CN105635514B - 发光装置以及图像形成装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种无论发光元件的驱动电流量如何都精度良好地校正由于发光元件的环境温度而导致的光量变动的发光装置以及图像形成装置。在进行OLED的驱动电流量的温度校正时，在通过温度传感器320测量了环境温度之后，针对每个OLED201反复进行下面的处理。首先，从设定光量存储部501读出每个OLED201的设定光量标识符。接下来，驱动电流量校正部504参照校正系数表格503求出与环境温度和设定光量的组合对应的校正系数，并从设定电流量存储部502读出设定电流量，乘以校正系数而计算驱动电流量。

Description

发光装置以及图像形成装置
技术领域
本发明涉及发光装置以及图像形成装置，特别涉及精度良好地校正由于环境温度的变化所引起的发光量的变动的技术。
背景技术
近年来，以图像形成装置的小型化和低成本化为目的，研究了将有机EL元件(OLED：Organic Light Emitting Diode，有机发光二极管)应用到在感光体上进行光写入的光写入装置的技术。
OLED具有如下发光特性：即使驱动电流量相同，在元件温度发生变化时发光量也发生变化。由于元件温度处于环境温度的影响下，所以例如如图15所示，当环境温度从T1上升到T2时，OLED的发光量减少。发光量的变化对在感光体上形成的静电潜像造成影响，所以存在甚至招致图像质量的劣化的担忧。
关于OLED，在图像形成装置以外的技术领域中也研究了应用，发光量的稳定化在各种技术领域中成为了重要课题。因此，例如提出了如下技术：通过预先针对每个环境温度对为了得到所希望的发光量而所需的驱动电流量的校正数据进行表格化，并根据使用温度传感器测量的OLED的环境温度来参照该表格，从而校正驱动电流量(例如参照专利文献1)。这样，即使环境温度发生变化也能够得到所希望的发光量。
专利文献1：日本专利第5343073号公报
专利文献2：日本特开2003－029710号公报
发明内容
环境温度所致的OLED的发光量的变化的方式(温度特性)根据例如被供给到OLED的驱动电流量的多寡而变化。即，OLED的驱动电流量成为了使OLED的温度特性变化的因素，如图16所示，相比于驱动电流量多的情况(L1)，驱动电流量少的情况(L3)下的由于环境温度的上升而导致的OLED的发光量的减少幅度大。
在图像形成装置的技术领域中，通过将以线状地排列的OLED的出射光通过棒状透镜阵列聚光到感光体上，进行光写入，但针对每个OLED，与棒状透镜阵列的相对位置关系不同，所以针对每个OLED，成像效率可能变动。因此，如果对全部OLED供给相同的驱动电流量而使发光量相同，则每个像素的曝光量不会成为恒定。
但是，如果通过针对每个OLED调整驱动电流而使曝光量恒定，则针对每个OLED，驱动电流量不同，所以针对每个OLED，由于环境温度的变动而导致的发光量的变化的方式会不同。因此，如上述以往技术那样，如果针对全部OLED应用一样的校正数据，则无法正确地校正环境温度所致的发光量的变化。
本发明是鉴于上述那样的问题而完成的，其目的在于提供一种精度良好地校正OLED的由于温度特性的变化而导致的光量变动的发光装置以及图像形成装置。
为了达成上述目的，本发明涉及的发光装置，其特征在于，具备：发光元件；检测单元，检测所述发光元件的环境温度；设定驱动信号存储单元，存储用于使所述发光元件发光的设定驱动信号；以及驱动信号计算单元，通过使用与所述环境温度相应的校正系数校正所述设定驱动信号，从而计算用于使所述发光元件按照目标发光量发光的驱动信号，所述校正系数针对每个所述目标发光量而不同。
这样，无论OLED的温度特性的变化如何都能够精度良好地校正发光元件的环境温度所致的光量变动。
附图说明
图1是示出本发明的第1实施方式所涉及的图像形成装置的主要的结构的图。
图2是说明由光写入装置100实施的光写入动作的剖面图。
图3是OLED面板部200的概略平面图，一并地还示出了A－A′线处的剖面图和C－C′线处的剖面图。
图4是示出OLED201的典型的结构的剖面图。
图5是示出驱动器IC302的主要的功能结构的框图。
图6是示出考虑OLED201的驱动电流量来校正由于环境温度的变动所引起的OLED201的光量变动的方法的流程图。
图7是例示校正系数表格503的表。
图8是示出本发明的第2实施方式所涉及的驱动器IC302的主要的功能结构的框图。
图9是示出考虑OLED201的劣化度来校正由于环境温度的变动所引起的OLED201的光量变动的方法的流程图。
图10是示出以恒定的驱动电流量使OLED201持续发光的情况下的发光量的变化的图表，(a)例示了由于环境温度的差异而导致的发光量的经时变化，(b)例示了由于设定光量的差异而导致的发光量的经时变化。
图11是示出以恒定的驱动电流量使得持续发光的情况下的劣化度的变化的图表，(a)例示了由于环境温度的差异而导致的劣化度的经时变化，(b)例示了由于设定光量的差异而导致的劣化度的经时变化。
图12是例示劣化系数表格802的表，(a)～(c)分别示出发光时间H0～H2的劣化系数表格802。
图13是例示校正系数表格805的表，(a)～(c)分别示出劣化度为0、1.07以及1.08的校正系数表格805。
图14是例示用于对OLED201进行点灯的发光像素电路的电路图。
图15是将环境温度T1下的发光量设为100％而例示OLED的温度特性的图表。
图16是将环境温度T1下的发光量设为100％而例示驱动电流量相异的OLED的温度特性的图表。
符号说明
1：图像形成装置；100：光写入装置；201：OLED；202：棒状透镜阵列；302：驱动器IC；320：温度传感器；501：设定光量存储部；502、806：设定电流量存储部；503、805：校正系数表格；504、804：驱动电流量校正部；801：劣化度计算部；802：劣化系数表格；803：累计发光时间存储部。
具体实施方式
以下，参照附图说明本发明所涉及的光写入装置以及图像形成装置的实施方式。
[1]第1实施方式
首先，说明本发明的第1实施方式。
(1－1)图像形成装置的结构
图1是示出本实施方式所涉及的图像形成装置的主要的结构的图。如图1所示，图像形成装置1是所谓串联式的彩色打印机装置。图像形成装置1所具备的成像部101Y～101K在控制部102的控制下，形成Y(黄色)、M(品红色)、C(青色)、K(黑色)各颜色的调色剂像。
例如，在成像部101Y中，带电装置111使感光体鼓110的外周面均匀地带电。光写入装置100具备如后述那样在主扫描方向上以线状地排列的发光元件(OLED)，控制部102依照生成的数字亮度信号，使各OLED发光。由此，在感光体鼓110的外周面进行光写入，形成静电潜像。
显影装置112将调色剂供给到感光体鼓110的外周面，使静电潜像显影(可视化)。1次转印辊113将调色剂像从感光体鼓110静电转印(1次转印)到中间转印带103。
同样地，成像部101M～101K所形成的MCK各颜色的调色剂像以相互重叠的方式被1次转印到中间转印带103上，成为彩色调色剂像。中间转印带103将彩色调色剂像搬送到2次转印辊对104，与此相配地，从供纸盒105供给的记录片材S也被搬送到2次转印辊对104。
2次转印辊对104将中间转印带103上的调色剂像静电转印(2次转印)到记录片材S上。被转印了调色剂像的记录片材S在由定影装置106对调色剂像进行了热定影之后，被排出到机外。
(1－2)光写入装置100的结构
接下来，说明光写入装置100的结构。
图2是说明由光写入装置100实施的光写入动作的剖面图。如图2所示，光写入装置100是将OLED面板部200和棒状透镜阵列(SLA：Selfoc Lens Array)202收容到支持器203而得到的装置，在OLED面板部200安装了OLED201。OLED201所出射的光束L通过棒状透镜阵列202而被聚光到感光体鼓110的外周面上。
棒状透镜阵列202具有集积了圆柱状的棒状透镜(rod lens)的构造。构成棒状透镜阵列202的圆柱状的棒状透镜与各个OLED201的位置关系各种各样，OLED201的出射光的主光线未必与圆柱状的棒状透镜的光轴一致，而棒状透镜阵列202的成像效率针对每个OLED201而变动。因此，如果对全部OLED201供给相同的驱动电流，则在曝光量中产生偏差。
为了在全部OLED201中使曝光量一致，需要针对每个OLED201调整发光量。将在初始状态下被设定成在OLED201之间曝光量一致的每个OLED201的发光量称为设定光量L。越是棒状透镜阵列202的成像效率低的OLED201，设定光量L越多。在本实施方式中，针对每个OLED201，从光量多的设定光量起，依次分配L1～LN这N种类的设定光量L中的某一个。
图3是OLED面板部200的概略平面图，一并地还示出了A－A′线处的剖面图和C－C′线处的剖面图。另外，概略平面图部分示出了拆卸了后述密封板301的状态。
如图3所示，OLED面板部200具备TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)基板300、密封板301以及驱动器IC(Integrated Circuit，集成电路)302等。在TFT基板300处，许多OLED201沿着主扫描方向以线状地排列。这些OLED201既可以排列成一列，也可以交错配置。
另外，TFT基板300的配置了OLED201的基板面成为了密封区域，夹着隔离框体303地安装了密封板301。由此，密封区域以封入了干燥氮气等的状态被密封，以避免与外部空气接触。另外，为了吸湿，也可以将吸湿剂一并地封入到密封区域内。另外，密封板301既可以是例如密封玻璃，也可以由玻璃以外的材料构成。
在TFT基板300的密封区域外，安装了驱动器IC302。控制部102经由软线310对驱动器IC302输入数字亮度信号。为了生成数字亮度信号，控制部102也可以内置有专用的ASIC(Application Specific Integrated Circuit，专用集成电路)。
驱动器IC302将数字亮度信号变换为模拟亮度信号(以下仅称为“亮度信号”。)而输入到每个OLED201的驱动电路。驱动电路根据亮度信号生成OLED201的驱动电流。亮度信号既可以是电流信号，也可以是电压信号。另外，在驱动器IC302中，内置有检测OLED201的环境温度的温度传感器320。
图4是示出OLED201的典型的结构的剖面图。如图4所示，OLED201由阴极401、有机层402、阳极403以及透明基板404这4层构成。阳极403是氧化铟(ITO：Indium Tin Oxide)等的透明电极，阴极401是由铝等构成的电极。OLED201通过对有机层402通电而发光，经由阳极403和透明基板404取出光。
(1－3)驱动器IC302的结构
接下来，说明驱动器IC302的结构。
图5是示出驱动器IC302的主要的功能结构的框图。驱动器IC302具备：存储识别每个OLED201的设定光量L的标识符(以下称为“设定光量标识符”。)的设定光量存储部501；和针对每个设定光量标识符存储用于在初始状态且规定的环境温度(例如，由日本工业标准JIS Z 8703规定的标准状态的温度20℃、23℃或者25℃中的某一个。)下使OLED201按照设定光量L发光的驱动电流量(以下称为“设定电流量”。)的设定电流量存储部502。校正系数表格503针对环境温度的范围与每个OLED201的设定光量标识符的每个组合存储校正系数。
驱动电流量校正部504参照温度传感器320检测到的环境温度，从校正系数表格503读出与包括该环境温度的环境温度的范围和设定光量标识符相应的校正系数。驱动电流量校正部504进一步从设定电流量存储部502读出与设定光量标识符对应的设定电流量，通过对该设定电流量乘以校正系数，校正驱动电流量。
(1－4)环境温度所引起的光量变动的校正
接下来，参照图6的流程图，说明校正由于环境温度的变动所引起的OLED201的光量变动的方法。
驱动器IC302在使OLED201发光之前，通过温度传感器320测量环境温度(S601)。之后，针对每个OLED201反复进行步骤S602～S605的处理。
首先，在步骤S602中，从设定光量存储部501读出成为处理对象的每个OLED201的设定光量标识符。在本实施方式中，作为设定光量标识符使用1～N的编号。设定电流量I1～IN分别与设定光量L1～LN对应。在本实施方式中，关于设定电流量，I1最多，按I1～IN的顺序变少。
接下来，在步骤S603中，驱动电流量校正部504计算每个OLED201的驱动电流量的校正值。驱动电流量校正部504首先参照校正系数表格503求出与环境温度和设定光量Ln的组合对应的校正系数γ。校正系数表格503存储与环境温度的范围Tm(m＝1～M)和设定光量Ln的组对应的校正系数γ。作为环境温度的范围Tm，参照包括在步骤S601中测量的环境温度在内的环境温度的范围的栏。
驱动电流量校正部504进一步从设定电流量存储部502读出设定电流量In(S604)，并乘以校正系数γ，计算用于使OLED201按照设定光量Ln发光的驱动电流量I(S605)。在本实施方式中，设定电流量存储部502存储了分别与N种类的设定光量L1～LN对应的设定电流量I1～IN。
图7是例示校正系数表格503的表。在通过温度传感器320检测到的环境温度处于温度范围T1的范围内的情况下，用于使设定光量L1的OLED201按照设定光量L1发光的校正系数γ为1.011(图7)。如果对设定电流量I1乘以该校正系数γ，则校正后的驱动电流量I成为：
I＝1.011×I1
同样地，针对每个OLED201计算驱动电流量I。
这样，根据OLED201的设定电流量的不同，即使环境温度所引起的光量的变动的方式发生变化，由于使用每个设定电流量的校正系数γ，所以也能够精度良好地校正光量变动。
[2]第2实施方式
接下来，说明本发明的第2实施方式。第2实施方式所涉及的图像形成装置具备与上述第1实施方式所涉及的图像形成装置大体上共同的结构，另一方面，在驱动电流量的校正方法上不同。以下，主要着重于区别点而进行说明。另外，关于与上述第1实施方式共同的部件，设为使用共同的符号。
关于OLED，已知发光时的环境温度越高，则劣化得越快，提出了如下技术：过去的发光时的环境温度越高则越增加驱动电流量地校正发光量(例如，参照专利文献2)。但是，OLED如果劣化加重，则温度特性发生变化。
通过反复进行详细的实验，明确了：像例如即使驱动电流量相同，在某种劣化度下环境温度越高则发光量越少的OLED如果劣化进一步加重，则环境温度越高发光量越增加那样，温度特性有时发生变化。因此，如果如上述以往技术那样仅仅增加驱动电流量，则无法抑制由于劣化所致的温度特性的变化所引起的发光量的变动。
因此，在本实施方式中，考虑由于OLED的劣化而导致的温度特性的变化，校正驱动电流量。
(2－1)驱动器IC302的结构
首先，说明本实施方式所涉及的驱动器IC302的结构。
图8是示出驱动器IC302的主要的功能结构的框图。为了校正环境温度所引起的OLED201的光量变动，驱动器IC302通过劣化度计算部801针对每个OLED201计算劣化度。在进行该计算时，劣化度计算部801参照后述劣化系数表格802和存储每个OLED201的累计发光时间的累计发光时间存储部803，如后述那样计算劣化度D。
累计发光时间存储部803针对发光时的环境温度与驱动电流量的每个组合，存储每个OLED201的累计发光时间。例如，以在环境温度T1下驱动电流量I1的累计发光时间为H1、在环境温度T2下驱动电流量I2的累计发光时间为H2、在环境温度T3下驱动电流量I3的累计发光时间为H3等的方式，针对每个OLED201存储累计发光时间。
在劣化系数表格802中，如图12中例示那样，针对累计发光时间、环境温度以及驱动电流量的每个组合存储劣化系数δ。在图12的例子中，以累计发光时间H0、环境温度T1、驱动电流值I1的劣化系数δ11为0(图12(a))，累计发光时间H1、环境温度T2、驱动电流值I2的劣化系数δ22为1.04(图12(b))，累计发光时间H2、环境温度T3、驱动电流值I3的劣化系数δ33为1.01(图12(c))等的方式，存储了劣化系数δ。
驱动电流校正部804使用劣化度计算部801计算出的劣化度D来校正每个OLED201的驱动电流量。因此，驱动电流校正部804参照温度传感器320检测到的环境温度、和校正系数表格805，确定校正系数γ。另外，在设定电流量存储部806中，存储了用于在劣化前的初始状态下使OLED201按照设定光量Ln发光的驱动电流量(以下称为“设定电流量”。)，通过对该设定电流量乘以校正系数γ，计算校正后的驱动电流量。
校正系数表格805如图13中例示那样，针对劣化度D、设定电流量(设定光量Ln)以及环境温度的每个组合存储了校正系数γ。在图13的例子中，劣化度D为0、设定光量为L1、环境温度为T1的情况下的校正系数为1.011(图13(a))。
累计发光时间更新部808针对每个OLED201，对驱动电流量与环境温度的每个组合的累计发光时间进行累计，存储到累计发光时间存储部803。
(2－2)环境温度所引起的光量变动的校正
接下来，参照图9的流程图，说明校正由于环境温度的变动所引起的OLED201的光量变动的方法。
驱动器IC302在使OLED201发光之前，通过温度传感器320测量环境温度(S901)。之后，针对每个OLED201反复进行步骤S902～S904的处理。首先，在步骤S902中，通过劣化度计算部801求出每个OLED201的劣化度D。
将供给到设定光量L1～LN的OLED201的设定电流量分别设为I1～IN。关于设定电流量，I1最多，按I1～IN的顺序变少。如果使这样的设定电流量流入到OLED201，则在OLED201未劣化的初始状态且规定的环境温度下，能够使OLED201的曝光量一致。
另外，OLED201具有如下特性：环境温度越高则劣化越提前，驱动电流量越多则劣化越提前。图10全都示出使流入到OLED201的电流量不变化地进行持续发光的情况下的发光量的变化的图表，纵轴表示发光量相对初始发光量的比，横轴表示累计发光时间。另外，通过劣化后的发光量相对初始发光量的比来表示光量变化。
在图10(a)中，曲线T1～T3例示了环境温度为T1～T3的情况下的OLED的发光量的变化，按T1～T3的顺序，环境温度变低。如图10(a)所示，随着累计发光时间变长，在环境温度最高的T1的情况下OLED的发光量变成了最少，所以认为环境温度越高则OLED的劣化越容易加重(图11(a))。
另外，图10(b)的曲线L1～L3例示了设定光量为L1～L3、且按L1～L3的顺序设定光量变少的情况下的发光量的变化。如图10(b)所示，在设定光量最多的L1的情况下OLED的发光量最少，所以认为设定光量越多则OLED的劣化越容易加重(图11(b))。
因此，如果通过针对每个OLED201调整设定光量来使发光量一致，则越是发光时的环境温度高的OLED201、或越是需要多的驱动电流量的OLED201，劣化得越快。因此，劣化度计算部801通过
计算设定光量Lj的OLED201的劣化度D。此处，Hk表示环境温度为Tk的时间。另外，δjk表示OLED201的设定光量为Lj、环境温度为Tk的情况下的劣化系数(劣化速度)。关于OLED201，劣化系数δjk越大，则劣化得越快。
图12是例示关于N、M都是3的情况列举劣化系数δjk的值的劣化系数表格802的表。例如，在使OLED201在环境温度T1下以驱动电流量I1发光H1时间的情况下，参照时间H1的劣化系数表格802的温度T1、驱动电流量I1的栏可知，劣化系数δ11为1.07(图12(b))。因此，该OLED201的劣化度D成为：
D＝1.07×H1
之后，当在环境温度下降到T2的状态下，使OLED201以驱动电流量I1发光H2时间的情况下，参照时间H2的劣化系数表格802的温度T2、驱动电流量I1的栏可知，劣化系数δ12为1.13(图12(c))。因此，该OLED201的劣化度D成为：
D＝1.07×H1+1.13×H2
接下来，在步骤S903中，驱动电流量校正部804计算每个OLED201的驱动电流量的校正值。驱动电流量校正部804首先参照校正系数表格805求出每个劣化度D的校正系数γ。校正系数表格805是针对每个劣化度D存储与设定光量Ln和当前的环境温度Tm的组对应的校正系数γ的表格。作为环境温度Tm，参照与在步骤S901中测量的环境温度对应的栏。
之后，驱动电流量校正部804通过对从设定电流量存储部806读出的设定电流量In乘以校正系数γ，计算用于使劣化的OLED201按照设定光量Ln发光的驱动电流量I。
图13是例示校正系数表格805的表。用于在环境温度为T1的条件下使设定光量L1、劣化度1.07的OLED201按照设定光量L1发光的校正系数γ为1.005(图13(b))，所以校正后的驱动电流量I是对设定电流量I1乘以校正系数γ而成为：
I＝1.005×I1
这样针对每个OLED201计算被校正后的驱动电流量I。
之后，在步骤S904中，累计发光时间更新部808将在步骤S401中测量的环境温度下按照在步骤S903中计算出的驱动电流量I驱动了OLED201的发光时间加到该条件下的累计发光时间，存储到累计发光时间存储部803。
这样，即使由于OLED201劣化，环境温度所引起的光量的变动的方式发生变化，也能够精度良好地校正光量变动。另外，由于使用劣化度这样的参数，所以相比于使校正系数直接对应于驱动电流量与环境温度的每个组合的累计发光时间的组合的情况，数据结构被简单化，所以能够削减应存储的表格大小(数据量)。
[3]变形例
以上，根据实施方式说明了本发明，但显然本发明并不被上述实施方式所限定，而能够实施如以下那样的变形例。
(1)在上述实施方式中，以在OLED201发光之前检测环境温度的情况为例进行了说明，但本发明并不限定于此，这是不言而喻的，也可以针对每个印刷作业检测环境温度，也可以以页单位检测环境温度。另外，在定影装置的预热时等环境温度快速地发生变化的情况下，也可以以行单位检测环境温度。
(2)在上述实施方式中，说明了作为OLED201的环境温度而检测驱动器IC302的元件温度的情况，但本发明并不限定于此，这是不言而喻的，也可以如下那样进行。
OLED201自身的元件温度与OLED201的环境温度相关，能够使用环境温度来近似OLED201的元件温度。具体而言，OLED201的元件温度受OLED201周边的氛围温度、TFT基板300的温度、OLED201自身的发热等的影响而变动。
因此，与包括驱动器IC302的TFT基板300的温度、OLED201周边的氛围温度相关，所以作为OLED201的环境温度，也可以检测TFT基板300的温度、OLED201周边的氛围温度。
另外，OLED201被全部安装到TFT基板300上，所以通过经由了TFT基板300的热传导，元件温度变得相互接近。因此，关于任意的OLED201，检测环境温度即可。
(3)在上述实施方式中，叙述了亮度信号既可以是电流信号也可以是电压信号，具体而言，也可以如以下那样进行。
图14是例示用于对OLED201进行点灯的发光像素电路的电路图。如图14所示，发光像素电路14具有OLED201、驱动TFT1411以及电容器1412各一个。在对OLED201进行点灯时，首先，根据DAC1402所输出的亮度信号，将电荷蓄积到电容器1412。
电容器1412的端子间电压被施加到驱动TFT1411的栅极－源极间。驱动TFT1411的源极端子与电源布线1421连接，漏极端子与OLED201的阳极端子连接。另外，OLED201的阴极端子经由接地布线1422与接地端子1403连接。
驱动TFT1411从电源1401经由电源布线1421接受电流供给，并将与栅极－源极间电压相应的驱动电流供给到OLED201。这样，OLED201按照与亮度信号相应的发光量发光。
在该情况下，DAC1402也可以将直流电压作为亮度信号进行输出而施加到电容器1412。另外，DAC1402也可以通过使规定量的直流电流作为亮度信号流过规定时间而将电荷注入到电容器1412。在哪一个情况下都能够通过控制电容器1412的端子间电压，对供给到OLED201的驱动电流量进行控制。
(4)在上述实施方式中，以通过驱动器IC302校正OLED201的驱动电流量的情况为例进行了说明，但本发明并非限定于此，这是不言而喻的，也可以代替其而通过由控制部102调整数字输出信号，校正驱动电流量。
(5)在上述第2实施方式中，说明了使用与环境温度和驱动电流量的组合对应的劣化系数δ来计算劣化度D的情况，但本发明并非限定于此，这是不言而喻的，也可以代替其而如下那样进行。
例如，在驱动电流量的变动幅度小的情况下、或者在由于驱动电流量的变动而导致的劣化度D的变动幅度小的情况下，也可以使用仅与环境温度对应的劣化系数δ来计算劣化度D。相反，在由于环境温度的变动而导致的劣化度D的变动幅度小的情况下，也可以使用仅与驱动电流量对应的劣化系数δ来计算劣化度D。这样，不仅能够得到与上述实施方式同样的效果，而且能够削减劣化系数表格802的数据量，所以能够降低用于存储劣化系数表格802的存储容量。
(6)在上述第2实施方式中，说明了劣化系数表格802针对累计发光时间、环境温度以及驱动电流量的每个组合存储劣化系数δ的情况，但本发明并非限定于此，这是不言而喻的，也可以代替累计发光时间而使用累计发光时间的范围，代替环境温度而使用环境温度的范围。
另外，该环境温度的范围的大小不需要是恒定的，也可以根据对OLED201的劣化度D造成的影响是否是相同程度，而使范围的宽窄不同。具体而言，也可以是：在对劣化度D造成的影响在宽范围内是相同程度的情况下，扩大温度范围，在只要环境温度有一点不同，对劣化度D造成的影响就不同的情况下，缩小温度范围。
这样，无需过度增大劣化系数表格802的表格大小，而能够存储能够精度良好地计算劣化度D的劣化系数δ。
在校正系数表格805中，使用环境温度的范围的情况也是同样的。另外，在图13中例示了每个劣化系数δ的校正系数表格805，但本发明并非限定于此，这是不言而喻的，也可以针对劣化系数δ的每个范围存储校正系数表格805。在该情况下，也可以与OLED201的特性相配地调节劣化系数δ的范围的宽度。
(7)在上述第2实施方式中，以使用累计发光时间评价劣化度D的情况为例进行了说明，但本发明并非限定于此，这是不言而喻的，在每1个像素的发光时间大体上是恒定的情况下，也可以代替累计发光时间而使用累计发光次数来评价劣化度D。为了对累计发光次数进行计数，仅针对每个OLED201设置计数器即可，所以与存储累计发光时间的情况相比较，能够减小所需的记录容量。
(8)在上述实施方式中，以发光装置是光写入装置的情况为例进行了说明，但本发明并非限定于此，这是不言而喻的，在照明装置中应用的OLED201中，环境温度所致的光量变动也受劣化的影响而变动，所以能够应用本发明而得到同样的效果。
(9)在上述实施方式中，以图像形成装置1是串联式的彩色打印机装置的情况为例进行了说明，但本发明并非限定于此，这是不言而喻的，也可以在串联式以外的彩色打印机装置中应用本发明，也可以在单色打印机装置中应用本发明。另外，在具备了扫描仪装置的复印装置、进一步具备了通信功能的传真装置、兼具了这些功能的复合机(MFP：Multi－Function Peripheral，多功能外围设备)中应用本发明也能够得到同样的效果。
本发明所涉及的发光装置作为精度良好地校正由于环境温度的变化所引起的发光量的变动的装置是有用的。

Claims (10)

1.一种发光装置，其特征在于，具备：
发光元件；
检测单元，检测所述发光元件的环境温度；
设定驱动信号存储单元，存储用于使所述发光元件发光的设定驱动信号；以及
驱动信号计算单元，通过使用与所述环境温度相应的校正系数校正所述设定驱动信号，从而计算用于使所述发光元件按照目标发光量发光的驱动信号，
与所述环境温度相应的校正系数针对每个所述目标发光量而不同。
2.根据权利要求1所述的发光装置，其特征在于，
具备校正系数存储单元，该校正系数存储单元针对目标发光量与环境温度的每个组合存储所述校正系数，
所述驱动信号计算单元使用所述校正系数存储单元存储的校正系数，计算驱动信号。
3.根据权利要求1所述的发光装置，其特征在于，
具备劣化度计算单元，该劣化度计算单元计算所述发光元件的劣化度，
所述校正系数进一步针对每个劣化度而不同。
4.根据权利要求3所述的发光装置，其特征在于，
所述劣化度计算单元使用每个环境温度的累计发光时间、每个驱动信号的累计发光时间以及环境温度的各值与驱动信号的各值的每个组合的累计发光时间中的某一个累计发光时间，计算所述劣化度。
5.根据权利要求4所述的发光装置，其特征在于，
具备劣化系数存储单元，该劣化系数存储单元存储作为用于计算所述劣化度的劣化系数的、每个环境温度的劣化系数、每个驱动信号的劣化系数以及环境温度的各值与驱动信号的各值的每个组合的劣化系数中的某一个，
所述劣化度计算单元通过对每个环境温度的累计发光时间、每个驱动信号的累计发光时间以及环境温度的各值与驱动信号的各值的每个组合的累计发光时间中的某一个乘以所述劣化系数，计算所述劣化度。
6.根据权利要求3～5中的任意一项所述的发光装置，其特征在于，
所述劣化度计算单元以过去的发光时的环境温度越高则劣化度越高、且越是过去的发光时的发光量多的驱动信号则劣化度越高的方式，计算劣化度。
7.根据权利要求3～5中的任意一项所述的发光装置，其特征在于，
具备校正系数存储单元，该校正系数存储单元针对目标发光量、环境温度以及劣化度的每个组合存储所述校正系数。
8.根据权利要求1～5中的任意一项所述的发光装置，其特征在于，
所述驱动信号是电流信号和电压信号中的某一个。
9.根据权利要求1～5中的任意一项所述的发光装置，其特征在于，
所述发光元件是OLED。
10.一种图像形成装置，其特征在于，具备：
权利要求1～9中的任意一项所述的发光装置；
感光体，通过所述发光装置接受光写入；以及
聚光单元，将所述发光元件的出射光聚光到所述感光体上，
所述发光元件有多个并以线状排列，
所述聚光单元的聚光能力针对每个发光元件而不同。
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