CN104350433B - 图像形成装置 - Google Patents

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Abstract

在不具有专用于一次转印的电源并且不具有用于一次转印的高电压的配置中，当同时执行一次转印和用于确定二次转印电压的电压施加时，存在一次转印可能有缺陷的风险。通过控制电源使得齐纳二极管中的电压降维持齐纳击穿电压，来减小该风险。

Description

图像形成装置
技术领域
本发明涉及诸如复印机、打印机等的使用电子照相类型的图像形成装置。
背景技术
在电子照相类型的图像形成装置中，为了应对各种记录材料，中间转印类型是已知的，在中间转印类型中，调色剂图像从感光部件被转印到中间转印部件上(一次转印)，并然后从中间转印部件被转印到记录材料上(二次转印)，以形成图像。
日本公开专利申请2003-35986公开了中间转印类型的常规构成。更具体而言，在日本公开专利申请2003-35986中，为了将调色剂图像从感光部件一次转印到中间转印部件上，设置一次转印辊，并且专用于一次转印的电源与一次转印辊连接。并且，在日本公开专利申请2003-35986中，为了将调色剂图像从中间转印部件二次转印到记录材料上，设置二次转印辊，并且专用于二次转印的电压源与二次转印辊连接。
在日本公开专利申请2006-259640中，存在电压源与内部二次转印辊连接并且另一电压源与外部二次转印辊连接的构成。在日本公开专利申请2006-259640中，描述了如下效果：通过电压源对内部二次转印辊的电压施加来实现调色剂图像从感光部件到中间转印部件上的一次转印。
发明内容
[本发明要解决的问题]
但是，当设置专用于一次转印的电压源时，存在导致成本增加的倾向，因此希望省略专用于一次转印的电压源的方法。
已发现省略专用于一次转印的电压源并且中间转印部件通过恒压元件接地以产生预定的一次转印电压的构成。
但是，在以上的构成中，存在如下问题：在一次转印的定时和为了确定二次转印电压向二次转印部件施加电压的定时重叠的情况下，当要被施加的测试电压低时，一次转印电压比预定电压低，从而产生一次转印缺陷。
[解决问题的手段]
本发明提供一种图像形成装置，该图像形成装置包括：图像承载部件，用于承载调色剂图像；中间转印部件，用于携载在一次转印位置处从图像承载部件转印的调色剂图像；转印部件，被设置为能与中间转印部件的外周表面接触，用于在二次转印位置处将调色剂图像从中间转印部件转印到记录材料上；恒压元件，电连接于中间转印部件与地电势之间，用于通过在其中通过电流来维持预定电压；电源，用于通过向转印部件施加电压以使电流通过恒压元件，来形成二次转印位置处的二次转印电场和一次转印位置处的一次转印电场两者；检测部分，用于检测通过转印部件的电流；执行部分，用于执行测试模式，在所述测试模式中，当在二次转印位置处不存在记录材料时，通过电源向转印部件施加测试电压，以通过检测部分检测电流；以及控制器，用于基于在测试模式中由检测部分检测的电流，来控制当在二次转印位置处存在记录材料时要由电源施加到转印部件的电压，其中，控制器控制由电源施加的测试电压，使得恒压元件至少在测试模式的时段与在一次转印位置处转印调色剂图像的时段之间的重叠时段中维持所述预定电压。
[本发明的效果]
在通过恒压源在中间转印部件中产生预定电压的构成中，可以避免能够在一次转印的定时和向转印部件施加电压的定时重叠的情况下产生的转印缺陷。
附图说明
图1是图像形成装置的基本结构的示图。
图2是示出转印电势与静电图像电势之间的关系的示图。
图3是示出齐纳二极管的IV特性的示图。
图4是示出控制框图的示图。
图5是示出流入电流与施加电压之间的关系的示图。
图6是示出带电势与施加电压之间的关系的示图。
图7是二次转印电压源的控制的时间图。
图8是另一实施例中的二次转印电压源的控制的时间图。
图9是另一实施例中的二次转印电压源的控制的时间图。
图10示出齐纳二极管的温度特性。
图11是电流流入开始电压V0的校正方法的流程图。
图12是示出中间转印带的电势与二次转印电流之间的关系的示图。
图13是示出二次转印电流与二次转印电压之间的关系的示图。
具体实施方式
以下，将按照附图描述本发明的实施例。顺便说一句，在每一个附图中，对具有相同的结构或功能的要素分配相同的附图标记，并且省略了对这些要素的冗余描述。
(实施例1)
[图像形成装置]
图1示出本实施例中的图像形成装置。图像形成装置采用其中用于各颜色的图像形成单元独立并且被级联布置的级联类型。另外，图像形成装置采用中间转印类型，在该中间转印类型中，调色剂图像从用于各颜色的图像形成单元被转印到中间转印部件上，并然后从中间转印部件被转印到记录材料上。
图像形成站101a、101b、101c、101d是用于分别形成黄色(Y)、品红色(M)、青色(C)和黑色(K)调色剂图像的图像形成构件。这些图像形成单元相对于中间转印带7的移动方向从上游侧以图像形成单元101a、101b、101c和101d的次序即以黄色、品红色、青色和黑色的次序被设置。
图像形成单元101a、101b、101c、101d分别包含其上形成调色剂图像的作为感光部件(图像承载部件)的感光鼓1a、1b、1c、1d。一次充电器2a、2b、2c、2d是用于使各感光鼓1a、1b、1c、1d的表面充电的充电构件。曝光器件3a、3b、3c、3d设有激光扫描器，以将通过一次充电器充电的感光鼓1a、1b、1c和1d曝光。通过使得基于图像信息而接通和关断的激光扫描器的输出，在各感光鼓上形成与图像对应的静电图像。即，一次充电器和曝光构件用作用于在感光鼓上形成静电图像的静电图像形成构件。显影器件4a、4b、4c和4d设有用于容纳黄色、品红色、青色和黑色调色剂的容纳容器，并且是用于使用调色剂使感光鼓1a、1b、1c和1d上的静电图像显影的显影构件。
在感光鼓1a、1b、1c、1d上形成的调色剂图像在一次转印部分N1a、N1b、N1c和N1d(一次转印位置)中被一次转印到中间转印带7上。以这种方式，四个颜色的调色剂图像被叠置地转印到中间转印带7上。以下将详细描述一次转印。
感光部件鼓清洁器件6a、6b、6c和6d去除残留于感光鼓1a、1b、1c和1d上而未在一次转印部分N1a、N1b、N1c和N1d中转印的残余调色剂。
中间转印带7(中间转印部件)是可移动中间转印部件，调色剂图像要从感光鼓1a、1b、1c、1d被转印到该可移动中间转印部件上。在本实施例中，中间转印带7具有包含基层和表面层的两层结构。基层处于内侧(内周表面侧、张紧部件侧)并且接触张紧部件。表面层处于外表面侧(外周表面侧、图像承载部件侧)并且接触感光鼓。基层包含加入有适量的诸如碳黑的静电防止剂的，诸如聚酰亚胺、聚酰胺、PEN、PEEK的树脂材料或各种橡胶。中间转印带7的基层被形成为具有其102-107Ωcm的体积电阻率。在本实施例中，基层包含膜状环带形式的、具有约45-150μm的中心厚度的聚酰亚胺。并且，作为表面层，施加沿厚度方向具有1013-1016Ωcm的体积电阻率的丙烯酸涂层。即，基层的体积电阻率比表面层的体积电阻率低。
在中间转印部件具有两层或更多层结构的情况下，外周表面侧层的体积电阻率比内周表面侧层的体积电阻率高。
表面层的厚度为0.5-10μm。当然，并不意在将厚度限于这些数值。
中间转印带7在通过接触中间转印带7的内周表面的张紧辊10、11和12接触中间转印带7的同时被张紧。辊10通过作为驱动源的马达被驱动，由此用作用于驱动中间转印带7的驱动辊。并且，辊10也是通过中间转印带向外部二次转印辊13加压的内部二次转印辊。辊11用作用于向中间转印带7施加预定张力的张力辊。另外，辊11还用作用于防止中间转印带7的蛇形运动的校正辊。对于张力辊11的带张力被构成为约5-12kgf。通过施加的该带张力，在中间转印带7与各感光鼓1a-1d之间形成作为一次转印部分N1a、N1b、N1c和N1d的压合部。内部二次转印辊62通过恒定速度性能优异的马达被驱动，并且用作用于循环和驱动中间转印带7的驱动辊。
记录材料被容纳于用于容纳记录材料P的片材盘中。记录材料P在预定的定时通过拾取辊从片材盘被拾取，并且被馈送到对齐辊。与中间转印带上的调色剂图像的馈送同步地，记录材料P通过对齐辊被馈送到用于将调色剂图像从中间转印带转印到记录材料上的二次转印部分N2。
外部二次转印辊13(转印部件)是用于通过从中间转印带7的外周表面经由中间转印带7向内部二次转印辊10加压而与内部二次转印辊13一起形成二次转印部分N2(二次转印位置)的二次转印部件。作为二次转印电压源的二次转印高电压(电力)源22与外部二次转印辊13连接，并且是能够向外部二次转印辊13施加电压的电压源(电源)。
当记录材料P被馈送到二次转印部分N2时，通过向外部二次转印辊13施加极性与调色剂相反的二次转印电压形成二次转印电场，使得调色剂图像从中间转印带7被转印到记录材料上。
顺便说一句，用EPDM橡胶形成内部二次转印辊10。内部二次转印辊被设定成20mm的直径、0.5mm的橡胶厚度和70°的硬度(Asker-C)。外部二次转印辊13包含由NBR橡胶、EPDM橡胶等形成的弹性层，以及芯部金属。外部二次转印辊13被形成为具有24mm的直径。
相对于中间转印带7移动的方向，在与二次转印部分N2相比的下游侧，设置用于去除残留于中间转印带7上而未在二次转印部分N2处转印到记录材料上的残余调色剂和纸粉末的中间转印带清洁器件14。
[无一次转印高电压系统中的一次转印电场形成]
本实施例采用其中为了降低成本而省略专用于一次转印的电压源的构成。因此，在本实施例中，为了将调色剂图像从感光鼓静电一次转印到中间转印带7上，使用二次转印电压源22(以下，该构成被称为无一次转印高电压系统)。
但是，在其中用于张紧中间转印带的辊直接接地的构成中，即使当二次转印电压源210向外部二次转印辊64施加电压时，也存在电流中的大部分流入张紧辊侧并且电流不流入感光鼓侧的倾向。即，即使当二次转印电压源210施加电压时，电流也不经由中间转印带56流入感光鼓50a、50b、50c和50d中，使得用于转印调色剂图像的一次转印电场不在感光鼓与中间转印带之间起作用。
因此，为了导致一次转印电场作用在无一次转印高电压系统中起作用，希望在张紧辊60、61、62和63中的每一个与地之间设置无源元件，以使电流通向感光鼓侧。
结果，中间转印带的电势变高，使得一次转印电场在感光鼓与中间转印带之间起作用。
顺便说一句，为了在无一次转印高电压系统中形成一次转印电场，需要通过从二次转印电压源210(电源)施加电压来沿中间转印带的周向方向通过电流。但是，如果中间转印带自身的电阻高，那么中间转印带的相对于中间转印带移动的移动方向(周向方向)的电压降变大。结果，还存在电流较不易于沿周向方向通过中间转印带朝向感光鼓1a、1b、1c和1d的倾向。出于这种原因，中间转印带可希望具有低电阻层。在本实施例中，为了抑制中间转印带中的电压降，中间转印带的基层被形成为具有102Ω/□或更大且108Ω/□或更小的表面电阻率。并且，在本实施例中，中间转印带具有两层结构。这是因为，通过设置高电阻层作为表面层，流入非图像部分中的电流被抑制，并由此进一步容易地增强转印性能。当然，层结构并不意在限于该结构。还可以采用单层结构或者三层或更多层的结构。
接下来，通过使用图2，将描述作为感光鼓的电势与中间转印带的电势之间的差的一次转印对比度。
图2是感光鼓1的表面通过充电构件2充电且感光鼓表面具有电势Vd(在本实施例中-450V)的情况。并且，图2是充电的感光鼓的表面通过曝光构件3被曝光且感光鼓表面具有Vl(在本实施例中-150V)的情况。电势Vd是不沉积调色剂的非图像部分的电势，并且电势Vl是沉积调色剂的图像部分的电势。Vitb示出中间转印带的电势。
鼓的表面电势基于在充电和曝光构件的下游侧且在显影构件的上游设置在感光鼓附近的电势传感器的检测结果被控制。
电势传感器检测感光鼓表面的非图像部分电势和图像部分电势，并且基于非图像部分电势控制充电构件的充电电势，并基于图像部分电势控制曝光构件的曝光量。
通过该控制，相对于感光鼓的表面电势，图像部分电势和非图像部分电势的电势都可被设定在适当的值。
相对于感光鼓上的该充电电势，通过显影器件4施加显影偏压Vdc(在本实施例中，作为DC分量的-250V)，使得通过显影在感光鼓侧形成充负电的调色剂。
作为感光鼓的Vl与显影偏压Vdc之间的电势差的显影对比度Vca是：-150(V)-(-250(V))＝100(V)。
作为图像部分电势Vl与非图像部分电势Vd之间的电势差的静电图像对比度Vcb是：-150(V)-(-450(V))＝300(V)。
作为图像部分电势Vl与中间转印带的电势Vitb(在本实施例中300V)之间的电势差的一次转印对比度Vtr是：300V-(-150(V))＝450(V)。
顺便说一句，在本实施例中，采用了其中通过重视感光鼓电势的检测准确度设置电势传感器的构成，但本发明并不意在限于该构成。还可以采用如下构成：其中，通过重视成本降低而在不设置电势传感器的情况下将静电图像形成条件与感光鼓电势之间的关系事先存储于ROM中，并然后基于存储于ROM中的关系控制感光鼓的电势。
[齐纳二极管]
在无一次转印高电压系统中，由作为中间转印带的电势与感光鼓的电势之间的电势差的一次转印对比度(一次转印电场)确定一次转印。出于这种原因，为了稳定地形成一次转印对比度，希望中间转印带的电势保持恒定。
因此，在本实施例中，使用齐纳二极管作为设置在张紧辊与地之间的恒压元件。顺便说一句，作为齐纳二极管的替代，也可使用变阻器。
图3示出齐纳二极管的电流-电压特性。齐纳二极管导致电流在施加齐纳击穿电压Vbr或更大的电压之前几乎不流动，但具有使得电流在施加齐纳击穿电压或更大的电压时突然流动的特性。即，在向齐纳二极管15施加的电压是齐纳击穿电压(击穿电压)或更大的范围中，齐纳二极管15的电压降使得导致电流流动以维持齐纳电压。
通过利用齐纳二极管的这种电流-电压特性，中间转印带7的电势保持恒定。
即，在本实施例中，齐纳二极管15被设置为张紧辊10、11和12中的每一个与地之间的恒压元件。
另外，在一次转印期间，二次转印电压源22施加电压，使得向齐纳二极管15施加的电压保持于齐纳击穿电压。结果，在一次转印期间，中间转印带7的带电势可保持恒定。
在本实施例中，在张紧辊中的每一个与地之间，提供齐纳击穿电压的25V的标准值Vbr的12个齐纳二极管15以它们串联连接的状态被设置。即，在向齐纳二极管施加的电压保持于齐纳击穿电压的范围中，中间转印带的电势在各齐纳二极管的齐纳击穿电压的和即25×12＝300V处保持恒定。
当然，本发明并不意在限于使用多个齐纳二极管的构成。还可以采用仅使用一个齐纳二极管的构成。
当然，中间转印带的表面电势并不意在限于表面电势是300V的构成。可能希望依赖于调色剂的种类和感光鼓的特性适当地设定表面电势。
以这种方式，当由二次转印电压源210施加电压时，齐纳二极管的电势维持预定的电势，使得在感光鼓与中间转印带之间形成一次转印电场。并且，与常规的构成类似，当由二次转印高电压源施加电压时，在中间转印带与外部二次转印辊之间形成二次转印电场。
[控制器]
将参照图4描述用于实现整个图像形成装置的控制的控制器的构成。控制器包含如图4所示的CPU电路部分150(控制器)。CPU电路部分150在其中并入有CPU、ROM 151和RAM152。二次转印部分电流检测电路204是用于检测通过外部二次转印辊的电流的电路(检测部分，第一检测部分)。张紧辊流入电流检测电路205(第二检测部分)是用于检测流入张紧辊中的电流的电路。电势传感器206是用于检测感光鼓表面的电势的传感器。温度和湿度传感器207是用于检测温度和湿度的传感器。
来自二次转印部分电流检测电路204、张紧辊流入电流检测电路205、电势传感器206、以及温度和湿度传感器207的信息被输入到CPU电路部分150中。然后，CPU电路部分150依赖于存储于ROM 151中的控制程序实现二次转印电压源22、显影高电压源201、曝光构件高电压源202和充电构件高电压源203的总体控制。在后面描述的环境表和纸厚度对应表被存储于ROM 151中，并且通过CPU被调出并且被反映。RAM 152暂时保持控制数据，并且用作伴随控制的运算处理的操作区域。
[判断功能]
在本实施例中，为了使得中间转印带的表面电势不小于齐纳电压，执行用于判断由二次转印电压源施加的电压的下限电压的步骤。通过使用图5进行描述。
在本实施例中，为了判断下限电压，使用用于检测经由齐纳二极管15流入地中的电流的张紧辊流入电流检测电路(第二检测部分)。张紧辊流入电流检测电路连接于齐纳二极管与地之间。即，张紧辊中的每一个经由齐纳二极管和张紧辊流入电流检测电路与地电势连接。
如图3所示，齐纳二极管具有使得电流在齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压的范围中几乎不流动的特性。出于这种原因，当张紧辊流入电流检测电路未检测到电流时，可以判断齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压。并且，当张紧辊流入电流检测电路检测到电流时，可以判断齐纳二极管的电压降维持齐纳击穿电压。
首先，施加用于Y、M、C和Bk的所有站的充电电压，使得感光鼓的表面电势被控制在非图像部分电势Vd。
接下来，二次转印电压源施加测试电压。由二次转印电压源施加的测试电压线性或逐步增大。在图5中，测试电压以V1、V2和V3的次序逐步增大。当由二次转印电压源施加的电压是V1时，张紧辊流入电流检测电路未检测到电流(I1＝0μA)。当由二次转印电压源施加的电压是V2和V3时，张紧辊流入电流检测电路分别检测到I2μA或I3μA。这里，从张紧辊流入电流检测电路检测到电流的情况下的施加电压与检测电流之间的相互关系，计算与电流开始流入齐纳二极管中的情况对应的电流流入开始电压V0。即，从I2、I3、V2和V3之间的关系，通过执行线性插值，算出电流流入开始电压V0。
作为由二次转印电压源施加的电压，通过设定超过V0的电压，可使得齐纳二极管的电压降维持齐纳击穿电压。
在图6中示出此时的由二次转印电压源施加的电压与中间转印带的带电势之间的关系。
例如，在本实施例中，齐纳二极管的齐纳电压被设定在300V。出于这种原因，在中间转印带的电势小于300V的范围中，电流不流入齐纳二极管中，并且当中间转印带的带电势是300V时，电流开始流入齐纳二极管中。即使当由二次转印电压源施加的电压进一步增大时，中间转印带的带电势也被控制为恒定。
即，在小于开始检测到电流流入齐纳二极管中的V0的范围中，当二次转印偏压改变时，带电势不能被控制在恒定的电压。在超过开始检测到电流流入齐纳二极管中的V0的范围中，即使当二次转印偏压改变时，带电势也可被控制在恒定的电压。
顺便说一句，在本实施例中，使用电流流入开始电压之前和之后作为测试电压，但本发明并不意在限于该构成。作为测试电压，通过事先设定更大的预定电压，也可以采用其中所有测试电压超过电流流入开始电压的构成。在这种构成中，存在使得可省略判断步骤的优点。
顺便说一句，在本实施例中，通过重视电流流入开始电压的计算准确度的提高，采用其中执行用于计算电流流入开始电压V0的判断功能的构成。当然，本发明并不意在限于该构成。通过重视长停机时间的抑制，不是其中执行用于计算电流流入开始电压V0的判断功能的构成，也可以采用其中电流流入开始电压V0事先被存储于ROM中的构成。
[用于设定二次转印电压的测试模式]
在本实施例中，为了设定调色剂图像要被转印到记录材料上的二次转印电压，执行施加调整电压(测试电压)的称为ATVC(主动转印电压控制)的测试模式。这是用于设定二次转印电压的测试模式，并且在记录材料不通过二次转印部分的非片材通过期间被执行。在连续形成图像的情况下，当与记录材料之间的区域对应的区域处于二次转印位置中时，也存在执行该测试模式的情况。通过ATVC，可以掌握由二次转印电压源施加的电压与通过二次转印部分的电流之间的相互关系。
为了抑制长停机时间，希望并行实施ATVC和一次转印。但是，当并行实施ATVC和一次转印时，如果齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压，那么存在使得一次转印不稳定的倾向。
因此，在本实施例中，当在记录材料不存在于二次转印部分处时并行实施ATVC和一次转印时，调整电压被设定，使得齐纳二极管的电压降保持在齐纳击穿电压。
顺便说一句，在记录材料不存在于二次转印部分处时，通过由CPU电路部分150控制二次转印电压源实施ATVC。即，CPU电路部分150用作用于执行用于设定二次转印电压的ATVC的执行部分。
在ATVC中，由二次转印电压源施加被恒压控制的多个调整电压Va、Vb和Vc。然后，在ATVC中，由二次转印部分电流检测电路204(检测部分，第一检测部分)分别检测在施加调整电压时流动的电流Ia、Ib和Ic。这是由于电压与电流之间的相互关系被掌握。
将描述本实施例中的调整电压的设定值。
在本实施例中，通过判断功能计算电流流入开始电压V0。ΔV1和ΔV2事先存储于CPU电路部分的ROM中。通过将ΔV1加到电流流入开始电压V0计算调整电压Va，通过将ΔV2加到调整电压Va计算调整电压Vb，并且通过将ΔV2加到调整电压Vb计算调整电压Vc。当概括以上时，各调整电压Va、Vb和Vc由下式表示。
Va＝V0+ΔV1
Vb＝Va+ΔV2
Vc＝Vb+ΔV2
即，包含调整电压的最低电压Va的所有调整电压Va、Vb和Vc被设定以超过电流流入开始电压V0。出于这种原因，在ATVC的执行期间，齐纳二极管的电压降保持在齐纳击穿电压。
出于这种原因，在当在二次转印部分处不存在记录材料时并行实施ATVC和一次转印的情况下，抑制了齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压。
并且，在本实施例中，ΔV1被设定，使得调整电压之中最小的电压Va是比用于形成二次转印电场的二次转印电压小的值。并且，ΔV2被设定，使得调整电压之中最大的电压Vc是比二次转印电压高的值。
顺便说一句，在以上的ATVC中，示出了其中通过检测部分检测当通过二次转印电压源施加被恒压控制的多个调整电压时流动的电流的例子，但这可通过恒流控制被执行。即，也可通过电压检测部分检测以预定的恒流值通过电流时的施加电压。顺便说一句，在本实施例中，当执行ATVC时，采用其中齐纳二极管的电压降总是保持在齐纳击穿电压的构成。但是，本发明并不意在限于该构成。在当执行ATVC时不实施一次转印的时段中，还可以采用其中齐纳二极管的电压降不保持在齐纳击穿电压而是小于齐纳击穿电压的构成。
[二次转印目标电流设定]
基于多个施加的调整电压Va、Vb和Vc与测量电流Ia、Ib和Ic之间的相互关系，计算用于导致二次转印所需要的二次转印目标电流It流动的电压Vi。基于表1所示的矩阵设定二次转印目标电流It。
表1
表1是存储于设置在CPU电路部分150中的存储部分中的表格。该表格依赖于气氛中的绝对水含量(g/kg)设定和划分二次转印目标电流It。将描述该原因。当水含量变高时，调色剂电荷量变少。因此，当水含量变高时，二次转印目标电流It被设定为变小。即，当水含量增大时，二次转印目标电流减小。顺便说一句，由CPU电路部分150从由温度和湿度传感器207检测的温度和相对湿度计算绝对水含量。顺便说一句，在本实施例中，使用绝对水含量，但水含量并不意在限于此。作为绝对水含量的替代，也可以使用湿度。
这里，用于通过It的电压V1是用于在记录材料不存在于二次转印部分处的情况下通过It的电压。但是，当在二次转印部分处存在记录材料时实施二次转印。因此，希望考虑记录材料的电阻。因此，将记录材料分担电压Vii加到电压Vi。基于表2所示的矩阵设定记录材料分担电压Vii。
表2
表2是存储于设置在CPU电路部分150中的存储部分中的表格。该表格依赖于气氛中的绝对水含量(g/kg)和记录材料基重(g/m2)设定和划分记录材料分担电压Vii。当基重增大时，记录材料分担电压Vii增大。这是由于，当基重增大时，记录材料变厚，因此记录材料的电阻增大。并且，当绝对水含量增大时，记录材料分担电压Vii降低。这是由于，当绝对水含量增大时，包含于记录材料中的水的含量增大，因此记录材料的电阻增大。并且，记录材料分担电压Vii在自动双面打印期间以及在手动双面打印期间比在单面打印期间大。顺便说一句，基重是示出每单位面积的重量(g/m2)的单位，并且一般用作示出记录材料的厚度的值。关于基重，存在用户在操作部分处输入基重的情况和记录材料的基重被输入到用于容纳记录材料的容纳部分中的情况。基于这些信息，CPU电路部分150判断基重。
通过CPU电路部分150，通过将记录材料分担电压Vii加到用于通过二次转印目标电流It的Vi获得的电压(Vi+Vii)被设定为被恒压控制的用于二次转印的二次转印目标电压Vt。即，CPU电路部分150用作用于控制二次转印电压的控制器。结果，依赖于调整电压环境和纸厚度设定适当的电压值。并且，在二次转印期间，通过CPU电路部分150在恒压控制状态中施加二次转印电压，因此，即使当记录材料的宽度改变时，也在稳定的状态中实施二次转印。
[控制的定时]
图7示出充电电压(Y、M、C、Bk)、二次转印电压源的施加电压、一次转印和二次转印的定时图。顺便说一句，图7是在记录材料上连续形成图像的情况。
当输入图像形成信号时，充电电压被接通(t0)。之后，在从t1至t2的时段中执行用于判断电流流入开始电压V0的判断功能。之后，在从t4至t5的时段中实施ATVC。之后，在从t7至t9的时段中执行二次转印。通过当在二次转印部分处存在记录材料的第一片材时施加基于ATVC设定的二次转印电压实施二次转印。之后，在从t11至t12的时段中，执行用于通过二次转印部分的记录材料的第二片材的二次转印。之后，施加到外部二次转印辊的电压被关断(t13)，并且充电被关断(t14)。
并且，在本实施例中，在从判断功能结束定时(t2)到ATVC开始定时(t4)的时段中执行用于降低电压的电压降低功能。并且，在从ATVC结束定时(t5)到对于记录材料的第一片材的二次转印开始定时(t7)的时段中执行用于降低电压的电压降低功能。并且，在从二次转印结束定时(t9)到对于记录材料的第二片材的二次转印开始定时(t11)的时段中执行用于降低电压的电压降低功能。电压降低功能是施加比用于形成二次转印电场的转印电压低的电压的功能。将描述该原因。对于二次转印辊，使用离子导电材料，因此，存在通过通电导致的电阻增大的趋向。这是由于，当向外部二次转印辊施加的电压大时，外部二次转印辊的电阻早期增大，并且存在寿命早结束的倾向。顺便说一句，在本实施例中，用于记录材料的第一片材的一次转印在t2之后且t4之前的定时(t3)开始，并在t5之后且t7之前的定时(t6)结束。
出于这种原因，在从t4至t5的时段中，在记录材料不存在于二次转印部分处的状态中，并行执行用于记录材料的第一片材的一次转印和ATVC。当施加调整电压时，如果齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压，那么存在导致一次转印缺陷的倾向。因此，在本实施例中，为了兼顾实现一次转印和ATVC，ATVC中的所有调整电压Va、Vb和Vc被设定，使得齐纳二极管的电压降维持齐纳击穿电压。即，Va＝V0+ΔV1>V0，Vb＝Va+ΔV2>V0和Vc＝Vb+ΔV2>V0。结果，即使当并行执行一次转印和ATVC时，也抑制了齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压，因此可以抑制一次转印缺陷的产生。
并且，在从t5至6的时段中，在记录材料不存在于二次转印部分处的状态下，并行执行用于记录材料的第一片材的一次转印和电压降低功能。当执行电压降低功能时，如果齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压，那么存在导致一次转印缺陷的倾向。因此，在本实施例中，为了兼顾实现一次转印和电压施加控制，在从t5至t7的时段中，电压降低功能中的施加电压V4被设定，使得齐纳二极管的电压降维持齐纳击穿电压。作为V4，通过将ΔV0加到电流流入开始电压V0获得的值被设定(V4＝V0+ΔV0>V0)。顺便说一句，通过判断功能计算V0，并且，ΔV0被事先存储于RAM中。结果，即使当并行执行一次转印和电压降低功能时，也抑制了齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压，并因此可以抑制一次转印缺陷的产生。
在本实施例中，第二片材的一次转印在t7之后且t9之前的定时(t8)开始，并在t9之后且t11之前的定时(t10)结束。
出于这种原因，在从t8至t9的时段中，并行执行用于记录材料的第二片材的一次转印和用于记录材料的第一片材的二次转印。二次转印电压被设定，使得齐纳二极管的电压降维持齐纳击穿电压。出于这种原因，即使当并行执行一次转印和二次转印时，也可以抑制源自齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压的现象的一次转印缺陷的产生。
在从t9至t10的时段中，在记录材料的第一片材与记录材料的第二片材之间的区域中，并行执行一次转印和电压降低功能。当执行电压降低功能时，如果齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压，那么存在导致一次转印缺陷的倾向。因此，在本实施例中，为了兼顾实现一次转印和电压施加控制，在从t9至t11的时段中，电压降低功能中的施加电压V4(Vd＝V0+ΔV0>V0)被设定，使得齐纳二极管的电压降维持齐纳击穿电压。结果，即使当在记录材料之间的区域中并行执行一次转印和电压降低功能时，也可以抑制由于齐纳二极管的电压降小于齐纳击穿电压的现象导致的一次转印缺陷的产生。
顺便说一句，在本实施例中，在从开始一次转印到第一记录材料上的定时到结束二次转印到最后的记录材料上的时段中，电压被设定为总是维持齐纳击穿电压。但是，本发明并不意在限于该构成。可以采用如下构成：其中，至少在并行执行一次转印与记录材料不存在于二次转印部分处时的二次转印的电压源的控制的时段中，电压被设定为维持齐纳击穿电压。例如，在本实施例中，即使在从t6至t7的时段中，也采用其中通过二次转印电压源22向外部二次转印辊施加的电压被设定为使得齐纳二极管的电压降维持齐纳击穿电压的构成。但是，在从t6至t7的时段中，不实施一次转印。因此，通过重视二次转印辊的劣化的抑制，在从t6至t7的时段中，也可以采用关断电压的构成。并且，关于从t10至t11的时段，类似地采用以上的构成。即，在本实施例中，在从t10至t11的时段中，也采用其中通过二次转印电压源22向外部二次转印辊施加的电压被设定为使得齐纳二极管的电压降维持齐纳击穿电压的构成。但是，在从t10至t11的时段中，不实施一次转印。因此，通过重视二次转印辊的劣化的抑制，在从t10至t11的时段中，也可以采用关断电压的构成。
即，在本实施例中，即使当在记录材料不存在于二次转印部分处时与一次转印并行执行ATVC或电压降低功能时，也使得齐纳二极管的电压降不小于齐纳击穿电压。出于这种原因，可以在抑制停机时间变长的同时抑制一次转印变得不稳定。
(实施例2)
在实施例1中，在从t4至t5的时段中，在记录材料不存在于二次转印部分处的状态下，并行执行用于记录材料的第一片材的一次转印和ATVC。
但是，在实施例2中，在用于记录材料的第一片材的一次转印开始时的t3之前，ATVC开始。
图8示出充电电压(Y、M、C、Bk)、二次转印电压源的施加电压、一次转印和二次转印的定时图。
在本实施例中，电流流入开始电压V0的判断被省略，并且在从t4至t5的时段中执行用于设定二次转印电压的ATVC。
在本实施例中，在t4之后且t5之前的定时(t3)，用于记录材料的第一片材的一次转印开始。
在ATVC中的调整中，通过在尽可能宽的范围中改变电压，提高调整的准确度。因此，在本实施例中，调整电压Va被设定在不大于齐纳击穿电压的电压。
但是，在本实施例中，调整电压Va的施加在一次转印开始之前开始，并与一次转印的开始同时结束，因此，不对一次转印产生施加不大于齐纳击穿电压的电压的影响，使得不产生转印缺陷。
并且，与调整电压Va的施加结束时的t3同时，一次转印开始，并且依次施加用于维持齐纳击穿电压的Vb和Vc。
在并行执行一次转印与Vb和Vc的施加的时段中，齐纳二极管的电压降不小于齐纳击穿电压，并因此可以抑制一次转印缺陷的产生。
顺便说一句，在一天的开始接通电力之后的定时或类似的定时，存在图像形成的准备不完全的情况，并且在一次转印不在ATVC期间开始的情况下，当然，调整电压可设定在不大于齐纳击穿电压的电压。
(实施例3)
在实施例3中，通过由用于检测电压的检测电路检测通过使二次转印电压源22经受恒流控制而通过测试电流时的二次转印电压源22的电压，执行ATVC。
在从t4至t5的时段中，在记录材料不存在于二次转印部分处的状态中，并行执行用于记录材料的第一片材的一次转印和被恒流控制的测试电流的通过。
图9示出充电电压(Y、M、C、Bk)、二次转印电压源的施加电压、一次转印和二次转印的定时图。
在本实施例中，二次转印电压源22的测试电流被设定为目标电流值，并且在从t4至t5的时段中执行ATVC。
在本实施例中，通过测试电流时的二次转印电压源22的电压被设定在可维持齐纳击穿电压的电压。
并且，在从t7至t9的二次转印期间，向外部二次转印辊施加通过将记录材料分担电压加到ATVC期间检测的电压所获得的电压。
在本实施例中，通过测试电流时的电压被设定在可维持齐纳击穿电压的电压，因此，一次转印期间的中间转印带的电势不降低到小于齐纳击穿电压的值，使得不产生转印缺陷。
(实施例4)
[齐纳二极管的温度特性]
在本实施例中，为了使一次转印稳定，齐纳二极管连接于中间转印带与地之间，另外，在一次转印期间，施加电压，使得齐纳二极管的电压降维持齐纳击穿电压。
但是，齐纳二极管自身具有使得齐纳击穿电压依赖于温度而改变的温度特性。
即，齐纳击穿电压的标准电压是相对于预定基准温度的值，因此，在预定基准温度，齐纳击穿电压是标准电压。即，在预定基准温度，齐纳二极管的电压降维持标准电压。但是，在温度与基准温度不同的情况下，实际的齐纳击穿电压是与标准电压不同的值。即，齐纳二极管的电压降维持与标准电压不同的电压。于是，中间转印部件的电势是与通过标准电压确定的电压不同的值。
在温度高的情况下，齐纳击穿电压的绝对值大。在这种情况下，存在施加的电压小于维持齐纳击穿电压所需要的电压的倾向。结果，存在一次转印不稳定的倾向。
因此，在本实施例中，与齐纳二极管的温度特性对应地，要向外部二次转印辊施加的电压被控制。在其中为了成本降低而省略专用于一次转印的电压源并且其中为了使一次转印稳定而连接中间转印部件与齐纳二极管的构成中，抑制了施加到齐纳二极管的电压由于齐纳二极管的温度特性而小于齐纳击穿电压。
顺便说一句，伴随装置内的较高的温度，齐纳击穿电压的绝对值变大，因此，为了维持齐纳击穿电压，使得要向外部二次转印辊施加的电压大。齐纳二极管具有使得齐纳击穿电压Vbr即使在流入电流保持恒定时也随周围温度而改变的温度特性。图10示出齐纳击穿电压Vbr与温度系数γz之间的关系。齐纳二极管具有使得温度系数γz的值随着每一个齐纳二极管的齐纳击穿电压Vbr的增大而变大的特性。
[中间转印带的电势Vitb的波动量]
这里，将描述本实施例中的如下构成：其中，通过串联连接齐纳击穿电压Vbr为150V的两个齐纳二极管，中间转印带的电势Vitb维持在300V。还将描述其中通过串联连接三个齐纳二极管、中间转印带的电势Vitb维持在450V的构成，以及其中通过串联连接四个齐纳二极管、中间转印带的电势Vitb维持在600V的构成。
首先，在本实施例中，温度和湿度传感器207(温度检测部件)被设置在图像形成装置内的齐纳二极管附近，所以它可以实时检测齐纳二极管附近的周围温度。
图像形成装置内的周围温度在片材在高温和高湿度环境(30℃、80％RH)中以自动双面(打印)连续通过之后立即达到最高状态，并且升高直至约50℃。另一方面，紧接在图像形成装置在低温和低湿度环境(15℃、10％RH)中被致动之后，周围温度为约15℃。即，当这些被比较时，图像形成装置中的周围温度具有约35℃的波动范围。
表3
表3示出周围温度相对于环境中的每个绝对水含量(g/m3)的波动范围。例如，即使在绝对水含量为9(g/m3)的一个周围环境中，周围温度也具有从11℃至46℃的约35℃的波动范围。这里，根据图10，齐纳击穿电压Vbr和温度系数γz提供以下关系：
γz＝1.1×Vbr-5.0，
因此，Vbr＝150V处的温度系数γz为160mV/℃。结果，由于周围温度的波动，中间转印带56的电势Vitb的波动量ΔVitb在Vitb＝300V的情况下是
160(mV/℃)×35(℃)×2(个)＝11.2(V)，
在Vitb＝450V的情况下是
160(mV/℃)×35(℃)×3(个)＝16.8(V)，以及
在Vitb＝600V的情况下是
160(mV/℃)×35(℃)×4(个)＝22.4(V)。
即，Vitb的值依赖于周围温度而波动，因此，在通过判断功能计算的电流流入开始电压V0中产生偏差。结果，电压降低功能中的施加电压V4(V4＝V0+ΔV0>V0)也出现偏差。
[电流流入开始电压的校正方法]
在中间转印带的电势Vitb在正极性侧偏移的情况下，用于使电势维持在齐纳击穿电压或更大的电流变得不足，使得存在电压降低功能中的施加电压V4(V4＝V0+ΔV0>V0)小于齐纳击穿电压的倾向。
另一方面，在中间转印带的电势Vitb在负极性侧偏移的情况下，要通过比使电势维持在齐纳击穿电压或更大所需要的电流强的电流。结果，无用的电流通过外部二次转印辊，使得存在加快辊劣化的倾向。
以下，将描述本实施例中的电流流入开始电压V0的校正方法。图11示出关于如下构成中的电流流入开始电压V0校正方法的流程图：在所述构成中，仅在两种或更多种周围环境改变的情况下执行用于判断电流流入开始电压V0的判断功能。
首先，紧接在从用户输入作业之后，CPU电路部分150(控制器)通过温度和湿度传感器207检测齐纳二极管11附近的周围温度T0。此时，从周围温度的波动量ΔT＝T0-Ts，计算Vitb的波动量ΔVitb。顺便说一句，Ts是上次执行用于判断电流流入开始电压V0的判断功能时的齐纳二极管11附近的周围温度，并且要事先存储于RAM中(步骤1)。接下来，CPU电路部分150从Vitb的波动量ΔVitb的符号判断对于电流流入开始电压V0的校正模式(步骤2)。在ΔVitb<0的情况下，电流与ΔVitb对应地无用通过，因此V0被(V0-ΔV2tr)替代，并且CPU电路部分150开始图像形成操作(步骤3)。在ΔVitb>0的情况下，出现施加电压V4(V4＝V0+ΔV0>V0)小于齐纳击穿电压的可能性，因此，V0被(V0+ΔV2tr)替代，并且CPU电路部分150开始图像形成操作(步骤3)。顺便说一句，ΔV2tr是二次转印部分处的施加电压相对于中间转印带的电势Vitb的波动量ΔVitb的波动量。即，ΔV2tr是要施加到外部二次转印辊的电压的使中间转印带部分波动ΔVitb所需要的波动量。然后，CPU电路部分150在一个作业中每隔预定数量的片材通过温度和湿度传感器207检测齐纳二极管11附近的周围温度，并然后计算自上次的周围温度检测时的Vitb的波动量ΔVitb。在一个作业中，图像形成装置中的周围温度沿着上升的方向，因此，CPU电路部分150用(V0+ΔV2tr)替代V0，并然后继续图像形成操作(步骤4)。在图像形成操作之后，步骤返回到步骤1。
接下来，将描述相对于中间转印带的波动量ΔVitb的二次转印电压的波动量ΔV2tr的计算方法。图12示出向所有站施加图像形成期间的充电电压Vd时的二次转印电流与中间转印带电势之间的关系。图13示出绝对水含量为22(g/m3)时的二次转印电流与二次转印电压之间的关系。如图12和图13所示，ΔVitb和ΔV2tr处于一一对应关系。出于这种原因，当计算由于周围温度的波动导致的中间转印带电势Vitb的波动量ΔVitb时，变得可以从图12和图13计算二次转印电压的波动量ΔV2tr。存在使得当向外部二次转印辊施加的电压改变ΔV2tr时中间转印带电势改变ΔVitb的关系。顺便说一句，在图像形成期间向每个站施加的充电电压在全色模式与Bk单色模式之间不同，因此不同环境中的二次转印电流与中间转印带电势之间的关系针对每种模式被存储于ROM 151中。并且，关于二次转印电流与二次转印电压之间的关系，上次执行ATVC时的数据被保持于RAM中，并然后通过CPU被调出。
通过以上，变得可以计算相对于中间转印带电势Vitb的波动量ΔVitb的二次转印电压的波动量ΔV2tr。
然后，将描述在预旋转控制期间总是执行用于判断电流流入开始电压V0的判断功能的构成中的电流流入开始电压V0校正方法。在这种情况下，相对于波动中间转印带电势，执行用于判断电流流入开始电压V0的判断功能，并因此不需要图像形成操作之前的电流流入开始电压V0的校正。
并且，当在一个作业中其上形成图像的记录材料的片材数量大时，装置内的温度逐渐升高。结果，由于齐纳二极管的温度特性，当中间转印部件的电势的波动变大时，存在波动对一次转印施加影响的倾向。结果，存在在要在同一作业中形成的图像之间产生色调的波动的倾向。因此，CPU电路部分150在一个作业中每隔预定数量的片材通过温度和湿度传感器207检测齐纳二极管11附近的周围温度，并然后计算自上次的周围温度检测的Vitb的波动量ΔVitb。在一个作业中，图像形成装置中的周围温度沿着上升的方向，因此，CPU电路部分150用(V0+ΔV2tr)替代V0，并且之后继续图像形成操作。
对以上校正总体换言之，CPU电路部分150(控制构件)控制在温度和湿度传感器207(温度检测部件)的检测温度是第一温度时施加到外部二次转印辊(转印部件)的电压的绝对值，以使其比在检测温度是比第一温度低的第二温度时施加到外部二次转印辊的电压的绝对值高。
如上所述，在本实施例中，为了抑制长的停机时间，即使当与一次转印并行地实施记录材料不存在于二次转印部分处时的ATVC或电压降低功能时，也使得齐纳二极管的电压降不低于齐纳击穿电压。出于这种原因，可以抑制一次转印变得不稳定。
顺便说一句，在本实施例中，采用了其中图像部分电势依赖于齐纳二极管的温度特性而改变的构成，因此，本实施例在使用使得其温度特性大的廉价齐纳二极管的构成中是特别有效的。当然，本发明并不意在限于使用使得其温度特性大的廉价齐纳二极管的构成。本实施例也适用于使用显示出小的齐纳击穿电压Vbr的温度变化的齐纳二极管的构成。
顺便说一句，在本实施例中，采用了其中温度和湿度传感器207被设置为用于检测与齐纳二极管11的温度对应的信息的温度检测部件的构成。当然，本实施例并不限于该构成。
还可以采用其中通过计数其上通过单个图像形成作业形成图像的记录材料的片材数量来检测与齐纳二极管11的温度对应的信息的构成。
并且，还可以采用其中基于通过二次转印部分的电流与向二次转印辊施加的电压之间的关系来检测与齐纳二极管11的温度对应的信息的构成。
或者，也可以采用其中基于图像形成装置的通电时段来检测与齐纳二极管11的温度对应的信息的构成。
顺便说一句，在本实施例中，采用了其中施加电压依赖于齐纳二极管的温度特性而改变的构成，因此，可以抑制施加到齐纳二极管的电压由于齐纳二极管自身的温度特性而小于齐纳击穿电压。并且希望，即使当中间转印带电势由于齐纳二极管自身的温度特性而改变时，也可以抑制对一次转印缺陷的影响。因此，也可以采用其中图像部分电势依赖于齐纳二极管的温度特性而改变的构成。即，也可以采用其中施加电压依赖于齐纳二极管的温度特性而改变并且同时图像部分电势也改变的构成。
顺便说一句，在本实施例中，描述了用于通过电子照相类型形成静电图像的图像形成装置，但本实施例不限于该构成。还可以使用用于通过静电力类型而不是电子照相类型形成静电图像的图像形成装置。
[工业适用性]
根据本发明，在其中通过恒压元件在中间转印部件中产生预定电压的构成中，可以避免能够在一次转印的定时和向转印部件施加电压的定时相互重叠的情况下产生的转印缺陷。

Claims (14)

1.一种图像形成装置，包括：
图像承载部件，用于承载调色剂图像；
中间转印部件，用于携载在一次转印位置处从图像承载部件转印的调色剂图像；以及
转印部件，被设置为能与中间转印部件的外周表面接触，用于在二次转印位置处将调色剂图像从中间转印部件转印到记录材料上；
其特征在于，所述图像形成装置还包括：
恒压元件，电连接于中间转印部件与地电势之间，用于通过在其中通过电流来维持预定电压；
电源，用于通过向转印部件施加电压以使电流通过恒压元件，来形成二次转印位置处的二次转印电场和一次转印位置处的一次转印电场两者；
检测部分，用于检测通过转印部件的电流；
执行部分，用于执行测试模式，在所述测试模式中，当在二次转印位置处不存在记录材料时，由电源向转印部件施加测试电压，以由检测部分检测电流；以及
控制器，用于基于在测试模式中由检测部分检测的电流，来控制当在二次转印位置处存在记录材料时要由电源施加到转印部件的电压，
其中，恒压元件至少在测试模式的时段与在一次转印位置处转印将被转印到记录材料上的调色剂图像的时段相互重叠的重叠时段中维持所述预定电压。
2.一种图像形成装置，包括：
图像承载部件，用于承载调色剂图像；
中间转印部件，用于携载在一次转印位置处从图像承载部件转印的调色剂图像；以及
转印部件，被设置为能与中间转印部件的外周表面接触，用于在二次转印位置处将调色剂图像从中间转印部件转印到记录材料上；
其特征在于，所述图像形成装置还包括：
恒压元件，电连接于中间转印部件与地电势之间，用于通过在其中通过电流来维持预定电压；
电源，用于通过向转印部件施加电压以使电流通过恒压元件，来形成二次转印位置处的二次转印电场和一次转印位置处的一次转印电场两者；
检测部分，用于检测施加到转印部件的电压；
执行部分，用于执行测试模式，在所述测试模式中，当在二次转印位置处不存在记录材料时，由电源使测试电流通过转印部件，以由检测部分检测电压；以及
控制器，用于基于在测试模式中由检测部分检测的电压，来控制当在二次转印位置处存在记录材料时要由电源施加到转印部件的电压，
其中，恒压元件至少在测试模式的时段与在一次转印位置处转印将被转印到记录材料上的调色剂图像的时段相互重叠的重叠时段中维持所述预定电压。
3.根据权利要求1或2所述的图像形成装置，其中，恒压元件是齐纳二极管或变阻器。
4.根据权利要求1或2所述的图像形成装置，其中，恒压元件是齐纳二极管，所述预定电压是所述齐纳二极管的击穿电压。
5.根据权利要求1或2所述的图像形成装置，其中，电源的由控制器控制的电压包含比用于形成二次转印电场的电压低的电压。
6.根据权利要求1或2所述的图像形成装置，其中，控制器在测试模式的时段与在一次转印位置处转印将被转印到记录材料上的调色剂图像的时段不相互重叠的非重叠时段中控制在所述非重叠时段中施加到转印部件的电压，以使其低于恒压元件维持所述预定电压的电压。
7.根据权利要求1或2所述的图像形成装置，
其中，检测部分是第一检测部分，
其中，图像形成装置包含用于检测通过恒压元件的电流的第二检测部分，
其中，执行部分通过在调色剂图像被一次转印之前的定时向转印部件施加电压，来在第二检测部分处实施检测，以及
其中，控制器基于第二检测部分的检测结果来控制电源，以设定要施加到转印部件的电压来使得恒压元件维持所述预定电压。
8.根据权利要求7所述的图像形成装置，其中，执行部分在测试模式的时段中在第二检测部分处实施检测。
9.根据权利要求1或2所述的图像形成装置，其中，在中间转印部件的与连续形成图像的情况下的记录材料和记录材料之间的区域对应的区域处于二次转印位置中时，执行部分执行测试模式。
10.根据权利要求1或2所述的图像形成装置，其中，中间转印部件具有两层或更多层的结构，并且外周表面侧的层的体积电阻率比内周表面侧的层的体积电阻率高。
11.根据权利要求1或2所述的图像形成装置，
其中，中间转印部件是中间转印带，以及
其中，图像形成装置包含多个张紧部件，所述多个张紧部件用于在与中间转印带的内周表面接触的状态下张紧中间转印带。
12.根据权利要求11所述的图像形成装置，
其中，张紧部件是具有导电性的张紧辊，并且张紧辊与恒压元件电连接以电连接中间转印部件与恒压元件。
13.根据权利要求3所述的图像形成装置，还包括用于检测恒压元件附近的温度的温度检测部件，以及
其中，控制器基于温度检测部件的检测结果来控制电源。
14.根据权利要求13所述的图像形成装置，其中，控制器控制当温度检测部件的检测温度是第一温度时要施加到转印部件的电压的绝对值，以使其比当温度检测部件的检测温度是比第一温度低的第二温度时要施加到转印部件的电压的绝对值高。
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