CN105319606A - 多光轴光电传感器系统 - Google Patents

Abstract

本发明能够准确且迅速设定适应实际应用的浮动消隐功能。检测处理部，将形成于多个投光元件与多个受光元件之间的多条光轴作为检测区域，基于每通过一次扫描进行光轴的选择动作时，判断各光轴是否处于遮挡状态的结果，输出检测信号。检测处理部，在因能够在检测区域内移动的物体导致至少任一条光轴经常处于遮挡状态时，当遮挡光轴数量大于预先设定的最大光轴数量时，输出检测信号。检测处理部当遮挡光轴数量小于预先设定的最小光轴数量时，输出检测信号。学习处理部，每通过一次扫描进行光轴的选择动作时，取得因物体导致处于遮挡状态的光轴数量，基于比较在各个循环(各次扫描)中取得的遮挡光轴数量的结果，设定最大光轴数量以及最小光轴数量。

Description

多光轴光电传感器系统

技术领域

本发明涉及一种多光轴光电传感器系统。本发明特别是涉及一种具有多光轴光电传感器的浮动消隐(floatingblanking)功能的多光轴光电传感器系统。

背景技术

一般的多光轴光电传感器具有投光部和受光部。投光部是多个投光元件配置成一列构成的。受光部是与投光元件相同数量的受光元件配置成一列构成的。投光元件与受光元件配置为以一对一的关系来彼此面对，并设定了利用多条光轴的检测区域。

投光部依次使各投光元件发光。受光部在与投光元件的发光动作同步的时机(时刻)，从与各投光元件相对应的受光元件获取该受光元件的受光量。这样，依次检测多光轴光电传感器的各光轴的遮挡状态。受光部使用各光轴的检测结果，来判断检测区域中是否有物体，并输出表示该判断结果的信号。为了使投光部与受光部同步，经由通信线连接投光部与受光部。或者通过投光部与受光部之间的光通信，来使投光部与受光部同步。

例如，多光轴光电传感器被设置为用于保障在生产现场的工作人员的安全的装置。例如，当检测到多光轴光电传感器的检测区域的任一条光轴处于遮挡状态时，就停止生产设备的动作。根据制造装置，在有些情况下，多光轴光电传感器的检测区域的一部分光轴经常在被工件等特定物体遮挡的状态下使用。为了与如这样的应用相对应，多光轴光电传感器具有使被特定的物体遮挡的一部分光轴无效化的消隐功能。在该消隐功能中包括：与遮挡物体固定于检测区域内的情况相对应的固定消隐，和与遮挡物体在检测区域内移动的情况相对应的浮动消隐。

如上所述，多光轴光电传感器的安全功能是：当检测区域的任一条光轴产生遮挡状态时，无论被遮挡的光轴的数量是多少，都立刻停止生产设备的动作。与此相对，消隐功能是：在构成检测区域的多条光轴中，当除了满足预先设定的特定条件的光轴以外的光轴被遮挡时，才停止生产设备的动作。用户能够根据遮挡物体的尺寸以及检测区域内的位置，来自由地设定满足该特定的条件的光轴。具体地，在固定消隐功能中，用户能够指定检测区域中的想要无效化的光轴。另一方面，在浮动消隐功能中，用户能够设定想要无效化的光轴的数量。

例如在JP特开平2-271199号公报(专利文献1)中公开了一种机床的光束式安全装置。该光束式安全装置具有一种设定模式。就该设定模式而言，针对多条光轴进行全光轴扫描，存储检测到遮挡的全部光轴，并且在通过其后的执行模式的扫描，检测到除了已存储的光轴以外的光轴被遮挡的情况下，判断为除了预定的遮挡物体以外的物体进入危险区域内，并输出使机床停止的信号。

另外，在JP专利第4481549号公报(专利文献2)中所记载的具有浮动消隐功能的多光轴光电式安全装置中，在检测区域内局部地设定有浮动消隐区域。通过这样，在设定好的区域内启动浮动消隐功能，在其他的区域内启动通常的安全功能。在专利文献2中，浮动消隐区域是通过学习法来设定的。具体地，在想要设定的区域放置遮挡物体，使处于遮挡的状态下，通过按下学习按钮来指定浮动区域。通过这样，不存在遮挡物体的区域，被指定为进行通常动作的区域。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：JP专利平2-271199号公报

专利文献2：JP专利第4481549号公报

为了使浮动消隐功能正常动作，就实际应用来讲，必需要将想要无效化的光轴数量设定为最佳值。但是，在实际应用中，有时会因机械振动等引起检测区域内的物体的位置产生不规则变化。当因该物体的位置的不规则变化，导致被物体遮挡的光轴的数量也变化时，可能会出现预先设定的想要无效化的光轴数量与实际上被物体遮挡的光轴数量不一致的情况。即，产生原本处于入射状态的光轴变为遮挡状态的情况，或者原本处于遮挡状态的光轴变为入射状态的情况。因此，由于在多光轴光电传感器启动了通常的安全功能，所以机械会意外停止，成为妨碍生产现场生产性的主要原因。

此处，有一种多光轴光电传感器具有消隐监视功能，该消隐监视功能用于经常监视检测区域内的遮挡物体的存在。就该消隐监视功能而言，在消隐功能的使用中，遮挡物体从检测区域离开，或者遮挡物体变小的情况下，判断为消隐功能的异常，从而强制性地停止机械的动作，或者，解除消隐功能并将全部检测区域设置为有效。如上所述，当因物体的位置的不规则的变化引起原本处于遮挡状态的光轴变为入射状态时，通过该消隐监视功能进行动作，机械有可能意外地停止。

为了防止如这样的浮动消隐功能以及消隐监视功能的错误动作，必需将与浮动消隐功能以及消隐监视功能相关的设定值，准确地设定为实际应用中的最佳值。但是，上述的专利文献1以及2仅公开了设定想要无效化的区域的方法，并没有公开考虑到上述的在实际应用中的问题的设定。

此外，在现有的多光轴光电传感器中，有一种方法通过计算或者使用实机的试误法(cutandtry)来导出准确的设定值，但是在计算中必需将使用的多光轴光电传感器的最小检测灵敏度、遮挡物体的尺寸等作为变量，来进行复杂的处理，在设定上要花费很多的时间。即使在试误法中，也存在用于缩小设定值的范围的动作量增大的问题。

发明内容

本发明为了解决如这样的问题点，其目的在于，提供一种在具有浮动消隐功能的多光轴光电传感器系统，能够准确且迅速地设定适合实际应用的消隐功能。

根据本发明的一个实施方式，提供一种多光轴光电传感器系统，其特征在于，具有：投光部，具有排列配置为直线状的多个投光元件，受光部，具有与多个投光元件分别相向配置的多个受光元件，

检测处理部，将形成于多个投光元件与多个受光元件之间的多个光轴作为检测区域，每将光轴的选择动作进行一个循环时都判断多个光轴中的各光轴是否处于遮光状态，基于该判断结果来输出检测信号；在能够在检测区域内移动的物体导致多个光轴中的至少任一个光轴经常处于遮光状态的情况下，当处于遮光状态的光轴的数量大于预先设定的最大光轴数量时，检测处理部输出检测信号，当处于遮光状态的光轴的数量小于预先设定的最小光轴数量时，检测处理部也输出检测信号。

优选地，多光轴光电传感器系统还具有教学处理部，教学处理部通过使用物体来进行学习，设定最大光轴数量以及最小光轴数量，教学处理部，每将光轴的选择动作进行一个循环时，都取得因物体导致处于遮光状态的光轴数量，并且基于比较在各循环扫描中取得的遮光光轴数量而得出的结果，来设定最大光轴数量以及最小光轴数量。

优选地，学习处理部，将在各循环中取得的遮光光轴数量中的最小值，或者将该最小值减去规定的光轴数量而得到的值，设定为最小光轴数量。

优选地，学习处理部，将在各循环中取得的遮光光轴数量中的最大值，或者将该最大值加上规定的光轴数量而得到的值，设定为最大光轴数量。

优选地，学习处理部，将在各循环中取得的遮光光轴数量中的最小值，加上规定的光轴数量而得到的值，设定为最大光轴数量。

优选地，学习处理部，将在各循环中取得的遮光光轴数量中的最大值，减去规定的光轴数量得到的值，设定为最小光轴数量。

优选地，学习处理部，被设于投光部以及受光部中的至少一者中。

优选地，检测处理部，被设于投光部以及受光部中的至少一者中。

若采用本发明，则在具有浮动消隐功能的多光轴光电传感器系统中，通过使用该特定的物体进行学习，分别设定作为与浮动消隐功能有关的设定值的最大光轴数量，以及作为与消隐监视功能有关的设定值的最小光轴数量，该浮动消隐功能使被在检测区域内移动的特定的物体遮挡的一部分光轴无效化。通过这样，能够将与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值，准确且迅速地设定为在实际应用中的最佳值。因此，能够简单地构成可以兼顾生产性与安全性的多光轴光电传感器系统。

附图说明

图1是示意地示出本实施方式的多光轴光电传感器系统的结构例的图。

图2是示出本实施方式的多光轴光电传感器系统的结构例的外观图。

图3是示出图2所示的多光轴光电传感器的结构的框图。

图4是示出图3的个人电脑的结构的图。

图5是概略地示出在多光轴光电传感器系统中设定的动作模式与各模式之间的关系的图。

图6A、图6B是示意地示出从光轴方向观察的检测区域的图。

图7是示出本实施方式的多光轴光电传感器系统中的控制结构的框图。

图8是示出图7所示的检测处理部的更加详细的结构图。

图9是用于说明为了浮动消隐的学习处理的图。

图10是说明为了浮动消隐的学习处理的流程图。

图11是说明本实施方式的多光轴光电传感器系统中的物体检测处理的流程图。

图12是示出本实施方式的多光轴光电传感器系统中的控制结构的变化例的框图。

图13是说明进行学习的过程中的异常检测处理的流程图。

图14是说明进行学习的过程中的过滤处理的流程图。

图15是用于说明检测区域选择处理的图。

图16是说明进行学习的过程中的检测区域选择处理的流程图。

图17是示出具有多个多光轴光电传感器的多光轴光电传感器系统的一个例子的图。

图18是说明进行学习的过程中的多光轴光电传感器选择处理的流程图。

图19是示出在进行学习的过程中，在各循环(scan，扫描)中进行投受光处理而取得的遮光信息的图。

图20是说明在进行学习的过程中的物体的动作速度检测处理的流程图。

图21是说明在浮动消隐的执行中的物体的动作异常检测处理的流程图。

其中，附图标记说明如下：

1投光部，2受光部，3专用软线，4通信单元，5个人电脑，10、20显示灯，11发光元件，12驱动电路，13、25光轴依次选择电路，14、29存储电路，15外部电源，16、26处理电路，17、27、37通信电路，18、28、38电源电路，19、32显示电路，21受光元件，22、24放大器，23开关，30监控电路，31输出电路，32外部连接端子，34通信转换器，36微机，51控制部，53存储部，55输入部，57显示部，59外部存储装置，61记录介质，100多光轴光电传感器系统，101通信用缆线，102分支连接器，LC检测区域，OB物体，SNS多光轴光电传感器。

具体实施方式

以下，针对本发明的实施方式，参照附图详细地进行说明。此外，图中相同的附图标记表示相同的或者相当的部分。另外，在本说明书中，只要不是特别需要，就将表示光束的行进方向的虚线以及其光束表现为“光轴”。

图1是示意地示出本实施方式的多光轴光电传感器系统的结构例的图。参照图1，在本实施方式的多光轴光电传感器系统中，使用多光轴光电传感器SNS来实现传感器装置。

多光轴光电传感器SNS具有：投光部1和受光部2。投光部1具有多个发光元件11(投光元件)。受光部2具有多个与发光元件11相向配置的受光元件21(参照图4)。多个发光元件11与多个受光元件21以一对一的关系彼此位置相向。因此，来设定由多条光轴构成的二维检测区域LC。

在图1所示的例子中，将检测区域LC的前侧设定为“安全侧区域”，将检测区域LC的后侧设定为“危险侧区域”。在危险侧区域设置有未图示的机械(例如生产设备)。来自多光轴光电传感器SNS的检测信号被输出至该机械的电源供给电路(未图示)。在检测区域LC完全未被遮挡的情况下，从多光轴光电传感器SNS输出表示“非检测出”状态的信号。在检测区域LC的至少一部分被遮挡的情况下，多光轴光电传感器SNS的输出停止。换言之，检测信号从“非检测出”状态切换至“检测出”状态切换。机械的电源供给电路响应检测信号切换至“检测出”状态，停止机械的动作。

当上述机械的电源供给电路从多光轴光电传感器SNS接收到表示“检测出”状态的信号时，通过停止对机械的电源供给，在确保安全的状态下移动机械。在这种情况下，表示“检测出”状态的信号能够当作停止信号来使用。当机械接收到表示“检测出”状态的信号时，也可以不切断机械整体的电源，而是通过仅使机械的中的危险部分停止动作，或者减慢危险部分的动作速度，来确保安全。

在本实施方式中，构成检测区域LC的多条光轴中的一部分光轴经常处于被特定的物体OB遮挡的状态。例如，该物体OB是设置于危险侧区域的机械的一部分，如图中用箭头所示，该物体OB在检测区域LC内移动。多光轴光电传感器SNS通过使用浮动消隐功能，能够使被因移动的物体OB而导致暂时处于遮挡状态的一部分光轴无效化。通过这样，在除了被物体OB遮挡的一部分光轴以外的光轴也被遮挡的情况下，将多光轴光电传感器SNS的检测信号从“非检测出”状态切换至“检测出”状态。

在投光部1以及受光部2的壳体的上部，能够分别设有用于与浮动消隐功能有关的通知的显示灯10、20。显示灯10、20在正在使用浮动消隐功能时点亮。在发生异常的情况下，显示灯10、20通过光的闪烁来通知发生异常。“异常”例如包括：因为有物体进入除了浮动有效区域以外的检测区域LC内而导致产生的异常，含因物体OB的姿势变化等而导致浮动有效区域的一部分(或者全部)处于入射状态的异常。

进一步，显示灯10、20在进行学习的过程中点亮。而且，在进行学习的过程中发生异常的情况下，显示灯10、20通过光的闪烁来通知发生异常。另外，当学习结束时，显示灯10、20通过熄灭来通知学习结束。

图2是示出本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统的结构例的外观图。参照图2，多光轴光电传感器SNS具有：投光部1、受光部2、通信单元4。多光轴光电传感器系统100具有：多光轴光电传感器SNS、个人电脑5。

多光轴光电传感器SNS具有：投光部1、受光部2、通信用缆线101。投光部1与受光部2通过通信用缆线101来连接。在通信用缆线101上，经由分支连接器102以及专用软线3连结有通信单元4。通信单元4与分支连接器102以及个人电脑5连接。

图3是示出图2所示的多光轴光电传感器SNS的结构的框图。参照图3，投光部1具有多个发光元件11。投光部1还具有：逐个驱动各发光元件11的驱动电路12、光轴依次选择电路13、处理电路16、通信电路17、电源电路18、显示电路19、存储电路14。

受光部2具有分别与多个发光元件11相对应设置的多个受光元件21。受光部2还具有：与各受光元件21相对应设置的放大器22以及开关23、光轴依次选择电路25、处理电路26、向处理电路26输入用的放大器24、通信电路27、电源电路28、存储电路29、监控电路30、输出电路31。

光轴依次选择电路13，使各发光元件11的驱动电路12按顺序连接至处理电路16。光轴依次选择电路25，使与各受光元件21相对应的放大器22以及开关23按顺序连接至处理电路26。

处理电路16、26由具有CPU(CentralProcessingUnit，中央处理器)以及存储器等的微型计算机(微机)等构成。处理电路16、26通过比较每小时的受光量与规定的阈值，来判断各光轴处于入射/遮挡中的哪种状态。进一步地，处理电路16、26每将光轴的选择动作进行一个循环(一次扫描)时，就综合各光轴的判断结果，来判断作为检测区域LC整体有无遮挡。此外，在将浮动消隐功能设定为有效的情况下，针对处于被物体OB遮挡状态的一部分光轴，使入射/遮挡的判断结果无效化。

通信电路17、27是以RS485为基准的通信接口，控制投光部1与受光部2之间的信号的交换。

在存储电路14、29中，保存有相同壳体内的处理电路16、26的动作所需要的程序、参数等。进一步地，在存储电路14、29中，设有用于积累在后述的学习中所取得的数据的区域。

输出电路31经由外部连接端子32而与开关机构(未图示)连接，该开关机构组装于向危险侧区域内的机械供给电源的电路。若来自输出电路31的输出信号是“非检测出”状态，则开关机构闭合，来向危险侧区域内的机械供给电源。另一方面，若来自输出电路31的输出信号是“检测出”状态，则开关机构断开，机械停止。监控电路30控制显示灯10、20的点亮。

电源电路18、28从公共的外部电源15(直流电源)接收电源的提供，并分别将电源供给至投光部1与受光部2。例如，显示电路19由多个7段LED(LightEmittingDiode，发光二极管)构成，来显示多位数字或者字母文字例。显示电路19也可以不设于投光部1，或者除了投光部1以外，还设于受光部2。

分支连接器102分支出投光部1与受光部2之间的通信线以及电源线。在专用软线3中收纳有分支出的通信线、电源线。在专用软线3上连接有通信单元4。通信单元4与个人电脑(在图3中表示为PC)5连接。

通信单元4具有：微机36、通信电路37、电源电路38、通信转换器35。通信电路37是RS485规格的接口。电源电路38经由分支连接器102获取来自外部电源15的电源，来实现供给至通信单元4内的各部分的作用。通信转换器35对RS485规格的信号进行串行转换，来输出符合例如RS232C或者USB(UniversalSerialBus：通用串行总线)等规格的信号。

光轴依次选择电路13与光轴依次选择电路25同步，多个发光元件11依次点亮，并且多个受光元件21依次输出受光信号。处理电路16、26通过通信电路17、27，来使得用于控制发光元件11与受光元件21的动作的信号同步。

如上所述，投光部1与受光部2是利用经由通信用缆线101的通信来相互同步的。但是投光部1与受光部2也可以利用光通信来相互同步。

例如，个人电脑5显示经由通信单元4而接收到的数据DT。个人电脑5也可以显示在多光轴光电传感器SNS中设定的各种参数等。除了个人电脑5以外，或者取代个人电脑5，还可以在显示电路19上显示各种参数等。或者，显示上述各种信息的其他的显示装置(例如专用控制台)也可以与通信单元4连接。

图4是示出图3的个人电脑5的结构的图。参照图4，个人电脑5具有：控制部51、输入部55、存储部53、显示部57、外部存储装置59。控制部51用于控制整体。输入部55用于输入数据。存储部53用于暂时地存储数据。显示部57用于输出数据。外部存储装置59不易失地存储用于利用控制部51来执行的程序等。

控制部51具有：CPU、只读存储器(ROM)、随机访问存储器(RAM)。只读存储器(ROM)存储用于利用该CPU来执行的程序。随机访问存储器(RAM)存储当利用CPU来执行程序时所需要的变量等。

输入部55是键盘或者鼠标等，能够输入文字或者数字或者输入规定的指示命令。另外，输入部55接收从通信单元4传输来的数据。

存储部53暂时地保存多光轴光电传感器SNS的设定所需要的各种数据等。

显示部57是液晶显示装置等显示器，并按照控制部51的指示来显示各种信息。例如，在显示部57所显示的信息中包括：多光轴光电传感器SNS的动作结果、通过进行后述的学习来取得的与浮动消隐功能以及消隐监视功能相关的设定值等。

外部存储装置59读入处理器可读取的记录于记录介质61中的程序或者数据，并将其发送至控制部51。作为处理器可读取的记录介质61是指如下的固定地保持程序的介质：磁带、盒式磁带等磁带类，磁盘(软盘、硬盘装置等)或者光盘(CD-ROM/DVD等)等盘类，IC卡(包含存储卡)或者光卡等卡类，或者掩膜型ROM、EPROM、快速存储器等半导体存储器等。此外，程序也可以从网络(未图示)下载。控制部51通过利用外部存储装置59来读取记录于记录介质61的程序，能够执行读出的程序。

例如，程序包含在记录于记录介质61的程序中，该程序使个人电脑5(处理器)执行本实施方式的多光轴光电传感器系统的控制方法中所包括的各步骤。但是，存储该程序的装置并不是特定的。例如，可以记录于投光部1的存储电路14以及受光部2的存储电路29中的任一者。另外，执行多光轴光电传感器系统的控制方法中所包括的各步骤的处理器，并不是特定为如个人电脑5那样的计算机。例如，也可以是具有连接入网络(未图示)的连接功能的便携式终端装置，或者控制生产设备的控制器来执行。

在本实施方式中，通过来自显示部57的画面显示，数据能够输出至多光轴光电传感器系统100的外部。数据可以输出至外部存储装置59或者记录介质61，也可以通过印刷装置打印输出。

另外，在本实施方式中，多光轴光电传感器系统100具有检测处理部。就该检测处理部而言，每将多光轴光电传感器SNS中的光轴的选择动作进行一个循环(一次扫描)时，判断有无检测区域LC(图1)整体的遮挡，基于该判断结果来输出检测信号。具体地，检测处理部，判断每将光轴的选择动作进行一个循环(一次扫描)时各光轴是否处于遮挡状态，再综合各光轴的判断结果，来判断作为检测区域LC整体有无遮挡。在检测区域LC完全未被遮挡的情况下，检测处理部输出表示“非检测出”状态的信号。另一方面，在检测区域LC的至少一部分被遮挡的情况下，检测处理部输出表示“检测出”状态的信号。

另一方面，如图1所示，在多条光轴中的任一至少1条光轴处于被特定的物体OB经常遮挡的状态，且该特定的物体OB能够在检测区域LC内移动的情况下，将浮动消隐功能设定为有效。当将浮动消隐功能设定为有效时，针对多条光轴中处于被特定的物体OB遮挡的状态的一部分光轴，检测处理部使得入射/遮挡的判断结果无效化。具体地，当处于遮挡状态的光轴的数量大于预先设定的最大光轴数量时，检测处理部输出表示“检测出”状态的信号。进一步地，当处于遮挡状态的光轴的数量小于预先设定的最小光轴数量时，检测处理部也输出表示“检测出”状态的信号。此外，如后文所述，最大光轴数量以及最小光轴数量相当于与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值。

多光轴光电传感器系统100还具有学习处理部，该学习处理部通过使用物体OB进行学习，将上述的与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值，设定为适于实际应用的值。

此外，就多光轴光电传感器系统100所具有的检测处理部以及学习处理部而言，能够分别通过例如受光部2侧的处理电路、投光部1侧的处理电路16或者个人电脑5来实现。检测处理部以及学习处理部也可以综合为一个处理电路(控制电路)。

[学习处理]

以下，针对在本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统100中进行的学习来说明。

图5是概略地示出在多光轴光电传感器系统100中设定的动作模式与各模式之间的关系的图。

参照图5，多光轴光电传感器系统100具有检测模式以及学习模式这两种模式。其中的检测模式是用于进行通常的物体检测处理的模式。

在检测模式下，在投光部1与受光部2之间进行投受光处理。在投受光处理中，处理电路16(图3)为了产生信号光，每隔规定的时间就产生时序信号，并将该时序信号赋予光轴依次选择电路13。光轴依次选择电路13将与各发光元件11相对应的驱动电路12按顺序连接到处理电路16。通过这样，来自处理电路16的时序信号依次赋予各驱动电路12，各发光元件11实现依次发光的动作。进一步地，时序信号也经由通信电路17、27赋予受光部2侧的处理电路26。

在受光部2中，来自各受光元件21的受光输出经由放大器22以及开关23，输送至处理电路26。就处理电路26而言，将来自投光部1的时序信号发送至光轴依次选择电路25，依次使各光轴的开关23导通(on)动作，取得来自与发出信号光的发光元件11相对应的受光元件21的受光输出，并且将各受光输出分别与规定的阈值相比较，来判断各光轴是否处于遮挡状态。当对于全部的光轴的受光输出的取得都结束时，处理电路26就综合各光轴的判断结果来进行最终的判断处理，生成表示该判断结果的检测信号，经由输出电路31向外部输出生成的检测信号。

另一方面，学习模式是通过使用特定的物体OB进行学习，来设定与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值的模式。在学习模式中，进行与检测模式同样的投受光处理。而且，基于在该投受光处理中取得的各光轴的入射/遮挡的判断结果，计算并设定与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值。

多光轴光电传感器系统100在电源启动后立即设定为检测模式，当被赋予向学习模式移动的命令时，就切换为学习模式。例如，向学习模式移动的命令能够从个人电脑5的输入部55输入。或者，也可以在投光部1或者受光部2上事先设置有由用户来操作的开关，与接通(on)操作该开关相响应，来发出向学习模式移动的命令。

在学习模式下，当接收到学习模式结束命令时，多光轴光电传感器系统100结束学习模式并返回检测模式。学习模式结束命令能够从个人电脑5的输入部55输入。或者，与断开(off)操作设于投光部1或者受光部2的开关相响应，也可以发出学习模式结束命令。或者，也可以当从开始进行学习模式继续经过规定时间时，个人电脑5的控制部51产生学习模式结束命令。

以下，说明在使用浮动消隐功能的情况下，利用学习模式进行的处理。

(用于浮动消隐的学习处理)

如图1所示，浮动消隐是在特定的物体OB在检测区域LC内移动的情况下有效的一种功能。通过根据物体OB的尺寸以及在检测区域LC内的物体OB的位置，来设定作为想要无效化的光轴的数量的“浮动光轴数量”，从而能够针对与浮动光轴数量相对应的光轴数量，使得有无遮挡的判断结果无效化。

但是，在实际应用中，有时因机械的振动等导致在检测区域LC内的物体OB的位置发生不规则的变化。图6A、图6B是示意地示出从光轴方向观察的检测区域LC(图1)的图。参照图6A、图6B，检测区域LC由多条光轴B1～Bn(n是大于或等于2的整数)构成。在图6A、图6B中，方形表示物体OB的一部分。图中的白色圆形表示入射状态的光轴，图中的黑色圆形表示遮挡状态的光轴。

图6A、图6B中的遮挡检测区域LC的物体OB是共同的，另一方面，物体OB的位置却不同。因此，当比较图6A与图6B时，被遮挡的光轴的位置以及被遮挡的光轴的数量也不同。即，通过物体OB的位置产生不规则的变化，即使物体OB的尺寸相同，被遮挡的光轴数量也有可能变化。

此处，在浮动消隐功能的使用中，多光轴光电传感器系统100经常监视在检测区域LC内是否存在物体OB。而且，在因物体OB从检测区域LC中离开，或者在检测区域LC中的物体OB的尺寸变小，而导致应该被遮挡的光轴的一部分(或者全部)处于入射状态的情况下，判断为浮动消隐功能的异常，来强制性地停止机械的动作。或者，通过解除浮动消隐功能，来使检测区域LC全部都有效。

详细地，如果在物体OB从检测区域LC离开之后，仍使浮动消隐功能维持有效状态，则在万一其他物体(例如人体)进入检测区域LC内的情况下，当处于被该物体遮挡的状态的光轴的数量小于或等于浮动光轴数量时，会发生多光轴光电传感器SNS检测不出该物体的状况。为了对如这样的状况防患于未然来确保多光轴光电传感器SNS的安全功能，多光轴光电传感器系统100具有在浮动消隐功能的使用中监视物体OB的存在的功能(消隐监视功能)。即，多光轴光电传感器系统100通过使浮动消隐功能与消隐监视功能并行动作，来兼顾在生产现场的生产性与安全性。

但是，如图6A、图6B所示，当因检测区域LC中的物体OB的位置产生不规则变化而导致被遮挡的光轴的数量也变化时，在有些情况下处于遮挡状态的光轴会切换至入射状态。在如这样的情况下，也会通过上述的消隐监视功能动作，来判断为消隐功能的异常，强制性地停止机械的动作。即，通过因物体OB的位置产生不规则的变化而导致判断为消隐监视功能错误，从而机械意外地停止，降低了在生产现场的生产性。

因此，在本发明的实施方式中，在使用浮动消隐功能的情况下，除了设定浮动光轴数量以外，还要设定消隐监视功能不进行动作的光轴即“允许光轴”的数量(以下，称为“允许光轴数量”)。在如图6A、图6B的情况下，将因物体OB的位置的不规则变化而导致从遮挡状态切换至入射状态的光轴的数量，设定为允许光轴数量。通过这样，能够对于因消隐监视功能的错误动作而导致的机械停止防患于未然。

此处，为了使浮动消隐功能以及消隐监视功能正常地动作，必需将浮动光轴数量以及允许光轴数量准确地设定为在实际应用中的最佳值。因此，在本发明的实施方式中，进行使用实际应用的学习。在学习中，在实际应用上，基于每将投光部1以及受光部2之间的投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，所积累的各光轴的有无遮挡的判断结果，来计算浮动光轴数量以及允许光轴数量。每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时就计算并更新该浮动光轴数量以及允许光轴数量。或者，也可以在将投受光处理进行多个循环(多次扫描)之后，基于积累的各光轴的有无遮挡的判断结果来计算浮动光轴数量以及允许光轴数量。通过这样，能够准确且迅速地将浮动光轴数量以及允许光轴数量，设定为在实际应用中的最佳值。

以下，针对用于进行浮动消隐以及学习的控制结构进行说明。图7是示出本实施方式的多光轴光电传感器系统100中的控制结构的框图。

参照图7，多光轴光电传感器系统100中的控制结构具有：检测处理部70、学习处理部80。检测处理部70，当在多光轴光电传感器SNS中每通过一次扫描进行光轴的选择动作时，就判断作为检测区域LC(图1)整体有无遮挡，再基于该判断结果来输出检测信号。图8是示出检测处理部70更加详细的结构的图。参照图8，检测处理部70具有：遮挡判断部72、消隐处理部74。

遮挡判断部72每将投光部1以及受光部2之间的投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，基于来自各受光元件21的受光输出，来判断各光轴是否处于遮挡状态。遮挡判断部72综合各光轴的判断结果，来判断作为检测区域LC整体有无遮挡，再将表示该判断结果的信号输出至消隐处理部74。

消隐处理部74基于从遮挡判断部72赋予的判断结果，来输出检测信号。将用于选择浮动消隐功能的有效/无效的消隐导通(on)断开(off)指令赋予消隐处理部74。消隐处理部74通过接收消隐导通(on)指令，来将浮动消隐功能设定为有效(导通(on))。另一方面，通过接收消隐断开(off)指令，来将浮动消隐功能设定为无效(断开(off))。例如，消隐导通(on)断开(off)指令能够从个人电脑5的输入部55输入。或者，也可以在投光部1或者受光部2上事先设置由用户操作的开关，与导通(on)该开关相响应，来发出消隐导通(on)断开(off)指令。

在将浮动消隐功能设定为有效的情况下，消隐处理部74针对处于被移动的物体OB(图1)暂时遮挡的状态的一部分光轴，使入射/遮挡的判断结果无效化。具体地，消隐处理部74使用由学习处理部80预先设定的浮动光轴数量，来判断除了被物体OB遮挡的一部分光轴以外的光轴是否被遮挡。当判断为除了该一部分光轴以外的光轴被遮挡时，消隐处理部74输出表示“检测出”状态的信号。

进一步地，消隐处理部74使用由学习处理部80预先设定的允许光轴数量，来经常监视检测区域LC内是否存在物体OB。当判断为物体OB从检测区域LC离开，或者检测区域LC中的物体OB的尺寸变小时，消隐处理部74也输出表示“检测出”状态的信号。

另一方面，在将浮动消隐功能设定为无效的情况下，消隐处理部74当检测区域LC的至少一部分被遮挡时，输出表示“检测出”状态的信号。当从多光轴光电传感器SNS接收到表示“检测出”状态的信号时，机械的电源供给电路通过停止对机械的电源供给，来在确保安全的状态下移动机械。

当使用浮动消隐功能时，根据物体OB的尺寸以及在检测区域LC内的位置，来预先设定浮动光轴数量、允许光轴数量以及作为浮动消隐功能有效的区域的浮动有效区域。当接收到向学习模式移动的命令时，学习处理部80通过进行使用物体OB的学习，来分别将浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域设定为适于实际应用的值。

检测处理部70以及学习处理部80能够分别通过例如受光部2侧的处理电路、投光部1侧的处理电路16，或者通过个人电脑5来实现。检测处理部以及学习处理部也可以综合为一个处理电路(控制电路)。另外，基于来自受光元件21的受光信号来判断各光轴有无遮挡的遮挡判断部72，能够通过例如光轴依次选择电路25、处理电路26或者这两者来实现。

图9是说明用于浮动消隐的学习处理的图。图9与图6A、图6B同样地，示意地示出从光轴方向观察的检测区域LC(图1)。即，检测区域LC由多条光轴B1～Bn(n是大于或等于2的整数)构成，方形表示物体OB的一部分。图中的白色圆形表示入射状态的光轴，图中的黑色圆形表示遮挡状态的光轴。

参照图9，将投受光处理进行3个循环(3次扫描)，假设每一个循环(1次扫描)都设定浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域的情况。在第一个循环(第一次扫描)中，多条光轴B1～Bn中的光轴B3、B4处于被物体OB遮挡的状态。因此，将浮动光轴数量设定为“2”，并且将作为被物体OB遮挡的区域的光轴B3、B4，设定为浮动有效区域。此外，将允许光轴数量设定为“0”。

在第二个循环(第二次扫描)中，通过物体OB移动，光轴B4～B6变为遮挡状态。即，在第二个循环(第二次扫描)中，光轴B3脱离遮挡区域，另一方面，光轴B5、B6新进入遮挡区域。因此，基于第一个循环(第一次扫描)中的遮挡区域(光轴B3、B4)与第二个循环(第二次扫描)中的遮挡区域(光轴B4～B6)的逻辑或的结果，来将光轴B3～B6设定为浮动有效区域。

进一步地，在第二个循环(第二次扫描)中，基于遮挡区域(光轴B4～B6)，将浮动光轴数量设定为“3”。第二个循环(第二次扫描)的浮动光轴数量(遮挡光轴数量的最大值)与第一个循环(第一次扫描)的浮动光轴数量(遮挡光轴数量的最小值)之差等于“1”(＝3-2)，将“1”设定为允许光轴数量。

在第三个循环(第三次扫描)中，通过物体OB进一步地移动，光轴B5～B7变为遮挡状态。与第二个循环(第二次扫描)相比较，在第三个循环(第三次扫描)中，光轴B3、B4脱离遮挡区域，另一方面，光轴B7新进入遮挡区域。因此，在基于第二个循环(第二次扫描)中的浮动有效区域(光轴B3～B6)与第三个循环(第三次扫描)中的遮挡区域(光轴B5～B7)的逻辑或的结果，来将光轴B3～B7设定为浮动有效区域。

在第三个循环(第三次扫描)中，基于遮挡区域(光轴B5～B7)，来将浮动光轴数量设定为“3”。第二个循环(第二次扫描)以及第三个循环(第三次扫描)的浮动光轴数量(遮挡光轴数量的最大值)，与第一个循环(第一次扫描)的浮动光轴数量(遮挡光轴数量的最小值)之差等于“1”(＝3-2)，将“1”设定为允许光轴数量。

如这样，对每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时所取得的遮挡区域以及遮挡光轴数量进行比较，基于比较的结果，来设定浮动有效区域、浮动光轴数量以及允许光轴数量。此外，浮动有效区域相当于每个循环(每次扫描)的遮挡区域的逻辑或的结果。浮动光轴数量相当于每个循环(每次扫描)的遮挡光轴数量的最大值。允许光轴数量相当于每个循环(每次扫描)的遮挡光轴数量的最大值(浮动光轴数量)与每个循环(每次扫描)的遮挡光轴数量的最小值之差。这些设定值中的每个值都反映出在实际应用中物体OB的位置变化。因此，若采用本实施方式的学习处理，则能够准确且迅速地将浮动有效区域、浮动光轴数量以及允许光轴数量设定为在实际应用中的最佳值。

图10是说明用于浮动消隐的学习处理的流程图。此外，在图10以及其他的附图中所记载的处理是由与多光轴光电传感器系统100的控制有关的功能块来执行的。因此，并不仅限定于特定的功能块来执行以下说明的处理。即，例如，流程图的各步骤的处理能够由通信单元4的微机36，处理电路16、26，以及个人电脑5中的任一者来执行。

参照图10，首先判断学习是否开始(步骤S11)。例如，能够通过参照输入至PC5的输入部55的参数、或者设于投光部1或者受光部2的开关的设定，来判断学习是否开始。

在被赋予向学习模式移动的命令并开始进行学习的情况下(步骤S11中的是(YES))，就学习处理部80(图7)而言，每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，针对检测区域LC的各光轴，取得表示是否处于遮挡状态的判断结果的信息(以下，也称为“遮挡信息”)(步骤S12)。

当基于取得的遮挡信息来检测遮挡区域以及遮挡光轴数量时，学习处理部80分别比较检测到的遮挡区域以及遮挡光轴数量，与上个循环(上次扫描)中检测到的遮挡区域以及遮挡光轴数量(步骤S13)。学习处理部80基于比较结果，来判断本次循环(本次扫描)中的遮挡光轴数量是否比上个循环(上次扫描)中的遮挡光轴数量增加。学习处理部80还判断本次循环(本次扫描)中的遮挡区域是否比上个循环(上次扫描)中的遮挡区域扩大(步骤S14)。

在本次循环(本次扫描)中的遮挡光轴数量比上个循环(上次扫描)中的遮挡光轴数量增加的情况下(步骤S14中的是(YES))，学习处理部80将遮挡光轴数量的最大值更新为本次循环(本次扫描)中的遮挡光轴数量(步骤S15)。另外，在本次循环(本次扫描)中的遮挡区域比上个循环(上次扫描)中的遮挡区域扩大的情况下(步骤S14中的是(YES))，学习处理部80以包含扩大后的遮挡区域的方式来更新遮挡区域信息(步骤S15)。

学习处理部80在进行学习的过程中，积累遮挡信息、遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息。在本实施方式中，用于积累遮挡信息、遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息的存储装置并不是特定的。例如，可以在投光部1的存储电路14、受光部2的存储电路29以及通信单元4的存储电路39中的任一者中积累数据。或者，也可以在个人电脑5的外部存储装置59或者记录介质61中积累数据。

进一步地，学习处理部80在进行学习的过程中，能够向用户提示存储装置中所积累的遮挡信息、遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息。例如，在本发明的实施方式中，提示遮挡信息、遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息的提示部，能够通过利用个人电脑5的显示部57进行画面显示来实现。此外，只要提示部能够向多光轴光电传感器系统100的外部输出遮挡信息、遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息，其手段并不是限定的。例如，遮挡信息、遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息可以通过印刷装置进行打印输出，也可以输出至外部存储装置59或者记录介质61。或者，也能够将遮挡信息、遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息，输出至便携式设备、作为生产设备的控制装置的控制器或者管理生产设备的网络。

以下，学习处理部80判断学习是否完成(步骤S16)。学习按照学习模式结束命令(图5)而结束。例如，通过参照输入至个人电脑5的输入部55的参数，或者设于投光部1或者受光部2的开关的设定，能够判断是否被赋予学习模式结束命令。或者，学习处理部80也可以基于当从开始进行学习模式继续进行了规定时间时个人电脑5的控制部51产生的学习模式结束命令，来判断为学习处理已完成。

在学习尚未完成的情况下(步骤S16中的否(NO))，学习处理部80继续进行步骤S12～S15的处理。即，学习处理部80每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，就检测遮挡区域以及遮挡光轴数量，并依次积累检测到的遮挡区域作为遮挡区域信息，并且依次积累检测到的遮挡光轴数量作为遮挡光轴数量信息。而且，当学习完成时(步骤S16中的是(YES))，学习处理部80基于积累的遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息，计算浮动有效区域、浮动光轴数量以及允许光轴数量(步骤S17)。使用与上述的遮挡信息以及遮挡区域信息同样的提示部，向用户提示计算出的浮动有效区域、浮动光轴数量以及允许光轴数量。

通过学习处理设定的浮动有效区域、浮动光轴数量以及允许光轴数量被赋予检测处理部70(图7)。在检测模式下将浮动消隐功能设定为有效(导通(on))的情况下，检测处理部70使用这些设定值来进行物体检测处理。图11是说明本实施方式的多光轴光电传感器系统中的物体检测处理的流程图。

参照图11，当被赋予学习模式结束命令而切换至检测模式时，每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，检测处理部70就针对检测区域LC的各光轴取得表示是否处于遮挡状态的判断结果的信息(遮挡信息)(步骤S01)。

以下，检测处理部70判断是否将浮动消隐功能设定为有效(步骤S02)。在被赋予消隐导通(on)指令而将浮动消隐功能设定为有效的情况下(步骤S02中的是(YES))，当基于取得的遮挡信息来检测遮挡光轴数量时，检测处理部70比较检测到的遮挡光轴数量与最大光轴数量(步骤S03)。最大光轴数量相当于通过上述的学习处理而设定的浮动光轴数量。即，最大光轴数量相当于在学习处理中的各个循环(各次扫描)中所取得的遮挡光轴数量中的最大值。

在遮挡光轴数量大于最大光轴数量的情况下(步骤S03中的是(YES))，检测处理部70判断为除了被物体OB遮挡的一部分光轴以外的光轴也被遮挡。因此，检测处理部70输出表示“检测出”状态的信号(步骤S07)。机械的电源供给电路当从多光轴光电传感器系统100接收到表示“检测出”状态的信号时，通过停止对机械的电源供给来在确保安全的状态下移动机械。

另一方面，在遮挡光轴数量变为小于或等于最大光轴数量的情况下(步骤S03中的否(NO))，检测处理部70继续比较检测到的遮挡光轴数量与最小光轴数量(步骤S04)。最小光轴数量相当于从浮动光轴数量中减去允许光轴数量得到的值。即，最小光轴数量相当于在学习处理中的各个循环(各次扫描)中所取得的遮挡光轴数量的最小值。

在遮挡光轴数量小于最小光轴数量的情况下(步骤S04中的是(YES))，检测处理部70判断为物体OB从检测区域LC内离开，或者判断为在检测区域LC中的物体OB的尺寸变小。在如这样的情况下，检测处理部70也会输出表示“检测出”状态的信号(步骤S07)。即，检测处理部70判断为消隐功能的异常，并强制性地停止机械的动作。

另一方面，在遮挡光轴数量大于或等于最小光轴数量的情况下(步骤S04中的否(NO))，检测处理部70判断为消隐功能正常，且，除了被物体OB遮挡的一部分光轴以外的光轴未被遮挡，并输出表示“非检测出”状态的信号(步骤S05)。

与此相对，在被赋予消隐断开(off)指令，来将浮动消隐功能设定为无效的情况下(步骤S02中的否(NO))，检测处理部70在基于取得的遮挡信息来检测遮挡光轴数量时，判断检测到的遮挡光轴数量是否大于或等于1(步骤S06)。在检测到的遮挡光轴数量大于或等于1的情况下(步骤S06中的是(YES))，检测处理部70判断为构成检测区域LC的多条光轴中的至少一条被遮挡，并输出表示“检测出”状态的信号(步骤S07)。另一方面，在遮挡光轴数量小于1，即遮挡光轴数量是0的情况下(步骤S06中的否(NO))，检测处理部70判断为检测区域LC完全未被遮挡，并输出表示“非检测出”状态的信号(步骤S08)。

此外，在本实施方式中，采用浮动光轴数量作为最大光轴数量，并针对采用从浮动光轴数量中减去允许光轴数量得到的值作为最小光轴数量的结构进行举例，但是并不仅限于该结构。在本实施方式中，最大光轴数量以及最小光轴数量，只要是基于比较学习处理中的各个循环(各次扫描)中所取得的遮挡光轴数量的结果来设定的即可。

例如，也可以将通过学习处理而设定的浮动光轴数量加上规定的光轴数量得到的值，设定为最大光轴数量。浮动光轴数量相当于用于判断是否是物体OB造成一部分光轴被遮挡的判断值。规定的光轴数量是对于该判断值设置的富余(余量)。规定的光轴数量是在比较考量了多光轴光电传感器系统的安全功能与生产现场的生产性之后，能够设定为任意的值。

进一步地，也可以将从浮动光轴数量中减去允许光轴数量得到的值，再减去规定的光轴数量得到的值设定为“最小光轴数量”。从浮动光轴数量中减去允许光轴数量得到的值是用于检测如下情况的判断值，该情况是指，物体OB从检测区域LC内离开，或者在检测区域LC中的物体OB的尺寸变小。规定的光轴数量是对于该消隐监视功能的判断值设置的富余。规定的光轴数量是在比较考量多光轴光电传感器系统的安全功能与生产现场的生产性之后，能够设定为任意的值。

或者，也可以在将从浮动光轴数量中减去允许光轴数量得到的值，设定为最小光轴数量之后，将该最小光轴数量加上规定的光轴数量得到的值，设定为最大光轴数量。或者，还可以在将浮动光轴数量设定为最大光轴数量之后，将该最大光轴数量减去规定的光轴数量得到的值，设定为最小光轴数量。

另外，作为用于进行物体检测处理的控制结构，针对如下的结构进行了距离表示。就该结构而言，在检测处理部70中，首先遮挡判断部72(图8)综合各光轴的有无遮挡的判断结果，来判断作为检测区域LC整体有无遮挡，然后，消隐处理部74(图8)根据将浮动消隐功能设定为有效的情况，针对遮挡判断部72的判断结果中的一部分光轴，使判断结果无效化。但是并不仅限于该结构。例如，如图12所示，在将浮动消隐功能设定为有效的情况下，消隐处理部74也可以根据学习处理部80所赋予的浮动光轴数量以及允许光轴数量，来设定最大光轴数量以及最小光轴数量，并将该设定值赋予遮挡判断部72。在这种情况下，遮挡判断部72分别比较从遮挡信息取得的遮挡光轴数量、最大光轴数量以及最小光轴数量，并基于该比较结果来输出检测信号。

[本实施方式的作用效果]

若采用本发明的实施方式，则基于通过使用特定物体进行学习，而积累的各光轴的有无遮挡的判断结果，来设定与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值。具体地，基于通过学习取得的遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息，来设定与浮动消隐功能有关的设定值(最大光轴数量、浮动光轴数量)以及与消隐功能有关的设定值(最小光轴数量、允许光轴数量)。通过这样，能够将与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值，准确且迅速地设定为在实际应用中的最佳值。

在现有的多光轴光电传感器中，由于一般地，通过复杂的计算或者使用实机的试误法来设定这些设定值，所设定需要很多的时间。因此，当生产设备启动，或者替换生产设备中的机械时，存在动作量增大的问题。特别是，针对用于使消隐监视功能无效化的允许光轴，由于用户凭感觉设定，或者通过上述的试误法来设定，所以存在难以迅速设定准确值的问题。

与此相对，在本发明的实施方式中使用特定物体进行学习，基于通过学习取得的各光轴的有无遮挡的判断结果，来设定与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值。因此，设定值反映在实际应用上的物体位置的变化。因此，能够将与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值，准确且迅速设定为在实际应用中的最佳值。

特别是，若采用本发明的实施方式，则能够将作为与消隐监视功能有关的设定值的允许光轴数量，迅速地设定为在实际应用中的最佳值。因此，能够防止在实际应用中，因物体的位置的不规则变化而导致生产设备停止。即，若采用本发明的实施方式，则能够简单地构成可以兼顾生产性与安全性的多光轴光电传感器系统。

[其他的实施方式]

本发明的多光轴光电传感器系统，通过以下所示的实施方式，也能够得到与上述的实施方式同样的作用效果。

(1)实时显示处理：

本发明中的学习处理部，能够基于在各循环中进行投受光处理而积累的各光轴的有无遮挡的判断结果，来更新与浮动消隐功能有关的设定值。然后，学习处理部在进行学习的过程中，执行用于实时显示已更新的设定值的处理。该显示处理能够使用例如多光轴光电传感器SNS的显示电路19、32(图3)或者个人电脑5的显示部57(图4)来进行。用户能够通过监视所显示的设定值，来判断学习是否正常进行。

(2)异常检测处理：

在与浮动消隐功能有关的设定值超出规定的允许范围以外的情况下，本发明中的学习处理部会进行向用户提示警告的处理。图13是说明用于浮动消隐的进行学习的过程中的异常检测处理的流程图。

参照图13，通过与图10同样的步骤S11，来判断学习是否开始。在学习开始的情况下(步骤S11中的是(YES))，学习处理部80(图7)取得表示浮动有效区域的允许范围的信息(步骤S21)。浮动有效区域的允许范围能够基于检测区域LC内存在的物体OB(图1)的可移动范围来设定。

以下，学习处理部80每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)，而取得遮挡信息时(步骤S22)，基于遮挡信息来检测遮挡区域。然后，学习处理部80通过比较检测到的遮挡区域与浮动有效区域的允许范围，来判断允许范围外的光轴是否处于遮挡状态(步骤S23)。

学习处理部80在允许范围外的光轴处于遮挡状态的情况下(步骤S23中的是(YES))，向用户提示警告(步骤S24)。通过这样，能够使用户知道，由于设定值不是准确的值，所以必需重新进行学习。因此，能够防止基于不适当的设定值使浮动消隐功能动作。此外，警告的提示能够通过例如显示灯10、20的光的闪烁来进行。

另一方面，在遮挡区域位于允许范围内的情况下(步骤S23中的否(NO))，学习处理部80通过与图10同样的步骤S13～S17来进行学习，并计算浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域。使用与上述的遮挡信息以及遮挡区域信息同样的提示部，来向用户提示计算出的浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域。

(3)过滤处理：

本发明中的学习处理部80在进行学习的过程中进行如下的过滤处理，该过滤处理是将每扫描多条光轴时积累的各光轴的有无遮挡判断结果，减去异常值。图14是说明用于浮动消隐的进行学习的过程中的过滤处理的流程图。

参照图14，当通过与图10同样的步骤S11、S12，开始进行学习时，学习处理部80每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，就取得遮挡信息。学习处理部80判断取得的遮挡信息是否正常(步骤S121)。具体地，学习处理部80判断在处于遮挡状态的多条光轴中，是否包含被除了物体OB以外的其他物体遮挡的光轴。在判断为包含被除了物体OB以外的其他物体遮挡的光轴的情况下，学习处理部80判断为遮挡信息异常。在这种情况下，学习处理部80根据遮挡信息，来去除针对该光轴的判断结果(异常值)(步骤S122)。

以下，学习处理部80通过与图10同样的步骤S13～S17来进行学习，并计算浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域。使用与上述的遮挡信息以及遮挡区域信息同样的提示部，来向用户提示计算出的浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域。

如上所述，在学习中，通过从遮挡判断部的判断结果中去除明显的异常值，能够准确地设定与浮动消隐功能有关的设定值。此外，过滤处理可以预先设定于开始学习之前，也可以是用户参照积累的各光轴的有无遮挡的判断结果，来手动去除异常值。

(4)检测区域选择处理：

本发明的学习处理部能够在检测区域内，设定多个与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值。如图15所示，在机械的结构上，检测区域内存在有多个物体OB1、OB2。在如这样的结构中，在有些情况下，谋求使浮动消隐功能对于每个物体都独立动作。在上述的结构中，学习处理部80将检测区域LC分割为多个检测区域LC1～LCm(m是大于或等于2的整数)，对每个检测区域进行学习。

图16是说明进行用于浮动消隐的学习的过程中的检测区域选择处理的流程图。参照图16，通过与图10同样的步骤S11，来判断学习是否开始。在开始进行学习的情况下(步骤S11中的是(YES))，学习处理部80取得表示从多个检测区域LC1～LCm中选择出的检测区域的信息(步骤S31)。能够基于检测区域LC内存在的至少一个物体OB1、OB2(图14)的位置以及尺寸，来选择被当作学习的对象的检测区域。

以下，学习处理部80，在每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，取得选择出的检测区域中的遮挡信息(步骤S32)。学习处理部80通过与图10同样的步骤S13～S17来进行学习，计算浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域。使用与上述的遮挡信息以及遮挡区域信息同样的提示部，来向用户提示计算出的浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域。

通过如这样的结构，在检测区域LC内存在有多个物体的情况下，能够对每个物体都准确且迅速地设定与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值。此外，在检测处理部70将浮动消隐功能设定为有效的情况下，能够同时使用对每个检测区域设定的设定值，也能够切换使用对每个检测区域设定的设定值。即，检测处理部70根据在检测区域LC内存在的物体的位置以及尺寸，能够适当地选择最佳的设定值。

进一步地，若采用上述的结构，则学习处理部80基于对于从多条光轴中选择出的光轴的有无遮挡的判断结果，能够设定与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值。通过这样，根据在检测区域LC内存在的物体OB的位置以及尺寸，通过预先从多条光轴中选择当作学习的对象的光轴，能够减轻学习所需要的负担。另外，在进行学习的过程中，在除了学习对象的光轴以外的光轴被遮挡状态的情况下，学习处理部80能够判断为除了特定的物体OB以外的物体进入检测区域LC内，并向用户提示警告。因此，能够确保在进行学习的过程中的安全性。

(5)传感器选择处理：

在本发明中的多光轴光电传感器系统也能够适用于如下的结构，该结构连结多个多光轴光电传感器SNS的投光部1之间，并且连结受光部2之间。图17示出具有多个多光轴光电传感器SNSA～SNSC的多光轴光电传感器系统的一个例子。参照图17，3个投光部1A～1C沿着与光轴垂直的方向排列为直线状。3个受光部2A～2C以分别与3个投光部1A～1C相向的方式，沿着与光轴垂直的方向配置为直线状。

在如这样的结构中，学习处理部80能够将多个多光轴光电传感器SNSA～SNSC视为一体，来进行学习处理，也能够对每个多光轴光电传感器进行学习处理。在将多个多光轴光电传感器SNSA～SNSC视为一体来进行学习处理的情况下，学习处理部80将形成于多个投光部1A～1C与多个受光部2A～2C之间的多条光轴，视为一体的检测区域，并基于该多条光轴的遮挡判断结果，来设定与消隐功能有关的设定值。

另一方面，在对每个多光轴光电传感器进行学习处理的情况下，能够从多个多光轴光电传感器SNSA～SNSC中，选择当作进行学习处理的对象的至少一个多光轴光电传感器。例如，就该选择而言，也可以是用户能够使用个人电脑5的输入部55(图6A、图6B)，来选择当作数据的积累以及分析的对象的多光轴光电传感器。

图18是进行用于浮动消隐的学习过程中的多光轴光电传感器选择处理的流程图。参照图18，通过与图10同样的步骤S11，来判断学习是否已开始。在学习开始的情况下(步骤S11中的是(YES))，学习处理部80取得表示从多个多光轴光电传感器SNSA～SNSC中选择出的多光轴光电传感器的信息(步骤S41)。

以下，学习处理部80每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，就取得选择出的多光轴光电传感器的检测区域LC的遮挡信息步骤S42)。学习处理部80通过与图10同样的步骤S13～S17来进行学习，计算浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域。使用与上述的遮挡信息以及遮挡区域信息同样的提示部，来来向用户提示计算出的浮动光轴数量、允许光轴数量以及浮动有效区域。

(6)物体动作速度检测处理：

本发明中的学习处理部80在用于浮动消隐的学习处理中，基于在各循环中进行投受光处理而积累的遮挡判断部的判断结果，能够检测特定的物体的动作速度。

图19是示出在进行用于浮动消隐的学习的过程中，在各循环中进行投受光处理而取得的遮挡信息的图。在每个循环(每次扫描)中取得的遮挡信息，表示物体OB在循环(扫描)进行投受光处理的时机的位置。如图19所示，将与光轴垂直的方向作为y轴方向。能够根据处于遮挡状态的光轴B3、B4，来求出第一个循环(第一次扫描)的物体OB的位置(坐标y1)。同样地，能够根据在各个循环(各次扫描)中处于遮挡状态的光轴，来求出第二个循环(第二次扫描)以及第三个循环(第三次扫描)的物体OB的位置(坐标y2，y3)。

第一个循环(第一次扫描)的物体OB的位置(坐标y1)与第二个循环(第二次扫描)的物体OB的位置(坐标y2)之差，相当于在一个循环(一次扫描)的时间中的物体OB的移动距离。基于该物体OB的移动距离以及一个循环(一次扫描)的时间，能够计算物体OB的动作速度。

图20是说明进行用于浮动消隐的学习的过程中的物体的动作速度检测处理的流程图。参照图20，首先，判断学习是否已开始(步骤S51)。例如，通过参照输入至PC5的输入部55的参数，或者参照设于投光部1或者受光部2的开关的设定，能够判断学习是否已开始。

在被赋予向学习模式移动的命令来开始进行学习的情况下(步骤S51中的是(YES))，学习处理部80每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，取得遮挡信息(步骤S52)。

学习处理部80当基于取得的遮挡信息来检测物体OB的位置(y坐标)时(步骤S53)，基于检测到的物体OB的位置、在上个循环(上次扫描)中检测到的物体OB的位置，来计算在一个循环(一次扫描)的时间中的物体OB的移动距离。然后，学习处理部80基于计算出的物体OB的移动距离以及一个循环(一次扫描)的时间，来计算物体OB的动作速度(步骤S54)。学习处理部80以包含本次循环(本次扫描)中的物体OB的动作速度的方式，来更新动作速度信息(步骤S55)。

学习处理部80在进行学习的过程中，将动作速度信息与遮挡信息、遮挡区域信息以及遮挡光轴数量信息一起进行积累。进一步地，学习处理部80在进行学习的过程中，也能够向用户提示在存储装置中所积累的动作速度信息。

以下，学习处理部80判断学习是否已完成(步骤S56)。在学习未完成的情况下(步骤S56中的否(NO))，学习处理部继续进行步骤S53～S55的处理。即，学习处理部80每将投受光处理进行一个循环(一次扫描)时，就计算物体OB的动作速度，依次积累计算出的物体OB的动作速度作为动作速度信息。

当学习完成时(步骤S56中的是(YES))，学习处理部80从积累的动作速度信息中，提取动作速度的上限值以及下限值。然后，学习处理部80基于提获取的动作速度的上限值以及下限值，来设定动作速度的允许范围(步骤S57)。使用提示部将已设定的动作速度的允许范围与浮动有效区域、浮动光轴数量以及允许光轴数量一起向用户进行提示。

(7)物体动作异常检测处理：

当通过进行上述(6)的物体动作速度检测处理，来设定物体OB的动作速度的设定范围时，学习处理部80在从学习模式移动至检测模式之后，在浮动消隐的执行中，使用上述设定范围来进行检测物体OB的动作异常的处理。具体地，学习处理部80在浮动消隐的执行中，检测物体OB的动作速度，并且比较检测到的动作速度与允许范围。通过这样，在当处于检测模式时机械失控，物体以超出允许范围的速度来动作的情况下，学习处理部80能够检测机械侧的异常，并通知用户。

图21是说明在浮动消隐的执行中，物体的动作异常检测处理的流程图。参照图21，首先，判断检测模式是否已开始(步骤S61)。例如，通过参照输入至PC5的输入部55的参数，或者参照设于投光部1或者受光部2的开关的设定，能够判断检测模式是否已开始。

在被赋予学习模式结束命令而开始进入检测模式的情况下(步骤S61中的是(YES))，学习处理部80通过与图20同样的步骤S52～S55，基于在浮动消隐的执行中所取得的遮挡信息，来检测物体OB的位置，计算物体OB的动作速度以及更新动作速度信息。

进一步地，学习处理部80比较计算出的物体OB的动作速度与动作速度的允许范围(步骤S66)。在物体OB的动作速度超出允许范围的情况下(步骤S66中的否(NO))，学习处理部80向用户提示警告(步骤S67)。警告的提示能够通过例如显示灯10、20的光的闪烁来进行。

(8)最大允许尺寸提示处理：

本发明中的学习处理部80能够基于与浮动消隐功能有关的设定值，来计算可以适用该设定值的物体的大小的范围。例如，如图9所示，在浮动光轴数量是“3”，且允许光轴数量是“1”的情况下，能够适用这些设定值的物体的尺寸属于遮挡光轴数量大于或等于2且小于或等于3的范围。学习处理部80能够通过利用例如个人电脑5的显示部57来进行画面显示，来向用户提示计算出的物体的大小的范围。

(9)设定输入接收处理：

本发明的多光轴光电传感器系统还具有输入部，该输入部用于接收来自用户的设定输入。输入部接收与如下的条件有关的设定，该条件是学习处理部80用于设定与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值的条件。具体地，当进行学习时，用户能够选择将与浮动消隐功能以及消隐监视功能有关的设定值，设定为重视安全性的值，或者设定为重视生产性的值。例如，在用于浮动消隐的学习处理中，在重视安全性的情况下，基于遮挡光轴数量信息，来将计算出的浮动光轴数量加上规定富余得到的值设定为浮动光轴数量。另一方面，在重视生产性的情况下，基于遮挡光轴数量信息，来将计算出的允许光轴数量加上规定富余得到的值设定为允许光轴数量。如这样，通过将与浮动消隐功能有关的设定值的设定条件设置为可调整的，能够提高用户的便利性。

本发明公开的实施方式是举例示出的，并不仅限定于上述内容。本发明的范围由权利要求的范围来表示，并谋求包含与权利要求的范围等同的意思以及范围内的全部的变更。

Claims (8)

1.一种多光轴光电传感器系统，其特征在于，具有：

投光部，具有排列配置为直线状的多个投光元件，

受光部，具有与所述多个投光元件分别相向配置的多个受光元件，

检测处理部，将形成于所述多个投光元件与所述多个受光元件之间的多个光轴作为检测区域，每将光轴的选择动作进行一个循环时都判断所述多个光轴中的各光轴是否处于遮光状态，基于该判断结果来输出检测信号；

在能够在所述检测区域内移动的物体导致所述多个光轴中的至少任一个光轴经常处于遮光状态的情况下，当处于遮光状态的光轴的数量大于预先设定的最大光轴数量时，所述检测处理部输出所述检测信号，

当所述处于遮光状态的光轴的数量小于预先设定的最小光轴数量时，所述检测处理部也输出所述检测信号。

2.如权利要求1所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

还具有教学处理部，所述教学处理部通过使用所述物体来进行学习，设定所述最大光轴数量以及所述最小光轴数量，

所述教学处理部，每将光轴的选择动作进行一个循环时，都取得因所述物体导致处于遮光状态的光轴数量，并且基于比较在各循环中取得的遮光光轴数量而得出的结果，来设定所述最大光轴数量以及所述最小光轴数量。

3.如权利要求2所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述教学处理部，将在所述各循环中取得的遮光光轴数量中的最小值，或者将该最小值减去规定的光轴数量而得到的值，设定为所述最小光轴数量。

4.如权利要求2所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述教学处理部，将在所述各循环中取得的遮光光轴数量中的最大值，或者将该最大值加上规定的光轴数量而得到的值，设定为所述最大光轴数量。

5.如权利要求2所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述教学处理部，将在所述各循环中取得的遮光光轴数量中的最小值，加上规定的光轴数量而得到的值，设定为所述最大光轴数量。

6.如权利要求2所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述教学处理部，将在所述各循环中取得的遮光光轴数量中的最大值，减去规定的光轴数量得到的值，设定为所述最小光轴数量。

7.如权利要求2～6中的任一项所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述教学处理部，被设于所述投光部以及所述受光部中的至少一者中。

8.如权利要求1～7中的任一项所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述检测处理部，被设于所述投光部以及所述受光部中的至少一者中。