CN104808276B - 偏振板的保存方法、消除或降低偏振板所具有的起伏缺陷的方法、以及偏振板的制造方法 - Google Patents

Abstract

一种包含偏振片及层叠在其上的保护膜的偏振板，所述偏振板的保存方法及制造方法包括：准备偏振板的工序，在23℃相对湿度55％的环境下保存了1周时，所述偏振板在某一边产生高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边产生3个以上的起伏缺陷；以及保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率的环境下保存。

Description

偏振板的保存方法、消除或降低偏振板所具有的起伏缺陷的 方法、以及偏振板的制造方法

技术领域

本发明涉及在液晶显示装置等图像显示装置中适宜使用的偏振板的保存方法、消除或降低偏振板所具有的起伏缺陷的方法、以及偏振板的制造方法。

背景技术

作为液晶显示装置，广泛使用的是具备包括液晶元件及贴合于其表裏的偏振板的液晶面板、和收纳液晶面板的壳体，并且将用于遮盖液晶面板及表侧偏振板的周边部的边框设置于壳体的表侧的液晶显示装置。该边框从设计性等观点出发，要求使宽度更窄。

另一方面，偏振板通常具有在偏振片的单面或两面通过胶粘剂层贴合有保护膜的层叠结构(例如日本特开2004－245925号公报)。偏振片与保护膜通常材质不同，或许出于这个原因，在制造后的保存中偏振板有时呈波状产生起伏变形(也称波弯。)。在本说明书中，将这样的偏振板变形为波状的外观上的缺陷称为“起伏缺陷”。

发明内容

起伏缺陷尤其在偏振板尺寸大时，容易在产生的起伏的高度和/或数量上变得显著。若偏振板产生起伏缺陷，例如举应用于液晶显示装置的情况为例，通过粘合剂层贴合偏振板与液晶元件时，在粘合剂层与液晶元件的贴合界面，特别是在贴合界面的周边部或其近旁容易混入气泡。若该气泡在液晶面板的图像显示区域内产生，则可能在亮灯时成为亮点而降低观察性(視認性)。因此，对于偏振板，尤其是应用于使用了上述那样的边框宽度窄的壳体的液晶显示装置、且更靠近偏振板周边部的区域被用于图像显示区域的偏振板，要求充分降低到在与液晶元件贴合时没有起伏缺 陷、或者起伏缺陷不产生上述的气泡混入、伴随其的观察性降低的问题的程度。

因此，本发明的目的在于提供能够维持实质上没有起伏缺陷的状态、或者能够将起伏缺陷抑制到不产生上述的气泡混入、伴随其的观察性降低的问题的程度的偏振板的保存方法。另外，本发明的另一目的在于提供实质上能够消除产生了起伏缺陷的偏振板的该起伏缺陷、或者能够将起伏缺陷抑制到不产生上述问题的程度的方法。本发明的另一目的在于提供实质上没有起伏缺陷、或者将起伏缺陷抑制到不产生上述问题的程度的偏振板的制造方法。

本发明提供以下所示的偏振板的保存方法、消除或降低偏振板所具有的起伏缺陷的方法、以及偏振板的制造方法。

[1]一种偏振板的保存方法，其包括：

准备偏振板的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且所述偏振板在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时，在某一边产生高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边产生3个以上的起伏缺陷；以及

保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率的环境下保存所述偏振板。

[2]一种消除或降低偏振板所具有的起伏缺陷的方法，其包括：

准备偏振板的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且所述偏振板在某一边具有高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边具有3个以上的起伏缺陷；以及

保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于保存前的偏振板水分率的环境下保存所述偏振板。

[3]一种偏振板的制造方法，其包括：

准备偏振板的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且所述偏振板在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时，在某一边产生高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边产生3个以上的起伏缺陷；以及

保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于在23℃相对 湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率的环境下保存所述偏振板。

[4]一种偏振板的制造方法，其包括：

准备偏振板的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且所述偏振板在某一边具有高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边具有3个以上的起伏缺陷；以及

保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于保存前的偏振板水分率的环境下保存所述偏振板。

[5]如[1]～[4]中任一项所述的方法，其中，所述保存工序包括在相对湿度为30～50％的环境下保存偏振板的工序。

[6]如[1]～[5]中任一项所述的方法，其中，在所述保存工序中偏振板保存于密封容器内。

[7]如[1]～[5]中任一项所述的方法，其中，在所述保存工序中偏振板保存于加入了除湿剂的密封容器内。

[8]如[1]～[7]中任一项所述的方法，其中，在所述准备工序中准备的偏振板具有长边为700mm以上且短边为400mm以上的方形形状。

[9]如[1]～[8]中任一项所述的方法，其中，所述保护膜中的至少1个是选自聚烯烃系树脂膜及(甲基)丙烯酸系树脂膜中的热塑性树脂膜。

根据本发明，能够提供在与例如液晶元件之类的其它构件的贴合时实质上没有起伏缺陷、或起伏缺陷被抑制到不产生上述的气泡混入、伴随其的观察性降低的问题的程度的偏振板。

附图说明

图1是表示具有起伏缺陷的偏振板的一例的侧视图。

图2是表示本发明的保存方法、消除或降低起伏缺陷的方法、以及供于偏振板的制造方法的偏振板的层结构的一例的示意剖视图。

具体实施方式

＜偏振板的保存方法＞

本发明涉及的偏振板的保存方法包括如下工序：

(1)准备偏振板A的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且偏振板A在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时，在某一边产生高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边产生3个以上的起伏缺陷；以及

(2)保存偏振板A的工序，在保存后的偏振板水分率低于在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率的环境下保存偏振板A。

以下，对各工序进行说明。

(1)准备偏振板A工序

本发明涉及的供于偏振板的保存方法的偏振板A是在通常的保存条件下容易产生伴随上述那样的气泡混入、伴随其的观察性降低的问题的起伏缺陷的偏振板，具体来说，参照图1，所述偏振板A是在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时，在某一边产生高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边产生3个以上的起伏缺陷的偏振板。具有这样的起伏缺陷的偏振板极其容易产生上述问题。图1是表示具有起伏缺陷的偏振板的一例的侧视图，示出了该偏振板中产生了起伏缺陷的边。图1的例子中，该边具有5个起伏缺陷(图1中的波状变形W、X及Z)，其中的1个为高度超过3mm的起伏缺陷(图1中的波状变形W)。

起伏缺陷的高度是指从将偏振板载置于平面台时的平面台到起伏缺陷顶部的高度。该高度在偏振板的边(端部)进行测定。另外，起伏缺陷的数量是实质上可以看到的起伏缺陷的数量，具体来说，是将偏振板载置于平面台时距离平面台高度为0.5mm以上的起伏缺陷的数量。因此，如图1所示的Y那样距离平面台高度低于0.5mm的波状变形不算作起伏缺陷。图1所示的波状变形Z的高度为0.5mm，算作起伏缺陷。起伏缺陷的数量也在偏振板的边(端部)进行测定。需要说明的是，如图1所示的K那样，即使偏振板的边(端部)的头(角部)从平面台浮起也不算作起伏缺陷。

偏振板A的形状没有特别限制，但优选长边为700mm以上且短边为400mm以上的方形(典型而言是长方形)的偏振板纸页体。在比这尺寸更小的偏振板中，起伏缺陷一般难以成为问题。作为纸页体的偏振板A 可以通过例如对制造成长尺寸体的偏振板进行剪裁而得到。本说明书中“准备偏振板A”还包括获得(制造)偏振板A。

偏振板A的层结构只要具备偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜就没有特别限制，但在供实用前的保存时，例如在液晶显示装置用的偏振板中，在贴合于液晶元件前的保存时，偏振板通常具有用于贴合于液晶元件的粘合剂层，且通常设置用于保护该粘合剂层的表面(外表面)的隔膜、用于保护保护膜的表面(外表面)的防护膜(表面保护膜)，因此，偏振板A优选在偏振片及保护膜的基础上，还具有粘合剂层、隔膜及防护膜。

偏振板A的层结构的一例示于图2。图2所示的偏振板1包含：偏振片10；贴合于偏振片10的一面的第1保护膜20；贴合于偏振片10的另一面的第2保护膜30；层叠于第2保护膜30的外表面的粘合剂层40；层叠于粘合剂层40的外表面的隔膜50；层叠于第1保护膜20的外表面的防护膜60。

偏振片10是具有吸收具有平行于光学轴的振动面的直线偏振、而透射具有垂直于光学轴的振动面的直线偏振的性质的光学膜，例如可以是被单轴拉伸、取向吸附有二色性色素的聚乙烯醇系树脂膜。作为二色性色素，可以使用碘或二色性有机染料。构成偏振片10的聚乙烯醇系树脂除了作为聚乙酸乙烯酯的皂化物的聚乙烯醇之外，还可以是作为乙酸乙烯酯与能够与其共聚的其它单体(例如乙烯或不饱和羧酸等)的共聚物的皂化物的乙烯醇系共聚物。偏振片10的厚度通常为5～40μm左右。

偏振片10可以经过以下工序来制造：对聚乙烯醇系树脂膜进行单轴拉伸的工序、用二色性色素对聚乙烯醇系树脂膜进行染色而使其吸附该二色性色素的工序、用硼酸水溶液对吸附有二色性色素的聚乙烯醇系树脂膜进行处理的工序、以及在利用硼酸水溶液的处理后进行水洗的工序。二色性色素的染色可以通过将膜浸渍于含有二色性色素的水溶液中来进行，利用硼酸水溶液的处理可以通过将膜浸渍于硼酸水溶液中来进行。

聚乙烯醇系树脂膜的单轴拉伸可以在二色性色素的染色前、与染色同时、或者在染色后进行。在染色后进行单轴拉伸的情况下，该单轴拉伸可以在硼酸处理之前或在硼酸处理中进行。另外，也可以在这些多个阶段进行单轴拉伸。

第1及第2保护膜20、30可以是具有透光性的(优选光学上透明的)热塑性树脂膜。热塑性树脂的具体例包括：链状聚烯烃系树脂、环状聚烯烃系树脂(降冰片烯系树脂等)之类的聚烯烃系树脂；聚对苯二甲酸乙二醇酯之类的聚酯系树脂；甲基丙烯酸甲酯系树脂之类的(甲基)丙烯酸系树脂；纤维素三乙酸酯、纤维素二乙酸酯之类的纤维素系树脂；聚碳酸酯系树脂；聚乙烯醇系树脂；聚乙酸乙烯酯系树脂；聚芳酯系树脂；聚苯乙烯系树脂；聚醚砜系树脂；聚砜系树脂；聚酰胺系树脂；聚酰亚胺系树脂；以及它们的混合物、共聚物。需要说明的是，本说明书中的“(甲基)丙烯酸系树脂”表示选自由丙烯酸系树脂及甲基丙烯酸系树脂构成的组中的至少1种。在其它附加有“(甲基)”的用语中也同样。优选偏振板A所具有的保护膜的至少1个为选自由聚烯烃系树脂膜及(甲基)丙烯酸系树脂膜构成的组中的热塑性树脂膜。

第1保护膜20和第2保护膜30可以由同种热塑性树脂构成，也可以由不同种热塑性树脂构成。第1及第2保护膜20、30的厚度例如为5～200μm左右，优选为10～150μm，更优选为20～100μm。

粘合剂层40是用于将偏振板贴合于液晶元件之类的其它构件的层。作为构成粘合剂层40的粘合剂，可以举出例如(甲基)丙烯酸系粘合剂、聚氨酯系粘合剂、硅酮系粘合剂、聚酯系粘合剂、聚酰胺系粘合剂、聚醚系粘合剂、氟系粘合剂、橡胶系粘合剂等。其中，从透明性、粘合力、可靠性、再加工性等观点出发，优选使用(甲基)丙烯酸系粘合剂。粘合剂层40的厚度通常为2～40μm。

在保存或搬运偏振板、或进行检查时，隔膜50和防护膜60分别是以暂时保护粘合剂层40、第1保护膜20为目的而设置的。保护粘合剂层40的隔膜50在偏振板1供实用(例如贴合于液晶元件之类的其它构件)前剥离除去。另外，防护膜60通常在偏振板1供实用(例如贴合于液晶元件之类的其它构件)后，连同其粘合剂层一起剥离除去。

隔膜50通常由在单面实施了脱模处理的热塑性树脂膜构成，其脱模处理面与粘合剂层40贴合。另外，防护膜60通常在热塑性树脂膜的单面设置粘合剂层而构成。构成隔膜50和防护膜60的热塑性树脂可以是例如：聚乙烯之类的聚乙烯系树脂、聚丙烯之类的聚丙烯系树脂、聚对苯二甲酸 乙二醇酯或聚萘二甲酸乙二醇酯之类的聚酯系树脂等。对于防护膜60所具有的粘合剂层，引用关于上述的粘合剂层40的记述。

偏振板A的层结构不限于图2所示的例子，还可以是例如如下的层结构。

〔a〕省略了粘合剂层40、隔膜50及防护膜60中的任意1个以上的结构；

〔b〕省略了第1保护膜20及第2保护膜30中的任一个的结构；

〔c〕使用相位差膜之类的光学补偿膜作为第2保护膜30的结构；

〔d〕在第1保护膜20及第2保护膜30的基础上，具有相位差膜之类的光学补偿膜的结构。

上述〔b〕的一例是省略了第2保护膜30的结构，其适宜的具体例是，在与偏振片10中的防护膜60相反侧的一面直接层叠粘合剂层40，形成了防护膜60/第1保护膜20/偏振片10/粘合剂层40/隔膜50的层结构。

上述〔c〕的适宜的具体例是形成了防护膜60/第1保护膜20/偏振片10/相位差膜(第2保护膜30)/粘合剂层40/隔膜50的层结构。上述〔d〕的适宜的具体例是形成了防护膜60/第1保护膜20/偏振片10/第2保护膜30/相位差膜/粘合剂层40/隔膜50的层结构。

相位差膜是具有单轴或双轴等的光学各向异性的光学膜，可以是例如热塑性树脂的拉伸膜。热塑性树脂可以是对于第1及第2保护膜20、30在上面例示的热塑性树脂，除此之外，还可以使用聚偏二氟乙烯/聚甲基丙烯酸甲酯共聚物、液晶聚酯、乙酰纤维素、乙烯－乙酸乙烯酯共聚物的皂化物、聚氯乙烯等。拉伸倍率通常为1.01～6倍左右。

偏振片10与第1保护膜20及第2保护膜30(包括为相位差膜的情况。)可以使用胶粘剂或粘合剂(对于该粘合剂，引用关于上述的粘合剂层40的记述。)进行贴合。作为胶粘剂，可以使用水系胶粘剂，即，将胶粘剂成分溶于水或分散于水中而得的胶粘剂、或活性能量线固化性胶粘剂。

水系胶粘剂的胶粘剂成分可以是例如聚乙烯醇系树脂或聚氨酯树脂。活性能量线固化性胶粘剂可以是例如包含环氧系化合物、(甲基)丙烯酸系化合物等活性能量线固化性化合物、和聚合引发剂的固化性组合物。活 性能量线固化性胶粘剂可以是无溶剂型的胶粘剂，但也可以包含有机溶剂(水以外的溶剂)。若使用无溶剂型的胶粘剂，则不需要进行用于除去溶剂的干燥处理。使用活性能量线固化性胶粘剂的情况下，通过胶粘剂贴合膜后，照射可见光线、紫外线、X射线、电子射线等活性能量线、优选紫外线而使胶粘剂层固化。

使用水系胶粘剂的情况下，通过胶粘剂贴合的膜层叠体通常被实施干燥处理，进行胶粘剂层的水分除去。在这种情况下，贴合于偏振片10的膜为透湿度低的热塑性树脂膜时，有时干燥时间变长而生产率降低，或不能使水系胶粘剂中的水分充分干燥，而粘接力降低。在这点上，活性能量线固化性胶粘剂即使在贴合透湿度低的热塑性树脂膜的情况下也没有产生上述问题的风险，因此有利。

在偏振片10上贴合透湿度低的热塑性树脂膜的情况下，与偏振片10的水分率之差变大，偏振板的起伏缺陷有变大的倾向。因此，使用透湿度低的热塑性树脂膜作为第1保护膜20和/或第2保护膜30(包括为相位差膜的情况。)的情况下，本发明尤其有效。透湿度低的热塑性树脂膜的具体例可以举出：链状聚烯烃系树脂、环状聚烯烃系树脂(降冰片烯系树脂等)之类的聚烯烃系树脂；甲基丙烯酸甲酯系树脂之类的(甲基)丙烯酸系树脂。

(2)保存偏振板A的工序

在保存后的偏振板水分率S1低于在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率S0的环境下，保存本工序中偏振板A。需要说明的是，此处所说的保存包括搬运偏振板A等的情况。

如上所述偏振板A是在23℃相对湿度55％、1周下的保存条件下在某一边产生高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边产生3个以上的起伏缺陷的偏振板，但若利用按照本工序的保存方法，则能够边维持实质上没有起伏缺陷的状态、或者边将起伏缺陷抑制到不产生气泡混入、伴随其的观察性降低的问题的程度，即，能够在任何一边均不产生高度超过3mm的起伏缺陷、且在任何一边均不产生3个以上的起伏缺陷的状态下保存偏振板。

偏振板水分率通过下面的干燥试验求出。即，从测定对象的偏振板 切出200mm×300mm的试样，对于该试样，在设定为105℃的烘箱内干燥2小时进行干燥试验。将干燥试验前的试样的重量设为W0，将干燥试验后的试样的重量设为W1时，偏振板水分率(％)由下述式定义。

偏振板水分率(％)＝100×{(W0－W1)/W0}

从有效地抑制起伏缺陷的观点出发，保存后的偏振板A的偏振板水分率S1优选为在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率S0的0.9倍以下(S1≤0.9S0)，更优选为0.85倍以下(S1≤0.85S0)。需要说明的是，通常，偏振板水分率S1为偏振板水分率S0的0.5倍以上(S1≥0.5S0)。

为了在偏振板水分率S1低于在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率S0的环境下保存，作为其具体方法，优选在低湿度条件下保存偏振板A的方法。作为在低湿度条件下保存的方法，可以举出：将具有防水性(防湿性)和阻气性的可密封的膜包装体用作密封容器，用它来密封包装偏振板A的方法；将可密封的塑料制容器或金属制容器等用作密封容器，用它来密封包装偏振板A的方法等。

另外，从有效地抑制起伏缺陷的观点出发，本工序优选包括在相对湿度为30～50％的环境下保存偏振板A的工序，更优选包括在将内部的相对湿度设为30～50％的上述那样的密封容器内保存偏振板A的工序，进一步优选包括在将内部的相对湿度设为35～45％的上述那样的密封容器内保存偏振板A的工序。若在相对湿度低于30％的环境下保存，则起伏缺陷的高度有变大的倾向。另外，若在相对湿度超过50％的环境下保存，则起伏缺陷的数量有增加的倾向。

将密封容器内的相对湿度设为上述范围(降低密封容器内的相对湿度)的适宜方法是将低湿度的不活泼气体(氮气、空气等)或干燥剂之类的除湿剂放入密封容器内。在使用不活泼气体的情况下，在向密封容器内导入不活泼气体从而用该气体置换后的状态下密封包装偏振板A即可。在使用干燥剂的情况下，在密封容器内放入干燥剂，与偏振板A一起密封包装即可。

作为低湿度的空气，可以使用干燥空气、例如用压缩机压缩的仪表空气(計装空気)(其相对湿度通常为40％水平以下。)。作为干燥剂，可 以使用各种多孔体，例如硅胶(シリカゲル)(硅胶A型、硅胶B型等)、分子筛、活性碳等。

本发明还涉及包括在上述的环境下保存上述的偏振板A的工序的偏振板的制造方法。该偏振板的制造方法包括下面的工序：

(1’)准备偏振板A的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且偏振板A在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时，在某一边产生高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边产生3个以上的起伏缺陷；以及

(2’)保存偏振板A的工序，在保存后的偏振板水分率低于在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率的环境下保存偏振板A。

对于工序(1’)及(2’)的详细内容，引用上述的关于工序(1)及(2)的记述。根据该偏振板的制造方法，能够提供实质上没有起伏缺陷、或者将起伏缺陷抑制到不产生上述的气泡混入、伴随其的观察性降低的问题的程度的偏振板。

＜消除或降低起伏缺陷的方法＞

本发明涉及的消除或降低起伏缺陷的方法包括下面的工序：

(I)准备偏振板B的工序，所述偏振板B包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且偏振板B在某一边具有高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边具有3个以上的起伏缺陷；以及

(II)保存偏振板B的工序，在保存后的偏振板水分率低于保存前的偏振板水分率的环境下保存偏振板B。

供于本发明涉及的消除或降低起伏缺陷的方法的偏振板B是产生伴随上述那样的气泡混入、伴随其的观察性降低的问题的起伏缺陷的偏振板，具体来说，是在某一边具有高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边具有3个以上的起伏缺陷的偏振板。起伏缺陷的高度和数量的含义和测定方法与上述相同。

偏振板B的形状没有特别限制，但优选是长边为700mm以上且短边为400mm以上的方形(典型来说是长方形)的偏振板纸页体。在比这尺 寸更小的偏振板中，起伏缺陷一般难以成为问题。作为纸页体的偏振板B可以是例如在剪裁制造成长尺寸体的偏振板后，在某种条件下保存、搬运等过程中产生起伏缺陷的偏振板。对于偏振板B的层结构，引用关于偏振板A的记述。在本说明书中“准备偏振板B”还包括得到(制造)偏振板B。

按照上述工序(II)，通过在保存后的偏振板水分率T1低于保存前的偏振板水分率T0的环境下保存偏振板B，能够实质上消除偏振板B的起伏缺陷，或者能够将起伏缺陷抑制到不产生气泡混入、伴随其的观察性降低的问题的程度。即，能够得到在任一边均没有高度超过3mm的起伏缺陷、且在任一边均没有3个以上的起伏缺陷的偏振板。需要说明的是，此处所说的保存也包括搬运偏振板B等情况。偏振板水分率的求得方法如上所述。

从有效地消除或降低起伏缺陷的观点出发，保存后的偏振板B的偏振板水分率T1优选为保存前的偏振板水分率T0的0.9倍以下(T1≤0.9T0)，更优选为0.85倍以下(T1≤0.85T0)。需要说明的是，通常，偏振板水分率T1为偏振板水分率T0的0.5倍以上(T1≥0.5T0)。

为了在保存后的偏振板水分率T1低于保存前的偏振板水分率T0的环境下进行保存，其具体方法可以与用于在上述的偏振板水分率S1低于在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率S0的环境下保存偏振板A的具体方法同样。

从有效地消除或降低起伏缺陷的观点出发，上述工序(II)优选包括在相对湿度为30～50％的环境下保存偏振板B的工序，更优选包括在将内部的相对湿度设为30～50％的密封容器内保存偏振板B的工序，进一步优选在将内部的相对湿度设为35～45％的密封容器内保存偏振板B的工序。若在相对湿度低于30％的环境下保存，则起伏缺陷的高度有变大的倾向。另外，若在相对湿度超过50％的环境下保存，则起伏缺陷的数量有增加的倾向。对于将密封容器内的相对湿度设为上述范围(降低密封容器内的相对湿度)的具体方法，引用关于保存偏振板A的方法的记述。

本发明还涉及包括在上述环境下保存上述偏振板B的工序的偏振板的制造方法。该偏振板的制造方法包括下面的工序：

(I’)准备偏振板B的工序，所述偏振板B包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且偏振板B在某一边具有高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边具有3个以上的起伏缺陷；以及

(II’)保存偏振板B的工序，在保存后的偏振板水分率低于保存前的偏振板水分率的环境下保存偏振板B。

对于工序(I’)及(II’)的详细内容，引用上述的关于工序(I)及(II)的记述。根据该偏振板的制造方法，能够提供实质上没有起伏缺陷、或将起伏缺陷抑制到不产生上述的气泡混入、伴随其的观察性降低的问题的程度的偏振板。

实施例

以下，示出实施例进一步具体地说明本发明，但本发明并不受这些例子的限定。

＜实验1＞

〔1〕偏振板的制作

准备具有图2所示的结构的长尺寸的偏振板。该偏振板的层结构是：厚度75μm的防护膜60(包含(甲基)丙烯酸系粘合剂层和聚对苯二甲酸乙二醇酯膜)/厚度80μm的第1保护膜20((甲基)丙烯酸系树脂膜)/厚度23μm的偏振片10(吸附取向有碘的聚乙烯醇膜)/厚度50μm的第2保护膜30(包含环状聚烯烃系树脂的相位差膜)/厚度25μm的粘合剂层40((甲基)丙烯酸系粘合剂层)/厚度38μm的隔膜50(聚对苯二甲酸乙二醇酯膜)。将该长尺寸的偏振板剪裁成1220mm×690mm的长方形，得到纸页体的偏振板A。

〔2〕偏振板A的保存

对于在上面得到的纸页体的偏振板A，在下述参考例1、比较例1及实施例1～2这四种条件下实施保存工序。下述四种保存工序在切出纸页体的偏振板A后立即实施。

(参考例1)

不将200片偏振板A容纳于容器中，而在23℃相对湿度55％的环境下保存7天。

(比较例1)

在开口部的口边具有橡胶填充物、且不透过水分的塑料容器中放入200片偏振板A，进行密封，在23℃的环境下保存10天。保存开始最初的相对湿度为55％，保存10天后的相对湿度为53％。在容器内的温度及湿度的测定中，使用“Thermo Recorder(おんどとり)”(T&D Corporation公司制Tr－72Ui)(以下同样。)。

(实施例1)

在与比较例1中使用的容器相同的塑料容器中，放入200片偏振板A，并加入硅胶A型(Fujigel Sangyo Ltd.制CP系列)10g，进行密封，在23℃的环境下保存10天。保存开始最初的相对湿度为55％，保存10天后的相对湿度为42％。

(实施例2)

在与比较例1中使用的容器相同的塑料容器中放入200片偏振板A后，将23℃相对湿度30％的仪表空气导入容器内进行填充并密封，在23℃的环境下保存10天。保存开始最初的相对湿度为45％，保存10天后的相对湿度为47％。

〔3〕保存后的偏振板的评价

就下述项目评价保存工序后的偏振板。结果示于表1。

(偏振板水分率)

从保存工序后的偏振板200片中随机抽取1片，对于该偏振板进行上述的干燥试验，按照上述定义式算出偏振板水分率。需要说明的是，保存前(刚剪裁后)的偏振板A的偏振板水分率为1.8％。

(起伏缺陷的数量和高度)

从保存工序后的偏振板200片中随机抽取1片，对于该偏振板将防护膜60侧朝下载置于平面台，测定偏振板的各边上的起伏缺陷的数量(如上所述，仅限于高度距离平面台为0.5mm以上的起伏缺陷。)、及起伏缺陷距离平面台的高度。在表1中，记载了具有最多的起伏缺陷的边上的起伏缺陷的数量、所有起伏缺陷中最高的起伏缺陷的高度。

(气泡的有无)

从保存工序后的偏振板200片中随机抽出1片，使用大型精密贴合 机(ClimbProducts公司制、HAL－1485)，通过偏振板的粘合剂层将该偏振板贴合于无碱玻璃(康宁公司制、EAGLE XG)，以目视确认了粘合剂层与无碱玻璃的贴合界面的周边部有无气泡。

[表1]

＜实验2＞

〔1〕偏振板A的保存

对于实验1中制作的纸页体的偏振板A，在下述的比较例2及实施例3～5这四种的条件下实施保存工序。下述四种保存工序在切出纸页体的偏振板A后立即实施。

(比较例2)

作为具有防水性和阻气性的膜包装体，在将铝薄膜作为防湿层、并多层层压有阻气性树脂膜的蒸煮袋(Kaito Chemical Industry(株)制)中放入30片偏振板A，进行密封，在23℃的环境下保存10天。保存开始最初的相对湿度为55％，保存10天后的相对湿度为50％。

(实施例3)

在与比较例2中使用的蒸煮袋相同的蒸煮袋中放入30片偏振板后，将23℃相对湿度30％的仪表空气导入容器内进行填充并密封，在23℃的 环境下保存10天。保存开始最初的相对湿度为36％，保存10天后的相对湿度为39％。

(实施例4)

在与比较例2中使用的蒸煮袋相同的蒸煮袋中放入30片偏振板后，将23℃的氮气导入容器内进行填充并密封，在23℃的环境下保存10天。保存开始最初的相对湿度为35％，保存10天后的相对湿度为36％。

(实施例5)

在与比较例2中使用的蒸煮袋相同的蒸煮袋中，放入30片偏振板A，并加入硅胶A型(Fujigel Sangyo Ltd.制CP系列)10g，进行密封，在23℃的环境下保存10天。保存开始最初的相对湿度为55％，保存10天后的相对湿度为35％。

〔2〕保存后的偏振板的评价

对于保存工序后的偏振板，与实验1同样地进行偏振板水分率、起伏缺陷的数量及高度、气泡的有无的评价。结果示于表2。需要说明的是，表2中，为了进行比较，将参考例1的保存条件与评价结果同时示出。

[表2]

＜实验3＞

〔1〕偏振板B的保存(起伏缺陷的消除或降低)

对于由参考例1得到的保存工序后的偏振板(偏振板B)，在下述的实施例6～7这两种的条件下实施保存工序，进行起伏缺陷的消除或降低。

(实施例6)

在与比较例1中使用的塑料容器相同的塑料容器中放入200片偏振板B后，将23℃相对湿度30％的仪表空气导入容器内进行填充并密封，在23℃的环境下保存5天。保存开始最初的相对湿度为44％(相对湿度通过仪表空气的导入时间进行调整。)，保存5天后的相对湿度为45％。

(实施例7)

在与比较例1中使用的塑料容器相同的塑料容器中放入200片偏振板B后，将23℃相对湿度30％的仪表空气导入容器内进行填充并密封，在23℃的环境下保存5天。保存开始最初的相对湿度为38％(相对湿度通过仪表空气的导入时间进行调整。)，保存5天后的相对湿度为40％。

〔2〕保存后的偏振板的评价

对于保存工序后的偏振板，与实验1同样地进行偏振板水分率、起伏缺陷的数量及高度、气泡的有无的评价。结果示于表3。需要说明的是，表3中，为了进行比较，将参考例1的保存条件与评价结果同时示出。 [表3]

Claims (17)

1.一种偏振板的保存方法，其包括：

准备偏振板的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且具有长边为700mm以上且短边为400mm以上的方形形状，所述偏振板在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时，在某一边产生高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边产生3个以上的起伏缺陷；以及

保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率的环境下保存所述偏振板，

所述保存偏振板的工序包括在相对湿度为30～50％的环境下保存偏振板的工序，

保存后的偏振板水分率S1为在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率S0的0.5倍以上且0.9倍以下。

2.一种消除偏振板所具有的起伏缺陷的方法，其包括：

准备偏振板的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且具有长边为700mm以上且短边为400mm以上的方形形状，所述偏振板在某一边具有高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边具有3个以上的起伏缺陷；以及

保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于保存前的偏振板水分率的环境下保存所述偏振板，

所述保存偏振板的工序包括在相对湿度为30～50％的环境下保存偏振板的工序，

保存后的偏振板水分率T1为保存前的偏振板水分率T0的0.5倍以上且0.9倍以下。

3.一种降低偏振板所具有的起伏缺陷的方法，其包括：

准备偏振板的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且具有长边为700mm以上且短边为400mm以上的方形形状，所述偏振板在某一边具有高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边具有3个以上的起伏缺陷；以及

保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于保存前的偏振板水分率的环境下保存所述偏振板，

所述保存偏振板的工序包括在相对湿度为30～50％的环境下保存偏振板的工序，

保存后的偏振板水分率T1为保存前的偏振板水分率T0的0.5倍以上且0.9倍以下。

4.一种偏振板的制造方法，其包括：

准备偏振板的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且具有长边为700mm以上且短边为400mm以上的方形形状，所述偏振板在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时，在某一边产生高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边产生3个以上的起伏缺陷；以及

保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率的环境下保存所述偏振板，

所述保存偏振板的工序包括在相对湿度为30～50％的环境下保存偏振板的工序，

保存后的偏振板水分率S1为在23℃相对湿度55％的环境下保存1周时的偏振板水分率S0的0.5倍以上且0.9倍以下。

5.一种偏振板的制造方法，其包括：

准备偏振板的工序，所述偏振板包含偏振片及层叠在其上的至少1个保护膜，且具有长边为700mm以上且短边为400mm以上的方形形状，所述偏振板在某一边具有高度超过3mm的起伏缺陷、或在某一边具有3个以上的起伏缺陷；以及

保存所述偏振板的工序，在保存后的偏振板水分率低于保存前的偏振板水分率的环境下保存所述偏振板，

所述保存偏振板的工序包括在相对湿度为30～50％的环境下保存偏振板的工序，

保存后的偏振板水分率T1为保存前的偏振板水分率T0的0.5倍以上且0.9倍以下。

6.如权利要求1所述的偏振板的保存方法，其中，

在所述保存工序中偏振板保存于密封容器内。

7.如权利要求2所述的消除偏振板所具有的起伏缺陷的方法，其中，

在所述保存工序中偏振板保存于密封容器内。

8.如权利要求3所述的降低偏振板所具有的起伏缺陷的方法，其中，

在所述保存工序中偏振板保存于密封容器内。

9.如权利要求4或5所述的偏振板的制造方法，其中，

在所述保存工序中偏振板保存于密封容器内。

10.如权利要求1所述的偏振板的保存方法，其中，

在所述保存工序中偏振板保存于加入了除湿剂的密封容器内。

11.如权利要求2所述的消除偏振板所具有的起伏缺陷的方法，其中，

在所述保存工序中偏振板保存于加入了除湿剂的密封容器内。

12.如权利要求3所述的降低偏振板所具有的起伏缺陷的方法，其中，

在所述保存工序中偏振板保存于加入了除湿剂的密封容器内。

13.如权利要求4或5所述的偏振板的制造方法，其中，

在所述保存工序中偏振板保存于加入了除湿剂的密封容器内。

14.如权利要求1所述的偏振板的保存方法，其中，

所述保护膜中的至少1个是选自聚烯烃系树脂膜及(甲基)丙烯酸系树脂膜中的热塑性树脂膜。

15.如权利要求2所述的消除偏振板所具有的起伏缺陷的方法，其中，

所述保护膜中的至少1个是选自聚烯烃系树脂膜及(甲基)丙烯酸系树脂膜中的热塑性树脂膜。

16.如权利要求3所述的降低偏振板所具有的起伏缺陷的方法，其中，

所述保护膜中的至少1个是选自聚烯烃系树脂膜及(甲基)丙烯酸系树脂膜中的热塑性树脂膜。

17.如权利要求4或5所述的偏振板的制造方法，其中，

所述保护膜中的至少1个是选自聚烯烃系树脂膜及(甲基)丙烯酸系树脂膜中的热塑性树脂膜。