JP2016099582A - 発光装置及び画像形成装置 - Google Patents

Abstract

【課題】発光素子の劣化度に関わらず、発光素子の環境温度による光量変動を精度良く補正する発光装置及び画像形成装置を提供する。
【解決手段】ＯＬＥＤの駆動電流量の温度補正に当たっては、温度センサー３２０にて環境温度を計測した後、ＯＬＥＤ２０１毎に次の処理を繰り返す。まず、劣化度算出部５０１にてＯＬＥＤ２０１毎の劣化度を求める。劣化度は、劣化係数テーブル５０２を参照して、環境温度、駆動電流量及び積算発光時間の組み合わせ毎の劣化係数を求め、当該劣化係数を当該積算発光時間に乗算することによって求められる。更に、補正係数テーブル５０５を参照して、劣化度、設定光量及び環境温度の組み合わせに対応する補正係数を求め、ＯＬＥＤ２０１毎に設定電流量記憶部５０６が記憶する設定電流量に当該補正係数を乗算することによって、駆動電流量を補正する。
【選択図】図５

Description

本発明は、発光装置及び画像形成装置に関し、特に、環境温度の変化に起因する発光量の変動をＯＬＥＤの劣化度に関わらず精度良く補正する技術に関する。

近年、画像形成装置の小型化と低コスト化を目的として、感光体上に光書込みを行う光書込み装置に有機ＥＬ素子（OLED: Organic Light Emitting Diode）を適用する技術が検討されている。
ＯＬＥＤは、駆動電流量が同一であっても、素子温度が変化すると発光量が変化する発光特性を有している。素子温度は環境温度の影響下にあるので、例えば、図１２に示されるように、環境温度がＴ₁からＴ₂まで上昇すると、ＯＬＥＤの発光量が減少する。発光量の変化は感光体上に形成される静電潜像に影響を与えるので、延いては画質の劣化を招く恐れがある。

ＯＬＥＤは、画像形成装置以外の技術分野にも適用が検討されており、発光量の安定化はさまざまな技術分野において重要課題となっている。例えば、複数のＯＬＥＤを備えており、ＯＬＥＤ毎に発光量を補正するための補正データ（輝度ゲイン）を予め記憶しておき、ＯＬＥＤ間で発光量を揃える表示装置が知られている。
このような表示装置において、補正データをＯＬＥＤの環境温度毎に予め記憶しておき、温度センサーが検出した環境温度に応じて補正データを選択してＯＬＥＤの発光量を補正する技術が提案されている（例えば、特許文献１を参照）。このようにすれば、環境温度が変化してもＯＬＥＤの発光量の変動を抑えることができるとしている。

特許第５３４３０７３号公報 特開２００３−０２９７１０号公報

しかしながら、ＯＬＥＤの積算発光時間が長くなると、劣化が進んでＯＬＥＤの温度特性そのものが変化してしまう。このため、ＯＬＥＤの劣化を考慮しない上記の従来技術によっては、環境温度の変化による発光量の変動を抑えることができなくなるという問題がある。
ＯＬＥＤの劣化と環境温度との関係については、環境温度が高いほど劣化が早まることが知られており、過去の発光時における環境温度が高いほど駆動電流量を多くして発光量を補正する技術が提案されている（例えば、特許文献２を参照）。しかしながら、このような従来技術によっても、劣化による温度特性の変化に起因する発光量の変動を抑えることはできない。

本発明は、上述のような問題に鑑みて為されたものであって、ＯＬＥＤが劣化しても、環境温度による光量変動を精度良く補正することができる発光装置及び画像形成装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、本発明に係る発光装置は、発光素子と、前記発光素子の環境温度を検出する検出手段と、前記発光素子の劣化度を算出する算出手段と、前記発光素子を目標発光量で発光させるための駆動信号を、前記環境温度と前記劣化度とに応じて補正する補正手段と、を備えることを特徴とする。

このようにすれば、発光素子の劣化度に関わらず、発光素子の環境温度による光量変動を精度良く補正して、前記発光素子を目標発光量で発光させることができる。

本発明の実施の形態に係る画像形成装置の主要な構成を示す図である。 光書込み装置１００による光書込み動作を説明する断面図である。 ＯＬＥＤパネル部２００の概略平面図であり、併せてＡ−Ａ´線における断面図とＣ−Ｃ´線における断面図も示されている。 ＯＬＥＤ２０１の典型的な構成を示す断面図である。 ドライバーＩＣ３０２の主要な機能構成を示すブロック図である。 ＯＬＥＤ２０１の劣化度を考慮して、環境温度の変動に起因するＯＬＥＤ２０１の光量変動を補正する方法を示すフローチャートである。 （ａ）は、様々な環境温度下での発光量の変化を例示し、（ｂ）は様々な設定光量下での発光量の変化を例示する。 （ａ）は、様々な環境温度下での劣化度の変化を例示し、（ｂ）は様々な設定光量下での劣化度の変化を例示する。 劣化係数テーブルを例示する図である。 補正係数テーブルを例示する図である。 ＯＬＥＤ２０１を点灯するための発光画素回路を例示する回路図である。 環境温度Ｔ₁における発光量を１００％としてＯＬＥＤの温度特性を例示するグラフである。

以下、本発明に係る光書込み装置及び画像形成装置の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
［１］画像形成装置の構成
まず、本発明の実施の形態に係る画像形成装置の構成について説明する。
図１は、本実施の形態に係る画像形成装置の主要な構成を示す図である。図１に示されるように、画像形成装置１は、所謂タンデム型のカラープリンター装置である。画像形成装置１が備える作像部１０１Ｙ〜１０１Ｋは、制御部１０２の制御の下、Ｙ（イエロー）、Ｍ（マゼンタ）、Ｃ（シアン）、Ｋ（ブラック）各色のトナー像を形成する。

例えば、作像部１０１Ｙにおいて、帯電装置１１１は感光体ドラム１１０の外周面を一様に帯電させる。光書込み装置１００は、後述のように、主走査方向にライン状に配列された発光素子（ＯＬＥＤ）を備えており、制御部１０２が生成したデジタル輝度信号に従って各ＯＬＥＤを発光させる。これによって、感光体ドラム１１０の外周面に光書込みが行われ、静電潜像が形成される。

現像装置１１２は、感光体ドラム１１０の外周面にトナーを供給して、静電潜像を現像（顕像化）する。１次転写ローラー１１３は、感光体ドラム１１０から中間転写ベルト１０３へトナー像を静電転写（１次転写）する。
同様にして、作像部１０１Ｍ〜１０１Ｋが形成したＭＣＫ各色のトナー像が互いに重なり合うように中間転写ベルト１０３上に１次転写されカラートナー像となる。中間転写ベルト１０３によってカラートナー像が２次転写ローラー対１０４まで搬送されるのに合わせて、給紙カセット１０５から供給された記録シートＳも２次転写ローラー対１０４まで搬送される。

２次転写ローラー対１０４は、中間転写ベルト１０３上のトナー像を記録シートＳ上に静電転写（２次転写）する。トナー像を転写された記録シートＳは、定着装置１０６でトナー像を熱定着された後、機外に排出される。
［２］光書込み装置１００の構成
次に、光書込み装置１００の構成について説明する。

図２は、光書込み装置１００による光書込み動作を説明する断面図である。図２に示されるように、光書込み装置１００は、ＯＬＥＤパネル部２００とロッドレンズアレイ（SLA: Selfoc Lens Array）２０２をホルダー２０３に収容したものであって、ＯＬＥＤパネル部２００にはＯＬＥＤ２０１が実装されている。ＯＬＥＤ２０１が出射した光ビームＬは、ロッドレンズアレイ２０２によって感光体ドラム１１０の外周面上に集光される。

ロッドレンズアレイ２０２は、円柱状のロッドレンズを集積した構造を有している。ＯＬＥＤ２０１と円柱状のロッドレンズとの位置関係はさまざまであり、ＯＬＥＤ２０１の出射光の主光線は必ずしも円柱状のロッドレンズの光軸に一致せず、ロッドレンズアレイ２０２の結像効率がＯＬＥＤ２０１毎に変動するので、すべてのＯＬＥＤ２０１に同一の駆動電流を供給すると露光量にバラつきが生じる。

すべてのＯＬＥＤ２０１で露光量を揃えるためには、ＯＬＥＤ２０１毎に発光量を調整する必要がある。ＯＬＥＤ２０１間で露光量が揃うように設定されたＯＬＥＤ２０１毎の発光量を設定光量という。ロッドレンズアレイ２０２の結像効率が低いＯＬＥＤ２０１ほど設定光量が多くなる。本実施の形態においては、光量の多い順にＬ₁〜Ｌ_NのＮ種類の設定光量の何れかをＯＬＥＤ２０１毎に割り当てる。

図３は、ＯＬＥＤパネル部２００の概略平面図であり、併せてＡ−Ａ´線における断面図とＣ−Ｃ´線における断面図も示されている。また、概略平面図部分は後述する封止板３０１を取り外した状態を示している。
図３に示されるように、ＯＬＥＤパネル部２００は、ＴＦＴ（Thin Film Transistor）基板３００、封止板３０１及びドライバーＩＣ（Integrated Circuit）３０２等を備えている。ＴＦＴ基板３００には、多数のＯＬＥＤ２０１が主走査方向に沿ってライン状に配列されている。これらのＯＬＥＤ２０１は、一列に配列されていても良いし、千鳥配置にされていても良い。

また、ＴＦＴ基板３００のＯＬＥＤ２０１が配設された基板面は封止領域となっており、スペーサー枠体３０３を挟んで封止板３０１が取着されている。これによって、封止領域が、外気に触れないように乾燥窒素等を封入した状態で、封止される。なお、吸湿のため、封止領域内に吸湿剤を併せて封入しても良い。また、封止板３０１は、例えば、封止ガラスであっても良いし、ガラス以外の材料からなっていても良い。

ＴＦＴ基板３００の封止領域外にはドライバーＩＣ３０２が実装されている。制御部１０２はフレキシブルワイヤー３１１を介してドライバーＩＣ３０２にデジタル輝度信号を入力する。制御部１０２は、デジタル輝度信号を生成するために専用のＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）を内蔵しても良い。
ドライバーＩＣ３０２はデジタル輝度信号をアナログ輝度信号（以下、単に「輝度信号」という。）に変換してＯＬＥＤ２０１毎の駆動回路に入力する。駆動回路は輝度信号に応じてＯＬＥＤ２０１の駆動電流を生成する。輝度信号は、電流信号であってもよいし電圧信号であってもよい。また、ドライバーＩＣ３０２には、ＯＬＥＤ２０１の環境温度を検出する温度センサー３２０が内蔵されている。

図４は、ＯＬＥＤ２０１の典型的な構成を示す断面図である。図４に示されるように、ＯＬＥＤ２０１は、陰極４０１、有機層４０２、陽極４０３及び透明基板４０４の４層からなっている。陽極４０３は酸化インジウム（ITO: Indium Tin Oxide）等の透明電極であり、陰極４０１はアルミニウム等からなる電極である。ＯＬＥＤ２０１は、有機層４０２に通電することによって発光し、陽極４０３と透明基板４０４を通して光が取り出される。

［３］ドライバーＩＣ３０２の構成
次に、ドライバーＩＣ３０２の構成について説明する。
図５は、ドライバーＩＣ３０２の主要な機能構成を示すブロック図である。ドライバーＩＣ３０２は、環境温度に起因するＯＬＥＤ２０１の光量変動を補正するために、ＯＬＥＤ２０１毎に劣化度算出部５０１にて劣化度を算出する。この算出に際して、劣化度算出部５０１は、後述する劣化係数テーブル５０２と、ＯＬＥＤ２０１毎の積算発光時間を記憶する積算発光時間記憶部５０３とを参照する。

積算発光時間記憶部５０３は、ＯＬＥＤ２０１毎の積算発光時間を、発光時の環境温度と駆動電流量の組み合わせ毎に記憶する。例えば、環境温度Ｔ₁で駆動電流量Ｉ₁の積算発光時間Ｈ₁、環境温度Ｔ₂で駆動電流量Ｉ₂の積算発光時間Ｈ₂、環境温度Ｔ₃で駆動電流量Ｉ₃の積算発光時間Ｈ₃等のように積算発光時間がＯＬＥＤ２０１毎に記憶される。
劣化係数テーブル５０２は、図９に例示されるように、積算発光時間、環境温度及び駆動電流量の組み合わせ毎に劣化係数を記憶する。図９の例では、積算発光時間Ｈ₀、環境温度Ｔ₁、駆動電流値Ｉ₁の劣化係数が０、積算発光時間Ｈ₁、環境温度Ｔ₂、駆動電流値Ｉ₂の劣化係数が１．０４、積算発光時間Ｈ₂、環境温度Ｔ₃、駆動電流値Ｉ₃の劣化係数が１．０１等のように劣化係数が記憶される。

駆動電流補正部５０４は、劣化度算出部５０１が算出した劣化度を用いてＯＬＥＤ２０１毎の駆動電流量を補正する。このため、駆動電流補正部５０４は、温度センサー３２０が検出した環境温度と、補正係数テーブル５０５とを参照して、補正係数を特定する。また、設定電流量記憶部５０６には、劣化前の初期状態においてＯＬＥＤ２０１を設定光量で発光させるための駆動電流量（以下、「設定電流量」という。）が記憶されており、この設定電流量に補正係数を乗算することによって補正後の駆動電流量が算出される。

補正係数テーブル５０５は、図１０に例示されるように、劣化度、設定電流量（設定光量）及び環境温度の組み合わせ毎に補正係数を記憶している。図１０の例では、劣化度が０、設定光量Ｌ₁、環境温度Ｔ₁である場合の補正係数が１．０１１となっている。
積算発光時間更新部５０７は、ＯＬＥＤ２０１毎に、駆動電流量と環境温度の組み合わせ毎の積算発光時間を積算して、積算発光時間記憶部５０３に記憶させる。

［４］環境温度に起因する光量変動の補正
次に、環境温度の変動に起因するＯＬＥＤ２０１の光量変動を補正する方法について、図６のフローチャートを参照しながら説明する。
ドライバーＩＣ３０２は、ＯＬＥＤ２０１を発光させるのに先立って、温度センサー３２０にて環境温度を計測する（Ｓ６０１）。その後、ＯＬＥＤ２０１毎にステップＳ６０２からＳ６０４までの処理を繰り返す。まず、ステップＳ６０２においては、劣化度算出部５０１にてＯＬＥＤ２０１毎の劣化度Ｄを求める。

設定光量Ｌ₁〜Ｌ_NのＯＬＥＤ２０１に供給する設定電流量をそれぞれＩ₁〜Ｉ_Nとする。設定電流量は、Ｉ₁が最も多く、Ｉ₁〜Ｉ_Nの順に少なくなる。このような設定電流量をＯＬＥＤ２０１に流せば、ＯＬＥＤ２０１が劣化していない初期状態において、ＯＬＥＤ２０１の露光量を揃えることができる。
次に、ＯＬＥＤ２０１は、環境温度が高いほど劣化が早まり、駆動電流量が多いほど劣化が早まるという特性を有している。図７は、何れもＯＬＥＤ２０１に流す電流量を変化させずに発光させ続けた場合における発光量の変化を示すグラフであって、縦軸は初期発光量に対する発光量の比を表し、横軸が積算発光時間を表している。また、光量変化は、初期発光量に対する劣化後の発光量の比で表されている。

図７（ａ）は、グラフＴ₁〜Ｔ₃は環境温度がＴ₁〜Ｔ₃である場合のＯＬＥＤの発光量の変化を例示しており、Ｔ₁〜Ｔ₃の順に環境温度が低くなっている。図７（ａ）に示されるように、積算発光時間が長くなるにつれて、環境温度がもっとも高いＴ₁の場合にＯＬＥＤの発光量が最も少なくなっているので、環境温度が高いほどＯＬＥＤの劣化が進み易いと考えられる（図８（ａ））。

また、図７（ｂ）のグラフＬ₁〜Ｌ₃は設定光量がＬ₁〜Ｌ₃であって、Ｌ₁〜Ｌ₃の順に設定光量が少なくなっている場合の発光量の変化を例示している。図７（ｂ）に示されるように、設定光量がもっとも多いＬ₁の場合にＯＬＥＤの発光量が最も少なくなっているので、設定光量が多いほどＯＬＥＤの劣化が進み易いと考えられる（図８（ｂ））。
従って、ＯＬＥＤ２０１毎に設定光量を調整することによって発光量を揃えると、積算発光時間が長いＯＬＥＤ２０１や駆動電流量を多く必要とするＯＬＥＤ２０１ほど早く劣化する。このため、劣化度算出部５０１は、設定光量Ｌ_jのＯＬＥＤ２０１の劣化度Ｄを

で算出する。ここで、Ｈ_kは環境温度がＴ_kであった時間を表す。また、δ_jkはＯＬＥＤ２０１の設定光量がＬ_j、環境温度がＴ_kの場合の劣化係数（劣化速度）を表している。ＯＬＥＤ２０１は、劣化係数δ_jkが大きいほど速く劣化する。

図９は、Ｎ、Ｍが何れも３の場合について劣化係数δ_jkの値を列挙する劣化係数テーブル５０２を例示する表である。例えば、ＯＬＥＤ２０１を環境温度Ｔ₁、駆動電流量Ｉ₁でＨ₁時間だけ発光させた場合には、時間Ｈ₁の劣化係数テーブルの温度Ｔ₁、駆動電流量Ｉ₁の欄を参照すると、劣化係数δ₁₁が１．０７であることが分かる。従って、このＯＬＥＤ２０１の劣化度Ｄは、

となる。
その後、環境温度がＴ₂に低下した状態で、ＯＬＥＤ２０１を駆動電流量Ｉ₁でＨ₂時間だけ発光させた場合には、時間Ｈ₂の劣化係数テーブルの温度Ｔ₂、駆動電流量Ｉ₁の欄を参照すると、劣化係数δ₁₂が１．１３であることが分かる。従って、このＯＬＥＤ２０１の劣化度Ｄは、

となる。
次に、ステップＳ６０３においては、駆動電流量補正部５０４がＯＬＥＤ２０１毎の駆動電流量の補正値を算出する。駆動電流量補正部５０４は、まず、補正係数テーブル５０５を参照して劣化度Ｄ毎の補正係数γを求める。補正係数テーブル５０５は、劣化度Ｄ毎に設定光量Ｌ_nと現在の環境温度Ｔ_mとの組に対応する補正係数γを記憶するテーブルである。環境温度Ｔ_mとしては、ステップＳ６０１で計測した環境温度に対応する欄が参照される。

その後、駆動電流量補正部５０４は、設定電流量記憶部５０６から読み出した設定電流量Ｉ_nに補正係数γを乗算することで、劣化したＯＬＥＤ２０１を設定光量Ｌ_nで発光させるための駆動電流量Ｉを算出する。
図１０は、補正係数テーブル５０５を例示する表である。環境温度がＴ₁の条件下で設定光量Ｌ₁、劣化度１．０７のＯＬＥＤ２０１を設定光量Ｌ₁で発光させるための補正係数γは１．００５であるので、補正後の駆動電流量Ｉは、設定電流量Ｉ₁に補正係数γを乗算して、

となる。このようにして補正された駆動電流量ＩがＯＬＥＤ２０１毎に算出される。
その後、ステップＳ６０４においては、ステップＳ４０１で計測した環境温度の下、ステップＳ６０３で算出した駆動電流量ＩでＯＬＥＤ２０１を駆動した発光時間を積算発光時間更新部５０８が当該条件の積算発光時間に加算して、積算発光時間記憶部５０３に記憶させる。

このようにすれば、ＯＬＥＤ２０１が劣化することによって、環境温度に起因する光量の変動のしかたが変化しても、光量変動を精度良く補正することができる。また、劣化度という媒介パラメーターを用いるので、駆動電流量と環境温度との組み合わせ毎の積算発光時間の組み合わせに対して直接補正係数を対応させる場合と比較してデータ構造が単純化されるので、記憶すべきテーブルサイズ（データ量）を削減することができる。

［５］変形例
以上、本発明を実施の形態に基づいて説明してきたが、本発明が上述の実施の形態に限定されないのは勿論であり、以下のような変形例を実施することができる。
（１）上記実施の形態においては、ＯＬＥＤ２０１の環境温度としてドライバーＩＣ３０２の素子温度を検出する場合について説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、次のようにしてもよい。ＯＬＥＤ２０１の素子温度は、ＯＬＥＤ２０１周辺の雰囲気温度やＴＦＴ基板３００の温度、ＯＬＥＤ２０１自体の発熱などの影響によって変動する。

従って、ドライバーＩＣ３０２を含むＴＦＴ基板３００の温度やＯＬＥＤ２０１周辺の雰囲気温度と相関しているので、ＯＬＥＤ２０１の環境温度としてＴＦＴ基板３００の温度やＯＬＥＤ２０１周辺の雰囲気温度を検出してもよい。
また、ＯＬＥＤ２０１はすべてＴＦＴ基板３００上に実装されているため、ＴＦＴ基板３００を介した熱伝導によって互いに素子温度が近くなっている。このため、何れかのＯＬＥＤ２０１について環境温度を検出すればよい。

（２）上記実施の形態においては、輝度信号は電流信号であっても電圧信号であってもよいと述べたが、具体的には、以下のようにしてもよい。
図１１は、ＯＬＥＤ２０１を点灯するための発光画素回路を例示する回路図である。図１１に示されるように、発光画素回路１１は、ＯＬＥＤ２０１、駆動ＴＦＴ１１１１及びキャパシター１１１２を１つずつ有している。ＯＬＥＤ２０１を点灯する際には、まず、ＤＡＣ１１０２が出力する輝度信号によってキャパシター１１１２に電荷が蓄積される。

キャパシター１１１２の端子間電圧は、駆動ＴＦＴ１１１１のゲート−ソース間に印加される。駆動ＴＦＴ１１１１のソース端子は電源配線１１２１に、ドレイン端子にはＯＬＥＤ２０１のアノード端子が接続されている。また、ＯＬＥＤ２０１のカソード端子は接地配線１１２２を経由して接地端子１１０３に接続されている。
駆動ＴＦＴ１１１１は、電源１１０１から電源配線１１２１を経由して電流供給を受けて、ゲート−ソース間電圧に応じた駆動電流をＯＬＥＤ２０１に供給する。このようにして、輝度信号に応じた発光量でＯＬＥＤ２０１が発光する。

この場合において、ＤＡＣ１１０２は輝度信号として直流電圧を出力してキャパシター１１１２に印加しても良い。また、ＤＡＣ１１０２は輝度信号として所定量の電流を所定時間だけ流すことによってキャパシター１１１２に電荷を注入しても良い。何れの場合にもキャパシター１１１２の端子間電圧を制御することによって、ＯＬＥＤ２０１に供給する駆動電流量を制御することができる。

（３）上記実施の形態においては、ドライバーＩＣ３０２にてＯＬＥＤ２０１の駆動電流量を補正する場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて、制御部１０２がデジタル出力信号を調整することによって、駆動電流量を補正しても良い。
（４）上記実施の形態においては、環境温度と駆動電流量との組み合わせに対応する劣化係数を用いて劣化度を算出する場合について説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて次に様にしてもよい。

例えば、駆動電流量の変動幅が小さい場合や、駆動電流量の変動による劣化度の変動幅が小さい場合には、環境温度にのみ対応する劣化係数を用いて劣化度を算出してもよい。逆に、環境温度の変動による劣化度の変動幅が小さい場合には駆動電流量にのみ対応する劣化係数を用いて劣化度を算出してもよい。このようにすれば、上記実施の形態と同様の効果を得ることができるだけでなく、劣化係数テーブルのデータ量を削減することができるので、劣化係数テーブルを記憶するための記憶容量を低減することができる。

（５）上記実施の形態においては、劣化係数テーブル５０２が積算発光時間、環境温度及び駆動電流量の組み合わせ毎に劣化係数を記憶する場合について説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、環境温度に代えて環境温度の範囲としてもよい。
また、この環境温度の範囲の大きさは、一定である必要はなく、ＯＬＥＤ２０１の劣化度に与える影響が同程度であるか否かによって、範囲の広狭を決定しても良い。具体的には、劣化度に与える影響が広範囲に亘って同程度である場合には温度範囲を広くし、環境温度が少しでも異なると劣化度に与える影響が異なる場合には温度範囲を狭くしてもよい。

このようにすれば、劣化係数テーブル５０２のテーブルサイズを大きくし過ぎることなく、精度良く劣化度を算出できる劣化係数を記憶することができる。
補正係数テーブル５０５についても、環境温度に代えて環境温度の範囲を用いてもよい。
（６）上記実施の形態においては、積算発光時間を用いて劣化度を評価する場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないことは言うまでもなく、１画素当たりの発光時間が概ね一定である場合には、積算発光時間に代えて積算発光回数を用いて劣化度を評価しても良い。積算発光回数を計数するためにはＯＬＥＤ２０１毎にカウンタを設けるだけでよいので、積算発光時間を記憶する場合と比較して必要な記録容量を小さくすることができる。

（７）上記実施の形態においては、発光装置が光書込み装置である場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、照明装置に適用されるＯＬＥＤ２０１においても環境温度による光量変動が劣化の影響を受けて変動するので、本発明を適用して同様の効果を得ることができる。
（８）上記実施の形態においては、画像形成装置がタンデム型のカラープリンター装置である場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、タンデム型以外のカラープリンター装置に本発明を適用しても良いし、モノクロプリンター装置に本発明を適用しても良い。また、スキャナー装置を備えたコピー装置や、更に通信機能を備えたファクシミリ装置、これらの機能を兼ね備えた複合機（MFP: Multi-Function Peripheral）に本発明を適用しても同様の効果を得ることができる。

本発明に係る発光装置は、環境温度の変化に起因する発光量の変動をＯＬＥＤの劣化度に関わらず精度良く補正する装置として有用である。

１………画像形成装置
１００…光書込み装置
１１０…感光体ドラム
２００…ＯＬＥＤパネル部
２０１…ＯＬＥＤ
２０２…ロッドレンズアレイ
３００…ＴＦＴ基板
３０２…ドライバーＩＣ
３２０…温度センサー
５０１…劣化度算出部
５０２…劣化係数テーブル
５０３…積算発光時間記憶部
５０４…駆動電流補正部
５０５…補正係数テーブル
５０６…設定電流量記憶部

Claims (8)

1. 発光素子と、
   前記発光素子の環境温度を検出する検出手段と、
   前記発光素子の劣化度を算出する算出手段と、
   前記発光素子を目標発光量で発光させるための駆動信号を、前記環境温度と前記劣化度とに応じて補正する補正手段と、を備える
   ことを特徴とする発光装置。
2. 前記算出手段は、環境温度毎の積算発光時間、駆動信号毎の積算発光時間、及び環境温度の各値と駆動信号の各値との組み合わせ毎の積算発光時間の何れかの積算発光時間を用いて前記劣化度を算出する
   ことを特徴とする請求項１に記載の発光装置。
3. 前記劣化度を算出するための劣化係数であって、環境温度毎の劣化係数、駆動信号毎の劣化係数、及び環境温度の各値と駆動信号の各値との組み合わせ毎の劣化係数の何れかを記憶する劣化係数記憶手段を備え、
   前記算出手段は、環境温度毎の積算発光時間、駆動信号毎の積算発光時間、及び環境温度の各値と駆動信号の各値の組み合わせ毎の積算発光時間の何れかに、前記劣化係数を乗算することによって前記劣化度を算出する
   ことを特徴とする請求項２に記載の発光装置。
4. 前記算出手段は、過去の発光時における環境温度が高いほど、また、発光量が多い駆動信号ほど劣化度が高くなるように、劣化度を算出する
   ことを特徴とする請求項１から３の何れかに記載の発光装置。
5. 前記駆動信号を補正するための補正係数であって、目標発光量、環境温度及び劣化度の組み合わせ毎の補正係数を記憶する補正係数記憶手段を備え、
   前記補正手段は、前記補正係数を用いて駆動信号を補正する
   ことを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の発光装置。
6. 前記駆動信号は、電流信号と電圧信号との何れか一方である
   ことを特徴とする請求項１から５の何れかに記載の発光装置。
7. 前記発光素子はＯＬＥＤである
   ことを特徴とする請求項１から６の何れかに記載の発光装置。
8. 請求項１から７の何れかに記載の発光装置と、
   前記発光装置により光書込みを受ける感光体と、
   前記発光素子の出射光を前記感光体上に集光する集光手段と、を備え
   前記発光素子は、複数個がライン状に配列されており、
   前記集光手段は発光素子毎に集光力が異なっている
   ことを特徴とする画像形成装置。

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