JP6755223B2 - 偏光子、偏光板及び画像表示装置 - Google Patents

Description

本発明は、偏光子、偏光板及び画像表示装置に関する。

近年、液晶セル又は有機ＥＬ素子等を備える画像表示装置の薄肉化が求められている。したがって、画像表示装置用の偏光子も、薄いフィルム状に成形される。フィルム状の偏光子は脆くて裂け易いため、偏光子を保護するために、偏光板の製造では偏光子の両面に保護フィルムを貼合する。また偏光板の製造では、偏光板の寸法精度を高めるために、保護フィルム及び偏光子等から構成される積層体の端部を研磨する（例えば、特許文献１参照。）。

特許第３８７５３３１号公報

近年では、偏光板を薄くするために、偏光子の片面にのみ保護フィルムが貼合された偏光板の開発が行われている。しかしながら、片面にのみに保護フィルムが重なる偏光子では、両面に保護フィルムが重なる偏光子に比べて、クラック（亀裂）が生じ易い。このクラックは、温度変化に伴う偏光子の膨張又は収縮に起因する。特に偏光子の急激な温度変化（ヒートショック）によって、クラックが発生し易いことが判明した。

また近年では、デザイン性の向上のために、画像表示装置の額縁が狭いことが要求される。この要求に応じて、偏光板の端部にも高い寸法精度が要求される。偏光板の寸法を高い精度で調整するためには、保護フィルム及び偏光子等から構成される積層体の端部を高い精度で切削（研磨）する必要がある。しかし、片面にのみに保護フィルムが重なる偏光子では、両面に保護フィルムが重なる偏光子に比べて、切削時に偏光子の端面に負荷が掛かり易く、偏光子の端面が荒れ易い。この端面の粗さが、温度変化に伴う偏光子のクラックを引き起こす。特に、保護フィルムがない表面側に位置する偏光子の端面では、保護フィルムが重なる表面側に位置する偏光子の端面に比べて、クラックが発生し易いことが判明した。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、寸法の精度が高く、温度変化に伴うクラックが発生し難い偏光子、当該偏光子を備える偏光板、及び当該偏光板を含む画像表示装置を提供することを目的とする。

本発明の一側面に係る偏光子は、フィルム状の偏光子であって、偏光子の端面における粗さ曲線要素の平均高さＲｃが、０.０５〜１．７μｍである。平均高さＲｃが、０.０５〜０．２８μｍであってもよい。

本発明の一側面に係る偏光板は、上記の偏光子と、偏光子の一方の表面に重なる第一光学フィルムと、を備える。

本発明の一側面において、偏光子の一つの端面を囲む辺のうち第一辺は、第一光学フィルムに隣接し、端面を囲む辺のうち第二辺は、第一辺の反対側に位置し、端面のうち第二辺に沿う部分における二乗平均平方根粗さＲｑが、０．０３〜０．１５μｍであってよい。

本発明の一側面においては、第一光学フィルムが、保護フィルムであってよい。

本発明の一側面に係る偏光板は、偏光子の他方の表面に重なる粘着剤層と、粘着剤層に重なる第二光学フィルムと、を更に備えてよい。

本発明の一側面に係る偏光板は、第一光学フィルムに重なる粘着剤層と、粘着剤層に重なる第二光学フィルムと、を更に備えてもよい。

本発明の一側面においては、第二光学フィルムが、反射型偏光子であってよい。

本発明の一側面に係る画像表示装置は、上記の偏光板を含む。

本発明によれば、寸法の精度が高く、温度変化に伴うクラックが発生し難い偏光子、当該偏光子を備える偏光板、及び当該偏光板を含む画像表示装置を提供することができる。

図１中の（ａ）は、本発明の一実施形態に係る偏光板の模式的な斜視図であり、図１中の（ｂ）は、図１中の（ａ）に示す偏光板の端面の一部分（部分ｂ）の模式的な拡大図である。 本発明の一実施形態に係る偏光板の製造に用いる切削工具の側面図である。 図３に示す切削工具の正面図である。 図２に示す切削工具と、複数の偏光板から構成される積層体と、の位置を示す模式図である。 図３に示す切削工具と、複数の偏光板から構成される積層体と、の位置を示す模式図である。

以下、図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について説明する。図面において、同等の構成要素には同等の符号を付す。本発明は下記実施形態に限定されるものではない。各図に示すＸ，Ｙ及びＺは、互いに直交する３つの座標軸を意味する。各座標軸が示す方向は、全図に共通する。図視された寸法及び寸法の比率は、必ずしも実際のものとは一致しない。

［偏光子、偏光板及び画像表示装置］
図１中の（ａ）に示されるように、本実施形態に係る偏光板１は、フィルム状の偏光子２と、偏光子２の一方の表面に重なる第一光学フィルム（３）と、偏光子２の他方の表面に重なる感圧式粘着剤層５と、感圧式粘着剤層５に重なる第二光学フィルム（４）と、を備える。第一光学フィルムは、例えば保護フィルム３である。第二光学フィルムは、例えば反射型偏光子４である。偏光板１が備える偏光子２、並びに光学フィルム及び層の全ては、透明であってよい。本実施形態に係る偏光板１では、偏光子２の片面のみにおいて、光学フィルム（第一光学フィルム）が、感圧式粘着剤層を介することなく、接着剤層を介して偏光子２に直接密着している。

偏光子２、第一光学フィルム（３）、感圧式粘着剤層５及び第二光学フィルム（４）のいずれも、略同じ寸法を有する矩形である。偏光板１全体も矩形のフィルムである。ただし、偏光子２及び偏光板１等の各形状は、偏光板１が貼着される画像表示素子の表面の形状に依るので、限定されない。偏光子２及び偏光板１それぞれの形状は、例えば、多角形、円形又は楕円形であってよい。偏光子２及び偏光板１それぞれの輪郭の一部又は全部は、直線であってよく、曲線であってもよい。

本実施形態に係る画像表示装置は、例えば、液晶表示装置又は有機ＥＬ表示装置であってよい。液晶表示装置は、例えば、液晶セルと、液晶セルの一方の表面又は両表面に貼着された偏光板１とを含んでよい。有機ＥＬ表示装置は、例えば、有機ＥＬ素子と、有機ＥＬ素子の表面に貼着された偏光板１、とを含んでよい。液晶セルには、通常２枚の偏光板が配置される。液晶セルの背面側に配置される偏光板が備える偏光子は、液晶セルの視認側に配置される偏光板が備える偏光子に比べて、熱に晒され易い。したがって、本実施形態に係る偏光子２を備える偏光板１を、液晶セルの背面側に配置すると、温度変化に伴う偏光子２のクラックが抑制される。その理由は後述する。

偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃは、０.０５〜１．７μｍである。平均高さＲｃは、０．０５〜０．２８μｍ、０．０７〜１．７μｍ、０．０７〜１．６０４μｍ、０．０７〜１．０μｍ、又は０．０７〜０．２８μｍであってもよい。端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃは、例えば、下記式１で定義されてよい。

式１中、Ｒｃは、基準長さｌにおける粗さ曲線要素（輪郭曲線要素）の高さＺｔの平均である。ｉは、１以上ｍ以下の自然数であり、ｍは２以上の自然数である。Ｚｔｉは、基準長さｌにおけるｉ番目の輪郭曲線要素の高さである。輪郭曲線要素とは、隣り合う一組の山と谷であり、輪郭曲線要素の高さＺｔとは、隣り合う一組の山（極大値）と谷（極小値）との差である。Ｒｃは、例えば、レーザー顕微鏡によって偏光子２の端面２ａ上で測定されてよい。

端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃが大きいほど、つまり、端面２ａが粗いほど、温度変化に伴う膨張又は収縮によって、端面２ａが不均一に変形する。特にヒートショックに伴う急激な膨張又は収縮によって、端面２ａが不均一且つ急激に変形する。偏光子２が一軸方向又は二軸方向に延伸されている場合、偏光子２の膨張又は収縮は異方的（ａｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃ）である。これらの因子により、偏光子２の温度変化に伴って、端面２ａを起点して偏光子２にクラックが発生じ易い。例えば、輪郭曲線要素の谷（つまり端面２ａにおける深い窪み）を起点としてクラックが発生する。しかし、本実施形態では、端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃは、０.０５〜１．７μｍであるため、上記のようなクラックの諸因子が低減され、温度変化に伴う偏光子２のクラックの発生が抑制される。平均高さＲｃが０.０５〜１．７μｍである端面２ａに形成されるクラックの長さは、平均高さＲｃが１．７μｍよりも大きい端面２ａに形成されるクラックの長さよりも短い傾向がある。偏光子２の両面に保護フィルムが密着している場合、偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃは、端面２ａの全体に亘ってほぼ均一である。一方、偏光子２の片面側にのみ保護フィルムが密着している場合、偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃは、偏光子２と保護フィルムとの界面（接着面）から遠ざかるにつれて大きくなる傾向がある。偏光子２は延伸フィルムであるため裂け易く、特に保護フィルムがない表面側に位置する偏光子の端面は、研磨刃によって扱かれて荒れ易い。したがって、偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃは、偏光子２と保護フィルムとの界面から遠ざかるにつれて大きくなり易い。偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃが均一でない場合、偏光子２の端面２ａにおいて測定された粗さ曲線要素の平均高さＲｃのうち最大値が、例えば、０.０５〜０．２８μｍであってよい。偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃが均一でない場合、平均高さＲｃの最大値が０．０５〜０．２８μｍである端面２ａに形成されるクラックの長さは、平均高さＲｃの最大値が０．２８μｍよりも大きい端面２ａに形成されるクラックの長さよりも短い傾向がある。さらに、偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃが均一でない場合、平均高さＲｃの最大値が０．０５〜０．２８μｍである端面２ａに形成されるクラックの数は、平均高さＲｃの最大値が０．２８μｍよりも大きい端面２ａに形成されるクラックの数よりも少ない傾向がある。

偏光子又は偏光板の端面が研磨されない場合、偏光子の端面が研磨によって粗くならないので、偏光子の端面の平均高さＲｃは略ゼロであり、偏光子の端面にクラックが生じ難い。換言すると、端面２ａの平均高さＲｃが小さいほど、偏光子の端面にクラックが生じ難い。しかし、偏光子又は偏光板の端面を研磨しない場合、偏光子又は偏光板の寸法を高い精度で所望の値（例えば、製品規格の公差の範囲）に調整することは困難である。したがって、端面２ａの平均高さＲｃが０．０５μｍ未満である偏光子の寸法の精度は、端面２ａの平均高さＲｃが０．０５μｍ以上である偏光子の寸法の精度よりも劣る。換言すると、研磨された端面を有する偏光子の寸法精度は、研磨されていない端面を有する偏光子の寸法精度よりも高い。

矩形状の偏光子２は、４つの端面２ａを有する。偏光子２が有する複数の端面２ａのうち、一部の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃが、０.０５〜１．７μｍであってよい。偏光子２が有する全ての端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃが、０.０５〜１．７μｍであってもよい。Ｒｃが０.０５〜１．７μｍである端面２ａが多いほど、偏光子２におけるクラックの発生が抑制され易い。

図１中の（ｂ）に示されるように、偏光子２の一つの端面２ａは、第一辺Ｓ１、第二辺Ｓ２、第三辺Ｓ３及び第四辺Ｓ４によって囲まれている。換言すれば、端面２ａの周縁は、第一辺Ｓ１、第二辺Ｓ２、第三辺Ｓ３及び第四辺Ｓ４から構成されている。端面２ａを囲む四辺のうち第一辺Ｓ１は、保護フィルム３（第一光学フィルム）に隣接している。端面２ａを囲む四辺のうち第二辺Ｓ２は、第一辺Ｓ１の反対側に位置している。換言すれば、第二辺Ｓ２は、感圧式粘着剤層５に隣接している。第二辺Ｓ２は、保護フィルム３に隣接していない辺である。

端面２ａのうち第二辺Ｓ２に沿う部分（２ａｓ）における二乗平均平方根粗さＲｑは、０．０３〜０．５０μｍであってよい。以下では、端面２ａのうち第二辺Ｓ２に沿う部分を、端面２ａの「側部２ａｓ」と記す場合がある。二乗平均平方根粗さＲｑは、０．０３〜０．４６６μｍ、０．０３〜０．３０μｍ、０．０３〜０．１５μｍ、又は０．０３１〜０．０８１μｍであってもよい。端面２ａの側部２ａｓにおける二乗平均平方根粗さＲｑは、例えば、下記式２で定義されてよい。

式２中、ｌ（アルファベットのエル）は、端面２ａの側部２ａｓにおける基準長さである。Ｚ（ｘ）は、基準長さｌ上の任意の位置ｘにおける粗さ曲線の高さである。Ｒｑは、例えば、レーザー顕微鏡によって、端面２ａの側部２ａｓにおいて測定されてよい。換言すれば、Ｒｑは、偏光子２の端面２ａの第二辺Ｓ２に沿って測定されてよい。偏光子２の厚さ方向（Ｚ軸方向）における側部２ａｓの幅は、Ｒｑの測定が可能な限り、狭くてよい。仮に、偏光子２の端面２ａを第一辺Ｓ１と第二辺Ｓ２との真中（中央）で二つの領域に等分する場合、Ｒｑは、二つの領域のうち保護フィルム３が無い第二辺Ｓ２側にある半分の機械的強度を示す指標といえる。したがって、偏光子２の厚さ方向（Ｚ軸方向）における側部２ａｓの幅は、偏光子２の厚さの半分以下であってよい。偏光子２の厚さ方向（Ｚ軸方向）における側部２ａｓの幅は、Ｒｑの測定に用いるレーザーのスポット径と略同じであってもよい。偏光子２の厚さ方向（Ｚ軸方向）における側部２ａｓの幅は、レーザー顕微鏡を用いたＲｑの測定限界に相当する幅であってもよい。

保護フィルム３が密着した第一辺Ｓ１側では、保護フィルム３が無い第二辺Ｓ２側に比べて、温度変化に伴う偏光子２の膨張又は収縮が保護フィルム３によって抑制され易い。対照的に、保護フィルム３が無い第二辺Ｓ２側に位置する側部２ａｓは、保護フィルム３が密着した第一辺Ｓ１側に比べて、温度変化に伴って膨張又は収縮し易い。そして、保護フィルム３が無い第二辺Ｓ２側に位置する側部２ａｓのＲｑが大きいほど、温度変化に伴う膨張又は収縮によって、側部２ａｓが不均一に変形する。つまり、側部２ａｓが粗いほど、温度変化に伴う膨張又は収縮によって、側部２ａｓが不均一に変形し易い。特にヒートショックに伴う急激な膨張又は収縮によって、側部２ａｓが不均一且つ急激に変形し易い。偏光子２が一軸方向又は二軸方向に延伸されている場合、偏光子２の膨張又は収縮は異方的（ａｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃ）である。これらの因子により、偏光子２の温度変化に伴って、側部２ａｓを起点して偏光子２にクラックが発生じ易い。換言すれば、偏光子２の温度変化に伴って、端面２ａのうち保護フィルムに隣接しない第二辺Ｓ２に沿う部分でクラックが発生じ易い。例えば、粗さ曲線の谷（つまり側部２ａｓにおける深い窪み）を起点としてクラックが発生し易い。しかし、偏光子２の第二辺Ｓ２側の表面に保護フィルムが重なっていない場合であっても、保護フィルム３が無い第二辺Ｓ２側に位置する側部２ａｓにおけるＲｑが低減することにより、上記のようなクラックの諸因子が低減され易く、温度変化に伴う偏光子２のクラックの発生が抑制され易い。つまり、保護フィルム３が無い第二辺Ｓ２側に位置する側部２ａｓにおけるＲｑが小さい場合、第二辺Ｓ２側に位置する側部２ａｓにおけるクラックの発生が抑制され易い。例えば、二乗平均平方根粗さＲｑが、０．０３〜０．１５μｍである場合、第二辺Ｓ２側に位置する側部２ａｓにおけるクラックの発生が抑制され易い。偏光子又は偏光板の端面を研磨しない場合、偏光子の端面が研磨によって粗くならないので、二乗平均平方根粗さＲｑは略ゼロであり、偏光子の端面にクラックが生じ難い。しかし、偏光子又は偏光板の端面を研磨しない場合、偏光子又は偏光板の寸法を高い精度で所望の値（例えば、製品規格の公差の範囲）に調整することは困難である。したがって、二乗平均平方根粗さＲｑが０．０３μｍ未満である偏光子の寸法の精度は、二乗平均平方根粗さＲｑが０．０３μｍ以上である偏光子の寸法の精度よりも低い傾向がある。

矩形状の偏光子２は、４つの端面２ａを有する。偏光子２が有する複数の端面２ａのうち、一部の端面２ａの側部２ａｓにおける二乗平均平方根粗さＲｑが、０．０３〜０．１５μｍであってよい。偏光子２が有する全ての端面２ａの側部２ａｓにおける二乗平均平方根粗さＲｑが、０．０３〜０．１５μｍであってもよい。Ｒｑが０．０３〜０．１５μｍである側部２ａｓを有する端面２ａが多いほど、偏光子２の第二辺Ｓ２側におけるクラックの発生が抑制され易い。

偏光子２を構成する樹脂は、例えば、ポリビニルアルコール系樹脂、ポリ酢酸ビニル樹脂、エチレン・酢酸ビニル共重合樹脂（ＥＶＡ）樹脂、ポリアミド樹脂、又はポリエステル系樹脂であってよい。偏光子２は、一軸方向又は二軸方向に延伸されてよい。偏光子２は、ヨウ素又は二色性染料によって染色されてよい。染色後の偏光子２は、ホウ酸で処理されてよい。偏光子２は、ポリビニルアルコールフィルムにヨウ素が吸着配向したものであってもよい。

偏光子２の厚さは、例えば、２〜３０μｍ、２〜１５μｍ、又は２〜１０μｍであってよい。一般的に、偏光子の厚みが薄いほど、偏光子にクラックが発生し易い。しかし、本実施形態に係る偏光子２を備える偏光板１では、偏光子２の厚みが１０μｍ以下である場合であっても、偏光子２におけるクラックを好適に抑制することができる。

保護フィルム３は、例えば、セルロース系樹脂（トリアセチルセルロース等）、ポリオレフィン系樹脂（ポリプロピレン系樹脂等）、環状オレフィン系樹脂（ノルボルネン系樹脂等）、アクリル系樹脂（ポリメチルメタクリレート系樹脂等）、又はポリエステル系樹脂（ポリエチレンテレフタレート系樹脂等）であってよい。

保護フィルム３の厚さは、５〜９０μｍ、５〜８０μｍ、又は５〜５０μｍであってよい。

保護フィルム３は、接着剤層を介して偏光子２の表面に貼合されてよい。保護フィルム３を構成する樹脂の溶液を偏光子２上に塗布して塗膜を形成し、塗膜を乾燥することにより、保護フィルムを偏光子２の表面に直接形成してもよい。

接着剤層を構成する樹脂は、例えば、エポキシ樹脂であってよい。エポキシ樹脂は、例えば、水素化エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、又は脂肪族エポキシ樹脂であってよい。重合開始剤（光カチオン重合開始剤、熱カチオン重合開始剤、光ラジカル重合開始剤又は熱ラジカル重合開始剤等）、又は他の添加剤（増感剤等）をエポキシ樹脂に添加してもよい。接着剤層を構成する樹脂は、例えば、アクリルアミド、アクリレート、ウレタンアクリレート、及びエポキシアクリレート等のアクリル系樹脂であってもよい。ポリビニルアルコール系樹脂を含む水系接着剤を接着剤層に用いてもよい。

感圧式粘着剤層５を構成する樹脂は、例えば、アクリル系樹脂、シリコーン系樹脂、ポリエステル、ポリウレタン、又はポリエーテル等であってよい。これらの樹脂及び任意の添加成分を含む溶液を偏光子２の表面に塗布して塗膜を形成し、塗膜を乾燥することによって、感圧式粘着剤層５を形成してよい。

感圧式粘着剤層５の厚さは、例えば、２〜５００μｍ、２〜２００μｍ、又は２〜５０μｍであってよい。

セパレータ上に形成された感圧式粘着剤層５を、偏光子２の表面に転写してもよい。セパレータは、感圧式粘着剤層の保護、又は異物の付着の防止等を目的として、偏光子２その他の光学フィルムに貼着される。セパレータは、剥離可能なフィルムである。例えば、偏光板１を画像表示素子に貼着する場合、セパレータが剥がされて感圧式粘着剤層が露出される。セパレータは、偏光板１の製造過程において一時的に使用され、その後、偏光板１から剥離されてもよい。セパレータを構成する樹脂は、例えば、ポリエチレン系樹脂、ポリプロピレン系樹脂、又はポリエステル系樹（ポリエチレンテレフタレート等）であってよい。

セパレータの厚さは、例えば、２〜５００μｍ、２〜２００μｍ、又は２〜１００μｍであってよい。

反射型偏光子４（第二光学フィルム）は、例えば、ポリカーボネート等からなる多層フィルムであってよい。反射型偏光子４の厚みは、例えば、１５〜２００μｍであってよい。

偏光板１全体の厚さは、例えば、１０〜５００μｍ、１０〜３００μｍ、又は１０〜２００μｍであってよい。

［偏光板の端部の切削加工］
以下に説明する偏光板１の端部の切削加工により、偏光板１が備える偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃを、０.０５〜１．７μｍの範囲内に制御することができる。また、以下に説明する切削加工により、偏光板１が備える偏光子２の端面２ａの側部２ａｓにおける二乗平均平方根粗さＲｑを、０．０３〜０．１５μｍの範囲内に制御することができる。以下では、図２〜５を参照しながら、切削加工を詳説する。

まず、本実施形態に係る偏光板１と同様の積層構造を有する複数の偏光板１Ａを作製する。各偏光板１Ａは、その端面が切削されていないことを除いて、本実施形態に係る偏光板１と同じである。切削されていない偏光板１Ａの端面２ａは粗くなっていないので、各偏光板１Ａが備える偏光子２の端面２ａのＲｃは、０．０５未満である。また、切削されていない各偏光板１Ａの端面２ａの側部２ａｓにおけるＲｑは、０．０３未満である。図４及び図５に示すように、複数の偏光板１Ａを重ねて積層体１００を形成する。各偏光板１Ａの寸法は全く同じであり、積層体１００において各偏光板１Ａの表面全体が互いに完全に重なり合っている。図４に示す積層体１００の端面１００ａは、偏光子２の端面を包含する面である。つまり、積層体１００の端面１００ａ内において、各偏光板１Ａが備える偏光子２の端面が揃っている。図４に示すように、積層体１００の端面１００ａ（つまり、偏光子２の端面）は、切削工具１０の切削面Ｓに対面し、切削面Ｓ上の切削刃に接触する。図示の便宜上、積層体１００は４つの偏光板１Ａから構成されているが、積層体１００を構成する偏光板１Ａの数は、特に限定されない。

図２に示されているとおり、切削工具１０は、支持体１０ａ（アーバー）に固定されている。切削工具１０は、回転軸線Ａに対して回転する。切削工具１０の回転数（回転速度）は自在に調整される。なお、図２〜５に示されているように、切削工具１０は円盤状である。切削工具１０の回転軸線Ａは、切削される積層体１００の端面１００ａ（つまり、各偏光子２の端面）に直交する。積層体１００が水平方向に１ｍｍ移動する時間を単位時間とみなすとき、単位時間当たりの切削工具１０の回転数は、偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃに影響する。また単位時間当たりの切削工具１０の回転数は、偏光子２の端面２ａの側部２ａｓにおける二乗平均平方根粗さＲｑにも影響する。単位時間当たりの切削工具１０の回転数は、例えば、３．５〜１４回、又は５．６〜１０．２回であってよい。切削工具１０の回転数がこれらの範囲内である場合、偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃが、０.０５〜１．７μｍに制御され易い。また切削工具１０の回転数が上記の範囲内である場合、偏光子２の端面２ａの側部２ａｓにおける二乗平均平方根粗さＲｑが、０．０３〜０．１５に制御され易い。

切削工具１０は、回転軸線Ａに対して垂直な切削面Ｓを有している。従って、切削面Ｓは、切削される積層体１００の端面１００ａに平行である。換言すれば、切削面Ｓは、切削される偏光子２の端面２ａに平行である。図２及び図３に示されているように、切削面Ｓ上には、切削部１１ａ，１１ｂ及び１１ｃからなる第１の切削部群と、切削部１１ｄ，１１ｅ及び１１ｆからなる第２の切削部群とが設けられている。各切削部は、端面を削り取るための切削刃Ｂを有している。各切削部は、回転軸線Ａの周りに略等間隔で配置される。各切削部は、切削される積層体１００の端面１００ａに向かって切削面Ｓから突出している。切削刃Ｂは、各切削部の突出した頂面に配置される。各切削部が有する切削刃Ｂは、切削面Ｓに対して平行に延在するように配置される。換言すると、各切削部が有する切削刃Ｂは、積層体１００中の各偏光子２の端面２ａに対して平行に延在するように配置される。なお、図示の便宜上、図４及び図５では、切削工具１０の切削面Ｓに設けられた各切削部を省略しているが、図２〜５に示す切削工具１０の全ては同じものである。

切削工具１０を回転方向（図２〜５中の矢印の方向）に回転させたとき、切削部１１ａ，１１ｂ及び１１ｃは、この順で積層体１００の端面１００ａに当接し、該端面１００ａ（各偏光子２の端面２ａ）を切削する。切削面Ｓから切削部１１ａの切削刃Ｂまでの距離は、切削面Ｓから切削部１１ｂの切削刃Ｂまでの距離よりも小さい。切削面Ｓから切削部１１ｂの切削刃Ｂまでの距離は、切削面Ｓから切削部１１ｃの切削刃Ｂまでの距離よりも小さい。すなわち、切削部１１ｂの切削刃Ｂの突出高さは、切削部１１ａの切削刃Ｂの突出高さより高く、切削部１１ｃの切削刃Ｂの突出高さは、切削部１１ｂの切削刃Ｂの突出高さより高い。

切削工具１０を回転方向に回転させたとき、切削部１１ｄ，１１ｅ及び１１ｆは、この順で積層体１００の端面１００ａに当接し、該端面１００ａ（各偏光子２の端面２ａ）を切削する。切削面Ｓから切削部１１ｄの切削刃Ｂまでの距離は、切削面Ｓから切削部１１ｅの切削刃Ｂまでの距離よりも小さい。切削面Ｓから切削部１１ｅの切削刃Ｂまでの距離は、切削面Ｓから切削部１１ｆの切削刃Ｂまでの距離よりも小さい。すなわち、切削部１１ｅの切削刃Ｂの突出高さは、切削部１１ｄの切削刃Ｂの突出高さより高く、切削部１１ｆの切削刃Ｂの突出高さは、切削部１１ｅの切削刃Ｂの突出高さより高い。

図３に示されているとおり、回転軸線Ａから切削部１１ｂの切削刃Ｂまでの距離は、回転軸線Ａから切削部１１ａの切削刃Ｂまでの距離よりも短い。回転軸線Ａから切削部１１ｃの切削刃Ｂまでの距離は、回転軸線Ａから切削部１１ｂの切削刃Ｂまでの距離よりも短い。回転軸線Ａから切削部１１ｅの切削刃Ｂまでの距離は、回転軸線Ａから切削部１１ｄの切削刃Ｂまでの距離よりも短い。回転軸線Ａから切削部１１ｆの切削刃Ｂまでの距離は、切削部１１ｅの切削刃Ｂまでの距離よりも短い。

切削部１１ａ，１１ｂ，１１ｄ，１１ｅは荒削り用であり、これらの切削刃Ｂは、例えば多結晶ダイヤモンドで構成されている。各切削部群において最後尾に位置する切削部１１ｃ，１１ｆは仕上げ用であり、これらの切削刃Ｂは、例えば単結晶ダイヤモンドで構成されている。ただし、各切削刃Ｂの材質は限定されるものではない。

切削工具１０の回転により各切削部が描く円が、積層体１００中の各偏光子２の表面（Ｚ軸方向を向く各偏光子２の表面）にほぼ垂直に交わることが好ましい。例えば、回転軸線Ａとの距離が最も短い切削部１１ｃ及び１１ｆの各切削刃Ｂが描く円が、積層体１００中の各偏光子２の表面にほぼ垂直に交わることが好ましい。換言すれば、図５に示すように、各偏光子２の表面に対する各切削刃Ｂの進入角θが９０°に近いほど好ましい。つまり、Ｚ軸方向を向く積層体１００の表面に対する各切削刃Ｂの進入角θが９０°に近いほど好ましい。例えば、回転軸線Ａとの距離が最も短い切削部１１ｃ及び１１ｆの各切削刃Ｂの進入角θが９０°に近いほど好ましい。進入角θを９０°に近づけるためには、切削工具１０の切削面Ｓの直径が積層体１００の厚さよりも大きいことが好ましい。また切削工具１０の切削面Ｓの直径は、積み重ねられた全ての偏光板１Ａの各端面をまとめて均一に切削することができる程度に十分な大きさであることが好ましい。図４及び図５に示すように、積層体１００が配置される高さは、切削工具１０の回転軸線Ａの高さと略同じであることが好ましい。換言すれば、各偏光子２の端面２ａに平行な方向（Ｚ軸方向）おける積層体１００の位置は、同方向における切削工具１０の回転軸線Ａの位置と略同じであることが好ましい。換言すれば、積層体１００の端面１００ａに平行な方向における積層体１００の位置は、同方向における切削工具１０の回転軸線Ａの位置と略同じであることが好ましい。切削刃Ｂの進入角θの調整を目的として、積層体１００の厚さを調整してよい。換言すれば、切削刃Ｂの進入角θの調整を目的として、積層体１００を構成する偏光板１Ａの数を調整してもよい。切削工具１０の直径に比べて積層体１００の厚さが小さいほど、切削刃Ｂの進入角θは９０°に近づく。積層体１００と切削工具１０の回転軸線Ａとの相対的な位置関係を調整することを目的として、積層体１００の厚さを調整してよい。換言すれば、積層体１００と切削工具１０の回転軸線Ａとの相対的な位置関係を調整することを目的として、積層体１００を構成する偏光板１Ａの数を調整してもよい。以上のように、各切削刃Ｂの進入角θを略垂直に調整し、積層体１００の位置と切削工具１０の回転軸線Ａとの位置とを合わせて、且つ切削工具１０の回転数を適宜調整することにより、偏光板１が備える偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃを、０.０５〜１．７μｍの範囲内に制御し易い。また、各切削刃Ｂの進入角θを略垂直に調整し、積層体１００の位置と切削工具１０の回転軸線Ａとの位置とを合わせて、且つ切削工具１０の回転数を適宜調整することにより、偏光板１が備える偏光子２の側部２ａｓにおける二乗平均平方根粗さＲｑを、０．０３〜０．１５μｍの範囲内に制御し易い。Ｒｃ及びＲｑそれぞれを上記の範囲内に制御するために必要な切削工具１０の回転数は、予備的な実験によって把握することが可能である。積層体１００と切削工具１０の回転軸線Ａとの相対的な位置関係を調整するために、積層体１００の端面１００ａ（各偏光子２の端面２ａ）に対して平行な方向において、切削工具１０が自在に動いてよい。例えば、Ｚ軸方向（上下方向）において切削工具１０の位置を自在に調整してよい。この場合、Ｚ軸方向における積層体１００の位置は固定してよい。積層体１００の端面１００ａ（各偏光子２の端面２ａ）に対して平行な方向において、積層体１００のが自在に動いてもよい。例えば、Ｚ軸方向（例えば上下方向）において積層体１００の位置を自在に調整してもよい。この場合、Ｚ軸方向における切削工具１０の位置は固定してよい。

積層体１００を構成する各偏光板１Ａにおいて、偏光子２は、保護フィルム３よりも上に位置することが好ましい。また保護フィルム３の弾性率は、偏光子２の弾性率よりも高いことが好ましい。図２〜５に示されるように、切削工具１０の各切削刃Ｂは、積層体１００の上側から下側へ移動する。したがって、偏光子２が保護フィルム３よりも上に位置する場合、各切削刃Ｂは、先に偏光子２に接触し、続いて保護フィルム３に接触する。換言すれば、各切削刃Ｂは、弾性率が低い偏光子２から入り、続いて弾性率が高い保護フィルム３に入る。このように偏光子２及び保護フィルム３を配置する場合、偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃを、０.０５〜１．７μｍの範囲内に制御し易く、偏光子２の側部２ａｓにおける二乗平均平方根粗さＲｑを、０．０３〜０．１５μｍの範囲内に制御し易い。

回転する切削工具１０を、積層体１００の端面１００ａに平行な方向（Ｙ方向）において一定の速度で移動させてよい。切削工具１０の移動に伴い、積層体１００の端面１００ａ（各偏光子２の端面２ａ）が徐々に切削される。この場合、積層体１００の位置を固定してよい。積層体１００の端面１００ａに平行な方向（Ｙ方向）において、積層体１００を一定の速度で切削工具１０へ近づけてもよい。積層体１００の移動に伴い、積層体１００の端面１００ａ（各偏光子２の端面２ａ）が徐々に切削される。この場合、切削工具１０の位置は固定してよい。

上記の切削方法によれば、従来行われていたレーザーによる積層体１００の切断に比べて、積層体１００を構成する各偏光板１Ａの寸法を高い精度で調整することが可能である。

以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に何ら限定されるものではない。

例えば、偏光板は、偏光子と、偏光子に重なる第一光学フィルム（例えば保護フィルム）と、第一光学フィルムに重なる感圧式粘着剤層と、感圧式粘着剤層に重なる第二光学フィルム（例えば反射型偏光子）と、を備えてもよい。

第一光学フィルム又は第二光学フィルムが、防眩機能付フィルム、表面反射防止機能付フィルム、反射フィルム、半透過反射フィルム、視野角補償フィルム、離型フィルム、光学補償層、タッチセンサー層、帯電防止層又は防汚層であってもよい。もちろん、第一光学フィルムは、反射型偏光子であってもよいし、第二光学フィルムは、保護フィルムであってもよい。

以下、実施例及び比較例を挙げて本発明の内容をより具体的に説明する。なお、本発明は下記実施例に限定されるものではない。

［実施例１］
（１）偏光子の作製
厚みが２０μｍのポリビニルアルコールフィルムを準備した。このポリビニルアルコールフィルムの平均重合度は約２４００であり、ケン化度は９９．９モル％以上であった。ポリビニルアルコールフィルムを、乾式で約４倍に一軸延伸した。延伸によるポリビニルアルコールフィルムの展張状態を保ちながら、ポリビニルアルコールフィルムを４０℃の純水に１分間浸漬した。次に、ポリビニルアルコールフィルムを第一染色液（水溶液）に６０秒間浸漬した。第一染色液の温度は、２８℃に調整した。第一染色液におけるヨウ素：ヨウ化カリウム：水の質量比は、０．１：５：１００であった。次に、ポリビニルアルコールフィルムを第二染色液（水溶液）に３００秒間浸漬した。第二染色液の温度は、６８℃に調整した。第二染色液におけるヨウ化カリウム：ホウ酸：水の質量比は１０．５：７．５：１００であった。次に、ポリビニルアルコールフィルムを純水で５秒間洗浄した。純水の温度は、５℃に調整した。洗浄後のポリビニルアルコールフィルムを７０℃で１８０秒間乾燥した。以上の手順により、長尺な帯状のフィルムである偏光子を得た。偏光子では、一軸延伸されたポリビニルアルコールフィルムにヨウ素が吸着配向していた。偏光子の厚さは、７μｍであった。

（２）水系接着剤の調製
ポリビニルアルコール粉末を９５℃の熱水に溶解して、ポリビニルアルコール水溶液を調製した。水溶液におけるポリビニルアルコールの濃度は、３質量％に調整した。ポリビニルアルコール粉末としては、株式会社クラレ製の「ＫＬ−３１８」を用いた。ポリビニルアルコール粉末の平均重合度は、１８００であった。ポリビニルアルコール水溶液に架橋剤を混合して、水系接着剤を得た。架橋剤としては、田岡化学工業株式会社製の「スミレーズレジン６５０」を用いた。ポリビニルアルコール水溶液へ添加した架橋剤の質量は、ポリビニルアルコール粉末２質量部に対して１質量部に調整した。

（３）片面保護偏光板の作製
上記の偏光子をその長尺方向において連続的に搬送した。偏光子の搬送と同時に、ロール体から保護フィルムを連続的に送り出し、保護フィルムを搬送しながら、保護フィルムに対してコロナ処理を施した。保護フィルムとしては、日本ゼオン株式会社製のゼオノアフィルム「ＺＦ１４−０２３」を用いた。保護フィルムの厚さは、２３μｍであった。偏光子及び保護フィルムの搬送と同時に、ロール体から剥離フィルムを連続的に送り出し、剥離フィルムを搬送した。剥離フィルムとしては、コニカミノルタオプト株式会社製のトリアセチルセルロースフィルム（ＴＡＣフィルム）である「ＫＣ８ＵＸ２ＭＷ」を用いた。剥離フィルムの厚さは、８０μｍであった。剥離フィルムにはケン化処理を施さなかった。

次いで、偏光子と保護フィルムとの間に上記の水系接着剤を介在させ、偏光子と剥離フィルムとの間に純水を介在させ、これらを一対の貼合ロールで挟むことにより、積層フィルムを得た。この積層フィルムは、偏光子と、偏光子の一方の表面に重なる水系接着剤層と、水系接着剤層に重なる保護フィルムと、偏光子の他方の表面に重なる純水層と、純水層に重なる剥離フィルムと、を備えるものであった。この積層フィルムを乾燥装置へ搬送し、水系接着剤層を乾燥するとともに、純水層を揮発させて除去した。乾燥装置内の温度は、８０℃に調整した。乾燥時間は３００秒であった。乾燥後の積層体から剥離フィルムを剥離することにより、片面保護偏光板を得た。この片面保護偏光板は、偏光子と、偏光子の一方の表面に重なる、乾燥した水系接着剤層と、水系接着剤層に重なる保護フィルムと、を備えるものであった。

（４）輝度向上フィルム付偏光板の作製
上記の片面保護偏光板が備える偏光子の表面に、感圧式粘着剤層を介して、輝度向上フィルムを貼合して、輝度向上フィルム付偏光板を得た。貼合の際には、偏光子の延伸方向が輝度向上フィルムの延伸軸と平行になるように、片面保護偏光板及び輝度向上フィルムそれぞれの向きを調整した。感圧式粘着剤層には、アクリル系樹脂を用いた。輝度向上フィルムとしては、３Ｍ株式会社製の反射型偏光子である「ＡＰＦ」を用いた。

（５）セパレータ付偏光板の作製
感圧式粘着剤層で覆われたフィルム状のセパレータを準備した。感圧式粘着剤層には、アクリル系樹脂を用いた。上記の輝度向上フィルム付偏光板が備える輝度向上フィルムの表面に、感圧式粘着剤層を介して、セパレータを貼付して、セパレータ付偏光板を得た。セパレータ付偏光板は、偏光子と、偏光子の一方の表面に重なる水系接着剤層と、水系接着剤層に重なる保護フィルム（第一光学フィルム）と、偏光子の他方の表面に重なる第一感圧式粘着剤層と、第一感圧式粘着剤層に重なる輝度向上フィルム（第二光学フィルム）と、輝度向上フィルムに重なる第二感圧式粘着剤層と、第二感圧式粘着剤層に重なるセパレータと、を備えるものであった。

（６）切削加工
上記のセパレータ付偏光板を１２０ｍｍ×７０ｍｍのサイズに裁断して、１００枚の偏光板を得た。裁断には、スーパーカッターを用いた。１００枚の偏光板の構造、組成及び寸法は同じであった。１００枚の偏光板の四辺を揃えて、１００枚の偏光板を重ねることにより、積層体を得た。以下では、説明の便宜のために、１００枚の偏光板からなる積層体を、図４及び図５に示す積層体１００と同一視する。切削工具を用いて、積層体１００が有する４つの端面１００ａを切削した。４つの端面１００ａの切削加工の方法は全く同じであった。実施例で用いた切削工具は、第１切削部群及び第２切削部群それぞれが５つの切削部を有すること以外は、図２〜５に示された切削工具１０と同じであった。以下では、説明の便宜のために、実施例で用いた切削工具を、図２〜５に示された切削工具１０と同一視する。以下では、各図中のＺ軸方向を上方向とみなし、Ｘ軸方向及びＹ軸方向を水平方向とみなす。積層体１００を形成する際には、各偏光板１Ａにおいて偏光子２が保護フィルム３の上に位置するように、１００枚の偏光板１Ａを重ねた。

切削工具１０の回転方向とは逆の方向に沿って、５つの切削刃Ｂの突出高さが徐々に高くなるように、各切削部群の５つの切削刃Ｂが切削面Ｓ上に配置されていた。また切削工具１０の回転方向とは逆の方向に沿って、回転軸線Ａから切削部の切削刃Ｂまでの距離が徐々に短くなるように、各切削部群の５つの切削部が切削面Ｓ上に配置されていた。第１の切削部群及び第２の切削部群を構成する計１０個の切削部は、回転軸線Ａを囲むように、等間隔に配置されていた。回転軸線Ａを介して対向する一対の切削刃Ｂの高さは同じであった。回転軸線Ａを介して対向する一対の切削部の切削刃Ｂと回転軸線Ａとの距離は同じであった。切削工具１０の各切削刃群が、高さが異なる５つの切削刃Ｂを有するので、切削工具１０の一回の回転は、深さの異なる５段階の切削に相当する。

積層体１００の端面１００ａの切削加工では、一対の切削工具１０を用いた。一対の切削工具１０の切削面Ｓを向い合せた。一対の切削工具１０の間に積層体１００が収まるように、一対の切削工具１０の間隔を調整した。切削工具１０の回転軸線Ａが水平になるように、切削工具１０の向きを調整した。各切削工具１０の位置を固定して、回転軸線Ａを中心に各切削工具１０を回転させた。積層体１００の端面１００ａが、切削工具１０の回転軸線Ａ（切削面Ｓの法線）に垂直になるように、積層体１００の端面１００ａの向きを調整した。また、積層体１００の表面が水平になるように、積層体１００の向きを調整した。

積層体１００と同じ厚みを有し、積層体１００よりも一回り小さい合成樹脂プレートを積層体１００の下に配置して、積層体１００が配置される高さを調整した。図４及び図５に示すように、積層体１００が配置される高さの調整により、積層体１００中の各偏光子２の表面に対する各切削刃Ｂの進入角θが略垂直になり、積層体１００が配置される高さが切削工具１０の回転軸線Ａの高さと略同じになった。積層体１００が配置される高さの調整に用いた合成樹脂プレートの厚さは、６０ｍｍであった。

切削加工では、積層体１００が配置される高さを、一定に維持した。切削加工では、積層体１００を水平方向（Ｙ軸方向）に一定の速度で移動させ、積層体１００を、回転する一対の切削工具１０の間へ徐々に導入した。つまり、一方の切削工具１０の切削面Ｓによって積層体１００の一方の端面１００ａを徐々に切削すると同時に、他方の切削工具１０の切削面Ｓによって積層体１００の他方の端面１００ａを徐々に切削した。積層体１００の端面１００ａの全体が切削されるまで、積層体１００を水平方向（Ｙ軸方向）に移動させ続けた。

各偏光板１において、偏光子２は保護フィルム３の上に配置したので、切削工具１０の一回の回転では、切削工具１０の各切削刃Ｂが、先ず積層体１００中の各偏光子２の端面を切削し、続いて各偏光子２に隣接する各保護フィルム３の端面を切削した。

積層体１００が水平方向に１ｍｍ移動する時間を単位時間とみなすとき、単位時間当たりの切削工具１０の回転数を１０．２回に調整した。

以上の工程により、１００枚の偏光板（実施例１の偏光板）を得た。

（７−１）粗さ曲線要素の平均高さＲｃの測定
以下の手順で、実施例１の偏光板１が備える偏光子２の端面２ａにおける粗さ曲線要素の平均高さＲｃを測定した。測定の対象である偏光子２の端面２ａとは、切削工具１０による切削を施された端面を意味する。Ｒｃの測定には、オリンパス株式会社製の３Ｄ測定レーザー顕微鏡「ＯＬＳ４１００」を用いた。実施例１の偏光板１００枚から無作為に５枚の偏光板１を抜き取った。一つの偏光板１が備える偏光子２の４つの端面のうち、偏光子２の延伸軸方向に対して垂直である２つの端面２ａのＲｃを測定し、２つの端面２ａのＲｃの平均値を算出した。同様の方法で、５枚の偏光板１が備える偏光子２其々のＲｃの平均値を算出し、これら５通りのＲｃの平均値を更に平均した。以上の手順で算出された実施例１のＲｃは、０．０７μｍであった。

（７−２）二乗平均平方根粗さＲｑの測定
以下の手順で、実施例１の偏光板１が備える偏光子２の端面２ａの側部２ａｓにおける二乗平均平方根粗さＲｑを測定した。測定の対象である偏光子２の端面２ａとは、切削工具１０による切削を施された端面を意味する。Ｒｑの測定には、オリンパス株式会社製の３Ｄ測定レーザー顕微鏡「ＯＬＳ４１００」を用いた。実施例１の偏光板１００枚から無作為に５枚の偏光板１を抜き取った。一つの偏光板１が備える偏光子２の４つの端面のうち、偏光子２の延伸軸方向に対して垂直である２つの端面２ａのＲｑを測定し、２つの端面２ａのＲｑの平均値を算出した。同様の方法で、５枚の偏光板１が備える偏光子２其々のＲｑの平均値を算出し、これら５通りのＲｑの平均値を更に平均した。以上の手順で算出された実施例１のＲｑは、０．０３１μｍであった。

（８）ヒートショック試験
以下の手順で、実施例１の一枚の偏光板（切削加工後の偏光板）を用いたヒートショック試験を行った。

セパレータ付偏光板からセパレータを剥離し、粘着剤層を介して、偏光板を無アルカリガラス板に貼着して、試験用のサンプルを得た。無アルカリガラス板としては、コーニング社製の「Ｅａｇｌｅ−ＸＧ」を用いた。サンプルをオートクレーブ内に２０分間閉じ込めて、サンプルに加圧処理を施した。オートクレーブ内の温度は、５０℃に維持した。オートクレーブ内の圧力は、５ＭＰａに維持した。加圧処理後のサンプルを、温度が２３℃であり相対湿度が６０％である雰囲気下で、１日放置した。

以上の工程を経たサンプルを冷熱衝撃試験器の試験槽内に設置した。そして、以下のステップ１〜３からなるサイクルを１２回繰り返した。冷熱衝撃試験器としては、株式会社エスペック製の「ＴＳＡ−３０１Ｌ−Ｗ」を用いた。
ステップ１：３０分間、試験槽内の温度を−４０℃に維持するステップ。
ステップ２：ステップ１後、５分間、試験槽内の温度を２３℃に維持するステップ。
ステップ３：ステップ２後、３０分間、試験槽内の温度を８５℃に維持するステップ。

サイクルを１２回繰り返した後、サンプルを試験槽から取り出した。次に、サンプルの端辺を光学顕微鏡で観察して、偏光子２の端面２ａにおけるクラックの有無を調べた。光学顕微鏡としては、株式会社キーエンス製の「ＶＨＸ−５０００」を用いた。偏光子２の端面２ａにおける単位長さ当りのクラック数を求めた。「単位長さ」とは、偏光子の端面内にあり、偏光子の厚さ方向に垂直であり、長さが１０ｍｍである線分である。「単位長さ当りのクラック数」とは、偏光子の端面において単位長さと交わるクラックの数を意味する。実施例１のクラック数はゼロであった。

（９）偏光板の寸法の精度の評価
実施例１の偏光板の一辺の長さを測定し、その測定値が目標値±５０μｍの公差の範囲内にあるか否かを評価した。実施例１の偏光板の一辺の長さの測定値は、目標値±５０μｍの公差の範囲内であった。つまり、実施例１の偏光板の寸法の精度は高いことが確認された。

［実施例２〜４及び比較例８］
実施例２〜４及び比較例８では、単位時間当たりの切削工具１０の回転数を下記表１に示す値に調整した。

切削加工に関する上記事項を除いて、実施例１と同様の方法で、実施例２〜４及び比較例８それぞれの偏光板を作製した。実施例１と同様の方法で、実施例２〜４及び比較例８それぞれのＲｃ及びＲｑを測定した。実施例２〜４及び比較例８それぞれのＲｃ及びＲｑを下記表１に示す。実施例１と同様の方法で、実施例２〜４及び比較例８それぞれのクラック数を測定した。偏光子の端面にクラックが形成されていた場合、クラックの長さも測定した。クラックの長さとは、偏光子の端面に位置するクラックの端部から他方のクラックの端部までの距離である。実施例２〜４及び比較例８それぞれのクラック数及びクラック長さを下記表１に示す。表１に示されるクラックの長さは、各偏光子の端面に形成されるクラックのうち最も長いクラックの長さである。実施例１と同様の方法で、実施例２〜４及び比較例８それぞれの偏光板の寸法の精度を評価した。実施例２〜４及び比較例８それぞれの偏光板の寸法の精度を、下記表１に示す。

［比較例２］
切削加工を行わなかったこと以外は実施例１と同様の方法で、比較例２の偏光板を作製した。実施例１と同様の方法で、比較例２のＲｃ及びＲｑを測定した。比較例２のＲｃ及びＲｑを下記表１に示す。実施例１と同様の方法で、比較例２のクラック数を測定した。比較例２のクラック数を下記表１に示す。実施例１と同様の方法で、比較例２の偏光板の寸法の精度を評価した。比較例２の偏光板の一辺の長さの測定値は、目標値±５０μｍの公差の範囲を外れた。つまり、比較例２の偏光板の寸法の精度は低いことが確認された。

本発明に係る偏光板は、例えば、液晶セル又は有機ＥＬ素子等に貼着され、液晶テレビ、有機ＥＬテレビ又はスマートフォン等の画像表示装置を構成する光学部品として適用される。

１…偏光板、２…フィルム状の偏光子、２ａ…偏光子の端面、２ａｓ…端面の側部（端面のうち第二辺に沿う部分）、３…保護フィルム（第一光学フィルム）、４…反射型偏光子（第二光学フィルム）、５…感圧式粘着剤層、Ｓ１…第一辺、Ｓ２…第二辺、Ｓ３…第三辺、Ｓ４…第四辺。

Claims (5)

1. フィルム状の偏光子であって、
   前記偏光子の端面における粗さ曲線要素の平均高さＲｃが、０.０５〜０．２２１μｍであり、
   前記偏光子の一つの前記端面を囲む辺のうちの一つの辺に沿う部分における前記端面の二乗平均平方根粗さＲｑが、０．０３〜０．１５μｍである、
   偏光子。
2. 請求項１に記載の偏光子と、
   前記偏光子の一方の表面に重なる第一光学フィルムと、
   を備える、
   偏光板。
3. 前記偏光子の一つの端面を囲む辺のうち第一辺は、前記第一光学フィルムに隣接し、
   前記端面を囲む辺のうち第二辺は、前記第一辺の反対側に位置し、
   前記端面のうち前記第二辺に沿う部分における二乗平均平方根粗さＲｑが、０．０３〜０．１５μｍである、
   請求項２に記載の偏光板。
4. 前記偏光子の他方の表面に重なる粘着剤層と、
   前記粘着剤層に重なる第二光学フィルムと、
   を更に備える、
   請求項２又は３に記載の偏光板。
5. 請求項２〜４のいずれか一項に記載の偏光板を含む、
   画像表示装置。

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