TWI498576B - 顯示面板及其測試方法 - Google Patents
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Description
本發明是有關於一種面板及其測試方法，且特別是有關於一種顯示面板及其測試方法。
一般而言，顯示面板是由主動元件陣列基板、對向基板以及配置於此兩基板之間的顯示介質層所構成。其中，在完成主動元件陣列基板的製程後通常會進行電性檢測，以確保主動元件陣列在製程過程中沒有產生影響顯示品質的缺陷。並且，當檢測出會影響顯示品質的缺陷的情況下，可更進一步的找出發生缺陷的位置並進行修補，如此可提高製程的良率。
然而，當主動元件陣列基板中的資料線與共用電極發生短路情況時，由於共用電極通常以陣列方式電性相連分佈於多條資料線上，因此無法從檢測結果判別發生缺陷的位置以進行修補，而增加製程不良損耗的成本。因此，如何在資料線與共用電極發生短路情況下，可正確的判讀出發生缺陷的位置，為亟待解
決的課題。
本發明提供一種顯示面板及其測試方法，當資料線與共用電極間發生短路時，可以檢測出發生短路位置所對應的掃描線座標。
本發明的顯示面板，具有顯示區以及周邊線路區，且顯示面板包括主動元件陣列基板、對向基板以及位於主動元件陣列基板與對向基板之間的顯示介質層。主動元件陣列基板包括多條掃描線以及多條資料線、多個畫素單元、共用電極層以及多條測試線。掃描線以及資料線交錯設置以於顯示區中定義出多個畫素區域。多個畫素單元分別設置於畫素區域中，各畫素單元與對應的掃描線以及資料線電性連接。共用電極層至少覆蓋資料線。測試線設置於顯示區中，各測試線至少與資料線重疊，且位於共用電極層與資料線之間。
本發明的顯示面板的測試方法，此方法包括提供如上所述之顯示面板。輸入測試訊號至測試線的其中之一。從對應於其中之一條測試線的資料線接收測試結果訊號，其中，當測試結果訊號為致能時，判斷對應於其中之一條測試線的資料線與共用電極層以及位於兩者之間的測試線電性連接，進而得知對應於其中之一條測試線的資料線與共用電極層發生短路的位置。
基於上述，因本發明在共用電極層與資料線之間設置測
試線。當資料線與共用電極間發生短路時，可藉由輸入測試訊號至測試線的其中之一，並同時從對應測試線的資料線接收測試結果訊號，其中，當測試結果訊號為致能時，則可判斷對應測試線的資料線與共用電極層以及位於兩者之間的測試線電性連接，並且藉由得知測試線的資料線與共用電極層發生短路的位置，進而判別出發生短路位置所對應的掃描線座標。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
D1‧‧‧第一方向
D2‧‧‧第二方向
I-I’‧‧‧剖面線
II-II’‧‧‧剖面線
U‧‧‧畫素區域
10‧‧‧顯示面板
100‧‧‧主動元件陣列基板
102‧‧‧顯示區
110‧‧‧基板
112‧‧‧訊號接墊
112a‧‧‧第一訊號接墊
112b‧‧‧第二訊號接墊
120a、120b、120c、120d‧‧‧掃描線
130a、130b、130c、130d‧‧‧資料線
140‧‧‧畫素單元
140a‧‧‧主動元件
140b‧‧‧畫素電極
150‧‧‧共用電極層
160‧‧‧測試線
160a‧‧‧連接部
160b‧‧‧手指部
160c‧‧‧測試接墊
170‧‧‧閘絕緣層
180‧‧‧第一絕緣層
190‧‧‧第二絕緣層
200‧‧‧對向基板
300‧‧‧顯示介質層
圖1是根據本發明之實施例之顯示面板的上視示意圖。
圖2是圖1沿著剖面線I-I’的剖面示意圖。
圖3是根據本發明之實施例之顯示面板資料線與共用電極發生短路的上視示意圖。
圖4是圖3沿著資料線與共用電極發生短路位置的剖面線II-II’的剖面示意圖。
圖1是根據本發明之實施例之顯示面板的上視示意圖。圖2是圖1沿著剖面線I-I’的剖面示意圖。請同時參照圖1及圖2，在本實施例中，顯示面板10具有顯示區102以及周邊線路區104，
並且包括主動元件陣列基板100、對向基板200以及位於主動元件陣列基板100與對向基板200之間的顯示介質層300。
主動元件陣列基板100包括基板110、多條掃描線120a至120d、多條資料線130a至130d、多個畫素單元140、共用電極層150以及多條測試線160。
詳細來說，在主動元件陣列基板100上的顯示區102中，各掃描線120a至120d彼此平行且沿第一方向D1延伸，各資料線130a至130d彼此平行且沿第二方向D2延伸。第一方向D1不同於第二方向D2，故掃描線120a至120d與資料線130a至130d為彼此交錯，且藉由掃描線120a至120d與資料線130a至130d的彼此交錯，可將顯示區102定義成多個畫素區域U。畫素區域U中分別對應設置有一個畫素單元140。畫素單元140至少與掃描線120a至120d的其中之一條以及資料線130a至130d的其中之一條作電性連接。具體而言，畫素單元140可包括主動元件140a以及與主動元件140a電性連接的畫素電極140b，其中主動元件140a與上述對應的掃描線以及資料線電性連接。上述畫素單元140的結構僅為舉例說明，本發明不限定畫素單元140中主動元件140a以及畫素電極140b的數量以及形狀，而且也不限定與畫素單元140電性連接的掃描線以及資料線的數量。
共用電極層150配置於所有畫素區域U中且是被圖案化的。位於各畫素區域U中的共用電極層150其例如是具有多個開口以暴露出主動元件140a以及部分的畫素電極140b。由於位於相
鄰畫素區域U中的共用電極層150彼此連接，因此至少會有部份的共用電極層150與部份的資料線130a至130d以及部份的掃描線120a至120d重疊。在本實施例中，共用電極層150以及畫素電極140b皆配置於同一基板110上，因此顯示面板10例如是邊際場切換式(Fringe Field Switching,FFS)顯示面板。
測試線160至少與資料線130a至130d重疊，且位於共用電極層150與資料線130a至130d之間。具體而言，測試線160包括多個連接部160a以及連接至連接部160a的多個手指部160b，如圖1中所示。連接部160a彼此平行排列且沿第一方向D1延伸。這些連接部160a沿第二方向D2排列以大致佈滿整個顯示區102，並且與各掃描線120a至120d為平行排列。
於連接部160a與各資料線130a至130d投影在同一平面上的交疊處，測試線160更自連接部160a沿第二方向D2朝向相鄰的連接部160a延伸而形成手指部160b。各手指部160b至少與其中一條資料線130a至130d的部份的重疊。換言之，測試線160的手指部160b位於資料線130c與共用電極層150之間，以使至少部份的共用電極層150與資料線130a至130d重疊。
在本實施例中，手指部160b與其中一連接部160a連接並往下一個連接部160a延伸且不連接至下一個連接部160a，因此各手指部160b的長度實質上約為一個畫素單元140的長度。以另一觀點來看，同一條測試線的這些手指部160b與其中一列的畫素單元140交替排列，且與這些手指部160b連接的連接部160a與
電性連接至上述該列畫素單元140的掃描線120a至120d相鄰設置，因此，每一條測試線160的座標會對應其中一條掃描線120a至120b的座標。
詳細來說，圖2是圖1沿著剖面線I-I’的剖面示意圖。請參照圖2，於基板110依序配置有閘絕緣層170、資料線130c、第一絕緣層180、測試線160的手指部160b、第二絕緣層190以及共用電極層150。測試線160的手指部160b位於資料線130c與共用電極層150之間，並且手指部160b與資料線130c間夾有第一絕緣層180，手指部160b與共用電極層150之間夾有第二絕緣層190。因此，在一般情況下，手指部160b、資料線130c以及共用電極層150為彼此電性獨立的狀態。
在本實施例中，主動元件陣列基板100上的周邊線路區104可區分為驅動元件設置區104a以及測試元件設置區104b。驅動元件設置區104a以及測試元件設置區104b分別位於顯示區102的相對兩側，但並不限定於此，亦可位於顯示區102的相同一側。以下為方便描述，將只針對驅動元件設置區104a以及測試元件設置區104b分別位於顯示區102的相對兩側之情況舉例說明。
如圖1所示，測試元件設置區104b中配置有多個測試接墊160c。每一個測試接墊160c分別與對應的其中一個連接部160a電性連接。在此，由於每一個測試接墊160c皆具有相同功能，因此用相同符號160c代表表示。在一般非檢測的情況下，測試線160為電性浮置狀態，無連接至其他訊號輸入裝置，但並不限定於此，
亦可將測試線160設計為在非檢測的情況下具有固定訊號。以下為方便描述，將只針對測試線160為電性浮置之情況舉例說明。
主動元件陣列基板100上的周邊線路區104更配置有多個訊號接墊112。訊號接墊112可區分為串接奇數條資料線130a與130c的第一訊號接墊112a，以及串接偶數條資料線130b與130d的第二訊號接墊112b，但訊號接墊的串接方法與數量並不限定於此。如圖1所示，訊號接墊112與資料線130a至130d可以為不同膜層，以利彼此間的跨接需求，並且，訊號接墊112分別與對應的資料線130a至130d電性連接。
當主動元件陣列基板100製作完成後，通常會開始進行電性檢測程序，檢測方法將依圖1的主動元件陣列基板100舉例說明。請參照圖1以及圖2，可將測試訊號分別輸入各測試接墊160c，並且由訊號接墊112檢測是否有訊號輸出，但測試訊號的傳輸方法並不限定於此。也可以是將測試訊號分別輸入各訊號接墊112，並且由各測試接墊160c檢測是否有訊號輸出。為方便描述，以下以將測試訊號由輸入各測試接墊160c，並且由訊號接墊112接收訊號之方式舉例說明。
舉例來說，圖3是根據本發明實施例的顯示面板中，資料線與共用電極發生短路的上視示意圖。圖4是圖3沿著剖面線II-II’的剖面示意圖。請同時參照圖3及圖4，資料線130a與共用電極層150之間發生短路，其短路位置如圖3中所示剖面線II-II’的位置。此時，資料線130a與共用電極層150之間發生短路，亦
即夾於資料線130a與共用電極層150之間的第一絕緣層180與第二絕緣層190已被破壞，使得資料線130a與共用電極層150電性相連。而且，配置於在資料線130a與共用電極層150之間的測試線160的手指部160b亦與資料線130a以及共用電極層150電性相連。
對測試接墊160c依序輸入測試訊號，並且同時於訊號接墊112接收檢測訊號。舉例而言，當對第一條測試線160(對應至掃描線120a)輸入測試訊號時，可由資料線130a接收到測試結果訊號，此時測試結果訊號為不致能(例如沒有從對應的第一訊號接墊112a接收到電流訊號)，因此可以得知與掃描線120a連接的該些畫素單元140所對應的資料線130a至130d的部分，並無短路情況發生。
當對第三條測試線160(對應至掃描線120c)輸入測試訊號時，可由資料線130a接收到測試結果訊號，此時測試結訊訊號為致能(例如從對應的第一訊號接墊112a接收到電流訊號)，因此可以判斷出第三條測試線160的手指部160b與資料線130a以及共用電極層150電性相連，因此可以得知短路發生位置的測試線160的座標，並進而得知其所對應的掃描線120c的座標。換言之，可以得知與掃描線120c連接的該些畫素單元140所對應的資料線130a至130d的部分有短路情況發生。
接著，例如可以再透過單元短路桿(Cell shorting bar,CST)的設計進行目視檢查，即可得知發現短路的資料線130a的
座標，因此可藉上述檢測方法精確的判別出發生短路的掃描線120c與資料線130a的座標。
綜上所述，在本發明顯示面板中的主動元件陣列基板上對應每一條掃描線的畫素單元中，在資料線與共用電極層的結構位置間重疊設置一測試線的手指部，並且利用測試線的連接部沿平行掃描線的方向相互串接，各測試線於非顯示區域中分別電性連接一測試接墊，而各資料線亦於非顯示區域中串接於訊號接墊。由此可知，當完成主動元件陣列製作完成後欲進行電性檢測，可於各測試接墊分別輸入一測試訊號，並且於訊號接墊檢測是否接收到訊號。據此，當主動元件陣列基板中的資料線與共用電極發生短路的情況下，可精確的判別出發生短路的掃描線座標，藉此可方便進行修補並提高製程的良率。
D1‧‧‧第一方向
D2‧‧‧第二方向
U‧‧‧畫素區域
10‧‧‧顯示面板
100‧‧‧主動元件陣列基板
102‧‧‧顯示區
104‧‧‧周邊線路區
104a‧‧‧驅動元件設置區
104b‧‧‧測試元件設置區
112‧‧‧訊號接墊
112a‧‧‧第一訊號接墊
112b‧‧‧第二訊號接墊
120a、120b、120c、120d‧‧‧掃描線
130a、130b、130c、130d‧‧‧資料線
140‧‧‧畫素單元
140a‧‧‧主動元件
140b‧‧‧畫素電極
150‧‧‧共用電極層
160‧‧‧測試線
160a‧‧‧連接部
160b‧‧‧手指部
160c‧‧‧測試接墊
200‧‧‧對向基板
Claims (10)
- 一種顯示面板，具有顯示區以及周邊線路區，該顯示面板包括：主動元件陣列基板，包括：多條掃描線以及多條資料線，交錯設置以於該顯示區中定義出多個畫素區域；多個畫素單元，分別設置於該些畫素區域中，各該畫素單元與對應的該掃描線以及該資料線電性連接；共用電極層，至少覆蓋該些資料線；以及多條測試線，設置於該顯示區中，各該測試線至少與該些資料線重疊，且位於該共用電極層與該些資料線之間；對向基板，與該主動元件陣列基板對向設置；以及顯示介質層，設置於該主動元件陣列基板與該對向基板之間。
- 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，其中各該測試線包括連接部以及連接至該連接部的多個手指部，各該手指部與該些資料線的其中一條重疊。
- 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板，其中該連接部的延伸方向與該掃描線的延伸方向平行。
- 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板，其中各該手指部的長度實質上為一個畫素單元的長度。
- 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，其中該些測試線為電性浮置。
- 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，其中該些測試線與該共用電極層之間夾有第一絕緣層，且該些測試線與該些資料線之間夾有第二絕緣層。
- 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，其中該周邊線路區包括位於該顯示區之不同側的驅動元件設置區以及測試元件設置區，且該顯示面板更包括多個測試接墊，設置於該測試元件設置區，各該測試線從該顯示區延伸至該測試元件設置區以電性連接至其中一個測試接墊。
- 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，更包括多個訊號接墊，設置於該周邊線路區中，其中該些資料線分別電性連接至其中一個訊號接墊。
- 一種顯示面板的測試方法，包括：提供顯示面板，具有顯示區以及周邊線路區，該顯示面板包括：主動元件陣列基板，包括：多條掃描線以及多條資料線，交錯設置以於該顯示區中定義出多個畫素區域；多個畫素單元，分別設置於該些畫素區域中，各該畫素單元與對應的該掃描線以及該資料線電性連接；共用電極層，至少覆蓋該些資料線；以及多條測試線，設置於該顯示區中，各該測試線至少與該些資料線重疊，且位於該共用電極層與該些資料線 之間；對向基板，與該主動元件陣列基板對向設置；以及顯示介質層，設置於該主動元件陣列基板與該對向基板之間；輸入測試訊號至該些測試線的其中之一；從對應於該其中之一條測試線的該資料線接收測試結果訊號，其中，當該測試結果訊號為致能時，判斷對應於該其中之一條測試線的該資料線與該共用電極層以及位於兩者之間的該測試線電性連接，進而得知對應於該其中之一條測試線的該資料線與該共用電極層發生短路的位置。
- 如申請專利範圍第9項所述的顯示面板的測試方法，其中各該測試線包括連接部以及連接至該連接部的多個手指部，各該手指部與該些資料線的其中之一重疊，且該連接部的延伸方向與該掃描線的延伸方向平行，所述的顯示面板的測試方法更包括：輸入該測試訊號至該其中之一條測試線的該連接部；從對應於該其中之一條測試線的該資料線接收該測試結果訊號，其中，當該測試結果訊號為致能時，判斷對應於該其中之一條測試線的該資料線與該共用電極層以及位於兩者之間的該測試線的該資料線連接，進而得知對應於該其中之一條測試線的該資料線與該共用電極層發生短路的位置。
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