TW201314228A - 陣列測試裝置 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種陣列測試裝置包含一透光支撐板、一探針頭支撐框架以及一移動導軌。透光支撐板用以承載一玻璃面板，並且一背光單元設置於透光支撐板之下。探針頭支撐框架係延伸一預設長度，並支撐具有複數探針之一探針頭。移動導軌係沿與探針頭支撐框架之一延伸方向水平垂直之一方向延伸，並導引探針頭支撐框架之移動。其中，移動導軌係延伸至透光支撐板之相對兩端。

Description

陣列測試裝置

本發明係關於一種用以測試一玻璃面板之陣列測試裝置。

就大眾所知，平面顯示器係一種輕薄型的影像顯示器，它比傳統使用陰極射線管的顯示器更輕、更薄。平面顯示器的種類繁多，目前已經被發展並使用的例如為液晶顯示器、電漿顯示器、場發射顯示器、有機發光二極體顯示器等。

其中，液晶顯示器具有複數液晶單元陣列設置，並依據影像資料提供資料訊號至各液晶單元以調整各液晶單元之光線穿透率進而顯示畫面。由於其薄型化、輕量化、低耗電以及低操作電壓等優點，液晶顯示器已被廣泛的使用。以下簡述一種習知液晶顯示面板的製造方法。

首先，於一上基板形成一彩色濾光層及一共同電極層，並於一下基板形成複數薄膜電晶體及畫素電極。上基板與下基板係相對設置。然後，於上基板與下基板各形成一配向層。之後，在配向膜上磨擦以提供一預傾角及一配向方向來配向液晶層之液晶分子。其中，液晶層將會形成於兩基板之間。

此外，依據一預定圖案在兩基板之至少一基板上塗膠，以形成框膠，藉以在兩基板之間形成一間隙，並避免液晶洩漏到基板外。然後兩基板在維持一間隙的情況下封合。之後，在兩基板之間形成液晶層，如此就製成液晶面板。

在製造方法的過程中，需要有一檢測程序來檢驗下基板(以下皆稱為玻璃面板，其上設置有薄膜電晶體及畫素電極)是否有缺陷存在，例如設置於基板之資料線或掃描線的電性連接是否良好、或是畫素單元之色彩的精確度。通常，一種陣列測試裝置係用以檢測玻璃面板。

如圖1所示，一種習知陣列測試裝置包含一基座10、一載入單元30、一測試單元20以及一卸載單元40。戴入單元30係戴入一玻璃面板P至裝置上。測試單元20係測試已載入之玻璃面板P。卸載單元40係從裝置上卸載已測試之玻璃面板P。

測試單元20係測試玻璃面板P之電性缺陷，並包含一透光支撐板21、一測試模組22以及複數探針組件23。由載入單元30載入之玻璃面板P係位於透光支撐板21上。測試模組22係測試位於透光支撐板21上之玻璃面板P的電性缺陷。然後，探針組件23係施加電性訊號給位於透光支撐板21上之玻璃面板P之電極。

測試模組22包含一調製器單元221以及一攝像單元222。調製器單元221鄰設於透光支撐板21上之玻璃面板P。攝像單元222係擷取調製器單元221之一影像。

各探針組件23包含一探針頭支撐框架231、一探針頭233、一移動導軌234、一Y軸驅動單元235以及一X軸驅動單元236。探針頭支撐框架231係沿X軸方向延伸一預設長度。探針頭233係設置於探針頭支撐框架231並可沿探針頭支撐框架231之長軸方向(例如X軸方向)移動。探針頭233具有複數探針(圖未顯示)。移動導軌234設置於基座10上，並沿與探針頭支撐框架231之長軸方向(X軸)水平垂直之一方向(Y軸)延伸。Y軸驅動單元235設置於移動導軌234上並連接探針頭支撐框架231，以驅動探針頭支撐框架231沿Y軸方向移動。X軸驅動單元236設置於探針頭支撐框架231與探針頭233之間，並可驅動探針頭233在X軸方向上並沿著探針頭支撐框架231移動。

載入單元30可支撐待測試之玻璃面板P，並可將其傳送至測試單元20。卸載單元40係支撐已測試之玻璃面板P，並將其從測試單元20傳送離開陣列測試裝置。各載入單元30與卸載單元40包含複數支撐板50以及一玻璃面板傳輸單元60。支撐板50係以一預設間距而間隔設置並支撐玻璃面板P。玻璃面板傳輸單元60係傳輸玻璃面板P。

此外，如圖1及圖2所示，複數背光單元70以及一背光單元移動單元80係設置於透光支撐板21之下。各背光單元70係作為一光源。背光單元移動單元80可致動背光單元70離開透光支撐板21下的範圍，藉此可方便對背光單元70進行維護。

背光單元移動單元80包含一背光單元移動導軌81、複數背光單元移動構件82以及複數連接構件83。背光單元移動導軌81設置於基座10上並位於一板支撐件71之下。透光支撐板21係由板支撐件71所支撐。背光單元移動導軌81係沿X軸方向延伸。背光單元移動構件82設置於背光單元移動導軌81上並可沿X軸方向移動。各連接構件83係連接對應的背光單元70以及對應的背光單元移動構件82。

背光單元移動導軌81係沿X軸方向延伸一預設長度，且超過透光支撐板21所定義之區域。各連接構件83具有一預設形狀，並在背光單元70與背光單元移動構件82之間沿Z軸方向延伸一預設長度。如圖2所示，當玻璃面板P在測試時，背光單元70設置於透光支撐板21之下。如圖3所示，在玻璃面板P測試結束之後，若有需要維護背光單元70，藉由致動對應的背光單元移動構件82沿背光單元移動導軌81移動，背光單元70可依據X軸方向而背向移動(如圖3之左側與右側)。藉此，背光單元70係露出於透光支撐板21。

此外，為將玻璃面板P載入至載入單元30之支撐板50上或將玻璃面板P從載入單元30之支撐板50上卸載下來，需確保支撐於支撐板50上的玻璃面板P上沒有任何障礙物，以避免妨礙玻璃面板P的垂直移動。因此，當玻璃面板P在測試時，各探針頭支撐框架231可沿Y軸方向且於支撐板50上移動；但是，當玻璃面板P在載入或卸載的過程中，探針頭支撐框架231需停在儘可能接近透光支撐板21的位置，藉以避免探針頭支撐框架231妨礙玻璃面板P的垂直移動。因此，複數支撐板50所對應的區域就需要定義出一區域A以讓玻璃面板P載入或卸載。

然而，在習知的陣列測試裝置中，由於背光單元移動導軌81(其係導引背光單元移動構件82之移動，以使背光單元70露出於透光支撐板21)的關係，導引探針頭支撐框架231進行Y軸移動之移動導軌234無法延伸至透光支撐板21之相對兩端。因此，如圖4所示，探針頭支撐框架231只能儘可能的靠近透光支撐板21。結果，當玻璃面板P被載入支撐板50或從支撐板50卸載時，各探針頭支撐框架231的至少一部分係位於支撐板50上，並佔了一預設Y軸寬度Wf，使得支撐板50之Y軸長度W1p等於區域A之Y軸長度Wa加上探針頭支撐框架231之Y軸寬度Wf，如此一來，支撐板50的長度W1p就無法有效的縮小。

有鑒於上述課題，本發明之一目的在於提供一種能夠縮短長度之陣列測試裝置。

為達上述目的，本發明提供一種陣列測試裝置包含一透光支撐板、一探針頭支撐框架以及一移動導軌。透光支撐板用以承載一玻璃面板，並且一背光單元設置於透光支撐板之下。探針頭支撐框架係延伸一預設長度，並支撐具有複數探針之一探針頭。移動導軌係沿與探針頭支撐框架之一延伸方向水平垂直之一方向延伸，並導引探針頭支撐框架之移動。其中，移動導軌係延伸至透光支撐板之相對兩端。

相較於習知陣列測試裝置，依據本發明之一陣列測試裝置具有可縮小尺寸的優點。

此外，若習知陣列測試裝置之基座應用至本發明之陣列測試裝置中，則可創造多餘的空間，使得支撐板之長度能夠進一步增加。藉此，相較於習知技術，本發明之陣列測試裝置能夠測試尺寸更大的玻璃面板。

以下將參照相關圖式，說明依據本發明較佳實施例之一種陣列測試裝置，其中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。

如圖5所示，依本發明之一陣列測試裝置包含一基座10、一載入單元30、一測試單元20以及一卸載單元40。戴入單元30係戴入一玻璃面板P至裝置上。測試單元20係測試已載入之玻璃面板P。卸載單元40係從裝置上卸載已測試之玻璃面板P。

測試單元20係測試玻璃面板P之電性缺陷，並包含一透光支撐板21、一測試模組22、複數探針組件23以及一控制單元(圖未顯示)。由載入單元30載入之玻璃面板P係位於透光支撐板21上。測試模組22係測試位於透光支撐板21上之玻璃面板P的電性缺陷。然後，探針組件23係施加電性訊號給置放於透光支撐板21上之玻璃面板P之電極。控制單元係控制測試模組22以及探針組件23。

一測試模組支撐框架223係設置於透光支撐板21上並沿X軸方向延伸一預設長度。測試模組22係設置於測試模組支撐框架223並可沿X軸方向移動。在本實施例中，多個測試模組22係沿測試模組支撐框架223之延伸方向(如X軸方向)分佈設置。玻璃面板P設置於透光支撐板21上，而測試模組22設置於玻璃面板P上並測試玻璃面板P之電性缺陷。各測試模組22包含一調製器單元221以及一攝像單元222。調製器單元221鄰設於玻璃面板P。攝像單元222用以對調製器單元221進行攝像。

測試模組21之調製器單元221包含一電光材料層，其可依據玻璃面板P與調製器單元221之間所施加的電場強度而改變光量。電光材料層係由一具有特定物理特性之材料製成，該物理特性係依據玻璃面板P與調製器單元221之間的電場而變化，使得進入電光材料層之光線的量能隨之變化。舉例而言，電光材料層可由高分子分散液晶(polymer dispersed liquid crystal,PDLC)製成，其可依據電場強度而變化轉動方向，因而可使入射光偏振至一對應角度。

各探針組件23包含一探針頭支撐框架231、一探針頭233、複數移動導軌234、一Y軸驅動單元235以及一X軸驅動單元236。探針頭支撐框架231位於透光支撐板21上，並沿透光支撐板21之長軸方向(如X軸方向)延伸一預設長度。探針頭233係設置於探針頭支撐框架231並可沿探針頭支撐框架231之長軸方向(例如X軸方向)移動。探針頭233具有複數探針(圖未顯示)。移動導軌234設置於基座10上，並沿與探針頭支撐框架231之長軸方向(X軸)水平垂直之一方向(Y軸)延伸。Y軸驅動單元235設置於移動導軌234上並連接探針頭支撐框架231，以驅動探針頭支撐框架231沿Y軸方向移動。X軸驅動單元236可驅動探針頭233在X軸方向上並沿著探針頭支撐框架231移動。多種線性驅動單元，例如一線性馬達、一滾珠絲杠構件(ball screw)等等，可用以作為Y軸驅動單元235及/或X軸驅動單元236。

載入單元30係支撐待測試之玻璃面板P，並可將其傳送至透光支撐板21。卸載單元40係支撐已測試之玻璃面板P，並將其從透光支撐板21傳送離開陣列測試裝置。各載入單元30與卸載單元40包含複數支撐板50以及一玻璃面板傳輸單元60。支撐板50係以一預設間距而間隔設置並支撐玻璃面板P。玻璃面板傳輸單元60係傳輸玻璃面板P。複數吹氣孔51係連接一空氣供應單元(圖未顯示)並可提供氣體。

此外，該等移動導軌234係設置於支撐板50之相對兩側，並鄰近透光支撐板21之兩端而延伸。當玻璃面板P在測試時，探針頭支撐框架231可設置於支撐板50上。當玻璃面板P在載入至支撐板50或從支撐板50卸載的過程中，探針頭支撐框架231可設置於透光支撐板21上以避免探針頭支撐框架231妨礙玻璃面板P之垂直移動。亦即，當玻璃面板P在載入至支撐板50或從支撐板50卸載的過程中，探針頭支撐框架231可設置於由載入單元30與卸載單元40所定義之區域之外。另外，設置於載入單元30之支撐板50之相對兩側之移動導軌234可與設置於卸載單元40之支撐板50之相對兩側之移動導軌234整合。因此，各移動導軌234之Y軸長度大於各支撐板50之Y軸長度。

如圖6至圖10所示，複數背光單元70以及一背光單元移動單元80係設置於透光支撐板21之下。各背光單元70可作為一光源。背光單元移動單元80係驅動背光單元，使其離開透光支撐板21之下方的空間，藉以方便進行背光單元70之維護作業。

背光單元移動單元80包含一背光單元移動導軌81、複數背光單元移動構件82以及一連接構件83。背光單元移動導軌81設置於基座10上並位於一板支撐件71之下。透光支撐板21係由板支撐件71所支撐。背光單元移動導軌81係沿背光單元70之移動方向，即X軸方向延伸。背光單元移動構件82設置於背光單元移動導軌81上並可沿X軸方向移動。各連接構件83係連接對應的背光單元70以及對應的背光單元移動構件82。背光單元移動單元80可包含一線性馬達，在線性馬達中，一永久磁鐵設置於背光單元移動導軌81，而一線圈設置於背光單元移動構件82。然而，本發明不限制上述態樣，並且多種線性移動單元，例如滾珠絲杠構件可設置於背光單元移動導軌81與背光單元移動構件82之間，或者，一致動器包含一壓缸(cylinder)可作為背光單元移動單元80，壓缸可使用液壓或氣壓等等。凡是可線性驅動背光單元移動構件82沿背光單元移動導軌81之構件皆可應用於本發明。

背光單元移動導軌81設置於由透光支撐板21所定義的區域內。背光單元移動導軌81包含一第一移動導軌811以及一第二移動導軌812，第一移動導軌811與第二移動導軌812係依據Y軸方向之一預設間距而間隔設置。第一移動導軌811與第二移動導軌812係相互平行並沿X軸方向延伸以避免互相干涉。

背光單元移動構件82包含一第一移動構件821以及一第二移動構件822。第一移動構件821設置於第一移動導軌811上，第二移動構件822設置於第二移動導軌812上。第一移動構件821可單獨地沿第一移動導軌811而在X軸方向上移動。第二移動構件822亦可單獨地沿第二移動導軌812而在X軸方向上移動。如圖8及圖10所示，當背光單元70從透光支撐板21的下方移動至透光支撐板21之相對兩側之外時，第一移動構件821以及第二移動構件822係分別沿相對的方向移動。

連接構件83包含一第一連接構件831以及一第二連接構件832。第一連接構件831係連接對應的背光單元70與第一移動構件821，第二連接構件832係連接對應的背光單元70與第二移動構件822。舉例而言，在二個背光單元70之狀況下，其中之一背光單元70係藉由第一連接構件831而連接第一移動構件821，另一背光單元70係藉由第二連接構件832而連接第二移動構件822。當第一連接構件831藉由第一移動構件821致動而移動時，第一連接構件831係不會與第二連接構件832發生干涉。當第二連接構件832藉由第二移動構件822致動而移動時，第二連接構件832係不會與第一連接構件831發生干涉。

第一連接構件831包含一第一垂直延伸部833以及一第一水平延伸部834，第一垂直延伸部833係從第一移動構件821垂直延伸，第一水平延伸部834係支撐對應的背光單元70並從第一垂直延伸部833沿背光單元70之移動方向(如X軸方向)水平延伸。第二連接構件832包含一第二垂直延伸部835以及一第二水平延伸部836，第二垂直延伸部835係從第二移動構件822垂直延伸，第二水平延伸部836係支撐對應的背光單元70並從第二垂直延伸部835沿背光單元70之移動方向(如X軸方向)水平延伸。當與第一連接構件831連接之背光單元70從透光支撐板21之下方向外移動時，第一水平延伸部834係沿第一移動構件821之移動方向而延伸。此外，當與第二連接構件832連接之背光單元70從透光支撐板21之下方向外移動時，第二水平延伸部836係沿第二移動構件822之移動方向而延伸。第一水平延伸部834從第一垂直延伸部833之延伸方向係與第二水平延伸部836從第二垂直延伸部835之延伸方向相對。

如圖6、圖7及圖9所示，當兩背光單元70設置於透光支撐板21下方時，第一移動構件821與第二移動構件822係依據Y軸方向而相互重疊。

如圖8及圖10所示，為露出背光單元70於外側，背光單元70係移動至透光支撐板21下方空間之外。當第一移動構件821完全地沿第一移動導軌811移動至透光支撐板21之外時，具有一預設量之空間B1係存在於第一連接構件831之第一水平延伸部834與基座10之間。此外，當第二移動構件822完全地沿第二移動導軌812移動至透光支撐板21之外時，具有一預設量之空間B2係存在於第二連接構件832之第二水平延伸部836與基座10之間。

用以導引探針頭支撐框架231之該等移動導軌234可分別設置於存在於第一水平延伸部834與基座10之間的空間B1以及存在於第二水平延伸部836與基座10之間的空間B2。

此外，雖然上述實施例係以二背光單元70設置於透光支撐板21之下為例，但這非用以限制本發明。在其他實施例中亦可具有單個或三個以上的背光單元。舉例來說，在多個背光單元70的態樣中，其中一部分背光單元70可為一組，並分別藉由多個第一連接構件831而連接多個第一移動構件821，第一移動構件821係沿第一移動導軌811移動。另一部分背光單元70可為另一組，並分別藉由多個第二連接構件832而連接多個第二移動構件822，第二移動構件822係沿第二移動導軌812移動。

以下說明本實施例之陣列測試裝置之作動。

首先，待測試之玻璃面板P係載入至支撐板50上，同時，氣體係經由吹氣孔51而從支撐板50向上排出。藉此，置放於支撐板50上之玻璃面板P係稍微懸浮於支撐板50上。在此狀態中，玻璃面板P係藉由玻璃面板傳輸單元60之作動而傳輸至測試單元20或從測試單元20傳輸出去。

當玻璃面板P傳輸至透光支撐板21上時，從支撐板50之吹氣孔51排出氣體之作業係中止。藉此，玻璃面板P係接觸透光支撐板21之上表面。接著，探針頭233向下移動，使得探針按壓對應的玻璃面板P之電極以施加電性訊號給電極。之後，測試模組22之調製器單元221係接近玻璃面板P之上表面，然後再對調製器單元221施加電力。

然後，一電場係形於玻璃面板P與各調製器單元221之間。而電光材料層之電光材料的特性係依據電場強度而變化。藉此，背光單元70發出光線並經過透光支撐板21，而穿透調製器單元221之光線的量會產生變化。當對應的攝像單元222對調製器單元221攝取一影像時，可藉由分析影像之光量來決定玻璃面板P與調製器單元221之間的電場強度。假如玻璃面板沒有缺陷，形成於玻璃面板P與調製器單元221之間的電場強度係落在一預設範圍內，也就是正常的範圍內。然而，假如玻璃面板P具有缺陷，就沒有電場形成於玻璃面板P與調製器單元221之間、或是所形成的電場強度小於正常狀況的電場強度。如此，藉由量測玻璃面板P與調製器單元221之間形成的電場強度即可判斷玻璃面板P是否具有缺陷。

另外，為將玻璃面板P載入至載入單元30之支撐板50上或將玻璃面板P從載入單元30之支撐板50上卸載下來，需確保支撐於支撐板50上的玻璃面板P上沒有任何障礙物，以避免妨礙玻璃面板P垂直移動。

因此，如圖11所示，當玻璃面板P載入至支撐板50或從支撐板50卸載時，探針頭支撐框架231係藉由移動導軌234(其係在透光支撐板21之相對兩側延伸)之導引而停在透光支撐板21上，藉此可避免探針頭支撐框架231妨礙玻璃面板P之垂直(Z軸)移動。也就是，當玻璃面板P載入至支撐板50或從支撐板50卸載時，探針頭支撐框架231能夠設置於由載入單元30與卸載單元40所定義的區域之外。

藉此，用以載入或卸載玻璃面板P之區域A係可確保在支撐板50所定義的區域內。

如上所述，在本發明之陣列測試裝置中，移動導軌234係延伸至透光支撐板21之兩端(X軸方向)。因此，如圖11所示，當玻璃面板P載入至支撐板50上或從支撐板50卸載下來時，探針頭支撐框架231能夠設置在透光支撐板21的正上方。因此，支撐板50的長度W2p係幾乎等於用以載入或卸載玻璃面板P之區域A的長度Wa。反觀習知的陣列測試裝置，支撐板50的長度還涵蓋探針頭支撐框架231之Y軸寬度Wf。

據此，如圖12所示，假設本發明之陣列測試裝置與習知陣列測試裝置中，用以載入或卸載玻璃面板P之區域A的長度Wa皆相等，則習知陣列測試裝置之支撐板50的長度W1p係等於區域A之長度Wa加上探針頭支撐框架231之寬度Wf。但是本發明之陣列測試裝置之支撐板50之長度W2p僅包含區域A之長度Wa。因此，本發明之支撐板50之長度W2p係可小於習知支撐板50之長度W1p。

結果，本發明之陣列測試裝置之Y軸長度W2可小於習知陣列測試裝置之Y軸長度W1。因此，相較於習知陣列測試裝置，本發明之陣列測試裝置之整體尺寸可縮小。

此外，若習知陣列測試裝置之基座10應用至本發明之陣列測試裝置中，則可創造多餘的空間，使得支撐板50之Y軸長度能夠增加W1p-W2P的量。藉此，相較於習知技術，本發明之陣列測試裝置能夠測試尺寸更大的玻璃面板P。

另外，在玻璃面板P測試完畢之後，若有需要進行背光單元70之維護作業，則背光單元70可移動至透光支撐板21下方空間之外。於此，藉由第一移動構件821沿第一移動導軌811移動以及第二移動構件822沿第二移動導軌812移動，背光單元70可露出於透光支撐板21下方之外。

在本發明中，當背光單元70露出於外側時，具有一預設量之空間B1係存在於第一連接構件831之第一水平延伸部834與基座10之間，並且具有一預設量之空間B2係存在於第二連接構件832之第二水平延伸部836與基座10之間。移動導軌234係可分別設置於空間B1、B2。

綜上所述，在本發明之陣列測試裝置中，背光單元移動單元80之背光單元移動導軌81可不延伸至透光支撐板21之兩端外側，反觀習知之背光單元移動導軌係延伸至透光支撐板21之兩端外側。因此，在本發明之陣列測試裝置中，移動導軌234能夠設置在習知陣列測試裝置中設置背光單元移動導軌81之區域。因此，本發明之陣列測試裝置不需要增加基座10在X軸方向上的寬度以讓移動導軌234延伸至透光支撐板21之兩端。

如此，本發明之陣列測試裝置具有Y軸長度可縮小之優點，並且可不改變X軸寬度。

本發明所述之技術特徵可單獨實施或合併實施。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

10．．．基座

20．．．測試單元

21．．．透光支撐板

22．．．測試模組

221．．．調製器單元

222．．．攝像單元

223．．．測試模組支撐框架

23．．．探針組件

231．．．探針頭支撐框架

233．．．探針頭

234．．．移動導軌

235．．．Y軸驅動單元

236．．．X軸驅動單元

30．．．載入單元

40．．．卸載單元

50．．．支撐板

51．．．吹氣孔

60．．．玻璃面板傳輸單元

70．．．背光單元

71．．．板支撐件

80．．．背光單元移動單元

81．．．背光單元移動導軌

811．．．第一移動導軌

812．．．第二移動導軌

82．．．背光單元移動構件

821．．．第一移動構件

822．．．第二移動構件

83．．．連接構件

831．．．第一連接構件

832．．．第二連接構件

833．．．第一垂直延伸部

834．．．第一水平延伸部

835．．．第二垂直延伸部

836．．．第二水平延伸部

P．．．玻璃面板

W2p、Wa、W1p、W2．．．長度

Wf．．．寬度

圖1為一種習知陣列測試裝置的示意圖；

圖2及圖3為圖1之陣列測試裝置之一透光支撐板、背光單元及背光單元移動單元的側視示意圖；

圖4為習知陣列測試裝置的俯視示意圖；

圖5為依據本發明一實施例之一種陣列測試裝置的示意圖；

圖6為圖5所示之陣列測試裝置之背光單元及背光單元移動單元的示意圖；

圖7及圖8為圖5所示之陣列測試裝置之背光單元及背光單元移動單元的俯視示意圖；

圖9及圖10為圖5所示之陣列測試裝置之背光單元及背光單元移動單元的側視示意圖；

圖11為依據本發明之陣列測試裝置的俯視示意圖；以及

圖12為本發明之陣列測試裝置與習知之陣列測試裝置之長度比較的示意圖。

10．．．基座

20．．．測試單元

21．．．透光支撐板

22．．．測試模組

221．．．調製器單元

222．．．攝像單元

223．．．測試模組支撐框架

23．．．探針組件

231．．．探針頭支撐框架

233．．．探針頭

234．．．移動導軌

235．．．Y軸驅動單元

236．．．X軸驅動單元

30．．．載入單元

40．．．卸載單元

50．．．支撐板

51．．．吹氣孔

60．．．玻璃面板傳輸單元

P．．．玻璃面板

Claims (5)

1. 一種陣列測試裝置，包含：一透光支撐板，用以承載一玻璃面板，並且一背光單元設置於該透光支撐板之下；一探針頭支撐框架，係延伸一預設長度，並支撐具有複數探針之一探針頭；以及一移動導軌，係沿與該探針頭支撐框架之一延伸方向水平垂直之一方向延伸，並導引該探針頭支撐框架之移動，其中，該移動導軌係延伸至該透光支撐板之相對兩端。
2. 如申請專利範圍第1項所述之陣列測試裝置，更包含：一載入單元，包含一支撐板支撐該玻璃面板，該載入單元係載入該玻璃面板至該透光支撐板上，當該玻璃面板傳輸至該載入單元之該支撐板時，該探針頭支撐框架係設置於由該載入單元所定義之一區域之外。
3. 如申請專利範圍第1項所述之陣列測試裝置，更包含：一卸載單元，包含一支撐板支撐該玻璃面板，該卸載單元係從該透光支撐板卸載該玻璃面板，當該玻璃面板傳輸至該卸載單元之該支撐板之外時，該探針頭支撐框架係設置於由該卸載單元所定義之一區域之外。
4. 如申請專利範圍第1項所述之陣列測試裝置，更包含：一背光單元移動單元，設置於該透光支撐板之下，並驅動該背光單元從該透光支撐板之下方移動至該透光支撐板之相對兩端之外，該背光單元移動單元包含：一背光單元移動導軌，係沿該背光單元之一移動方向延伸；一背光單元移動構件，係可移動地設置於該背光單元移動導軌上；以及一連接構件，係連接該背光單元與該背光單元移動構件，並包含一垂直延伸部以及一水平延伸部，該垂直延伸部係從該背光單元移動構件垂直地延伸，該水平延伸部係從該垂直延伸部沿該背光單元之一移動方向水平地延伸。
5. 如申請專利範圍第4項所述之陣列測試裝置，其中該背光單元移動導軌係設置於由該透光支撐板所定義之一區域內。