖16所示般，則彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、32B與觸控檢測電極TDL立體交叉。因此，觸控檢測電極TDL對各顏色區域32R、32G、32B均等地進行遮光。結果，可抑制偏離液晶顯示部20原本所顯示之顏色之可能性。
如圖16所示，觸控檢測電極TDL係空開矩陣狀配設之複數個像素 電極22之像素Pix之像素間距v1之自然數倍(例如1倍)之間隔而排列。該情形時，觸控檢測電極TDL之相鄰之間隔、即觸控檢測電極間隔p1與觸控檢測電極TDL之延伸方向之像素Pix之像素間距v1相等。或，雖亦受像素尺寸制約，但亦可將觸控檢測電極間距p1設為像素間距v1之1倍以上且10倍以下之自然數倍。或，雖亦受像素尺寸制約，但亦可將觸控檢測電極間距p1設為設為50μm以上且500μm以下之間隔。藉此，因觸控檢測電極TDL通過像素Pix之緣部，故可抑制像素Pix之透過率之降低。而且，作為疊紋(Moire)解決方案，觸控檢測電極間距p1亦可具有一定間距餘裕地配置，亦可在(顯示區域之寬度/檢測電極數)之10%左右(例如，間距為500μm之情形時，為50μm)之值域(範圍)隨機配置。此處，所謂檢測電極數，係指虛設電極TDD及觸控檢測電極TDL之總數；所謂顯示區域之寬度，係指與觸控檢測電極TDL之延伸方向正交之方向之液晶顯示部20可進行顯示之區域之長度。
[效果]
如上，實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1雖使用金屬材料之觸控檢測電極TDL，但仍可抑制金屬材料之觸控檢測電極TDL造成之透過率降低，或目測到觸控檢測電極TDL之圖案。結果，觸控檢測電極TDL可低電阻化，附觸控檢測功能之顯示裝置1可進行薄型化、大畫面化或高精細化。
再者，實施形態1之附觸控檢測功能之顯示裝置1可抑制偏離液晶顯示部20原本所顯示之顏色之可能性。
[實施形態1之變化例1]
圖17係用於說明實施形態1之變化例1之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。如圖17所示，觸控檢測電極TDL係空開矩陣狀配設之複數個像素電極22之像素Pix之間距之自然數倍(例如2倍)之間隔而排列。該情形時，觸控檢測電極TDL之相鄰之 間隔、即觸控檢測電極間隔p1與觸控檢測電極TDL之延伸方向之像素Pix之像素間距v1之2倍相等。藉此，因觸控檢測電極TDL通過像素Pix之緣部，故可抑制像素Pix之透過率之降低。
[實施形態1之變化例2]
圖18係用於說明實施形態1之變化例2之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。如圖18所示，觸控檢測電極TDL係空開矩陣狀配設之複數個像素電極22之像素Pix之間距之自然數倍(例如2倍)之間隔而排列。該情形時，觸控檢測電極TDL之相鄰之間隔、即觸控檢測電極間隔p1等於觸控檢測電極TDL之延伸方向上之像素Pix之像素間距v1之2倍。如圖18所示，觸控檢測電極TDL係藉由有規則地具有彎曲部TDQ而與沿著像素Pix之緣部之方向具有角度、且朝與像素信號線SGL延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線。藉由具有彎曲部TDQ，觸及觸控檢測電極TDL而散射之光分散，可抑制光之干涉，從而可抑制牛頓環或疊紋之產生。又，如圖18所示，觸控檢測電極TDL中，彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、32B與觸控檢測電極TDL立體交叉。
[實施形態1之變化例3]
圖19係用於說明實施形態1之變化例3之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。如圖19所示，觸控檢測電極TDL係空開矩陣狀配設之複數個像素電極22之像素Pix之間距之自然數倍(例如2倍)之間隔而排列。該情形時，觸控檢測電極TDL之相鄰之間隔、即觸控檢測電極間隔p1等於觸控檢測電極TDL之延伸方向之像素Pix之像素間距v1之2倍。如圖19所示，觸控檢測電極TDL係藉由有規則地具有彎曲部TDQD、TDQU，而與沿著像素Pix之緣部之方向具有角度、且朝與像素信號線SGL延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線。藉由於相鄰之觸控檢測電極TDL具有不同之彎曲部TDQD、 TDQU，觸及觸控檢測電極TDL而散射之光分散，可抑制光之干涉，從而可抑制牛頓環或疊紋之產生。又，如圖19所示，觸控檢測電極TDL中，彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、32B與觸控檢測電極TDL立體交叉。
[實施形態1之變化例4]
圖20係顯示實施形態1之變化例4之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。附觸控檢測功能之顯示部10具備：像素基板2、於與該像素基板2之表面垂直之方向上對向配置之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。且，對向基板3包含：玻璃基板31、及形成於該玻璃基板31之一面之彩色濾光片32。於玻璃基板31之另一面形成有觸控檢測器件30之檢測電極即觸控檢測電極TDL，進而，於該觸控檢測電極TDL之上配設有偏光板35A。
像素基板2包含：作為電路基板之TFT基板21、矩陣狀配設於該TFT基板21上之複數個像素電極22、形成於TFT基板21及像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及TFT基板21之下表面側之入射側偏光板35B。
[實施形態1之變化例5]
圖21係顯示實施形態1之變化例5之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。且，附觸控檢測功能之顯示部10具備：像素基板2、於與該像素基板2之表面垂直之方向上對向配置之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。而且，對向基板3中，由接著層31P接合玻璃基板31A之一面與玻璃基板31B之一面。彩色濾光片32形成於該玻璃基板31B之另一面。觸控檢測電極TDL形成於玻璃基板31A之一面，且於該觸控檢測電極TDL之上配設有偏光板35A。藉由以接著層31P接合玻璃基板31B與玻璃基板31A，而將觸控檢測電極TDL夾於玻璃基板31B與玻璃基板31A之間。
像素基板2包含：作為電路基板之TFT基板21、矩陣狀配設於該TFT基板21上之複數個像素電極22、形成於TFT基板21與像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及貼合於TFT基板21之下表面側之入射側偏光板35B。
[實施形態1之變化例6]
圖22係顯示實施形態1之變化例6之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。且，附觸控檢測功能之顯示部10具備：像素基板2、於與該像素基板2之表面垂直之方向上對向配置之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。而且，對向基板3中，由接著層31P接合玻璃基板31A之一面與玻璃基板31B之另一面。彩色濾光片32形成於該玻璃基板31B之另一面。觸控檢測電極TDL形成於玻璃基板31A之一面，且於該玻璃基板31A之另一面配設有偏光板35A。藉由以接著層31P接著玻璃基板31B與玻璃基板31A，而將觸控檢測電極TDL夾於玻璃基板31B與玻璃基板31A之間。
像素基板2包含：作為電路基板之TFT基板21、矩陣狀配設於該TFT基板21上之複數個像素電極22、形成於TFT基板21及像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及TFT基板21之下表面側之入射側偏光板35B。
[實施形態1之變化例7]
圖23係顯示實施形態1之變化例7之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。在實施形態1之變化例7中，上述驅動電極COML係發揮作為液晶顯示部20之共通驅動電極之作用，驅動電極Comt係發揮作為觸控檢測器件30之驅動電極之作用。即，附觸控檢測功能之顯示部10係於將液晶顯示元件用作顯示元件之液晶顯示部20之上安裝有靜電電容型之觸控檢測器件30之所謂外嵌(On-cell)型裝置。又，驅動電極驅動器14係於進行顯示動作之顯示期間B中，將作 為顯示驅動信號之驅動信號Vcom施加至驅動電極COML。又，驅動電極驅動器14係於進行觸控檢測動作之觸控檢測期間A中，將作為觸控驅動信號之驅動信號Vcom施加至驅動電極COMLt。
附觸控檢測功能之顯示部10具備：像素基板2、於與該像素基板2之表面垂直之方向上對向配置之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。而且，對向基板3中，由接著層31P接合玻璃基板31A之一面與玻璃基板31B之一面。彩色濾光片32形成於該玻璃基板31B之另一面。複數個驅動電極COMLt形成於彩色濾光片32之表面上。觸控檢測電極TDL係形成於玻璃基板31A之一面，且於該玻璃基板31A之另一面配設有偏光板35A。藉由以接著層31P接著玻璃基板31B與玻璃基板31A，而將觸控檢測電極TDL夾於玻璃基板31B與玻璃基板31A之間。
像素基板2包含：作為電路基板之TFT基板21、矩陣狀配設於該TFT基板21上之複數個像素電極22、形成於TFT基板21及像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及TFT基板21之下表面側之入射側偏光板35B。如以上所說明般，實施例1之變化例7之附觸控檢測功能之顯示部10為於液晶顯示部安裝有靜電電容型之觸控檢測器件者。
<1-2.實施形態2>
接著，對實施形態2之附觸控檢測功能之顯示裝置1進行說明。圖24係顯示實施形態2之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。圖25係用於說明實施形態2之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。另，對與上述實施形態1中所說明者相同之構成要素附加相同之符號，重複之說明予以省略。
附觸控檢測功能之顯示部10具備：像素基板2、於與該像素基板2之表面垂直之方向上對向配置之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。而且，對向基板3中，由接著層31P接合玻 璃基板31A之一面與玻璃基板31B之一面。彩色濾光片32形成於該玻璃基板31B之另一面。觸控檢測電極TDL形成於彩色濾光片32之表面。於該玻璃基板31A之另一面配設有偏光板35A。
像素基板2包含：作為電路基板之TFT基板21、矩陣狀配設於該TFT基板21上之複數個像素電極22、形成於TFT基板21及像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及TFT基板21之下表面側之入射側偏光板35B。
如圖24所示，觸控檢測電極TDL相較於彩色濾光片32，配置於更靠近液晶層6之位置。如圖25所示，與彩色濾光片32同層之被稱作黑色矩陣之具有遮光作用之遮光層BM配置於像素Pix之緣部。觸控檢測電極TDL若為朝與像素信號SGL延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線，則如圖25所示，彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、32B與觸控檢測電極TDL立體交叉。此時，觸控檢測電極TDL沿遮光層BM延伸之方向延伸，於垂直方向上，較遮光層BM而更靠近像素電極22。因此，觸控檢測電極TDL所引起之透過率降低與遮光層BM所引起之透過率降低為同等程度，從而可降低以金屬形成觸控檢測電極TDL所引起之透過率之降低。
[實施形態2之變化例]
圖26係顯示實施形態2之變化例之附觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。附觸控檢測功能之顯示部10具備：像素基板2、於與該像素基板2之表面垂直之方向上對向配置之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。而且，對向基板3中，由接著層31P接合玻璃基板31A之一面與玻璃基板31B之一面。彩色濾光片32形成於該玻璃基板31B之另一面。於該玻璃基板31A之另一面配設有偏光板35A。
像素基板2包含：作為電路基板之TFT基板21、矩陣狀配設於該 TFT基板21上之複數個像素電極22、與像素電極22同層形成之觸控檢測電極TDL、形成於TFT基板21及像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及TFT基板21之下表面側之入射側偏光板35B。
[效果]
如上，實施形態2之附觸控檢測功能之顯示裝置1雖使用金屬材料之觸控檢測電極TDL，但仍可抑制金屬材料之觸控檢測電極TDL造成之透過率降低，或目測到觸控檢測電極TDL之圖案。結果，觸控檢測電極TDL可低電阻化，附觸控檢測功能之顯示裝置1可進行薄型化、大畫面化或高精細化。
<1-3.實施形態3>
接著，對實施形態3之附觸控檢測功能之顯示裝置1進行說明。圖27係用於說明實施形態3之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。另，對與上述實施形態1及實施形態2中所說明者相同之構成要素附加相同之符號，重複之說明予以省略。
實施形態3之驅動電極COML係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向，且朝與上述像素信號線SGL延伸之方向不同之方向延伸。因此，圖27所示之觸控檢測電極TDL係朝與對圖10所示之各像素電極22供給像素信號Vpix之像素信號線SGL延伸之方向平行之方向延伸之金屬配線，且該金屬配線以特定間距配置。如圖27所示地排列觸控檢測電極TDL之金屬配線之情形時，為避免對彩色濾光片32之特定顏色區域進行遮光，而有規則地具有彎曲部TDQL、TDLQR。如圖27所示，觸控檢測電極TDL之金屬配線係相對於與上述掃描信號線GCL正交之直線，以固定間隔形成角度θ之直線於彎曲部TDQL、TDLQR彎折之Z字線。例如，角度θ為5度以上且75度以下，較佳為25度以上且40度以下，更佳為50度以上且65度以下。且，觸控檢測電極TDL之金屬配線亦可於理想之範圍內，保持餘裕地而配置。 因此，觸控檢測電極TDL之金屬配線係以蛇行且與彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、32B立體交叉之方式進行配線。又，觸控檢測電極TDL之延伸方向相對於彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、32B之延伸方向具有角度。結果，由於觸控檢測電極TDL之金屬配線依序對彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、及32B進行遮光，而可抑制彩色濾光片32之特定顏色區域之透過率之降低。另，一個檢測區塊中，亦可利用檢測配線TDG導通複數個觸控檢測電極TDL，而使用複數個觸控檢測電極TDL。
[實施形態3之變化例]
圖28係用於說明實施形態3之變化例之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。圖28所示之觸控檢測電極TDL係朝與對圖10所示之各像素電極22供給像素信號Vpix之像素信號線SGL延伸之方向平行之方向延伸之金屬配線，且該金屬配線以特定間距配置。如圖28所示地排列觸控檢測電極TDL之金屬配線之情形時，為避免對彩色濾光片32之特定顏色區域進行遮光，而有規則地具有彎曲部TDQL、TDQR。因此，觸控檢測電極TDL之金屬配線係於同一平面上之交叉點TDQX交叉。於交叉點TDQX導通之觸控檢測電極TDL係作為一個檢測區塊而動作。而且，如圖28所示，觸控檢測電極TDL之金屬配線係相對於與上述掃描信號線GCL正交之直線，以固定間隔形成角度θ之直線於彎曲部TDQL、TDLQR彎折之Z字線。例如，角度θ為5度以上且75度以下，較佳為25度以上且40度以下，更佳為50度以上且65度以下。且，觸控檢測電極TDL之金屬配線亦可於理想之範圍內，保持餘裕地而配置。又，觸控檢測電極TDL之金屬配線係以蛇行且與彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、32B立體交叉之方式進行配線。結果，由於觸控檢測電極TDL之金屬配線依序對彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、及32B進行遮光，而可抑制彩色濾光片32之 特定顏色區域之透過率之降低。
[效果]
如上，實施形態3之附觸控檢測功能之顯示裝置1雖使用金屬材料之觸控檢測電極TDL，但仍可抑制金屬材料之觸控檢測電極TDL造成之透過率降低，或目測到觸控檢測電極TDL之圖案。結果，觸控檢測電極TDL可低電阻化，附觸控檢測功能之顯示裝置1可進行薄型化、大畫面化或高精細化。
<1-4.實施形態4>
接著，對實施形態4之附觸控檢測功能之顯示裝置1進行說明。圖29係顯示實施形態4之觸控檢測電極之概略剖面構造之示意圖。圖30係用於說明實施形態4之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。另，對與上述實施形態1及實施形態2中所說明者相同之構成要素附加相同之符號，重複之說明予以省略。
實施形態4之驅動電極COML係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向，且朝與上述像素信號線SGL延伸之方向不同之方向延伸。因此，如上所述，圖14所示之觸控檢測電極TDL係朝與對圖10所示之各像素電極22供給像素信號Vpix之像素信號線SGL延伸之方向平行之方向延伸之金屬配線，且該金屬配線以特定間距p1m配置。金屬配線間之特定間距p1m較佳為10μm以上且500μm以下。如圖14所示般地排列觸控檢測電極TDL之金屬配線之情形時，如圖15所示，有可能對彩色濾光片32之特定顏色區域32B進行遮光。因此，圖29及圖30所示之觸控檢測電極TDL係朝與對圖10所示之各像素電極22供給像素信號Vpix之像素信號線SGL延伸之方向平行之方向延伸之ITO等透明電極TDLi，且該透明電極TDLi以特定間距配置。然而，因ITO等透明電極TDLi電阻較高，故觸控檢測電極TDL係將由鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)，或該等之合金之至少一種金屬材料形成之金 屬觸控電極(金屬電極)TDLm積層於透明電極TDLi。藉此，觸控檢測電極TDL中，僅具有透明電極TDLi之部分出現電阻降低。
若金屬觸控電極TDLm於透明電極TDLi延伸之方向連續存在，則有可能對彩色濾光片32之特定顏色區域32B進行遮光。因此，如圖30所示，金屬觸控電極TDLm係於透明電極TDLi延伸之方向斷開，由透明電極TDLi電性導通。虛設電極TDD係與觸控檢測電極TDL同樣地，將金屬觸控電極(金屬電極)TDLm積層於透明電極TDLi。藉此可緩和觸控檢測電極TDL之遮光引起之視認性。進而，可利用間隙TDDS絕緣透明電極TDLi。
圖31係用於說明實施形態4之變化例1之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。金屬觸控電極TDLm於透明電極TDLi延伸之方向斷開之比例越大，則越可抑制透過率之降低。
圖32係用於說明實施形態4之變化例2之觸控檢測電極之排列與彩色濾光片之顏色區域之關係之示意圖。金屬觸控電極TDLm係配置於彩色濾光片32之各顏色區域32R、32G、及32B。藉此，可抑制彩色濾光片32之特定顏色區域之透過率之降低。藉由以某種程度不規則地配置金屬觸控電極，實施形態4之附觸控檢測功能之顯示裝置1可抑制疊紋。
[效果]
如上，實施形態4之附觸控檢測功能之顯示裝置1雖使用金屬材料之觸控檢測電極TDL，但仍可抑制使用金屬材料之金屬觸控電極TDLm之觸控檢測電極TDL造成之透過率降低，或目測到觸控檢測電極TDL之圖案。結果，觸控檢測電極TDL可低電阻化，附觸控檢測功能之顯示裝置1可進行薄型化、大畫面化或高精細化。
<1-5.其他實施形態及變化例>
以上，雖已舉出幾個實施形態及變化例說明實施形態，但本發 明並非限定於該等實施形態，而可進行各種變形。
上述實施形態中，如上述實施形態1所揭示般，雖按照每個驅動電極COML驅動及掃描驅動電極COML，但並非限定於此，例如，亦可取而代之，藉由驅動特定數量之驅動電極COML，且使驅動電極COML逐一位移而進行掃描。
再者，上述各實施形態及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1可將使用TN、VA、ECB等各種模式之液晶之液晶顯示部20與觸控檢測器件30一體化，而作為附觸控檢測功能之顯示部10。但亦可取而代之，附觸控檢測功能之顯示部10將使用FFS(邊緣場切換)或IPS(平面內切換)等橫向電場模式之液晶之液晶顯示部與觸控檢測器件一體化。
例如，附觸控檢測功能之顯示裝置1亦可使用橫向電場模式之液晶。且，在上述各實施形態中，雖設為將液晶顯示部與靜電電容型之觸控檢測器件一體化之所謂內嵌式，但並非限定於此，例如，亦可取而代之為於液晶顯示部安裝有靜電電容型之觸控檢測器件者。即使該情形時，藉由如上述般之構成，仍可一面抑制外部雜訊，或自液晶顯示部傳遞之雜訊(與上述各實施形態之內部雜訊對應者)之影響，一面進行觸控檢測。
<2.應用例>
接著，參照圖33至圖44，對在實施形態及變化例中所說明之附觸控檢測功能之顯示裝置1之應用例進行說明。圖33至圖44係顯示本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1可應用於電視裝置、數位相機、筆記型個人電腦、行動電話等之行動終端裝置或視頻攝像機等所有領域之電子機器。換言之，實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1可應用於將自外部輸入之影像 信號或在內部產生之影像信號顯示為圖像或影像之所有領域之電子機器。
(應用例1)
圖33所示之電子機器係應用實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1之電視裝置。該電視裝置例如具有包含前面板511及濾光玻璃512之影像顯示畫面部510，該影像顯示畫面部510為實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例2)
圖34及圖35所示之電子機器係應用實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1之數位相機。該數位相機例如具有快閃用之發光部521、顯示部522、選單切換523及快門按鍵524；該顯示部522為實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例3)
圖36所示之電子機器為表示應用實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1之視頻攝像機之外觀者。該視頻攝像機例如具有本體部531、設置於該本體部531之前方側面之被攝體攝影用之鏡頭532、攝影時之開始/停止開關533、及顯示部534。且，顯示部534為實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例4)
圖37所示之電子機器係應用實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1之筆記型個人電腦。該筆記型個人電腦例如具有本體541、用於文字等之輸入操作之鍵盤542、及顯示圖像之顯示部543；顯示部543為實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例5)
圖38至圖44所示之電子機器係應用實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置1之行動電話。該行動電話為例如以連結部(鉸鏈部)553連結上側殼體551與下側殼體552所成者，具有顯示器554、次顯示器555、閃光燈556、及照相機557。該顯示器554或次顯示器555為實施形態1、2、3、4及變化例之附觸控檢測功能之顯示裝置。
<3.本發明之態樣>
本發明包含以下態樣：
(1)
一種附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給用於顯示圖像之像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面之垂直方向上，與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向平行之方向延伸；及複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向、且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線，上述金屬配線係以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合。
(2)
如上述(1)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：彩色濾光片，其係於上述垂直方向上與上述顯示功能層對向， 且具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；上述彩色濾光片之各顏色區域之延伸方向與上述信號線之延伸方向一致；上述複數個觸控檢測電極係與上述彩色濾光片之各顏色區域立體交叉。
(3)
如上述(1)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述金屬配線係空開上述顯示功能層之像素間距之自然數倍之間隔而排列。
(4)
如上述(3)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極位於較將上述像素之緣部遮光之遮光層更靠近上述顯示功能層之層。
(5)
如上述(1)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極具有彎曲部。
(6)
一種附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸； 複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向之金屬配線，上述金屬配線係以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合；及彩色濾光片，其係於上述垂直方向上與上述顯示功能層對向，且具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；上述複數個觸控檢測電極係延伸於上述信號線延伸之方向，且與上述彩色濾光片之各顏色區域立體交叉。
(7)
如上述(6)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極具有上述觸控檢測電極之延伸方向相對於上述彩色濾光片之各顏色區域之延伸方向具有角度之彎曲部。
(8)
一種附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面之垂直方向上，與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸；複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向，且以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合；及彩色濾光片，其具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成 綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；上述複數個觸控檢測電極包含沿上述彩色濾光片之特定顏色區域而延伸之透明電極，及於延伸方向上斷開且積層於上述透明電極之金屬電極。
(9)
如上述(1)之附觸控檢測功能之顯示裝置，上述觸控檢測電極利用因外部靠近物體之靠近或接觸所產生之靜電電容之變化，而檢測上述外部靠近物體。
(10)
如上述(1)之附觸控檢測功能之顯示裝置，其具備掃描驅動部，其對於上述驅動電極，於顯示動作期間施加顯示驅動信號，且於觸控檢測動作期間施加觸控驅動信號。
(11)
一種電子機器，其具備可檢測外部靠近物體之附觸控檢測功能之顯示裝置；且上述附觸控檢測功能之顯示裝置包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給用於顯示圖像之像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上，與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向平行之方向延伸；及 複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向、且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線，上述金屬配線係以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合。
(12)
一種電子機器，其具備可檢測外部靠近物體之附觸控檢測功能之顯示裝置；上述附觸控檢測功能之顯示裝置包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上，與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸；複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向之金屬配線，上述金屬配線以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合；及彩色濾光片，其係於上述垂直方向上與上述顯示功能層對向，且具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；上述複數個觸控檢測電極係延伸於上述信號線延伸之方向，且與上述彩色濾光片之各顏色區域立體交叉。
(13)
一種電子機器，其具備可檢測外部靠近物體之附觸控檢測功能 之顯示裝置；上述附觸控檢測功能之顯示裝置包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上，與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸；複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向，且以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合；及彩色濾光片，其係於上述垂直方向上與上述顯示功能層對向，且具有至少著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；且上述複數個觸控檢測電極包含沿上述彩色濾光片之特定顏色區域而延伸之透明電極，及於延伸方向上斷開且積層於上述透明電極之金屬電極。
32‧‧‧彩色濾光片
32B‧‧‧顏色區域
32G‧‧‧顏色區域
32R‧‧‧顏色區域
TDL‧‧‧觸控檢測電極
Pix‧‧‧像素
v1‧‧‧像素間距
p1‧‧‧觸控檢測電極間距

Claims (14)

  1. 一種附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給用於顯示圖像之像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面之垂直方向上與上述複數個像素電極對向，且長度方向朝與上述信號線延伸之方向平行之方向延伸；及複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向、且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線，上述金屬配線以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合。
  2. 如請求項1之附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：彩色濾光片，其係於上述垂直方向上與上述顯示功能層對向，且具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；上述彩色濾光片之各顏色區域之延伸方向與上述信號線之延伸方向一致；且上述複數個觸控檢測電極與上述彩色濾光片之各顏色區域立體交叉。
  3. 如請求項1之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述金屬配線係 空開上述顯示功能層之像素間距之自然數倍之間隔而排列。
  4. 如請求項3之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極位於較將上述像素之緣部遮光之遮光層更靠近上述顯示功能層之層。
  5. 如請求項1之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極具有彎曲部。
  6. 如請求項1之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極利用因外部靠近物體之靠近或接觸所產生之靜電電容之變化，而檢測上述外部靠近物體。
  7. 如請求項1之附觸控檢測功能之顯示裝置，其具備掃描驅動部，其對於上述驅動電極，於顯示動作期間施加顯示驅動信號，且於觸控檢測動作期間施加觸控驅動信號。
  8. 如請求項5之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極係相對於上述信號線為5度以上75度以下之角度。
  9. 一種附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上與上述複數個像素電極對向，且長度方向朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸；複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向之金屬配線，上述金屬配線以特定間距配置，而與上述 驅動電極電容耦合；及彩色濾光片，其係於上述垂直方向上與上述顯示功能層對向，且具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；且上述複數個觸控檢測電極係延伸於上述信號線延伸之方向，且與上述彩色濾光片之各顏色區域立體交叉。
  10. 如請求項9之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極具有上述觸控檢測電極之延伸方向相對於上述彩色濾光片之各顏色區域之延伸方向具有角度之彎曲部。
  11. 如請求項10之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測電極係相對於上述信號線為5度以上75度以下之角度。
  12. 一種附觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸；複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向，且以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合；及彩色濾光片，其具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；且 上述複數個觸控檢測電極包含：沿上述彩色濾光片之特定顏色區域而延伸之透明電極、及於延伸方向上斷開且與上述透明電極相接之金屬電極。
  13. 一種電子機器，其具備可檢測外部靠近物體之附觸控檢測功能之顯示裝置；且上述附觸控檢測功能之顯示裝置包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且對上述像素電極供給用於顯示圖像之像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上，與上述複數個像素電極對向，且長度方向朝與上述信號線延伸之方向平行之方向延伸；及複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向、且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸之金屬配線，上述金屬配線係以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合。
  14. 一種電子機器，其具備可檢測外部靠近物體之附觸控檢測功能之顯示裝置；上述附觸控檢測功能之顯示裝置包含：基板；複數個像素電極，其矩陣狀配置於與上述基板之表面平行之面上；複數條信號線，其延伸於與上述基板之表面平行之平面，且 對上述像素電極供給像素信號；顯示功能層，其基於上述像素信號而發揮圖像顯示功能；驅動電極，其於相對於上述基板之表面垂直之方向上，與上述複數個像素電極對向，且朝與上述信號線延伸之方向不同之方向延伸；複數個觸控檢測電極，其係於上述垂直方向上與上述驅動電極對向，且以特定間距配置，而與上述驅動電極電容耦合；及彩色濾光片，其係於上述垂直方向上與上述顯示功能層對向，且具有至少包含著色成紅色之顏色區域、著色成綠色之顏色區域、及著色成藍色之顏色區域之一者之複數個顏色區域；且上述複數個觸控檢測電極包含：沿上述彩色濾光片之特定顏色區域而延伸之透明電極、及於延伸方向上斷開且與上述透明電極相接之金屬電極。
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