CN109389919B - 显示面板的检测方法及装置 - Google Patents
显示面板的检测方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109389919B CN109389919B CN201710672710.2A CN201710672710A CN109389919B CN 109389919 B CN109389919 B CN 109389919B CN 201710672710 A CN201710672710 A CN 201710672710A CN 109389919 B CN109389919 B CN 109389919B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- level
- signal
- voltage
- data
- display panel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 57
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 13
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229920001621 AMOLED Polymers 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
- G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
- G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
- G09G3/3233—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the current through the light-emitting element
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
本发明公开了一种显示面板的检测方法及装置，属于显示技术领域。该方法包括：向数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号；测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压；根据第一电压确定出现故障的数据线；向数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和电源信号；测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压；根据第二电压确定出现故障的栅线；根据出现故障的栅线和出现故障的数据线，确定显示面板中出现不良点的位置。本发明通过故障的数据线和故障的栅线，确定显示面板中出现不良点的位置，提高了显示面板的产品良率。本发明用于检测显示面板。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示面板的检测方法及装置。
背景技术
随着显示技术领域的发展，各种具有显示功能的产品出现在日常生活中，例如手机、平板电脑、电视机、笔记本电脑、数码相框、导航仪等，这些产品都无一例外的需要装配显示面板。
目前，有源矩阵有机发光二极体(英文：Active-matrix organic light emittingdiode；简称：AMOLED)显示面板是市面上新型的显示面板，该AMOLED显示面板可以包括：多条数据线和多条栅线，每相邻的两根数据线和每相邻的两根栅线围成一个像素单元，每个像素单元对应一个驱动电路，该驱动电路用于驱动其对应的像素单元发光。由于生成该多条数据线和多条栅线时工艺难度较大，导致该栅线和数据线可能会出现短路或断路等诸多不良的现象，进而导致生产出的AMOLED显示面板出现产品不良，为了提高AMOLED显示面板的产品良率，需要对AMOLED显示面板进行检测。
但是，目前AMOLED显示面板进行检测时，仅能够检出数据线不良，无法检测出栅线不良，由于无法定位出AMOLED显示面板中不良点的位置，最终导致无法对不良点所对应的栅线和数据线进行维修，因此，AMOLED显示面板的产品良率较低。
发明内容
为了解决现有技术的AMOLED显示面板的产品良率较低的问题，本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法及装置。所述技术方案如下：
第一方面，提供了一种显示面板的检测方法，所述显示面板中包括：多条数据线和多条栅线，所述多条数据线和所述多条栅线交叉围成多个像素单元，每个像素单元包括驱动电路和像素电极，每个像素单元的驱动电路分别与数据输入端、栅极扫描输入端和电源端连接，所述方法包括：
向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，在信号输入过程中，所述第一栅线扫描信号为第一电平，所述第一数据信号的电平由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第一数据信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；
测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压；
根据所述第一电压确定出现故障的数据线；
向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和所述电源信号，在信号输入过程中，所述第二数据信号为第一电平，所述第二栅线扫描信号由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第二栅线扫描信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；
测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压；
根据所述第二电压确定出现故障的栅线；
根据所述出现故障的栅线和所述出现故障的数据线，确定所述显示面板中出现不良点的位置。
可选的，所述根据所述第一电压确定出现故障的数据线，包括：
判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第一预设电压范围内；
确定第一电压处于第一预设电压范围内的像素单元所对应的数据线出现故障；
其中，所述第一预设电压范围的下限大于或等于所述电源信号为第二电平时的电压值。
可选的，所述根据所述第二电压确定出现故障的栅线，包括：
判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第二预设电压范围内；
确定第二电压处于第二预设电压范围内的像素单元所对应的栅线出现故障；
其中，所述第二预设电压范围的下限大于或等于所述电源信号为第二电平时的电压值。
可选的，所述测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压之后，所述方法还包括：
判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第三预设电压范围内；
确定第一电压处于第三预设电压范围内的像素单元所对应的数据线为正常的数据线；
其中，所述第三预设电压范围的下限大于所述第一预设电压范围的上限值。
可选的，所述测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压之后，所述方法还包括：
判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第四预设电压范围内；
确定第二电压处于第四预设电压范围内的像素单元所对应的栅线为正常的栅线；
其中，所述第四预设电压范围的下限大于所述第二预设电压范围的上限值。
可选的，所述第一栅线扫描信号为第一电平时的电压值为20伏，所述第一数据信号为第一电平时的电压值为25伏，所述第一数据信号为第二电平时的电压值为-8伏，所述电源信号为第一电平时的电压值为25伏，所述电源信号为第二电平时的电压值为-15伏；
所述第二数据信号为第一电平时的电压值为8伏，所述第二栅线扫描信号为第一电平时的电压值为25伏，所述第二栅线扫描线信号为第二电平时的电压值为-25伏。
第二方面，提供一种显示面板的检测装置，所述显示面板中包括：多条数据线和多条栅线，所述多条数据线和所述多条栅线交叉围成多个像素单元，每个像素单元包括驱动电路和像素电极，每个像素单元的驱动电路分别与数据输入端、栅极扫描输入端和电源端连接，所述装置包括：
第一输入模块，用于向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，在信号输入过程中，所述第一栅线扫描信号为第一电平，所述第一数据信号的电平由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第一数据信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；
第一测量模块，用于测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压；
第一确定模块，用于根据所述第一电压确定出现故障的数据线；
第二输入模块，用于向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和所述电源信号，在信号输入过程中，所述第二数据信号为第一电平，所述第二栅线扫描信号由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第二栅线扫描信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；
第二测量模块，用于测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压；
第二确定模块，用于根据所述第二电压确定出现故障的栅线；
第三确定模块，用于根据所述出现故障的栅线和所述出现故障的数据线，确定所述显示面板中出现不良点的位置。
可选的，所述第一确定模块用于：
判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第一预设电压范围内；
确定第一电压处于第一预设电压范围内的像素单元所对应的数据线出现故障；
其中，所述第一预设电压范围的下限大于或等于所述电源信号为第二电平时的电压值。
可选的，所述第二确定模块用于：
判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第二预设电压范围内；
确定第二电压处于第二预设电压范围内的像素单元所对应的栅线出现故障；
其中，所述第二预设电压范围的下限大于或等于所述电源信号为第二电平时的电压值。
可选的，所述装置还包括：
第一判断模块，用于判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第三预设电压范围内；
第四确定模块，用于确定第一电压处于第三预设电压范围内的像素单元所对应的数据线为正常的数据线；
其中，所述第三预设电压范围的下限大于所述第一预设电压范围的上限值。
可选的，所述装置还包括：
第二判断模块，用于判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第四预设电压范围内；
第五确定模块，用于确定第二电压处于第四预设电压范围内的像素单元所对应的栅线为正常的栅线；
其中，所述第四预设电压范围的下限大于所述第二预设电压范围的上限值。
可选的，所述第一栅线扫描信号为第一电平时的电压值为20伏，所述第一数据信号为第一电平时的电压值为25伏，所述第一数据信号为第二电平时的电压值为-8伏，所述电源信号为第一电平时的电压值为25伏，所述电源信号为第二电平时的电压值为-15伏；
所述第二数据信号为第一电平时的电压值为8伏，所述第二栅线扫描信号为第一电平时的电压值为25伏，所述第二栅线扫描线信号为第二电平时的电压值为-25伏。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：
本发明实施例提供的显示面板检测方法及装置，通过对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压，根据该第一电压可以确定出故障的数据线；对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压，根据该第二电压可以确定出故障的栅线，进一步的，可以通过故障的数据线和故障的栅线，确定显示面板中出现不良点的位置，当确定出显示面板中出现不良点的位置时可以对该不良点所对应的栅线和数据线进行维修，进而提高了显示面板的产品良率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1-1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图1-2是本发明实施例提供的一种驱动电路的结构示意图；
图1-3是本发明实施例提供的一种将显示面板安装到检测设备上的效果图；
图2是本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程图；
图3-1是本发明实施例提供的一种检测过程中各信号端的时序图；
图3-2是本发明实施例提供另一种显示面板的检测方法的流程图；
图3-3是本发明实施例提供的一种测量像素电极ITO的第一电压的仿真模拟图；
图4-1是本发明实施例提供的另一种检测过程中各信号端的时序图；
图4-2是本发明实施例提供又一种显示面板的检测方法的流程图；
图4-3是本发明实施例提供的一种测量像素电极ITO的第二电压的仿真模拟图；
图5-1是本发明实施例提供的一种显示面板的检测装置的框图；
图5-2是本发明实施例提供的另一种显示面板的检测装置的框图；
图5-3是本发明实施例提供的又一种显示面板的检测装置的框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
本发明实施例提供一种显示面板，如图1-1所示，图1-1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，该显示面板10可以包括：多条数据线11和多条栅线12，该多条数据线11和多条栅线12交叉围成多个像素单元13，每个像素单元13可以包括驱动电路和像素电极，每个像素单元的驱动电路分别与一条数据线、一条栅线和电源端连接。示例的，请参考图1-2，图1-2是本发明实施例提供的一种驱动电路的结构示意图，该驱动电路可以包括：
第一晶体管T1、第二晶体管T2和像素存储电容Cst。
该第一晶体管T1的栅极与栅线连接，第一晶体管T1的第一极与数据线连接，第一晶体管T1的第二极与第二晶体管T2的栅极和像素存储电容Cst的第一金属层连接。
该第二晶体管T2的第一极与电源端VDD连接，第二晶体管T2的第二极与像素存储电容Cst的第二金属层和像素电极ITO连接。
在本发明实施例中，为区分晶体管除栅极之外的两极，将其中源极称为第一极，漏极称为第二极。本发明实施例所采用的开关晶体管可以为N型开关晶体管，N型开关晶体管为在栅极为高电平时导通，在栅极为低电平时截止。此外，本发明各个实施例中的多个信号都对应有第一电平和第二电平。第一电平和第二电平仅代表该信号的电平有2个状态量，不代表全文中第一电平或第二电平具有特定的数值。
实际应用中，显示面板中的源漏极图形和栅极图形之间设置有栅极绝缘层，在制造显示面板时，由于工艺的误差可能会导致栅极绝缘层无法完全绝缘源漏极图形和栅极图形，进而导致源漏极图形和栅极图形接触，因此栅线与数据线之间会发生短路。为了提高显示面板的产品良率，需要对显示面板进行检测，当对本发明实施例提供的显示面板进行检测时，需要将显示面板安装到检测设备上。示例的，请参考图1-3，图1-3是本发明实施例提供的一种将显示面板安装到检测设备上的效果图，该检测设备可以包括：第一信号输入组件A1和第二信号输入组件A2，显示面板10中的多条数据线11均与同一个数据输入端连接，该数据输入端与该第一信号输入组件A1连接，显示面板10中的多条栅线12均与同一个栅极扫描输入端连接，该栅极扫描输入端与该第二信号输入组件A2连接，该第一信号输入组件A1用于通过数据输入端向多条数据线同时输入第一数据信号或第二数据信号，该第二信号输入组件A2用于通过栅极扫描输入端向多条栅线同时输入第一栅极扫描信号或第二栅极扫描信号。
因此，本发明实施例提供的显示面板在检测过程中，每个像素单元中的驱动电路可以分别与数据输入端D、栅极扫描输入端G1和电源端VDD连接。
本发明实施例提供一种显示面板的检测方法，如图2所示，图2是本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程图，该方法用于检测图1-1示出的显示面板，并确定该显示面板中发生短路的栅线和发生短路的数据线，该方法可以包括：
步骤201、向数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，在信号输入过程中，第一栅线扫描信号为第一电平，第一数据信号的电平由第一电平跳变至第二电平，电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且第一数据信号的电平在电源信号的电平跳变之前跳变。
步骤202、测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压。
步骤203、根据第一电压确定出现故障的数据线。
步骤204、向数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和电源信号，在信号输入过程中，第二数据信号为第一电平，第二栅线扫描信号由第一电平跳变至第二电平，电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且第二栅线扫描信号的电平在电源信号的电平跳变之前跳变。
步骤205、测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压。
步骤206、根据第二电压确定出现故障的栅线。
步骤207、根据出现故障的栅线和出现故障的数据线，确定显示面板中出现不良点的位置。
综上所述，本发明实施例提供的显示面板检测方法，通过对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压，根据该第一电压可以确定出故障的数据线；对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压，根据该第二电压可以确定出故障的栅线，进一步的，可以通过故障的数据线和故障的栅线，确定显示面板中出现不良点的位置，当确定出显示面板中出现不良点的位置时可以对该不良点所对应的栅线和数据线进行维修，进而提高了显示面板的产品良率。
在本发明实施例中，通过第一信号输入组件向多条数据线输入不同信号，以及第二信号输入组件向多条栅线输入不同的信号，可以确定出出现故障的数据线和出现故障的栅线，由于本发明实施例确定出现故障的数据线的方法和确定出现故障的栅线的方法不同，因此本发明实施例以以下两个方面进行示意性说明：
第一方面，当需要确定出现故障的数据线时，请参考图3-1，图3-1是本发明实施例提供的一种检测过程中各信号端的时序图，第一检测组件向数据输入端D传输第一数据信号D1，第二检测组件向栅极扫描输入端G1传输第一栅线扫描信号G11，请参考图3-2，图3-2是本发明实施例提供另一种显示面板的检测方法的流程图，该方法用于检测图1-1示出的显示面板，并确定该显示面板中发生短路的数据线，该方法可以包括：
步骤301、向数据输入端D、栅极扫描输入端G1和电源端VDD分别输入第一数据信号D1、第一栅线扫描信号G11和电源信号V，在信号输入过程中，第一栅线扫描信号G11为第一电平，第一数据信号D1的电平由第一电平跳变至第二电平，电源信号V由第一电平跳变至第二电平，并且第一数据信号D1的电平在电源信号V的电平跳变之前跳变。
示例的，如图3-1所示，该步骤301所示的方法可以划分为t1至t3共三个阶段。在第一阶段t1中，第一栅线扫描信号G11、第一数据信号D1和电源信号V均为第一电平；在第二阶段t2中，第一栅线扫描信号G11和电源信号V均为第一电平，第一数据信号D1为第二电平；在第三阶段t3中，第一栅线扫描信号G11为第一电平，第一数据信号D1和电源信号V均为第二电平。
其中，该第一栅线扫描信号G11为第一电平时的电压值可以为20伏，第一数据信号D1为第一电平时的电压值可以为25伏，第一数据信号D1为第二电平时的电压值可以为-8伏，电源信号V为第一电平时的电压值可以为25伏，电源信号V为第二电平时的电压值可以为-15伏。
在本发明实施例中，如图1-2和图3-1所示，由于在检测过程中，第二信号输入组件向栅极扫描输入端G1输入的第一栅线扫描信号G11的电平不会跳变，且均为第一电平，因此在信号输入过程中，第一晶体管T1始终处于导通状态。当栅线和数据线均正常时，若数据输入端D输入的第一数据信号D1为第一电平，第二晶体管T2处于导通状态；若第一数据信号D1为第二电平时，第二晶体管T2处于关断状态。当栅线和数据线发生短路时，数据线上传输的第一数据信号D1的电位受到栅线上传输的第一栅线扫描信号G11的影响，导致数据输入端D输入的第一数据信号D1为第二电平时，数据线上的电压会被该栅线上传输的第一栅线扫描信号G11拉高，进而导致第二晶体管T2的通断状态不受第一数据信号D1的电平的影响，而始终处于导通状态。
步骤302、测量显示面板中每个像素单元中像素电极ITO的第一电压。
在本发明实施例中，如图1-2和图3-1所示，由于第一数据信号D1的电平在电源信号V的电平跳变之前跳变，因此当栅线和数据线均正常时，第二晶体管T2可以在第一数据信号D1的控制下处于导通状态或者处于关断状态。具体的，当第二晶体管T2处于导通状态时，电压端VDD可以对像素存储电容Cst充电，使得存储电容Cst两端的电压均为电源信号V为第一电平时的电压，可以测量出像素电极ITO的第一电压为电源信号V为第一电平时的电压；当第二晶体管T2处于关断状态，像素存储电容Cst不进行放电和充电，像素电极ITO的电压为存储电容Cst一端的电压，可以测量出像素电极ITO的第一电压也为电源信号V为第一电平时的电压。
当栅线和数据线短路时，由于第二晶体管T2会在栅线上传输的第一栅极扫描信号G11的影响下始终处于导通状态，此时可以测量出像素电极ITO的第一电压为电源信号V为第二电平时的电压。
示例的，请参考图3-3，图3-3是本发明实施例提供的一种测量像素电极ITO的第一电压的仿真模拟图，当栅线和数据线均正常时，像素电极ITO的第一电压为电源信号V为第一电平时的电压，最终可以检测到像素电极ITO的第一电压为25伏；当栅线和数据线短路时，像素电极ITO的第一电压下降到电源信号V为第二电平时的电压，最终可以测量到像素电极ITO的第一电压为-15伏。
因此，在本发明实施例中可以测量显示面板中每个像素单元中像素电极ITO的第一电压，进而可以判断出显示面板中发生短路的数据线。
步骤303、判断每个像素单元中像素电极ITO的第一电压是否处于第一预设电压范围内。
其中，第一预设电压范围的下限大于或等于电源信号V为第二电平时的电压值。
实际应用中，如图1-2所示，由于第二晶体管T2中可能存在电阻，当栅线和数据线短路时，电源端VDD中输入的电源信号V传输到像素电极ITO后，电源信号V为第二电平时的电压由于第二晶体管T2中的电阻分压，使得在像素电极ITO的第一电压可能会大于电源信号V为第二电平时的电压，因此当判断出每个像素单元中像素电极ITO的第一电压处于第一预设电压范围内时，执行步骤305。
步骤304、判断每个像素单元中像素电极ITO的第一电压是否处于第三预设电压范围内。
其中，第三预设电压范围的下限大于第一预设电压范围的上限值。
实际应用中，如图1-2所示，同理当栅线和数据线均正常时，在像素电极ITO的第一电压可能会小于电源信号V为第一电平时的电压，因此当判断出每个像素单元中像素电极ITO的第一电压处于第三预设电压范围内时，执行步骤306。
步骤305、确定第一电压处于第一预设电压范围内的像素单元所对应的数据线出现故障。
在本发明实施例中，该像素单元所对应的数据线是指与像素单元中的驱动电路连接的数据线。
步骤306、确定第一电压处于第三预设电压范围内的像素单元所对应的数据线为正常的数据线。
需要说明的是，当第一电压既不处于第一预设电压范围内又不处于第三预设范围内时，显示面板中可能出现了其他类型的故障。
第二方面，当需要确定出现故障的栅线时，请参考参图4-1，图4-1是本发明实施例提供的另一种检测过程中各信号端的时序图，第一检测组件向数据输入端D传输第二数据信号D2，第二检测组件向栅极扫描输入端G1传输第二栅线扫描信号G12，请参考图4-2，图4-2是本发明实施例提供又一种显示面板的检测方法的流程图，该方法用于检测图1-1示出的显示面板，并确定该显示面板中发生短路的栅线，该方法可以包括：
步骤401、向数据输入端D、栅极扫描输入端G1和电源端VDD分别输入第二数据信号D2、第二栅线扫描信号G12和电源信号V，在信号输入过程中，第二数据信号D2为第一电平，第二栅线扫描信号G12由第一电平跳变至第二电平，电源信号V由第一电平跳变至第二电平，并且第二栅线扫描信号G12的电平在电源信号V的电平跳变之前跳变。
示例的，如图4-1所示，该步骤401所示的方法可以划分为t1至t3共三个阶段。在第一阶段t1中，第二栅线扫描信号G12、第二数据信号D2和电源信号V均为第一电平；在第二阶段t2中，第二数据信号D2和电源信号V均为第一电平，第二栅线扫描信号G12为第二电平；在第三阶段t3中，第二数据信号D2为第一电平，第二栅线扫描信号G12和电源信号V均为第二电平。
其中，第二数据信号D2为第一电平时的电压值为8伏，第二栅线扫描信号G12为第一电平时的电压值为25伏，第二栅线扫描线信号G12为第二电平时的电压值为-25伏。
在本发明实施例中，如图1-2和图4-1所示，在信号传输过程中，当栅线和数据线均正常时，若栅极扫描输入端G1输入第二栅线扫描信号G12为第一电平，第一晶体管T1处于导通状态；若栅极扫描输入端G1输入第二栅线扫描信号G12为第二电平，第一晶体管T1处于关断状态。由于在检测过程中，第一信号输入组件向数据输入端D输入的第二数据信号D2的电平不会跳变，且均为第一电平，因此当第一晶体管T1处于导通状态时，第二晶体管T2也处于导通状态；当第一晶体管T1处于关断状态时，第二晶体管T2也处于关断状态。当栅线和数据线发生短路时，栅线上传输的第二栅极扫描信号G12的电位受到数据线上传输的第二数据信号D2的影响，导致栅极扫描输入端G1输入的第二栅线扫描信号G12为第二电平时，栅线上的电压会被该数据线上传输的第二数据信号D2拉高，进而导致第一晶体管T1的通断状态不受第二栅极扫描信号G12的电平的影响，而始终处于导通状态，又由于数据输入端D输入的第二数据信号D2的电平不会跳变，且均为第一电平，因此在信号输入过程中，第二晶体管T2始终处于导通状态。
步骤402、测量显示面板中每个像素单元中像素电极ITO的第二电压。
在本发明实施例中，如图1-2和图4-1所示，由于第二栅线扫描信号G12的电平在电源信号V的电平跳变之前跳变，因此当栅线和数据线均正常时，第一晶体管T1可以在第二栅极扫描信号G12的控制下处于导通状态或者处于关断状态。具体的，当第一晶体管T1处于导通状态时，第二晶体管T2也处于导通状态，电压端VDD可以对像素存储电容Cst充电，使得存储电容Cst两端的电压均为电源信号V为第一电平时的电压，可以测量出像素电极ITO的第二电压为电源信号V为第一电平时的电压。当第一晶体管T1处于关断状态时，像素存储电容Cst放电，使第二晶体管T2不会被立刻关断，当像素存储电容Cst放电结束后，第二晶体管T2处于关断状态，在像素存储电容Cst放电过程中，像素存储电容Cst两端的电压持续下降，使得像素电极ITO的电压持续下降，当第二晶体管T2处于关断状态后，像素电极ITO的第二电压停止下降。
当栅线和数据线短路时，由于第一晶体管T1会在数据线上传输的第二数据信号D2的影响下始终处于导通状态，导致第二晶体管T2始终处于导通状态，此时可以测量出像素电极ITO的第二电压为电源信号V为第二电平时的电压。
示例的，请参考图4-3，图4-3是本发明实施例提供的一种测量像素电极ITO的第二电压的仿真模拟图，当栅线和数据线均正常时，像素电极ITO的第二电压下降到-2.5743伏后第二晶体管T2被关闭，最终可以测量到像素电极ITO的第二电压为-2.5743伏；当栅线和数据线短路时，像素电极ITO的第二电压下降到电源信号V为第二电平时的电压，最终可以测量到像素电极ITO的第二电压为-15伏。
因此，在本发明实施例中可以测量显示面板中每个像素单元中像素电极ITO的第二电压，进而可以判断出显示面板中发生短路的栅线。
步骤403、判断每个像素单元中像素电极ITO的第二电压是否处于第二预设电压范围内。
其中，第二预设电压范围的下限大于或等于电源信号V为第二电平时的电压值。
实际应用中，如图1-2所示，由于第二晶体管T2中可能存在电阻，当栅线和数据线短路时，电源端VDD中输入的电源信号V传输到像素电极ITO后，电源信号V为第二电平时的电压由于第二晶体管T2中的电阻分压，使得在像素电极ITO的第二电压可能会大于电源信号V为第二电平时的电压，因此当判断出每个像素单元中像素电极ITO的第二电压处于第二预设电压范围内时，执行步骤405。
需要说明的是，本发明实施例提供的第一预设电压范围和第二预设电压范围相同，也即是，第一预设电压范围和第二预设电压范围所包含的数值相同。
步骤404、判断每个像素单元中像素电极ITO的第二电压是否处于第四预设电压范围内。
其中，第四预设电压范围的下限大于第二预设电压范围的上限值。
示例的，当判断出每个像素单元中像素电极ITO的第二电压处于第四预设电压范围内时，执行步骤406。
步骤405、确定第二电压处于第二预设电压范围内的像素单元所对应的栅线出现故障。
在本发明实施例中，该像素单元所对应的栅线是指与像素单元中的驱动电路连接的栅线。
步骤406确定第二电压处于第四预设电压范围内的像素单元所对应的栅线为正常的栅线。
需要说明的是，当第二电压既不处于第二预设电压范围内又不处于第四预设范围内时，显示面板中可能出现了其他类型的故障。
还需说明的是，在经过上述实施例中的步骤305和步骤405后，可以确定出出现故障的栅线和出现故障的数据线，再根据出现故障的栅线和出现故障的数据线，确定显示面板中出现不良点的位置，使得可以对该不良点所对应的栅线和数据线进行维修，进而提高了显示面板的产品良率。
还需说明的是，本发明实施例提供的显示面板的检测方法步骤的先后顺序可以进行适当调整，步骤也可以根据情况进行相应增减，例如，可以先确定出现故障的栅线，再确定出现故障的数据线，也即是，先执行图4-2中的步骤，再执行图3-2中的步骤。任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化的方法，都应涵盖在本发明的保护范围之内，因此不再赘述。
综上所述，本发明实施例提供的显示面板检测方法，通过对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压，根据该第一电压可以确定出故障的数据线；对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压，根据该第二电压可以确定出故障的栅线，进一步的，可以通过故障的数据线和故障的栅线，确定显示面板中出现不良点的位置，当确定出显示面板中出现不良点的位置时可以对该不良点所对应的栅线和数据线进行维修，进而提高了显示面板的产品良率。
本发明实施例还提供一种显示面板的检测装置，该显示面板中可以包括：多条数据线和多条栅线，多条数据线和多条栅线交叉围成多个像素单元，每个像素单元包括驱动电路和像素电极，每个像素单元的驱动电路分别与数据输入端、栅极扫描输入端和电源端连接，请参考图5-1，图5-1是本发明实施例提供的一种显示面板的检测装置的框图，该显示面板的检测装置500可以包括：
第一输入模块501，用于向数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，在信号输入过程中，第一栅线扫描信号为第一电平，第一数据信号的电平由第一电平跳变至第二电平，电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且第一数据信号的电平在电源信号的电平跳变之前跳变。
第一测量模块502，用于测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压。
第一确定模块503，用于根据第一电压确定出现故障的数据线。
第二输入模块504，用于向数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和电源信号，在信号输入过程中，第二数据信号为第一电平，第二栅线扫描信号由第一电平跳变至第二电平，电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且第二栅线扫描信号的电平在电源信号的电平跳变之前跳变。
第二测量模块505，用于测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压。
第二确定模块506，用于根据第二电压确定出现故障的栅线。
第三确定模块507，用于根据出现故障的栅线和出现故障的数据线，确定显示面板中出现不良点的位置。
综上所述，本发明实施例提供的显示面板检测装置，通过对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压，根据该第一电压可以确定出故障的数据线；对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压，根据该第二电压可以确定出故障的栅线，进一步的，可以通过故障的数据线和故障的栅线，确定显示面板中出现不良点的位置，当确定出显示面板中出现不良点的位置时可以对该不良点所对应的栅线和数据线进行维修，进而提高了显示面板的产品良率。
可选的，该第一确定模块503用于：
判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第一预设电压范围内；确定第一电压处于第一预设电压范围内的像素单元所对应的数据线出现故障；其中，第一预设电压范围的下限大于或等于电源信号为第二电平时的电压值。
可选的，该第二确定模块506用于：
判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第二预设电压范围内；确定第二电压处于第二预设电压范围内的像素单元所对应的栅线出现故障；其中，第二预设电压范围的下限大于或等于电源信号为第二电平时的电压值。
可选的，请参考图5-2，图5-2是本发明实施例提供的另一种显示面板的检测装置的框图，该显示面板的检测装置500还可以包括：
第一判断模块508，用于判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第三预设电压范围内。
第四确定模块509，用于确定第一电压处于第三预设电压范围内的像素单元所对应的数据线为正常的数据线。
其中，第三预设电压范围的下限大于第一预设电压范围的上限值。
可选的，请参考图5-3，图5-3是本发明实施例提供的又一种显示面板的检测装置的框图，该显示面板的检测装置500还可以包括：
第二判断模块510，用于判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第四预设电压范围内。
第五确定模块511，用于确定第二电压处于第四预设电压范围内的像素单元所对应的栅线为正常的栅线。
其中，第四预设电压范围的下限大于第二预设电压范围的上限值。
可选的，第一栅线扫描信号为第一电平时的电压值为20伏，第一数据信号为第一电平时的电压值为25伏，第一数据信号为第二电平时的电压值为-8伏，电源信号为第一电平时的电压值为25伏，电源信号为第二电平时的电压值为-15伏；第二数据信号为第一电平时的电压值为8伏，第二栅线扫描信号为第一电平时的电压值为25伏，第二栅线扫描线为第二电平时的电压值为-25伏。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
综上所述，本发明实施例提供的显示面板检测装置，通过对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压，根据该第一电压可以确定出故障的数据线；对数据输入端、栅极扫描输入端和电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和电源信号，测量显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压，根据该第二电压可以确定出故障的栅线，进一步的，可以通过故障的数据线和故障的栅线，确定显示面板中出现不良点的位置，当确定出显示面板中出现不良点的位置时可以对该不良点所对应的栅线和数据线进行维修，进而提高了显示面板的产品良率。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (12)
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板中包括：多条数据线和多条栅线，所述多条数据线和所述多条栅线交叉围成多个像素单元，每个像素单元包括驱动电路和像素电极，每个像素单元的驱动电路分别与数据输入端、栅极扫描输入端和电源端连接，所述方法包括：
向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，在信号输入过程中，所述第一栅线扫描信号为第一电平，所述第一数据信号的电平由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第一数据信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；
测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压；
根据所述第一电压确定出现故障的数据线；
向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和所述电源信号，在信号输入过程中，所述第二数据信号为第一电平，所述第二栅线扫描信号由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第二栅线扫描信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；
测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压；
根据所述第二电压确定出现故障的栅线；
根据所述出现故障的栅线和所述出现故障的数据线，确定所述显示面板中出现不良点的位置。
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一电压确定出现故障的数据线，包括：
判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第一预设电压范围内；
确定第一电压处于第一预设电压范围内的像素单元所对应的数据线出现故障；
其中，所述第一预设电压范围的下限大于或等于所述电源信号为第二电平时的电压值。
3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述第二电压确定出现故障的栅线，包括：
判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第二预设电压范围内；
确定第二电压处于第二预设电压范围内的像素单元所对应的栅线出现故障；
其中，所述第二预设电压范围的下限大于或等于所述电源信号为第二电平时的电压值。
4.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压之后，所述方法还包括：
判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第三预设电压范围内；
确定第一电压处于第三预设电压范围内的像素单元所对应的数据线为正常的数据线；
其中，所述第三预设电压范围的下限大于所述第一预设电压范围的上限值。
5.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压之后，所述方法还包括：
判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第四预设电压范围内；
确定第二电压处于第四预设电压范围内的像素单元所对应的栅线为正常的栅线；
其中，所述第四预设电压范围的下限大于所述第二预设电压范围的上限值。
6.根据权利要求1至5任一所述的显示面板的检测方法，其特征在于，
所述第一栅线扫描信号为第一电平时的电压值为20伏，所述第一数据信号为第一电平时的电压值为25伏，所述第一数据信号为第二电平时的电压值为-8伏，所述电源信号为第一电平时的电压值为25伏，所述电源信号为第二电平时的电压值为-15伏；
所述第二数据信号为第一电平时的电压值为8伏，所述第二栅线扫描信号为第一电平时的电压值为25伏，所述第二栅线扫描线信号为第二电平时的电压值为-25伏。
7.一种显示面板的检测装置，其特征在于，所述显示面板中包括：多条数据线和多条栅线，所述多条数据线和所述多条栅线交叉围成多个像素单元，每个像素单元包括驱动电路和像素电极，每个像素单元的驱动电路分别与数据输入端、栅极扫描输入端和电源端连接，所述装置包括：
第一输入模块，用于向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第一数据信号、第一栅线扫描信号和电源信号，在信号输入过程中，所述第一栅线扫描信号为第一电平，所述第一数据信号的电平由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第一数据信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；
第一测量模块，用于测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第一电压：
第一确定模块，用于根据所述第一电压确定出现故障的数据线；
第二输入模块，用于向所述数据输入端、所述栅极扫描输入端和所述电源端分别输入第二数据信号、第二栅线扫描信号和所述电源信号，在信号输入过程中，所述第二数据信号为第一电平，所述第二栅线扫描信号由第一电平跳变至第二电平，所述电源信号由第一电平跳变至第二电平，并且所述第二栅线扫描信号的电平在所述电源信号的电平跳变之前跳变；
第二测量模块，用于测量所述显示面板中每个像素单元中像素电极的第二电压；
第二确定模块，用于根据所述第二电压确定出现故障的栅线；
第三确定模块，用于根据所述出现故障的栅线和所述出现故障的数据线，确定所述显示面板中出现不良点的位置。
8.根据权利要求7所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述第一确定模块用于：
判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第一预设电压范围内；
确定第一电压处于第一预设电压范围内的像素单元所对应的数据线出现故障；
其中，所述第一预设电压范围的下限大于或等于所述电源信号为第二电平时的电压值。
9.根据权利要求7所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述第二确定模块用于：
判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第二预设电压范围内；
确定第二电压处于第二预设电压范围内的像素单元所对应的栅线出现故障；
其中，所述第二预设电压范围的下限大于或等于所述电源信号为第二电平时的电压值。
10.根据权利要求8所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述装置还包括：
第一判断模块，用于判断每个像素单元中像素电极的第一电压是否处于第三预设电压范围内；
第四确定模块，用于确定第一电压处于第三预设电压范围内的像素单元所对应的数据线为正常的数据线；
其中，所述第三预设电压范围的下限大于所述第一预设电压范围的上限值。
11.根据权利要求9所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述装置还包括：
第二判断模块，用于判断每个像素单元中像素电极的第二电压是否处于第四预设电压范围内；
第五确定模块，用于确定第二电压处于第四预设电压范围内的像素单元所对应的栅线为正常的栅线；
其中，所述第四预设电压范围的下限大于所述第二预设电压范围的上限值。
12.根据权利要求7至11任一所述的显示面板的检测装置，其特征在于，
所述第一栅线扫描信号为第一电平时的电压值为20伏，所述第一数据信号为第一电平时的电压值为25伏，所述第一数据信号为第二电平时的电压值为-8伏，所述电源信号为第一电平时的电压值为25伏，所述电源信号为第二电平时的电压值为-15伏；
所述第二数据信号为第一电平时的电压值为8伏，所述第二栅线扫描信号为第一电平时的电压值为25伏，所述第二栅线扫描线信号为第二电平时的电压值为-25伏。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710672710.2A CN109389919B (zh) | 2017-08-08 | 2017-08-08 | 显示面板的检测方法及装置 |
| PCT/CN2018/099198 WO2019029532A1 (zh) | 2017-08-08 | 2018-08-07 | 显示面板的检测方法及装置、检测设备及存储介质 |
| US16/335,866 US10872545B2 (en) | 2017-08-08 | 2018-08-07 | Detection method and apparatus for display panel, detection device and storage medium |
| EP18843763.6A EP3667652A4 (en) | 2017-08-08 | 2018-08-07 | METHOD AND APPARATUS FOR DETECTION OF DISPLAY PANEL, DETECTION DEVICE AND STORAGE BRACKET |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710672710.2A CN109389919B (zh) | 2017-08-08 | 2017-08-08 | 显示面板的检测方法及装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109389919A CN109389919A (zh) | 2019-02-26 |
| CN109389919B true CN109389919B (zh) | 2020-07-28 |
Family
ID=65273348
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201710672710.2A Active CN109389919B (zh) | 2017-08-08 | 2017-08-08 | 显示面板的检测方法及装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10872545B2 (zh) |
| EP (1) | EP3667652A4 (zh) |
| CN (1) | CN109389919B (zh) |
| WO (1) | WO2019029532A1 (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110428760A (zh) * | 2019-06-27 | 2019-11-08 | 重庆惠科金渝光电科技有限公司 | 一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置 |
| CN110706629B (zh) * | 2019-09-27 | 2023-08-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板的检测方法和检测装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20060038081A (ko) * | 2004-10-29 | 2006-05-03 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치의 검사 장치 및 검사 방법 |
| CN103426383A (zh) * | 2012-05-18 | 2013-12-04 | 三星显示有限公司 | 短路检查方法 |
| CN104280661A (zh) * | 2013-07-10 | 2015-01-14 | 太瀚科技股份有限公司 | 电磁式输入装置及其检测感应线圈的电路 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8576217B2 (en) * | 2011-05-20 | 2013-11-05 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
| JP5317419B2 (ja) * | 2007-03-07 | 2013-10-16 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 有機ｅｌ表示装置 |
| CN102110400B (zh) * | 2009-12-29 | 2013-04-03 | 上海天马微电子有限公司 | 双栅极线显示装置的测试结构及线缺陷测试方法 |
| KR101113476B1 (ko) * | 2010-03-10 | 2012-03-02 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 액정표시장치 |
| TWM396960U (en) * | 2010-07-29 | 2011-01-21 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | Display device having repair and detect structure |
| KR20140059573A (ko) * | 2012-11-08 | 2014-05-16 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 검사 방법 |
| CN103454792B (zh) * | 2013-08-27 | 2016-04-20 | 北京京东方光电科技有限公司 | 液晶面板的亮点检测方法 |
| CN106409198B (zh) * | 2016-11-24 | 2017-11-10 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种检测驱动电路的方法 |
| CN106683605A (zh) * | 2017-03-31 | 2017-05-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 失效像素检测电路、方法和显示装置 |
-
2017
- 2017-08-08 CN CN201710672710.2A patent/CN109389919B/zh active Active
-
2018
- 2018-08-07 US US16/335,866 patent/US10872545B2/en active Active
- 2018-08-07 EP EP18843763.6A patent/EP3667652A4/en not_active Withdrawn
- 2018-08-07 WO PCT/CN2018/099198 patent/WO2019029532A1/zh unknown
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20060038081A (ko) * | 2004-10-29 | 2006-05-03 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치의 검사 장치 및 검사 방법 |
| CN103426383A (zh) * | 2012-05-18 | 2013-12-04 | 三星显示有限公司 | 短路检查方法 |
| US9361820B2 (en) * | 2012-05-18 | 2016-06-07 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus and method for inspecting short circuit defects |
| CN104280661A (zh) * | 2013-07-10 | 2015-01-14 | 太瀚科技股份有限公司 | 电磁式输入装置及其检测感应线圈的电路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP3667652A1 (en) | 2020-06-17 |
| CN109389919A (zh) | 2019-02-26 |
| EP3667652A4 (en) | 2021-04-28 |
| WO2019029532A1 (zh) | 2019-02-14 |
| US20190259317A1 (en) | 2019-08-22 |
| US10872545B2 (en) | 2020-12-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108831362B (zh) | 一种显示面板、其驱动方法及显示装置 | |
| CN103217844B (zh) | 一种显示面板和显示装置 | |
| CN107424549B (zh) | 阈值电压漂移的检测方法和装置 | |
| US10373538B2 (en) | Judging method of array test reliability, testing method and device of organic light emitting backplane | |
| CN104280908A (zh) | 一种检测电路和液晶显示面板及其制造方法 | |
| US11361690B2 (en) | Display substrate and method for detecting the same, and display device | |
| CN104407481B (zh) | 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置 | |
| CN102968946B (zh) | 显示面板的检测电路 | |
| CN105609024A (zh) | 显示面板的测试方法及装置 | |
| JP2005242001A (ja) | Ｔｆｔアレイ試験方法 | |
| CN101800016A (zh) | 放电检测电路及方法、液晶驱动装置、以及液晶显示装置 | |
| CN107705737B (zh) | 短路不良的检测方法和装置 | |
| WO2019085952A1 (zh) | 用于阵列基板驱动电路的检测方法和检测装置 | |
| CN109064985B (zh) | 一种过流保护电路及显示装置 | |
| CN108877610B (zh) | 阵列基板及其检测方法和显示装置 | |
| US20120162182A1 (en) | Flat panel display device and operating voltage adjusting method thereof | |
| KR20180073891A (ko) | 패널구동장치 및 표시장치 | |
| CN115424554B (zh) | 阵列基板及其vt测试方法、显示面板及显示装置 | |
| CN109389919B (zh) | 显示面板的检测方法及装置 | |
| CN107492333B (zh) | 外部补偿线的不良检测方法、装置和显示模组 | |
| CN102768815A (zh) | Dds检测结构及检测方法 | |
| JPWO2012056497A1 (ja) | アクティブマトリクス基板の検査方法 | |
| CN109102768A (zh) | 一种阵列基板母板及其检测方法 | |
| US7053645B2 (en) | System and method for detecting defects in a thin-film-transistor array | |
| US10043426B2 (en) | Liquid crystal panels, TFT substrates, and the detection methods thereof |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |