CN103033956B - 阵列测试装置 - Google Patents

Abstract

本文公开一种阵列测试装置，其构造为使得其长度减小。

Description

阵列测试装置

技术领域

本发明涉及一种用于测试玻璃面板的阵列测试装置。

背景技术

一般来说，FPD(平板显示器)是比具有布劳恩管(Braun Tube)的电视机或显示器更轻更薄的图像显示设备。LCD(液晶显示器)、PDP(等离子体显示面板)、FED(场致发射显示器)以及OLED(有机发光二极管)是已开发并使用的FPD的代表性实例。

这些FPD中的LCD是以向排列为矩阵形状的液晶单元独立地提供基于图像信息的数据信号、并且因此控制液晶单元的透光性的方式来显示期望图像的图像显示设备。LCD薄且轻，而且还具有包括功耗低和操作电压低在内的许多其它优点，因此被广泛地使用。下面将详细描述用在这种LCD中的液晶面板的典型制造方法。

首先，在上玻璃面板上形成彩色滤光片和共用电极。之后，在对应于上玻璃面板的下玻璃面板上形成薄膜晶体管(TFT)和像素电极。其后，将配向膜分别施加至上玻璃面板和下玻璃面板。之后，摩擦配向膜，以便为后来将要形成在这些配向膜之间的液晶层中的液晶分子提供预倾角和配向方向。

此后，通过将密封胶涂布至玻璃面板中的至少一个来形成密封胶图案，以保持玻璃面板之间的空间、防止液晶漏出、并且密封玻璃面板之间的空间。其后，在这些玻璃面板之间形成液晶层，从而完成液晶面板。

在上述过程中，测试具有TFT和像素电极的下玻璃面板(下文中称为“玻璃面板”)是否有缺陷的操作，是通过例如检测栅极线或数据线是否断开连接或检测像素单元是否显色不佳来实现的。典型地，使用阵列测试装置测试玻璃面板。

如图1所示，常规阵列测试装置包括底座框架10、将玻璃面板P加载到所述装置上的加载单元30、测试由加载单元30所加载的玻璃面板P的测试单元20、以及将已由测试单元20测试过的玻璃面板P从所述装置卸载的卸载单元40。

测试单元20测试玻璃面板P的电缺陷。测试单元20包括透光支撑板21、测试模块22和探针组件23。由加载单元30加载的玻璃面板P放置在透光支撑板21上。测试模块22测试置于透光支撑板21上的玻璃面板P的电缺陷。探针组件23向置于透光支撑板21上的玻璃面板P的电极施加电信号。

测试模块22包括邻近置于透光支撑板21上的玻璃面板P放置的调制器221、以及拍摄调制器221的图像的摄像单元222。

每个探针组件23包括探针头支撑框架231、探针头233、运动导引件234、Y轴驱动单元235以及X轴驱动单元236。探针头支撑框架231沿X轴方向延伸预定长度。探针头233设置在探针头支撑框架231上，以便能够沿探针头支撑框架231的纵向(X轴)方向移动。探针头233具有多个探针引脚(未示出)。运动导引件234设置在底座框架10上，并且沿水平地垂直于探针头支撑框架231的纵向(X轴)方向的(Y轴)方向延伸。Y轴驱动单元235安装在运动导引件234上，并且连接至探针头支撑框架231，以沿Y轴方向移动探针头支撑框架231。X轴驱动单元236设置在探针头支撑框架231与探针头233之间。X轴驱动单元236在X轴方向上沿探针头支撑框架231移动探针头233。

加载单元30的作用是支撑待测玻璃面板P并将玻璃面板P输送至测试单元20。卸载单元40支撑已测试过的玻璃面板P，并将玻璃面板P从测试单元20输送出阵列测试装置。加载单元30和卸载单元40中的每个包括玻璃面板输送单元60和多个支撑板50，上述多个支撑板50设置在以预定间距彼此间隔的位置处并支撑其上的玻璃面板P，上述玻璃面板输送单元60输送玻璃面板P。

另外，如图1和图2所示，透光支撑板21下方设置有多个背光单元70和背光单元移动装置80。每个背光单元70作用为光源。背光单元移动装置80将背光单元70移出透光支撑板21下方的空间，以便可以对背光单元70进行维护和修理。

背光单元移动装置80包括背光单元运动导引件81、背光单元移动构件82和连接构件83。背光单元运动导引件81安装在板支撑件71下方的底座框架10上，透光支撑板21支撑在板支撑件71上。背光单元运动导引件81沿X轴方向延伸。背光单元移动构件82安装在背光单元运动导引件81上，以便能够沿X轴方向移动。每个连接构件83将对应的背光单元70连接至相关的背光单元移动构件82。

背光单元运动导引件81在由透光支撑板21限定的区域上沿X轴方向延伸至预定长度。每个连接构件83具有在背光单元70与背光单元移动构件82之间沿竖直(Z轴)方向延伸预定长度的预定形状。如图2所示，当测试玻璃面板P时，背光单元70设置在透光支撑板21下方。如图3所示，在对玻璃面板P的测试结束之后，如果有必要维护或修理背光单元70，则通过沿背光单元运动导引件81移动对应的背光单元移动构件82而关于X轴方向沿相应的反方向移动背光单元70(向图3的左侧和右侧)。由此，背光单元70暴露在透光支撑板21外。

另外，为了将玻璃面板P加载到加载单元30的支撑板50上、或为了从卸载单元40的支撑板50卸载玻璃面板P，支撑在支撑板50上的玻璃面板P上方一定不能存在可阻碍玻璃面板P的竖直运动的障碍物。因此，当测试玻璃面板P时，每个探针头支撑框架231可以在支撑板50上方沿Y轴方向移动，但是当要将玻璃面板P加载到支撑板50上或从支撑板50卸载时，探针头支撑框架231要停在尽可能靠近透光支撑板21的位置处，从而防止探针头支撑框架231妨碍玻璃面板P的竖直(Z轴)移动。由此，可以在由支撑板50限定的相应区域中确保允许加载和卸载玻璃面板P的区域A。

但是，在常规阵列测试装置中，由于导引背光单元移动构件82运动的背光单元运动导引件81的缘故，其中背光单元70通过背光单元移动构件82的运动而暴露在透光支撑板21外，导引探针头支撑框架231的Y轴运动的运动导引件234不能延伸至透光支撑板21的两端。因此，如图4所示，没有其他选择，只能将探针头支撑框架231移动至尽可能靠近透光支撑板21的位置。因此，当将玻璃面板P加载到支撑板50上或从支撑板50卸载时，每个探针头支撑框架231的至少一部分以预定的Y轴宽度wf位于对应的支撑板50上方。因为在加载或卸载玻璃面板P时支撑板50的Y轴长度W1p是上述允许加载或卸载玻璃面板P的区域A的Y轴长度Wa与上述探针头支撑框架231的Y轴宽度Wf的总和，所以支撑板50的长度W1p可以减小多少是有限制的。

发明内容

因此，针对以上在现有技术中所产生的问题提出本发明，并且本发明的目的是提供一种长度减小的阵列测试装置。

为了实现以上目的，本发明提供一种阵列测试装置，包括：透光支撑板，其允许玻璃面板放置在其上，背光单元设置在透光支撑板下方；探针头支撑框架，其延伸预定长度，探针头支撑框架支撑设置有多个探针引脚的探针头；以及运动导引件，其沿水平地垂直于探针头支撑框架延伸方向的方向延伸，运动导引件导引探针头支撑框架的运动，其中，运动导引件延伸至透光支撑板的相对两端。

与常规阵列测试装置相比，根据本发明的阵列测试装置的优点是可以减小其总体尺寸。

此外，在根据本发明的阵列测试装置中，如果使用与常规阵列测试装置相同的底座框架，则能形成可进一步增加支撑板长度的空间。因此，本发明的阵列测试装置可用于测试比常规技术中所使用的玻璃面板大的玻璃面板。

附图说明

由以下结合附图的详细描述，可以更加清晰地理解本发明前述的和其它的目的、特点和优点，其中：

图1是示出常规阵列测试装置的立体图；

图2和图3是示出图1的阵列测试装置的透光支撑板、背光单元和背光单元移动装置的侧视图；

图4是示出常规阵列测试装置的平面图；

图5是示出根据本发明一实施例的阵列测试装置的立体图；

图6是示出图5的阵列测试装置的背光单元和背光单元移动装置的立体图；

图7和图8是示出图5的阵列测试装置的背光单元和背光单元移动装置的平面图；

图9和图10是示出图5的阵列测试装置的背光单元和背光单元移动装置的侧视图；

图11是示出根据本发明的阵列测试装置的平面图；以及

图12是比较本发明的阵列测试装置的长度与常规阵列测试装置的长度的图。

具体实施方式

下文将参照附图详细说明根据本发明的阵列测试装置的一优选实施例。

如图5所示，根据本发明的阵列测试装置包括底座框架10、将玻璃面板P加载到装置上的加载单元30、测试由加载单元30所加载的玻璃面板P的测试单元20、以及将已由测试单元20测试过的玻璃面板P从装置卸载的卸载单元40。

测试单元20测试玻璃面板P的电缺陷。测试单元20包括透光支撑板21、测试模块22、探针组件23以及控制单元(未示出)。由加载单元30加载的玻璃面板P放置在透光支撑板21上。测试模块22测试置于透光支撑板21上的玻璃面板P的电缺陷。探针组件23向置于透光支撑板21上的玻璃面板P的电极施加电信号。控制单元(未示出)控制测试模块22和探针组件23。

测试模块支撑框架223设置在透光支撑板21上方，并且沿X轴方向延伸预定长度。测试模块22设置在测试模块支撑框架223上，以便能够沿X轴方向移动。测试模块22可以包括多个测试模块22，所述多个测试模块22沿测试模块支撑框架223延伸的方向(X轴方向)设置在测试模块支撑框架223上。测试模块22设置在置于透光支撑板21上的玻璃面板P的上方，并且测试玻璃面板P的电缺陷。每个测试模块22包括邻近置于透光支撑板21上的玻璃面板P设置的调制器221、以及拍摄调制器221的图像的摄像单元222。

测试模块22的调制器221具有电光材料层，所述电光材料层根据玻璃面板P与调制器221之间所产生的电场强度改变光量。电光材料层由如下材料制成，所述材料具有根据当电施加到玻璃面板P和调制器221时所产生的电场而变化的特定物理特性，从而使进入电光材料层的光量可变化。例如，电光材料层可以由PDLC(聚合物分散液晶)制成，所述PDLC根据电场强度沿预定方向定向，并且因此将入射光偏振到相应角度。

每个探针组件23包括探针头支撑框架231、探针头233、运动导引件234、Y轴驱动单元235以及X轴驱动单元236。探针头支撑框架231沿透光支撑板21的纵向(X轴)方向在透光支撑板21上方延伸。探针头233设置在探针头支撑框架231上，以便能够沿探针头支撑框架231的纵向(X轴)方向移动。探针头233具有多个探针引脚(未示出)。运动导引件234设置在底座框架10上，并且沿水平地垂直于探针头支撑框架231的纵向(X轴)方向的方向(Y轴方向)延伸。Y轴驱动单元235安装在运动导引件234上，并且连接至探针头支撑框架231，以沿Y轴方向移动探针头支撑框架231。X轴驱动单元236设置在探针头支撑框架231与探针头233之间。X轴驱动单元236沿探针头支撑框架231在X轴方向上移动探针头233。可以使用诸如线性马达、滚珠丝杠等各种线性驱动装置作为Y轴驱动单元235和/或X轴驱动单元236。

加载单元30支撑待测玻璃面板P并将玻璃面板P输送至透光支撑板21。卸载单元40支撑已测试过的玻璃面板P，并将玻璃面板P从透光支撑板21输送出阵列测试装置。加载单元30和卸载单元40中的每个包括玻璃面板输送单元60和多个支撑板50，上述多个支撑板50设置在以预定间距彼此间隔的位置处并支撑其上的玻璃面板P，上述玻璃面板输送单元60输送玻璃面板P。每个支撑板50可以具有吹气孔51，吹气孔51吹气以使玻璃面板P悬浮。吹气孔51连接至为其供气的供气装置(未示出)。

同时，运动导引件234置于支撑板50的相对侧，并且横越透光支撑板21的两端附近延伸。当测试玻璃面板P时，探针头支撑框架231可以设置在支撑板50上方。当将玻璃面板P加载到支撑板50上或从支撑板50卸载时，探针头支撑框架231可以设置在透光支撑板21上方，以防止探针头支撑框架231妨碍玻璃面板P的竖直(Z轴)运动。此外，置于加载单元30的支撑板50的相对侧的运动导引件234可以与置于卸载单元40的支撑板50的相对侧的运动导引件234结合成一体。因此，每个运动导引件234的Y轴长度可以大于每个支撑板50的Y轴长度。

如图6至图10所示，背光单元70和背光单元移动装置80设置在透光支撑板21下方。每个背光单元70作用为光源。背光单元移动装置80将背光单元70移出透光支撑板21下方的空间，以便可以对背光单元70进行维护和修理。

背光单元移动装置80包括背光单元运动导引件81、背光单元移动构件82和连接构件83。背光单元运动导引件81安装在板支撑件71下方的底座框架10上，透光支撑板21支撑在板支撑件71上。背光单元运动导引件81沿背光单元71移动的X轴方向延伸。背光单元移动构件82安装在背光单元运动导引件81上，以便能够沿X轴方向移动。连接构件83将背光单元70连接至相关的背光单元移动构件82。背光单元移动装置80可以包括线性马达，其中，永磁体设置在背光单元运动导引件81上，电线圈设置在背光单元移动构件82上。但是，本发明不限于这种结构，而是可以将例如安装在背光单元运动导引件81与背光单元移动构件82之间的滚珠丝杠装置、包括使用液压或气压的缸的致动器等等各种线性移动装置用作背光单元移动装置80，只要可以沿背光单元运动导引件81线性地移动背光单元移动构件82即可。

背光单元运动导引件81设置在由透光支撑板21限定的区域中。背光单元运动导引件81包括第一运动导引件811和第二运动导引件812，第二运动导引件812与第一运动导引件811关于Y轴方向间隔开预定距离。第一运动导引件811和第二运动导引件812沿X轴方向彼此平行地延伸，以防止它们互相干涉。

背光单元移动构件82包括设置在第一运动导引件811上的第一移动构件821、以及设置在第二运动导引件812上的第二移动构件822。第一移动构件821可以独立于第二移动构件822而在X轴方向上沿第一运动导引件811移动。第二移动构件822也可以独立于第一移动构件821而在X轴方向上沿第二运动导引件812移动。如图8和图10所示，当将背光单元70从透光支撑板21下方移到透光支撑板21的相对侧之外时，第一移动构件821和第二移动构件822沿相反方向远离彼此移动。

连接构件83包括将对应的背光单元70连接至第一移动构件821的第一连接构件831、以及将对应的背光单元70连接至第二移动构件822的第二连接构件832。例如，在背光单元70包括两个背光单元70的情况下，这两个背光单元70中的一个通过第一连接构件831连接至第一移动构件821。另一个背光单元70通过第二连接构件832连接至第二移动构件822。第一连接构件831构造为使得当它通过第一移动构件821的运动而移动时防止被第二连接构件832干扰。第二连接构件832构造为使得当它通过第二移动构件822的运动而移动时防止被第一连接构件831干扰。

第一连接构件831包括第一竖直延伸部分833和第一水平延伸部分834，第一竖直延伸部分833从第一移动构件821竖直延伸，第一水平延伸部分834支撑对应的背光单元70并且沿背光单元70移动的(X轴)方向从第一竖直延伸部分833水平延伸。第二连接构件832包括第二竖直延伸部分835和第二水平延伸部分836，第二竖直延伸部分835从第二移动构件822竖直延伸，第二水平延伸部分836支撑对应的背光单元70并且沿背光单元70移动的(X轴)方向从第二竖直延伸部分835水平延伸。第一水平延伸部分834沿着当连接至第一连接构件831的背光单元70从透光支撑板21下方向外移动时第一移动构件821移动所沿的方向延伸。此外，第二水平延伸部分836沿着当连接至第二连接构件832的背光单元70从透光支撑板21下方向外移动时第二移动构件822移动所沿的方向延伸。第一水平延伸部分834从第一竖直延伸部分833延伸的方向与第二水平延伸部分836从第二竖直延伸部分835延伸的方向相反。

如图6、图7和图9所示，当两个背光单元70放置在透光支撑板21下方时，第一移动构件821和第二移动构件822关于Y轴方向彼此重叠。

如图8和图10所示，为了将背光单元70暴露到外面，要将背光单元70移出透光支撑板21下方的空间。当第一移动构件821沿第一运动导引件811完全移到透光支撑板21之外时，在第一连接构件831的第一水平延伸部分834与底座框架10之间限定出具有预定容积的空间B1。另外，当第二移动构件822沿第二运动导引件812完全移到透光支撑板21之外时，在第二连接构件832的第二水平延伸部分836与底座框架10之间限定出具有预定容积的空间B2。

可以将导引探针头支撑框架231的运动导引件234分别设置在第一水平延伸部分834与底座框架10之间所限定出的空间B1、以及第二水平延伸部分836与底座框架10之间所限定出的空间B2中。

另外，虽然本发明的实施例示为具有两个设置在透光支撑板21下的背光单元70，但是本发明不限于这种结构。例如，本发明可以构造为使单个背光单元70设置在透光支撑板21下。此外，在本发明的阵列测试装置中，可以设置两个或更多个背光单元70。在此情况下，在这些背光单元70中，一组背光单元70分别通过多个第一连接构件831连接至沿第一运动导引件811移动的多个第一移动构件821。另一组背光单元70分别通过多个第二连接构件832连接至沿第二运动导引件812移动的多个第二移动构件822。

以下将说明具有上述结构的本发明的阵列测试装置的操作。

首先，将待测玻璃面板P加载到支撑板50上，同时经吹气孔51从支撑板50向上排气。由此，放置在支撑板50上的玻璃面板P在支撑板50上方略微悬浮。在此状态下，通过玻璃面板输送单元60的操作将玻璃面板P输送到测试单元20或从测试单元20输送玻璃面板P。

当玻璃面板P输送到透光支撑板21上时，中断从支撑板50的吹气孔51排气的操作。因此，玻璃面板P与透光支撑板21的上表面接触。其后，探针头233向下移动，使探针引脚下压玻璃面板P的相应电极，以将电信号施加到玻璃面板P的电极。此后，测试模块22的调制器221邻近玻璃面板P的上表面定位。其后，调制器221通电。

然后，玻璃面板P与每个调制器221之间产生电场。电光材料层的电光材料的性质随电场变化。由此，从背光单元70发出之后透过透光支撑板21的光量在光经过调制器221时变化。因此，通过利用由相应摄像单元222拍摄的调制器221的图像来测量光量，可确定玻璃面板P与调制器221之间产生的电场的强度。如果玻璃面板P没有缺陷，那么玻璃面板P与调制器221之间产生的电场的强度在预设范围内，换句话说，是正常的。然而，如果玻璃面板P是有缺陷的，则玻璃面板P与调制器221之间不形成电场，或者电场强度小于正常情况下的电场强度。这样，可通过测量玻璃面板P与调制器221之间产生的电场的强度，来确定玻璃面板P是否有缺陷。

另外，为了将玻璃面板P加载到加载单元30的支撑板50上、或从卸载单元40的支撑板50卸载玻璃面板P，支撑在支撑板50上的玻璃面板P上方一定不能存在可阻碍玻璃面板P的竖直运动的障碍物。

因此，如图11所示，当将玻璃面板P加载到支撑板50上或从支撑板50卸载时，探针头支撑框架231在被运动导引件234引导之后停在透光支撑板21上方的位置处，其中运动导引件234在透光支撑板21的相对两侧上延伸，因此防止探针头支撑框架231妨碍玻璃面板P的竖直(Z轴)运动。由此，在由支撑板50限定的相应区域中可以确保允许加载和卸载玻璃面板P的区域A。

如上所述，在根据本发明的阵列测试装置中，运动导引件234延伸至透光支撑板21的两个X轴端部。因此，如图11所示，当将玻璃面板P加载到支撑板50上或从支撑板50卸载时，探针头支撑框架231可以设置在透光支撑板21的正上方。因此，支撑板50的长度W2p可以设定为几乎等于每个允许加载或卸载玻璃面板P的区域A的长度Wa。与常规阵列测试装置不同，支撑板50的长度W2p可以设定为除去探针头支撑框架231的Y轴宽度Wf。

因此，如图12所示，假定允许加载或卸载玻璃面板P的区域A的长度Wa在本发明阵列测试装置与常规阵列测试装置之间是相同的，那么常规阵列测试装置的支撑板50的长度W1p是所述允许加载或卸载玻璃面板P的区域A的长度Wa和所述探针头支撑框架231的宽度Wf的总和，但是本发明阵列测试装置的支撑板50的长度W2p仅包括所述允许加载或卸载玻璃面板P的区域A的长度Wa。因此，本发明的支撑板50的长度W2p可以设定为小于常规支撑板50的长度W1p。

结果，本发明阵列测试装置的Y轴长度W2可以小于常规阵列测试装置的Y轴长度W1。因此，与常规阵列测试装置的总体尺寸相比，本发明阵列测试装置的总体尺寸可以减小。

此外，如果将与常规阵列测试装置相同的底座框架10用在根据本发明的阵列测试装置中，可以形成可将支撑板50的Y轴长度增加(W1p-W2p)的空间。因此，能由本发明阵列测试装置测试的玻璃面板P的尺寸可以大于常规技术的玻璃面板P的尺寸。

另外，在完成对玻璃面板P的测试之后，如果有必要维护或修理背光单元70，则将背光单元70从透光支撑板21下方的空间移出。在此，可以通过沿第一运动导引件811移动第一移动构件821并且沿第二运动导引件812移动第二移动构件822而使背光单元70从透光支撑板21下方暴露到外面。

在本发明中，当背光单元70暴露到外面时，第一连接构件831的第一水平延伸部分834与底座框架10之间限定出具有预定容积的空间B1，而第二连接构件832的第二水平延伸部分836与底座框架10之间限定出具有预定容积的空间B2。可以将运动导引件234分别设置在空间B1和B2中。

如上所述，与常规阵列测试装置不同，在根据本发明阵列测试装置中，背光单元移动装置80可以构造为使得背光单元运动导引件81不延伸到透光支撑板21的两端之外。因此，在本发明的阵列测试装置中，可以将运动导引件234置于在常规阵列测试装置中设置背光单元运动导引件81的区域中。因此，本发明的阵列测试装置不需要增加底座框架10的X轴宽度以允许将运动导引件234延伸至透光支撑板21的两端。

这样，根据本发明的阵列测试装置的优点是可以在不改变X轴宽度的情况下减小Y轴长度。

本发明实施例中所述的技术主质可以独立地实施，也可以结合起来实施。

Claims (5)

1.一种阵列测试装置，包括：

透光支撑板，所述透光支撑板允许玻璃面板放置在其上，背光单元设置在所述透光支撑板下方；

探针头支撑框架，所述探针头支撑框架沿与玻璃面板的输送方向垂直的方向延伸，且所述探针头支撑框架支撑设置有多个探针引脚的探针头；以及

运动导引件，所述运动导引件沿水平地垂直于所述探针头支撑框架延伸方向的方向延伸，所述运动导引件导引所述探针头支撑框架的运动，

其中，所述运动导引件延伸至所述透光支撑板的相对两端。

2.根据权利要求1所述的阵列测试装置，还包括：

加载单元，所述加载单元包括支撑板，所述支撑板支撑其上的玻璃面板，所述加载单元将玻璃面板加载到所述透光支撑板上，

其中，当将玻璃面板输送到所述加载单元的支撑板上时，所述探针头支撑框架设置在所述透光支撑板上方。

3.根据权利要求1所述的阵列测试装置，还包括：

卸载单元，所述卸载单元包括支撑板，所述支撑板支撑其上的玻璃面板，所述卸载单元从所述透光支撑板卸载玻璃面板，

其中，当将玻璃面板输送出所述卸载单元的支撑板时，所述探针头支撑框架设置在所述透光支撑板上方。

4.根据权利要求1所述的阵列测试装置，还包括：

背光单元移动装置，所述背光单元移动装置设置在所述透光支撑板下方，所述背光单元移动装置从所述透光支撑板下方将所述背光单元移出所述透光支撑板的相对两端，

所述背光单元移动装置包括：

背光单元运动导引件，所述背光单元运动导引件沿所述背光单元移动的方向延伸；

背光单元移动构件，所述背光单元移动构件以可移动的方式设置在所述背光单元运动导引件上；以及

连接构件，所述连接构件将所述背光单元连接到所述背光单元移动构件，所述连接构件包括从所述背光单元移动构件竖直延伸的竖直延伸部分、以及沿所述背光单元移动的方向从所述竖直延伸部分水平延伸的水平延伸部分。

5.根据权利要求4所述的阵列测试装置，其中，所述背光单元运动导引件设置在由所述透光支撑板限定的区域中。