CN104597356A - 用于烹饪器具的锅具检测方法及检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种用于烹饪器具的锅具检测方法及检测装置，烹饪器具包括由加热线圈和谐振电容组成的谐振回路、晶体管开关和电源模块，谐振回路、晶体管开关和电源模块串联连接，还包括与加热线圈串联的互感器和与互感器的次级电路相连的信号采样电路，锅具检测方法，包括：控制晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；在晶体管开关进入关闭状态的时长达到第二预定时长时，采集互感器的次级电路中的电流信号和/或采集互感器的次级电路中电流的振荡频率；根据电流信号的大小和/或振荡频率的大小，判断烹饪器具上是否放置锅具。本发明的技术方案能够缩短检测锅具所耗费的时间、降低检测锅具所消耗的能量和检测电路的复杂度。

Description

用于烹饪器具的锅具检测方法及检测装置

技术领域

本发明涉及烹饪器具技术领域，具体而言，涉及一种用于烹饪器具的锅具检测方法和一种用于烹饪器具的锅具检测装置。

背景技术

在电磁加热领域中，电磁炉通过检锅功能才能够对是否放置有锅具进行检测。而检锅方法的好坏直接影响到检测锅具过程中的噪音、检测时间及准确度等，进而会影响到用户对产品的使用体检。检锅技术的关键是检测有锅和无锅情况下谐振电路中电信号的差异，通过一定技术手段将差异变为量化的数据，从而进行判断。

现有的检锅方式主要分为以下两种：

电流检锅，电流检锅主要是采样谐振回路中的电流，进而经整流、滤波、电阻分压、滤波等处理后输送到控制器中进行判断，判断的原理为：谐振回路以某一预设频率工作，无锅具时，谐振回路负载小，电流小，传送至控制器中的电压就较小，控制器判定为无锅；有锅具时，谐振回路负载大，电流大，传送至控制器中的电压就较大，控制器判定为有锅。

脉冲检锅，脉冲检锅主要是将IBGT的集电极高压脉冲经电阻分压和运放比较器之后产生同步脉冲传输至控制器。判断原理为：无锅具时，线圈盘和谐振电容的自由震荡时间长，能量衰减长，单位时间内检测到的脉冲个数多；有锅具时，能量衰减快，单位时间内检测到的脉冲个数少。

但是，上述的电流检锅方案存在检锅时间长、检锅消耗能量多等缺点；而脉冲检锅方案存在电路方案复杂、电路利用率低(仅有检锅作用)、通用性差(仅能用于对单IGBT的电路方案进行检测，不能用于对双IGBT的电路方案进行检测)等缺点。

因此，如何能够缩短检测锅具所耗费的时间、降低检测锅具所消耗的能量和检测电路的复杂度，同时提高检测电路的通用性成为亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出了一种能够缩短检测锅具所耗费的时间、降低检测锅具所消耗的能量和检测电路的复杂度，同时提高检测电路的通用性的用于烹饪器具的锅具检测方法及检测装置。

为实现上述目的，根据本发明的第一方面的实施例，提出了一种用于烹饪器具的锅具检测方法，所述烹饪器具包括由加热线圈和谐振电容组成的谐振回路、晶体管开关和电源模块，所述谐振回路、所述晶体管开关和所述电源模块串联连接，所述烹饪器具还包括与所述加热线圈串联的互感器和与所述互感器的次级电路相连的信号采样电路，所述锅具检测方法，包括：控制所述晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；在所述晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

根据本发明的实施例的锅具检测方法，对于单晶体管开关的电路方案，通过控制晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态，以在进入关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过信号采样电路采集互感器的次级电路中的电流信号和/或次级电路中电流的振荡频率，以对烹饪器具上是否放置锅具进行判断，使得能够在实现对烹饪器具上是否放置锅具进行检测的前提下，降低了检测电路的复杂度，同时由于仅需要晶体管开关的一次导通，因此也能够有效降低检测锅具所消耗的能量和检测所耗费的时间。

此外，对于双晶体管开关的电路方案，也可以采用上述的检测方法，具体如下所述：

根据本发明的一个实施例，所述烹饪器具包括加热线圈、第一电容、第二电容、第一晶体管开关、第二晶体管开关和电源模块，所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关串联后并联在所述电源模块的两端，所述第一电容和所述第二电容串联后并联在所述电源模块的两端，所述加热线圈的第一端连接至所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关之间，所述加热线圈的第二端连接至所述第一电容和所述第二电容之间，所述烹饪器具还包括与所述加热线圈串联的互感器和与所述互感器的次级电路相连的信号采样电路，所述锅具检测方法，包括：

控制所述第一晶体管开关处于关闭状态，并控制所述第二晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；在所述第二晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

可见，对于双晶体管开关的电路方案，同样可以控制第二晶体管开关导通一次就能够实现对烹饪器具上是否放置锅具进行检测，也能够降低检测电路的复杂度和检测锅具所消耗的能量，并且缩短了检测锅具所耗费的时间。

综上所述，本发明提出的锅具检测方法不仅能够适用于单晶体管开关的电路方案，而且适用于双晶体管开关的电路方案，提高了检测电路和检测方案的通用性。

根据本发明的上述实施例的用于烹饪器具的锅具检测方法，还可以具有以下技术特征：

根据本发明的一个实施例，判断所述烹饪器具上是否放置锅具的步骤具体包括：在所述电流信号的值小于或等于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率大于或等于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上放置有锅具；以及在所述电流信号的值大于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率小于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上未放置锅具。

根据本发明的实施例的锅具检测方法，由于烹饪器具上未放置锅具时，谐振回路的负载小，谐振频率低，能量衰减慢、回路中电流能够维持较长时间，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值大于设定的电流阈值，并且振荡频率也会小于设定的频率阈值；在烹饪器具上放置锅具时，谐振回路的负载大，谐振频率高，能量衰减快、回路中的电流会迅速降低，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值小于或等于设定的电流阈值，并且振荡频率也会大于或等于设定的频率阈值，因此可以根据电流信号的值与电流阈值之间的关系，和/或振荡频率与频率阈值之间的关系判断烹饪器具上是否放置锅具。

根据本发明的一个实施例，所述第一预定时长处于10微秒至50微秒之间。

根据本发明的一个实施例，所述烹饪器具还包括控制装置，则根据所述电流信号的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具的步骤具体包括：

通过所述采样电路将采集到的所述电流信号转换为电压信号并传输至所述控制装置，以使所述控制装置根据所述电压信号的大小和/或所述振荡频率的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

具体地，由于控制装置，如单片机通常不能处理电流信号，因此可以将电流信号转换为电压信号传输至控制装置进行处理。

根据本发明第二方面的实施例，还提出了一种用于烹饪器具的锅具检测装置，所述烹饪器具包括由加热线圈和谐振电容组成的谐振回路、晶体管开关和电源模块，所述谐振回路、所述晶体管开关和所述电源模块串联连接，所述烹饪器具还包括与所述加热线圈串联的互感器和与所述互感器的次级电路相连的信号采样电路，所述锅具检测装置，包括：控制单元，用于控制所述晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；采集单元，用于在所述晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；判断单元，用于根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

根据本发明的实施例的锅具检测装置，对于单晶体管开关的电路方案，通过控制晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态，以在进入关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过信号采样电路采集互感器的次级电路中的电流信号和/或次级电路中电流的振荡频率，以对烹饪器具上是否放置锅具进行判断，使得能够在实现对烹饪器具上是否放置锅具进行检测的前提下，降低了检测电路的复杂度，同时由于仅需要晶体管开关的一次导通，因此也能够有效降低检测锅具所消耗的能量和检测所耗费的时间。

此外，对于双晶体管开关的电路方案，也可以采用上述的检测方案，具体如下所述：

根据本发明的一个实施例，所述烹饪器具包括加热线圈、第一电容、第二电容、第一晶体管开关、第二晶体管开关和电源模块，所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关串联后并联在所述电源模块的两端，所述第一电容和所述第二电容串联后并联在所述电源模块的两端，所述加热线圈的第一端连接至所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关之间，所述加热线圈的第二端连接至所述第一电容和所述第二电容之间，所述烹饪器具还包括与所述加热线圈串联的互感器和与所述互感器的次级电路相连的信号采样电路，所述锅具检测装置，包括：

控制单元，用于控制所述第一晶体管开关处于关闭状态，并控制所述第二晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；采集单元，用于在所述第二晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；判断单元，用于根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

可见，对于双晶体管开关的电路方案，同样可以控制第二晶体管开关导通一次就能够实现对烹饪器具上是否放置锅具进行检测，也能够降低检测电路的复杂度和检测锅具所消耗的能量，并且缩短了检测锅具所耗费的时间。

综上所述，本发明提出的锅具检测装置不仅能够适用于单晶体管开关的电路方案，而且适用于双晶体管开关的电路方案，提高了检测电路和检测方案的通用性。

根据本发明的上述实施例的用于烹饪器具的锅具检测装置，还可以具有以下技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述判断单元具体用于：在所述电流信号的值小于或等于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率大于或等于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上放置有锅具；以及在所述电流信号的值大于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率小于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上未放置锅具。

根据本发明的实施例的锅具检测装置，由于烹饪器具上未放置锅具时，谐振回路的负载小，谐振频率低，能量衰减慢、回路中电流能够维持较长时间，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值大于设定的电流阈值，并且振荡频率也会小于设定的频率阈值；在烹饪器具上放置锅具时，谐振回路的负载大，谐振频率高，能量衰减快、回路中的电流会迅速降低，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值小于或等于设定的电流阈值，并且振荡频率也会大于或等于设定的频率阈值，因此可以根据电流信号的值与电流阈值之间的关系，和/或振荡频率与频率阈值之间的关系判断烹饪器具上是否放置锅具。

根据本发明的一个实施例，所述第一预定时长处于10微秒至50微秒之间。

根据本发明的一个实施例，所述烹饪器具还包括控制装置，则所述判断单元具体用于：通过所述采样电路将采集到的所述电流信号转换为电压信号并传输至所述控制装置，以使所述控制装置根据所述电压信号的大小和/或所述振荡频率的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

具体地，由于控制装置，如单片机通常不能处理电流信号，因此可以将电流信号转换为电压信号传输至控制装置进行处理。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1示出了根据本发明的一个实施例的烹饪器具的内部电路示意图；

图2示出了根据本发明的一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测方法的示意流程图；

图3示出了根据本发明的一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测装置的示意框图；

图4示出了根据本发明的另一个实施例的烹饪器具的内部电路示意图；

图5示出了根据本发明的另一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测方法的示意流程图；

图6示出了根据本发明的另一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测装置的示意框图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

图1示出了根据本发明的一个实施例的烹饪器具的内部电路示意图。

如图1所示，根据本发明的一个实施例的烹饪器具的内部电路，包括：由加热线圈11和谐振电容12组成的谐振回路、晶体管开关13和电源模块14，所述谐振回路、所述晶体管开关13和所述电源模块14串联连接，所述烹饪器具的内部电路还包括与所述加热线圈11串联的互感器15和与所述互感器15的次级电路相连的信号采样电路16，以及与所述信号采样电路16相连的控制装置17，控制装置17可以是单片机，控制装置17可以连接至晶体管开关13的控制端，以控制晶体管开关13的开关状态，晶体管开关13可以是IGBT。

在图1的硬件基础上，图2示出了根据本发明的一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测方法的示意流程图。

如图2所示，根据本发明的一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测方法，包括：步骤202，控制晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；步骤204，在所述晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过信号采样电路采集互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；步骤206，根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断烹饪器具上是否放置锅具。

具体地，对于单晶体管开关的电路方案，通过控制晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态，以在进入关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过信号采样电路采集互感器的次级电路中的电流信号和/或次级电路中电流的振荡频率，以对烹饪器具上是否放置锅具进行判断，使得能够在实现对烹饪器具上是否放置锅具进行检测的前提下，降低了检测电路的复杂度，同时由于仅需要晶体管开关的一次导通，因此也能够有效降低检测锅具所消耗的能量和检测所耗费的时间。

根据本发明的上述实施例的用于烹饪器具的锅具检测方法，还可以具有以下技术特征：

根据本发明的一个实施例，判断所述烹饪器具上是否放置锅具的步骤具体包括：在所述电流信号的值小于或等于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率大于或等于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上放置有锅具；以及在所述电流信号的值大于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率小于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上未放置锅具。

由于烹饪器具上未放置锅具时，谐振回路的负载小，谐振频率低，能量衰减慢、回路中电流能够维持较长时间，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值大于设定的电流阈值，并且振荡频率也会小于设定的频率阈值；在烹饪器具上放置锅具时，谐振回路的负载大，谐振频率高，能量衰减快、回路中的电流会迅速降低，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值小于或等于设定的电流阈值，并且振荡频率也会大于或等于设定的频率阈值，因此可以根据电流信号的值与电流阈值之间的关系，和/或振荡频率与频率阈值之间的关系判断烹饪器具上是否放置锅具。

根据本发明的一个实施例，所述第一预定时长处于10微秒至50微秒之间。

根据本发明的一个实施例，所述烹饪器具还包括控制装置，则根据所述电流信号的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具的步骤具体包括：

通过所述采样电路将采集到的所述电流信号转换为电压信号并传输至所述控制装置，以使所述控制装置根据所述电压信号的大小和/或所述振荡频率的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

具体地，由于控制装置，如单片机通常不能处理电流信号，因此可以将电流信号转换为电压信号传输至控制装置进行处理。

在图1的硬件基础上，图3示出了根据本发明的一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测装置的示意框图。

如图3所示，根据本发明的一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测装置300，包括：控制单元302，用于控制所述晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；采集单元304，用于在所述晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；判断单元306，用于根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

具体地，对于单晶体管开关的电路方案，通过控制晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态，以在进入关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过信号采样电路采集互感器的次级电路中的电流信号和/或次级电路中电流的振荡频率，以对烹饪器具上是否放置锅具进行判断，使得能够在实现对烹饪器具上是否放置锅具进行检测的前提下，降低了检测电路的复杂度，同时由于仅需要晶体管开关的一次导通，因此也能够有效降低检测锅具所消耗的能量和检测所耗费的时间。

根据本发明的上述实施例的用于烹饪器具的锅具检测装置300，还可以具有以下技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述判断单元306具体用于：在所述电流信号的值小于或等于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率大于或等于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上放置有锅具；以及在所述电流信号的值大于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率小于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上未放置锅具。

由于烹饪器具上未放置锅具时，谐振回路的负载小，谐振频率低，能量衰减慢、回路中电流能够维持较长时间，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值大于设定的电流阈值，并且振荡频率也会小于设定的频率阈值；在烹饪器具上放置锅具时，谐振回路的负载大，谐振频率高，能量衰减快、回路中的电流会迅速降低，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值小于或等于设定的电流阈值，并且振荡频率也会大于或等于设定的频率阈值，因此可以根据电流信号的值与电流阈值之间的关系，和/或振荡频率与频率阈值之间的关系判断烹饪器具上是否放置锅具。

根据本发明的一个实施例，所述第一预定时长处于10微秒至50微秒之间。

根据本发明的一个实施例，所述烹饪器具还包括控制装置，则所述判断单元306具体用于：通过所述采样电路将采集到的所述电流信号转换为电压信号并传输至所述控制装置，以使所述控制装置根据所述电压信号的大小和/或所述振荡频率的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

具体地，由于控制装置，如单片机通常不能处理电流信号，因此可以将电流信号转换为电压信号传输至控制装置进行处理。

图4示出了根据本发明的另一个实施例的烹饪器具的内部电路示意图。

如图4所示，根据本发明的另一个实施例的烹饪器具的内部电路，包括：加热线圈41、第一电容42、第二电容43、第一晶体管开关44、第二晶体管开关45和电源模块46，所述第一晶体管开关44和所述第二晶体管开关45串联后并联在所述电源模块46的两端，所述第一电容42和所述第二电容43串联后并联在所述电源模块46的两端，所述加热线圈41的第一端连接至所述第一晶体管开关44和所述第二晶体管开关45之间，所述加热线圈41的第二端连接至所述第一电容42和所述第二电容43之间，所述烹饪器具的内部电路还包括与所述加热线圈41串联的互感器47和与所述互感器47的次级电路相连的信号采样电路48，以及与所述信号采样电路48相连的控制装置49，控制装置49可以是单片机，控制装置49可以连接至第一晶体管开关44的控制端和第二晶体管开关45的控制端，以控制第一晶体管开关44和第二晶体管开关45的开关状态，第一晶体管开关44和第二晶体管开关45可以是IGBT。该实施例为双晶体管开关的电路方案。

在图4的硬件基础上，图5示出了根据本发明的另一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测方法的示意流程图。

如图5所示，根据本发明的另一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测方法，包括：步骤502，控制第一晶体管开关处于关闭状态，并控制第二晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；步骤504，在所述第二晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过信号采样电路采集互感器的次级电路中的电流信号和/或采集互感器的次级电路中电流的振荡频率；步骤506，根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断烹饪器具上是否放置锅具。

可见，对于双晶体管开关的电路方案，同样可以控制第二晶体管开关导通一次就能够实现对烹饪器具上是否放置锅具进行检测，也能够降低检测电路的复杂度和检测锅具所消耗的能量，并且缩短了检测锅具所耗费的时间。

结合图2和图5可见，本发明提出的锅具检测方案不仅能够适用于单晶体管开关的电路方案，而且适用于双晶体管开关的电路方案，提高了检测电路和检测方案的通用性。

根据本发明的上述实施例的用于烹饪器具的锅具检测方法，还可以具有以下技术特征：

根据本发明的一个实施例，判断所述烹饪器具上是否放置锅具的步骤具体包括：在所述电流信号的值小于或等于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率大于或等于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上放置有锅具；以及在所述电流信号的值大于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率小于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上未放置锅具。

由于烹饪器具上未放置锅具时，谐振回路的负载小，谐振频率低，能量衰减慢、回路中电流能够维持较长时间，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值大于设定的电流阈值，并且振荡频率也会小于设定的频率阈值；在烹饪器具上放置锅具时，谐振回路的负载大，谐振频率高，能量衰减快、回路中的电流会迅速降低，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值小于或等于设定的电流阈值，并且振荡频率也会大于或等于设定的频率阈值，因此可以根据电流信号的值与电流阈值之间的关系，和/或振荡频率与频率阈值之间的关系判断烹饪器具上是否放置锅具。

根据本发明的一个实施例，所述第一预定时长处于10微秒至50微秒之间。

根据本发明的一个实施例，所述烹饪器具还包括控制装置，则根据所述电流信号的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具的步骤具体包括：

通过所述采样电路将采集到的所述电流信号转换为电压信号并传输至所述控制装置，以使所述控制装置根据所述电压信号的大小和/或所述振荡频率的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

具体地，由于控制装置，如单片机通常不能处理电流信号，因此可以将电流信号转换为电压信号传输至控制装置进行处理。

在图4的硬件基础上，图6示出了根据本发明的另一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测装置的示意框图。

如图6所示，根据本发明的另一个实施例的用于烹饪器具的锅具检测装置600，包括：控制单元602，用于控制所述第一晶体管开关处于关闭状态，并控制所述第二晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；采集单元604，用于在所述第二晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；判断单元606，用于根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

可见，对于双晶体管开关的电路方案，同样可以控制第二晶体管开关导通一次就能够实现对烹饪器具上是否放置锅具进行检测，也能够降低检测电路的复杂度和检测锅具所消耗的能量，并且缩短了检测锅具所耗费的时间。

根据本发明的上述实施例的用于烹饪器具的锅具检测装置600，还可以具有以下技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述判断单元606具体用于：在所述电流信号的值小于或等于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率大于或等于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上放置有锅具；以及在所述电流信号的值大于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率小于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上未放置锅具。

由于烹饪器具上未放置锅具时，谐振回路的负载小，谐振频率低，能量衰减慢、回路中电流能够维持较长时间，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值大于设定的电流阈值，并且振荡频率也会小于设定的频率阈值；在烹饪器具上放置锅具时，谐振回路的负载大，谐振频率高，能量衰减快、回路中的电流会迅速降低，因此在经过第二预定时长之后的电流信号值小于或等于设定的电流阈值，并且振荡频率也会大于或等于设定的频率阈值，因此可以根据电流信号的值与电流阈值之间的关系，和/或振荡频率与频率阈值之间的关系判断烹饪器具上是否放置锅具。

根据本发明的一个实施例，所述第一预定时长处于10微秒至50微秒之间。

根据本发明的一个实施例，所述烹饪器具还包括控制装置，则所述判断单元606具体用于：通过所述采样电路将采集到的所述电流信号转换为电压信号并传输至所述控制装置，以使所述控制装置根据所述电压信号的大小和/或所述振荡频率的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

具体地，由于控制装置，如单片机通常不能处理电流信号，因此可以将电流信号转换为电压信号传输至控制装置进行处理。

在本发明的其他实施例中，也可以通过以下控制方案实现对锅具的检测：

控制方案一：对于如图1所示的硬件电路，可以控制晶体管开关13以预定的频率进行开通关断工作，但仅在第一次开通且关断之后检测电流和/或振荡频率来判断烹饪器具上是否放置锅具。预定的频率可以是20KHz-100KHz之间。

控制方案二：

对于如图4所示的硬件电路，可以控制第一晶体管开关44关闭，并控制第二晶体管开关45以预定的频率进行开通关断工作，但仅在第一次开通且关断之后检测电流和/或振荡频率来判断烹饪器具上是否放置锅具。预定的频率可以是20KHz-100KHz之间。当然，也可以控制第二晶体管开关45关闭，并控制第一晶体管开关44以预定的频率进行开通关断工作。

本发明的技术方案可以有效解决现有电流检锅方案的检锅时间长、消耗能量多等问题，实现了高速检锅，同时消耗的能量少；此外也解决了脉冲检锅电路方案的复杂、电路利用率低、通用性差等问题，具有电路方案简单、电路多种功能作用、通用性强等特点。经过测试，本发明的技术方案可以实现快速锅具检测，通常在1毫秒内即可完成检测。

以上结合附图详细说明了本发明的技术方案，本发明提出了一种新的用于烹饪器具的锅具检测方案，能够缩短检测锅具所耗费的时间、降低检测锅具所消耗的能量和检测电路的复杂度，同时提高检测电路的通用性的。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于烹饪器具的锅具检测方法，其特征在于，所述烹饪器具包括由加热线圈和谐振电容组成的谐振回路、晶体管开关和电源模块，所述谐振回路、所述晶体管开关和所述电源模块串联连接，所述烹饪器具还包括与所述加热线圈串联的互感器和与所述互感器的次级电路相连的信号采样电路，所述锅具检测方法，包括：

控制所述晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；

在所述晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；

根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

2.一种用于烹饪器具的锅具检测方法，其特征在于，所述烹饪器具包括加热线圈、第一电容、第二电容、第一晶体管开关、第二晶体管开关和电源模块，所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关串联后并联在所述电源模块的两端，所述第一电容和所述第二电容串联后并联在所述电源模块的两端，所述加热线圈的第一端连接至所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关之间，所述加热线圈的第二端连接至所述第一电容和所述第二电容之间，所述烹饪器具还包括与所述加热线圈串联的互感器和与所述互感器的次级电路相连的信号采样电路，所述锅具检测方法，包括：

控制所述第一晶体管开关处于关闭状态，并控制所述第二晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；

在所述第二晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；

根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

3.根据权利要求1或2所述的用于烹饪器具的锅具检测方法，其特征在于，判断所述烹饪器具上是否放置锅具的步骤具体包括：

在所述电流信号的值小于或等于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率大于或等于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上放置有锅具；以及

在所述电流信号的值大于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率小于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上未放置锅具。

4.根据权利要求1或2所述的用于烹饪器具的锅具检测方法，其特征在于，所述第一预定时长处于10微秒至50微秒之间。

5.根据权利要求1或2所述的用于烹饪器具的锅具检测方法，其特征在于，所述烹饪器具还包括控制装置，则根据所述电流信号的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具的步骤具体包括：

通过所述采样电路将采集到的所述电流信号转换为电压信号并传输至所述控制装置，以使所述控制装置根据所述电压信号的大小和/或所述振荡频率的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

6.一种用于烹饪器具的锅具检测装置，其特征在于，所述烹饪器具包括由加热线圈和谐振电容组成的谐振回路、晶体管开关和电源模块，所述谐振回路、所述晶体管开关和所述电源模块串联连接，所述烹饪器具还包括与所述加热线圈串联的互感器和与所述互感器的次级电路相连的信号采样电路，所述锅具检测装置，包括：

控制单元，用于控制所述晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；

采集单元，用于在所述晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；

判断单元，用于根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

7.一种用于烹饪器具的锅具检测装置，其特征在于，所述烹饪器具包括加热线圈、第一电容、第二电容、第一晶体管开关、第二晶体管开关和电源模块，所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关串联后并联在所述电源模块的两端，所述第一电容和所述第二电容串联后并联在所述电源模块的两端，所述加热线圈的第一端连接至所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关之间，所述加热线圈的第二端连接至所述第一电容和所述第二电容之间，所述烹饪器具还包括与所述加热线圈串联的互感器和与所述互感器的次级电路相连的信号采样电路，所述锅具检测装置，包括：

控制单元，用于控制所述第一晶体管开关处于关闭状态，并控制所述第二晶体管开关在导通第一预定时长后进入关闭状态；

采集单元，用于在所述第二晶体管开关进入所述关闭状态的时长达到第二预定时长时，通过所述信号采样电路采集所述互感器的次级电路中的电流信号和/或采集所述互感器的次级电路中电流的振荡频率；

判断单元，用于根据所述电流信号的大小和/或所述振荡频率的大小，判断所述烹饪器具上是否放置锅具。

8.根据权利要求6或7所述的用于烹饪器具的锅具检测装置，其特征在于，所述判断单元具体用于：

在所述电流信号的值小于或等于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率大于或等于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上放置有锅具；以及

在所述电流信号的值大于设定的电流阈值时，和/或在所述振荡频率小于设定的频率阈值时，判定所述烹饪器具上未放置锅具。

9.根据权利要求6或7所述的用于烹饪器具的锅具检测装置，其特征在于，所述第一预定时长处于10微秒至50微秒之间。

10.根据权利要求6或7所述的用于烹饪器具的锅具检测装置，其特征在于，所述烹饪器具还包括控制装置，则所述判断单元具体用于：

通过所述采样电路将采集到的所述电流信号转换为电压信号并传输至所述控制装置，以使所述控制装置根据所述电压信号的大小和/或所述振荡频率的大小判断所述烹饪器具上是否放置锅具。