CN104034964B - 检查压缩质量的电阻测量装置及使用该装置的测量方法 - Google Patents

Abstract

用于检查压缩质量的电阻测量装置包括通过与显示装置的压缩电阻测量标记接触以测量电阻的探测器，用于支承该探测器的探测器支承部，以及与探测器支承部耦合并且控制探测器位置的力矩电阻。

Description

检查压缩质量的电阻测量装置及使用该装置的测量方法

技术领域

本发明的实施方式涉及用于检查压缩质量的电阻测量装置以及使用该装置的测量方法。

背景技术

在诸如有机发光（OLED）显示器、液晶显示器（(LCD）等的平板显示装置的工艺中，是通过使用异方性导电膜(ACF)执行压缩工艺。这种压缩工艺可以包括：FOG（电阻式（filmon glass））粘合工艺、COG（玻璃衬底芯片（chip on glass））粘合工艺等。

为了确保稳定的压缩质量，通过光学视觉（optical vision）检查压缩部分的压缩特性（例如，对齐或缩进）。然而，因为故障不能被数字化，且故障可导致渐进的故障和可靠性故障，因此使用光学视觉的这种检查工艺可能会增加最终产品中的不良率。

为了减小或最小化这种故障，可以使用能够将故障数字化并且将故障转换为客观故障数据的电动检查方法。因此会使用探测器测量压缩部分的电阻，但是因为诸如与压缩部分连接的探测器的深度、多个探针之间的平滑率等的因素可能导致在测量的电阻中产生偏差。

此外，当通过探测器施加的源电流远远大于压缩部分可承受的电流时，压缩部分将被破坏。当源电流远远小于压缩部分的电阻时，因为噪声（noise）导致无法准确测量压缩部分的电阻。

在背景技术部分公开的上述信息仅仅是为了增加对于所述技术领域的背景技术的理解，并因此，其可以包括本技术领域的技术人员已知的、未形成现有技术的信息。

发明内容

所描述的技术提供了用于检查压缩质量的电阻测量装置以及使用其的测量方法，以减小或最小化因测量偏差或测量噪声导致的、测量电阻中的误差。

一种根据本公开的实施方式的用于检查压缩质量的电阻测量装置可以包括：通过与显示装置的压缩电阻测量标记接触以测量电阻的探测器；用于支承所述探测器的探测器支承部；以及与探测器支承部耦合并且控制探测器的位置的力矩电机。

电阻测量装置可以进一步包括：位移传感器，与探测器支承部耦合并且检测探测器的位移。

探测器可以包括：多个探针，与压缩电阻测量标记直接接触。

可以通过力矩电机控制探针的垂直位置。

电阻测量装置可以进一步包括：平台，所述显示装置安装在所述平台上，所述平台控制显示装置的垂直位置。

本公开的另实施方式提供一种用于检查压缩质量的电阻测量方法。该方法可以包括：通过探测器支承部中的位移传感器来检测探测器的位移；根据检测到的探测器的位移，通过探测器支承部中的力矩电机来控制探测器的位置；以及通过使探测器的多个探针接触显示装置的压缩电阻测量标记来测量显示装置的压缩部分的电阻。

测量电阻的步骤可以包括：将相对最小的检查电流至相对最大的检查电流依次施加于压缩电阻测量标记。

测量电阻的步骤可以进一步包括：向压缩电阻测量标记施加第一检查电流，并且在第一测量电阻大于第一参考电阻时输出第一测量电阻。

该方法可以进一步包括：当第一测量电阻小于第一参考电阻时向压缩电阻测量标记施加大于第一检查电流的第二检查电流，并且在根据第二检查电流测量的第二测量电阻大于第二参考电阻时输出第二测量电阻。

该方法可以进一步包括：当第二测量电阻小于第二参考电阻时向压缩电阻测量标记施加大于第二检查电流的第三检查电流，并且输出根据第三检查电流测量的第三测量电阻。

根据本公开的实施方式，用于检查压缩质量的电阻测量装置在探针与压缩电阻测量标记接触时可以使用位移传感器和力矩电机来控制垂直压力，并且通过精确控制探针的平滑度可以减小或最小化测量中的偏差，进而准确地测量压缩部分的电阻。

压缩质量可以被量化为客观的数据，并且可以防止因个人的主观判断而导致的流出错误。

此外，不仅可以提前检测到初始工艺故障，而且还可以提前检测到通过简单的视觉检查无法检测到的潜在的工艺故障。

当施加检查电流时，根据压缩部分的电阻范围可以改变检查电流从而减小或最小化因测量噪声导致的测量电阻中的错误，进而准确地测量压缩部分的电阻，并且根据本发明的一些实施方式的用于检查压缩质量的电阻测量装置可以被应用到包括压缩部分的显示装置，其中压缩部分具有多种电阻范围。

附图说明

图1为根据本公开的实施方式的、用于检查压缩质量的电阻测量装置的框图；

图2为显示装置的侧视图，其中使用根据本公开的实施方式的、用于检查压缩质量的电阻测量装置执行检查；

图3为显示装置的COF（覆晶薄膜（chip on film））的俯视图，其中使用根据本公开的实施方式的、用于检查压缩质量的电阻测量装置执行检查；

图4为显示装置的柔性印刷电路板（FPCB）的俯视图，其中使用根据本公开的实施方式的、用于检查压缩质量的电阻测量装置执行检查；

图5为使用根据本公开的实施方式的、用于检查压缩质量的电阻测量方法的流程图。

附图标记说明

10：探测器 20：探测器支承部

30：力矩电机 40：位移传感器

50：平台

具体实施方式

下文中，将参照示出本发明的多种实施方式的附图更加全面地描述本发明的实施方式。本技术领域的技术人员应当理解，在不脱离本发明的多种实施方式的精神或范围的情况下，可以以不同方式变更所描述的实施方式。

附图和描述应当被视为本质上的说明性而非限制性。贯穿说明书全文，相同的附图标记表示相同的构件。此外，为了便于理解和说明方便，可以以任意的尺寸和厚度示出附图中所示的各个组件的尺寸和厚度，但本发明的实施方式并不限定于此。

应当理解，当如层、膜、区域或基板的构件被表示为在其他构件“上”时，可以表示直接在其他构件上或者在存在有一个或多个中间构件的构件上。

图1为根据本公开的一实施方式的用于检查压缩质量的电阻测量装置的框图。图2为使用根据本公开的实施方式的用于检查压缩质量的电阻测量装置执行检查的显示装置的侧视图。图3为使用根据本公开的实施方式的用于检查压缩质量的电阻测量装置执行检查的显示装置的COF（chipon film）的俯视图。图4为使用根据本公开的实施方式的用于检查压缩质量的电阻测量装置执行检查的显示装置的柔性印刷电路板（FPCB）的俯视图。

如图1所示，根据实施方式的用于检查压缩质量的电阻测量装置可以包括：用于测量压缩部分的电阻的探测器10、用于支承探测器10的探测器支承部20、附接于探测器支承部20以控制探测器10位置的力矩电机30、附接于探测器支承部20以检测探测器10位移的位移传感器40，以及安装有显示装置100并用于控制显示装置100垂直位置的平台50。

根据本发明的实施方式，探测器10通过与用于测量显示装置100的压缩电阻的压缩电阻测量标记121、131（参照图2）接触而测量电阻。如图2所示，显示装置100使用包括驱动芯片122的COF120与柔性印刷电路板（FPCB）130耦合。显示装置100通过异方性导电膜123与COF120的压缩部分126耦合，并且COF120通过异方性导电膜124与柔性印刷电路板130的压缩部分136耦合。

如图3所示，根据本发明的实施方式，压缩电阻测量标记121形成在COF120中。因为压缩电阻测量标记121与穿过COF120的压缩部分126的连接线125耦合，所以这种压缩电阻测量标记121可以测量压缩部分126的电阻。虽然图示了二端子的压缩电阻测量标记，但是根据本发明的一些实施方式，还可以适用多端子（例如，4端子）的压缩电阻测量标记。

如图4所示，根据本发明的实施方式，压缩电阻测量标记131形成在柔性印刷电路板130中。因为压缩电阻测量标记131与穿过柔性印刷电路板130的压缩部分136的连接线135耦合，所以这种压缩电阻测量标记131可以测量压缩部分136的电阻。

在一些实施方式中，探测器10包括：分别与压缩电阻测量标记121和131直接接触的多个探针11。可以通过力矩电机30控制探针11的垂直位置。

在一些实施方式中，位移传感器40被提供在探测器支承部20的下部，并且被配置为测量与压缩电阻测量标记121和131接触的探针11的平滑度。

力矩电机30使用通过位移传感器40测量的探针11的平滑度控制探针11的垂直位置，从而使得探针11与压缩电阻测量标记121和131均匀地接触。

根据本发明的实施方式，当探针11的垂直位置（使用位移传感器40和力矩电机30控制）与压缩电阻测量标记121和131接触时，通过精确控制探针11的平滑度可以减小或最小化测量中的偏差。

将参照图1至图5详细描述根据本发明的实施方式的、使用用于检查压缩质量的电阻测量装置的电阻测量方法。

如图1所示，根据本发明的实施方式，使用用于检查压缩质量的电阻测量装置的测量方法使用设置在探测器支承部20的位移传感器40来检测探测器10的位移。

参照检测到的探测器10的位移，使用设置在探测器支承部20的力矩电机30来控制探测器10的位置。

可以通过使探测器10的多个探针11接触压缩电阻测量标记121和131来测量压缩部分126和136的电阻。

如图5所示，根据本发明的实施方式，相对最小的检查电流I1至相对最大的检查电流I3依次被施加于压缩电阻测量标记121和131，以测量压缩部分126和136的电阻。通过施加这些检查电流I1至I3，可以向探测器10应用自动偏移量（off set）以减小或消除探测器10的电阻。

下文中，将参照图5对此进行更加详细地描述。

根据本发明的实施方式，向压缩电阻测量标记121和131施加第一检查电流I1。当通过第一检查电流I1测量的第一测量电阻大于第一参考电阻时，输出第一测量电阻。当第一测量电阻小于（例如，小于或等于）第一参考电阻时，向压缩电阻测量标记施加大于第一检查电流I1的第二检查电流I2。

当通过第二检查电流I2测量的第二测量电阻大于第二参考电阻时，输出第二测量电阻。当第二测量电阻小于（例如，小于或等于）第二参考电阻时，向压缩电阻测量标记施加大于第二检查电流I2的第三检查电流。然后，输出通过第三检查电流I3测量的第三测量电阻。

相应地，在本实施方式中，第二参考电阻小于第一参考电阻，第三检查电流小于破坏电流（例如，能够破坏压缩部分的电阻的电流）。

例如，当施加100μA的第一检查电流I1时，并且当第一测量电阻大于100Ω的第一参考电阻时，输出第一测量电阻。当第一测量电阻小于100Ω的第一参考电阻时，向压缩电阻测量标记121和131施加500μA的第二检查电流I2。进一步，当第二测量电阻大于第二参考电阻时，输出第二测量电阻。当第二测量电阻小于50Ω的第二参考电阻时，向压缩电阻测量标记121和131施加1mA的第三检查电流I3以输出第三测量电阻。

根据一些实施方式，根据压缩部分126和136的电阻范围输出第一测量电阻、第二测量电阻或第三测量电阻，施加到压缩电阻测量标记121和131的第一检查电流I1、第二检查电流I2和/或第三检查电流I3分别具有不同大小的电流。因此，逐步增加检查电流（例如，I1、I2和I3），以防止因施加的检查电流远远大于压缩部分126和136可承受的检查电流而导致压缩部分126和136被破坏。此外，还可以防止当施加的检查电流远远小于压缩部分126和136能够承受的检测电流时产生的测量噪声。

也就是说，当检查电流被施加到压缩部分126和136时，可以根据压缩部分126和136的电阻范围来改变检查电流的强度，从而准确地测量压缩部分126和136的电阻。

在本发明的一些实施方式中，固定电流测量方法可用于使用检查电流的测量电阻中。本发明的实施方式的测量方法通过在电压对比电流的曲线（图表）中生成最低检测电流与最高检测电流之间的斜度以测量电阻。相应地，因为更少的电阻测量点，使得稳定化测量的时间相对较短，进而缩短用于测量电阻的时间。另外，因为减少了因数量较少的电阻测量点而发生的测量误差，所以可以使得根据固定电流测量方法获得的电阻测量准确。

在一些实施方式中，源自探测器或周边环境的非常小量的噪声可能包含在测量的电阻内，其可以通过平均噪声被过滤。

虽然通过目前被认为是实用的示例性实施方式描述了本公开，但应当理解，本发明并不限定于所公开的实施方式，而是旨在覆盖包含在所附权利要求书的精神和范围内的多种变形和等同设置以及其等同物。

Claims (9)

1.一种用于检查压缩质量的电阻测量装置，包括：

探测器，包括多个探针，所述探针通过与显示装置的压缩电阻测量标记接触以测量所述显示装置的压缩部分的电阻；

探测器支承部，支承所述探测器；

位移传感器，与所述探测器支承部耦合，并且检测所述探测器的位移以及所述探针的平滑度；以及

力矩电机，与所述探测器支承部连接，并且控制所述探测器的位置。

2.如权利要求1所述的电阻测量装置，其中，所述多个探针与所述压缩电阻测量标记直接接触。

3.如权利要求2所述的电阻测量装置，其中，通过所述力矩电机控制所述探针的垂直位置。

4.如权利要求1所述的电阻测量装置，进一步包括：

平台，所述显示装置安装在所述平台上，所述平台控制所述显示装置的垂直位置。

5.一种用于检查压缩质量的电阻测量方法，所述方法包括：

通过探测器支承部中的位移传感器来检测探测器的位移以及所述探测器的多个探针的平滑度；

根据检测到的所述探测器的所述位移以及所述多个探针的所述平滑度，通过所述探测器支承部中的力矩电机来控制所述探测器的位置；以及

通过使所述探测器的所述多个探针接触显示装置的压缩电阻测量标记来测量所述显示装置的压缩部分的电阻。

6.如权利要求5所述的方法，其中，所述测量所述电阻的步骤包括：

将相对最小的检查电流至相对最大的检查电流依次施加于所述压缩电阻测量标记。

7.如权利要求6所述的方法，其中，所述测量所述电阻的步骤进一步包括：

向所述压缩电阻测量标记施加第一检查电流；以及

在根据所述第一检查电流测量的第一测量电阻大于第一参考电阻时输出所述第一测量电阻。

8.如权利要求7所述的方法，进一步包括：

当所述第一测量电阻小于所述第一参考电阻时向所述压缩电阻测量标记施加大于所述第一检查电流的第二检查电流；以及

在根据所述第二检查电流测量的第二测量电阻大于第二参考电阻时输出所述第二测量电阻。

9.如权利要求8所述的方法，进一步包括：

当所述第二测量电阻小于所述第二参考电阻时向所述压缩电阻测量标记施加大于所述第二检查电流的第三检查电流；以及

输出根据所述第三检查电流测量的第三测量电阻。