CN106886137A - 光写入装置以及图像形成装置 - Google Patents

Abstract

提供光写入装置以及图像形成装置，不会导致使用了LTPS TFT的OLED‑PH的大型化、成本上升，能够降低OLED的连续发光所引起的副扫描方向的浓度不均。图像形成装置的控制部针对图像数据的各行，按照每个OLED计时连续发光时间，计时累计发光时间，根据累计发光时间计算劣化度。进而，读出环境温度，取得目标光量，生成与连续发光时间、劣化度、环境温度以及目标光量对应的光量数据。在此，为了防止下垂现象所致的浓度不均，以连续发光时间越长，驱动电流量越多的方式，生成光量数据。依照从控制部接受的图像数据以及光量数据，光写入装置对感光体鼓的外周面进行曝光。

Description

光写入装置以及图像形成装置

技术领域

本发明涉及光写入装置以及图像形成装置，特别涉及抑制在对发光元件进行电流驱动的薄膜晶体管中产生的下垂(droop)现象所引起的光量变动的技术。

背景技术

近年来，以图像形成装置的小型化和低成本化为目的，将OLED(Organic LightEmitting Diode，有机发光二极管)作为发光源配置成行(line)状的行光学型的光写入装置(OLED-PH：OLED Print Head，OLED印刷头)的开发正在进展。在OLED-PH中，通过在同一基板上形成OLED和薄膜晶体管(TFT：Thin Film Transistor)，能够在同一基板上形成发光元件和其驱动电路，所以能够实现小型并且低成本化。

已知在薄膜晶体管中使用了低温多晶硅(LTPS：Low-TemperaturePolycrystalline Silicon)的情况下，如果持续施加比阈值电压Vth大的栅极‐源极间电压Vgs，则随着连续施加时间变长，源极-漏极电流减少(下垂现象)。

因此，如果将LTPS TFT应用于OLED-PH，则随着OLED的连续发光时间变长，OLED的发光量降低(图12(a))，发生副扫描方向的浓度不均。例如，在满图像中，随着在副扫描方向上进展图像形成，浓度降低(图12(b))。

针对这样的问题，例如，提出了如下技术：针对每个OLED设置光量传感器来测量该OLED的发光量，并进行反馈控制，从而消除浓度不均(参照例如专利文献1)。

专利文献1：日本特开2002-144634号公报

发明内容

然而，在上述以往技术中，针对每个OLED设置光量传感器，所以无法避免OLED-PH的大型化、部件成本的上升。

本发明是鉴于上述那样的问题而完成的，其目的在于提供一种能够降低使用了薄膜晶体管的光写入装置中的发光元件的连续发光所引起的副扫描方向的浓度不均的光写入装置以及图像形成装置。

为了达成上述目的，本发明涉及的光写入装置是根据图像数据对感光体进行曝光而按每行形成静电潜像的光写入装置，其特征在于，所述光写入装置具备：电流驱动型的发光元件；薄膜晶体管，将与亮度信号对应的驱动电流供给到所述发光元件而使该发光元件发光；以及控制单元，控制为：针对1个页面内的每行，校正应该对所述薄膜晶体管供给的亮度信号，以补偿与在从第一行至该行为止的期间中所述发光元件连续地点亮或者熄灭的点亮熄灭历史对应的所述发光元件的发光量的变动，将与校正后的亮度信号对应的驱动电流供给到所述发光元件。

由此，能够降低使用了薄膜晶体管的光写入装置中的发光元件的连续发光所引起的副扫描方向的浓度不均。

此外，所述控制单元也可以参照所述图像数据来确定所述点亮熄灭历史。另外，所述点亮熄灭历史也可以表示使该发光元件连续点亮至该行为止时的点亮期间的长度，也可以表示从所述第一行至该行为止的所述发光元件的连续点亮期间以及连续熄灭期间的时期以及长度。

另外，也可以具备：温度检测单元，检测所述发光元件的环境温度；以及劣化度检测单元，检测与所述发光元件的累计发光时间对应的劣化度，所述控制单元进一步校正应该对所述薄膜晶体管供给的亮度信号，以补偿与所述环境温度和所述劣化度对应的所述发光元件的发光量的变动。

在该情况下，也可以具备针对所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合存储用于校正所述亮度信号的校正数据的表格，所述控制单元使用与所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合对应的所述校正数据，校正所述亮度信号。

另外，也可以具备：温度检测单元，检测所述发光元件的环境温度；劣化度检测单元，检测与所述发光元件的累计发光时间对应的劣化度；第1存储单元，针对每个目标光量，存储用于从初始状态的所述发光元件得到目标光量的亮度信号值；以及第2存储单元，针对所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合，存储用于根据用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值计算用于得到所述目标光量的亮度信号值的校正系数，所述控制单元从所述第1存储单元取得用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值，并且从所述第2存储单元取得与所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度对应的所述校正系数，使用该校正系数校正所述亮度信号，以成为根据用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值计算的亮度信号值。

另外，优选为所述薄膜晶体管是使用了低温多晶硅的LTPS晶体管。

另外，本发明的图像形成装置的特征在于，具备本发明的光写入装置。由此，能够得到上述效果。

附图说明

图1是示出本发明的第1实施方式的图像形成装置的主要结构的图。

图2是示出光写入装置100的主要结构的图。

图3是OLED面板200的概略平面图，一并地示出了B-B′线处的剖面图和C-C′线处的剖面图。

图4是示出TFT基板300的主要结构的框图。

图5是示出一对选择电路401和发光模块402的电路图。

图6是说明有源驱动方式的时序图。

图7是例示OLED 201的温度特性的图表。

图8是例示OLED 201的劣化特性的图表。

图9是示出控制部101的主要结构的框图。

图10是示出利用控制部101进行的亮度信号的控制动作的流程图。

图11是在利用控制部101进行的亮度信号的控制中使用的表格，(a)是连续发光时间表格、(b)是累计发光时间表格、(c)是劣化度表格、(d)是目标光量表格、(e)是输入值表格。

图12是说明驱动用TFT 522中的下垂现象的影响的图，(a)是示出OLED 201的连续发光时间和相对初始光量的光量比的关系的图表，(b)是说明满图像中的浓度不均的方式的图。

图13是示出本发明的第2实施方式的利用控制部101进行的亮度信号的控制动作的流程图。

图14是在利用控制部101进行的亮度信号的控制中使用的表格，(a)是连续像素数表格、(b)是状态指数表格、(c)是变动幅度表格、(d)是输入值表格。

图15是示出计算每个OLED 201的状态指数K的处理(S1306)的处理内容的流程图。

图16是说明驱动用TFT 522中的下垂现象的影响的图，(a)是示出OLED 201的连续点亮时的光量比的变化的图表，(b)是示出OLED 201的连续熄灭时的光量比的变化的图表，(c)是例示光量比的变动的图表。

图17是示出本发明的第3实施方式的利用控制部101进行的亮度信号的控制动作的流程图。

图18是在利用控制部101进行的亮度信号的控制中使用的表格，(a)是基准输入表格、(b)是系数表格。

(符号说明)

1：图像形成装置；100：光写入装置；201：控制部；201：OLED；304：温度传感器；522：驱动用TFT。

具体实施方式

以下，参照附图，说明本发明的光写入装置以及图像形成装置的实施方式。

[1]第1实施方式

首先，说明本发明的第1实施方式的图像形成装置。本实施方式的图像形成装置的特征在于，通过针对每个OLED计数连续发光的图像数(以下称为“连续发光数”)来校正亮度信号，使发光量适当化。

(1-1)图像形成装置的结构

首先，说明本实施方式的图像形成装置的主要的结构。

如图1所示，图像形成装置1是所谓串联型的彩色打印机。图像形成装置1具备的图像形成站110Y、110M、110C以及110K在控制部101的控制下，形成Y(黄色)、M(品红色)、C(青色)、K(黑色)各颜色的调色剂像。

例如，在图像形成站110Y中，带电装置112使感光体鼓111的外周面均匀地带电。光写入装置100对感光体鼓111的外周面进行曝光，形成静电潜像。

显影装置113对感光体鼓111的外周面供给调色剂，使静电潜像显影(显像化)而形成Y色的调色剂像。1次转印辊114从感光体鼓111的外周面上向中间转印带102的外周面上静电转印(1次转印)调色剂像。在1次转印之后残留在感光体鼓111的外周面上的调色剂通过清洁器115被去除并废弃。

中间转印带102架设于2次转印辊对103和从动辊104，在承载了调色剂像的状态下在箭头A方向上旋转前进。

同样地，图像形成站110M、110C以及110K形成的MCK各颜色的调色剂像对准时机1次转印到中间转印带102的外周面上以重叠于Y色的调色剂像，成为彩色调色剂像。中间转印带102将彩色调色剂像搬送至2次转印辊对103。

在供纸盒120中收容了捆成捆的记录片S，拾取辊121将记录片S一张一张地送出。记录片S到达定时辊122时，暂时停止搬送，之后，与利用中间转印带102进行的彩色调色剂像的搬送对准时机，搬送至2次转印辊对103。

2次转印辊对103将中间转印带102上的调色剂像静电转印(2次转印)于记录片S上。针对被转印了调色剂像的记录片S，在定影装置105中使调色剂像热定影之后，通过排纸辊106排出到排纸盘107上。

此外，对控制部101连接有未图示的操作面板，针对图像形成装置1的用户提示信息、或者从用户受理指示输入。

(1-2)光写入装置100的结构

接下来，说明光写入装置100的结构。

(1-2-1)整体结构

如图2所示，光写入装置100是将OLED面板200和柱透镜阵列202收容于保持器203的装置，在OLED面板200中按照行状配设了多个发光元件(在本实施方式中OLED)201。OLED201射出的光束L通过柱透镜阵列202被聚光到感光体鼓111的外周面上。柱透镜阵列202是集成了多个柱透镜的光学元件，既可以使用SLA(SELFOC Lens Array(SELFOC透镜阵列)。SELFOC是日本板硝子株式会社的注册商标)，也可以使用MLA(Micro Lens Array(微透镜阵列))。

构成柱透镜阵列202的各个柱透镜和各个OLED 201的位置关系是各种各样的，每个OLED 201的聚光率不是一定的，所以如果使所有OLED 201以同一发光量发光，则在感光体鼓111的外周面上的每个OLED 201的曝光量中产生不均匀。为了防止产生这样的不均匀，在本实施方式中针对每个OLED 201调整发光量。

(1-2-2)OLED面板200的概略结构

图3是OLED面板200的概略平面图，还一并地示出了B-B′线处的剖面图和C-C′线处的剖面图。另外，概略平面图部分示出了拆下了后述密封板301的状态。

如图3所示，OLED面板200具备TFT基板300、密封板301以及驱动器IC(IntegratedCircuit(集成电路))302等。在TFT基板300中，沿着主扫描方向排列了15000个OLED 201。这些OLED 201在感光体鼓111的外周面上的聚光点为21.2μm间距(1200dpi)。

在TFT基板300上安装的薄膜晶体管(TFT：Thin Film Transistor)是使用了低温多晶硅的LTPS TFT。

对TFT基板300的配设了OLED 201的基板面，夹着隔板框体303安装了密封板301。由此，在TFT基板300上安装的OLED 201等以封入了干燥氮等的状态被密封以避免与外部空气接触。此外，也可以一并封入吸湿剂。另外，密封板301既可以是密封玻璃，也可以用玻璃以外的材料构成。

在TFT基板300的密封区域外，安装了驱动器IC302。控制部101经由卡电线(FFC：Flexible Flat Cable，柔性扁平电缆)310对驱动器IC302输入图像数据。驱动器IC302对图像数据进行变换而输出亮度信号。对OLED 201供给与亮度信号对应的驱动电流，控制发光量。亮度信号既可以是电流信号也可以是电压信号。

在驱动器IC302中，内置了温度传感器304。作为OLED 201的环境温度，温度传感器304检测的驱动器IC302的内部温度与OLED 201自身的温度相关。

这样，在OLED-PH中，能够在同一基板上形成OLED和TFT，所以相比于不得不将发光部(LED阵列)和控制电路部(驱动IC等)设置于不同的基板的LED-PH，能够降低成本。

(1-2-3)TFT基板300的结构

OLED 201具有伴随环境温度的变化而发光效率变化的光量温度特性，由于环境温度的高低，图像整体的浓度变化。另外，OLED 201具有随着累计发光时间变长而发光量降低的劣化特性，另一方面，每个OLED 201的累计发光时间根据图像数据而各种各样，所以针对每个OLED 201，光量劣化度不同，亮度有偏差。

针对这样的问题，为了使印刷图像无不均、并且将图像品位保持为恒定，需要针对每个OLED 201，调整发光量。因此，驱动器IC302使用DAC将针对每个OLED 201生成的亮度信号写入到驱动电路，从而调整每个OLED 201的发光量。

另外，在本实施方式中，多个OLED 201共用DAC，采用在依次切换这些OLED 201的同时从DAC写入亮度信号的有源驱动方式，削减了电路规模。在有源驱动方式中，DAC写入的亮度信号保持至在经过主扫描期间(1H期间)之后实施下一次写入为止(例如，在写入了发光数据的情况下，约1H期间持续发光)。

如图4所示，在TFT基板300中，15000个OLED 201分组成150个发光模块402，每组为100个。另外，在驱动器IC302中内置了150个DAC 400，分别与发光模块402一对一地对应。能够由控制部101参照内置在驱动器IC302中的温度传感器304检测出的温度。

驱动器IC302当从控制部101输入了图像数据时，将该输入在每1扫描期间对各DAC400分配100个像素量。在从DAC 400朝向发光模块的电路上，都配设了选择电路401。各DAC400将图像数据变换为亮度信号，针对属下的100个OLED 201，依次输出亮度信号。

图5是示出一对选择电路401和发光模块402的电路图。如图5所示，发光模块402由100个发光像素电路构成，各发光像素电路各具有一个电容器521、驱动用TFT 522以及OLED201。另外，选择电路401具备移位寄存器511和100个选择用TFT 512。

移位寄存器511与100个选择用TFT 512各自的栅极端子连接，使选择用TFT 512依次导通。选择用TFT 512的源极端子经由写入布线530连接于DAC 400，漏极端子与电容器521的第1端子以及驱动用TFT 522的栅极端子连接。

在移位寄存器511使选择用TFT 512导通的状态下，来自DAC 400的亮度信号被输入到电容器521的第1端子(充电)，直至被复位为止保持。

电容器521的第1端子还连接于驱动用TFT 522的栅极端子，电容器521的第2端子与驱动用TFT 522的源极端子以及电源线531连接。

对驱动用TFT 522的漏极端子连接OLED 201的阳极端子，成为串联电路。OLED 201的阴极端子与接地布线532连接。另外，电源线531与从电源部612接受电力的恒定电压源AVDD连接，接地布线532与接地端子GND连接。

恒定电压源AVDD为对OLED 201供给的驱动电流的供给源，驱动用TFT 522将与在电容器521的第1、第2端子之间保持的电压、换言之驱动用TFT 522的源极-栅极电压对应的漏极电流作为驱动电流而供给到OLED 201。当然，源极-栅极电压越高，驱动用TFT 522供给越多的驱动电流，OLED 201的发光量增大。

例如，如果在电容器521中写入与高电平相当的亮度信号，则驱动用TFT 522导通，OLED 201以与驱动电流对应的光量发光。另外，如果在电容器521中写入与低电平相当的亮度信号，则驱动用TFT 522截止，OLED 201不发光。这样，通过变更DAC 400输出的启动信号，能够控制OLED 201的发光量。

对写入布线530连接了复位电路540。如果使复位电路540导通，则从DAC 400至选择用TFT 512的布线被复位为预定电压。复位电路540可以内置于驱动器IC302。

通过具备这样的结构，如以下那样写入亮度信号。如图6所示，当移位寄存器511首先使第1个选择用TFT 512导通时，将该导通期间作为充电期间，来自DAC 400的亮度信号被输入到第1个电容器521。

接下来，当移位寄存器511使第1个选择用TFT 512截止时，与第1个电容器521保持的电压对应的驱动电流被供给到第1个OLED 201，OLED 201点亮(保持期间)。

在第1个选择用TFT 512截止的同时，第2个选择用TFT 512导通，亮度信号输入到第2个电容器521。另外，当将这样的动作执行至第100个选择用TFT 512时，返回到第1个选择用TFT 512而反复上述动作。

此外，在本实施方式中，以驱动用TFT 522是p沟道的情况为例子进行了说明，但当然也可以使用n沟道的驱动用TFT 522。另外，写入布线530、电源线531以及接地布线532都是薄膜布线。

(1-3)亮度信号的控制

接下来，说明驱动器IC302输出的亮度信号的利用控制部101的控制。

驱动用TFT 522是LTPS TFT，所以如果用同一亮度信号使OLED 201连续发光，则对OLED 201供给的驱动电流量减少，OLED 201的发光量降低。在本实施方式中，通过根据OLED201的连续发光时间使驱动电流量增加，防止OLED 201的发光量的降低，防止所形成的图像的浓度降低。

此外，控制部101与连续发光所致的发光量的降低防止一并地，通过控制亮度信号，还防止环境温度的变化所致的发光量的变动(在图7中例示了相对摄氏10度下的发光量的光量比)、随时间劣化所致的发光量的变动(在图8中例示了相对初始的发光量的光量比)。

另外，LTPS TFT当在预定的期间栅极-源极间电压Vgs低于阈值电压Vth时下垂现象被消除。下垂现象的消除所需的期间根据LTPS TFT的尺寸而不同。在本实施方式中，说明下垂现象的消除所需的期间是1个主扫描期间(1H期间)以下的情况。

(1-3-1)控制部101的结构

首先，说明控制部101的主要的结构。

如图9所示，控制部101具备CPU(Central Processing Unit(中央处理器))900、ROM(Read Only Memory(只读存储器))901等，如果对图像形成装置1接通电源，则CPU 900被复位。之后，CPU 900从ROM 901读出并启动引导程序，将RAM(Random Access Memory(随机存取存储器))902作为作业用存储区域，从HDD(Hard Disk Drive(硬盘驱动器))903读出并执行控制程序。

CPU 900向光写入装置100的驱动器IC302输入图像数据和光量数据而控制亮度信号。HDD 903除了存储上述控制程序以外，还存储印刷任务、图像数据、控制部101为了控制亮度信号而参照的输入值表格等。

NIC(Network Interface Card(网络接口卡))904执行用于经由LAN(Local AreaNetwork(局域网))等通信网络从其他装置受理印刷任务的通信处理。操作面板910对图像形成装置1的用户提示信息、或者从用户受理指示输入。

(1-3-2)亮度信号的控制

接下来，说明亮度信号的控制。

如图10所示，控制部101当受理了用页面描述语言(PDL：Page DescriptionLanguage)描述的印刷任务时(S1001：“是”)，对该印刷任务进行语言解析而变换为中间数据，在通过栅格化处理而生成了每个页面的图像数据之后(S1002)，将每个OLED 201的连续发光时间全部初始化为0(S1003)。

在本实施方式中，每个OLED 201的连续发光时间(连续点亮的情况下的点亮期间)是针对每个OLED 201计数在副扫描方向上连续的行的个数且使该OLED 201连续地点亮的行的个数而得到的，可以说是该OLED 201的点亮熄灭历史。此外，连续发光时间是针对每个页面计数的，关于前页面以前有无发光，不作为计数的对象。

控制部101进而针对图像数据的每1行，执行从步骤S1004至S1011的处理。

首先，控制部101更新每个OLED 201的连续发光时间(S1004)。在该处理中，控制部101使在该行中发光的OLED 201的连续发光时间增加1，另一方面，关于在该行中熄灭的OLED 201，将连续发光时间初始化为0。每个OLED 201的连续发光时间记录于例如图11(a)所示那样的连续发光时间表格。连续发光时间表格既可以设置于RAM902上，也可以设置于HDD 903上。

接下来，控制部101更新每个OLED 201的累计发光时间(S1005)。在该处理中，控制部101使在该行中发光的OLED 201的累计发光时间仅增加1，另一方面，关于在该行中熄灭的OLED 201，什么也不做。每个OLED 201的连续发光时间记录于例如图11(b)所示那样的连续发光时间表格。连续发光时间表格设置于作为非易失性的存储装置的HDD 903上，在图像形成装置1的工厂出厂时，针对所有OLED 201，将连续发光时间初始化为0。

在步骤S1006中，控制部101针对每个OLED 201，计算劣化度。使用每个OLED 201的累计发光时间和劣化度表格，计算每个OLED 201的劣化度。在劣化度表格中，如图11(c)例示，记录了每个累计发光时间的劣化度。图11(c)的劣化度用图8例示那样的、累计发光时间经过后的发光量相对初始的发光量的比来表示。劣化度表格既可以设置于ROM 901上，也可以设置于HDD 903上。

此外，在与每个OLED 201的累计发光时间一致的累计发光时间不在劣化度表格的情况下，也可以从劣化度表格读出与每个OLED 201的累计发光时间最接近的累计发光时间和与该累计发光时间对应的劣化度，使用线性插值等，求出与每个OLED 201的累计发光时间对应的劣化度。

另外，也可以代替劣化度表格，使用表示累计发光时间和劣化度的关系的计算式，根据累计发光时间计算劣化度。

接下来，控制部101参照温度传感器304，读出OLED 201的环境温度(S1007)，并且，参照目标光量表格，取得每个OLED 201的目标光量(S1008)。在目标光量表格中，如图11(d)例示，记录了每个OLED 201的目标光量。目标光量表格既可以设置于ROM 901上，也可以设置于HDD 903上。

在步骤S1009中，控制部101参照输入值表格来生成每个OLED 201的光量数据。输入值表格是如图11(e)例示针对连续发光时间、劣化度、环境温度以及目标光量的每个组合记录了亮度信号值的表格，既可以设置于ROM 901上，也可以设置于HDD 903上。

此外，当然，也可以代替输入值表格，而使用能够根据连续发光时间、劣化度、环境温度以及目标光量计算亮度信号值的计算式。

之后，控制部101向驱动器IC302输入图像数据(S1010)，并且输入光量数据(S1011)。输入了这些数据的驱动器IC302参照图像数据来确定要发光的OLED 201，参照光量数据来决定该OLED 201的亮度信号值之后，使与包括该OLED 201的发光模块402对应的DAC 400输出该亮度信号。

如果针对该图像数据的所有行执行了上述处理，则控制部101进入到步骤S1001而等待接下来的印刷任务。

图12(a)的图表例示了连续发光后的发光量相对在使OLED 201熄灭按照下垂现象所致的影响被充分消除的程度那样长的期间之后使OLED 201点亮的情况下的初始发光量的比、和连续发光时间的关系。如图12(a)例示，OLED 201的连续发光时间越长，驱动用TFT522中的下垂现象所引起的该OLED 201的光量降低越大。

因此，如果以足以补偿该光量降低量地使驱动电流量增加的方式控制亮度信号值，则能够使该OLED 201的发光量稳定化。

在本实施方式中，以即使每个OLED 201的连续发光时间长也不会使该OLED 201的发光量降低的方式，在上述输入值表格中，该连续发光时间与亮度信号值对应起来。因此，即使伴随OLED 201的连续发光而在对该OLED 201供给驱动电流的驱动用TFT 522中发生下垂现象，也能够使OLED 201以期望的发光量发光，所以能够达到优良的印刷画质。

另外，无需为了抑制下垂现象所引起的浓度不均而在光写入装置100中追加专用的电路结构，所以不增大部件成本，就能够应用于具备各种结构的光写入装置。

[2]第2实施方式

接下来，说明本发明的第2实施方式。本实施方式的图像形成装置具备与上述第1实施方式的图像形成装置大致共同的结构，另一方面，区别点在于，驱动用TFT 522的尺寸是下垂现象的消除所需的期间为1个主扫描期间(1H期间)以上的尺寸。以下，专门着眼于区别点而进行说明。此外，在本说明书中，在实施方式彼此中有共同的要素的情况下赋予共同的符号。

在上述第1实施方式中，将下垂现象所致的每个OLED 201的发光量的降低与该OLED 201的连续发光时间对应起来生成了光量数据，但在本实施方式中，使用针对每个OLED 201指示连续发光状态的指数(以下称为“状态指数”)K来生成光量数据。在此，连续发光状态是指，不仅包括每个OLED 201的连续点亮期间的长度而且还包含连续熄灭时间的长度的点亮熄灭历史。

如图13所示，本实施方式的控制部101当受理了印刷任务时(S1001：“是”)，在生成图像数据之后(S1002)，将每个OLED 201的连续像素数全部初始化为0(S1301)，并且将每个OLED 201的状态指数K和其初始值K0初始化为0(S1302)。在此，每个OLED 201的连续像素数是指，该OLED 201持续点亮或者持续熄灭的像素数。

例如，在从图像数据中的最初的行至第3个行为止使该OLED 201持续点亮的情况下，连续像素数为3。另外，在从最初的行至第5个行为止使该OLED 201持续熄灭的情况下，连续像素数为5，之后在第6个行中使该OLED 201点亮的情况下，连续像素数为1。

控制部101进而针对图像数据的每1行，执行从步骤S1303至S1011的处理。

首先，控制部101更新每个OLED 201的连续像素数(S1303)。关于每个OLED 201的连续像素数，在例如图14(a)所示那样的连续像素数表格中，点亮数用正值记录，熄灭数用负值记录。即，在连续10次点亮的情况下，记录正值10，在连续17次熄灭的情况下，负值－17记录于与该OLED 201的编号对应的连续像素数的栏。连续像素数表格既可以设置于RAM902上，也可以设置于HDD 903上。

接下来，在前一行和当前行中有点亮状态变化的OLED 201的情况下(S1304：“是”)，参照状态指数表格，将该OLED 201的状态指数K的值记录于初始值K0的栏(S1305)。状态指数表格是如图14(b)例示按OLED 201的编号记录状态指数K和初始值K0的表格，既可以设置于RAM902上，也可以设置于HDD 903上。

在步骤S1306中，计算每个OLED 201的状态指数K。在该计算时，如图15所示，参照图像数据来确认该OLED 201的点亮状态(S1501)。在使该OLED 201点亮的情况下(S1502：“是”)，在变动幅度表格中参照与连续像素数对应的点亮时变动幅度Kon的栏，读出点亮时变动幅度Kon(S1503)。

如图14(c)例示，变动幅度表格是记录了与连续像素数对应的点亮时变动幅度Kon和熄灭时变动幅度Koff的表格，既可以设置于ROM 901上，也可以设置于HDD 903上。点亮时变动幅度Kon如图16(a)所示表示使OLED 201连续点亮的情况下的光量比的降低幅度。

熄灭时变动幅度Koff如图16(b)所示表示在OLED 201刚刚连续熄灭之后点亮的情况下的光量比的上升幅度。进而，初始值K0表示OLED 201的点亮期间、熄灭期间的初始的光量比。

如图16(c)所示，在图像形成时，依照图16(a)，(b)所示那样的特性，光量比上下变动。此外，在图16(c)中，在熄灭期间示出的光量比也是在熄灭期间内的各时间点使该OLED201点亮的情况下的光量比。

接下来，使用下述的式(1)，根据初始值K0和点亮时变动幅度Kon，计算状态指数K(S1505)。

(状态指数K)＝(初始值K0)+(点亮时变动幅度Kon)

…(1)

在使该OLED 201熄灭的情况下(S1502：“否”)，参照在变动幅度表格中与连续像素数对应的熄灭时变动幅度Koff的栏，来读出熄灭时变动幅度Koff(S1504)，使用下述的式(2)来计算状态指数K(S1505)。

(状态指数K)＝(初始值K0)－(点亮时变动幅度Koff)

…(2)

此外，在使用式(2)计算出了负的值的情况下，将状态指数K的值强制地设为0。这是因为，不会因为OLED 201的熄灭期间变长就OLED 201的发光量变得比图像形成开始时多。如果计算出状态指数K，则恢复到上位的例程。

之后，与上述第1实施方式同样地，在执行了步骤S1005至步骤S1008的处理之后，参照输入值表格来决定亮度信号(S1009)。在本实施方式的输入值表格中，如图14(d)例示，代替上述第1实施方式中的连续发光时间而使用状态指数K。

之后，控制部101向驱动器IC302输入图像数据(S1010)，并且输入光量数据(S1011)。由此，在OLED 201的熄灭期间中的下垂现象的消除过程中，也能够以期望的发光量使OLED 201发光。

[3]第3实施方式

接下来，说明本发明的第3实施方式。本实施方式的图像形成装置具备与上述第1以及第2实施方式的图像形成装置大致共同的结构，另一方面，区别点在于生成光量数据的方法。以下，专门着眼于区别点而进行说明。

如图17所示，本实施方式的控制部101的特征在于，参照基准输入表格和系数表格来生成光量数据(S1701)。基准输入表格是如图18(a)例示针对OLED 201的每个目标光量对应起来了亮度信号的基准值的表格，系数表格是如图18(b)例示针对OLED 201的连续发光时间、环境温度以及劣化度的组合对应起来了系数值的表格。

在生成光量数据时，控制部101首先从系数表格读出与该OLED 201的连续发光时间、由温度传感器304取得的环境温度以及在步骤S1006中取得的该OLED 201的劣化度的组合对应的系数值，并且从基准输入表格读出与在步骤S1008中取得的该OLED 201的目标光量对应的亮度信号的基准值。

接下来，控制部101对读出的亮度信号的基准值乘以系数，将得到的亮度信号值作为光量数据。

由此，能够削减为了生成光量数据而参照的表格的数据量。

[4]变形例

以上，根据实施方式说明了本发明，但本发明当然不限于上述实施方式，能够实施以下那样的变形例。

(1)在上述实施方式中，以控制部101针对每个行更新连续发光时间的情况为例子进行了说明，但本发明当然不限于此，也可以代替其而如以下那样。

即，控制部101也可以参照通过栅格化处理而生成的每个页面的图像数据，在副扫描方向依次计数在主扫描方向上处于同一位置的像素中的应使OLED 201点亮的像素，从而取得每个OLED 201的连续发光时间。

(2)在上述实施方式中，以将OLED 201用作发光元件的情况为例子进行了说明，但本发明当然不限于此，也可以代替OLED而使用其他电流驱动型的发光元件。只要是通过LTPS TFT电流驱动的发光元件，虽然可能起因于LTPS TFT中的下垂现象而发生浓度不均，但不论该发光元件如何都能够得到本发明的效果。

(3)在上述实施方式中，以驱动用TFT 522是LTPS TFT的情况为例子进行了说明，但本发明当然不限于此，只要是通过当使OLED 201连续发光时发生下垂现象的驱动电路进行OLED 201的电流驱动的光写入装置，就能够应用本发明而得到同样的效果。

(4)在上述实施方式中，以图像形成装置1是串联型的彩色打印机的情况为例子进行了说明，但本发明当然不限于此，也可以在串联型以外的彩色打印机、单色打印机中应用本发明。另外，即使在具备扫描仪的复印装置、还具备通信功能的传真装置、或者兼具这些功能的复合机(MFP：Multi-function Peripheral，多功能设备)中应用本发明，也能够得到同样的效果。

产业上的可利用性

本发明的光写入装置以及图像形成装置作为抑制在对发光元件进行电流驱动的薄膜晶体管中产生的下垂现象所引起的光量变动的装置是有用的。

Claims (9)

1.一种光写入装置，根据图像数据对感光体进行曝光而按每行形成静电潜像，所述光写入装置的特征在于，具备：

电流驱动型的发光元件；

薄膜晶体管，将与亮度信号对应的驱动电流供给到所述发光元件而使该发光元件发光；以及

控制单元，控制为：针对1个页面内的每行，校正应该对所述薄膜晶体管供给的亮度信号，以补偿与在从第一行至该行为止的期间所述发光元件连续地点亮或者熄灭的点亮熄灭历史对应的所述发光元件的发光量的变动，将与校正后的亮度信号对应的驱动电流供给到所述发光元件。

2.根据权利要求1所述的光写入装置，其特征在于，

所述控制单元参照所述图像数据来确定所述点亮熄灭历史。

3.根据权利要求1或者2所述的光写入装置，其特征在于，

所述点亮熄灭历史表示使该发光元件连续点亮至该行为止时的点亮期间的长度。

4.根据权利要求1或者2所述的光写入装置，其特征在于，

所述点亮熄灭历史表示从所述第一行至该行为止的所述发光元件的连续点亮期间以及连续熄灭期间的时期以及长度。

5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的光写入装置，其特征在于，具备：

温度检测单元，检测所述发光元件的环境温度；以及

劣化度检测单元，检测与所述发光元件的累计发光时间对应的劣化度，

所述控制单元进一步校正应该对所述薄膜晶体管供给的亮度信号，以补偿与所述环境温度和所述劣化度对应的所述发光元件的发光量的变动。

6.根据权利要求5所述的光写入装置，其特征在于，

具备针对所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合存储用于校正所述亮度信号的校正数据的表格，

所述控制单元使用与所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合对应的所述校正数据，校正所述亮度信号。

7.根据权利要求1至4中的任意一项所述的光写入装置，其特征在于，具备：

温度检测单元，检测所述发光元件的环境温度；

劣化度检测单元，检测与所述发光元件的累计发光时间对应的劣化度；

第1存储单元，针对每个目标光量，存储用于从初始状态的所述发光元件得到目标光量的亮度信号值；以及

第2存储单元，针对所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度的每个组合，存储校正系数，该校正系数是用于根据用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值计算用于得到所述目标光量的亮度信号值的系数，

所述控制单元从所述第1存储单元取得用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值，并且

从所述第2存储单元取得与所述点亮熄灭历史、所述环境温度以及所述劣化度对应的所述校正系数，

使用该校正系数校正所述亮度信号，以成为根据用于在所述初始状态下得到目标光量的亮度信号值计算的亮度信号值。

8.根据权利要求1至7中的任意一项所述的光写入装置，其特征在于，

所述薄膜晶体管是使用了低温多晶硅的LTPS晶体管。

9.一种图像形成装置，其特征在于，

具备权利要求1至8中的任意一项所述的光写入装置。