CN105699735A - 电压检测电路 - Google Patents

电压检测电路 Download PDF

Info

Publication number
CN105699735A
CN105699735A CN201510896318.7A CN201510896318A CN105699735A CN 105699735 A CN105699735 A CN 105699735A CN 201510896318 A CN201510896318 A CN 201510896318A CN 105699735 A CN105699735 A CN 105699735A
Authority
CN
China
Prior art keywords
voltage
detecting circuit
output
voltage detecting
transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510896318.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105699735B (zh
Inventor
杉浦正
杉浦正一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Publication of CN105699735A publication Critical patent/CN105699735A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105699735B publication Critical patent/CN105699735B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/22—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral
    • H03K5/24—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0084—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/22—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral
    • H03K5/24—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude
    • H03K5/2472—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude using field effect transistors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Control Of Voltage And Current In General (AREA)

Abstract

本发明提供一种电压检测电路，该电压检测电路避免了在电源刚刚启动之后输出晶体管无意的导通截止控制。所述电压检测电路采用如下的结构：具有对被检测电压与基准电压进行比较的比较器、以及根据比较器的输出来驱动输出晶体管的反相器，由电流源提供反相器的动作电流。

Description

电压检测电路
技术领域
本发明涉及检测规定的电压的电压检测电路。
背景技术
图4中示出了以往的电压检测电路。以往的电压检测电路具有被输入被检测电压VSIG的电压输入端子401、电压输出端子407、对被检测电压VSIG进行分压输出的电阻402和电阻403、输出基准电压VREF的基准电压电路404、配备对基于被检测电压VSIG的电压与基准电压VREF进行比较的比较器405的比较功能部410、根据比较功能部410而被导通截止控制的输出晶体管406。
输出晶体管406的漏极端子与电压输出端子407连接，电压输出端子407通过未图示的上拉电阻被上拉成外部电压。
根据被检测电压VSIG与基准电压VREF的大小关系，输出晶体管406被导通截止控制，输出基于负的电源电压VSS或外部电压的电压。
【专利文件1】日本特开平11-135732号公报
然而，在图4所示的以往的电压检测电路中，存在如下的问题：在电源接通时，有时无意地对输出晶体管406进行导通截止控制而使来自电压输出端子407的输出电压变得不稳定。
比较器405根据未图示的正的电源电压VDD进行动作。在电源接通时，电源电压VDD未达到比较器405的动作电压时，比较器405的输出变得不稳定。因此，有时无意地对输出晶体管406进行导通截止控制而使来自电压输出端子407的输出电压变得不稳定。
在电源接通时，为了防止接受电压输出端子407的电压而进行动作的各种器件的错误动作，优选不将检测电压输出到电压输出端子407。
发明内容
本发明就是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供一种电压检测电路，该电压检测电路即使在电源接通时输出电压也是稳定的。
为了解决以往的课题，本发明的电压检测电路采用了如下的结构。
所述电压检测电路具有对被检测电压与基准电压进行比较的比较器、以及根据比较器的输出来驱动输出晶体管的反相器，由电流源提供反相器的动作电流。
根据上述结构，在电源接通时的规定的期间，不管比较器的输出如何，反相器的输出被固定为正的电源电压VDD或者负的电源电压VSS，电压输出端子的电压都是恒定的。
根据本发明的电压检测电路，可以提供一种避免了在电源接通时输出晶体管无意的导通截止控制的电压检测电路。
附图说明
图1是示出了本实施方式的电压检测电路的电路图。
图2是示出了本实施方式的电压检测电路的电路图。
图3是示出了本实施方式的电压检测电路的电路图。
图4是示出了以往的电压检测电路的电路图。
标号说明
101：电压输入端子；104：基准电压电路；106：输出晶体管；115：比较器；116、202：电流源；117：电压输出端子；110：比较功能部；303：启动电压检测电路。
具体实施方式
以下，参照附图对本实施方式的电压检测电路进行说明。
图1是示出了本实施方式的电压检测电路的电路图。本实施方式的电压检测电路具有被输入被检测电压VSIG的电压输入端子101、电压输出端子107、对被检测电压VSIG进行分压输出的电阻102和电阻103、输出基准电压VREF的基准电压电路104、对基于被检测电压VSIG的电压与基准电压VREF进行比较的比较功能部110、以及通过比较功能部110而被导通截止控制的输出晶体管106。比较功能部110具有比较器115、由比较器115的输出而控制的形成反相器的晶体管117和晶体管118、以及提供反相器的动作电流的电流源116。电压输出端子107与输出晶体管106的漏极端子连接，通过未图示的例如上拉电阻被上拉成外部电压。
接下来，对本实施方式的电压检测电路的动作进行说明。虽然基本的动作与以往的电压检测电路相同，但是与以往的电压检测电路不同的在于比较功能部110的动作。比较功能部110例如在检测出被检测电压VSIG比规定的电压高时，由比较器115输出L电平。即，电压检测电路向电压输出端子107输出L电平的检测信号。
在本实施方式的电压检测电路的比较功能部110中，比较器115根据被检测电压VSIG与基准电压VREF的大小关系，对晶体管117和118所构成的反相器进行导通截止控制。在对输出晶体管106进行导通控制的情况下，反相器根据电流源116的电流对输出晶体管106的栅极电容进行充电。
在电源接通时，当电源电压VDD暂时未达到比较器115的动作电压时，比较器115的输出不稳定，当比较器115输出L电平时，由于反相器通过电流源116进行动作，所以输出晶体管106的栅极电压不立即显示出H电平。这是因为输出晶体管106的栅极电容由电流源116的电流充电。即，即使比较器115的输出不稳定，电压检测电路也不向电压输出端子107输出L电平的检测信号。
根据以上说明的电压检测电路，可以提供一种避免了在电源接通时输出晶体管无意的导通截止控制的电压检测电路。
电流源116作为独立式的电流源，可以利用例如使栅极端子与源极端子短路的耗尽型晶体管来实现。并且，电流源116可以利用电流镜电路来实现。
图2是利用电流镜电路来实现电流源116的电压检测电路的一例。电流源116具有电流源202、电容203、晶体管201以及晶体管206。晶体管206与晶体管201构成电流镜，流过基于电流源202的电流的电流。
在电源接通时，电流源202在对包含由晶体管201和晶体管206构成的电流镜电路的电容203的输入电容进行充电的同时，缓慢地启动电流镜电路。晶体管206的可供电的电流值、即驱动能力缓慢地提高。
在电源接通时，因为对输出晶体管106的栅极电容进行充电的电流值更小，输出晶体管106更不易导通，所以输出晶体管106不能无意地导通。
如上所述，根据图2的电压检测电路，可以提供一种避免了在电源接通时输出晶体管无意的导通截止控制的电压检测电路。
在电流镜电路的输入电容充分大的情况下，反而不需要配备电容203。
图3中示出了另一个实施例的电压检测电路作为代替了电流源116的晶体管206的可供电的电流值、即驱动能力缓慢提高的方法。与图2不同之处在于省略了电容203、新配备了开关301和302。在电源接通时的电源电压VDD还很低或者电源刚刚接通的期间内，开关301和302根据来自低电源电压检测电路或电源启动时输出单次脉冲的启动电压检测电路303的输出来进行断开控制。
启动电压检测电路303在电源电压VDD超过比较器115的动作电压时，使开关301和302接通。显而易见，只要开关301和302的双方或者无论其中哪一个是断开的状态，则不能将电流供电到反相器。如果反相器的动作电流少，则对输出晶体管106的栅极电容进行充电需要时间，所以不容易对输出晶体管106进行导通控制。
如上所述，根据图3的电压检测电路，可以提供一种避免了在电源刚刚启动之后输出晶体管无意的导通控制的电压检测电路。
也可以采用代替开关301和302而配备将晶体管201的栅极源极间短路的开关并在电源启动时对该开关进行接通控制的结构。
另外，本发明的电压检测电路只涉及抑制反相器的动作电流的手段，并不限定于图1、图2、图3的实施方式。

Claims (4)

1.一种电压检测电路，该电压检测电路检测输入电压的电压，其特征在于，该电压检测电路具有：
分压电阻，其输出对所述输入电压进行分压后的分压电压；
基准电压电路，其产生基准电压；
比较器，其对所述分压电压与所述基准电压的大小进行比较；
输出晶体管；以及
反相器，其接受所述比较器的输出来驱动所述输出晶体管，
该电压检测电路由电流源供给所述反相器的动作电流。
2.根据权利要求1所述的电压检测电路，其特征在于，
所述电流源由电流镜电路构成。
3.根据权利要求2所述的电压检测电路，其特征在于，
构成所述电流镜电路的晶体管与电容并联连接。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的电压检测电路，其特征在于，
所述电流源具有开关，电源电压在规定的电压以下时所述开关断开，所述电流源不供给电流。
CN201510896318.7A 2014-12-09 2015-12-08 电压检测电路 Active CN105699735B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014-249103 2014-12-09
JP2014249103A JP6442262B2 (ja) 2014-12-09 2014-12-09 電圧検出回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105699735A true CN105699735A (zh) 2016-06-22
CN105699735B CN105699735B (zh) 2020-02-14

Family

ID=56094109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510896318.7A Active CN105699735B (zh) 2014-12-09 2015-12-08 电压检测电路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9917573B2 (zh)
JP (1) JP6442262B2 (zh)
KR (1) KR102365806B1 (zh)
CN (1) CN105699735B (zh)
TW (1) TWI663408B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108664073A (zh) * 2017-03-31 2018-10-16 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种探测电路
CN110531143A (zh) * 2018-05-25 2019-12-03 艾普凌科有限公司 电压检测器
CN111693759A (zh) * 2019-03-11 2020-09-22 艾普凌科有限公司 电压检测器

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI629492B (zh) * 2017-08-03 2018-07-11 新唐科技股份有限公司 參考電壓電路之測試系統及方法
JP2019148478A (ja) 2018-02-27 2019-09-05 セイコーエプソン株式会社 電源電圧検出回路、半導体装置、及び、電子機器

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1419738A (zh) * 2000-05-12 2003-05-21 摩托罗拉公司 振荡电路
CN1624486A (zh) * 2003-12-02 2005-06-08 精工电子有限公司 电压检测电路
CN101281216A (zh) * 2008-05-28 2008-10-08 北京中星微电子有限公司 一种采用扫描模式的电压检测电路
CN101655517A (zh) * 2008-08-21 2010-02-24 联咏科技股份有限公司 电压检测电路与电压检测方法
CN101752619A (zh) * 2008-12-04 2010-06-23 三美电机株式会社 二次电池保护集成电路装置、二次电池保护模块和电池组
CN103076483A (zh) * 2011-10-25 2013-05-01 三美电机株式会社 低电压检测电路
CN103091548A (zh) * 2013-01-09 2013-05-08 电子科技大学 一种电源电压检测电路
US20130342947A1 (en) * 2012-06-20 2013-12-26 Fuji Electric Co., Ltd. Abnormal voltage detecting device
US20140167824A1 (en) * 2012-12-18 2014-06-19 Fujitsu Semiconductor Limited Quantizer, comparator circuit, and semiconductor integrated circuit

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06152374A (ja) * 1992-11-11 1994-05-31 Toshiba Corp 出力回路
US5408174A (en) * 1993-06-25 1995-04-18 At&T Corp. Switched capacitor current reference
JP3650214B2 (ja) * 1996-05-22 2005-05-18 セイコーインスツル株式会社 電圧検出回路
TW363305B (en) * 1996-09-06 1999-07-01 Koninkl Philips Electronics Nv A receiver, a frequency synthesis circuit and a charge pump
JP4084872B2 (ja) 1997-08-28 2008-04-30 株式会社リコー ボルテージレギュレータ
JPH1188127A (ja) * 1997-09-04 1999-03-30 Texas Instr Japan Ltd 発振回路
JP3152204B2 (ja) * 1998-06-02 2001-04-03 日本電気株式会社 スルーレート出力回路
US6157579A (en) * 1998-07-31 2000-12-05 Stmicroelectronics S.R.L. Circuit for providing a reading phase after power-on-reset
JP3420113B2 (ja) * 1999-06-01 2003-06-23 Ｎｅｃエレクトロニクス株式会社 Ｍｏｓトランジスタ回路
US6683481B1 (en) * 2002-06-03 2004-01-27 Xilinx, Inc. Power on reset generator circuit providing hysteresis in a noisy power environment
US7724092B2 (en) * 2007-10-03 2010-05-25 Qualcomm, Incorporated Dual-path current amplifier
JP5193806B2 (ja) * 2008-10-31 2013-05-08 富士通テン株式会社 コンパレータ回路および電子機器
KR20100102460A (ko) * 2009-03-11 2010-09-24 삼성전자주식회사 역 온도반응 딜레이 셀
TWI381634B (zh) * 2009-03-26 2013-01-01 Green Solution Tech Co Ltd 控制器及電壓偵測啟動器

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1419738A (zh) * 2000-05-12 2003-05-21 摩托罗拉公司 振荡电路
CN1624486A (zh) * 2003-12-02 2005-06-08 精工电子有限公司 电压检测电路
CN101281216A (zh) * 2008-05-28 2008-10-08 北京中星微电子有限公司 一种采用扫描模式的电压检测电路
CN101655517A (zh) * 2008-08-21 2010-02-24 联咏科技股份有限公司 电压检测电路与电压检测方法
CN101752619A (zh) * 2008-12-04 2010-06-23 三美电机株式会社 二次电池保护集成电路装置、二次电池保护模块和电池组
CN103076483A (zh) * 2011-10-25 2013-05-01 三美电机株式会社 低电压检测电路
US20130342947A1 (en) * 2012-06-20 2013-12-26 Fuji Electric Co., Ltd. Abnormal voltage detecting device
US20140167824A1 (en) * 2012-12-18 2014-06-19 Fujitsu Semiconductor Limited Quantizer, comparator circuit, and semiconductor integrated circuit
CN103091548A (zh) * 2013-01-09 2013-05-08 电子科技大学 一种电源电压检测电路

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108664073A (zh) * 2017-03-31 2018-10-16 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种探测电路
CN110531143A (zh) * 2018-05-25 2019-12-03 艾普凌科有限公司 电压检测器
CN110531143B (zh) * 2018-05-25 2023-07-18 艾普凌科有限公司 电压检测器
CN111693759A (zh) * 2019-03-11 2020-09-22 艾普凌科有限公司 电压检测器
CN111693759B (zh) * 2019-03-11 2023-08-01 艾普凌科有限公司 电压检测器

Also Published As

Publication number Publication date
US20160161532A1 (en) 2016-06-09
TWI663408B (zh) 2019-06-21
TW201621328A (zh) 2016-06-16
JP6442262B2 (ja) 2018-12-19
KR102365806B1 (ko) 2022-02-21
US9917573B2 (en) 2018-03-13
JP2016109616A (ja) 2016-06-20
KR20160070004A (ko) 2016-06-17
CN105699735B (zh) 2020-02-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105699735A (zh) 电压检测电路
CN107302351B (zh) 驱动装置和感性负载驱动装置
JP2017529046A5 (zh)
RU2017125968A (ru) Схема ограничения тока, разъем для подачи электропитания постоянного тока и источник электропитания постоянного тока
CN104022634B (zh) 一种储能电容式高、低压浪涌抑制电路及其抑制方法
CN103901799B (zh) 智能开关
CN105706532A (zh) 具有开路输出保护的驱动器
CN104917377A (zh) Dc/dc转换器
JP2018107890A5 (ja) 電力供給装置、電力供給装置の制御方法及び電力供給システム
CN104917376A (zh) Dc/dc转换器
CN107852800B (zh) 调光装置
CN105743475A (zh) 负载驱动电路
WO2019179787A8 (en) Converter
CN204992556U (zh) 一种可快速关断的电压电流浪涌抑制电路
US20190363626A1 (en) Switch circuit
US10170258B2 (en) Method for controlling a change of operating state of an electromechanical component and corresponding device
EP3382838A1 (en) Protection circuit and control device for brushless dc motor
CN104159359A (zh) 一种手电筒驱动电路及移动终端
CN103956297A (zh) 低速电动车大电流接触器控制电路
CN104578744A (zh) 负载分级启动电路及相应漏电保护器
KR101822241B1 (ko) 전원 제어 시스템
CN102694535B (zh) 根据负载情况自动调整功耗的结构
CN107340719B (zh) 开机自锁装置及智能家居控制系统
CN203840320U (zh) 一种主控电路用外围电路
CN104900449B (zh) 继电器控制电路

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: Chiba County, Japan

Applicant after: ABLIC Inc.

Address before: Chiba County, Japan

Applicant before: DynaFine Semiconductor Co.,Ltd.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CP02 Change in the address of a patent holder
CP02 Change in the address of a patent holder

Address after: Nagano

Patentee after: ABLIC Inc.

Address before: Chiba County, Japan

Patentee before: ABLIC Inc.