CN103426383A - 短路检查方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供用于检测沿着第一方向以及与所述第一方向相交的第二方向延伸的第一排线部和沿着所述第一方向或者所述第二方向延伸的第二排线部之间的短路缺陷的方法，其中该方法仅通过所述第二排线部的电位差来检测出所述第一排线部和所述第二排线部之间的短路缺陷。

Description

短路检查方法
技术领域
本发明涉及短路缺陷的检查方法、显示装置的短路缺陷的检查方法以及有机发光显示装置的短路缺陷的检查方法。
背景技术
近来，可携带的薄型平板显示装置逐步替代显示装置。在平板显示装置中，有机发光显示装置作为自发光型显示装置，不仅具有视角宽、对比度优异的优点，而且还具有响应速度快的优点，从而其作为下一代显示装置而受到瞩目。
有机发光显示装置包括中间层、第一电极以及第二电极。中间层包括有机发光层。当对第一电极和第二电极施加电压时，有机发光层产生可视光。
一方面，为了驱动有机发光显示装置而设置了多种排线。在上述的排线中，有一些排线互相重叠地设置在不同的层上。此时，若这些排线之间在重叠的区域发生短路缺陷时，需要对其进行修复。
然而，很难检查出这些被重叠的排线之间的短路缺陷位置。尤其，随着排线数量的增加以及排线形状的复杂性，给检查工作带来了局限性。
发明内容
本发明能够提供易于检查电短路缺陷的方法。
根据本发明的一方面，提供检测沿着第一方向以及与所述第一方向相交的第二方向延伸的第一排线部和沿着所述第一方向或者所述第二方向延伸的第二排线部之间的短路缺陷的方法，其中仅通过所述第二排线部的电位差来检测所述第一排线部和所述第二排线部之间的短路缺陷。
当所述第二排线部的两端以状态延伸时，将受电部件和供电部件分别连接在所述第二排线部的两端，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行初次监控，进而可以检测出有缺陷的线。
将受电部件和供电部件分别连接在通过所述初次监控在所述第二排线部中被检测出有缺陷的线的两端，沿着所述有缺陷的线施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行再次监控，进而可以检测出缺陷位置。
当所述第二排线部以一端被浮动、另一端被连接的状态延伸时，将供电部件连接在所述第二排线部的浮动区域，将受电部件连接在所述第二排线部的连接区域，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行初次监控，进而可以检测出有缺陷的线。
将供电部件连接在通过所述初次监控在所述第二排线部中被检测出有缺陷的线的浮动区域，将受电部件连接在所述有缺陷的线的连接区域，沿着所述有缺陷的线施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行再次监控，进而可以检测出缺陷位置。
根据本发明的另一方面，提供检测显示装置的短路缺陷的方法，用于检测第一排线部和第二排线部之间的短路缺陷，其中，所述显示装置包括：多个像素；所述第一排线部，与所述像素连接并沿着第一方向以及与所述第一方向相交的第二方向延伸；以及所述第二排线部，与所述像素连接，并且沿着所述第一方向或者所述第二方向延伸，其中仅通过第二排线部的电位差来检测第一排线部和所述第二排线部之间的短路缺陷。
所述第一排线部可以包括：第一电源供应线，沿着所述第一方向延伸，并且用于向所述像素供应电源；以及第二电源供应线，沿着所述第二方向延伸，并且用于向所述像素供应电源。
所述第一电源供应线和所述第二电源供应线可以呈网目状。
所述第二排线部可以是用于向所述像素供应扫描信号的扫描线。
所述第二排线部可以是用于向所述像素供应数据信号的数据线。
根据本发明的另一方面，提供有机发光显示装置的短路缺陷的检查方法，用于检查第一电源供应线和第二排线部之间或者第二电源供应线和所述第二排线部之间的短路缺陷，其中，所述有机发光显示装置包括：多个像素，具有像素电极、包括有机发光层的中间层以及相对电极；所述第一电源供应线，与所述像素连接，并且沿着第一方向延伸，用于向所述像素供应电源；所述第二电源供应线，沿着与所述第一方向相交的第二方向延伸，并且用于向所述像素供应电源；以及多个第二排线部，与所述像素连接，并且向所述第一方向或者所述第二方向延伸，并且用于向所述像素供应信号，其中仅通过所述第二排线部的电位差来检测所述第一电源供应线和所述第二排线部之间或者所述第二电源供应线和所述第二排线部之间的短路缺陷。
将受电部件和供电部件连接在所述第二排线部的两端，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行监控，进而可以检测出有缺陷的线。
当所述第二排线部的一端被浮动，另一端被连接时，将所述供电部件设置在远离所述另一端的区域，将所述受电部件可以设置在邻近所述另一端的区域。
包含在所述有机发光显示装置中的像素可以包括至少两个晶体管和至少一个电容器。
所述第二排线部可以包括用于向所述像素供应扫描信号的扫描线、用于向所述像素供应数据信号的数据线、用于向所述像素供应控制信号的控制线以及用于向所述像素输入写入信号的写入线中的至少一种。
根据本发明的短路检查方法，能够易于检查出以网目状连接的一排线和另一排线之间的短路缺陷。
附图说明
图1是表示本发明的一实施例的有机发光显示装置的简要平面图。
图2是图1中Ⅱ区域的排线结构的简要示意图。
图3是图2中的一个像素的电路图。
图4是图2的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的简要示意图。
图5是图4的Ⅴ区域的放大示意图。
图6a至图6c是图2的有机发光显示装置的短路缺陷的检查方法的简要示意图。
图7是图2的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的另一简要示意图。
图8是图7的Ⅷ区域的放大示意图。
图9是图2的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的再一简要示意图。
图10是图9的Ⅹ区域的放大示意图。
图11是图1的Ⅱ区域的另一排线结构的简要示意图。
图12是图11中的一个像素的电路图。
图13是图11的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的简要示意图。
图14是图1的Ⅱ区域的再一排线结构的简要示意图。
图15是图14中的一个像素的电路图。
图16是图14的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的简要示意图。
图17是图1的有机发光显示装置的像素的一部分组成要素的简要截面示意图。
附图标记说明
1：有机发光显示装置；        S：扫描线；
D：数据线；                  10：基板；
V1：第一电源供应线；         V2：第二电源供应线；
131：供电部件；              132：受电部件。
具体实施方式
下面，参考附图所示的本发明的实施例，详细说明本发明的构成和功能。
图1是表示本发明的一实施例的有机发光显示装置的简要平面图，图2是图1中Ⅱ区域的排线结构的简要示意图。
如图1和图2所示，在本实施例的有机发光显示装置1的基板10上形成有显示区域A1和非显示区域A2。
显示区域A1用作显示图像的区域，形成在包括基板10的中心部分的区域。非显示区域A2可以被设置在显示区域A1的周围。
显示区域A1包括呈现图像的多个像素P。
每个像素P可通过沿着第一方向X延伸的扫描线S和沿着垂直于第一方向X的第二方向Y延伸的数据线D得以限定。数据线D用于将由设置在非显示区域A2的数据驱动部（未图示）提供的数据信号施加至每个像素P，扫描线S用于将由设置在非显示区域A2的扫描驱动部（未图示）提供的扫描信号施加至每个像素P。在图2中图示了数据线D沿着第二方向Y延伸、扫描线S沿着第一方向X延伸的实例，但是本发明并不限于此。即，还可以将数据线D和扫描线S的延伸方向互相调换。
每个像素P连接在沿着第二方向Y延伸的第一电源供应线V1上。第一电源供应线V1用于将由设置在非显示区域A2的第一电源驱动部（未图示）提供的第一电源ELVDD（t）（参考图3）施加至每个像素P。另一方面，虽未在图2中图示出，但是将第二电源ELVSS（t）（参考图3）供应至每个像素P。每个像素P对应于数据信号，控制从第一电源ELVDD（t）经由有机发光器件OLED（参考图3）供应至第二电源ELVSS（t）的电流量。此时，在有机发光器件中生成预定亮度的光。
另外，沿着第一方向X延伸的第二电源供应线V2连接在第一电源供应线V1上。例如，可以将第一电源供应线V1和第二电源供应线V2连接成网目状（mesh）。由于第一电源供应线V1存在电阻，因此在第一电源供应线V1中可能会产生由长度引起的电压降（IR drop）现象。其中，与第一电源供应线V1连接的第二电源供应线V2用于解决上述问题。
图3是图2中的一个像素的电路图。
如图3所示，像素包括：有机发光器件（organic light emittingdevice，简称为OLED）；以及用于向有机发光器件OLED供应电流的像素电路C。
有机发光器件OLED的像素电极连接至像素电路C，相对电极连接至第二电源ELVSS（t）。根据从像素电路C供应的电流，有机发光器件OLED生成预定亮度的光。
有源矩阵类型的有机发光显示装置包括至少两个晶体管和至少一个电容器，具体包括：用于传输数据信号的开关晶体管；用于根据数据信号驱动有机发光器件的驱动晶体管；以及用于保持数据电压的一个电容器。
第一晶体管TR1的栅极连接在扫描线S（参考图2）上，第一晶体管TR1的第一电极连接在数据线D（参考图2）上，第一晶体管TR1的第二电极连接在第一节点N1上。即，上述的第一晶体管TR1的栅极输入有扫描信号Scan（n），第一晶体管TR1的第一电极输入有数据信号Data（t）。
第二晶体管TR2的栅极连接在第一节点N1上，第二晶体管TR2的第一电极连接在第一电源ELVDD（t）上，第二晶体管TR2的第二电极连接在有机发光器件OLED的像素电极上。其中，上述的第二晶体管TR2起到驱动晶体管的功能。
在第一节点N1和第二晶体管TR2的第一电极之间，即在第一节点N1和第一电源ELVDD（t）之间连接有第一电容器C 1。
图4是图2的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的简要示意图。即，为了便于说明，仅图示了有机发光显示装置所包含的排线中的数据线D1、数据线D2、第一电源供应线V1以及第二电源供应线V2。
将第一电源供应线V1和第二电源供应线V2互相电连接成网目状。数据线D1、数据线D2沿着与第一电源供应线V1平行的方向，即沿着第二方向Y延伸设置。在本实施例中，多个数据线、即数据线D1、数据线D2的两端均被设置成浮动（floating）状态。
在如上所述的排线结构中，由于在有机发光显示装置1的制造工序中会产生不可预见的颗粒等，所以可能会在数据线D1和第二电源供应线V2之间引起短路。图5图示了如上所述的内容。
图5是图4的Ⅴ区域的放大示意图。图5图示了在多个数据线（即数据线D1、数据线D2）中的一个数据线D1和第二电源供应线V2的重叠区域因颗粒等异物而发生了短路ST缺陷的情况。为了提高有机发光显示装置1的显示质量，应该对如上所述的短路缺陷实施修复工序。为了实施如上所述的修复工序，应该先实施用于检测短路缺陷的发生位置的工序。
图6a至图6c是图2的有机发光显示装置的短路缺陷的检查方法的简要示意图。
如图6a所示，准备包括供电部件131和受电部件132的检查装置130。然后，将供电部件131和受电部件132连接在数据线D2的两端上。如本实施例所述，在将多个数据线（即数据线D 1、数据线D2）的两端均设置成浮动（floating）方式的结构中，与图6a相反地，还可以将供电部件131和受电部件132调换设置。
此时，不会将供电部件131和受电部件132连接在第一电源供应线V1和第二电源供应线V2上。其原因如下：由于第一电源供应线V1和第二电源供应线V2互相连接成网目状，因此当供应用于检查的电压时，电流流过第一电源供应线V1和第二电源供应线V2整体，所以无法确定短路缺陷。
当使用供电部件131和受电部件132来向数据线D2施加电压时，电流流过数据线D2。即，在数据线D2的两端生成电位差。监控上述的电位差。
然后，如图6b所示，将供电部件131和受电部件132向第一方向X移动，从而使其连接在相邻的数据线D1上。然后，使用供电部件131和受电部件132来向数据线D1施加电压，则电流流过数据线D1。即，在数据线D1的两端生成电位差。监控上述的电位差。此时，由于在数据线D1和第二电源供应线V2的重叠区域产生了短路ST，因此在数据线D1监控到的值不同于在数据线D2监控到的值。
即，当通过上述的方法依次检查数据线D1、数据线D2时，能够容易地确定与第二电源供应线V2之间发生短路缺陷的数据线D1。
然后，如图6c所示，将供电部件131和受电部件132沿着已确定发生缺陷的数据线D1（即，沿着第二方向Y）逐渐移动，并且对数据线D1施加电压的同时，监控供电部件131和受电部件132所连接的区域之间的电位差。此时，在发生短路ST的位置附近处所监控的电位差呈异样。从而能够容易地确定在数据线D1中发生短路ST缺陷的位置。
如上所述，通过实施缺陷线检查工序和缺陷位置检查工序来确定发生短路缺陷的数据线D1以及其位置后，实施包括激光切割等工序的修复工序。
图7是图2的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的另一简要示意图。
如图7所示，第一电源供应线V1和第二电源供应线V2被设置成网目状，将多个数据线（即数据线D1、数据线D2）的一端予以浮动，另一端连接在公共线DA上。
其中，数据线的一端连接在公共线DA上，并不意味着对所有像素供应共同的数据信号。即，在每个数据线（即数据线D 1、数据线D2）和公共线DA之间设置了预定的开关（未图示），从而当施加数据信号时还可以对每个像素施加独立的数据信号。
图8是图7的Ⅷ区域的放大示意图。如图8所示，准备包括供电部件131和受电部件132的检查装置130。然后，将供电部件131和受电部件132连接在数据线D2的两端。
如本实施例所述，将多个数据线（即数据线D1、数据线D2）的一端予以浮动，而另一端连接在公共线DA上时，供电部件131远离数据线D1、数据线D2的公共线DA而设置，受电部件132邻近共线DA而设置。然后，使用供电部件131和受电部件132，对数据线（即数据线D1、数据线D2）施加电压，则电流流过数据线D2。即，在数据线D2的两端产生电位差。监控上述的电位差。如果按照与上述的方式相反的方式连接时，即，将供电部件131连接在数据线D2的上端（即，邻近公共线DA），将受电部件132连接在数据线D2的下端（即，远离公共线DA）时，因经供电部件131供应的电压而使得电流容易地流过与供电部件131相邻的公共线DA，从而难以监控在数据线D2的两端产生的准确的电位差。因此，将供电部件131远离公共线DA而设置，将受电部件132邻近公共线DA而设置。
另一方面，虽未在附图中图示出，但是如上述的图6b所示，将供电部件131和受电部件132向第一方向X移动，并连接在相邻的数据线D1上，从而监控电位差并进行比较。按照上述的方式确定与第二电源供应线V2之间发生短路缺陷的数据线D1。然后，如图6c所示，将供电部件131和受电部件132沿着已确定缺陷的数据线D1（即，第二方向Y）逐渐移动并向数据线D1施加电压。并且通过监控连接有供电部件131和受电部件132的区域之间的电位差，确定在数据线D1中发生短路ST缺陷的位置。
图9是图2的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的再一简要示意图。即，为了便于说明，图示了有机发光显示装置所包含的排线中的扫描线S、第一电源供应线V1以及第二电源供应线V2。
将第一电源供应线V1和第二电源供应线V2互相电连接成网目状等。扫描线S1、扫描线S2沿着与第二电源供应线V2平行的方向延伸设置。在本实施例中，多个扫描线（即扫描线S1、扫描线S2）的两端均被设置为浮动状态。在如上所述的排线结构中，由于在有机发光显示装置1的制造工序中会产生不可预见的颗粒等，因此可能会导致扫描线S1和第一电源供应线V1互相连接，从而发生短路。
图10是图9的Ⅹ区域的放大示意图。如图10所示，准备包括供电部件131和受电部件132的检查装置130。然后，将供电部件131和受电部件132连接在扫描线S2的两端，从而监控扫描线S2两端的电位差。然后，将供电部件131和受电部件132向第二方向Y移动并连接在相邻的扫描线S1上，从而监控电位差。按照上述的方式确定与第一电源供应线V1之间发生短路缺陷的扫描线S1。然后，将供电部件131和受电部件132沿着已确定缺陷的扫描线S1（即，第一方向X）逐渐移动，并对扫描线S1施加电压，从而监控连接有供电部件131和受电部件132的区域之间的电位差，由此确定在扫描线S1中发生短路ST缺陷的位置。
另外，在图9中说明了扫描线（即扫描线S1、扫描线S2）的两端均被设置为浮动状态的排线结构，但是本发明并不限于此。即，还可以适用于将扫描线（即扫描线S1、扫描线S2）的一端予以浮动，另一端连接在公共线上的排线结构。
图11是图1的Ⅱ区域的另一排线结构的简要示意图，图12是图11中的一个像素的电路图，图13是图11的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的简要示意图。
下面，以与上述的图2的有机发光显示装置之间的差别为中心，说明本实施例。如图12所示，根据本实施例的有机发光显示装置中的一个像素包括三个晶体管和两个电容器。
第一晶体管TR1的栅极连接在扫描线S上，第一晶体管TR1的第一电极连接在数据线D上，第一晶体管TR1的第二电极连接在第一节点N1上。即，上述的第一晶体管TR1的栅极被输入有扫描信号Scan（n），第一电极被输入有数据信号Data（t）。
第二晶体管TR2的栅极连接在第二节点N2上，第二晶体管的第一电极连接在第一电源ELVDD（t）上，第二晶体管的第二电极连接在有机发光器件OLED的像素电极上。其中，上述的第二晶体管TR2起到驱动晶体管的功能。
在第一节点N1和第二晶体管TR2的第一电极之间，即在第一节点N1和第一电源（ELVDD（t））之间连接有第一电容器C1，在第一节点N1和第二节点N2之间连接有第二电容器C2。
第三晶体管TR3的栅极连接在控制线部GC上，第三晶体管TR3的第一电极连接在第二晶体管TR2的栅极上，第三晶体管TR3的第二电极连接在有机发光器件OLED的像素电极（即，第二晶体管TR2的第二电极）上。由此，上述的第三晶体管TR3的栅极被输入有控制信号GC（t）。
如上述的图3所示，由两个晶体管和一个电容器形成的有机发光显示装置虽然具有功耗低的优点，但是根据用于驱动有机发光器件OLED的驱动晶体管的栅极和源极之间的电压，即根据驱动晶体管的阈值电压（threshold voltage）的偏差，流过有机发光器件OLED的电流强度发生变化，导致显示质量不均匀的问题。然而，根据本实施例的有机发光显示装置能够以预定的电压电平将控制信号同时一并施加至各个像素中，因此能够缓解由阈值电压的偏差引起的显示质量不均匀的问题。
如图11所示，每个像素P连接在沿着第一方向X延伸的扫描线S、沿着垂直于第一方向X的第二方向Y延伸的数据线D以及向第二方向Y延伸的第一电源供应线V1上。另外，将沿着第一方向X延伸的第二电源供应线V2和第一电源供应线V1连接成网目状。
在本实施例，每个像素P还连接在沿着第二方向Y延伸的控制线部GC的控制线GCB上。每个控制线GCB将由设置在非显示区域A2的控制信号驱动部（未图示）提供的控制信号GC（t）以预定的电压电平、同时一并施加至每个像素P中。
如图13所示，第一电源供应线V1和第二电源供应线V2被设置成网目状。控制线部GC的一端的多个控制线GCB处于浮动状态并向第二方向Y延伸，另一端则连接在公共线GCA上。通过上述方式，控制线GCB能够接收从一个公共线GCA分支出来的公共信号。
虽未在上述附图中图示出，但是因颗粒等异物而导致控制线GCB和第二电源供应线V2的重叠区域发生短路ST缺陷时，将供电部件远离控制部GC的公共线GCA而设置，而将受电部件邻近公共线GCA而设置。然后，使用供电部件和受电部件依次向控制线GCB施加电压，并监控电位差，从而找出控制线GCB的缺陷位置。
另外，虽未在图13中图示出，但是可以通过如上所述的方法检查数据线D和第二电源供应线V2之间的短路缺陷以及扫描线S和第一电源供应线V1之间的短路缺陷。另外，在本实施例中，虽然每个控制线GCB沿着第二方向Y延伸，但是本发明并不限于此。控制线GCB还可以沿着第一方向X延伸设置。
图14是图1的Ⅱ区域的再一排线结构的简要示意图，图15是图14中的一个像素的电路图，图16是图14的有机发光显示装置所包含的排线中的一部分排线的简要示意图。
下面，以与上述的图11有机发光显示装置之间的差别为中心，说明本实施例。如图15所示，根据本实施例的有机发光显示装置的一个像素包括五个晶体管和三个电容器。
与上述的图12中的像素相比，本实施例的像素进一步包括：第四晶体管TR4、第五晶体管TR5以及第三电容器C3。
第四晶体管TR4的栅极连接在写入（writing）线GW上，从而被输入有写入信号GW（t）。第四晶体管TR4用于确保额外的数据存储空间，以预先存储N+1帧的数据；并且用作开关器件，以将其与N帧的数据之间进行区分。
第五晶体管TR5的栅极连接在被输入有控制信号GC（t）的第三晶体管TR3上。第五晶体管TR5作为在N帧发光结束之后实施初始化的过程中所需要的绕行（bypass）排线和开关器件，可以供应与控制信号GC（t）相同的信号。
第三电容器C3用于存储N+1帧中的数据。
如图14所示，每个像素P连接在沿着第一方向X延伸的扫描线S、沿着垂直于第一方向X的第二方向Y延伸的数据线D以及沿着第二方向Y延伸的第一电源供应线V1上。另外，将沿着第一方向X延伸的第二电源供应线V2和第一电源供应线V1连接成网目状。
每个像素P还连接在沿着第二方向Y延伸的控制线GCB和写入线GWB上。
如图16所示，第一电源供应线V1和第二电源供应线V2被设置成网目状，写入线部GW的一端的多个写入线GWB处于浮动状态并向第二方向Y延伸，另一端连接在公共线GWA上。通过上述方式，写入线GWB能够接收从一个公共线GWA分支出来的公共信号。
虽未在上述附图中图示出，然而当在写入线GWB和第二电源供应线V2的重叠区域因颗粒等异物而发生短路ST缺陷时，将供电部件远离写入线部GW的公共线GWA而设置，将受电部件邻近公共线GWA而设置。然后，使用供电部件和受电部件依次对写入线GWB施加电压，并监控电位差，由此找出写入线GWB的缺陷位置。
另一方面，虽未在图14中图示出，但是将写入线GWB的两端均可以设置成浮动状态。另外，在本实施例中，虽然每个写入线GWB是沿着第二方向Y延伸的，但是本发明并不限于此。写入线GWB还可以向第一方向X延伸设置。
图17是图1的有机发光显示装置的像素的一部分组成要素的简要截面示意图。
如图17所示，在基板10上设置有用作驱动用薄膜晶体管的第二晶体管TR2、第一电容器C1以及有机发光器件OELD。
基板10可以由将SiO2作为主成分的透明的玻璃材料来形成。然而，基板10的形成材料并不限于此，而是还可以由透明的塑料材料来形成。在基板10上还可以进一步形成缓冲层11。通过缓冲层11在基板10的上部提供了平坦的面，并且其用于防止水分和异物的渗透。在缓冲层11上形成包括源区域212b、漏区域212a以及沟道区域212c的第二晶体管TR2的活性层212。在活性层212上形成栅绝缘膜13；在栅绝缘膜13上与活性层212的沟道区域212c对应的位置处，依次形成包括透明导电物质的栅极第一层214和栅极第二层215。在栅极第二层215上形成分别与活性层212的源区域212b和漏区域212a连接的源极216b和漏极216a，其中，在栅极第二层215和源极216b、漏极216a之间设置有层间绝缘膜15。在层间绝缘膜15上设置像素限定膜18，以覆盖源极216b和漏极216a。在缓冲层11和栅绝缘膜13上形成了由与栅极第一层214相同的透明导电物质形成的像素电极114。在像素电极114上形成有包括有机发光层的中间层119。在中间层119上形成相对电极20以用作公共电极。在根据本实施例的有机发光显示装置，像素电极114用作阳极，相对电极20用作阴极。当然，还可以相反地设置上述两种电极的极性。虽未在图17中图示出，但是在相对电极20的上部还可以与基板10的一表面相对地设置密封部件（未图示）。
另外，虽然上述的实施例说明了有机发光显示装置的短路缺陷的检查方法，然而本发明并不限于此。即，本发明的技术思想还可以适用于包括有机发光显示装置在内的多种显示装置的短路缺陷检查。进而，只要是检查网目状类型的一排线和另一排线之间的短路缺陷即可，并且还可以适用于检查显示装置之外的其他电子设备的短路缺陷。
参考附图所示的实施例说明了本发明，然而这仅是示例性的说明，所属技术领域的技术人员能够了解基于此可以有多种变形和等效的其他实施例。从而，本发明所要保护的真正的范围应由权利要求书的范围所确定。

Claims (19)

1.一种检测短路缺陷的方法，用于检测沿着第一方向以及与所述第一方向相交的第二方向延伸的第一排线部和沿着所述第一方向或者所述第二方向延伸的第二排线部之间的短路缺陷，其特征在于，
仅通过所述第二排线部的电位差来检测所述第一排线部和所述第二排线部之间的短路缺陷。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
当所述第二排线部的两端以浮动状态延伸时，
将受电部件和供电部件分别连接在所述第二排线部的两端，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行初次监控，以检测出有缺陷的线。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，
将受电部件和供电部件分别连接在通过所述初次监控在所述第二排线部中被检测出有缺陷的线的两端，沿着所述有缺陷的线施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行再次监控，以检测出缺陷位置。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
当所述第二排线部以一端浮动、另一端被连接的状态延伸时，
将供电部件连接在所述第二排线部的浮动区域，将受电部件连接在所述第二排线部的连接区域，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行初次监控，以检测出有缺陷的线。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，
将供电部件连接在通过所述初次监控在所述第二排线部中被检测出有缺陷的线的浮动区域，将受电部件连接在所述有缺陷的线的连接区域，沿着所述有缺陷的线施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行再次监控，以检测出缺陷位置。
6.一种显示装置的短路缺陷的检测方法，用于检测第一排线部和第二排线部之间的短路缺陷，其中，所述显示装置包括：
多个像素；
所述第一排线部，与所述像素连接，并且沿着第一方向以及与所述第一方向相交的第二方向延伸；以及
所述第二排线部，与所述像素连接，并且沿着所述第一方向或者所述第二方向延伸，
其特征在于，仅通过所述第二排线部的电位差来检测所述第一排线部和所述第二排线部之间的短路缺陷。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一排线部包括：
第一电源供应线，沿着所述第一方向延伸，并且用于向所述像素供应电源；以及
第二电源供应线，沿着所述第二方向延伸，并且用于向所述像素供应电源。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，
所述第一电源供应线和所述第二电源供应线呈网目状。
9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，
所述第二排线部是用于向所述像素供应扫描信号的扫描线。
10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，
所述第二排线部是用于向所述像素供应数据信号的数据线。
11.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，
当所述第二排线部的两端以浮动状态延伸时，
将受电部件和供电部件分别连接在所述第二排线部的两端，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行初次监控，以检测出有缺陷的线。
12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，
将受电部件和供电部件分别连接在通过所述初次监控在所述第二排线部中被检测出有缺陷的线的两端，沿着所述有缺陷的线施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行再次监控，以检测出缺陷位置。
13.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，
当所述第二排线部以一端浮动、另一端被连接的状态延伸时，
将供电部件连接在所述第二排线部的浮动区域，将受电部件连接在所述第二排线部的连接区域，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行初次监控，以检测出有缺陷的线。
14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，
将供电部件连接在通过所述初次监控在所述第二排线部中被检测出有缺陷的线的浮动区域，将受电部件连接在所述有缺陷的线的连接区域，沿着所述有缺陷的线施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行再次监控，以检测出缺陷位置。
15.一种有机发光显示装置的短路缺陷的检查方法，用于检查第一电源供应线和第二排线部之间或者第二电源供应线和所述第二排线部之间的短路缺陷，其中，所述有机发光显示装置包括：
多个像素，具有像素电极、包括有机发光层的中间层以及相对电极；
所述第一电源供应线，与所述像素连接，并且沿着第一方向延伸，用于向所述像素供应电源；
所述第二电源供应线，沿着与所述第一方向相交的第二方向延伸，并且用于向所述像素供应电源；以及
多个第二排线部，与所述像素连接，并且向所述第一方向或者所述第二方向延伸，并且用于向所述像素供应信号，
其特征在于，仅通过所述第二排线部的电位差来检测所述第一电源供应线和所述第二排线部之间或者所述第二电源供应线和所述第二排线部之间的短路缺陷。
16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，
将受电部件和供电部件分别连接在所述第二排线部的两端，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行监控，以检测出有缺陷的线。
17.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，
当所述第二排线部的一端被浮动，另一端被连接时，
将所述供电部件设置在远离所述另一端的区域，将所述受电部件设置在邻近所述另一端的区域。
18.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，
包含在所述有机发光显示装置中的像素包括至少两个晶体管和至少一个电容器。
19.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，
所述第二排线部是用于向所述像素供应扫描信号的扫描线、用于向所述像素供应数据信号的数据线、用于向所述像素供应控制信号的控制线以及用于向所述像素输入写入信号的写入线中的至少一种。
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