CN105122125B - 液晶显示器及液晶显示器检测方法和电子装置 - Google Patents

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Abstract

一种液晶显示器(10)，包括玻璃基板(12)及驱动芯片(14)，驱动芯片(14)用于驱动液晶显示器(10)，液晶显示器(10)还包括测试线(16)，测试线(16)形成于玻璃基板(12)中，且靠近玻璃基板(12)的边缘延伸，驱动芯片(14)包括输入引脚和输出引脚，测试线(16)的两端分别连接至输入引脚和输出引脚，以形成闭合环路，通过测量测试线(16)是否通路判断玻璃基板(12)是否存在裂纹。还提供一种电子装置(200)和液晶显示器(10)检测方法。通过检测测试线(16)的是否通路判断玻璃基板(12)是否有裂纹，能够实现不拆机自动检测，提高了检测效率。

Description

液晶显示器及液晶显示器检测方法和电子装置
技术领域
本发明涉及液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)，尤其涉及一种具有LCD玻璃裂纹检测架构的LCD及LCD检测方法和包含所述LCD的电子装置。
背景技术
LCD在裂片、组装等制程及电子装置整机组装过程中，由于组装工艺、组装设备等问题可能导致LCD单层玻璃裂，即微裂纹，针对微裂纹检测，现有技术中通过人工肉眼检查或通过显微镜镜检。然而，人工肉眼检查对细微裂纹容易出现漏检，显微镜镜检视野过小，检测区域无法完全覆盖整个玻璃的所有边缘区域，也存在极大的漏检可能性；另外，无论是人工肉眼检查还是显微镜镜检，都需要将电子产品拆机，将LCD拆下后检测，检测过程复杂。
发明内容
本发明实施例提供了一种LCD及LCD检测方法和包含所述LCD的电子装置，用于自动化检测LCD是否存在裂纹。
一方面，本发明提供了一种液晶显示器，包括玻璃基板及驱动芯片，所述驱动芯片设置于所述玻璃基板上，用于驱动所述液晶显示器，所述液晶显示器还包括测试线，所述测试线形成于所述玻璃基板中，且靠近所述玻璃基板的边缘延伸，所述驱动芯片包括输入引脚和输出引脚，所述测试线的两端分别连接至所述输入引脚和所述输出引脚形成闭合环路。
其中，所述测试线包括至少两条单线，所述至少两条单线并联连接于所述输入引脚和所述输出引脚之间。
其中，所述输入引脚的数量为一个，所述输出引脚的数量亦为一个，所述至少两条单线的一端合并且连接至所述输入引脚，所述至少两条单线的另一端合并且连接至所述输出引脚。
其中，所述玻璃基板包括上层板和下层板，所述上层板包括层叠设置的彩膜、彩膜保护层和上液晶配向膜，所述下层板包括层叠设置的公共电极层、像素电极层和下液晶配向膜，所述测试线形成于所述公共电极层的边缘处或形成于所述像素电极层的边缘处，通过在所述下层板上的走线将所述测试线电连接至所述驱动芯片。
其中，所述玻璃基板包括上层板和下层板，所述上层板包括层叠设置的彩膜、彩膜保护层和上液晶配向膜，所述下层板包括层叠设置的公共电极层、像素电极层和下液晶配向膜，所述测试线形成于所述上层板，且位于所述上液晶配向膜的外围，所述液晶显示器还包括导电片，所述导电片形成于所述下层板且位于所述下液晶配向膜的外围，通过导电胶将所述测试线电连接至所述导电片，通过在所述下层板上的走线将所述测试线电连接至所述驱动芯片。
本发明还提供一种电子装置，包括CPU和柔性电路板，所述电子装置还包括上述任意一项所述的液晶显示器，所述液晶显示器与所述CPU通过所述柔性电路板电连接，所述CPU用于判断所述测试线是否通路。
另一方面，本发明还提供一种液晶显示器检测方法，所述液晶显示器检测方法包括：在玻璃基板上形成测试线，所述测试线靠近所述玻璃基板的边缘延伸；将所述测试线的两端分别连接至驱动芯片的输入引脚和输出引脚，使得所述测试线形成闭合环路；在所述驱动芯片的输入引脚端输入电压，并在所述输出引脚端测量所述闭合环路的电流值或测量所述闭合环路的阻抗值；将所述电流值或所述阻抗值反馈至电子装置的CPU，所述CPU用于判断所述测试线是否通路，从而判断所述玻璃基板是否存在裂纹。
其中，在玻璃基板上形成测试线的过程包括将至少两条单线并联连接于所述输入引脚和所述输出引脚之间。
其中，将所述至少两条单线的一端合并且连接至所述输入引脚，将所述至少两条单线的另一端合并且连接至所述输出引脚，所述输入引脚的数量为一个，所述输出引脚的数量亦为一个。
其中，所述玻璃基板包括上层板和下层板，所述上层板包括层叠设置的彩膜、彩膜保护层和上液晶配向膜，所述下层板包括层叠设置的公共电极层、像素电极层和下液晶配向膜，所述测试线形成于所述公共电极层的边缘处或形成于所述像素电极层的边缘处，通过在所述下层板上的走线将所述测试线电连接至所述驱动芯片。
其中，所述玻璃基板包括上层板和下层板，所述上层板包括层叠设置的彩膜、彩膜保护层和上液晶配向膜，所述下层板包括层叠设置的公共电极层、像素电极层和下液晶配向膜，所述测试线形成于所述上层板，且位于所述上液晶配向膜的外围，所述液晶显示器还包括导电片，所述导电片形成于所述下层板且位于所述下液晶配向膜的外围，通过导电胶将所述测试线电连接至所述导电片，通过在所述下层板上的走线将所述测试线电连接至所述驱动芯片。
其中，通过沉积或蒸镀的方法将所述测试线形成在所述玻璃基板上，所述测试线的材质为铟锡氧化物。
相较于现有技术，本发明提供的液晶显示器、电子装置及液晶显示器检测方法通过检测测试线的是否通路判断玻璃基板是否有裂纹，能够实现不拆机自动检测，提高了检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一种实施方式中电子装置及液晶显示器的示意图。
图2为本发明一种实施方式之液晶显示器的示意图。
图3为本发明的液晶显示器的玻璃基板的第一种实施方式的放大示意图。
图4为本发明的液晶显示器的玻璃基板的第二种实施方式的放大示意图。
图5为本发明的液晶显示器的玻璃基板的第三种实施方式的放大示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，本发明涉及一种液晶显示器10及使用所述液晶显示器10的电子装置200，电子装置200包括CPU30、柔性电路板20及液晶显示器10，所述柔性电路板20电连接于所述液晶显示器10与所述CPU30之间，本发明在液晶显示器10的玻璃基板12上设置测试线16，通过电子装置200的CPU30判断所述液晶显示器10之所述测试线16是否通路，进而判断液晶显示器10的玻璃基板12是否存在裂纹。
液晶显示器10包括玻璃基板12及驱动芯片14，所述驱动芯片14设置于所述玻璃基板12上用于驱动所述液晶显示器10的显示，所述液晶显示器10还包括测试线16，所述测试线16形成于所述玻璃基板12中，且靠近所述玻璃基板12的边缘延伸。通过沉积或者蒸镀的工艺方法形成于玻璃基板12，沉积的方法包括磁控溅射低温沉积、电化学沉积、溅射沉积、化学气相沉积等。所述测试线16与玻璃基板12形成一体，若玻璃基板12出现裂纹，裂纹通常出现在玻璃基板12边缘位置，测试线16形成在玻璃基板12边缘位置，连续延伸成环形结构，若玻璃基板12边缘开裂，测试线16也会随之断裂。本实施方式中，测试线16的材质为铟锡氧化物(ITO)。所述驱动芯片14包括输入引脚和输出引脚，所述测试线16的两端分别连接至所述输入引脚和所述输出引脚形成闭合环路，这样，通过检测所述测试线16是否通路即可判断所述玻璃基板12是否存在裂纹。实际中，可以通过将所述液晶显示器与测试装置相连接以检测所述测试线16是否通路，也可直接通过安装有该液晶显示器的电子装置进行检测，例如，电子装置的CPU，或者电子装置中内置的检测软件等。
液晶显示器10的驱动芯片14用于驱动液晶显示器10显示图案，但驱动芯片14均包括一些闲置的引脚，本发明利用了驱动芯片14的闲置引脚作为连接测试线16的输入引脚和输出引脚，在生产的过程中，只需要在玻璃基板12边缘形成测试线16，无需其它额外的成本产生。
本发明提供的液晶显示器10及电子装置200通过检测测试线16的是否通路判断玻璃基板12是否有裂纹，能够实现不拆机自动检测，如果玻璃基板12有裂纹，导致测试线16断路，驱动芯片14将驱动芯片14输出引脚处所测量的所述闭合环路的电流值或测量所述闭合环路的阻抗值反馈给CPU30，通过电子装置200测试软件判断玻璃基板12是否有裂纹，提高了检测效率。
本发明的测试线16的数量可以为一条或者多条，实现相同的目的。一种实施方式中，所述测试线16包括至少两条单线162，所述至少两条单线162并联连接于所述输入引脚和所述输出引脚之间。如图1所示，本实施方式中，测试线16包括三条单线162。至少两条单线162并联的设计，能够更好的覆盖测试范围，同时，能够排除制作过程的工艺不良或异物导致的单条测试线16开路，造成误判玻璃基板12开裂。
请参阅图2，所述输入引脚的数量为一个，所述输出引脚的数量亦为一个，所述至少两条单线162的一端合并且连接至所述输入引脚，所述至少两条单线162的另一端合并且连接至所述输出引脚。也就是说，本实施方式中，是将至少两条单线162的两端均合并成一条，这样，测试线16只需要两个驱动芯片14的引脚，即一个输入引脚和一个输出引脚，节约使用驱动芯片14的引脚，为电子装置200增加其它的功能提供了空间。
本实施方式中，所述玻璃基板12为双层玻璃，请参阅图3-图5，所述玻璃基板12包括上层板11和下层板13，其中，上层板11为彩膜112基板位于电子装置200的表层，下层板13为薄膜晶体管开关电路基板(TFT电路玻璃基板)。所述上层板11包括层叠设置的彩膜112、彩膜保护层114和上液晶配向膜116，所述下层板13包括层叠设置的公共电极层132、信号线层137、像素电极层134和下液晶配向膜136。
第一种实施方式中，如图3所示，所述测试线16形成于所述像素电极层134的边缘处，通过在所述下层板13上的走线将所述测试线16电连接至所述驱动芯片14。本实施方式的测试线16用于检测下层板13是否存在裂纹。
第二种实施方式中，如图4所示，所述测试线16形成于所述公共电极层132的边缘处，通过在所述下层板13上的走线将所述测试线16电连接至所述驱动芯片14。本实施方式的测试线16用于检测下层板13是否存在裂纹。
第三种实施方式中，如图5所示，所述测试线16形成于所述上层板11，且位于所述上液晶配向膜116的外围，所述液晶显示器10还包括导电片18，所述导电片18形成于所述下层板13且位于所述下液晶配向膜136的外围，通过导电胶19将所述测试线16电连接至所述导电片18，通过在所述下层板13上的走线将所述测试线16电连接至所述驱动芯片14。本实施方式的测试线16用于检测上层板11是否存在裂纹。
若需要同时检测上层板11与下层板13是否存在裂纹，则可以同时使用上述第三种实施方式与第一种实施方式，或者同时使用上述第三种实施方式与第二种实施方式。
另一方面，本发明还提供一种液晶显示器10检测方法，所述液晶显示器10检测方法包括：在玻璃基板12上形成测试线16，所述测试线16靠近所述玻璃基板12的边缘延伸；将所述测试线16的两端分别连接至驱动芯片14的输入引脚和输出引脚，使得所述测试线16形成闭合环路；在所述驱动芯片14的输入引脚端输入电压，并在所述输出引脚端测量所述闭合环路的电流值或测量所述闭合环路的阻抗值；将所述电流值或所述阻抗值反馈至电子装置200的CPU30，所述CPU30用于判断所述液晶显示器10之所述测试线16是否通路，从而判断所述玻璃基板12是否存在裂纹。
在玻璃基板12上形成测试线16的过程包括将至少两条单线162并联连接于所述输入引脚和所述输出引脚之间。
将所述至少两条单线162的一端合并且连接至所述输入引脚，将所述至少两条单线162的另一端合并且连接至所述输出引脚，所述输入引脚的数量为一个，所述输出引脚的数量亦为一个。
所述玻璃基板12包括上层板11和下层板13，所述上层板11包括层叠设置的彩膜112、彩膜保护层114和上液晶配向膜116，所述下层板13包括层叠设置的公共电极层132、像素电极层134和下液晶配向膜136，所述测试线16形成于所述公共电极层132的边缘处或形成于所述像素电极层134的边缘处，通过在所述下层板13上的走线将所述测试线16电连接至所述驱动芯片14。通过在下层板13的公共电极层132或像素电极层134通过沉积或蒸镀的方法形成测试线16，在下层板13上制作公共电极或像素电极的同时，只需要修改公共电极层132或者像素电极层134的掩模设计，无需增加物料成本及设备占用成本。本实施方式中是针对下层板13的裂纹检测。
针对上层板11的裂纹检测方法如下，将所述测试线16形成于所述上层板11，且位于所述上液晶配向膜116的外围，所述液晶显示器10还包括导电片18，所述导电片18形成于所述下层板13且位于所述下液晶配向膜136的外围，通过导电胶19将所述测试线16电连接至所述导电片18，通过在所述下层板13上的走线将所述测试线16电连接至所述驱动芯片14。
本发明通过沉积或者蒸镀的方法将所述测试线16形成在所述玻璃基板上，所述测试线16的材质为铟锡氧化物。沉积的方法包括磁控溅射低温沉积、电化学沉积、溅射沉积、化学气相沉积等。

Claims (8)

1.一种液晶显示器，包括玻璃基板及驱动芯片，所述驱动芯片设置于所述玻璃基板上，用于驱动所述液晶显示器，其特征在于，所述液晶显示器还包括测试线，所述测试线形成于所述玻璃基板中，且靠近所述玻璃基板的边缘延伸，所述驱动芯片包括输入引脚和输出引脚，所述测试线的两端分别连接至所述输入引脚和所述输出引脚形成闭合环路，所述玻璃基板包括上层板和下层板，所述上层板包括层叠设置的彩膜、彩膜保护层和上液晶配向膜，所述下层板包括层叠设置的公共电极层、像素电极层和下液晶配向膜，通过修改所述公共电极层或者所述像素电极层的掩模设计，在所述下层板上制作所述公共电极或所述像素电极的同时形成所述测试线，所述测试线形成于所述公共电极层的边缘处或形成于所述像素电极层的边缘处，通过在所述下层板上的走线将所述测试线电连接至所述驱动芯片。
2.如权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述测试线包括至少两条单线，所述至少两条单线并联连接于所述输入引脚和所述输出引脚之间。
3.如权利要求2所述的液晶显示器，其特征在于，所述输入引脚的数量为一个，所述输出引脚的数量亦为一个，所述至少两条单线的一端合并且连接至所述输入引脚，所述至少两条单线的另一端合并且连接至所述输出引脚。
4.一种电子装置，包括CPU和柔性电路板，其特征在于，所述电子装置还包括如权利要求1-3任意一项所述的液晶显示器，所述液晶显示器与所述CPU通过所述柔性电路板电连接，所述CPU用于判断所述测试线是否通路。
5.一种液晶显示器检测方法，其特征在于，所述液晶显示器检测方法包括：
在玻璃基板上形成测试线，所述测试线靠近所述玻璃基板的边缘延伸；
所述玻璃基板包括上层板和下层板，所述上层板包括层叠设置的彩膜、彩膜保护层和上液晶配向膜，所述下层板包括层叠设置的公共电极层、像素电极层和下液晶配向膜，通过修改所述公共电极层或者所述像素电极层的掩模设计，在所述下层板上制作所述公共电极或所述像素电极的同时形成所述测试线，所述测试线形成于所述公共电极层的边缘处或形成于所述像素电极层的边缘处，通过在所述下层板上的走线将所述测试线电连接至驱动芯片；
将所述测试线的两端分别连接至所述驱动芯片的输入引脚和输出引脚，使得所述测试线形成闭合环路；
在所述驱动芯片的输入引脚端输入电压，并在所述输出引脚端测量所述闭合环路的电流值或测量所述闭合环路的阻抗值；
将所述电流值或所述阻抗值反馈至电子装置的CPU，所述CPU用于判断所述测试线是否通路，从而判断所述玻璃基板是否存在裂纹。
6.如权利要求5所述的液晶显示器检测方法，其特征在于，在玻璃基板上形成测试线的过程包括将至少两条单线并联连接于所述输入引脚和所述输出引脚之间。
7.如权利要求6所述的液晶显示器检测方法，其特征在于，将所述至少两条单线的一端合并且连接至所述输入引脚，将所述至少两条单线的另一端合并且连接至所述输出引脚，所述输入引脚的数量为一个，所述输出引脚的数量亦为一个。
8.如权利要求5-7任意一项所述的液晶显示器检测方法，其特征在于，通过沉积或蒸镀的方法将所述测试线形成在所述玻璃基板上，所述测试线的材质为铟锡氧化物。
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